Репрограммируемые полупроводниковые запоминающие...
DESCRIPTION
Репрограммируемые полупроводниковые запоминающие устройства на основе МДП-транзисторов. Ячейка памяти на основе МДП-транзистора. Типы МДП-транзисторов для репрограммируемых элементов памяти. Пороговое напряжение МДП транзистора. - PowerPoint PPT PresentationTRANSCRIPT
РЕПРОГРАММИРУЕМЫЕ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ЗАПОМИНАЮЩИЕ УСТРОЙСТВА НА ОСНОВЕ МДП-ТРАНЗИСТОРОВ.
Ячейка памяти на основе МДП-транзистора
Типы МДП-транзисторов для репрограммируемых элементов памяти
ox
B
ox
B
ox
ss
ox
oxmsT C
Q
q
kT
C
C
C
qN
C
QV
*
00 22 Пороговое напряжение МДП транзистора
Для изменения величины порогового напряжения необходимо:
а) Изменить легирование подложки NА
б) изменить плотность поверхностнх состояний Nss
в) изменить встроенный в диэлектрик заряд Qox
г) изменить напряжение смещения канал-подложка Vss
Типы МДП-транзисторов для репрограммируемых элементов памяти
МНОП-транзистор
МОП ПТ с плавающим затвором
Характеристики флэш-памяти
Туннельная инжекция Фаулера-Нордгейма.
Инжекция горячих электронов из области канала вблизи стока, обусловленная разогревом электронного газа в сильном электрическом поле в этой области
Инжекция горячих электронов и дырок при межзонном туннелировании.
Режимы записи/стирания в МДП – транзисторах флэш – элементов памяти
Запись за счет ижекции горячих электронов вблизи стока; стирание за счет туннелирования Фаулера – Нордгейма в область истока.
Режимы записи/стирания в МДП – транзисторах флэш – элементов памяти
Запись за счет туннелирования Фаулера – Нордгейма из области канала; Стирание за счет туннелирования в область стока.
Режимы записи/стирания в МДП – транзисторах флэш – элементов памяти
Запись и стирание за счет туннелирования Фаулера – Нордгейма из/в область канала.
Источники.
В.А. Гуртов «Твердотельная электроника»
Спасибо за внимание !