シェブロン型レーザビーム走査による 走査領域の局...

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シェブロン型レーザビーム走査による 走査領域の局所単結晶化 JST 材料新技術説明会 2016.7. 島根大学大学院 総合理工学研究科 准教授 葉 文昌 1

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Page 1: シェブロン型レーザビーム走査による 走査領域の局 …...シェブロン型レーザビーム走査による 走査領域の局所単結晶化 JST材料新技術説明会

シェブロン型レーザビーム走査による走査領域の局所単結晶化

JST 材料新技術説明会 2016.7.

島根大学大学院 総合理工学研究科准教授 葉 文昌

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Page 2: シェブロン型レーザビーム走査による 走査領域の局 …...シェブロン型レーザビーム走査による 走査領域の局所単結晶化 JST材料新技術説明会

ガラス基板上半導体膜の応用と問題点

平面ディスプレイ薄膜Si太陽電池

n

ip

ガラス基板

結晶粒界

粒界での再結合⇒効率の低下

n

ip

ガラス基板

電極

種結晶

変換効率が改善されていない

粒界制御と大粒径化⇒高効率化

高解像度化と高レート化と共に、薄膜トランジスタ(TFT)の大きい移動度が求められる

a-Si移動度

<1 cm2/Vs

IGZO ~10 cm2/Vs

Poly-Si >100 cm2/Vs

最大解像度@120HzFull HD

4K8K

>8K4K

近年、スマートフォンのVR応用が提案されている

網膜細胞の解像度限界を実現するには、両目で16K8Kが必要(~3000dpi)単結晶Si-TFTでのみ、高い均一性と高い移動度とを実現できる

問題点:単結晶Si膜のガラス上への形成2

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エキシマレーザ結晶化法 cw レーザアニール

SiO2

SiSiO2

Siレーザ

核発生

レーザ

レーザ

結晶粒界

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これまでのpoly-Si薄膜の形成方法

T. Sameshima et. al. N. Sasaki et. al.

ゲート ゲート

ソース

ドレイン

断面図

平面図

ソース

ドレイン

移動方向

移動度低下均一性劣化

均一性劣化オフ時漏れ電流

TFT形成後

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cwレーザアニールにおけるSi膜単結晶化への試み

単結晶粒

多結晶

ドーナツ型ビーム

気体レーザに凹面共振鏡を用いて生成

デュアルビーム

二のレーザスポットを位置合せ

ドーナツ型ビーム走査 デュアルビーム走査

S. Kawamura ら, APL 40, p394 (1981)N. Sasaki ら, APL 45, p1098 (1984)

半導体レーザが応用できない数百ミクロンオーダー多結晶領域が形成される

ビームアライメントが困難数十ミクロンオーダー多結晶領域が形成される

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1.シェブロン型ビーム走査

本研究の提案

単一LDが使用可ビームのアレイ化が容易

→スキャン方向単結晶Si

poly-Si

熔融Si

a-Si

結晶成長方向

シェブロン型レーザビーム

単一LDの出力

2.考案した片側ダブプリズムによるシェブロン型ビーム生成

W. Yeh et.al, APEX, 9, 025503 (2016).

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Page 6: シェブロン型レーザビーム走査による 走査領域の局 …...シェブロン型レーザビーム走査による 走査領域の局所単結晶化 JST材料新技術説明会

実験方法

回転台

405nm, 1.2W, cw-LD光学系

周速度 0.02 m/s

試料

装置概略図:

試料構造:

Si:60nmSiO2: 300nm

ガラス基板

成膜方法:

Si、SiO2ともにPECVD

回転台曲率半径:200mm

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Scan direction ➡

実験結果

10µm

レーザ照射されたSi膜の可視光像

I型ビーム結晶化Si膜のセコエッチング後SEM像

Si膜のEBSD像

従来のI型ビーム

I型ビームでは単結晶化には至らない! 7

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10µm

レーザ照射されたSi膜の可視光像

結晶化Si膜のセコエッチング後SEM像

本研究が提案したシェブロン型ビーム

25µm

Si膜のEBSD像(ND方向)

単結晶成長に成功! 8

Page 9: シェブロン型レーザビーム走査による 走査領域の局 …...シェブロン型レーザビーム走査による 走査領域の局所単結晶化 JST材料新技術説明会

試料構造:

Si:60nmSiO2: 300nm

極薄フレキシブルガラス基板170µm

極薄フレキシブルガラス基板への応用例

シェブロン型レーザビーム(レーザ点滅により不連続結晶成長)

回転ロール

成膜方法:

Si、SiO2ともに低温スパッタ堆積

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Page 10: シェブロン型レーザビーム走査による 走査領域の局 …...シェブロン型レーザビーム走査による 走査領域の局所単結晶化 JST材料新技術説明会

フレキシブルガラス基板上へ形成した単結晶粒のEBSD像(ND方向)

異なるレーザパワーで走査した後の、セコエッチング後可視光像

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シェブロン型レーザビーム

Rotating role

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従来技術と比較した時の本方法の利点

エキシマレーザ結晶化技術

面照射⇒不要領域も結晶化気体レーザ⇒不安定、高コスト多結晶膜⇒性能低い

本方法

ピンポイント選択照射固体レーザ単結晶膜

ディスプレイ顕微鏡写真

TFTチャネルが占める面積:<1/100大画面化とともに比率は桁違いに小さくなる

シェブロン型ビーム

a-Si膜

基板

結晶化領域

低い装置コストと維持コスト、桁違いに高いスループット、高性能単結晶Si-TFT

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企業への期待

装置の共同開発デバイスの共同開発特許のライセンス

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問い合わせ先

本技術に関する知的財産権

• 発明の名称:結晶化方法、パターニング方法、および、薄膜トランジスタ作製方法

• 出願番号:特願2015-135706• 出願人:国立大学法人島根大学• 発明者:葉 文昌

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島根大学研究機構産学連携センター

地域産業共同研究部門 教授 北村寿宏

Tel: 0852-60-2290 Fax: 0852-60-2395

e-mail: [email protected]

島根大学研究機構産学連携センター

知的財産創活部門 教授 阿久戸敬治

Tel: 0852-60-2290 Fax: 0852-60-2395

e-mail : akuto@riko.shimane-u.ac.jp