12 ml ni/ 0.5 ml ag/si( 111 ) 上 成長之磁特性研究

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12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111 ) 上上上上上上上上 上上上上上上 上上上上上上上上上 上上 上上上上上上 上上上上上上上上上上上上 上上上 上上上上上 上上上上 上上上上上上上上上上上上 上上上 上上 1

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報告者: 李芳谷 校內指導教師: 傅斯平 博士 校外指導教師:國立臺灣師範大學物理學系 張丞勛 博士候選 人 指導教授:國立臺灣師範大學物理學系 蔡志申 教授. 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111 ) 上 成長之磁特性研究. 450 K 至 550 K Si 開始向上擴散 ,造成鐵磁性下降,至 575 K 時磁滯曲線已測不到,無鐵磁性。所以認為 450 K 至 575 K 時, Si 、 Ni 大量化合成 NiSi 、 ,可以得知 Ag 不會阻止鎳矽化合,並且在 600 K 時 , 發現部分 Ag 會產生退吸附現象。. - PowerPoint PPT Presentation

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Page 1: 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111  ) 上 成長之磁特性研究

12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111 ) 上成長之磁特性研究報告者:李芳谷校內指導教師:傅斯平 博士校外指導教師:國立臺灣師範大學物理學系 張丞勛 博士候選人指導教授:國立臺灣師範大學物理學系 蔡志申 教授

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Page 2: 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111  ) 上 成長之磁特性研究

摘 要450 K 至 550 K Si 開始向上擴散,造成鐵磁性下降,至 575 K 時磁滯曲線已測不到,無鐵磁性。所以認為 450 K至 575 K 時, Si 、 Ni 大量化合成 NiSi 、,可以得知 Ag不會阻止鎳矽化合,並且在 600 K 時,發現部分 Ag 會產生退吸附現象。

2

Page 3: 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111  ) 上 成長之磁特性研究

目 錄1. 動機2. 儀器、原理3. 實驗結果與討論4. 結論、參考文獻

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Page 4: 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111  ) 上 成長之磁特性研究

動 機 1. 這次的專題研究之所以會選用 Ni 、 Si 的組合,是因為在半導體產業中矽化鎳所展現優異的表現。 2. 選定 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111 ) 是因為當 Ni 的厚度小於 nm 等級時,會有較好的原子移動率,並且會隨厚度變薄,隨之提升 [3] 。

4

Page 5: 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111  ) 上 成長之磁特性研究

流程圖

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1. 真空 實驗儀器 定義 等級 原因2. 儀器 + 原理 蒸鍍 AES AES 分析 SMOKE

磁滯曲線3. 實驗 升溫 AES MOKE 比較 AT -

LMOKE

LMOKE、 AES 比較4. 總結 結論

Page 6: 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111  ) 上 成長之磁特性研究

流程圖

6

1. 真空 實驗儀器 定義 等級 原因2. 儀器 + 原理 蒸鍍 AES AES 分析 SMOKE

磁滯曲線3. 實驗 升溫 AES MOKE 比較 AT -

LMOKE

LMOKE、 AES 比較4. 總結 結論

Page 7: 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111  ) 上 成長之磁特性研究

超高真空儀器

7

CHA( 接收歐傑電子 ) AES e-gun( 射出電子束 )

SMOKE( 測量磁性 )

Laser鈦昇華幫浦 ( 利用 Ti 與氣體化合成固態,再被渦輪分子幫浦帶走 )

Sample Manipulator

( 調整樣品的距離 )

Page 8: 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111  ) 上 成長之磁特性研究

流程圖

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1. 真空 實驗儀器 定義 等級 原因2. 儀器 + 原理 蒸鍍 AES AES 分析 SMOKE

磁滯曲線3. 實驗 升溫 AES MOKE 比較 AT -

LMOKE

LMOKE、 AES 比較4. 總結 結論

Page 9: 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111  ) 上 成長之磁特性研究

真空  mbar Pa Torr atm

mbar 1 100 0.75 9.87 . 10-4

Pa 1 . 10-2 1 7.5 . 10-3 9.87 . 10-6

Torr 1.33 133 1 1.32 . 10-3

atm 1013 101325 760 1

9

真空定義美國真空學會定義 : 壓力值小於一大氣壓即為真空。

表 1-1 常用壓力單位換算一覽表

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流程圖

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1. 真空 實驗儀器 定義 等級 原因2. 儀器 + 原理 蒸鍍 AES AES 分析 SMOKE

