lfcspパッケージ採用の 0.5 5.5v spdt/2:1 cmos ......ミニlfcspパッケージ採用の...
TRANSCRIPT
ミニLFCSPパッケージ採用の
0.58Ω、1.8~5.5V、SPDT/2:1
クワッドCMOSマルチプレクサ
ADG858
Rev. A
アナログ・デバイセズ社は、提供する情報が正確で信頼できるものであることを期していますが、その情報の利用に関して、あるいは利用によって生じる第三者の特許やその他の権利の侵害に関して一切の責任を負いません。また、アナログ・デバイセズ社の特許または特許の権利の使用を明示的または暗示的に許諾するものでもありません。仕様は、予告なく変更される場合があります。本紙記載の商標および登録商標は、各社の所有に属します。 ※日本語データシートは REVISION が古い場合があります。最新の内容については、英語版をご参照ください。
©2008 Analog Devices, Inc. All rights reserved.
本 社/105-6891 東京都港区海岸 1-16-1 ニューピア竹芝サウスタワービル 電話 03(5402)8200
大阪営業所/532-0003 大阪府大阪市淀川区宮原 3-5-36 新大阪 MT ビル 2号 電話 06(6350)6868
特長
オン抵抗: 0.58 Ω (typ)
85での最大オン抵抗: 0.82 Ω
1.8 V~5.5 V の単電源動作
大きな電流処理能力: 250 mA 連続
レール toレールのスイッチング動作
高速なスイッチング時間: 20 ns 以下
消費電力: 0.1 µW 以下
2.1 mm × 2.1 mm のミニ LFCSP パッケージを採用
アプリケーション
携帯電話
PDA
MP3 プレーヤ
電源配線
バッテリ駆動のシステム
PCMCIA カード
モデム
オーディオ信号やビデオ信号のルーティング
通信システム
機能ブロック図
図 1.
概要
ADG858 は、独立に選択可能な 4 個の CMOS SPDT (シング
ル・ポール、ダブル・スロー )スイッチを内蔵する低電圧
CMOS デバイスです。このデバイスは、全温度範囲で 0.82Ω
を下回る極めて低いオン抵抗を提供します。ADG858 は、4.2
V~5.5 V、2.7 V ~3.6 V の電源動作に対して仕様が規定され
ています。
各スイッチはオンのとき等しく両方向に導通し、電源までの
入力信号範囲を持っています。ADG858 は、ブレーク・ビフ
ォー・メーク・スイッチング動作を行います。
ADG858 は、2.1 mm × 2.1 mm の 16 ピン・ミニ LFCSP パッケ
ージを採用しています。この小型のパッケージは、ハンドセ
ット、PDA、MP3 などのスペース制約の厳しいアプリケーシ
ョンに最適です。
製品のハイライト
1. –40~+85の全温度範囲で 0.82 Ω以下。
2. 1.8V~5.5 V の単電源動作。
3. 1.8 V CMOS ロジックと互換。
4. 大きな電流処理能力(チャンネルあたりの連続電流 250
mA)。
5. 低い THD + N: 0.06% (typ)。
6. 2.1 mm × 2.1 mm の 16 ピン・ミニ LFCSP パッケージを
採用
ADG858
Rev. A - 2/13 -
目次 特長 ................................................................................................. 1
アプリケーション .......................................................................... 1
機能ブロック図 .............................................................................. 1
概要 ................................................................................................. 1
製品のハイライト .......................................................................... 1
改訂履歴.......................................................................................... 2
仕様 ................................................................................................. 3
絶対最大定格 .................................................................................. 5
ESD の注意 ................................................................................. 5
ピン配置およびピン機能説明 ...................................................... 6
代表的な性能特性 .......................................................................... 7
テスト回路 .................................................................................... 10
用語 ............................................................................................... 12
外形寸法........................................................................................ 13
オーダー・ガイド .................................................................... 13
改訂履歴
8/08—Rev. 0 to Rev. A
Changes to Features Section ................................................................. 1
8/08—Revision 0: Initial Version
ADG858
Rev. A - 3/13 -
仕様 特に指定のない限り、VDD = 4.2V~5.5 V、GND = 0 V。
表 1.
