AgilentENA RFネットワーク・アナライザ

E5070B 300 kHz to 3 GHzE5071B 300 kHz to 8.5 GHz

RF部品の高確度、高効率評価に最適

・2, 3, 4ポート・テスト・セットを内蔵・強力な各種解析機能・平衡測定機能・高度な周波数オフセット測定・誤差補正機能の拡張

卓越した測定性能

ENAは従来のアナライザに比べて測定確度を大幅に改善しており、将来の測定要求にも十分に対応します。10 Hz IFBWにおいて125 dB2もの広いダイナミック・レンジが確保されていますので、要求される測定性能に応じて広いIFBWが使用でき、高速掃引が可能となります。さらに、十分に低いトレース・ノイズにより、フィルタ通過域の厳しい測定要求に対しても、測定のばらつきを最小限に押えた信頼性の高い検査が行えます。ENAの卓越した測定性能により、検査品質や検査スループットが大幅に改善され、検査コストの低減に貢献します。

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高スループット、高確度測定、操作性アップを実現する新ネットワーク・アナライザ 優れた操作性

● 最大161ウィンドウ、16トレース／ウィンドウ表示

● 10.4インチ大型カラーLCD● タッチスクリーン機能（オプション）● ウィンドウ形式のマウスによるオペレーション

● Channel/Trace Prev/Nextキー● ナビゲーション・キー

強力な解析機能● 充実したマーカ解析機能● 平衡測定機能● マッチング回路シミュレーションおよびフィクスチャ除去機能

● ポート特性（複素インピーダンス）変換機能

● タイム・ドメイン解析機能● 周波数オフセット掃引機能● インピーダンス変換機能

充実した測定機能● 内蔵2, 3, 4テスト・ポート● 4ポート同時測定● フル4ポート校正をサポート● 125 dB @10 Hz IFBW の広いダイナミック・レンジ2

● 0.001 dB rms @3 kHz IFBWの低いトレース・ノイズ

1. 表示できるチャネルとトレースの数は以下の6種類の組み合わせから選択できます。1チャネル×4トレース、2チャネル×4トレース、4 チャネル×16トレース、9チャネル×9トレース、12チャネル×6トレース、16チャネル×4トレース。

2. 代表値

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内蔵オートメーション機能● Macro Setup/Run/BreakキーによるVBAプログラム制御

ハンドラI/O● 自動機との高速ハンドシェイク● Pass／Fail判定、測定シーケンス制御、およびユーザ定義I/O信号

GPIBインタフェース● 外部PCコントローラとの接続● 外部の測定器制御（USB／GPIBコンバータを使用）

USB（USBTMC）インタフェース*● 外部PCコントローラとの接続● ENAを外部PCから容易にコントロールが可能

VGA 出力ポート● 測定結果およびVBAエディタを外部ディスプレイへ表示可能

周辺機器用ポート● 電子校正キット、マルチポート・テスト・セットおよびプリンタ用USBホスト・ポート（フロント×1, リア×2）

● マウス／キーボード用PS2ポート● プリンタ用パラレル・ポート● 10/100Base-T LANポート

主な仕様

周波数範囲 300 kHz ～ 3 GHz（E5070B）300 kHz ～ 8.5 GHz（E5071B）

パワー出力範囲 －50 ～ 10 dBm

テスト・セット Sパラメータ・テスト・セットテスト・ポート数 2 3 4測定パラメータ S11－S22 S11－S33 S11－S44平衡測定ON時 ミ ッ ク ス ・ モ ー ド S パ ラ メ ー タ

振幅／位相平衡度

IFBW 10 Hz ～ 100 kHz（1, 1.5, 2, 3, 4, 5, 7 step）

測定点数 2 ～ 20,0011

システム・ダイナミック・ 120 dB @10 Hz BW （3 MHz ～ 1.5 GHz）レンジ2 122 dB @10 Hz BW （1.5 GHz ～ 3 GHz）

121 dB @10 Hz BW （3 GHz ～ 4 GHz）117 dB @10 Hz BW （4 GHz ～ 6 GHz）112 dB @10 Hz BW （6 GHz ～ 7.5 GHz）105 dB @10 Hz BW （7.5 GHz ～ 8.5 GHz）（レスポンス＆アイソレーション校正時）

トレース・ノイズ（振幅） 0.001 dB rms @3 kHz BW（3 MHz ～ 3 GHz）0.0012 dB rms @3 kHz BW（3 GHz～ 4.25 GHz）0.0036 dB rms @3 kHz BW（4.25 GHz～ 7.5 GHz）0.006 dB rms @3 kHz BW（7.5 GHz～ 8.5 GHz）（パワー出力：5 dBm、スルー測定時）

