marsurf m 400. “mobil cihazların” en...

- +- +

15-11MarSurf. Yüzey Ölçüm Alet ler i ve S istemler i

P profilleri

W profilleri

R profilleri

MarSurf M 400. “Mobil cihazların” en iyisi.

Açıklama

Taşınabilir cihazlarda yüksek kaliteli yüzey metrolojisi gereksinimi artmaktadır. Birçok durumda, destekli (kapalı prob ile) ölçüm artık yeterli olmamaktadır ve bunun yerine desteksiz (açık prob ile) tarama gerekmektedir. Özellikle, filtrelenmemiş P profilinden gelen parametreleri veya dalgalanma parametrelerini belirlerken desteksiz ölçüm mutlak bir gereksinimdir.MarSurf M 400, bu özellikleri tamamen karşılar ve ayrıca karmaşık ölçüm görevleri için bile kolay kullanım avantajına sahiptir.

Otomatik sıfır ayar seçeneği, kullanıcıyı karmaşık manuel sıfır ayarından kurtarır. Başlat butonuna bastıktan sonra sıfır ayarı ve sonraki ölçüm hemen başlatılır.

Kolay. Hızlı. Yenilikçi. Desteksiz (açık prob ile) tarama ve otomatik sıfırlama ayarı.

Üretim hattında ölçüm

- +

15-12

- +

MarSurf. Yüzey Ölçüm Alet ler i ve S istemler i

MarSurf M 400. “Mobil Cihazların” En İyisi.

Yüksek mobiliteyle yüksek performans

SD 26 Sürücü Ünitesi ve Prob Sistemi BFW-250 Özellikler

Mobil yüzey ölçüm ünitesini küçük bir sabit çalışma istasyonuna genişletme olanağı, MarSurf aksesuarlar serisinden birkaç bileşen eklenerek kolay ve hızlı bir şekilde gerçekleştirilebilir.

Eğim ayar seçeneği sayesinde sürücü ünitesinin test parçasına hızlı ve kolay bir şekilde hizalanması.

MarSurf M 400, P, W ve R profillerinden gelen parametrelerin değerlendirilmesini sağlar.

V bloğuyla ters ölçümBFW-250'nin otomatik sıfır ayarı

ST-G ölçme standıyla MarSurf ölçme istasyonu

Yüksek hassasiyette prob• sistemiyle desteksiz (açık uç ile) tarama (1)Manyetik prob • kolu tutucusuyla hızlı prob kol değişimi (2, 3, 4)Hasara ka• rşı korumaOtomatik sıfır ayarıyla sürücü ünitesinin motorlu •yükseklik ayarı sayesinde sadece birkaç saniyelik bir ayar süresi gerekmektedirKablosuz• Bluetooth bağlantısı ile esnek kullanımSonuçların• tarifi ve operatör kılavuzluğu için parlak renkli ekran sayesinde az ve öz, açık ve kolay AC adapt• ör veya dahili pille çalışma sayesinde mobil kullanım Uluslararası güncel kullanım: ISO, JIS, ASME'ye uygun olarak •tüm yaygın parametrelerle ve TÜRKÇE dahil çoklu dil seçeneği Profil ve so• nuçların çıktısı için entegre termal yazıcıyla kaliteli belgelendirmeArtan ölçüm hızına rağmen standartlaştırılmış • ölçüm noktası yoğunluğu

1

2 3

4

- +- +

15-13


MarSurf M 400. “Mobil Cihazların” En İyisi.

Teslim kapsamıDeğerlendirme ünitesi MarSurf M 400•BFW-250 prob sistemini içeren MarSurf SD 26 sürücü ünitesi•Standart prob kolu (6852403)•1 termo kağıt rulosu•3 adaptörlü geniş aralıklı AC adaptör•2 x USB kablosu (bilgisayara bağlantı için)•Kullanma yönergeleri•

Tüm öğeler, pratik bir taşıma çantasında sunulmaktadır.

MarSurf M 400 seti: Sipariş no. 6910404

MarSurf M 400 seti: Teslim Kapsamı

Teknik Veriler

MarSurf M 400 setiProfil belirleme Birincil (P), dalgalanma (W) ve pürüzlülük

(R) profiliProblar Değiştirilebilir prob ekleriyle endüktif

desteksiz prob sistemi, 2 µm prob ucu, ölçüm kuvveti yaklaşık 0,7 mN (standart)

Filtreler (DIN/JIS'e uygun) Gaussian filtre, Ls filtreStandartlar DIN/ISO/JIS/ASME/MOTIFParametreler DIN/ISO: Ra, Rq, Rz, Rmaks, Rp, Rv, Rpk, Rk, Rvk,Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, Rt, R3z, RPc, Rmr (3x), HSC, RSm, Rsk, Rdc, Rdq, Rku Pa, Pt, Pmr (3x), Pdc, Wa, Wq, Wt, WSm, Wsk, JIS: Ra, Rz, RzJIS94, Sm, S, ASME: RpA, Rpm MOTIF: R, AR, W, AW, Rx, Wx, Wte, CR,

CL, CF, NR, NCRX, NW, CPMKesme boyu lc (ISO/JIS'e uygun): 0,08 mm, 0,25 mm, 0,8 mm, 2,5 mm, otomatik, Hareket uzunlukları Lt 0,56 mm, 1,75 mm, 5,6 mm, 17,5 mm, (ISO/JIS'e uygun) otomatik, serbest girişHareket uzunlukları 1 mm, 4 mm, 8 mm, 12 mm, 16 mm

(MOTIF'e uygun)Değerlendirme uzunlukları lm (ISO/JIS'e uygun) 1,25 mm, 4,0 mm, 12,5 mmÖrnekleme uzunluğu n sayısı(ISO/JIS'e uygun) seçim aralığı: 1 - 5Kısaltılmış kesme (ISO/JIS'e uygun) seçim aralığıTarama hızı 0,2 mm/sn, 0,5 mm/sn, 1 mm/snProfil çözünürlüğü Ölçüm hızı: ±250µm = 8 nm, ±25 µm = 0,8 nm, (standart prob kolu uzunluğu) (±500 µm = 16 nm (çift prob kolu uzunluğu) Diller 15, 3'ü Asya dili Bellek Maks. 30 profil, maks. 40.000 sonuçDiğer kilit/şifre koruması, tarih/saat, entegre yazıcı, dinamik kalibrasyon fonksiyonuBoyutlar (U x G x Y) yaklaşık 190 x 170 x 75 mmAğırlık yaklaşık 1,0 kg

