MDO EMI 診斷方案

應用指南

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MDO EMI診斷方案

應用產業：任何與電訊號相關產業 應用行業：任何電子設備、電路板設計 應用技術：頻譜分析、時域分析、跨域分析

EMI定義

電磁相容 (EMC) 包括電磁干擾 (EMI) 和電磁耐受 (EMS) 兩部分。簡言之，EMI是電子設備對外部電磁環

境的干擾，EMS是電子設備抵抗外部電磁環境干擾的能

力。無論是EMI還是EMS，均包括輻射和傳導兩部分。

任何電子設備均需遵循EMC認證，EMI是EMC中的重要

部分。

EMI測試

EMI測試包括下列幾類： 1. EMC認證機構在EMC實驗室進行認證測試 2. 企業品檢部門利用EMI接收機或高階頻譜分析儀進

行EMI預認證測試 3. 產品研發、調測部門利用頻譜分析儀進行EMI診斷 4. 產品研發調測部門利用示波器測試電源漣波、時脈抖

動等特性，因為它們是產生EMI的因素之一。

EMI診斷

在電子設備設計、除錯階段，隨時進行EMI診斷是保證

電子設備通過EMC認證 有效和 省錢的方法。如果

終產品未通過EMC認證，設計者便需重新進行EMI診斷，找出EMI問題的根源。但是，此時可用的調整變更

方法已經不多，若是重新設計，費用將倍增。由此可見

需在日常工作中經常進行EMI診斷；只有在電子產品定

型階段，才需進行EMI預認證和認證測試。下表列出EMI診斷與EMI預認證或認證的區別。

EMI診斷 EMI預認證/認證 目的 尋找EMI問題的根源，消除

或降低EMI問題的影響 確保 終產品符合EMC標

準

對象 對屏蔽引起的EMI問題，需

進行整機測試；對其他EMI問題，進行電路板級測試

終產品整機測試

測試 工具

電路板級測試使用近場探

棒；整機測試用天線接收輻

射干擾，或是用人工電源網

路 (LISN) 接收傳導干擾訊

號，則使用中低階頻譜分析

儀進行測試 (通常在6 GHz頻段以下)。測試過程中一般

用峰值檢波。通常使用示波

器來追蹤EMI問題的根源 (1 GHz示波器頻寬即可)。

終產品放在屏蔽的EMC實驗室中可旋轉測試臺

上，使用天線接收輻射干

擾 ， 或 人 工 電 源 網 路 (LISN) 接收傳導干擾訊

號，利用EMI測試接收機 (或高階頻譜分析儀) 進行

測試。測試過程中必須使用

EMI標準的準峰值 (QP) 檢波。

測試 方法

使用近場探棒手動逐區域

診斷，或使用示波器探棒逐

端子測試，以追蹤EMI根源。解決一個問題後，需要

再次進行診斷，如此重複進

行，直到問題全部解決

EMI測試系統軟體自動完

成E測試並提供測試報告

峰值檢波與準峰值檢波

EMI認證機構通常按照EMI標準的準峰值檢波進行測

試，而EMI診斷則是使用峰值檢波，兩者並不一致，EMI診斷是否還有意義？由於EMI診斷的目的是為了找出

EMI的根源，只需要進行相對重複性好的測試，並不需

要絕對精確的測試。準峰值檢波用來偵測訊號包絡加權

後的峰值 (準峰值)，它根據時間長度和重複率對訊號加

權。準峰值檢波的平均過程耗時，測試時間長不利於日

常診斷。由於準峰值檢波測試振幅結果永遠小於或等於

峰值檢波的測試結果，因此在進行EMI診斷時，使用峰

值檢波即可快速發現EMI問題。

客戶遭遇的最大問題

1. 從電路板設計開始就應該考慮EMI問題，但受限於資

金，EMI診斷設備往往不能配備到位。 2. 電子產品設計定型後會送認證機構進行EMC認證測

試。雖會在未通過測試時提出報告，但僅會指出輻

射或是傳導EMI不合格；指出干擾頻點，但不會指出

電子設備中EMI不合格的具體位置或原因，仍需自行

進行EMI診斷，耗時又耗錢。

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3. 某些設備受環境限制無法進行屏蔽，需從設計上找出

解決EMI根源的方法。頻譜分析儀是發現EMI問題的