磁滯曲線3. 實驗 升溫 AES MOKE 比較 AT -

LMOKE

LMOKE、 AES 比較4. 總結 結論

Page 11: 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111  ) 上 成長之磁特性研究

真空等級  粗真空 中真空 中高真空 高真空 超高真空

壓力範圍( Torr )

760 ~ 100 100 ~ 1 1 ~ 10-4 10-4 ~ 10-8 ≦ 10-9

分子數 /cm3

( at )2.5 . 1019 ~

3.3 . 1018

3.3 . 1018 ~3.3 . 1016

3.3 . 1016 ~3.3 . 1013

3.3 . 1013 ~3.3 . 109

≦ 3.3 . 108

平均自由徑路徑( λ; cm )

5 . 10-6 ~5 . 10-5

5 . 10-5 ~5 . 10-3

5 . 10-3 ~ 5 5 ~ 5 . 104 > 5 . 104

所需幫浦 機械幫浦 機械幫浦與擴散幫浦的組合 機械幫浦、擴散幫浦、離子幫浦、渦輪分子

幫浦、冷凍幫浦和 鈦昇華幫浦的組合

主要殘留氣體 空氣、水、 CO2和一些易揮發溶液的蒸汽

H2 、 CO 外還有幫浦油蒸氣 大部分為 H2 和 CO 11表 1-2 真空度分級表

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流程圖

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1. 真空 實驗儀器 定義 等級 原因2. 儀器 + 原理 蒸鍍 AES AES 分析 SMOKE

磁滯曲線3. 實驗 升溫 AES MOKE 比較 AT -

LMOKE

LMOKE、 AES 比較4. 總結 結論

Page 13: 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111  ) 上 成長之磁特性研究

為何要真空?真空的等級會影響到數據的可信度

乾淨的材料表面在 1 . 10-6 torr 真空中,平均 1 秒會吸附一層雜質( 1 . 10-6 torr . Sec = 1 Langmuir )。

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流程圖

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1. 真空 實驗儀器 定義 等級 原因2. 儀器 + 原理 蒸鍍 AES AES 分析 SMOKE

磁滯曲線3. 實驗 升溫 AES MOKE 比較 AT -

LMOKE

LMOKE、 AES 比較4. 總結 結論

Page 15: 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111  ) 上 成長之磁特性研究

蒸鍍蒸鍍因材料的不同有分兩種,但原理是一樣的。1. 燈絲型:因材料熔點較高,於真空中可直接昇華。2. 坩鍋型:因材料熔點較低,因加熱而熔化後再蒸發。

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Page 16: 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111  ) 上 成長之磁特性研究

流程圖

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1. 真空 實驗儀器 定義 等級 原因2. 儀器 + 原理 蒸鍍 AES AES 分析 SMOKE

磁滯曲線3. 實驗 升溫 AES MOKE 比較 AT -

LMOKE

LMOKE、 AES 比較4. 總結 結論

Page 17: 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111  ) 上 成長之磁特性研究

歐傑電子能譜儀( AES )

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能量

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流程圖

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1. 真空 實驗儀器 定義 等級 原因2. 儀器 + 原理 蒸鍍 AES AES 分析 SMOKE

磁滯曲線3. 實驗 升溫 AES MOKE 比較 AT -

LMOKE

LMOKE、 AES 比較4. 總結 結論

Page 20: 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111  ) 上 成長之磁特性研究

歐傑電子能譜儀( AES )

20

-100 0 100 200 300 400 500 600 700 800 900 1000

0

20000

40000

60000

80000

300 K AES升溫 原始譜

Aug

er S

igna

l (ar

bira

ry u

nits

)

Kinetic Energy (eV)

AES

-100 0 100 200 300 400 500 600 700 800 900 1000-4000

-2000

0

2000

4000

6000

8000

10000

12000300 K AES升溫 微分譜

Aug

er S

igna

l (ar

bira

ry u

nits

)

Kinetic Energy (eV)

