a b r で な け れ ば 出 会 え な い 信 頼 が あ る
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本カタログの仕様ならびにデザインは改良のため，変更されることがあります。Due to continued product improvement, specifications are subject to change without notice.
No.1306JE
ユニオプト株式会社 UNIOPT Co., Ltd.〒421-1221 静岡市葵区牧ヶ谷2102
TEL:+81-54-276-1130 FAX:+81-54-276-1131http://www.uniopt.co.jp
2102 Makigaya, Aoi-ku, Shizuoka-shi, Shizuoka-Pref. 421-1221, JAPAN
P r o d u c t L i n e - U p
■「UNIOPT様 会社商品カタログ2013」表1-4
A B R で な け れ ば 出 会 え な い 信 頼 が あ る
1 Birefringence
Model ABR-10A is able to measure the birefringence (linear birefringence) and the principal axis direction with high accuracy.
特徴 ●高速測定 約１秒／測定点 ●高分解能 複屈折リターデーション 0.01nm 主軸方位 0.1deg.用途・応用例半導体製造装置関連 ●ステッパーレンズ素材 ●フォトマスクブランクス ●半導体基板 結晶の欠陥評価液晶 ●液晶セル 液晶の配向特性評価 ●位相差フィルム 高分子の配向特性評価 ●ラビング膜 ラビング良否評価 ●基板 内部応力評価光学素子 ●波長板 位相差特性評価 ●レンズ、プリズム 内部応力評価 ●光弾性定数高分子の研究 ●薄膜 配向特性評価 ●高分子結晶
Features ●High-speed measurement Appx. 1sec./measurement point ●High-resolution Birefringence retardation: 0.01nm Principal axis direction: 0.1deg.
Applications & examples ●Semiconductor production equipment
Stepper lens materialsPhoto mask blanks Semiconductor substrate Evaluate defects in crystals
●Liquid crystalLiquid crystal cell Evaluate orientation properties of LCPhase retardation film Evaluate orientation properties of polymerRubbing membrane Evaluate the rubbing quality Substrate Evaluate the internal stress
●Optical elementsWave plate Evaluate phase retardation propertiesLens, Prism Evaluate internal stressPhotoelastic coefficient
●Research on polymerMembrane Evaluate orientation propertiesPolymer crystal
Model ABR-22 is able to measure not only the birefringence and the pr inc ipa l ax is d i rect ion, a lso the opt ica l ro ta t ion angle , simultaneously or independently. This model is able to measure important properties of the crystal, the liquid crystal and the polymer materials quantitatively, and the measurement speed is very fast.特徴
●高速測定 約１秒／測定点 ●高分解能・高精度
用途・応用例 ●液晶セル（ＴＮ、ＳＴＮ等）の配向（複屈折）特性評価 ●ファラデー素子等の非線形光学素子（結晶）の評価 ●高分子材料（光機能性高分子）の評価
Features ●High speed measurement Appx. 1sec./measurement point ●High resolution and high accuracy
Applications & examples ●Evaluate orientation (birefringence) properties of liquid crystal cell
(TN type, STN type, etc.) ●Evaluate nonlinear optical elements (crystal) such as Faraday component ●Evaluate polymer materials (optical functional polymer)
ABR-22は、複屈折とその主軸方位だけでなく、旋光角を同時かつ独立に測定することが可能です。結晶、液晶、高分子材料等の様々な重要特性を定量的かつ、高速に測定できます。
0.01nm（0.006deg.） 0.1deg.
0～260nm（0～150deg.） 0～316nm（0～180deg.）±90deg. ±90deg. ±90deg.
Appx. 1sec ／ point Appx. 1sec ／ point
0.4nm（0.2deg.） 0.1deg. 0.1deg.
Scanning Area：100×100mm,400×400mm,1200×1200mm,2100×2100mm Can be customized with sample size.
ABR-10A ABR-22
Resolution
Dynamic Range
Measuring Time
Stage Size
△：Retardation φ：Principal Axis ψ：Rotation Angle
ψ△△ △φ φ
ABR-10Aは、試料の持つ複屈折量（直線複屈折）とその主軸方位とを、高精度に測定することが可能です。
Model ABR-10A is also able to be applied for the inclined stage (optional order) used in refractive index ellipsoid measurement and the large-stage used in liquid crystal substrate.
屈折率楕円体測定用の傾斜ステージ（オプション）や、液晶基板向けの大型ステージにも対応いたします。
ABR-10A
ABR-22
BirefringenceＡＢＲの構成バリエーション ABR-10A、-22のいずれのタイプでも対応いたします。
複屈折測定は、光学材料の内部応力や高分子膜の配向特性の評価に有効です。
そのため、複屈折測定は材料研究部門や製造工程での品質管理に広く利用されています。
ABRシリーズは、光ヘテロダイン干渉法による共通光路干渉計とフーリエ解析法を利用することで、
高分解能・高精度で、しかも振動、空気揺らぎなどの外乱に影響を受けないという特徴を持っています。
Birefringence measurement is an efficient method to evaluate the internal stress in optical materials and orientation properties in polymer membranes. It is, therefore, widely used in such fields as material R&D, quality control for production process, and so on. By employing both the common-path interferometer based on the optical heterodyne interferometry and Fourier analysis method, series ABR measure samples with high resolution and high accuracy, and the measurement is not affected by the environment factors such as vibration and air turbulence.
Birefringence 2
ABR-10A-270 液晶基板ガラスなど、面積の大きな試料を計測するためのステージ構成です。
This stage is designed for the measurement of large size samples such as liquid crystal substrate glass.
Add a stage with 2700×2700mm scanning area
▲測定状態
▲オプションの試料ステージを試料着脱時に起こした状態
ABR-EX
This type of system is equipped with aninterferometer mounted on optical workbench, so that, the construction is able to be rearranged easily. This type is cheaper than the standard ABR models, and can be used as an optical heterodyne interferometer for academic field.
Experimental equipment type (ABR-OO-EX)
このタイプの装置は、光学定盤上に干渉計をセットするものです。装置の構成を容易にアレンジすることが可能です。標準タイプに比較して、安価です。また、教育現場向けに光ヘテロダイン干渉実験装置としてお使いいただけます。
ABR-10A-40
This type of system is convenient for measurement of the refractive index ellipsoid of comparatively small samples such as polymer films. Stage driver is covered safely. The figure is an example of the system equipped with a touch-panel-display (option).
Add a stage with resistanceweight up to 30kg: scanning area is 400×400mm
大型ガラスブロックなどの計測にお使いいただけます。試料ステージ上面部を大きく開けていますので、ステージ上にさらに傾斜ステージなどを搭載することも可能です。
In some case, it is much convenient to measure circular shape glass on R-θ coordinates. The model shown in figure is designed for these different requirements. Furthermore, when the incident light is tilted to the sample, the inclined stage is proposed for the birefringence measurement. Since inclining the sample causes the measurement light a horizontal gap, detector system is loaded on a one-directional stage to be able to follow the shear beam. This technique makes it available to measure sample with lens type.