Sürücü Ünitesi SD 26Hareket uzunluğu 26 mmÖlçüm hızı 0,2 mm/sn; 0,5 mm/sn; 1 mm/snX'te konumlandırma hızı 5 mm/snYükseklik ayarı Z 7,5 mm, motorluZ'de konumlandırma hızı 2 mm/snProb sisteminin sıfır ayarı Prob ölçüm aralığında otomatik olarak sıfır

veya belirtilen değere Eğim ayarı ±1,5° (değerlendirme ünitesinde kullanıcı

rehberliğinde hizalama fonksiyonu)Sıcaklık (saklama) -15 °C - +55 °CSıcaklık (çalışma) +5 °C - +40 °CBağ. nem %30 - %85 yoğuşmasızAğırlık yaklaşık 0,9 kgArabirimler USB Girişi, MarConnect (RS232)Geniş aralıklı AC adaptör 90 – 264 VBoyutlar (U x G x Y) yaklaşık 163 x 72 x 74 mm

WebCode 13834

- +

15-14

- +


MarSurf. Bilgisayar Tabanlı Sabit Yüzey Ölçüm İstasyonlarıİNCELEME ODASI VE LABORATUAR İÇİN ÇOK YÖNLÜ, YÜKSEK PERFORMANSLI ÜNİTELER

Broşür isteyin veya bkz. WebCode 2564.

Yüzey metrolojisinde mobil üniteler, sabit üretim içi ölçüm üniteleri ve bilgisayar tabanlı yüzey ölçüm aletleri arasında

bir ayrım yapılmaktadır. Bunların sonuncusu, yüzey ölçüm görevleri için en iyi ölçüm ve değerlendirme performansını

sağlamaktadır. Uluslararası standartlarla uyumluluk, çok yönlü değerlendirme yöntemleri, kapsamlı belgelendirme, geniş

depolama kapasitesi, veri dışarı ve içeri aktarımı ve diğer sistemlerle ağ oluşturma dahil mükemmel bir bilgisayar tabanlı

ölçüm ve değerlendirme sisteminin tüm gereksinimlerini karşılar. Kapsamlı QA prosedürleri yazılım ve donanımların yüksek

kaliteli ve dengeli olmasını sağlar.

- +- +


MarSurf XR 20

MarSurf XR 20, üstün kaliteli yüzey metrolojisine geçiş için mükemmel ünitedir. Bu bilgisayar tabanlı ünite, hem inceleme odasında hem de üretim hattında uluslararası standartlara uygun olarak tüm yaygın parametreler ve profilleri sağlar. Yüksek performanslı MarSurf XR 20, on yıllara dayanan yüzey metrolojisi deneyiminin ve geleceğe dönük teknoloji, açık simgeler ve kolay kullanım yardımcısının birleşmesinin bir ürünüdür.

• R, P ve W profilleri için ISO / JIS / ASME veya MOTIF'e (ISO 12085) uygun olarak 100'den fazla parametre seçilebilir

• Tüm parametreler için tolerans izleme ve istatistik• Teach-in modunu kullanarak Hızlı ve Kolay ölçüm

programlarını hızlı bir şekilde oluşturulması• Kapsamlı kayıt• Filtreler ve hareket uzunluklarının standartlarla uyumlu seçimi

için otomatik fonksiyon (patentli)• Ra veya Rz parametresinin belirtilmesiyle farklı kalibrasyon

yöntemleri (statik / dinamik) için destek• Ayarlanabilir servis ve kalibrasyon aralıkları• Kullanıcıların sisteme hızlı bir şekilde alışması için simülasyon

modu• Özelleştirilmiş uygulamalar için çok sayıda ölçüm istasyonu

konfigürasyonu

Aksesuarlar

• Mahr PZK, GD 25, PGK 20, PGK 120 ve PRK sürücü üniteleri için bağlantı seçenekleri

• Baskın Dalgalılık seçeneği bulunmaktadır• Yazılım M ve S üniteleri için değerlendirme yazılımı olarak da

kullanılabilir• Opsiyonel qs-STAT tabanlı veri aktarımı

Pürüzlülük ve dalgalanma ölçümü kolaylaştırılmıştır

Açıklama

Özellikler

• Farklı kullanıcı düzeyleri ayarlanabilir• Farklı seçenekler ve müşteriye özel parametrelerin

oluşturulması sayesinde çok yönlü sistem• Farklı kullanıcı düzeyleri, üniteyi operatör hatasına karşı korur

ve yetkisiz kullanıcıların cihazı kullanmasını engeller

WebCode 2997

- +

15-16

- +


MarSurf XC 2

Düzgün fonksiyon için gereken iş parçaları ve araçların ölçüm ve değerlendirme geometrileri araştırma, teknoloji ve sektörün temel gereksinimlerinden biridir. Hızlı, kolay ve düşük maliyetli 2D kontur ölçüm sisteminin diğer sistemlere göre üstünlüğü her geçen gün artmaktadır. Denenmiş ve test edilmiş, kullanımı kolay MarSurf XC 2, bunun en iyi örneğidir. Doğruluk ve farklı değerlendirme kriterleri açısından tüm gereksinimleri karşılamasının yanı sıra zaman içinde de güvenilir sonuçlar sağlar.

Açıklama

Özellikler

CD 120 sürücü ünitesinde, bir alete gerek olmadan prob kollarının hızlı ve esnek değiştirilmesi için patentli bir prob kolu bağlantısına sahiptir. Her prob kolunun kalibrasyon verileri ayrı olarak saklanmaktadır. Ayrıca birden fazla benzer prob kolunu kalibre etmek de kolaydır.