AES

動能 ( 電子入射的動能 )

粒子數

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流程圖

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1. 真空 實驗儀器 定義 等級 原因2. 儀器 + 原理 蒸鍍 AES AES 分析 SMOKE

磁滯曲線3. 實驗 升溫 AES MOKE 比較 AT -

LMOKE

LMOKE、 AES 比較4. 總結 結論

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表面磁光柯爾效應( SMOKE )柯爾( Kerr )發現當線偏振光經磁化材料表面反射後會轉變為橢圓偏振光,且長軸所在的偏振面,會相對於入射偏振光之偏振面偏轉一角度,此現象稱為磁光柯爾效應( magneto-optic Kerr effect )。

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Page 23: 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111  ) 上 成長之磁特性研究

流程圖

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1. 真空 實驗儀器 定義 等級 原因2. 儀器 + 原理 蒸鍍 AES AES 分析 SMOKE

磁滯曲線3. 實驗 升溫 AES MOKE 比較 AT -

LMOKE

LMOKE、 AES 比較4. 總結 結論

Page 24: 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111  ) 上 成長之磁特性研究

磁滯曲線

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飽和磁化量 Ms

矯頑力 Hc

殘磁量 Mr

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流程圖

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1. 真空 實驗儀器 定義 等級 原因2. 儀器 + 原理 蒸鍍 AES AES 分析 SMOKE

磁滯曲線3. 實驗 升溫 AES MOKE 比較 AT -

LMOKE

LMOKE、 AES 比較4. 總結 結論

Page 26: 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111  ) 上 成長之磁特性研究

300 400 500 600 7000

1200

2400

12ML Ni/0.5 ML Ag/Si (111) anneal AES

Aug

er in

tens

ities

(arb

.uni

ts)

Temperature (K)

ISi 92 IAg 351 INi 61

12 ML Ni /0.5 ML Ag/Si (111) 升溫 AES

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(1)300 K 到 550 K探測不到 Si ,且 Ni 、 Ag保持不變,由電子平均自由徑推測,由於 12 ML Ni與 0.5 ML Ag蓋住基底Si ,且擴散現象不明顯。

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300 400 500 600 7000

1200

2400

12ML Ni/0.5 ML Ag/Si (111) anneal AES

Aug

er in

tens

ities

(arb

.uni

ts)

Temperature (K)

ISi 92 IAg 351 INi 61

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(2)550 K 到 600 K 時, Si 開始出現且快速增加, Ni訊號、Ag訊號都下降,是因 Si 向樣品表面擴散,而 Ni往 Si基底擴散,但 Ag由於表面自由能過低,產生退吸附現象。(3) 625 K後所有訊號皆穩定不變,保持一個穩定態。

12 ML Ni /0.5 ML Ag/Si (111) 升溫 AES

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流程圖

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1. 真空 實驗儀器 定義 等級 原因2. 儀器 + 原理 蒸鍍 AES AES 分析 SMOKE

磁滯曲線3. 實驗 升溫 AES MOKE 比較 AT -

LMOKE

LMOKE、 AES 比較4. 總結 結論

Page 29: 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111  ) 上 成長之磁特性研究

回憶-磁滯曲線

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飽和磁化量 Ms

矯頑力 Hc

殘磁量 Mr

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12 ML Ni / Ag-Si(111)(AT , LMOKE 、 PMOKE) 原始譜

觀察 LMOKE 與 PMOKE ,發現隨溫度上升 P方向矯頑力皆比 L方向大 10倍以上,所以此系統的磁化易軸為 L方向,磁化強度則皆隨著溫度逐漸下降,當 575 K 時皆無法測得磁滯曲線,失去鐵磁性。 30

-2000 -1000 0 1000 20000.000

0.002

0.004

0.006

0.008

0.010

0.012

0.014

12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111 )(AT,LOMKE)

625K 600K 575K 550K 525K 500K 475K 450K 425K 400K 375K

Ker

r sin

gals

(arb

.uni

ts)

Magnetic field (Oe)-2000 -1000 0 1000 2000

0.0000

0.0018

0.0036

0.0054

0.0072

0.0090

0.0108

0.012612 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111 )(AT,PMOKE)

