안녕하십니까 ? 어느덧 수확의 계절 가을입니다 . 올해 계획하셨던 일이

모두 성취되시길 기원드립니다 .

나노물질 , 재료 , 소자의 구조관찰 및 조성분석을 위해서 가장 많이

이용되고 있는 투과전자현미경의 성능은 지속적으로 발전해 왔습니다 .

최근 투과전자현미경 렌즈의 수차보정 기술이 개발됨으로써 분해능이

원자크기보다도 작은 수준에 도달하게 되었습니다 . 결과적으로 개별

원자컬럼에 대한 원자배열을 영상으로 직접 분해하면서 화학조성 정보를

측정할 수 있기 때문에 나노기술의 연구개발에서 지대한 역할을 할 수

있습니다 .

드디어 국가 나노연구지원기관인 나노종합팹센터 (www.nnfc.re.kr) 에

구면수차보정 주사투과전자현미경 (Cs-corrected STEM) 이 구축되어

연구지원을 시작하게 되었습니다 .

이에 나노종합팹센터 JEM-ARM200F 장비의 구축현황을 소개하고 ,

활용을 극대화하기 위해 국내외 전문가를 모시고 심포지엄을 개최하게

되었습니다 .

관심있는 분들의 많은 참여 부탁드리면서 본 심포지엄이 전자현미경 관련

연구자들의 교류 및 토론의 장이 되길 바랍니다 .

2010 년 10 월

나노종합팹센터

소장 이 귀 로

초대의 말씀초대의 말씀 초대의 말씀초대의 말씀

『 Cs-corrected STEM Symposium at NNFC 』