Install tilt / rotational stage
傾斜･回転ステージ搭載
円形ガラスの測定には、Ｒ－θ座標系で測定を行ったほうが便利な場合があります。この様な用途のために製造されたものが写真のモデルです。また、試料に対して斜め入射の場合の複屈折量を測定するために、傾斜ステージを設けてあります。試料を傾斜することで、測定光が横ずれを起こしますので、ディテクタ系をその横ずれに追従させるためにディテクタ系も１軸ステージに搭載されています。これを応用して、レンズ形状の試料の測定が可能となりました。
標準ステージの大きさ 試料をセットする時のステージの状態試料ステージタイプ
50mm×50mm垂直
水平
XZステージ
XYステージ
100mm×100mm
100mm×100mm
200mm×200mm
300mm×300mm
400mm×400mm
500mm×500mm
600mm×600mm
1000mm×1000mm
1200mm×1200mm
2200mm×2200mm
水平または、起き上がるタイプを選択
水平タイプのみ
水平 耐荷重Max：160Kg
Yステージ（試料ステージがY軸方向のみ移動し、投光、受光用のステージがX軸方向へ移動する。）
重量のある試料用ステージ（XYステージ）
2700mm×2700mm
3200mm×3200mm
3400mm×3400mm
3700mm×3400mm
600mm×600mm
★印のついたステージは、オプションで試料着脱時に試料ステージを起こす機構の取り付けが可能です。（上部写真）
★
★
★
★
3 Birefringence
BirefringenceABRによる計測例 Example data
▲方形サンプル
▲円形サンプル(Rθ座標系）
▲方形サンプル（外周部のみ選択）
▲円形サンプル(XY座標系） ▲測定中の画面例
■ABR標準ソフトによる測定結果表示例■ABR標準ソフトによる■ABR標準ソフトによる■ABR標準準ソフトにによるる測定結果表示例る測定結果表示例測定定結果表表示例
測定パターン例
▲ プル（外周部のみ選択）プル（外周部のみ選択）プ 周部 み選択）方形サンプ方形サンプ方形 ン
▲▲ 画面例画面例画 例測定中の画測定中の画測定 の
Birefringence 4
■ベクトル分布表示ソフト
このソフトウェアは、複屈折や電磁場、流体など「ベクトル量」の大きさと向きを持つ量の2次元分布情報を同時にマッピングするものです。
などの機能を組み合わせて使用することにより、さまざまな表現が可能となります。 例えば、ベクトルの大きさを表示の明るさ、主軸の方位を色合いで表現すると2次元分布を高密度に表示することができます。 そのため、矢印を用いた従来表示法のように、データが密集する場合に表示が混みあい識別が困難になることはありません。
◆カラー／グレースケール層別表示◆等高線表示
◆方位を線分の傾きで表示◆3Ｄ鳥瞰図表示
This application software maps two-dimensional distribution both of the size and the direction of vector quantities such as birefringence, electro-magnetic field, fluid, and so on.
Combining above functions, it is able to display different images. For instance, by mapping the size of vector with brightness and the direction of principal axis with the color, the software displays two- dimensional distribution with high density. It is, therefore, easy to observe the crowding data points, which was impossible with the conventional displaying method using arrows. (Patent applying)
VectMap （Vector distribution Mapping Software）
◆Color / gray scale layer◆Contour Line
◆Axis Direction with tilted Line◆3-D bird's eye map
In collaboration with Prof. Umeda in Tokyo Univ. of Agri. and Tech., UNIOPT has been carrying out study on birefringence measurement using optical heterodyne technology, and has measured many samples. With these sustaining experiences, we are providing birefringence measurement service using our measurement equipments.
Birefringence phase difference and principle axis orientation (transmittal measurement)Due to X-Y inclining stage loaded on our measurement equipment, two-dimensional measurement of birefringence distribution is available. By changing incident angle, the variation of birefringence can be measured.
複屈折計測サービス Birefringence measurement service
ユニオプトは東京農工大学･梅田教授の下で、光ヘテロダイン干渉法による複屈折計測の研究を行っており、これまで様々な試料を計ってまいりました。この経験を生かし、弊社測定装置による測定サービスを承っております。
測定項目
■複屈折計測
被測定試料
●試料の大きさは、400×400mm以内
●測定波長（633nm)に対して透明であること
●光が直進して透過できるように、加工されていること（又は、液浸法による測定が可能であること）
料金●基本料金 ￥120,000.- →プラス1測定点につき ￥300.-
Measuring Item■Birefringence measurement
●Sample size is less than 400×400mm●Sample is transparent at measurement wavelength (633nm).●Sample is processed for straight transmitting (can be measured with liquid immersion method)
Sample Requirements
●Basic charge ¥120,000 yen →Plus ¥300 yen per measurement point
Charge
Wrapping film used in liquid crystal, arrangement features of strong dielectric (strong anti-dielectric) liquid crystal, optical disk, polymer material, semiconductor wafer, optical crystal, intrinsic stress in glass, etc.
Main application
複屈折位相差と、その主軸方位（透過測定）X-Y-傾斜ステージを搭載しておりますので、複屈折の2次元分布が測定出来ます。斜入射による複屈折の変化が測定出来ます。
液晶用ラビング膜、強誘電（反強誘電）液晶の配向特性、光ディスク、高分子材料、半導体ウェハ、光学結晶、ガラスの残留応力、他
主なアプリケーション
Sample is transparent at measurement wavelength (633nm) Sample is processed for straight transmitting Size ●Disk (Compression method) Standard ：φ20×t15mm ★Thickness correspondence is possible to 0.3～ 15mm.
●Film Sheet of the A4 size ( it clips by a bumbbel cutter ) Others： separately consultation
サンプル
■光弾性定数計測サービス
標準納期 測定サンプル到着後2週間
料金●基本費用 ¥180,000.-●測定費用 １試料あたり¥15,000.- 治具作成時は、別途治具作製費が必要となります
Sample Requirements■PhotoElastic Constant Measurement Service
2 weeks after measurement sample arrival.
Sample Requirements
●Basic charge ¥180,000 yen Plus ¥15,000.- yen per measurement sampleAt the time of the jig making, jig making costs are necessary saparately.