Başlangıç düzeyi için yüksek hassasiyette kontur ölçümü

CD 120 Sürücü Ünitesi

Özellikler

WebCode 2698

• Düz çizgiler ve daireler için regresyon oluşturur• Nokta, kesişim noktası, serbest nokta, maksimum ve minimum

noktalar oluşturur• Çap, uzaklık, açı, koordinat ve çizgi form sapmalarını belirler• Nominal/gerçek karşılaştırmaları gerçekleştirir• Tolerans izleme• İlişkili öğeler, örneğin, değişkenlerin anında değiştirilmesi değişiklik olduğunda referans öğelere bağlıdır• Şifre korumalı kullanıcı erişim hakları hatalı çalışmayı engeller • Geometri kalibrasyonu, ölçüm kuvveti kalibrasyonu, eğilme

kompanzasyonu gibi konularda yılların deneyimi sayesinde mükemmel kalibrasyon prosedürü

• Probların dengesi ve sağlamlığı• Sürücü ünitesi çok sorunsuz çalışan, yüksek düzeyde dengeli

ve çok hassastır

• Maks. ölçüm aralığı 120 mm (4,72 inç) ölçüm uzunluğu ve 50 mm (1,97 inç) ölçüm stroku

• Ayarlanabilir hızla prob kolunun otomatik kaldırılması ve alçaltılması

• 1 mN - 120 mN arasında ölçüm kuvvetinin değişken ayarı• Yüksek konumlandırma hızı• Patentli prob kolu montajı sayesinde çarpma koruması

MarSurf XC 2 opsiyonel olarak PCV 200 sürücü ile de sağlanabilir.

- +- +


MarSurf XC 20

Kontur değerlendirmesi söz konusu olduğunda MarSurf XC 20 en iyisidir. Conturograph ile bir sürücü ünitesi ve x-y çizici oluşturarak 30 yıl önce başlayan süreç bugün en son teknolojiye sahip mükemmel kontur ölçüm sistemine doğru evrilmiştir. Aletlerin bu mükemmel koordineli konfigürasyonu, en yüksek performans standartlarını karşılamaktadır. Hem sürücü ünitesi hem de ölçüm standı, güvenilir ölçüm ve değerlendirme yazılımları kullanılarak kontrol edilmekte ve konumlandırılmaktadır.

MarSurf XC 2 başlangıç düzeyi ünitesinin fonksiyonlarının yanı sıra MarSurf XC 20 ek özellikler de sağlamaktadır:

• Çalışma sırası hakkında açıklamalar görüntülenebilir• Etkileşimli kontrol öğeleri, değerlendirmeler ve otomatik

çalışma sıralarını destekler• “Çift uç probu” ile üst ve alt konturların ölçümü; bu konturlar

da birbirleriyle ilişkili olarak değerlendirilebilir• Her bölüm için farklı parametrelerin değerlendirilmesiyle profil

bölümlerinin oluşturulması• Delikler veya dik kenarlar gibi engellerde bölümlü ölçüm

mümkündür• Nominal/gerçek karşılaştırması için DXF dosyalarının içeri ve

dışarı aktarımı• Patentli prob kolu bağlantısıyla PCV 200 sürücü ünitesi

prob kollarının, bir alet kullanmadan, tekrarlanabilir şekilde değiştirilmesini sağlar

• Patentli prob sistemi sayesinde çok amaçlı ölçüm istasyonu• Manuel, serbestçe değiştirilebilir tarama ayrıca esnekliği de

destekler• Düz çizgiler ve yaylardan nominal profillerin sentetik olarak

oluşturulması• Nominal ve gerçek profillerin kolay karşılaştırması. Birçok

aralık, ölçülmüş bir profil kapsamında tanımlanabilir ve bu aralıklara farklı bir tolerans ve farklı değerlendirmeler atanabilir

Kontur ölçüm sistemlerinde yeni nesil

MarSurf XC 20 yazılımının yüksek düzeyde hassas LD 120 sürücüsü ve prob sistemiyle ve ST 500 veya ST 750 ölçüm standıyla birleştirilmesi sonucunda, nm aralığında çözünürlük elde edilebilir ve bu da, tek bir ölçümde kontur ve pürüzlülük derinliğinin belirlenmesine olanak verir.

qs-STAT tabanlı veri dışarı aktarımı veya baskın dalgalılık değerlendirmesi gibi ek fonksiyonlar opsiyoneldir.

Açıklama

Özellikler

Sürümler

WebCode 2736

- +

15-18

- +


MarSurf XCR 20

MarSurf XCR 20, kontur ve pürüzlülük derinliği değerlendirmesi için idealdir. Marsurf XC 20 + MarSurf XR 20 = MarSurf XCR 20Bu sistem, ihtiyaç duyduğunuz her şeyi içerir ve böylelikle hem zaman hem de mekandan tasarruf sağlar. Pürüzlülük ve kontur yazılımı için ayrı kullanıcı arabirimleri bulunmaktadır. MarSurf XCR 20, Mahr'ın üst düzey yüzey ölçüm sistemidir ve yarı otomatik çalışma sıralarının gerçekleştirilmesini bile sağlar.

• Bir ölçüm standı ve iki sürücü ünitesiyle (PCV 200 ve MarSurf GD 25) birleşik ölçüm istasyonu

• Hızlı değiştirilebilir montaj parçalı birleşik ölçüm istasyonu (PGK 120, PCV 200)

• MarSurf UD 120, bileşenler üzerinde yüksek düzeyde hassas kontur ve pürüzlülük değerlendirmesi sağlar

• Her iki sürücü ünitesi de (MarSurf PCV 200 kontur sürücü ünitesi ve GD 25 pürüzlülük sürücü ünitesi), ST 500 veya ST 750 ölçüm standındaki ilgili birleşik montaj parçası kullanılarak uyarlanabileceği için mekandan tasarruf sağlar

• Tek bir ölçümden pürüzlülük ve kontur değerlendirmeleri mümkündür

• Geniş strok ve çok yüksek çözünürlük gerektiren bileşenlerde MarSurf UD 120 ölçüm sistemiyle yüksek düzeyde hassas kontur ve pürüzlülük değerlendirmesi

• Yazılım platformunda kolay değiştirme sayesinde pürüzlülük ve kontur ölçümleri arasında hızlı geçiş ve sürücü ünitesi ve prob gibi bileşenlerin değiştirilmesi seçeneği.

