МИКРОЭЛЕКТРОННЫЕ РЕШЕНИЯ ДИЗАЙН-ЦЕНТРА...
DESCRIPTION
МИКРОЭЛЕКТРОННЫЕ РЕШЕНИЯ ДИЗАЙН-ЦЕНТРА ПРОЕКТИРОВАНИЯ ЭКБ. 20 12. Пути снижения стоимости продукции. Оптимизация логистики производства Организация сборочного производства (печатные платы, корпуса, сборка) Проектирование и использование собственной элементной базы. - PowerPoint PPT PresentationTRANSCRIPT
УНЦ МИЭТУНЦ МИЭТ
МИКРОЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОЭЛЕКТРОННЫЕ РЕШЕНИЯРЕШЕНИЯ
ДИЗАЙН-ЦЕНТРА ДИЗАЙН-ЦЕНТРА ПРОЕКТИРОВАНИЯ ПРОЕКТИРОВАНИЯ
ЭКБЭКБ
2012
УНЦ УНЦ МИЭТМИЭТ
Пути снижения стоимости продукции
Оптимизация логистики производства
Организация сборочного производства (печатные платы, корпуса, сборка)
Проектирование и использование собственной элементной базы.
2012
УНЦ УНЦ МИЭТМИЭТ
Дизайн-центр предлагает своим заказчикам:
Инновационные Технологии
Долгосрочную Стратегию
Профессиональный Подход
Превышение Требований Заказчиков
Центр проектирования ИС
Цель дизайн-центра - стать неотъемлемой частью вашей дизайн-команды с общим видением создания продуктов высокого качества в срок и
при минимальном бюджете
2012
УНЦ УНЦ МИЭТМИЭТ
Центр проектирования ИС
Современный Дизайн-центр
«Проект-под-Ключ»
Конкурентная Цена с другими оффшорными компаниями
Дизайн-центр полностью оснащен самым современным оборудованием для разработки и верификации ИС
38 инженеров (3 КТН & 6 Магистров)2012
УНЦ УНЦ МИЭТМИЭТ
Система Обеспечения Качества Проекта
Ид. Название задачи
1 Утверждение маршрута.
2 Получение маршрута проектированияна фабрике
3 Изучение маршрута
4 Уяснение и у тверждение маршрута.
5 Подготовка документации по проекту.
6 Описание схемы на уровне черного ящика
7 Описание зашивки ПЗУ
8 PLL
9 ADC
10 Разработка документации на ядро
11 Разработка документации на блокиперефирии
12 TIMER
13 WDTIMER
14 RSPORT
15 PORT16
16 NANDFLASH
17 Цифровая часть
18 Разработка тестов
19 Тесты на ядро
20 Тесты на блоки периферии
21 Тесты для самотестирования
22 Тесты для контроля годностикристалла.
23 Разработка зашивки ПЗУ
24 Запрос ОЗУ.
25 Запрос ПЗУ с нашей зашивкой.
26 Разработка интерфейса к ADC.
27 Разработка тестов к ADC.
28 Тестирование
29 Тесты на ядро
30 Тесты на блоки периферии
31 NANDFLASH
32 Тесты для самотестирования
33 Тесты в виде готовых программ
34 Тесты для контроля годности кристалла.
35 Оценка топологии.
36 Аналоговая часть
37 POR
38 BOR
39 PLL
40 Генератор частоты
41 Рекомендации по ADC
42 Разработка тестов
43 POR
44 BOR
45 PLL
46 Генератор частоты
47 Рекомендации по ADC
48 Тестирование
49 POR
50 BOR
51 PLL
52 Генератор частоты
53 Рекомендации по ADC
54 Оценка топологии
55 Оценка потребления
56 Подготовка данных для передачианалоговых блоков.
57 Запрос IP блока ADC
58 Проработка параметров
59 Максимально допустимые параметры
60 Характеристики по постоянному току
61 Параметры внешнего тактовогосигнала
62 Параметры ADC
63 Фиксирование интерфейсов.
64 Интерфейсы цифровой части
65 Интерфейсы аналоговой части
66 Интерфейсы входов/в ыходов
67 Сборка аналоговых и цифровых блоков.
68 Четкое описание выводовпроекта.