Charge
測定波長（633nm）に対して透明であること光が直進して透過出来ること
●圧縮 標準サンプル形状：φ20×t15mm ★厚さ 0.3 ～15mmまで対応可能
●フィルム A4程度のシート状(ダンベルカッターで打ち抜き) シート作製が出来ない場合には、別途ご相談
形状
▲複屈折位相差のカラースケールと主軸方位の線表示 ▲複屈折位相差のグレースケール表示 ▲主軸方位のカラースケール表示 ▲複屈折位相差の鳥瞰図表示 （この画面から、任意の断面表示が可能）
■ベクトマップ機能紹介
5 Photoelasticity
By extension or compress equipment on the birefringence measurement instrument (model: ABR, SBR), it is possible to measure photoelastic constant of samples. By the type equipped with a temperature control structure in the sample setting, it can perform extension in the temperature suitable for material. Moreover, by combining this instrument with rotation/inclination stage, it is possible to measure refractive index ellipsoid and do experiment to evaluate birefringence characteristic for different incident angle. The analysis part was developed by joint research with Professor Tajitsu in Kansai University.
仕様 ●変形モード：引張・圧縮測定
●サンプルサイズ：引張試験用 10×80mm
●圧縮試験用：φ20mm、t15mm
●引張・圧縮速度：0.01～100mm/min.
●駆動方式：ステッピングモーターによる左右ネジ同時駆動
●引張・圧縮距離：最大100mm
●加重範囲：0.2～50N
●ロードセル：定格50N（200N、1000Nに交換可能）
●恒温槽温度制御：室温～200℃
●温度調節精度：±1℃
SpecificationsModification mode: Tension and compression measurementSample size For tension experiment: 10 × 80mmFor compression experiment φ20 mm , t 15mmTension compression speed 0.01~100mm/minDrive system The right-and-left screw simultaneous drive with the stepping motorTension compression distance 100mm max.Load range 0.2~50NLoad cell Standard 50N (can exchange with 200N or 1000N)Temperature control of the stable temperature tub Room temperature~200°CTemperature control accuracy ±1°C
Measurement items
●Optical elastic constant●Birefringence
●Dynamics characteristic●Elasticity rate (Young's modulus)
●Destructive magnitude
From these measurements, it is possible to do morphology analysis and the extension/direction characteristic analysis in elastic area.
延伸・圧縮装置を複屈折測定装置（モデル:ABR、SBR）に搭載することで、材料の光弾性定数測定が可能になります。試料セット部に温度制御機構を搭載したモデルでは、材料に適した温度における延伸が可能です。また、この装置を回転・傾斜ステージと組み合わせることで、屈折率楕円体の測定や入射角を変更した場合の複屈折特性評価試験などを行うことが出来ます。解析部は関西大学・田實教授との共同研究により開発されたものを搭載しています。
PEL-3
Photoelastic constant measurement instrument Model: PEL-3
Photoelasticity光弾性定数測定
▲温調器付き圧縮引張り装置
▲TACフィルムの光弾性定数測定例 ▲光弾性測定時に同時に得られる 歪vsリターデーション 曲線
することで、
折
。
Birefringence 6
SBR-3
Model SBR-3 is a birefringence measurement instrument newly developed by Uniopt. By changing the polarization state with rotating polarization plane of incident beam, both birefringence and principal axis direct ion can be obtained simultaneously. This mode has wide measurement range high resolution. (JP Patent 3844222)
Model SBR-3-IR is a birefringence measurement instrument using Infrared light source(λ=1550nm). It can measure the birefringence of the crystal such as silicon crystal whitchdoes not transmit visible light with high-accuracy.
Automatic birefringence measurement system - Rotation and polarization modulation type: SBR-3
SpecificationsMeasurement Performance ●Measurement items Retardation (birefringence phase difference) Principal axis directionOptical system ●Measurement principle Rotation and polarization modulation method ●Light source He-Ne laser (λ=632.8nm), power 2mW Laser Diode (λ=1550nm), power 2mWSample stage system ●Holding method Depend on samples (Size≦50×50mm)
仕様測定性能 ●測定項目 リターデーション（複屈折位相差）、 主軸方位角光学系 ●測定原理 偏光変調回転法 ●光源 He-Neレーザ（λ=632.8nm）、出力 2mW 半導体レーザ（λ＝1550nm）、出力2mW試料ステージ系 ●固定方法 別途相談（50×50ｍｍ以下）
SBR-3は、ユニオプトが新しく開発した測定原理に基づいた複屈折測定装置です。試料に入射させる偏光状態を変調しながら回転させることによって、試料の複屈折と主軸方位を同時に求めます。測定ダイナミックレンジが広いこと、測定分解能が高いことが特徴です。
（特許第3844222号）
SBR-3-IRは、赤外光源の複屈折測定装置です。光源の波長を近赤外（λ=1,550nm）とすることにより、従来測定が困難であったシリコンなどの半導体の複屈折分布を、高精度に測定することが可能となりました。
赤外光モデル
Birefringence回転偏光変調型自動複屈折測定装置
▲シリコンディスク(φ25×2mm)の計測例 ▲シリコンディスク(φ25×2mm)の計測例 外部から負荷をかけた例 光弾性複屈折が観測できる
【赤外光モデルの用途・応用例】□シリコンインゴット等の結晶材料の残留応力分布測定□高分子フィルムの複屈折測定
測定項目
仕様
リターデーション（複屈折位相差）Retardation
測定範囲Dynamic range
測定性能
Performance
Optical system
光学系
測定範囲Dynamic range
繰り返し精度（3σ）Measuring Time*（Re≒0nm)
**（Re≒158nm) ***（Re≒388nm)
分解能Resolution
測定原理Measurement Principle
システムSystem
光源Light Source
主軸方位角Azimuth of Principal Axis
主軸方位角Azimuth of Principal Axis
0 ～775nm（0 ～180deg）
0.05nm
0.15nm*
±90deg
0.2deg
-
0.5deg
約1秒／点 Appx. 1 sec/point
0.5nm***
偏光変調回転法Polarization moduralation by rotation method
透過による測定Measurement by transmission
リターデーション（複屈折位相差）Retardation
0～316nm（0～180deg）
0.02nm
0.06nm*
±90deg
0.2deg
0.3nm**
-
0.5deg
SBR-3SBR-3-IR
結晶の不均一部分が可視化できる
測定定定布測布測布測
外部応力
外部応力
レーザーダイオードLD(λ=1550nm、2mW、φ1mm)
He-NeレーザーHe-NeLaser（λ=632.8nm、2mW、φ1mm)
7 Birefringence Viewer / Striae Viewer
