nano-metrología

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Nano-Metrología

La nano metrología es una disciplina dedicada a las mediciones realizadas en escalas atómicas.

Comenzó como una herramienta de la manufactura de precisión y ha alcanzado desarrollos prominentes en la industria química, electrónica, aeroespacial y defensa, farmacia y medicina, automotriz, industrias de alimentos y semiconductores, entre otros.

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Entre los logros más importantes de esta disciplina se encuentran: el microscopio de efecto túnel (STM) y el microscopio de fuerza atómica (AFM); estos desarrollos son muy importantes ya que las herramientas empleadas en mediciones a nano escalas permiten la manipulación directa de átomos, haciendo posible una verdadera arquitectura atómica de materiales.

Inscripción hecha por la IBM con el microscopio de efecto de túnel STM, empleando átomos individuales de xenón (Zurich,

1989)[2]

Bibliografía[1] www2.warwick.ac.uk[2] http://www.almaden.ibm.com/vis/stm/images/stm10.jpg[3]http://www.nano.org.uk/members/MembersReports/NANOMETROLOGY_Report.pdf

Rafael Augusto Avella PeñaProf. Jaime VillalobosUniversidad Nacional De Colombia