1. 20,001ポイント測定は、1チャネル/4トレース・モードでのみ使用できます。

2. 代表値

* USB Test and Measurement Class（TMC）インタフェースは、USBインタフェースを通じてIEEE488.1およびIEEE488.2で規定されているUSBTMCメッセージを使用して外部機器と通信を行います。

RF部品の高確度、高効率評価に最適なネットワーク・アナライザ

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アジレント・テクノロジーのENAネットワーク・アナライザは、研究開発や製造ラインでのRF部品の高確度かつ高効率測定を実現します。E5070B（300 kHz-3 GHz）およびE5071B（300kHz-8.5 GHz）のいずれのモデルにも、最大4つまでのテスト・ポートの装備が可能であり、それによって2ポートのフィルタからデュプレクサやカプラなどのマルチポートデバイスの測定を1台でカバーします。さらに、ENAは、平衡測定機能、マッチング回路シミュレーション機能、フィクスチャ特性除去機能、ポート・インピーダンス変換機能、タイム・ドメイン解析機能などを内蔵し、携帯電話などで需要が急増している平衡SAWフィルタや平衡アンプなどの最新のRF平衡デバイスを正確に測定できます。ENAは、平衡測定機能、マッチング回路シミュレーション機能、フィクスチャ特性除去機能、ポート・インピーダンス変換機能、タイム・ドメイン機能などの各種解析機能を内蔵しています。さらに、ENAは周波数オフセット掃引機能や高調波測定機能を搭載することも可能です。こうした様々な最先端の測定機能により、携帯電話などで需要が急増している平衡SAWフィルタ、平衡アンプ、あるいはミキサ等の周波数変換デバイス、そしてフロント・エンドモジュールなど、各種RF部品を正確に測定することが可能になります。ENAのもつ卓越した測定性能と充実した測定機能により、研究開発から製造までの様々な環境でのサイクルタイムの大幅な短縮が可能となります。

ENAの主な特長：● 高速測定：最大9.6μ秒／ポイント● 高確度測定：125 dB *の広いダイナミック・レンジ、0.001 dB rms

のトレース・ノイズ

● 2, 3, 4テスト・ポートを搭載

● フル2, 3, 4ポートSOLT校正およびTRL/LRM校正をサポート

● 平衡測定機能およびマッチング回路シミュレーション機能を内蔵

● タイムドメイン解析およびゲーテリング機能（オプション）

● 最先端の校正技術によるミキサの絶対群遅延測定を実現

● マルチポート・テスト・セットをサポート

● 4ポートECalをサポート

● Visual Basic® for Application（VBA）を搭載

*代表値

マルチポート・デバイス測定の新時代を切り開く最先端アーキテクチャを採用

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ENAに搭載する最先端のレシーバ・アーキテクチャにより、内蔵する全てのテスト・ポートを同時に測定し、測定時間を大幅に短縮します。これにより最小限の掃引回数で測定を完了でき、測定経路が多いマルチポート・デバイスにおいても大幅なスループットの向上を実現します。

最大4つのテスト・ポートを装備

ENAは、同時に最大161までの独立した測定チャネルを保持することができます。各測定チャネルは、それぞれ独立した掃引周波数リスト、校正データ、測定パラメータ、表示レイアウト、トリガ条件などを設定できますので、あたかも複数のネットワーク・アナライザが動作しているかのように使用できます。これにより、複数の測定周波数範囲が要求されるようなマルチポート・デバイス測定においても、設定条件のリコールが不要となり、測定時間の短縮が可能です。

6 chレイアウト例

最大161までの測定チャネルを同時に表示し、表示モードを切り替えることでチャネルあたり最大161の測定パラメータを表示することができます。これにより、被測定デバイスの要求に応じて、必要な測定結果を一度に観測することができます。また、チャネル・レイアウトおよび各チャネル内のトレース・レイアウトは、あらかじめ用意されたメニューから容易に選択でき、表示セットアップ作業の煩わしさを軽減します。

マルチ・チャネル測定の例（3 ch使用）1. 表示できるチャネルとトレースの数は以下の6種類の組み合わせから選択できます。1チャネル×4トレース、2チャネル×4トレース、4 チャネル×16トレース、9チャネル×9トレース、12チャネル×6トレース、16チャネル×4トレース。