特徴 ●簡単 複屈折の大きさが色の変化に対応するため、直感的な判別が可能。 ●高感度 人間の色に対する感度は大変敏感です。 熟練作業者は、複屈折量が1nm以下を判別できると言われています。 ●デジタル化 画像データベースに登録することで、様々な応用が可能。
SBV-01は、試料の複屈折の大きさを色の変化に置き換えて簡単に観察できる装置です。複屈折の相対的な比較や、試料内部の複屈折分布の観察に有用です。検査工程での選別作業に大変有効です。標準試料の画像を予め準備することで、試料の比較選別が簡単に行えます。標準試料として複屈折既知の試料を使えば、おおまかな定量評価も可能です。 透明試料に対する透過型だけでなく、CD-ROMのような反射試料に対して反射型のセットアップも可能です。
SBV-01
仕様 ●偏光素子 φ150mm ●観察領域 φ140mm ●観察方法 クロスニコル法、円偏光法など組み合わせを換えられます。
半導体結晶は、引き上げ時に結晶の向きがわずかにずれる欠陥が生じます。欠陥観察器はこの欠陥を簡便に検査するものです。ニオブ酸リチウム結晶など、可視光を透過するウェハの検査に最適です。 光弾性実験装置としても使用可能です。
SBV-20
主な機能と特徴高感度カラー CCD カメラ
●10倍ズームレンズ
●超高輝度白色LED光源
●視野φ75mm長時間作業に負担を与えない高さの架台設定とアームレスト。キャプチャ装置を組み合わせることで、静止画・動画をPCへ保存することが可能（オプション）
UMY-10は、様々な透明体試料の屈折率の乱れ（＝脈理）を簡単に観察することができる装置です。 シュリーレン法を応用した光学系にCCDカメラを組み合わせ、モニターで観察することで、脈理検査に対して特別な訓練を必要とせず、高感度な検査を行うことができます。
UMY-10
［応用分野]
●光学ガラスの脈理検査
●化合物半導体ウェハの結晶欠陥検査
●流体観測実験 等
Birefringence Viewer複屈折観察器
Striae Viewer脈理観察器
半導体ウエハの欠陥観察器
▲ガラスの脈理（光学ガラスではありません）
脈理観察の様子
▲エアノズルから噴出するガスの流れ
【脈理】脈理とは、ガラス等透明体の屈折率が局所的に変化している部分のことを言います。空気のような気体でも同様な屈折率の乱れが生じます。スプレーのノズルから出射するガスの流れも屈折率が異なる為、脈理観察器はこれらの空気の流れなどを明瞭に観察することが出来ます。ガラス等の表面のキズや研磨ムラ（柚子肌など）も検出することが可能です。レンズなど平面でない形状の試料はレンズ試料と同じ屈折率を有する液体（屈折率整合液）中に浸けることで（液浸法）観察が可能になります。UMY20型では、光学系のアレンジ、及専用治具を用いることでより液浸法よりも簡便な観察が可能になります。
て特別な訓練を
様空可で便
Microscope 8
EXPERT-G2
主な機能と特徴大面積高精度ＸＹステージ ●分解能1μm クローズドループ ●ステージストローク 400×400mm
高精度Ｚステージ ●分解能0.1μm クローズドループ
大面積高剛性透過ステージ
カメラ同期光源 ●CCDカメラのシャッター同期信号を出力 （CCDカメラはオプション） ●超高輝度白色LED採用 熱線・紫外線が出ないため、 試料へのダメージがありません。
試料吸着ホルダー ●試料の形状に合わせた真空吸着ホルダーを搭載可能
［応用分野］ ●写真乾板に記録された素粒子・原子核反応の飛跡探査 ●ホトマスク等各種パターンの欠陥検査 ●細胞培養セルにおける、培養状態の検査 等
「大面積走査顕微鏡(EXPloratory microscope for Extensive aRea with Transmitted_light)」は、乾板やガラス基板などの試料の測定と解析を目的に開発された光学顕微鏡機構です。
主な仕様
Microscope大面積走査顕微鏡
▲サーバPC画面
▲Pot用PCとセンサ
▲センサ設置の様子
ステージ部（Ｘ・Ｙステージ部）
試料ホルダー
専用架台
□400mm(Ｘ)×400mm(Ｙ)□ステッピングモータによる駆動□エンコーダによるクローズドループ制御□ドライブ速度 最高50mm/sec. □読み取り単位 1μm□位置再現性 15μm以下
ストローク駆動方法
ガラス基板□サイズ：408mm×408mm□専用吸着ホルダー搭載可能
除振装置□ゴム式除振□重量 300kg/m2以下
顕微鏡部
照明部
□ステッピングモータによる駆動□エンコーダによるクローズドループ制御□移動量30ｍｍ 読み取り単位 0.1μm
□5個孔手動標準レボルバー (明視野タイプ)
□3眼Ｔ型鏡筒または直筒方式
焦点駆動方法(Ｚ軸部)
レボルバー
鏡筒
透過照明光学系
□簡易ケーラー照明 (開口数NA=0.85の長焦点 コンデンサレンズ使用)□高輝度LED照明および駆動電源装置
TBCF-10は、 東京農工大学・先進植物工場研究施設（荻原教授）より委託されて開発した、植物個体の環境モニタリングシステムです。植物個体ごとの温度、湿度、土壌水分、pH、ECなどをモニタリングする各種環境センサ等を設置し、センサ制御・データ収集を行い、データベースに登録します。植物個体はICタグにて管理され、それぞれの個体について育成歴、病歴などの管理が一括して行えます。 取得したデータについての時系列表示を並列表示する事で、栽培に有効なパラメータの相関分析が簡単に行えます。
■システム環境：Windows7、 データベース：MYSQL■ポット用PC：防水型ノートパソコン■測定項目：温度、 湿度、 CO2濃度、 土壌水分、 pH、 EC、 Pot重量、 光量■データロガー設定により、データ取得間隔、取得期間を任意に設定可能（連続測定可能）
ICタグポットPC
サーバＰＣ
センサー群
システム概要図 Plant monitoringPlant monitoringP ant mmon toringem forem form foractorytactoryactory
ICタグリーダー
LAN回線サーバＰＣーバＰ
systesysteysysteplant fal t fplant fap ant f
LAN回線
サーバソフトデータ管理ソフト
データロガー
専用架台 除振装置□重量 300kg/m2以下 □高輝度LED照明および駆動電源装置
TBCTBCTBCFFF-10は、10は、0は 東京農工大学・先進植物工場研究施設（荻原教授）東京農工大学 先進植物工場研究施設（荻原教授）東京農工大学学 先進植植物工場研究施設 荻原原教授 より委託されて開発した、植物個体の環境より委託されて開発した、植物個体の環境より委託されて開発した、植物個体の環環境モニタリングシステムです。植物個体ごとの温度、湿度、土壌水分、pH、ECなどをモニタリングする各種環境モニタリングシステムです 植物個体ごとの温度 湿度 土壌水分 pH ECなどをモニタリングする各種環境モニタリングシス ムです 植物個体ごとの温度、湿度 土壌水分、H、E などをモニタ ングする各種環境センサ等を設置し、センサ制御・データ収集を行い、データベースに登録します。植物個体はICタグにて管理され、セ サ等を設置し セ サ制御 デ タ収集を行い デ タベ スに登録します 植物個体はICタグにて管理されセンサ等を設置し センサ制御 データ収集を行い、データベーススに登録します。植物個体はI タグにて管理され、
植物工場向けオールインワンモニタリングシステム TBCF-10植物工場向けオールインワンモニタリングシステム TBCF-10植物工場向けオールインワンモニタリングシステム TBCF-10
9 Technical Informations
We produced a new system for measuring the small photoelastic coefficient of polymer thin film with a small birefringence. In the measurement system, a frequency stabilized transverse Zeeman laser(STZL) was used on the basis of Optical heterodyne theory. It is possible to measure the birefringence and principal axis direction of a polymer film within 100μs. Therefore, we were able to evaluate the photoelastic coefficient of a polymer film in real time with quantitative analysis. In this study, we obatined a small photoelastic coefficient of 1.2x10-13Pa-1 for the cycloolefin film using our new measurenet system. We emphasize here that it is impossible to measure thus small value of photoelastic coefficient of polymer films using the conventional measuring system on the basis of Senalmont method. (cooperative research with Prof. Y. Tajitsu (Graduate School of Engineering,kansai University) [53rd SPSJ Symposium on Macromoleclues] (SPSJ:The Society of pokymer Science,pan)
高分子フィルムの光弾性定数を精密に評価し、更なる機能を持つ高分子材料の設計にフィードバックする事が求められている。高分子フィルムの場合、かなりの低応力下、低歪下でなくては、応力ー歪曲線は線形の関係を満たさないことが知られている。すなわち、複屈折の微少量が精度よく測定出来ないと、高分子フィルムの変形モードが複雑になる応力下でしか、光弾性定数の測定が出来ない。 本研究では、複屈折測定法に光ヘテロダイン干渉法を用い、複雑な要因を排除するために、低応力（低加重）下で光弾性定数を求めることを試みた。そこで得られた結果と、従来行われている「大きな加重下で得られた値」とが異なることを報告し、低加重下における評価法が有意義であることを示した。