Parameter +25°C −40°C to +85°C Unit Test Conditions/Comments
ANALOG SWITCH
Analog Signal Range 0 to VDD V
On Resistance, RON 0.58 Ω typ VDD = 4.2 V, VS = 0 V to VDD, IS = 100 mA, see Figure 16
0.72 0.82 Ω max
On-Resistance Match Between Channels, ΔRON 0.04 Ω typ VDD = 4.2 V, VS = 2 V, IS = 100 mA
0.14 Ω max
On-Resistance Flatness, RFLAT (ON) 0.12 Ω typ VDD = 4.2 V, VS = 0 V to VDD
0.26 Ω max IS = 100 mA
LEAKAGE CURRENTS VDD = 5.5 V
Source Off Leakage, IS (Off) ±10 pA typ VS = 0.6 V/4.2 V, VD = 4.2 V/0.6 V, see Figure 17
Channel On Leakage, ID, IS (On) ±10 pA typ VS = VD = 0.6 V or 4.2 V, see Figure 18
DIGITAL INPUTS
Input High Voltage, VINH 2.0 V min
Input Low Voltage, VINL 0.8 V max
Input Current
IINL or IINH 0.004 µA typ VIN = VGND or VDD
0.05 µA max
Digital Input Capacitance, CIN 2 pF typ
DYNAMIC CHARACTERISTICS1
tON 20 ns typ RL = 50 Ω, CL = 35 pF
27 36 ns max VS = 3 V/0 V, see Figure 19
tOFF 8 ns typ RL = 50 Ω, CL = 35 pF
12 13 ns max VS = 3 V, see Figure 19
Break-Before-Make Time Delay, tBBM 14 ns typ RL = 50 Ω, CL = 35 pF
9 ns min VS1 = VS2 = 1.5 V, see Figure 20
Charge Injection 45 pC typ VS = 1.5 V, RS = 0 Ω, CL = 1 nF, see Figure 21
Off Isolation −67 dB typ RL = 50 Ω, CL = 5 pF, f = 100 kHz, see Figure 22
Channel-to-Channel Crosstalk −85 dB typ S1A to S2A/S1B to S2B/S3A to S4A/S3B to S4B,
RL = 50 Ω, CL = 5 pF, f = 100 kHz, see Figure 25
−67 dB typ S1A to S1B/S2A to S2B/S3A to S3B/S4A to S4B,
RL = 50 Ω, CL = 5 pF, f = 100 kHz, see Figure 24
Total Harmonic Distortion, THD + N 0.06 % RL = 32 Ω, f = 20 Hz to 20 kHz, VS = 2 V p-p
Insertion Loss −0.05 dB typ RL = 50 Ω, CL = 5 pF, see Figure 23
−3 dB Bandwidth 70 MHz typ RL = 50 Ω, CL = 5 pF, see Figure 23
CS (Off) 25 pF typ
CD, CS (On) 75 pF typ
POWER REQUIREMENTS VDD = 5.5 V
IDD 0.003 µA typ Digital inputs = 0 V or 5.5 V
1 µA max
1 設計上保証しますが、出荷テストは行いません。
ADG858
Rev. A - 4/13 -
特に指定のない限り、VDD = 2.7~3.6 V、GND = 0 V。
表 2.