アンテナ・スイッチ・モジュール測定の高度な要求に対応

小型・高性能化が進む携帯端末向けに、アンテナ・スイッチ・モジュールのようなRF電子部品を統合化した複合部品の需要が高まっています。ENAは、E5091Aマルチポート・テスト・セットと組み合わせることで、これらの多ポート複合部品に最適な測定機能を提供します。特に平衡ポートを有するアンテナ・スイッチ・モジュール測定に必要な信号経路を確保し、デュアル・バンド／トリプル・バンド携帯端末向け複合部品を効率よく検査できます。さらに柔軟に信号経路を切替えることができるため、デュアル・カプラやディバイダのようなマルチポート部品の測定にも対応可能です。E5091Aは、オプションで9ポートまたは16ポート構成のいずれかを選択できます。テスト・セットの設定、制御はすべてENAから行いますので、測定セットアップが大幅に効率化できます。

一度の接続、設定で全ての測定を実行、検査時間とコストを大幅に低減。

161測定チャネルでは、各チャネルで最大4つのパラメータを測定でき、アンテナ・スイッチ・モジュールのテストに必要な測定経路をすべて測定できます。プロパティ機能により、各チャネルで設定した信号経路を分かりやすく表示しますので、テスト・セットの設定やパラメータの選択が効率よく行えます。ENAのマルチポート・ソリューションは、セットアップや検査時間を大幅に短縮し、開発期間短縮、検査コスト低減に貢献します。

携帯電話用RF部品検査に最適な測定機能を提供

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ENAネットワーク・アナライザとE5091Aマルチポート・テスト・セット（13/16ポート）

LTCC技術を採用したアンテナ・スイッチ・モジュール

アンテナ・スイッチ・モジュールの測定例

1. 6つのチャネルおよびトレース・セットアップを使用できます。

平衡回路や部品のオン・ウェーハ評価に対応

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小信号回路の対ノイズ特性を高めるためRF回路や部品での平衡化の傾向がますます広がっています。これらの最先端の部品においては、試作品の評価を実際に動作する環境で行ないながら、デザインと試作評価を短期間で繰り返すことが、製品の開発期間を短縮する上で非常に重要となっています。

アジレント・テクノロジーはカスケード・マイクロテック社と協力し、オン・ウェーハまたは基板上でのマルチポート/平衡測定を可能にするシステムを提供します。このシステムはENAネットワーク・アナライザに加えて、カスケードマイクロテック社から提供されるデュアルライン・エア・コプレナ・プローブ、プローブ・ステーション、平衡測定校正用インピーダンス基準基板、さらに、ENA用に開発された校正用ソフトウェアENA Wafer Cal®

で構成されます。このシステムにより、開発の早い段階での評価が可能となり、トータル開発時間の大幅な短縮に貢献します。

お問い合わせ先カスケード・マイクロテック（株）〒153-0042東京都目黒区青葉台4-7-7 住友青葉台ヒルズ1階TEL 03-5478-6100 FAX 03-5478-6105URL http://www.cascademicrotech.com/jp

ENA Wafer Cal校正ソフトウェア

ENA Wafer Calソフトウェアはカスケード・マイクロテック社より提供される製品で、ENA上のVBAプログラミング機能を使って動作します。本ソフトウェアはプローブの校正キット定義値の入力や全体の測定手順のプロセスをガイドしながら進んでいくため、誤作業による測定誤差の発生を防ぐと共に、校正の精度や再現性の向上、一連の作業の効率向上に貢献します。本ソフトウェアはENAの測定の設定を行なうと共に、カスケード・マイクロテック社が提供するプローブ類の定義値のデータベースを持ちますので、ユーザはメニューから使用するプローブやインピーダンス基準基板を選択することで、システムの設定が簡単に行なえます。本システムの詳細情報につきましては、ENAシリーズプロダクト・ノートE5070/71-3、「ENAシリーズネットワーク・アナライザとカスケード・マイクロテック社のプローブを用いたマルチポート・プローブ校正」（カタログ番号5988-5886JA）を参照ください。

カスケード・マイクロテック社製Summit 12000プローブ・ステーションと組み合わせたシステム

多彩な測定・解析機能で開発評価を加速

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複雑なマルチポート測定や平衡測定機能、それらをリアルタイムで実現する高速性、卓越した測定確度により、ENAは、携帯端末に使用されているRF電子部品の製造検査で最適な測定ソリューションとして広く受け入れられています。さらに、従来の高速性を維持しながら広範な測定・解析機能を追加して、多様な測定要求に対応する開発評価ソリューションへと進化を遂げています。

多彩な測定機能

開発評価では、試作品の特性を詳細に解析することが重要です。ENAは、パワー掃引、ログ掃引、セグメント掃引など多彩な掃引機能や多くのパラメータを同時に測定し表示する機能など、効率よく被測定物の多面的な評価が行えるため開発期間短縮に役立ちます。