Сергей
Павлов
Павлов, Сергей
Колпаков
Колпаков
Колпаков
Колпаков
Капранов
Капранов
Колпаков
Колпаков
Колпаков
Колпаков
Колпаков
Капранов
Капранов
Капранов
Капранов
Ширкин
Капранов
Сергей
Сергей
Капранов
Капранов
Ширкин
Ширкин
Ширкин
Алексей
Ширкин
Ширкин
Ширкин
Павлов
Однолько
Однолько
Однолько
Однолько
Однолько
Однолько
Однолько
Однолько
Однолько
Ресурс1
Ресурс1
Ресурс1
Ресурс1
Ресурс1
Ресурс1
Ресурс1
Ресурс1
Ресурс1
Ресурс1
Ресурс1
Ресурс2
Павлов
Павлов
Павлов
Ресурс1
Колпаков
Колпаков
Павлов
Колпаков
П С В П В С Ч П С В П В С Ч П С В П В С Ч П С В П В С Ч П С В П В С Ч П С В П В С Ч П С В П В С Ч П С В П В С Ч П С В П В С Ч27 Июн '05 04 Июл '05 11 Июл '05 18 Июл '05 25 Июл '05 01 Ав г '05 08 Ав г '05 15 Ав г '05 22 Ав г '05 29 Ав г '05
Июль 2005 Август 2005 Сентябрь 2005
График Проекта
Чеклист
Коммерческое Предложение
Обзор этапа M1
2012
УНЦ УНЦ МИЭТМИЭТ
Инфраструктура ДЦ Современные серверные станции IBM x3455 для САПР Cadence
Измерительное оборудование ведущих производителей Официальный САПР Cadence
2012
УНЦ УНЦ МИЭТМИЭТ
2012
Технология производства ИС
Производство интегральных микросхем – X-FAB Semiconductor Foundries GMBH Широкий выбор технологий
производства ИС Сертификация ISO9001:2000,
TS16949:2002
УНЦ УНЦ МИЭТМИЭТ
Семейство 16-разрядных микроконтроллеров
2012
К1894ВГ1Т 1894ВЦ1У TF-16T TF16BS
PLL (2-100) MHz (4-200) MHz - -POR & BOR + + + +
UART 4 2 - +Timer/Counter 1 2 1 +
Capture/Compare
- 1 (4 канала) - -
PWM -1 (3 комплим.
канала)- -
Parallel I/O 3×16 бит 2×16 бит - 1 × 16 битSerial I/O SPI SPI
DAC - 4, 10 bit -
ADC8 каналов, 10
разр.8 каналов, 10
разр.2 канала, 8 разр.3 канала, 16 разр.
MROM 1K×16 64K×16 0.5K×16 1K×16OTPROM - - 4K×16 -
SRAM 16K×16 4K×16 1K×16 8K×16Regulator
(LDO)- - + -
MAC - 16×16 = 40 - -F clock, MHz 50 50 10 10
P 1мА/МГц 1мА/МГц 1мА/МГц 300мкА/МГцVcc, В 3.3 3.3 3.3 2.4 ÷ 3.6
Technology 0.35 0.35 0.35 0.35
УНЦ УНЦ МИЭТМИЭТ
Топология семейства 16-разрядных
микроконтроллеров
2012
УНЦ УНЦ МИЭТМИЭТ
СБИС для интеллектуального
беспроводного датчика Автономный измеритель
физических величин Радио-интерфейс обмена
данными Минимальное количество
выводов
∑∆АЦП 16р.
