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CLASIFICACIÓN DE SUBRAMAS PRINCIPALES PARA LA PARTICIPACIÓN EN ENSAYOS DE APTITUD DE LOS LABORATORIOS DE CALIBRACIÓN SEPTIEMBRE 2010 SEPTIEMBRE 2010 Página 1 de 11 DIMENSIONAL ÁREA SUBÁREA SUBÁREA PRINCIPAL Dimensional 1. Calibración de: - Calibrador - Micrómetro de exteriores - Medidor de alturas - Micrómetro de Interiores con dos superficies de contacto - Micrómetro de interiores de tres superficies de contacto - Micrómetro de profundidad - Medidor de espesores con indicador - Medidores de Profundidad con indicador - Cabeza micrométrica - Sistemas verticales de medición - Patrón de espesor (Laina) - Medidores de profundidad con indicador - Medidores de alturas de alta exactitud Comparación utilizando como Bloques Patrón o Maestro de Longitudes Fijas. Se debe participar en al menos uno de ellos para cubrir la subrama principal. 2. Calibración de: - Indicador de vástago recto - Indicador de tipo palanca - Amplificador electrónico - Medidor de interiores con indicador - Medidor de agujeros con dos superficies de contacto Comparación utilizando como patrón un calibrador de indicadores . Se debe participar en al menos uno de ellos para cubrir la subrama principal. 3. Calibración de: - Micrómetro de interiores de dos superficies de contacto en máquina unidimensional - Cabeza micrométrica con máquina unidimensional - Perno patrón cilíndrico liso - Barra patrón (para ajuste a cero) - Diámetro de anillo patrón cilíndrico liso - Perno patrón de rosca recto - Anillo patrón de rosca recto - Diámetro exterior de tampones y discos - Patrón de espesor (Laina) Comparación utilizando como patrón máquina unidimensional . Se debe participar en al menos uno de ellos para cubrir la subrama principal.

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CLASIFICACIÓN DE SUBRAMAS PRINCIPALES PARA LA PARTICIPACIÓN EN ENSAYOS DE APTITUD

DE LOS LABORATORIOS DE CALIBRACIÓN SEPTIEMBRE 2010

SEPTIEMBRE 2010 Página 1 de 11

DIMENSIONAL ÁREA SUBÁREA SUBÁREA PRINCIPAL

Dimensional

1. Calibración de: - Calibrador - Micrómetro de exteriores - Medidor de alturas - Micrómetro de Interiores con dos superficies de contacto - Micrómetro de interiores de tres superficies de contacto - Micrómetro de profundidad - Medidor de espesores con indicador - Medidores de Profundidad con indicador - Cabeza micrométrica - Sistemas verticales de medición - Patrón de espesor (Laina) - Medidores de profundidad con indicador - Medidores de alturas de alta exactitud

Comparación utilizando como Bloques Patrón o Maestro de Longitudes Fijas. Se debe participar en al menos uno de ellos para cubrir la subrama principal.

2. Calibración de: - Indicador de vástago recto - Indicador de tipo palanca - Amplificador electrónico - Medidor de interiores con indicador - Medidor de agujeros con dos superficies de contacto

Comparación utilizando como patrón un calibrador de indicadores . Se debe participar en al menos uno de ellos para cubrir la subrama principal.

3. Calibración de: - Micrómetro de interiores de dos superficies de contacto en máquina unidimensional - Cabeza micrométrica con máquina unidimensional - Perno patrón cilíndrico liso - Barra patrón (para ajuste a cero) - Diámetro de anillo patrón cilíndrico liso - Perno patrón de rosca recto - Anillo patrón de rosca recto - Diámetro exterior de tampones y discos - Patrón de espesor (Laina)

Comparación utilizando como patrón máquina unidimensional . Se debe participar en al menos uno de ellos para cubrir la subrama principal.

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DE LOS LABORATORIOS DE CALIBRACIÓN SEPTIEMBRE 2010

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- Medición de longitudes con máquina unidimensional - Perno patrón cilíndrico cónico - Perno patrón de rosca cónico - Perno patrón de tipo horquilla (pasa no pasa) - Diámetro de esfera patrón 4. Calibración de: - Patrón de radios - Medición con comparador óptico - Tamiz (cribas) - Patrón para paso de cuerdas - Escala patrón (vidrio) - Calibración de escalas micrométricas - Escantillón angular - Medición de penetrador de dureza

Comparación utilizando como patrón ccomparador óptico / microscopio . Se debe participar en al menos uno de ellos para cubrir la subrama principal.