Birleşik pürüzlülük ve kontur ölçüm sistemlerinde yeni nesil

Açıklama

Özellikler

Sürümler

WebCode 3152

- +- +


MarSurf UD 120

Sürümler

• Manyetik prob montaj parçası, yüksek güvenilirlik düzeyini korurken kolaylıkla değiştirilebilen geniş bir problar serisini destekleyerek esneklik sağlar

• Probları değiştirirken µm aralığında konumlandırma doğruluğu ve çarpışma koruması, nm aralığında çözünürlükle sağlamlık ve denge

• Özellikle yüksek doğruluk için tasarlanmış bir kalibrasyon prosedürü sayesinde güvenilir sonuçlar

• Yazılım, tüm ölçüm stroku boyunca sabit kalan ölçüm kuvvetlerini ayarlamak için kullanılabilir ve bu da, esneklik ve güvenilirlik sağlar. İş parçası ve seçtiğiniz probun malzeme özelliklerine uyacak optimum ölçüm kuvvetini seçebilirsinizMarSurf X • serisindeki morfolojik filtreleme sayesinde doğruluğu artırın Prob kolunu değiş• tirmek, tekrar kalibrasyon gerektirmemektedir. Kalibrasyon her kol ve ayrıca manyetik prob montajı için kaydedilir ve bu da, yüksek tekrarlanabilirlik sağlar.

MarSurf UD 120, entegre ölçüm sistemine sahip yeni yüksek kaliteli, yüksek hassaslıklı kontur ve pürüzlülük ölçüm sistemidir. Tek bir taramada pürüzlülük ve kontur değerlendirmeleri gerçekleştirir. Tek bir ölçümle bu ölçüm görevlerini tamamlamak için radyuslu, eğimli veya serbest biçimli alanlarda kontur makinesi gibi görece geniş ölçüm strokuna ve pürüzlülük derinlik ölçümü için nm aralığında çözünürlüğü destekleyen yüksek düzeyde hassas bir ölçüm sistemine ihtiyacınız vardır.

Ölçüm standına sahip MarSurf UD 120Entegre bir optik tarama sistemi kullanarak yüksek hassasiyette pürüzlülük ve kontur metrolojisi dünyasına giriş.

Ölçüm standına sahip MarSurf LD 130 / LD 260MarSurf LD 260 130/LD broşür MarSurf LD 130 / LD 260 hakkında bilgi

Açıklama

Özellikler

İkisi bir arada. Tek bir taramada kontur ve pürüzlülük ölçümü

WebCode 3162

- +

15-20

- +


Mahr'ın kontur metrolojisi, onyıllarca dünyanın dört bir yanındaki yüzlerce müşteri tarafından başarıyla kullanılmaktadır. Birçoğu patentli mükemmel müşteri çözümleri sayesinde kontur metrolojisi önemli geliştirmeler yaşamıştır.

Mahr, ölçüm kuvvetinin eşzamanlı değiştirilmesiyle çift uçlu ölçüm olanağı sağlayan kontur metrolojisinin ilk üreticisiydi. Bu, tek bir tarama yönünde konturları ölçmeyi mümkün kılmanın dışında ters ölçümler yapmaya da olanak verir ve böylelikle zıt profil çiftlerinin kaydedilmesini ve örneğin çap ölçümleri için karşılaştırılmalarını sağlar.

Bugün bu olanakları kullanan nihai bir gelişimi sunmaktan gurur duyuyoruz.

MarSurf ST 750 D ölçüm standıyla bağlantılı olarak UD 120 ve ayrıca XC 20 CNC ölçüm istasyonları dikey eksenin 620 mm olan tüm ölçüm uzunluğunu kullanabilir.

Büyük ölçüde genişletilen ölçüm ve değerlendirme olanakları, aşağıdaki temel ilke ve ölçüm prosedürünün bir sonucudur.

1. Alt kontur aralığı “alt ölçüm kuvveti aşağıya” ölçümü 2. Ölçüm standını üst konuma hareket ettirme 3. Üst kontur aralığı “üst ölçüm kuvveti yukarıya” ölçümü 4. Birbiriyle ilişkili iki profilin değerlendirilmesi (uzaklık, çap)

Konumlandırma uzunluğu: 620 mm (en derin konum granit plakasının yaklaşık olarak 110 mm üzerinde)

Hareket uzunluğu: 620 mmÇalışma sıcaklığı 21 °C ±1 °K 1)HassasiyetUD 120 ile MPE ±(1,4 + L/100) µm L = mm cinsinden ölçüm uzunluğu 2) PCV ile MPE ±(2,5 + L/100) µm L = mm cinsinden ölçüm uzunluğu 3)İş parçası ağırlığı: XY tablası CT 200 ile 90 kg'a kadar

1) Değişen çalışma sıcaklığı, doğrulukta sapmaya neden olabilir 2) Prob koluyla ürün no. 68520083) Prob koluyla ürün no. 9045820

Açıklama

Teknik Veriler

Taslak: ST 750 D ile UD 120

MarSurf Ölçüm Standı ST 750 D. Yeni Boyutlarda Konturları Ölçme

Çift uçlu prob kolu ve UD 120 veya PCV sürücü ünitesini kullanarak ayrı kontur alanları bir ölçümprogramı kullanılarak ölçülür. Halkanın üst tarafının geometrileri ölçüldükten sonra ölçüm standı, sürücü ünitesini iş parçasının çap aralığında aşağı hareket ettirir. Böylelikle halkanın alt tarafındaki geometriler ölçülür.

Ölçüm standının hareket yolunun kesin hesaplaması, üst ve alt kontur boyutlarının birbiriyle ilişkili olmasını sağlar.