基本測試儀器，但某些情況下難以追蹤EMI的根源。 4. 有時可以透過屏蔽方式解決某些EMI問題。雖然可以

通過EMC認證，但EMI會影響該設備自身性能，必須

從根源上解決，或找出問題所在加以迴避。在此種情

況下，頻譜分析儀存在與3. 同樣的問題。 5. 資料速率日益加快，伴隨著週期性突發的EMI問題增

多。需要進行調變域分析，透過對EMI週期分析以找

出問題的真正根源。 6. 傳導類EMI需要結合使用示波器和頻譜分析儀，分別

進行追蹤和測試。

Tektronix測試方案及優勢

1. 方案：MDO4014-3 + 近場天線 + P6150 + N轉SMA 2. 特點：

a) 五合一，完備的示波器功能除可滿足日常電路調

測需求外，還可以追蹤EMI問題的根源；頻譜分

析儀功能可以隨時診斷EMI問題。 b) 具有特色的跨域分析功能，便於分析EMI的真正根

源 c) 頻譜高靈敏度、分析頻寬，適用於EMI診斷測試 d) 可測試隨時間變化的射頻振幅，便於分析產生週

期性EMI問題的根源 e) P6150探棒 (選配) 可以直接將電路板電源或地

線連接到MDO頻譜分析儀射頻輸入端，測試電源

漣波或地線不當引起的EMI問題

P6150探棒 N轉SMA 近場探棒

案例一 利用MDO診斷風扇EMI超標問題

時間：2012年11月21日 地點：上海浦西某實驗室 (中國) 待測試設備：某型號風扇 測試儀器：Tektronix MDO4104-3 + 近場探棒

面臨的問題

產品研發成功後，需通過EMI標準測試。曾將產品送測3次，每次花費1萬人民幣，結果均未通過測試。檢測機

構的報告只告知超差的頻點，卻沒有指出超差的原因。

實測過程

在MDO接妥近場探棒後進行測試電器的射頻輻射，發現

在50KHz至40MHz頻率範圍內輻射很大，特別是在50 MHz和40 MHz附近。

在與客戶溝通後，瞭解該型號產品使用的是PWN調變，

調變頻率為固定20KHz，透過改變標記間隔率來改變轉

速。我們在瞭解情況後，使用MDO時域頻域聯調功能，

結果如下圖所示：

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透過MDO的時域頻域聯調功能，產生幅值隨時間變化的

軌跡，發現輻射功率基本上是以3ms為一個大週期。在

每一個週期內，射頻輻射功率逐漸增大，並於週期結束

時達到 大值。透過測試確認該風扇EMI問題是與PWN調變相關。因為在3ms週期內輻射功率的變化基本和

PWM波的標記間隔率變化成正比。

案例結論

本案例除應用MDO的頻譜分析功能外，還應用MDO射

頻訊號振幅隨時間變化的功能，這是一種調變域分析。

利用該功能，MDO可以將EMI頻譜與隨時間變化的EMI訊號振幅關聯起來，有助於找出類似本案例週期性變化

EMI問題的根源。

案例二 利用MDO診斷無線POS機EMI問題

時間：2013年3月17日 地點：深圳某公司 (中國) 待測試設備：某研發中的無線POS機 測試儀器：Tektronix MDO4104-6 + 近場探棒

面臨的問題

公司研發中的無線POS機已初步成型，由於該產品需要

利用中國移動GSM900 MHz網路傳輸刷卡資訊，除需通

過EMC認證標準外，還需測試是否達到行動通訊性能標

準。歷經幾次測試後，發現該產品GSM900 MHz接收靈

敏度僅為 -70dBm，遠低於 -90dBm的標準。該公司使

用頻譜分析儀發現這款無線POS機在900 MHz頻帶記

憶體有非常嚴重的EMI問題。公司設計人員為此數次變

更電路板無線部分的設計，但對降低EMI的效果不彰。

實測過程

MDO接妥近場探棒後，將中心頻率設為1 GHz，頻距為

2 GHz，使用MDO頻譜分析儀功能測試無線POS機電路

板的射頻輻射。結果顯示，該電路板EMI問題延續至1.8 GHz，在100 MHz時EMI振幅達 -60dBm，900 MHz~1 GHz達 -70dBm。此一結果，基本上驗證該公司使用頻