（田實佳郎教授・関西大学大学院工学研究科との共同研究）［第53回 高分子討論会 2K01tajitsu 予稿集（2004.9.16）にて講演］
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60
小さい光弾性定数を持つ高分子フィルムのための評価法
As for the liquid crystal display, it is found more thin-and-light becoming it. It is important that the sheet glass used for this measures a photoelasticity coefficient at a board thickness to be really used in quality control.Because the sheet glass cannot increase big load, there are a few changes of the birefringent quantity by the photoelastic effect. Therefore, a highly precise birefringent measurement device is necessary. I put the disk compression method and the optical heterodyne interference method together by this experiment and performed a photoelasticity measurement of the sheet glass.
液晶ディスプレイは一層の薄型軽量化が求められている。これに使われる薄板ガラスは、品質管理において、実際に使用される板厚で光弾性係数を測定することが重要である。薄板ガラスの測定では、割れが発生しやすいため、大きな荷重を加えることができない。このため、光弾性効果による複屈折量の変化が僅かである。このため高精度な複屈折計測装置が必要である。本実験では円盤圧縮法と、光ヘテロダイン干渉法を組み合わせて、薄板ガラスの光弾性計測を行った。
［第60回 応用物理学会春季学術講演会 27p-A2-3］
薄板ガラスの光弾性計測
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60
We have developed a system for measuring the photoelastic constants of optical films using an optical heterodyne technique generally used to measure birefringence. The system included a compact tension tester and was automated by software. When measuring an optical film used for a liquid crystal display under low stress, which is difficult with conventional measurement techniques, we could determine whether the photoelastic constant was positive or negative and obtained a value of +0.14×10-12/Pa. [Tsukiji et al. Journal of the Japan Society for Precijion Engineering, Vol.73,No.2, pp.253-258(2007)]
最近のLCDの大型化に伴い、光学用フィルムの光弾性定数の精密な測定が要求されています。この問題を解明するための精密測定システムの開発が待たれていました。また、ゼロ複屈折性光学ポリマーと呼ばれる、非常に小さな複屈折をもつ光学フィルムの開発も進展し、これらの材料の光学特性としての光弾性定数の測定も要望されています。 そこで、我々は複屈折測定に使用されている光ヘテロダイン計測法を採用し、これに小型引張試験機を搭載したシステム構成とソフトウエアにより自動化された光学フィルム用光弾性定数測定システムを開発しました。正と負の光弾性定数の被検サンプルによって測定の評価を行い、併せて、極めて小さな光弾性定数をもつフィルムの測定を実施し、この測定システムの有用性を示しました。
[築地、高和、田實、精密工学会誌、Vol.73、No.2、pp.253-258(2007)]
光学フィルム用光弾性定数測定システムの開発
Measuring System for Photoelastic Constant of Optical Film
薄板ガラス
Technical Informations技術情報
Technical Informations 10
高分子フィルムの相転移状態・分子鎖の運動の測定例
Dr. Tajitsu of Yamagata University proposed the new experimental system of simultaneous measurement of birefringence and thickness for polymer thin films. The apparent birefringence of polymer thin films is greatly changed by the variations in thickness with decreasing and increasing temperature. Therefore, the changes in the thickness and birefringence of polymer thin films were measured simultaneously using the system developed by us, and the intrinsic birefringence was calculated on the basis of the measurement results. The following result is it of ferroelectric polymers. [The Journal Materials Science Letters, 19,(2000) 381]
[Ferroelectric phase transition of polymers usingsimultaneous measurement of birefringenceand thickness]
この方法は、山形大学工学部・田實助教授の考案された方法です。透過光の複屈折と、反射エリプソメトリーにより膜厚と屈折率を温度の関数として測定し、相転移の状態と分子鎖の運動、（高分子鎖のマクロ（フィルム）な配向状態とミクロ（結晶内）の配向状態の変化を同時に求める）を定量的に評価するものです。 図に示した例は、強誘電性高分子P(VDF/TrFE)の強誘電性相転移の測定例です。［The Journal Materials Science Letters 19（2000）381］
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Temperature(oC)
He-Ne LaserPolarizer
Reflection
Analyer
TransmissionCell
Sample
Analyer
Collimator
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Photodiode
Heater
ThemoControlSystem
DriverAmp.
Filter
A/D
Microcomputer
測定システムの概要図Scematic diagram of measurement system
フィルムの複屈折と相対膜厚の温度特性（実測値）Thermal property of birefringence and relative thickness of polymer film (measured value)
フィルムの複屈折の温度特性（膜厚補正処理後）Thermal property of birefringence of polymer film (caribrated value)
As for the liquid crystal display, it is found more thin-and-light becoming it. It is important that the sheet glass used for this measures a photoelasticity coefficient at a board thickness to be really used in quality control.Because the sheet glass cannot increase big load, there are a few changes of the birefringent quantity by the photoelastic effect. Therefore, a highly precise birefringent measurement device is necessary. I put the disk compression method and the optical heterodyne interference method together by this experiment and performed a photoelasticity measurement of the sheet glass.