Dimensional

5. Calibración de: - Medidor de espesores por ultrasonido - Medidor de espesores por magnetismo - Medidor de fallas por ultrasonido - Medidor de espesores de recubrimientos - Medidores de espesores por corriente de Eddy - Medidores de espesor por efecto Hall

Por comparación por métodos magnéticos y ultrasónicos Se debe participar en al menos uno de ellos para cubrir la subrama principal..

6. Calibración de: - Proyector de perfiles (C.O.) - Microscopios de medición

Proyector de perfiles, microscopios y visión

7. Calibración de: - Reglas graduadas - Cintas graduadas y flexómetros

Instrumentos con trazos (reglas, cintas métricas y flexómetros)

8. Calibración de: - Patrón para indicadores - Patrón de longitudes fijas - Maestro de alturas - Patrón para micrómetro de profundidad - Bloque de aumento para Maestro de alturas

Patrones y calibres (No BP) . Se debe participar en al menos uno de ellos para cubrir la subrama principal.

9. Calibración de: - Bloques patrón cortos - Bloques patrón largos

Bloques patrón cortos Bloques patrón largos

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10. Verificación del desempeño de CMM´s

CMM´s Medición & Verificación

11. Mesas de planitud Mesas de planitud 12. Callibración de: - Goniómetro (transportador de ángulos) - Rugosímetro de palpador - Máquina unidimensional - Micrómetro de interiores de tres

superficies de contacto - Niveles - Comparador de bloques patrón - Odómetro (cuentametros) - Medición de rugosidad - Medición de redondez - Plano óptico y paralelas ópticas - Teodolitos - Escuadras - Medición de perfil - Verificación del desempeño de

máquinas de redondez - Reglas de rectitud - Medidores de contorno (Perfilómetros) - Máquina de redondez - Niveles geodésicos - Niveles rotacionales láseres - Miras telescópicas - Medición con CMM´s - Cabezas micrométricas con palpador

inductivo - Patrón para indicadores - Patrón de longitudes fijas - Maestro de alturas

Equipos especiales – Los mismos servicios, descritos en la subárea principal. Se debe participar en al menos uno de ellos para cubrir la subrama principal.

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- Patrón para micrómetro de

profundidad - Bloque de aumento para maestro de

alturas - Proyector de perfiles (Comparadores

ópticos) - Microscopio de medición - Sistemas de visión - Rugosímetros - Sistemas de medición horizontal

TEMPERATURA, PRESIÓN Y HUMEDAD ÁREA SUBÁREA SUBÁREA PRINCIPAL

Temperatura

1. Calibración de termómetros de líquido en vidrio Calibración de termómetros de líquido en Vidrio

2. Calibración de termómetros de resistencia de platino Calibración de termómetros de resistencia de platino 3. Calibración de termopares Calibración de termopares 4. Calibración de termómetros de radiación Calibración de termómetros de radiación 5. Calibración de termómetros de lectura directa Calibración de termómetros de lectura directa

Presión 1. Calibración de manómetros Calibración de manómetros 2. Calibración de vacuómetros Calibración de vacuómetros 3. Calibración de balanzas de presión Calibración de balanzas de presión

Humedad 1. Calibración de sensores de humedad Calibración de sensores de humedad 2. Calibración de sensores de punto de rocío No aplica.

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ELÉCTRICA, TIEMPO, FRECUENCIA Y ACÚSTICA

ÁREA SUBÁREA PRINCIPAL SUBÁREA PRINCIPAL POR TIPO DE INSTRUMENTO

Eléctrica

Tensión eléctrica continua Multímetros de 4 ½ y 6 ½ dígitos de acuerdo a su CMC. 1 V y 10 V

Tensión eléctrica alterna Multímetros de 4 ½ y 6 ½ dígitos de acuerdo a su CMC. 1 V, 100 V @ 50 ó 60 Hz y 1 kHz

Resistencia Multímetros de 4 ½ y 6 ½ dígitos de acuerdo a su CMC. 1 Ω , 10 kΩ y 10 M Ω

Corriente continua Multímetros de 4 ½ y 6 ½ dígitos de acuerdo a su CMC. 1 A y 10 A

Corriente alterna Multímetros de 4 ½ y 6 ½ dígitos de acuerdo a su CMC. 1 A y 10 A @ 50 ó 60 Hz y 1 kHz

Energía Watthorímetros, Medidores multifunción. 120 V 5 A fp 1 y - 0,5, Tiempo de integración 60 s. 100 nF y 100 µF

Capacitancia Multímetros de 4 ½.