Parameter +25°C −40°C to +85°C Unit Test Conditions/Comments
ANALOG SWITCH
Analog Signal Range 0 to VDD V
On Resistance, RON 1 Ω typ VDD = 2.7 V, VS = 0 V to VDD, IS = 100 mA, see Figure 16
1.35 1.5 Ω max
On-Resistance Match Between Channels, ΔRON 0.05 Ω typ VDD = 2.7 V, VS = 0.7 V, IS = 100 mA
0.15 Ω max
On-Resistance Flatness, RFLAT (ON) 0.35 Ω typ VDD = 2.7 V, VS = 0 V to VDD, IS = 100 mA
0.79 Ω max
LEAKAGE CURRENTS VDD = 3.6 V
Source Off Leakage IS (Off) ±10 pA typ VS = 0.6 V/3.3 V, VD = 3.3 V/0.6 V, see Figure 17
Channel On Leakage ID, IS (On) ±10 pA typ VS = VD = 0.6 V or 3.3 V, see Figure 18
DIGITAL INPUTS
Input High Voltage, VINH 1.35 V min
Input Low Voltage, VINL 0.8 V max
Input Current
IINL or IINH 0.004 µA typ VIN = VGND or VDD
0.05 µA max
Digital Input Capacitance, CIN 2 pF typ
DYNAMIC CHARACTERISTICS1
tON 30 ns typ RL = 50 Ω, CL = 35 pF
50 59 ns max VS = 1.5 V/0 V, see Figure 19
tOFF 9 ns typ RL = 50 Ω, CL = 35 pF
14 15 ns max VS = 1.5 V, see Figure 19
Break-Before-Make Time Delay, tBBM 25 ns typ RL = 50 Ω, CL = 35 pF
11 ns min VS1 = VS2 = 1.5 V, see Figure 20
Charge Injection 35 pC typ VS = 1.5 V, RS = 0 Ω, CL = 1 nF, see Figure 21
Off Isolation −67 dB typ RL = 50 Ω, CL = 5 pF, f = 100 kHz, see Figure 22
Channel-to-Channel Crosstalk −85 dB typ S1A to S2A/S1B to S2B/S3A to S4A/S3B to S4B,
RL = 50 Ω, CL = 5 pF, f = 100 kHz, see Figure 25
−67 dB typ S1A to S1B/S2A to S2B/S3A to S3B/S4A to S4B,
RL = 50 Ω, CL = 5 pF, f = 100 kHz, see Figure 24
Total Harmonic Distortion, THD + N 0.1 % RL = 32 Ω, f = 20 Hz to 20 kHz, VS = 1.5 V p-p
Insertion Loss −0.06 dB typ RL = 50 Ω, CL = 5 pF, see Figure 23
−3 dB Bandwidth 70 MHz typ RL = 50 Ω, CL = 5 pF, see Figure 23
CS (Off) 25 pF typ
CD, CS (On) 75 pF typ
POWER REQUIREMENTS VDD = 3.6 V
IDD 0.003 µA typ Digital inputs = 0 V or 3.6 V
1 µA max
1 設計上保証しますが、出荷テストは行いません。
ADG858
Rev. A - 5/13 -
絶対最大定格 特に指定のない限り、TA = 25。
表 3.
Parameter Rating
VDD to GND −0.3 V to +6 V
Analog Inputs1 −0.3 V to VDD + 0.3 V
Digital Inputs1 −0.3 V to VDD or 10 mA,
whichever occurs first
