imagini nanotehnologii_pentru examen

7/25/2019 Imagini Nanotehnologii_pentru EXAMEN

1/14

1

PENTRU EXAMEN (vei primi cel puin 3 astfel de imagini pe care s le identificai adic s spunei cereprezint i s le explicai fenomenele implicate n maxim 3 fraze pentru fiecare):

Notaii noduri n reeaua cristalin: Notaii drepten reeaua cristalin:

Notaii planen reeaua cristalin:

Fig. 4 Exemple de notaii de plane cristalinen celula elementar


2/14

2

reele cristaline cubic cu volum centrat (CVC) i cubic cu fee centrate (CFC):


3/14

3

Mecanismul generrii radiaiilorX Mecanismul generrii radiaiilor Xde frnare: caracteristice:


4/14

4

Serii de radiaiiX caracteristice: notaii i tranziii implicate:


5/14

5

Fig. 8 Spectru XRD pentru clorura de sodiusarea de buctrie


6/14

6

Fig. 10 Profilul i parametrii caracteristici ai unei linii de difracie reale

Fig. 12 Spectre XRD pentru probe policristaline sub form de straturi subiri depuse pe diferite substraturi


7/14

7

Spectre XRF

(analiz pulberi reziduale de la proiectie prin XRF)


8/14

8

Fig. 13 Adncimile maxime n care se produc diverse tipuri de produseale interaciunii electroni specimen

a). b).Fig. 14 a). Obinerea electronilor secundari; b). Electroni retromprtiai

Fig. 15 Scintilator i Fotomultiplicator


9/14

9

Fig. 4 Schema unui microscop optic (stnga) i imaginea acestuia(dreapta)

Fig. 5 Schema unui microscop SEM (stnga) i imaginea acestuia(dreapta)

Fig. 6 Schema unui microscop TEM (stnga) i imaginea acestuia(dreapta)

a). b).Fig. 7 a. Schema constructiv a unui tun electronic;

b. filament de Wolfram ca surs de electroni


10/14

10

Fig. 8 Pomp de difuzie cu ulei

a).2 1 3 2

V V V V b).2 1 3 2

V V V V

Fig. 9 a). Lentile electrostatice: Fig. 11 Schema de funcionare a unei lentile condensora. pozitiv; b. negativ

a). b).Fig.10 a). Linii de cmp magnetic produs de un solenoid cu miez de fier;

b). Deviaia unui electron n cmp magnetic


11/14

11

a). SEM (mrire de 30 000 x) b). TEM Imagine prin Microscopie TEM a unuiFig. 17 Imagini electronice prin : a). SEM; b). TEM ansamblu de gruni cristalini

dintr-o prob policristalin

(tehnica EDAX)


12/14

12

Interaciune vrf(sond) i prob la un microscop AFM Imagine AFM

Fig. 1 Schema microscopului cu fore atomice Fig. 2 AFM n modul de lucru non-contact

Fig. 2.1 Schema constructiv a unui dispozitiv Fig. 2.2 Electrodepunere: a). schemapentru piroliza spray dispozitivului experimental


13/14

13

a). b).Fig. 2.7 Principiile tehnicilor de evaporare termic n vid:

a). rezistiv; b). prin bombardament cu fascicul de electroni

Fig. 2.8 Tipuri de evaporatoare folosite la evaporarea termic:a). fire spiralate; b). brcue i grup de fire; c). creuzete; d). celule Knudsen

Fig. 2.9 Schema dispozitivului experimental folosit pentru Fig.2.10 Principiul ablaiei laserdepunerea de straturi subiri prin evaporare termic n vid

a). b).Fig. 2.11 Imaginea plasmei plume albstruie Fig. 2.13 Imagini ale unei intefixate n suportul pentrude Bi i a plasmei de oxigen de RF n timpul ablaie,nainte (a), i dup (b) utilizarea ei la PLDunei depuneri RF-PLD de bismut oxidat pe un substrat


14/14

14

Fig. 2.12 Iinstalaiede PLD i RF-PLD a). ArF excimer laser b). Nd:YAG lasersFig. 2.14 Imaginile de ansamblu ale dispozitivelor emitoare de radiaiilaser utilizate pentru depunerea prin RF-PLD de straturi subiri

Fig. 2.15 Spectrul de transmisie msurat pentruun strat subire, spectru util pentru determinarea grosimiistratului depus

Fig. 2.16 Imaginea, drumul razelor de lumin i formarea franjelor de interferen la un microcop Linnik

imagini nanotehnologii_pentru examen

Documents