時間相関イメ－ジセンサは、光電流の分配比を外部電気信号によって変調して蓄積する構造により、全ての画素上で同時に時間相関を形成する形式の新しいイメージセンサである。時間相関イメ－ジセンサと光ヘテロダイン法を組み合わせて、2次元的な複屈折の測定を行い、複屈折の空間的分布の検出に成功した。被検試料として、プラスチックケースの一部を切り出して両面を研磨したものを用いた。Fig.1は偏光子を直交ニコルの状態に配置し間に被検試料を挟んで撮影した偏光写真である。縞模様は、左へ向かうほど次数が大きくなっていることを表している。Fig.2は時間相関イメージセンサで撮影した画像である。Fig.1と同様に位相が変化していることが確認できる。偏光写真による位相差の変化と時間相関イメージセンサで得られた複屈折分布が等しい事から、装置の複屈折分布が正しく行えている事が分かる。
( VIEW2010 ビジョン技術の実利用ワークショップ C-20)
時間相関イメージセンサを用いた光ヘテロダイン複屈折分布測定
A birefringence polarimeter that uses dual LiNbO3 electrooptic crystal modulators operating at a frequency ratio of 4 : 1 is presented. The significance of this polarimeter is that the birefringent parameters of a sample are obtained only from the modulated polarization status. The measurement, therefore, avoids depolarization effects resulting from the sample itself and the rest of the optical system. The high speed and accuracy of this polarimeter are shown by measurements using a birefringence compensator, and a LN phase modulator. The retardance of the LN crystal was measured to examine the speed of this measurement system. Single measurements can be made rapidly with this system. A measurement can be made in 62.5 ms.
二つの電気光学（EO）結晶位相変調器を用いた計測方法について、変調周波数比及び変調振幅の理論解析を行うとともに計測システムの設計を提案した。EO結晶位相変調素子としてY軸カットZ軸伝播LiNbO3
結晶を用いた。精度検証実験の結果、位相差Δ=15.8°の標準試料を計測し、Δ=16.10±0.05°（30回測定）の結果が得られた、また計測速度の確認実験として、もう１つのLiNbO3電気光学結晶を試料として、これに1Hzの矩形波を-200、-100V間で印加した。結果を右図に示す。 本実験により62.5msの計測速度で精度良く計測できていることが確認された。
(第59回 応用物理学関係連合講演会 18a-B9-7)
デュアル電気光学結晶を用いた高速複屈折計測システムの開発及び応用
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▲Fig.1
▲Fig.2
11 Education
この実験では、光が回折を起こす様子を観察、観測するものです。我々が直接体感できる情報は光の強度分布情報であるため、回折現象を用いて、光と物体の相互作用や、物体の状態を予想したり計算で求られる事の基本を学習します。実験では、
という事が学習できます。この実験セットは、山形大学・工学部で採用されています。
①身の回りの回折格子を利用して、回折現象を体験するとともに回折に関する基礎知識を理解すること。
②光の振幅を空間的に変化させる物体（スリットや円形開口）を光路中にいれたとき、物体を通過して出来た光にどの様な変化が見られるのかを観測し、フラウンホーファ回折パターンの測定から、スリット幅や円形開口の直径を求めること。
③位相を空間的に変化させる物体（位相回折格子）を透過してきた光にどの様な変化が見られるかを観測し、いくつかの回折パターンからその物体がどの様な構造になっているのかを考える。
このキットでは、光の偏光や複屈折の様子を直感的に体験できます。組み合わせを工夫することで、さまざまな実験が可能です。 光源にＬＥＤを使っているため、消費電力が小さく、乾電池で動作します。ＬＥＤの発光色を変更することで、実験に楽しみが増し、また、色による偏光状態の変化などの様子を体験的に学習することが出来ます。 偏光フィルタ観察によって、（複屈折のある）透明体材料が着色して観察される現象を、より具体的に科学的に考察することが出来ます。この実験セットは、東京工芸大学・工学部で採用されています。
光学入門実験キットは、東京工芸大学・物理学研究室・川畑教授のアイデアを元に、ユニオプトが開発したものです。物理実験のテーマに採用されています。 このキットで、光の反射、屈折の様子を直感的に体験できます。組み合わせを工夫することで、さまざまな実験が可能です。
この実験キットは、半透明のレンズ・プリズムのセットです。半透明光学部品は、その中に光を通過させるとその光路を目視できます。各光学部品には磁石が埋め込まれていて、専用の着磁性ベースプレートを用いる事で、プレートを立てた状態でデモンストレーションする事、など多彩な応用が可能です。 光学部品の標準形状は、凸レンズ、凹レンズ、直角プリズム、正三角形プリズム、平行四辺形プリズムですが、ご要望に応じて様々な形状の作成が可能です。
偏光実験セット[POLK IT ]
回折実験セット[DEFK IT ]
光学入門実験キット[OPTK IT ]
レンズプリズム実験キット[ LNSKIT ]
この我々がを用いれる事
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①身の折に
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回折回折回折回折回折回折回折回折折折折折折回折回折回折回折回折回折回折回折回折回折回折回折回折回折回折回折回折回折回折回折回折折折回折回折折実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験実験セッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッセッッセセ トトトトトトトトトトトトトトトトトトトトトトトトトトトトトトトトトトトトト[D[D[D[D[D[DDDDD[D[D[D[D[D[DDD[ EFEFEFEFEFEFEFEFEFEFEFEFFEFFFFFFFFFFFK IK IK IK IK IK IKKKKKKKIKKKIKKKKKIT ]T ]T ]T ]T ]T ]T ]T ]T ]T ]T ]T ]T ]T ]T ]TTTTTTT