Peak Current, S or D 500 mA (pulsed at 1 ms,
10% duty cycle max)
Continuous Current, S or D 250 mA
Operating Temperature Range −40°C to +85°C
Storage Temperature Range −65°C to +150°C
Junction Temperature 150°C
16-Lead Mini LFCSP
θJA Thermal Impedance, 3-Layer Board 84.9°C/W
Reflow Soldering, Pb-Free
Peak Temperature 260(+0/−5)°C
Time at Peak Temperature 10 sec to 40 sec
1 IN、S、または D での過電圧は内部ダイオードでクランプされます。
電流は、規定された最大定格に制限してください。
上記の絶対最大定格を超えるストレスを加えるとデバイスに
恒久的な損傷を与えることがあります。この規定はストレス
定格の規定のみを目的とするものであり、この仕様の動作の
節に記載する規定値以上でのデバイス動作を定めたものでは
ありません。デバイスを長時間絶対最大定格状態に置くとデ
バイスの信頼性に影響を与えます。
同時に複数の絶対最大定格条件を適用することはできません。
ESD の注意
ESD(静電放電)の影響を受けやすいデバイ
スです。電荷を帯びたデバイスや回路ボード
は、検知されないまま放電することがあります。
本製品は当社独自の特許技術である ESD 保護回
路を内蔵してはいますが、デバイスが高エネルギ
ーの静電放電を被った場合、損傷を生じる可能性
があります。したがって、性能劣化や機能低下を
防止するため、ESD に対する適切な予防措置を
講じることをお勧めします。
ADG858
Rev. A - 6/13 -
ピン配置およびピン機能説明
図 2.ピン配置
表 4.ピン機能の説明
ピン番号 記号 説明
1、3、4、6、8、10、11、13 S1A、S1B、S2A、S2B、S3A、S3B、S4A、S4B ソース・ピン。入力または出力。
2、5、9、12 D1、D2、D3、D4 ドレイン・ピン。入力または出力。
7 GND グラウンド基準電圧(0 V)。
14、16 IN1、IN2 ロジック・コントロール入力。
15 VDD 正電源電位。
表 5.ADG858 の真理値表
Logic (IN1/IN2) Switch A (S1A/S2A/S3A/S4A) Switch B (S1B/S2B/S3B/S4B)
0 Off On
1 On Off
ADG858
Rev. A - 7/13 -
代表的な性能特性
0.6
0.5
0.4
0.3
0.2
0.1
00 1 2 3 4 5 6
07
09
0-0
03
ON
RE
SIS
TA
NC
E (
Ω)
VD, VS (V)
TA = 25°C
VDD = 4.2VVDD = 4.5VVDD = 5.0VVDD = 5.5V
図 3.オン抵抗対 VD (VS)、VDD = 4.2 V~5.5 V
1.0
0.9
0.8
0.7
0.6
0.5
0.4
0.3
0.2
0.1
00 0.5 1.51.0 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0
07
09
0-0
04
ON
RE
SIS
TA
NC
E (
Ω)
VD, VS (V)
TA = 25°C
VDD = 2.7VVDD = 3.0VVDD = 3.3VVDD = 3.6V
図 4.オン抵抗対 VD (VS)、VDD = 2.7 V~3.6 V
0.6
0.5
0.4
0.3
0.2
0.1
00 1 2 3 4 5 6
07
09
0-0
05
ON
RE
SIS
TA
NC
E (
Ω)
VD, VS (V)
VDD = 5V
TA = +85°CTA = +25°CTA = –40°C
図 5.さまざまな温度でのオン抵抗対 VD (VS)、VDD = 5 V
0.8
0.7
0.6
0.5
0.4
0.3
0.2
0.1
00 0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5
07
09
0-0
06
ON
RE
SIS
TA
NC
E (
Ω)
VD, VS (V)
TA = +85°CTA = +25°CTA = –40°C
VDD = 3.3V
図 6.さまざまな温度でのオン抵抗対 VD (VS)、VDD = 3.3 V
7
6
5
4
3
2
1
0
–1
