félvezető memóriák
DESCRIPTION
Félvezető memóriák. Budapesti Műszaki Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke 2004 március. Félvezető memóriák. csoportosítás - RAM{random access memory} -ROM {read only memory} - illékony {volatile} a t ápfeszültség lekapcsolásakor a beírt információ elvész (RAM) - PowerPoint PPT PresentationTRANSCRIPT
Félvezető memóriákFélvezető memóriák
Budapesti Műszaki EgyetemBudapesti Műszaki Egyetem
Elektronikus Eszközök Elektronikus Eszközök TanszékeTanszéke
2004 március2004 március
Félvezető memóriákFélvezető memóriákcsoportosítás
-RAM {random access memory}-ROM {read only memory}
- illékony {volatile} a tápfeszültség lekapcsolásakor a beírt információ elvész (RAM)
- nem illékony {nonvolatile} (NVRAM, az összes ROM)
-destruktív : kiolvasáskor az éppen olvasott információ elvész, tehát vissza kell írni
-nem destruktív: nem kell a visszaírást megszervezni
-sztatikus-dinamikus (kapacitáson töltés: frissíteni kell)
A MEMA MEMÓÓRIÁK SZERVEZÉSERIÁK SZERVEZÉSETeljesen dekódolt cellamátrix
Minden cella 1 bit információt tárol. A "vízszintes" vezeték az ún. szóvezeték, a cellákon végigfutó függőleges vezeték az ún. bitvezeték. A szóvezetékek egyikével lehet a cellamátrix valamelyik sorát kijelölni, ezután a bitvezetékeken keresztül tudjuk a kijelölt sor celláit írni vagy olvasni.
A címzőáramkörök közül a szóvezetékeket mindig egy dekóder hajtja meg, a bitvezetékekhez csatlakozó áramkör az író/olvasó erősítő, ami a kiolvasás során multiplexerként működik
Dek
óder
multiplexer
A5
A4
A3
A2 A1 A0
D0 adat
cím
cím
szóvezetékek
Bitvezetékek
Chip
cella
cellamátrix
Dek
óder
multiplexer
A5
A4
A3
A2 A1 A0
D0 adat
cím
cím
szóvezetékek
Bitvezetékek
Chip
cella
cellamátrix
N bites cellamátrix: -nem feltétlenül négyzetes -területe N-el arányos
N
N
Dekóder, multiplexer: -területe N0.5 -el arányos
NN 2
Összterülete
-el arányos.
A MEMA MEMÓÓRIÁK RIÁK ÖSSZEKAPCSOLÁSAÖSSZEKAPCSOLÁSA
Udd, GND
Adatok
Címek
R/W
Címek
R/W
CE
CE
1. memória
2. memória
D
A
A
A: címbemenetek
D: data, adat be/kimenetek
CE: Chip Enable
R/W: Read/Write üzemmód választó
Maszk programozott ROMMaszk programozott ROM
(az "igazi" ROM) gyártáskor kerül bele az információ (nagyon nagy sorozatú gyártásnál alkalmazzák, ill. egyéb chipeken, pl mikroprocesszorban look-up táblázatok készülnek így)
Az információt az tárolja, hogy az adott helyen van-e tranzisztor, vagy sem. Egy oszlop tulajdonképpen egy arány típusú NOR kapu, mivel a p tranzisztor (a terhelés) gate-je földre van kötve, egy szóvezeték megcímzésekor ha van a szó és a bitvonal között tranzisztor, akkor a kimenet alacsony szintű, egyébként logikai 1.
dekó
der
cím Vdd
Félvezető memóriákFélvezető memóriákMOS ROM MOS ROM memóriamemória
Poli szóvezetékek
BitvezetékAktív terület
Programozás: Programozás: kontaktusablak maszkonkontaktusablak maszkon
Felhasználó által programozható Felhasználó által programozható ROM kategóriákROM kategóriák
Típus Techn. Programozás TörlésPROM Bipoláris
CMOSelektronikus,egyszer
-
EPROM CMOS elektronikus, UV fénnyelEEPROM CMOS elektronikus Elektronikusan byte-
onkéntFlashEEPROM
CMOS elektronikus Elektronikusanegyszerre
PROMPROM
Az információ beírás egy fémből készült biztosíték, "fuse" kiégetésével történik. A biztosíték anyaga NiCr, Ti, W, Pt szilicid,a kiégetéshez 5-20mA, 10..15V kell. (pl. telefonkártya…)Ezt a megoldást általában bipoláris áramkörökben alkalmazzák.
