Список вопросов к экзамену по спецкурсу «Микроскопия микро и наноструктур»

1. Краткая сравнительная характеристика различных методов применительно к анализу топографии поверхности, структуры и состава твердых тел.

2. Особенности взаимодействия сфокусированного электронного пучка с поверхностью твердого тела.

3. Конструкция растрового электронного микроскопа и формирование в нем изображения.

4. Просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения.

5. Особенности приготовления образцов для электронной микроскопии.

6. Конструкция и работа полевого электронного микроскопа.

7. Конструктивные особенности полевого ионного микроскопа.

8. Наблюдение отдельных атомов в полевом ионном микроскопе.

9. Пьезосканеры сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ).

10. Зонная диаграмма туннельного контакта двух проводников. Уравнение для туннельного тока сканирующем туннельном микроскопе (СТМ).

11. Устройство и принципы работы туннельного сенсора. Режимы сканирования- постоянного тока и постоянной высоты в СТМ.

12. Особенности визуализации топографии и распределения плотности электронных состояний на поверхности. Атомарное разрешение в СТМ.

13. Микрозонды для сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ).

14. Визуализация распределения плотности электронных состояний вблизи уровня Ферми с помощью сканирующей туннельной спектроскопии .

15. Устройство атомно-силового микроскопа (АСМ).

16. Дальнодействующие и короткодействующие силы при взаимодействии микрозонда АСМ с поверхностью.

17. Методы детектирования положения кантилевера.

18. Магнитно-силовая микроскопия.

19. Методы визуализации СЗМ изображений. Цветовая шкала высот. Построение трехмерных изображений. Использование эффекта боковой подсветки.

20. Устройство и принципы работы сканирующего ближнепольного оптического микроскопа (СБОМ).

21. Методы удержания СБОМ зонда. Латеральная неконтактная мода Shear-Force Mode.

22. Сканирующие микроскопы Керра и Рамана.

23. Конволюционные артефакты в СЗМ. Влияние формы иглы СЗМ на разрешающую способность СЗМ.

24. Применение метода деконволюции для восстановления СЗМ изображений.

25. Артефакты пьезосканера. Явления нелинейности и гистерезиса, криппа, усталости пьезоэлектрических сканеров.

26. Нанолитография. Локальное окисление поверхности.

27. Создание поверхностных атомных структур при помощи СЗМ.