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偏光実験セット[POLK IT ]
回折実験セット[DEFK IT ]
光学入門実験キット[OPTK IT ]
レンズプリズム実験キット[ LNSKIT ]
Education教育関連製品
▲ベースプレート ▲光路の可視化 ▲液体の屈折率実験用セル
磁石
磁石
Education 12
この実験キットは、ＬＥＤが16×16のマトリックス上に配列したディスプレイに、ＰＣの命令で文字や図形を表示させるものです。プリンターポート（8bit)を使用すると、8×8のマトリックス上に出力できます。ＰＩＯボード(16bit)を使用すると、全面に出力することが出来ます。制御命令によって文字や図形を動かすことも出来ます。 ディスプレイ部は、アドレスデコーダ回路やラッチ回路で構成されていますので、これらを含むデジタル回路の仕組みや、論理演算などが理解できます。また、ＰＣからソフトウェア制御（Ｃ言語）を行うソフトを開発することで、ハードウエアとソフトウェアの両方を同時に学習できます。（Ｃ言語用のサンプルソフト付き）この実験セットは、日本女子大学・理学部で採用されています。
このソフトウェアは、東京工芸大学・物理学研究室･川畑教授の起案により、ユニオプトがコースウエアとしてまとめたものです。内容は、練習問題、コースウエア（成績評価演習）、コース履歴の三つの部分に別れています。学生が独自のペースで学習が進められるように工夫されています。コースウエアには成績集計機能がついています。 出題内容は、単純な四則演算問題、公式をつかった計算問題、Ｎ者択一問題、穴埋め問題などが作成可能です。問題内容と回答は全てテキストデータファイルにて管理するため、プログラムの知識がなくても問題の作成が可能です。実際の運用時には問題ファイルを暗号化して管理するため、演習者（学生）が容易に問題の解答を発見することはありません。問題の中に図の挿入も可能です。数値計算問題は、出題側の値に乱数を使用できるため、繰り返し練習が可能であるだけでなく、グループ学習においても各人異なる問題が出題できます。 物理学だけでなく、小学校の算数や、英語学習などへ広く応用が可能です。
問題入力サービスは、別途承ります。 カスタマイズにも応じます。
本実験セットは、職業能力開発大学校の学生実験テーマに採用されているものです。 マイケルソン干渉計の構成になっており、可動ミラーを動かしてスクリーンに映った干渉縞の移動本数を数えます。レーザーの基本的な取り扱い、干渉の原理などが学習できます。 マイケルソンタイプだけでなく、他のタイプの干渉計にも対応いたします。
干渉計実験セット[ IFK IT ]
LED表示実験セット[ LEDKIT ]
教育支援ソフト（CAI）[CLAS]
光ファイバ音声伝送実験キット[ FSTK IT ]
この配列しさせる8×8の(16bit御命令ディス構成さや、論理ア制御発するウェアす。（Ｃき）この学・理学
このとめたもが独自 出題Ｎ者択答は全の知識題ファイ問題のも可能ため、繰おいて 物理が可能
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本実用されり、可動数を数の原理 マイケタイプの
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干渉計実験セット[ IFK IT ]
LED表示実験セット[ LEDKIT ]
教育支援ソフト（CAI）[CLAS]
光ファイバ音声伝送実験キット[ FSTK IT ]
この実験キットは、光を使って信号（音声）を伝送する仕組みを学習するものです。送信側にはマイクとＬＥＤが、受信側にフォトダイオードとスピーカーがつきます。信号を伝送するためにファイバーを用います。光で行う糸電話のような感覚のものです。信号伝送の仕組み（変調、復調）、光ファイバーの伝送原理、ＬＥＤのドライブ方法などが学習できます。 ＬＥＤ（発光色）を交換できますから、楽しく学習ができます。日本女子大学・理学部、東海大学･応用理学科で採用されています。
磁石
ここに紹介した実験キットは、カスタマイズ可能です。また、ここに紹介していない物でも、ご要望に応じてご注文に対応いたします。お気軽にご相談ください。
広範囲型
STVA1-8
Stereopsis Lens産業用C-マウントカメラ用立体視レンズ
2つの光学系からの映像を1 つの撮像素子の左と右に分けて映し込みます。C-マウント仕様のカメラであれば新旧問いません。 モニター画面、PC 画面に映し出される2 枚の画像は裸眼クロス法で立体視が可能です。
□外形 210×70×24mm □重量 260g□レンズ倍率2倍、FNo. 30、WD 88mm□広い作業空間、テレセントリック、 ディストーションフリー□2眼の光線見込み角30度容易な座標計算□実視野 1/1.8”CCDの場合、縦2.88ｘ横1.85mm レンズ解像度7μm
□外形 56×70×24mm □重量 100g□レンズ倍率1/8倍、FNo.11、WD 380mm 広い作業空間□2眼の光線見込み角8度□実視に近い角度 観察光学系、教育用途に最適□実視野 1/1.8”CCDの場合、縦45ｘ横28mm レンズ解像度80μm
光学系の設計～製作
高精度計測位置決め用途
仕様
□画像処理用 投影光学系、撮影光学系□フーリエ変換光学系□レーザー干渉膨張計□屈折率の温度係数(dn/dT)計測装置□走査型干渉位相計測装置□クリスタルローテーション法実験装置
主な事例
仕様
Custom-made order カスタムオーダー
投影系、結像系、プリズムやダイクロイックフィルターを含む光学系、レーザ干渉計など、お客様の仕様に応じた光学系の設計から製作まで一貫してお受けいたします。基礎実験用の装置、産業用製造装置、評価装置に応じて、その装置の使い勝手を十分に考慮した機構設計でご好評いただいています。
機械・機構設計業務
産業用製造装置、洗浄装置、評価装置の機械・機構設計をいたします。設計図面のみのご依頼や、試作・製作に至るまでのご依頼もお受けいたします。お気軽にご相談ください。
ターを含む光学系、レーザ干渉計など、お客様の仕様にターを含む光学系、レーザ干渉計など、お客様の仕様にいたします。基礎実験用の装置、産業用製造装置、評価装いたします。基礎実験用の装置、産業用製造装置、評価装機構設計でご好評いただいています。機構設計でご好評いただいています
科研費：基盤研究(B)20360153 写真協力：東京農工大学
STMA2-1 TCD
13 Stereopsis Lens / Custom-made order
社名：ユニオプト株式会社 Company Name:UNIOPT Co., Ltd.