–20 25 50 75 100 125
07
09
0-0
07
LE
AK
AG
E C
UR
RE
NT
(n
A)
TEMPERATURE (°C)
IS (OFF)+–
IS (OFF)–+
ID,IS (ON)++
ID,IS (ON)––
図 7.リーク電流の温度特性、VDD = 5 V
7
6
5
4
3
2
1
0
–10 25 50 75 100 125
07
09
0-0
08
LE
AK
AG
E C
UR
RE
NT
(n
A)
TEMPERATURE (°C)
IS (OFF)+–
IS (OFF)–+
ID,IS (ON)++
ID,IS (ON)––
図 8.リーク電流の温度特性、VDD = 3.3 V
ADG858
Rev. A - 8/13 -
160
140
120
100
80
60
40
20
00 1 2 3 4 5 6
07
09
0-0
09
CH
AR
GE
IN
JE
CT
ION
(p
C)
SOURCE VOLTAGE (V)
TA = 25°C
VDD = 5V
VDD = 3V
図 9.チャージ・インジェクション対ソース電圧
40
35
30
25
20
15
10
5
0–60 –40 0 40 100
07
09
0-0
10
TIM
E (
ns)
TEMPERATURE (°C)
–20 20 60 80
tON (3.3V)
tON (5V)
tOFF (3.3V)
tOFF (5V)
図 10. tON/tOFF 時間の温度特性
0
–2
–4
–6
–8
–10
–12
–14
–16
–18
–20
–220.1 1k1
INS
ER
TIO
N L
OS
S (
dB
)
10 100
FREQUENCY (MHz) 07
09
0-0
11
TA = 25°C
VDD = 5V, 3.3V
図 11.帯域幅
0
–10
–20
–30
–40
–50
–60
–70
–80
–900.1 1k1
AT
TE
NU
AT
ION
(d
B)
10 100
FREQUENCY (MHz) 07
09
0-0
12
TA = 25°C
VDD = 5V, 3.3V
図 12.オフ時アイソレーションの周波数特性
ADG858
Rev. A - 9/13 -
0
–10
–20
–30
–40
–50
–60
–70
–80
–90
–1000.1 1k1
CR
OS
ST
AL
K (
dB
)
10 100
FREQUENCY (MHz)
07
09
0-0
13
TA = 25°C
VDD = 5V, 3.3VS1A TO S1B
S1A TO S2A
図 13.クロストークの周波数特性
0.14
0.12
0.10
0.08
0.06
0.04
0.02
0100 1k
TH
D +
N (
%)
10k 100k
FREQUENCY (Hz) 07
09
0-0
14
VDD = 3.6V
VDD = 5V
図 14.総合高調波歪み + ノイズ (THD + N)の周波数特性
0
–20
–40
–60
–80
–100
–120100 1k 10k 100k 1M 10M 100M 1G
PS
SR
(d
B)
FREQUENCY (Hz) 07
09
0-0
15
TA = 25°C
VDD = 5V, 3.3V
図 15.PSSR の周波数特性
ADG858
Rev. A - 10/13 -
テスト回路
S D
VS RON = V1/IDS
IDS
V1
07
09
0-0
19
図 16.オン抵抗
S D
VS VD
IS (OFF) ID (OFF)
A A
07
09
0-0
20
図 17.オフ時リーク
S D
VD
ID (ON)
NC A
07
09
0-0
21
図 18.オン時リーク
D
IN
GND
RL
50Ω
CL
35pF
VDD
VIN
VOUTVS
VDD
VOUT
tON tOFF
50% 50%
90% 90%
0.1µF
S1B
S1A
07
09
0-0
22
図 19.スイッチング時間、tON、tOFF
VOUT
VIN
tBBM tBBM
50% 50%
80%
0V
D
IN
GND
RL
50Ω
CL
35pF
VDD
VOUTVS
VDD
0.1µF
S1B
S1A80%
07
09
0-0
23
図 20.ブレーク・ビフォ・メーク時間遅延、tBBM
IN
GND
VDD
VS
VIN
VOUT
1nF
VOUT
NC
SW ON
QINJ = CL × ΔVOUT
SW OFF
ΔVOUT
S1B
S1AD
07
09
0-0
24
図 21.チャージ・インジェクション
ADG858
Rev. A - 11/13 -
VDD
VS
VDD
NC
NETWORK
ANALYZER