625K 600K 575K 550K 525K 500K 475K 450K 425K 400K 375K

Ker

r sin

gals

(arb

.uni

ts)

Magnetic field(Oe)

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流程圖

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1. 真空 實驗儀器 定義 等級 原因2. 儀器 + 原理 蒸鍍 AES AES 分析 SMOKE

磁滯曲線3. 實驗 升溫 AES MOKE 比較 AT -

LMOKE

LMOKE、 AES 比較4. 總結 結論

Page 32: 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111  ) 上 成長之磁特性研究

回憶-磁滯曲線

32

飽和磁化量Ms

矯頑力Hc

殘磁量Mr

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12 ML Ni / Ag-Si(111)(AT , LMOKE) 分析

33

300 400 500 600 7000

37

74

coer

cive

forc

e (O

e)

Temperature (K)

Hc

300 400 500 600 7000.00000

0.00018

0.00036

0.00054

Ker

r int

ensi

ty (a

rb.u

nits

)

Temperature (K)

Ms

Mr

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流程圖

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1. 真空 實驗儀器 定義 等級 原因2. 儀器 + 原理 蒸鍍 AES AES 分析 SMOKE

磁滯曲線3. 實驗 升溫 AES MOKE 比較 AT -

LMOKE

LMOKE、 AES 比較4. 總結 結論

Page 35: 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111  ) 上 成長之磁特性研究

300 400 500 600 7000.00000

0.00018

0.00036

0.00054

Ker

r int

ensi

ty (a

rb.u

nits

)

Temperature (K)

Ms

Mr

300 400 500 600 7000

1200

2400

INi 61 IAg 351 ISi 92

12ML Ni/0.5 ML Ag/Si (111) anneal AES

Aug

er in

tens

ities

(arb

.uni

ts)

Temperature (K)

12 ML Ni /0.5 ML Ag/Si (111) 升溫 AES 、 AT-LOMKE

35

(1) 在 300 K 至 550 K 時, Ni緩緩擴散至 Ag 和 Si 內,使得 Ms 、 Mr 下降。(2) 550 K 至 575 K 時,得知 Ni 、 Ag 、 Si 開始混合, Ni 與 Si 產生以 NiSi 為主要的化合物 [4] ,和部分Ni2Si 、 NiSi2[6] ,使得磁性消失。

Ni Ag Si550 K 平衡 平衡 少量出現 Ms 、 Mr 下降575 K 大量減少 大量減少 大量出現 Ms 、 Mr驟降600 K 平衡 平衡 平衡 Ms 、 Mr 、 Hc皆

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300 400 500 600 7000.00000

0.00018

0.00036

0.00054

Ker

r int

ensi

ty (a

rb.u

nits

)

Temperature (K)

Ms

Mr

300 400 500 600 7000

1200

2400

INi 61 IAg 351 ISi 92

12ML Ni/0.5 ML Ag/Si (111) anneal AES

Aug

er in

tens

ities

(arb

.uni

ts)

Temperature (K)

12 ML Ni /0.5 ML Ag/Si (111) 升溫 AES 、 AT-LOMKE

36

(3) 接著在 600 K Ag 產生退吸附現象(4) 625 K後樣品上只剩 NiSi混合一定量 Ag ,歐傑訊號呈現穩定。

Ni Ag Si550 K 平衡 平衡 少量出現 Ms 、 Mr 下降575 K 大量減少 大量減少 大量出現 Ms 、 Mr驟降600 K 平衡 平衡 平衡 Ms 、 Mr 、 Hc皆

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流程圖

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1. 真空 實驗儀器 定義 等級 原因2. 儀器 + 原理 蒸鍍 AES AES 分析 SMOKE

磁滯曲線3. 實驗 升溫 AES MOKE 比較 AT -

LMOKE

LMOKE、 AES 比較4. 總結 結論

Page 38: 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111  ) 上 成長之磁特性研究

結論1. 溫度 450 K 至 550 K 時由於 Ni 擴散與 Si 和 Ag

開始產生合金,鐵磁性緩緩下降。2. 575 K 時, Si 與 Ni 大量化合,無磁滯曲線, 失去鐵磁性,主要成分為 NiSi 與部分、。3. 在 575 K 時,鎳矽化合物和 Ag混和, 且在 600 K 時,部分 Ag 會產生退吸附現象,所以可知 Ag 不會阻止鎳矽化合。