充実したリアルタイム解析機能

平衡測定に加え、タイム・ドメイン解析およびゲーティング機能を搭載でき、被測定物の特性を詳細に解析できます。フィクスチャやコネクタなどの不整合による影響をリアルタイムで取り除き、純粋に被測定物の特性を評価できますので、設計を検証する試作品評価で威力を発揮します。

強力なデータ処理機能

標準装備のVBAマクロ機能および解析用の各種コマンドにより、簡単かつ迅速なデータ処理が可能です。タッチストーン形式のデータ保存機能を利用すれば、簡単に測定データをアドバンスド・デザイン・システム（ADS）に代表されるEDAツールへ受け渡すことができます。設計と測定による評価を有機的に統合でき、設計検証のリード・タイムを大幅に短縮します。また、ENAに搭載しているVBAには、複素数演算機能も内蔵していますので、ENA単体でのデータ解析も可能です。

シミュレーション・ツールとのリンクが可能なタッチストーン形式データ保存機能

高速性と使い易さを追求し、製造テスト効率を向上

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自動検査

高速・高確度の両立

測定性能を大幅に改善する事により、正確かつ信頼性の高い製造検査が可能となります。また、ENAの十分な測定性能は、高速性が要求される製造テストにおいてより高速な測定を可能にします。

パワフルな内蔵オートメーション機能

ENAネットワーク・アナライザは、標準でVisual Basic®

for Application（VBA）を搭載していますので、柔軟性の高いテスト・プログラム開発が可能な上、開発期間の短縮にも貢献します。

外部機器との接続性に優れたインタフェースを標準装備

ENAは、標準でGPIB、LAN、USBホスト、USB（USBTMC1）、およびハンドラI/Oを装備しており、外部の測定器、PC、周辺機器、および自動機との優れた接続性を提供します。外部機器制御やネットワークとの接続も容易で、ベンチトップから製造ラインまで、さまざまなシステム要求に柔軟に対応できます。

メジャメント・ウィザード・アシスタント2による生産性の向上

メジャメント・ウィザード・アシスタント（MWA）は測定セットアップ・ソフトウェアで、Agilent E5091Aマルチポート・テスト・セットに付属しています。これにより、マルチポート測定システムのセットアップや操作が簡単に行えます。MWAソフトウェアはセグメント掃引、リミット・テスト、校正などの複雑な測定パラメータの設定だけでなく、ハンドラ・システムの制御も行えます。必要な測定パラメータが入力されると、MWAは測定セットアップ・ファイルを自動作成します。後は、作成されたセットアップ・ファイルをENAにロードするだけで、複雑な測定を即座に開始することができます。

手動検査

使いやすさを追求したユーザ・インタフェース

ENAは、テスト・エンジニアおよびオペレータの作業効率を格段に向上します。製造ライン向けには、各種リミット・ラインが用意されており、様々な設定でPass/Fail判定を行うことができます。大型LCDにより、複数のウィンドウやトレースを表示した場合にも十分な視認性が確保されます。さらに、オプションで装着が可能なタッチスクリーン機能により、設定変更やトレース選択の直感的な操作が可能となります。例えばフィルタやデュプレクサの調整工程のような手動検査では、VBAによるユーザ・インタフェースの柔軟なカスタマイズ機能とタッチスクリーンを組み合せて使用することで、オペレータの作業効率を改善すると共に、操作ミスを最小限にできます。

シンプルな操作性

複数の測定パラメータの中から特定の波形を詳細に解析する場合などには、Channel Max／Trace Maxキーが有効です。表示レイアウトの設定を変えることなく、解析対象のチャネルまたはトレースを拡大表示できますので、煩わしい操作が不要で作業効率が改善されます。

操作性に優れたタッチスクリーン機能

1. USB TMC（Test and Measurement Class）インタフェースは、IEEE488.1/IEEE 488.2規格のUSBTMCメッセージで通信できます。

2. メジャメント・ウィザード・アシスタント（MWA）ソフトウェアは、ENAのオプションとして提供されます。

困難な測定上の問題を解決する強力な解析機能を搭載

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ENAに標準装備のフィクスチャ・シミュレータ機能は、RFコンポーネントの試験に強力な解析機能を付加します。柔軟に定義可能な仮想フィクスチャをシミュレートし、被測定物の正確な特性評価が可能です。