Bu, 620 mm aralığına kadar çap, uzaklık ve konturların ölçülmesini sağlar.

- +- +


ST 750 D ile MarSurf XC 20 Ölçüm İstasyonuMarSurf XC 20 CNC bileşenler: MidRange CNC kontrol ünitesi, MarSurf XC 20 MarWin yazılımıMicrosoft Windows® 7 ile Marwin bilgisayar 19" TFT monitör Gelişmiş MCP 21 manuel kontrol paneli PCV sürücü ünitesi 200 Kalibrasyon seti konturu (standart) XY tablası CT 200* Ölçüm standı MarSurf ST 750 D ve 700 mm x 550 mm granit tabla Stant eksen modülü ST 750 D Yazıcı USB kablosu PCV 200/CD desteği 120 Koruma konsepti PCV Prob kolu 350 M Uç PCV ± 9 mm Prob kolu CP 175M/10/3. 5 *

*resimde gösterilmemektedir

MarSurf Ölçüm Standı ST 750 D. Yeni Boyutlarda Konturları Ölçme

ST 750 D ile MarSurf UD 120 Ölçüm İstasyonu MarSurf XCR 20 LD bileşenler: Kontrol ünitesi MidRange, MarSurf XCR 20 MarWin yazılımı Microsoft Windows® 7 ile Marwin bilgisayar 19" TFT monitör Gelişmiş MCP 21 manuel kontrol paneli MarSurf UD 120 sürücü ünitesi 1 prob kolu dahil LD A 14-10-2MarSurf UD 120 için kalibrasyon standardıDoğruluk sınıfı 1 XY tablası CT 200 Ölçüm standı ST 750 D granit tablalı 700 mm x 550 mm Stant eksen modülü ST 750 D Yazıcı USB kablosu Titreşim sönümleme seti UD 120 desteği Koruma konsepti UD 120 Prob kolu LDT 3-10-2/90*1)

1) talep üzerine ek prob kolları ve uçlar

WebCode 13832

Teslimat Kapsamı ST 750 D ile MarSurf XC 20 Teslimat Kapsamı ST 750 D ile MarSurf UD 120

- +

15-22

- +


MarSurf XP 20

Yeni Mahr yazılım platformu olan MarWin, önemli avantajlara sahip modüler bir kontrol ve değerlendirme sistemidir.

Bu çok ürünlü yazılım platformu kullanıcılara üniform bir temel sağlar ve böylelikle, özellikle otomatik süreçlerde gereken operasyonel ve fonksiyonel güvenilirliği sağlar.

Hızlı ve kolay konfigürasyon, standartlaştırılmış mekanik ve elektronik ölçüm istasyonu bileşenlerinin kullanımıyla elde edilir.

• MarTalk, yazılım ve makine arasındaki arabirimi koordine eder• MarScript, ölçüm dili ve kontrol sistemlerini yönetir• Denenmiş ve test edilmiş Mahr kaliteli bileşenleri ve

yazılımları ve kolay kullanıcı arabirimi, güvenilir ölçüm sonuçları sağlar

• Tüm ilgili kılavuzlarla uyumlulukla sisteminiz ve operatörleriniz için güvenlik

• Modülerlik; örneğin, ölçüm görevine bağlı olarak standart bileşenlere ek olarak eksenler ve iş parçası destekleri kullanılabilir

• Otomatik ölçüm istasyonu, parça ayar sürelerinin önemli ölçüde azalmasıyla zaman tasarrufu sağlar

Her türlü gereksinimler için tek bir ölçüm istasyonu

Açıklama

Özellikler

Manuel ölçüm istasyonları: • Pürüzlülük ölçüm istasyonu• Kontur ölçüm istasyonu• Birleşik pürüzlülük ve kontur ölçüm istasyonu

Otomatik ölçüm istasyonları:• Pürüzlülük ölçüm istasyonu• Kontur ölçüm istasyonu• Birleşik pürüzlülük ve kontur ölçüm istasyonu

Asferik ölçüm istasyonuBkz. (aşağıdaki resim

Sürümler

• Ölçüm görevine bağlı olarak ölçüm istasyonu, otomatik doğrusal/dönme eksenlerine sahip modüller kullanılarak kurulabilir

• Modüler sistem, esnekliği desteklemektedir• Tüm sistemler için bir yazılım dili

WebCode 3202

MarSurf LD 120 Asferik 3D ölçüm istasyonu

- +- +


MarSurf PS1 MarSurf M 300 MarSurf M 300 C

Parametreler Ra, Rq, Rz (Ry (JIS), Rz'ye denktir), Rz (JIS), Rmaks, Rp, Rp (ASME), Rpm, Rsk (ASME), Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, (tolerans sınırıyla 24 pürüzlülük parametresi), Vo, Rt, R3z, RPc, Rmr (tp (JIS, ASME), Rmr'ye denktir), RSm, R, Ar, Rx

35'in üzerinde pürüzlülük parametresi

35'in üzerinde pürüzlülük parametresi

Prob endüktif destekli (kapalı) prob, 2 µm prob ucu, ölçüm kuvveti ca. 0,7 mN

PHT prob serisi (destekli-kapalı prob sistemi)

PHT 6-350

Sürücü ünitesi RD 18 (standart sürücü ünitesi) RD 18 C

Hareket uzunlukları Lt* 1,75 mm, 5,6 mm, 17,5 mmMOTIF'e uygun 1 mm, 2 mm, 4 mm, 8 mm, 12 mm, 16 mm

RD 18 sürücü ünitesiyle1,75 / 5,6 / 17,5 mm

1,75 / 5,6 / 17,5 mm

Profil çözünürlüğü 8 nm / 16 nm / 32 nm (otomatik seçim)

8 nm / 16 nm / 32 nm (otomatik seçim)

8 nm / 16 nm / 32 nm

Diller 14 dil 3 Asya dili 15 dil 3 Asya dili (TÜRKÇE seçeneği)

15 dil 3 Asya dili (TÜRKÇE seçeneği)