ki0 ki1a bitvezeték aktiválásakor áram folyik, ha a biztosíték nincs kiégetve
Félvezető memóriákFélvezető memóriák
““Biztosítékos”Biztosítékos”
PROM memória PROM memória (bipoláris)(bipoláris)
A CrNi biztosítékA CrNi biztosíték
PROM, CMOS technológiávalPROM, CMOS technológiávalCMOS PROM-okban az "antifuse" technológiát alkalmazzák.
PLICE : {Programmable Low Impedance Circuit Element} kisméretű 1.2m 1.2m alkatrész.“Antifuse” -> ha kiégetjük, akkor vezet, egyébként szakadás
Az n+ diffúzió és a n+ poli-Si között egy vékony, 10nm-es dielektrikum (oxid-oxinitrid) van. Kb. 16V, 5mA 1ns alatt megolvasztja és vezetni kezd.Élettartam: kb. 40 év, 125C
SiO2 SiO2
n+ diffúzió
n+ poli Si
1.2μm
ONO
EPROMEPROMElektronikusan programozható, UV fénnyel törölhető.Az információtároló elem: egy ún. FAMOS tranzisztor {Floating gate Avalanche MOS}
a MOS tranzisztorhoz képest egy "lebegő" (nincs sehova kötve) gate van kialakítva.
n+ n+
SD
G
p szubsztrát
poli Si lebegő gate
poli Si gate
Keresztmetszete A cella felépítése
VDD
bitvonal
szóvonal
EPROM / PROGRAMOZÁSEPROM / PROGRAMOZÁS
A nagy feszültség hatására lavinaletörés jön létre a csatornában, a nagy energiájú elektronok pedig keresztül jutnak az oxid potenciálgátján (3.2eV) és a lebegő elektródára kerülnek. Programozás után a lebegő elektródán lévő negatív töltés ott marad (10 évet garantálnak a gyártók általában), ezáltal a tranzisztor küszöbfeszültsége megnövekszik, és akkor sem nyit ki, a gate-re tápfeszültséget kapcsolunk. Programozás nélkül az eszköz úgy viselkedik, mint egy normális MOS tranzisztor.
n+ n+
0V
p szubsztrát
+VDD
+VDD
e- e- e-e- e-e-
A source-t földeljük, a gate-re és a drainre nagy pozitív feszültséget kapcsolunk. (kb. 25V)
Nagy energiájú UV fénnyel a lebegő elektródáról eltávolíthatjuk az elektronokat. Kb. 20 perc, elég erős UV fénnyel.OTP EPROM: annyi a különbség, hogy nem törölhető, mert nincs ablak, a tokozás egyszerűbb (olcsóbb)
n+ n+
p szubsztrát
e- e- e-e- e-e-
EPROM / TÖRLÉSEPROM / TÖRLÉS
Az EPROM tok tetején egy átlátszó kvarcablakot alakítanak ki.
ROM/ EEPROM (EROM/ EEPROM (E22PROM)PROM)elektromosan programozható és törölhető
Egy cella 2 tranzisztorból áll, egy kiválasztó és egy speciális lebegő gate-es tranzisztorból. A FAMOS tranzisztorhoz képest az a külöbség, hogy a gate a drain fölé nyúlik, a lebegő gate-et a draintől egy vékony, 5nm oxid választja el. Az elektronok ezen az ultravékony oxidon keresztüljuthatnak bizonyos valószinűséggel. (alagútjelenség, tunnel hatás)
MNOS tranzisztorMNOS tranzisztor
MNOS tranzisztor {Metal, Nitride, Oxide, Semiconductor }
A szilícium és a nitridréteg között egy vékony, kb. kb. 5nm oxid van. Az oxid és a nitrid határfelülete töltéscsapdákat tartalmaz.