S1B S1A
GND
OFF ISOLATION = 20 log
D
50Ω50Ω
VOUTRL50Ω
0.1µF
VOUT
VS
07
09
0-0
25
図 22.オフ時アイソレーション
NETWORK
ANALYZER
RL
GND
VDD
VDD
VOUT
VS
S1AS1B
0.1µF
D
50Ω
50Ω
INSERTION LOSS = 20 logVOUT WITH SWITCH
VOUT WITHOUT SWITCH
07
09
0-0
26
図 23.帯域幅
VOUT
VDD
VDD
GNDVS
RL50Ω
RL50Ω
0.1µF
50Ω
S1A
DS1B
CHANNEL-TO-CHANNEL CROSSTALK = 20 logVOUT
VS
NETWORK
ANALYZER
07
09
0-0
27
図 24.チャンネル間クロストーク (S1A― S1B 間)
VOUT
50Ω
50Ω
50ΩVS
NETWORK
ANALYZER
S2A
S2B
D1
D2NC
NC
S1A
S1B
CHANNEL-TO-CHANNEL CROSSTALK = 20 logVOUT
VS
07
09
0-0
28
図 25.チャンネル間クロストーク (S1A―S2A 間)
ADG858
Rev. A - 12/13 -
用語 IDD
正電源電流。
VD (VS)
D、S ピンのアナログ電圧。
RON
D-S間の抵抗
RFLAT(ON)
スイッチ上で測定したオン抵抗の最大値と最小値の差。
ΔRON
任意の 2 チャンネル間のオン抵抗の差。
IS (Off)
スイッチ「オフ」時のソース・リーク電流。
ID (Off)
スイッチ「オフ」時のドレイン・リーク電流。
ID、IS (On)
スイッチ「オン」時のチャンネル・リーク電流。
VINL
ロジック「0」の最大入力電圧。
VINH
ロジック「1」の最小入力電圧。
IINL (IINH)
デジタル入力の入力電流。
CS (Off)
スイッチ「オフ」時のソース容量。グラウンドを基準に測定。
CD (Off)
スイッチ「オフ」時のドレイン容量。グラウンドを基準に測
定。
CD、CS (On)
スイッチ「オン」時の容量。グラウンドを基準に測定。
CIN
デジタル入力容量。
tON
デジタル入力の 50%/90%ポイントとスイッチ・オン状態との
間の遅延時間。
tOFF
デジタル入力の 50%/90%ポイントとスイッチ・オン状態との
間の遅延時間。
tBBM
一方のスイッチから他方のスイッチへ切り替わるときの、両
スイッチの 80%ポイント間で測定したオフ時間またはオン時
間。
チャージ・インジェクション
スイッチのオン/オフ時にデジタル入力からアナログ出力へ
伝達されるグリッチ・インパルスの大きさ。
オフ時アイソレーション
「オフ」状態のスイッチを通過する不要信号の大きさ。
クロストーク
寄生容量に起因して 1 つのチャンネルから別のチャンネルに
伝達される不要信号の大きさ。
-3 dB帯域幅
出力が 3 dB 減衰する周波数。
オン応答
オン状態にあるスイッチの周波数応答
挿入損失
スイッチのオン抵抗に起因する損失。
THD + N
信号の高調波振幅とノイズの和の基本波に対する比。
ADG858
Rev. A - 13/13 -
外形寸法
03
28
07
-A
0.40BSC
1
5
13
9
PIN 1IDENTIFIER
TOP VIEW BOTTOM VIEW
SEATINGPLANE
0.20 DIATYP
0.60
0.55
0.50
2.10 SQ
0.25
0.20
0.15
0.55
0.40
0.30
0.35
0.30
0.25
0.05 MAX
0.02 NOM
図 26.16 ピン・リードフレーム・チップ・スケール・パッケージ [LFCSP_UQ]
2.10 mm × 2.10 mm ボディ、極薄クワッド
(CP-16-15)
寸法: mm
オーダー・ガイド
Model Temperature Range Package Description Package Option Branding
ADG858BCPZ-REEL1 −40°C to +85°C 16-Lead Lead Frame Chip Scale Package [LFCSP_UQ] CP-16-15 11
ADG858BCPZ-REEL71 −40°C to +85°C 16-Lead Lead Frame Chip Scale Package [LFCSP_UQ] CP-16-15 11
1 Z = RoHS 準拠製品
D07
09
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8(A
)-J