Boyutlar (U x G x Y) 140 x 50 x 70 mm Yaklaşık 190 x 170 x 75 mm Yaklaşık 190 x 170 x 75 mm

Ağırlık 400 g 1,3 kg 1,3 kg

Güç kaynağı Birincil: 90 V - 264 Vİkincil: 9 V

Birincil: 90 V - 264 Vİkincil: 9 V

Birincil 90 V - 264 Vİkincil: 9 V

MarSurf. M ve S Serileri Genel Bilgileri

MarSurf. MarSurf M 400, Genel Bilgileri

MarSurf M 400

Parametreler Pürüzlülük, dalgalılık ve P profili parametreleri

Prob Prob sistemi BFW 250 (açık prob)

Sürücü Ünitesi SD 26

Hareket uzunluğu 0,56 mm, 1,75 mm, 5,6 mm, 17,5 mm, otomatik, serbest girişMOTIF'e uygun: 1 mm, 4 mm, 8 mm, 12 mm, 16 mm

Ölçüm aralığı ±250 µm (çift uzunluklu prob koluyla ±500 µm)

Çözünürlük (Z) Ölçüm aralığı: ±250 µm =8 nm, ±25 µm = 0,8 nm

Ölçüm kuvveti (Z'de) 0,7 mN

Boyutlar (U x G x Y) M 400: yaklaşık 190 x 170 x 75 mm; SD 26: yaklaşık 163 x 72 x 74 mm

Ağırlık 1,9 kg

Güç kaynağı Birincil: 90 V - 264 V; İkincil: 9 V

- +

15-24

- +


MarSurf. Genel Bilgiler: UD 120 ve XT

MarSurf. Genel Bilgiler: XR 20, XC 2 / XC 20

MarSurf UD 120 MarSurf XT 20

Parametreler Pürüzlülük (R) parametreleri, dalgalılık (W) parametre-leri, P parametreleri, bkz. MarSurf XR 20

Renk kodlu yükseklik sunumu, hat modelleri, fotoğraf simülasyonu, 2B üst görünümü, tüm profil bölümleri, zoom fonksiyonu, uzaklıklar, açılar, yarıçap, uç noktalar, Gaussian filtresi, median filtresi, polinom filtre gibi kapsamlı filtre fonksiyonları, geçersiz bölümlerin enterpolasyonu, küresel form kaldırma, silindirik form kaldırma, bölümlerde hizalama fonksiyonları, 3B yüzey pürüzlülük parametreleri, MarSurf XR 20 pürüzlülük yazılımı veya MarSurf XC 2/XC 20 kontur yazılımında her türlü profil bölümünün dışarı aktarılması ve değerlendirilmesi.

Ölçüm verileri Y sürücüsü veya MarSurf WS1 optik yüzey sensörüyle uç aletleri kullanılarak kaydedilebilir.

Kontur öğeleri Yarıçap, uzaklıklar, açılar, bkz. MarSurf XC 20

Problar LD A14-10-2 elmas uçlu 2 µm 60°

Sürücü ünitesi MarSurf UD 120

Hareket uzunluğu 0,1 mm - 120 mm

Profil çözünürlüğü 2 nm

Ölçüm aralığı 10 mm

Ölçüm kuvveti (Z'de) UD 120: 1 mN - 30 mN

ST 500 komple ölçüm standının boyutları (U x G x Y)

Yaklaşık 700 mm x 550 mm x 720 mm

Ağırlık Yaklaşık 160 kg (ST 500 dahil)

Güç kaynağı 230 V (veya 115 V mümkündür)

MarSurf XR 20 MarSurf XC 2 / XC 20

Parametreler 100'ün üzerinde pürüzlülük, dalgalılık, P profili ve motif parametreleri

Yarıçap, açılar, uzaklıklar, koordinatlar, regresyon düz çizgilerinin uydurulması, en uygun daireler, daire bölümleri. Nokta, daire, daire bölümü ve daha fazlasının tanımlanması. Çoklu ölçüm, çift kontur, DXF içeri aktarma (sadece XC 20)

Problar MFW 250 (açık prob), R prob 350 mm prob kolları, 175 mm prob kolları prob uçlarıyla komple

Sürücü ünitesi Kullanılabilir PZK, GD 25, GD 120, PGK 20, PAV 62 üzerinden PRK

MarSurf CD 120 / MarSurf PCV 200 (sadece XC 20)

Hareket uzunluğu 0,56 / 1,75 / 5,6 / 17,5 / 56 sürücü ünitesine bağlı olarak; Lt var 0,56 - 120,0

1 mm - 120 mm, 1 mm - 200 mm (sadece XC 20)

Ölçüm aralığı 350 mm prob koluyla ± 25 mm

Profil çözünürlüğü ± 25 µm = 0,5 nm; ± 250 µm = 5 nm 350 mm prob kolu = 0,5 µm; 175 mm prob kolu = 0,25 mm

Ölçüm kuvveti (Z'de) 1 mN - 120 mN, değişken olarak ayarlanabilir

ST 500 komple ölçüm standının boyutları (U x G x Y)

Yaklaşık 700 mm x 550 mm x 720 mm Yaklaşık 700 mm x 550 mm x 720 mm

ST 500 ölçüm standıyla birlikte ölçüm istasyonunun ağırlığı

Yaklaşık 160 kg Yaklaşık 140 kg

Güç kaynağı 230 V (veya 115 V mümkündür) 230 V (veya 115 V mümkündür)

- +- +


Ölçüm donanımı bileşenleri

Bazı uygulamalar için yüzey formunun tek bir temaslı profili uygun değildir. 3B topografik temsili ve değerlendirmesi, daha kapsamlı profil bilgileri elde etme olanağı sağlar. Bir sipariş veya yükseltme gereksinimine göre MarSurf XR 20 ölçüm istasyonu kolay ve düşük maliyetle bir topografya ölçüm istasyonuna dönüştürülebilir. Standart teslimat kapsamına ek olarak tek gereken CT 200 XY tablası için CT 200-MOT Y sürücüsü ve MarWin XT 20 yazılımıdır.