Eléctrica Laboratorios de alta exactitud

Tensión eléctrica continua Calibradores del tipo Fluke 5500. 1 V y 10 V Tensión eléctrica alterna Calibradores del tipo Fluke 5500. 1 V, 100 V @

50 ó 60 Hz y 1 kHz Resistencia Calibradores del tipo Fluke 5500. 1 Ω , 10 kΩ y 10

MΩ Corriente continua Calibradores del tipo Fluke 5500. 1 A y 10 A Corriente alterna Calibradores del tipo Fluke 5500. 1 A y 10 A @ 50

ó 60 Hz y 1 kHz Potencia Calibradores del tipo Fluke 5500. 120 V 5 A FP 1 y -

0,5 Capacitancia Calibradores del tipo Fluke 5500. 100 nF y 100 µF

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FLUJO Y VOLUMEN ÁREA SUBÁREA PRINCIPAL SUBÁREA PRINCIPAL

Flujo

1. Calibración de medidores de flujo de gas • por desplazamiento volumétrico • por comparación utilizando un patrón tipo tambor, turbina y/o diferencial

Calibración de medidores de flujo de gas • por desplazamiento volumétrico • por comparación utilizando un patrón tipo tambor,

turbina y/o diferencial 2. Calibración de medidores de velocidad de aire No aplica 3. Calibración de medidores de flujo de líquidos

• por comparación con medida volumétrica • por comparación con un medidor de flujo patrón • un medidor de flujo patrón por comparación con un probador

Calibración de medidores de flujo de líquidos • por comparación con medida volumétrica • por comparación con un medidor de flujo

patrón

Volumen

1. Calibración de microvolumen • Hasta 1 mL, por método gravimétrico

Calibración de microvolumen • Hasta 1 mL, por método gravimétrico

2. Calibración de pequeños volúmenes • 1 mL a 5 L, por método gravimétrico • 1 mL a 5 L, por método volumétrico

Calibración de pequeños volúmenes • 1 mL a 5 L, por método gravimétrico

3. Calibración de medianos volúmenes

• 5 L a 5 000 L, por método gravimétrico • 5 L a 5 000 L, por método volumétrico

Calibración de medianos volúmenes • 5 L a 5 000 L, por método gravimétrico • 5 L a 5 000 L, por método volumétrico

4. Calibración de grandes volúmenes • Mayor a 5 000 L, por método gravimétrico • Mayor a 5 000 L, por método volumétrico

No aplica

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PROPIEDADES DE LOS MATERIALES Y ANALIZADORES ESPECÍFICOS

ÁREA SUBÁREA PRINCIPAL SUBÁREA PRINCIPAL

Dureza*

Calibración de máquinas de medición de dureza Rockwell. Método indirecto.

Calibración de máquinas de medición de dureza Rockwell. Método indirecto.

Calibración de máquinas de medición de dureza Brinell. Método indirecto.

Calibración de máquinas de medición de dureza Brinell. Método indirecto.

Calibración de máquinas de medición de dureza Vickers/Micro Vickers/Knoop. Método indirecto. Calibración de máquinas de medición de dureza

Vickers/Micro Vickers/Knoop. Método indirecto.

Calibración de máquinas de medición de dureza Shore. Método directo. Calibración de máquinas de medición de dureza Shore. Método directo.

Impacto* Calibración de máquinas de ensayo por impacto. Charpy Calibración de máquinas de ensayo por impacto.

Charpy.

Viscosidad*

1.- Calibración de medidores de Viscosidad Cinemática • Calibración de Viscosímetros capilares de vidrio • Calibración de Copas de flujo

No aplica.

2.-Calibración de medidores de Viscosidad Dinámica • Calibración de viscosímetros Rotacionales Tipo Brookfield • Calibración de viscosímetros de Cilindros concéntricos

Calibración de medidores de Viscosidad Dinámica Calibración de viscosímetros Rotacionales Tipo Brookfield

Densidad* 1. Calibración de instrumentos para determinar densidad

• Calibración de densímetros digitales para medición estática

Calibración de instrumentos para determinar densidad C lib ió d d í di i l di ió

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PROPIEDADES DE LOS MATERIALES Y ANALIZADORES ESPECÍFICOS

ÁREA SUBÁREA PRINCIPAL SUBÁREA PRINCIPAL

2. Determinación de densidad de líquidos • Calibración de densidad de líquidos utilizando un densímetro de

frecuencia • Calibración de densidad de líquidos utilizando un sólido patrón

No aplica.

Analizadores Específicos

1.Calibración de equipos analizadores de gases (fuentes fijas) • Calibración de analizadores de ozono • Calibración de equipos indicadores de gas combustible

No aplica

2.Calibración de equipos analizadores de gases (fuentes móviles) Calibración de equipos analizadores de gases (fuentes móviles)

Óptica*

1.Longitud de onda / Transmitancia-Absorbancia • Calibración de espectrofotómetros UV-Vis. • Calibración de espectrofótometros IR • Calibración de opacímetros • Medición de materiales de referencia para longitud de onda • Medición de materiales de referencia para escala fotométrica

Calibración de espectrofotómetros UV-Vis.