特性評価を大幅に高速化する平衡デバイス測定機能

フィクスチャ・シミュレータは、正確な平衡パラメータ変換をENA内部で高速に実行します。部品および回路設計などのさまざまな分野において、信頼性の高い測定で定評のあるアジレント平衡測定システム N4444Aと同様の平衡・不平衡変換アルゴリズムを採用しており、設計評価と製造ライン検査、部品サプライヤとエンド・ユーザの間で、測定結果の高い相関性が確保されます。平衡デバイスの特性を正確に表すミックス・モードSパラメータ測定機能も内蔵し、厳しい部品仕様にもとづく検査要求にも有効な試験が可能となります。ENAの高速平衡測定機能は、効率化が求められる部品生産ラインにおいて検査品質と測定スループットを飛躍的に向上し、歩留まりの向上、検査コストの低減に貢献します。

正確な特性評価を実現するマッチング回路シミュレーション機能

RF部品の検査では、携帯電話などで実際に使用される状況をふまえて、マッチング回路を付加した特性評価が要求されます。ENAでは、等価回路の各素子定数を定義する事で、簡単にマッチング回路を付加したネットワーク測定が可能となります。また、等価回路の代わりにTouchstone形式のSパラメータ・ファイルを定義することができますので、より複雑なマッチング回路を付加した特性評価も可能です。

50 Ω以外のデバイス評価に有効な特性インピーダンス変換機能

ミキサICなどに接続されるフィルタの出力ポートは、しばしば50Ω以外の特性インピーダンスを有しています。フィクスチャ・シミュレータ機能は、50Ωでの測定結果をユーザが定義した複素ポート・インピーダンスでの測定結果に変換することができます。また、ポート・インピーダンス変換機能と11852B 50Ω／75Ω最少損失パッドを併用することで、75Ω部品の評価も可能です。

フィクスチャ・シミュレーター機能概要

ミックス・モードSパラメータ

Zd

V

Zc

V

Deviceundertest

Zi

Impedanceconversion

Single-endedS-parameter

measurement

Matching circuitsimulation

Balancedconversion

Impedanceconversion

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設計評価に威力を発揮するタイム・ドメイン解析機能

タイム・ドメイン解析機能を用いれば、被測定物やケーブル、フィクスチャを含めた測定系の不連続や不整合箇所を特定したり、その影響を取り除くことができます。タイム・ドメイン変換後にゲーティング機能を用いて特定の応答を除去し、周波数ドメインへ再変換すれば、フィクスチャの不整合やSAWフィルタのトリプル・トラベル・エコー（TTE）などのような不要な応答成分のみを除去した純粋な被測定物の特性を観測できます。

ログ掃引とミックス・モードSパラメータ測定による効果的なケーブル測定

従来のネットワーク・アナライザでは、平衡ケーブルの特性を広範な周波数にわたって評価することは困難でした。ENAネットワーク・アナライザでは、周波数帯域制限のあるバランを使用する代わりに、ログ掃引とミックス・モードSパラメータ測定機能を用いて、平衡ケーブルの差動および同相伝送特性やLCL（Longitudinal ConversionLoss）を簡単に求めることができます。

アンプ評価に必須のパワー掃引機能

アンプなどの測定には、周波数応答に加えてゲイン・コンプレッションなどのパワー応答特性の評価が必要です。ENAは最大25 dBの広い掃引レンジと搭載する全てのポートにおける最大＋10 dBmのパワー出力が可能で、充実したパワー応答特性の評価が可能です。

1トレースあたり最大20,001個の測定ポイント

ENAでは、1トレースあたり最大20,001個の測定ポイントを設定できます。これにより、周波数掃引測定または高確度タイム・ドメイン解析に最適な高周波分解能を実現しています。

タイム・ドメインとゲーティング機能を用いたSAWフィルタのTTE除去

ゲイン・コンプレッション測定例

平衡ケーブル測定例

業界をリードする最先端の測定技術を提供

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最先端のミキサ測定機能

ENAに搭載されている周波数オフセット・モード (FOM)は、ミキサ評価に必要となる周波数オフセット掃引、外部信号源のコントロール、そして固定IF/RF測定機能がサポートされています。さらに、FOMは、ベクトルおよびスカラの2種類のミキサ校正方法を提供します。ベクトル・ミキサ校正(VMC)機能は、各ポートにおける方向性、ソース・マッチ、ロード・マッチ、および反射信号の周波数応答によるエラーを特性化した校正ミキサとネットワーク除去機能を組み合わせて使用することで補正することができます。 これにより、位相や群遅延の測定を行うことが可能になります。次に、スカラ・ミキサ校正(SMC)機能は、入出力ポートとDUT間のミスマッチを補正することが可能で、変換損失/利得の高確度測定を実現します。

