skenejosais elektronu mikroskops ar fokusetu jonu staru un ... · staru un g āzu injekcijas sist...

Iekārtas nosaukums

Skenējošais elektronu mikroskops ar fokusētu jonu staru un gāzu injekcijas sistēmu

Foto:

Tehniskā specifikācija:

Elektronu paātrinošais spriegums 200V līdz 30 kV ar strāvu no 2pA līdz 200 nA Izšķiršana augsta vakuuma režīmā 1.2 nm pie 30 kV, 4.5 nm pie 1 kV paātrinošā sprieguma, atpakaļatstaroto elektronu režīmā 2 nm. Maksimālais redzes lauks 6 mm pie fokusa attāluma 9 mm. Augstas izšķiršanas režīms, dziļa fokusa režīms, liela redzes lauka režīms. Ga jonu avots nodrošina strāvu 1 pA līdz 40 nA, paātrinošais spriegums 500 V līdz 30 kV. Kamerā augsta vakuuma režīmā P<9mPa, zema vakuuma režīmā 7 - 500 Pa. Mikroskops aprīkots ar mikromanipulatoru TEM paraugu sagatavošanai un Oxford instruments rentgenfluorescences detektoru X-Max 50mm2 un AZtec programmatūru.

Pielietojums: Fizika, materiālzinātne Kontaktpersona: Mārtiņš.Rutkis,

E-pasts: Martins.Rutkis@cfi.lu.lv, Tālr.: +371 67260787, Kārlis Kundziņš, E-pasts: kkarlis@gmail.com, Tālr.: +371 67187875, 124. telpa