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PROPIEDADES DE LOS MATERIALES Y ANALIZADORES ESPECÍFICOS

ÁREA SUBÁREA PRINCIPAL SUBÁREA PRINCIPAL

2.Reflectancia • Calibración de colorímetros Triestímulos. • Calibración de espectrocolorímetros de esfera para Reflectancia

y espacios de color. • Calibración de medidores de brillo • Medición de materiales de referencia para reflectancia • Medición de materiales de referencia para brillo

Calibración de espectrocolorímetros de esfera para Reflectancia y espacios de color.

3.Rotación óptica • Calibración de polarímetros • Calibración de sacarímetros

No aplica

4.Índice de Refracción • Calibración de refractómetros • Medición de materiales de referencia para índice de refracción

Calibración de refractómetros

5.Fotometría • Calibración de medidor de iluminancia (luxómetro, medidor de

brillo, y fotómetro para unidades de lux o fc) • Calibración de la respuesta espectral • Calibración del medidor de iluminancia (medidor de brillo y

fotómetro para unidades de cd/m2 o fL ) • Calibración de sensibilidad fotométrica de fotodetector

Calibración de medidor de iluminancia (luxómetro, medidor de brillo, y fotómetro para unidades de lux o fc).

6.Radiometría • Calibración de medidor de potencia óptica (Aplicación en Fibras

ópticas). • Calibración de atenuador óptico (Aplicación en Fibras ópticas). • Calibración de Fuentes Ópticas (Generadores Ópticos) • Calibración de analizador de espectro óptico • Calibración de OTDR. • Calibración de radiómetro láser. • Calibración de fuentes de iluminación en radiancia espectral • Calibración de fuentes de iluminación en temperatura de color.

No aplica

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PROPIEDADES DE LOS MATERIALES Y ANALIZADORES ESPECÍFICOS

ÁREA SUBÁREA PRINCIPAL SUBÁREA PRINCIPAL

• Calibración de fuentes de iluminación en intensidad luminosa. • Calibración de fuentes de iluminación en flujo luminoso total. • Calibración de espectroradiómetro • Calibración de medidor de temperatura de color y coordenadas

de cromaticidad • Calibración de medidor de luz ultravioleta en irradiancia • Calibración de medidor de dosis de radiación ultravioleta

FUERZA Y PAR TORSIONAL

ÁREA SUBÁREA PRINCIPAL SUBÁREA PRINCIPAL

Fuerza

1. Calibración de máquinas de medición de fuerza universales en modo compresión o tracción por comparación directa con celdas de carga.

Calibración de máquinas de medición de fuerza universales en modo compresión o tracción por comparación directa con celdas de carga.

2. Calibración de instrumentos de medición de fuerza en modo compresión o tracción por comparación directa con celdas de carga.

Calibración de instrumentos de medición de fuerza en modo compresión o tracción por comparación directa con celdas de carga

3. Calibración de instrumentos de medición de fuerza y máquinas universales en modo compresión o tracción por comparación directa con masas suspendidas.

Calibración de instrumentos de medición de fuerza y máquinas de fuerza universales en modo compresión o tracción por comparación directa con masas suspendidas

4. Calibración de durómetros farmacéuticos y dinamómetros por comparación directa con masas suspendidas

No aplica.

Par torsional

1. Calibración de medidores de par torsional y torquímetros por comparación directa con transductor sentido horario y antihorario

Calibración de medidores de par torsional y torquímetros por comparación directa con transductor sentido horario y antihorario

2. Calibración de Transductores de par torsional por comparación directa con transductor sentido horario y antihorario No aplica.

3. Calibración de transductores de par torsional por comparación directa con masas y brazos de palanca sentido horario y antihorario No aplica.

4. Calibración de herramientas hidráulicas de par tosional por comparación directa No aplica.

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MASA ÁREA SUBÁREA PRINCIPAL SUBÁREA PRINCIPAL

Masa

. Calibración de IPFNA: • Por el método de comparación directa • Por el método de enlaces sucesivos

Calibración de IPFNA: • Por el método de comparación directa • Por el método de enlaces sucesivos

Calibración de pesas: • Calibración de pesas clase E2 • Calibración de pesas Clase F1 e inferiores

Calibración por el método de Subdivisión Calibración de pesas por el método de doble sustitución en la mejor clase que calibre el laboratorio