■所在地 ■Address
〒431-0411 静岡県湖西市入出350-1TEL：053-578-3395 FAX：053-578-1371
350-1 Iride, Kosai-shi, Shizuoka-Pref. 431-0411, JAPANTEL: +81-53-578-3395 FAX: +81-53-578-1371
1992年（平成4年） 11月 20日に資本金 300万円で有限会社ユニオプト設立
1993年（平成5年） 7月 （財）静岡県科学技術振興財団より開発補助交付
1994年（平成6年） 5月 東京営業所、および開発室開設
1996年（平成8年） 2月 商工中金「新規事業振興貸付」対象企業認定
1996年（平成8年） 4月 静岡ブランチ開設
1996年（平成8年） 6月 インターネットホームページ開設
1997年（平成9年） 12月 通産省・新規事業法の特定新規事業認定
1998年（平成10年） 6月 静岡県・産学協同研究開発事業受託
1999年（平成11年） 3月 東京営業所・静岡ブランチ統合・移転
2001年（平成13年） 3月 静岡県・産学協同研究開発事業完了
2002年（平成14年） 5月 文部科学省科学研究費「特定領域研究」採択
2003年（平成15年） 5月 文部科学省科学研究費「特定領域研究」継続採択
2003年（平成15年） 5月 NEDO「大学発事業創出実用化研究開発事業」採択（2件）
2003年（平成15年） 12月 資本金を1,000万円に増資しユニオプト株式会社に組織変更
2005年（平成17年） 10月 静岡ブランチ 移転
本社
Main Office
〒421-1221 静岡市葵区牧ヶ谷2102TEL:054-276-1130 FAX:054-276-1131
2102 Makigaya, Aoi-ku, Shizuoka-shi,Shizuoka-Pref. 421-1221, JAPANTEL:+81-54-276-1130 FAX:+81-54-276-1131
静岡支店
ShizuokaBranchOffice
■主な取引先 ■Main Customers
■会社経歴
商工組合中央金庫浜松支店普通 No.1153129
遠州信用金庫湖西支店当座 No.0001427
■取引銀行
■代表者 ■ President
代表取締役社長 名倉喜英 Yoshihide Nagura
■資本金 ■ Capital
1, 0 0 0万円 ￥10,000,000.-
◇Manufacturer, Distributor and Seller of PreciousMeasuring Instruments
◇Manufacturer and Seller of Optical Equipments◇Mechanical System Design Work◇Manufacturer, Developer and Seller of Software
■事業内容 ■ Company Description
◇精密計測機器の製造販売◇光学機器（レンズ系など）の設計・製造販売◇検査機器、搬送装置の機構設計◇ソフトウエアの受託開発
旭化成（株） ASAHI KASEI CORPORATION旭硝子（株） ASAHI GLASS CO., LTD.旭ガラスファインテクノ韓国（株） Asahi Glass Fine Techno Korea Co., Ltd.AvanStrate（株） AvanStrate Inc.AGCエレクトロニクス（株） AGC Electronics Co., Ltd.AGCディスプレイグラス台湾（株） AGC Display Glass Taiwan Co., Ltd.FDK（株） FDK CORPORATION（株）オハラ・クオーツ Ohara Quartz Co., Ltd.オリンパス（株） OLYMPUS Corporationキヤノン（株） CANON INC.キヤノンオプトロン（株） Canon Optron. Inc三洋電機（株） SANYO ELTECTRIC CO., LTD.（株）シグマ SIGMA CORPORATION（株）島津デバイス製造 Shimadzu Device Corporationシャープ（株） SHARP CORPORATION信越化学工業（株） SHIN-ETSU CHEMICAL CO., LTD.信越石英（株） SHIN-ETSU QUARTZ PRODUCTS CO., LTD.新日鐵住金（株） Nippon Steel & Sumitomo Metal CorporationJSR（株） JSR Corporation（株）JVCケンウッド JVC KENWOOD Corporation住金石英（株） SUMIKIN QUARTZ PRODUCT, INC.住友大阪セメント（株） SUMITOMO OSAKA CEMENT CO., LTD.住友金属鉱山（株） SUMITOMO METAL MINING CO., LTD.セイコーエプソン（株） SEIKO EPSON CORPORATION東ソー・エスジーエム（株） TOSOH SGM CORPORATION東ソー・クォーツ（株） TOSO QUARTZ CORP.直江津精密加工（株） Naoetsu Precision Co., Ltd.（株）ニコン NIKON CORPORATION日亜化学工業（株） Nichia Corporation日本結晶光学（株） NIHON KESSHO KOGAKU CO., LTD.日本電気（株） NEC CORPORATION日本電気硝子（株） NIPPON ELECTRIC GLASS CO., LTD.日本電産サンキョー（株） NIDEC SANKYO CORPORATION（株）日立製作所 HITACHI, LTD.（株）フジクラ FUJIKURA, LTD.富士電機（株） FUJI ELECTRIC CO., LTD.富士フィルム（株） FUJI FILM CorporationHOYA（株） HOYA CORPORATIONポリマテック（株） POLYMATECH CO., LTD.三井化学（株） Mitsui Chemicals, Inc.三菱化学（株） MITSUBISHI CHEMICAL CORPORATION
三菱電線工業（株） MITSUBISHI CABLE INDUSTRIES, LTD.CHINA OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CORP.GERMAN PLASTIC INSTITUTEHeraeus Holding GmbH
秋田大学 Akita University宇都宮大学 Utsunomiya University大阪産業大学 OSAKA SANGYO UNIVERSITY大阪大学 OSAKA UNIVERSITY科学技術振興事業団 JAPAN SCIENCE and TECHNOLOGY CORPORATION (JST)神奈川工科大学 KANAGAWA INSTITUTE OF TECHNOLOGY関西大学 KANSAI UNIVERSITY木更津工業高等専門学校 KISARAZU NATIONAL COLLEGE OF TECHNOLOGY京都大学 KYOTO UNIVERSITY岐阜大学 GIFU UNIVERSITY慶応義塾大学 KEIO UNIVERSITY航空自衛隊 JAPAN AIR SELF-DEFENSE FORCE国立天文台 NATIONAL ASTRONOMICAL OBSERVATORY OF JAPAN産業技術総合研究所 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology静岡大学 SHIZUOKA UNIVERSITY職業能力開発総合大学校 TOKYO INSTITUTE, POLYTECH UNIVERSITY独立行政法人 通信総合研究所 COMMUNICATIONS RESEARCH LABORATORY電気通信大学 The University of Electro-Communications東海大学 TOKAI UNIVERSITY東京医科歯科大学 TOKYO MEDICAL AND DENTAL UNIVERSITY東京工業大学 TOKYO INSTITUTE OF TECHNOLOGY東京工芸大学 TOKYO INSTITUTE OF POLYTECHNICS東京大学 The University of Tokyo東京農工大学 TOKYO UNIVERSITY OF AGRICULTURE AND TECHNOLOGY東邦大学 THE TOHO UNIVERSITY東北大学 TOHOKU UNIVERSITY東洋大学 TOYO UNIVERSITY名古屋工業大学 Nagoya Institute of Technology日本女子大学 JAPAN WOMEN'S UNIVERSITY北海道大学 HOKKAIDO UNIVERSITY防衛大学校 NATIONAL DEFENSE ACADEMY IN JAPAN山形大学 YAMAGATA UNIVERSITY山梨大学 University of YamanashiGyeongsang National University
Company Profile会社案内
Company Profile 14
本カタログの仕様ならびにデザインは改良のため，変更されることがあります。Due to continued product improvement, specifications are subject to change without notice.
No.1306JE
ユニオプト株式会社 UNIOPT Co., Ltd.〒421-1221 静岡市葵区牧ヶ谷2102
TEL:+81-54-276-1130 FAX:+81-54-276-1131http://www.uniopt.co.jp
2102 Makigaya, Aoi-ku, Shizuoka-shi, Shizuoka-Pref. 421-1221, JAPAN
P r o d u c t L i n e - U p
■「UNIOPT様 会社商品カタログ2013」表1-4
A B R で な け れ ば 出 会 え な い 信 頼 が あ る