非線形部品の高調波ひずみ測定

FOM機能を使用することで、非線形部品の高調波ひずみ測定を行うことができます。周波数オフセット掃引機能と、パワー・メータを使用したレシーバ校正の組合せにより、スペクトラム・アナライザと信号源を組み合わせた高調波ひずみ測定と同様の測定を、高速かつ高確度に行うことが可能になります。

VBAを使用したベクトル・ミキサ校正

高調波ひずみ測定例

強力なテスト・オートメーション、内蔵VBA

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ENAが搭載するオートメーション機能は、測定の自動化とデータ処理に劇的な進化をもたらします。VBAによるビジュアルなプログラム開発環境はネットワーク・アナライザと高度に統合され、テスト開発を大幅に効率化します。プログラム・エディタも搭載していますので、外部PCでのプログラム開発のみならずアナライザ単体でのプログラム作成も簡単に行えます。親しみやすいSCPIコマンドに加え、COMコマンドを用いたプログラミングもサポートしており、従来に比べて格段の高速処理が実現されています。また、大型LCDの採用により、プログラミングやデバッグ作業の効率を改善します。ENAの強力かつユーザ・フレンドリなテスト・オートメーション機能は、テスト・システム開発を加速し、システム立ち上げ期間を短縮します。

さらに、グラフィカルなプログラム言語の採用により、ユーザ・インタフェースの柔軟なカスタマイズが可能で、リミット・テスト結果の表示や検査手順の指示など、オペレータの作業ミスの低減や作業の効率化に役立ちます。また、VBAプログラム中の特定の機能をユーザ定義可能なソフトキーに割当てることができるため、あたかもネットワーク・アナライザの一部の機能のような簡単な操作が可能です。

VBAの応用例（Go/No-Go試験）

VBAエディタ内蔵

VBAとネットワーク・アナライザの連携、COMによる高速通信の実現により、測定データの後処理を飛躍的に高速化します。トレース・データのプログラムへの取り込みや、測定結果の演算処理、統計処理などに要する時間を、ほぼ無視できるほどにまで高速化しています。また、あらかじめ用意された波形解析ライブラリや独自の解析ルーチンを自由に組み合わせてアナライザの解析機能を拡張でき、高速かつ柔軟なテスト環境を提供します。

テスト効率を向上する柔軟なプログラミングと接続性

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Web-enabledコントロール

離れた場所で作業しているエンジニアでも、ENAをLANに接続するだけで、JavaTM対応のウェブ・ブラウザからENAに簡単にアクセスすることが可能です。特別なソフトを使用しなくても、ENAのコントロールや報告書用のスクリーン・ショットの入手などを離れた場所からでも簡単に行うことができます。

簡単かつ高速なデータ転送によるデータ処理

特に開発評価では、逐次測定結果を外部PCへ転送し、詳細な解析を行うことがしばしば要求されます。IntuiLinkコネクティビティ・ソフトウェア*を使用すれば、簡単に測定結果を転送できます。また、LANインタフェースを使用すれば、1601点の測定データをわずか5ミリ秒以内で高速にホストPCへ転送することも可能です。この高速なデータ転送機能により外部PCによる詳細なデータ解析をリアルタイムで行えます。

ENAネットワーク・アナライザのコントロール

ENAには外部測定器や周辺機器などと柔軟な接続を可能にする多様なインタフェースを装備しています。また、ENA単体で自動化が可能なSCPI（Standard Command forProgrammable Instruments）やCOM（Common Object Model）によるVBAプログラムに加えて、外部PCで動作するプログラム環境からSocketやSICLを用いたLANやGPIB経由の自動化など、用途に最適なプログラミングが可能です。さらに、新たに搭載されたUSB(USBTMC)インタフェースは、USBケーブルでENAとホストPCを簡単に接続することができます。USBインタフェースを使用したENAのコントロールには、Agilent VEE 7.0あるいはAgilent I/Oライブラリ・スイートが必要になります。

ms

1

5

7

150

50 100 1500

VBA(COM),variant type

LAN (socket),REAL 64

USB(USBTMC),REAL 64

GPIB,64-bit floating point

データ転送速度比較（ NOP=1601）

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ADSとの柔軟な接続性

ENAはLANやGPIBインターフェースを用いてAdvancedDesign System (ADS) と簡単に接続することができます。測定データのやり取りが簡単に行えるため、シミュレーション効率が飛躍的に向上します。例えば、ADSはコネクション・マネージャと呼ばれるGUIインターフェースを持ち、測定データをENAから直接取得することができます。さらに、測定データはTouchstoneファイルやCITTIファイルなど、様々な形式で保存することが可能です。また、ADSは測定器の自動的検出機能や、アンプのビヘイビア・モデル作成に必要なパワー掃引Sパラメータ測定機能といった機能も備えています。