Programozás: a source és drain elektródákat földeljük, a gate-re nagy pozitív feszültséget kapcsolunk (15-25V). Elektronok tunneleznek át a vékonyoxidon, és csapdába esnek a 2 réteg határfelületén. A negatív töltés miatt a tranzisztor kikapcsolt állapotban marad.Törlés: nagy negatív feszültséggel, hasonlóan.Szintén szükség van egy kiolvasó tranzisztorra, így mivel egy cella két tranzisztort tartalmaz, a helyszükséglet nagyobb, mint az EPROMé.
FLASH EEPROMFLASH EEPROM
A két tranzisztoros EEPROM cellát egy különleges tranzisztor helyettesíti, így a sűrűség összemérhető az EPROM sűrűséggel.
Programozás: mint az EPROM cella esetében, lavinaletörésselTörlés: mint az EEPROM cella esetében, tunnelezéssel.
Statikus RAM (CMOS)Statikus RAM (CMOS)Statikus RAM : a beírt információ a tápfeszültség eltünéséig megmarad.
Minden egyes cella egy kétállapotú áramkör, ez tárolja az információt.
6 tranzisztorból áll.Az információt a 2 keresztbecsatolt CMOS inverter tárolja, aminek 2 stabil állapota van (flip-flop).A beírás, kiolvasás a 2 transzfer kapun keresztül történik.(NMOS változat is létezik)
Az SRAM hoz képest a DRAM cella egy tranzisztorból és egy kapacitásból áll.
Azonos felületen kb. 4x sűrűbb mint a statikus RAM
Az információt a Cs kapacitás tárolja, amit az M1 tranzisztor kapcsol rá a bitvonalra. A Cs kapacitás kb. 30..60fF.
Félvezető memóriák: Félvezető memóriák: DRAM
Írás: a szóvonalat VDD –re kapcsolva a bitvonal szinttől függően vagy kisüti a kapacitást (LOW), vagy VDD-VT –re (HIGH) tölti fel.Kiolvasás: a szóvonal aktivizálásakor a bitvonalra kapcsoljuk a CS kapacitást.
Félvezető memóriákFélvezető memóriákDinamikus RAM részleteDinamikus RAM részlete
A csiszolat A csiszolat vonalavonala
BitvezetékBitvezeték
Poli Poli szóvezetékszóvezeték
Aktív terület
Csatorna=Aktív AND Poli
BitvezetékBitvezeték
C
DRAMDRAM
A) árokkapacitás (trench kapacitás). A szilíciumba árkot marnak, aminek a falát oxid fedi. Ebbe kerül a poli-Si.B )“stack” kapacitás: a fegyverzeteket vékonyoxid szigeteli el.A kapacitás növelése több réteggel lehetséges.
DRAM működése, a DRAM működése, a töltésmegosztástöltésmegosztás
A bitvonal saját kapacitása nagyobb, mint a tároló kapacitás, így töltésmegoszlás történik:
BBS
BS
BS
S UCC
CU
CC
CU
PÉLDALegyen CB = 20CS, VDD=3.3V, VT=0.7VEkkor a CS kapacitás “1” szintje UDD-VT = 2.6V lesz. A bitvonal feszültségváltozása ennek 21-d része, azaz kb. 120mV
Az érzékelő erősítőnek tehát ezt kell helyreállítani. A kiolvasás destruktív, tehát kiolvasás után mindenképpen (2..4ms –ként) frissíteni kell.
DRAM : Alfa részecskék DRAM : Alfa részecskék hatásahatása
Az alfa részecskék hatása:egy becsapodó alfa részecske 1-2 millió elektront képes kelteni, és ez megváltoztathatja a kapacitás töltését. Ezért védőfóliával (pl. poliimid) fedik a DRAM chipeket.
ROM jellegzetes paraméterekROM jellegzetes paraméterek
hozzáférési idő programozásMask CMOS ROM 100..150nsCMOS EPROM 100..200ns 12..13VFlash EEPROM 80..100ns 12V
RAM jellegzetes paraméterekRAM jellegzetes paraméterek
Véletlen elérésre!
Hozzáférési időCMOS SRAM 12..15nsBiCMOS SRAM 6..10nsbipoláris ECL 3..6nsDRAM 50..70ns