Açıklama

Daha güçlü bir topografya ölçüm sistemine yükseltme

Topografya XT 20 ile MarSurf XR 20

Sayfa 15-17 - 15-21 arasında açıklandığı gibi, ayrıca:Topografya ölçüm istasyonu uzantısıMarSurf XT 20 yazılımı Sipariş no. 6299034CT 200-MOT Y sürücüsü Sipariş no. 6710543

CT 200-MOT Teknik Verileri

CT 200-MOT teknik verileri, motorlu Y sürücüsüne sahip CT 200 için olanlarla aynıdır.Y'de ayar yolu 17,5 mm (0,7 inç)Çözünürlük 0,375 µm (15 µinç)

- +

15-26

- +


XT 20 topografya ile MarSurf XR 20 MarSurf. WS1 Beyaz Işık Sensörü Ölçüm İstasyonu

Tıp sektöründe kullanım için kalıpların 3B ölçümü Yüzey yapılarının temassız ölçümü

Açıklama Açıklama

Kontak lens gibi öğelerin kalıplarında, pürüzlülük derinliğini belirlemek için ayrı profile ek olarak yüzey topografyası da önemlidir. Tüm topografya aralığında form ve yüzey pürüzlülük derinliği, ürün fonksiyonu söz konusu olduğunda çok önemlidir.

Yeni işleme yöntemleri ve malzemeler sayesinde çok daha yüksek yüzey kalitesi üretilebilmektedir. Bu, çözünürlük ve ölçüm doğruluğu açısından bir ölçüm sistemine olan talebi artırır. MarSurf WS1, beyaz ışık interferometre prensibine göre çalışan optik bir yüzey sensörüdür. Bu teknoloji, birçok malzemede yüzey topografyalarının hızlı ve yüksek hassaslıkta kaydedilmesini sağlar.

• 0,1 nm'lik (0,004 µinç) mükemmel dikey çözünürlük, en ince yapının kaydedilmesini sağlar

• İnceleme odaları ve üretim ortamlarında kullanılabilir• Kompakt tasarım mekan tasarrufu sağlar• Optik tasarım, endüstriyel işleme yöntemlerinin talepleri için

özel olarak hazırlanmıştır• Uzun bir servis ömrüne sahip LED teknolojisini kullanarak

aydınlatılır• MarSurf XT 20 Topografya yazılımıyla değerlendirme,

kapsamlı ve kolay Topografya analizi sağlar• Bir OEM bileşeni olarak dahil edilebilir

Özellikler

WebCode 10136

- +- +


MarSurf PCV 200 Sürücü Ünitesi MarSurf CD 120 Sürücü Ünitesi

Kontur sürücü ünitesi Kontur sürücü ünitesi

Özellikler

Açıklama Açıklama

Özellikler

PCV 200 kontur sürücü ünitesi, 200 mm'ye (7,87 inç) kadar ölçüm yollarını desteklemektedir.

Çift uç kullanarak çift konturları hesaplama gibi birçok kontur ölçüm görevi MarSurf XC 20 yazılımıyla birlikte gerçekleştirilebilir.

• Patentli prob kolu montajı sayesinde prob kolu çarpışma koruması

• Prob kolunun kaldırılması ve alçaltılması ve konumlandırma ile programlı ölçüm

• 0,2 mm/sn - 4 mm/sn (0,008 inç/sn - 0,16 inç/sn) arasında farklı ölçüm hızlarının seçimi

• 1 mN - 120 mN arasında ölçüm kuvvetinin değişken ayarı• Ölçüm kuvveti, tüm ölçüm aralığında sabit kalır

Sürücü ünitesi, farklı şekil ve boyutlardaki birçok prob kolunu desteklemektedir.

• Ayarlanabilir hızla prob kolunun otomatik kaldırılması ve alçaltılması

• Prob kolları, 2 mm'den (0,079 inç) geniş delikler için bulunmaktadır

• 0,2 mm/sn - 10 mm/sn (0,008 inç/sn - 0,39 inç/sn) arasında farklı konumlandırma hızlarının seçimi

• 1 mN - 120 mN arasında ölçüm kuvvetinin değişken ayarı• Bir alete gerek olmadan tekrarlanabilir prob kolu değiştirme

için patentli prob kolu montajı

Her biri kendi ayrı depolanan kalibrasyon verilerine sahip komple prob kollarının kullanımı, değerlendirme sisteminin farklı ölçüm görevlerine hızlı ve esnek bir şekilde geçmesini sağlar.

CD 120 kontur sürücü ünitesi, PCV 200 sürücü ünitesinde kullanılan teknolojiyi temel almaktadır. Yarıçap, mesafe, açı gibi kontur öğelerini basit ve hassas bir şekilde ölçer.

MarSurf XC 2 yazılımı ile birlikte temel kontur ölçüm ünitesidir.

- +

15-28

- +


MarSurf. PKZ Sürücü Ünitesi MarSurf. MarSurf GD 25 Sürücü Ünitesi

Küçük ve pratik Yüzey ölçümleri için standart sürücü ünitesi

Açıklama

Bu set, küçük, pratik PZK sürücü ünitesi ve entegre, endüktif MFW 250 probundan oluşmaktadır. Prob kolları çok hızlı bir şekilde değiştirilebilir. Dahili referans düzlemi, hem destekli (kapalı uç) hem de desteksiz (açık uç) ölçümlere olanak verir. PZK seti ayrıca el montaj parçası içermektedir. El montaj parçasının alt kısmı bir v bloğunun şeklini alır ve böylelikle düz ve silindirik iş parçası konturlarının ölçülmesini sağlar. Bu da, PZK'yı universal bir sistem yapar.

Bu ünite, 25,4 mm (1 inç) ölçüm uzunluğu boyunca mükemmel doğrusallık hassaslığı ve sorunsuz çalışma sağlar. Patentli bir motorlu yükseklik ayarlama aksesuarı, probun 4 mm (0,15 inç) aralığında konumlandırılmasını ve motorlu prob sıfır ayarı sağlar. R serisindeki tüm probların yanı sıra MFW 250 desteksiz (açık uçlu) probu da kullanılabilir.