16р.МК
RF 865 МГц
2012
УНЦ УНЦ МИЭТМИЭТ
Структурная схема
Приемо-передатчик
беспроводной связи
ПЗУ512*16
Синхронный приемо-передатчик SPI
Импульсный счетчик
CS
MIS
O
SC
K
MO
SI
Ядро Микроконтроллера
1894Системная шина команд и данных
PD
8
AP/AN
Часы реального времени
VD
D
GN
D
Параллельный 8-миразрядный
порт Д
Узел таймера общего
назначения
INT
*
E-FLASH8K*16
Watchdog таймер
МодульАЦП16
CFL
CB
L
Узел управления и
распределения напряжения
питания
ОЗУ8K*16
IMP
2
U
ref
A
DC
_TE
ST
ISIN
K /
ISO
UR
CE
V
RE
FH
/ V
RE
FL
IN
N /
INP
RES
FCLK
Узел формирования тактовой частоты
XT
1
XT
2
RC
LK
Низкочастотный кварцевый генератор
Высокочастотный кварцевый генератор
XT
3
XT
4
FC
LK
LCLK
ICLK
PCLKУзел
управления и распределения
тактовой частоты
FCLK
RCLK
Асинхронный приемо-
передатчик UART
RX
TX
VD
DF
POR/BOR
2012
УНЦ УНЦ МИЭТМИЭТ
Характеристики
Напряжение питания – 1.8 ÷ 3.6 В. Ток потребления – 300 мкА/МГц. Ток потребления в режиме Sleep – 1
мкА 16-разрядная RISC архитектура. 24-х выводной корпус. 16 КБ оперативная память. Энергосберегающие режимы работы. Интерфейсы UART, SPI. 16-разрядное сигма-дельта АЦП Радиочастотный приемопередатчик
864-865 МГц.2012
УНЦ УНЦ МИЭТМИЭТ
16-разрядный Микроконтроллер с EPROM К1894ВГ2Т
2012
УНЦ УНЦ МИЭТМИЭТ
Акселерометр (Xemics XE2004)
2012
УНЦ УНЦ МИЭТМИЭТ
Реализовано в ASIC
2012
УНЦ УНЦ МИЭТМИЭТ
Датчик дыма
BLOCK CASE
SENSOR BOARD
COVER
LED HOLE
LED
SMOKE CHAMBER
SOCKET FOR SMOKE -TEST SAMPLE
RGAIN
TEST- MODE PIN
IRED DETECTOR
2012
УНЦ УНЦ МИЭТМИЭТ
Схема применения
IPS101
0.5kΩ
10μF
1kΩ
3MΩ
6.2kΩ
100kΩ
VL VL_R
VDD(8-30V)
VCC_IRED
STROBE
LED
Rosc
GND
R_IVcc (5V)
R_IA
VCC
ALARM
IRED
GAIN
TEST
C1
RL
C2
Rg
R_IA
R_I
Rosc
3MΩ 1MΩ
39pF
1MΩ
3MΩ
TEST on/off
Smoke chamber
100μF+
IR DETECTOR
IR EMITTER
Photodiode
SCHEME OF IR DETECTOR
12
1
2
1
2
3
4
5
67
8
9
10
11
12
14 13
1
2
3
4
1kΩ
RDOAPower Supply
General
General
LED
2012
УНЦ УНЦ МИЭТМИЭТ
Датчики давления и температуры
2012
К1894ВГ2Т - специализированная СБИС для обработки мостовых датчиков.
Встроенный 16-разрядный АЦП и предварительный усилитель с коэффициентами 1,2,4,8,16,32 позволяют выполнять прецизионные измерения.
Встроенный подстраиваемый источник опорного напряжения.
16-разрядный микропроцессор выполняет необходимую цифровую обработку сигналов.
Низкая потребляемая мощность (менее 250 мкА/МГц) и низко потребляющие режимы работы обеспечивают длительное время автономной работы.
Диапазон рабочих температур -60…125°С Интегрированная среда разработки и отладки
программного обеспечения предоставляет все средства для быстрой разработки приборов.
УНЦ УНЦ МИЭТМИЭТ
2012
Датчик угловых/линейных перемещений (датчик Холла) Информация о проекте Измерение скорости/направления вращения и определение
относительного или абсолютного углового положения вала (двигателя).
БИС также позволяет определять линейное перемещение объекта.
Выходной сигнал – инкрементальный квадратурный код (аналогично
оптическим энкодерам) и SSI-интерфейс Максимальное угловое разрешение 0.09 градуса (12 бит) Максимальная измеряемая скорость вращения – 13636
оборотов/мин. (для кольца с 22 полюсными парами) Максимальная скорость линейного перемещения – 20 м/с
(при длине полюсной пары 4 мм) Диапазон измеряемого магнитного поля 3-60 мТ Максимальная частота магнитного поля 10 кГц Автоматическая компенсация постоянной составляющей