ADSを用いた回路シミュレーションの効率化

ADSは回路設計に要求される実用的なツールを多数揃えています。そのため、ENAとADSを組み合わせて使用することにより、電子部品やRF回路を様々な角度から評価することができます。例えば、同軸コネクタやマイクロ・ストリップ・ラインを含んだ複雑なマッチング回路設計を実施したい場合、ADSなら簡単にシミュレーションできます。 また、ADSはオート・チューニング機能を備えており、マッチング回路を構成する複数の素子の値を同時に、かつ自動的に調整することできます。ENAとADSを組み合わせて使用することで、回路設計プロセスの効率が向上し、製品の開発時間を飛躍的に短縮することが可能になります。

アンプのビヘイビア・モデルを用いたゲイン・フェーズ測定シミュレーション

オート・チューニング機能によるマッチング回路の最適化

様々な回路モデルをサポートするADS

ADSコネクション・マネージャー・クライアント

測定確度の向上と作業の効率化を実現する誤差補正機能

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フルポート校正による高確度マルチポート・デバイス測定

カプラや平衡フィルタなどのような、低損失で各ポート間のアイソレーションが小さいマルチポート・デバイスの測定では、誤差要因を取り除くことが極めて重要です。このようなデバイス測定に従来のフル2ポート校正を用いた場合、補正されていないポートからの反射信号や漏れ信号が測定結果に大きな影響を及ぼします。ENAはマルチポート・デバイス測定に不可欠なフル2ポート、フル3ポート、フル4ポート校正機能を有しており、十分に誤差要因が取り除かれた確度の高い測定が可能です。

非同軸測定に有効なTRL/LRM校正

TRL/LRM校正は、非同軸部品の測定に有効な校正手法として知られていますが、ENAでは、従来の2ポートTRL/LRM校正を3ポートおよび4ポート校正に拡張し、非同軸部品のマルチポート測定を可能にしています。さらに、ENAは導波管の校正もサポートしています。導波管の校正用に、AgilentはMaury Microwave社の製品を推奨しています。Maury Microwave社はAgilentのチャネル・パートナーで、ENAに最適な導波管校正キット1を提供しています。

自動ポート延長機能

自動ポート延長（APE）機能は複雑なテスト環境用に最適なソリューションを実現します。APEにより、電気遅延と挿入損失の補正によるポート延長機能が拡張されるだけでなく、高精度な標準器が必要ないためインフィクスチャ校正が簡単に行えます。オープン標準器として「ブランク」テスト・フィクスチャを使用して、フィクスチャの特性評価を行います。

校正作業時間を大幅に短縮する電子校正キット（ECal）をサポート

ENAは、アジレント85092C、85093CおよびN4431A電子校正キット（ECal）をサポートしていますので、校正作業時間を大幅に短縮します。ECalを使用することにより、校正キットの接続回数を減らすことができ、作業者のミスを最小限にします。さらに、ECalによる校正の後、校正の精度を確認する機能も備えていますので、誤作業による測定のやり直しを未然に防ぐことも可能です。ECalモジュールはUSBインタフェースでENAネットワーク・アナライザからコントロールされますので、外部PCや駆動用電源が不要です。さらに、フロントUSBポートを装備しており、アナライザがシステム・ラックに組込まれた状態でも容易に接続することができます。

コネクタ・タイプが異なる際のECalの使用も可能

実際の測定環境においては、N型や3.5-mmなど異なるタイプのコネクタを測定部品が混在してもつ場合があります。ENAはECalを値付けし特性データをECal内に保存する機能を持ちます。この機能を使ってアダプタ付のECalを値付けすることにより、多彩なコネクタをもつ部品の測定への対応が可能となり、測定効率を大幅に改善できます。

校正係数へのアクセスが可能

プログラム・コマンドを使用することで、ENA内部の校正係数を簡単にread/writeすることができます。これにより、現在使用している独自のシステム誤差補正をENAで使用することが可能になります。

Maury Microwave社の導波管校正キット

日本代理店：セキテクノトロン（株）URL：http://www.sekitech.co.jp

担当部署： 第2営業部TEL 03-3820-1714（直）FAX 03-3820-1731e-mail keisoku@sekitech.co.jp住所 〒135-0042 東京都江東区木場5-6-30