Açıklama

- +- +


Yeni nesil yüksek hassaslığa sahip sürücü ünitesi

Yüksek hassaslıkta pürüzlülük ölçümlerinin yanı sıra GD 120 sürücü ünitesi, 120 mm'ye (4,72 inç) kadar yüksek hareket uzunluklarında dalgalılık ölçümleri için kullanılır. 10 mm'nin (0,39 inç) üzerinde patentli motorlu prob sıfır ayarı ayarlama işlerinden ve zamandan tasarruf sağlar. Sürücü ünitesi, basit ve uyarlanabilir prob bağlantıları yardımıyla opsiyonel olarak çapraz veya dikey izleme gibi sorunlu ölçme konumlarını destekler.

Otomatik çalışma sıraları için yatay eksen üzerinde hassas konumlandırma son derece önemlidir. GD 120 X ekseni üzerinde hassas konumlandırma sağlar.

Son derece sessiz çalışan (rezidüel değer Rz < 30 nm/0,1 mm/s) bu ünite ayrıca hızlı prob sabitleme sağlar ve prob bağlantısı üzerindeki bir çarpışma koruma cihazı yardımıyla üniteyi korur.

Açıklama

MarSurf. GD 120 Sürücü Ünitesi

- +

15-30

- +


MarSurf. Aksesuarlar

Hemen hemen tüm uygulamalar için problar

MFW prob sistemi, desteksiz veya destekli bir prob olarak kullanılabilir. Aşağıdaki özelliklerle tanımlanır:

düşük doğru• sallık sapması (< %1),yüksek çözünürlük• (100.000-/200.000: 1),geniş ölçüm aral• ığı (± 250 µm).

Duble uzunlukta tarama kolları, ölçüm aralığını ±500 µm'ye kadar artırır.Kolay tarama kolu değiştirme, özellikle çok geniş bir uygulama alanı sağlar. Sağlam, dayanıklı tasarım doğal sarsıntıyı önler.

Prob sistemi MFW 250

Ölçüm görevine bağlı olarak farklı aksesuar bileşenleri, paralel mengeneler veya prizmalar sipariş edilebilir.

XY tablası CT 200 Sipariş no. 6710530Tabla yüzeyi 200 mm x 200 mm (opsiyonel olarak bir adaptör plakasıyla 400 mm x 400 mm'ye genişletilebilir)Her biri mikrometre kafası kullanarak 25 mm XY ayarı.Yüksek hassasiyette iş parçası hizalama için C ekseni ± 2,5° ayarlanabilir

XY tablası CT 120 Sipariş no. 6710529iş parçalarını bağlamak ve hizalamak için. İki koordinatta 15 mm (.591) ayarlanabilir. Tabla yüzeyi: İki braketle 120 mm x 120 mm (4,728 inç x 4,728 inç).

PP v bloğu Sipariş no. 67104011 mm - 160 mm çapında eksenle simetrik iş parçalarını bağlamak için dört farklı prizmayla birlikte.Hafif iş parçalarını prizmada tutmak için kıskaç yayları dahil.

PPS paralel mengene Sipariş no. 6710604ölçüm nesnelerini sabitlemek için

Paralel mengene Sipariş no. 6710631 küçük iş parçalarını sabitlemek içinÇene genişliği 32 mmBoyutlar (U x G x Y): Yaklaşık 130 mm x 32 mm x 40 mm

Küresel mafsallı paralel mengene Sipariş no. 6710632Açılı ayaklı paralel mengene Sipariş no. 6710633eksen ±45° döndürülebilir

Aksesuarlar

1 Prob başlığı2 Destekli (takozlu) prob

kolu koruması 3 Desteksiz prob kolu

koruması 4 Prob kolu5 Prob kolu6 Prob kolu

- +- +


KN 100 Kontur StandardıPRN 10 Geometri Standardı

PGN Geometri Standardı PEN 10-1 Ayar Standardı

Test konturu ölçüm sistemleri standardı

Kontur standardı KN 100, PTB ile birlikte geliştirilmiştir. Gerçekçi geometriye somut referans sayesinde onay ve kabul amaçlı testler artık PTB'ye kadar uzanacak şekilde gerçekleştirilebilir. Bu standart VDI/VDE talimatları 2629 gereksinimlerini karşılamaktadır.

DIN EN ISO 5436 tip C1 sinüs kanal profili

Sinüs kanal profiliyle yüzey pürüzlülük standardı. Profil derinliği yaklaşık 3 µm (120 µinç), kanal aralığı yaklaşık 0,12 mm (.00472 inç). Pürüzlülük ölçüm istasyonunu kontrol için. Aşağıdaki türler bulunmaktadır:

PGN 1 Profil derinliği yaklaşık 1,5 µm, kanal aralığı yaklaşık 0,10 mmPGN 3 Profil derinliği yaklaşık 3 µm, kanal aralığı yaklaşık 0,12 mmPGN 10 Profil derinliği yaklaşık 10 µm, kanal aralığı yaklaşık 0,20 mm

DAkkS / DKD ve Mahr kalibrasyon sertifikası talep üzerine sağlanır

DIN EN ISO 5436 tip A1 derinlik ayarı standardı

Desteksiz, tek destekli ve çift destekli probların dikey strokunun statik kalibrasyonu için derinlik ayarı standardı. Kanal derinliği. yaklaşık 10 µm, ∅ 44 mm.

• 2 kalibrasyon kanalı• Optik düz yüzey

DAkkS/DKD ve Mahr kalibrasyon sertifikası talep üzerine sağlanır

Torna pürüzlülük profili

Mahr kalibrasyon sertifikasıyla. Torna profiliyle pürüzlülük standardı, krom kaplamalı. Profil derinliği yaklaşık 10 µm (.394 µinç). Pürüzlülük ölçüm istasyonunu kontrol için. Ra, Rz, Rmax.

WebCode 9633

marsurf m 400. “mobil cihazların” en...

Documents