38

Page 39: 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111  ) 上 成長之磁特性研究

參考文獻 [1] H.I wai, T.Ohguro and S.I.Ohmi,“NiSi salicide technology for scaled CMOS,”Microelectronic Engineering, 60 ( 2002 ) 157 - 169 [2] A.Lauwers, J.A.Kittl, M.J.H.Van Dal, O.Chamirian, M.A.Pawlak, M.de Potter, R.Lindsay, T.Raymakers, X.Pages, B.Mebarki, T.Mandrekar and K.Maex,“Ni

based silicides for 45 nm COMS and beyond,”Materials Science and Engoneering B, 114 – 115 ( 2004 ) 29 - 41 [3] W.R.Chen, T.C.Chang, P.T.Liu, C.H.Tu, F.W.Chi, S.W.Tsao and C.Y.Chang,“Formation of stacked nickel-silicide nanocrystals by using a co-mixed target for

nonvolatile memory application,”Surfac and Coatings Tchnology, 202 ( 2007 ) 1292 – 1296 [4] F.F.Zhao, J.Z.Zheng, Z.X.Shen, T.Osipowicz, W.Z.Gao and L.H.Chan,“Thermal stability study of NiSi and thin films,”Microelectronic Engineering, 71 ( 2004

) 104 – 111 [5] 莊孟勳 碩士 撰 , “AES 系統架設及 Co/W( 111 ) 之磁性測量 , ” 國立臺灣師範大學物理學系碩士論文 , 民國 99 年 2 月 [6] 陳俊明 碩士 撰 , “ 鎳矽薄膜之奈米痕壓行為及退火微觀結構變化之研究 , ” 國立成功大學機械工程學系碩士論文 , 民國 97 年 7 月 [7] A.Lauwers, P.Besser, T.gutt, A.Satta, M.de Potter, R.Lindsay, N.Roelandts, F.Loosen, H.Bender, M.stucchi, C.Vran cken,B.Deweerdt and K.Maex,

“Comoarative study of Ni-silicide and Co-silicide for sub 0.25 –μm technologies, ”Microelectronic Engineering, 50 ( 2000 ) 103 – 116 [8] M.A.Pawlak, J.A.Kittl, O.Chamirian, A.Veloso, A.Lauwers,T.Schram, K.Schram, K.Maex and A,Vantomme,“Investigstion of Ni fully silicided gates for sub-

45 nm CMOS technologies,”Microelectronic Engineering, 76 ( 2004 ) 349 – 353 [9] J.A.Kittl, A.Lauwer, M.A.Pawlak, M.J.H.van Dal, A.Veloso, K.G.Anil, G.Pourtois,C.Demeurisse, T.Schram, B.Brijs, M.de Potter, C.Vrancken and K.Maex,“Ni

fully silicided gates for 45 nm CMOS applications, ”Micrielectronic Engineering, 82 ( 2005 ) 441 – 448 [10] K.Makihira, M.Yoshii and T.Asano, “CMOS Application of Single-Grain Thin Film Transistor Produced Using Metal Imprint Technolgy, ”Japanese Journal

of App;ied Physics Part 1 ,Vol. 42 No. 4 B ( 2003 ) 1983 – 1987 [11] F.M.Yang, T.C.Chang, P.T.Liu, Y.H.Yeh,Y.C.Yu, J.Y.Lin, S.M.Sze and J.C.Lou,“Nickel silicide nanocrystals embedded in and for nonvolatile memory

application,”Thin Solid Films, 516 ( 2007 ) 360 – 363 [12] R.S.Howell, G.Sarcona, S.K.Saha and M.K.Hatalis, “Preparation and stability of low temperature cobalt and nickel silicides on thin polysilicon film, ”Journal

of Vacuum Science and Technolgy A, Vol. 18 No.1 ( 2000 ) 87 - 93

39

Page 40: 12 ML Ni/ 0.5 ML Ag/Si( 111  ) 上 成長之磁特性研究

提 問 時 間

歡迎各位踴躍發言!40

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我的報告到此結束,謝謝大家!41