1. 導波管校正キットの詳細は、Maury Microwave社のWebサイト（www.maurymw.com）を参照してください。

柔軟な表示機能により作業効率を大幅に向上

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全ての測定結果の観測が可能なマルチ・ウィンドウ表示

多くのパラメータを測定するマルチポート・デバイスでは、測定結果を速やかに、かつわかり易く表示することが極めて重要です。例えば、マルチサポート部品の測定では、複数の周波数バンドで送信帯域とその高調波、受信帯域とその高調波、および送信から受信へのアイソレーションといった、多くの測定チャネルが使用される場合があります（下図マルチポート測定例参照）。それぞれの測定チャネルでは、独立した掃引周波数リスト、測定点数、掃引タイプやテスト・リミットなどが必要とされ、全ての測定結果を同時に表示することが要求されます。ENAは、最大16までの測定チャネルを同時に表示でき、表示レイアウトの変更なしで、全ての測定結果を観測することが可能となります。また、あらかじめ数多くのレイアウトが用意されており、ソフト・キー、マウスもしくはSCPI/COMコマンドによって、容易に選択することができますので、設定の煩わしさを軽減できます。

各ウィンドウで最大161の測定パラメータを表示

マルチ・ウィンドウ表示に加え、各ウィンドウ毎に最大161までの測定パラメータを任意のフォーマットで表示できます。ここでも十分な表示バリエーションが用意されていますので、メニューから選択する簡単な操作で表示設定を行うことができます。視認性に優れた大型LCDと柔軟な表示レイアウトに加え、この豊富なトレース表示機能により、あらゆる用途において最適な表示を選択でき、検査の作業効率向上に貢献します。

1. 表示できるチャネルとトレースの数は以下の6種類の組み合わせから選択できます。1チャネル×4トレース、2チャネル×4トレース、4 チャネル×16トレース、9チャネル×9トレース、12チャネル×6トレース、16チャネル×4トレース。

9ch、28トレースによるマルチポート測定例

柔軟性の高い表示レイアウト

データ・セキュリティの強化

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機密データの外部漏洩を防止

ハード・ディスク内部の測定データを完全に消去することは非常に困難なため、セキュリティ・エリアの外にENAを持ち出す場合にデータを保護する最適な方法は、ハード・ディスクを取り外すことです。ENAは、リムーバブル・ハード・ディスクを標準機能として搭載しているため、ユーザの方でも簡単にハード・ディスクが取り外せ、測定データをセキュリティ・エリアの内部に保存しておくことが可能になります。

リムーバブル・ハード・ディスクによる、セキュリティの強化

セキュリティ・オペレーション

機密データを保護するために、ENAはLANやUSBマス・ストレージ・デバイスからのアクセスを無効にすることが可能です。さらに、周波数ブランク機能により、画面上の周波数データを全て消し去ることができます。ENAのセキュリティ機能を使用することで、機密性の高い測定データを不審者のアクセスから守ることが可能になります。

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オーダ情報E5070B 300 kHz – 3 GHz ネットワーク・アナライザE5071B 300 kHz – 8.5 GHz ネットワーク・アナライザ

オプション（各モデル共通）E5070B/71B-008 周波数オフセット・モードE5070B/71B-010 タイム・ドメイン解析機能追加E5070B/71B-790 メジャメント・ウィザード・アシスタ

ント（MWA）ソフトウェア追加E5070B/71B-214 2ポートSパラメータ・テスト・セットE5070B/71B-314 3ポートSパラメータ・テスト・セットE5070B/71B-414 4ポートSパラメータ・テスト・セットE5070B/71B-016 タッチ・スクリーン・カラー LCDE5070B/71B-1E5 高安定周波数基準

E5091A マルチポート・テスト・セット1

オプションE5091A-009 9ポート・テスト・セットE5091A-016 13/16ポート・テスト・セット

ENAネットワーク・アナライザに関する詳細は、以下のホームページを参照下さい。www.agilent.co.jp/find/ena

業界標準器が更にパワー・アップ

RFネットワーク・アナライザの標準器として幅広いアプリケーションで長年ご愛顧いただいた8753シリーズの後継機種となるENAは、最新の技術によって、より高い信頼性と使いやすさを、低価格で提供します。

ソフトウエア資産の流用をお助けします

8753シリーズ用に作られた、制御用プログラムの変換を補助する各種ツールを提供します2。

8753ユーザーの方へENAが測定の生産性を更に向上します

1. メジャメント・ウィザード・アシスタント（MWA）ソフトウェアは、ENAのオプションとして提供されます。

2. ツールに関する詳細は、以下のホーム・ページを参照して下さい。www.agilent.co.jp/find/ena

3. オプションH39が必要4. オプション008が必要

Visual Basic® for ApplicationsはMicrosoft社の米国における登録商標です。

Java™は、Sun Microsystems, Inc.の米国における登録商標です。

November 22, 2005

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