譜分析儀測試的結果。由於EMI在900 MHz的輻射強度

大 -70dBm，當中國移動GSM900 MHz下傳訊號較 -70dBm低時，會被EMI干擾掩蓋，該POS機將無法接

收，因此其接收靈敏度只能達到 -70dBm。

上述EMI頻譜為方波頻譜，不過典型的方波頻譜中僅包

含奇次諧波，而此EMI頻譜中則包含偶次諧波。另外，

方波頻譜5次以上的諧波振幅應該很低，但此EMI頻譜包

含極高次諧波。為進一步找出此EMI的根源，我們將

MDO通道1探棒連接到無線POS機電路板時脈端子，得

到時脈與頻譜跨域顯示。

通道1顯示的時脈漣波較大，說明該EMI頻譜中為什麼會

包含偶次諧波，但找不到EMI頻譜擴展到900 MHz的根

源。為此，我們調低MDO時基，取得通道1時脈訊號展

開後波形與EMI頻譜的對應圖，我們發現該時脈訊號的

抖動非常嚴重，這就是造成EMI頻譜擴展到900 MHz的原因。

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與該公司設計人員討論後，得知電路板時脈訊號是由石

英振盪器經一個分頻電路整形後產生的，他們也曾懷疑

時脈問題，但用示波器測試石英振盪器輸出，波形相當

理想，便未再提出質疑。為此，設計人員斷開分頻整形

部分，將石英振盪器輸出的時脈訊號直接飛線 (flying-lead) 為電路板的時脈後，再測試電路板EMI頻譜

如下：

從此頻譜圖得知，該時脈的高次諧波沒有超過200 MHz，900 MHz時已無EMI問題，因此可以確認無線POS機EMI問題是由電路板的時脈分頻與整形電路引起。由

於無線POS機的工作時脈必須是分頻後的時脈，所以在

找到EMI根源後，設計人員需重新設計分頻及整形電路。

案例結論

本案例除應用MDO的頻譜分析功能外，還應用MDO示

波器與頻譜跨域顯示功能，輕鬆地找到EMI的問題所在。

案例三 利用MDO測試開關電源所引起的EMI問題

時間：2012年11月16日 地點：華北電力大學 (中國) 待測試設備：某電子設備電路板 測試儀器：Tektronix MDO4104-6 + BNC電纜

面臨的問題

此放在金屬屏蔽殼內的圓形電子設備電路板直徑為15釐米，通過EMC認證沒有問題，但該設備自身運作並不

正常，懷疑是開關電源漣波所造成的影響。由於開關電

源漣波的頻率通常很低，傳統的測試方法是用示波器監

測電源波形，並對波形進行FFT運算以顯示電源漣波的

頻譜。由於示波器FFT運算出的頻譜，其頻距受制於示

波器的時基，而且動態範圍遠低於頻譜分析儀，因此測

試效果並不理想，無法確認是電源漣波所引起的問題。

由於MDO兼具示波器與頻譜分析儀的功能，客戶便決定

使用MDO再次測試。

實測過程

首先測試電路板 +5V電源漣波，MDO示波器通道1直接

連接在+5V，用交流耦合測試漣波。為了對比，將BNC電纜的一端接在MDO 50歐姆射頻輸入端，另一端則剝

開外皮直接接到 +5V上，中心頻率設為2.5 MHz，頻距

為5 MHz。結果如下：

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從結果得知，電源漣波約達20mV，其頻譜在低頻段約

達 -50dBm。為能看清楚電源漣波的影響，我們在示波

器端進行FFT，同時將頻譜分析儀的頻距設為50 MHz，結果如下：

從結果得知，示波器FFT所顯示的頻譜與頻譜分析儀5 MHz頻距的頻譜類似，看不出什麼問題。圖中的頻譜顯

示，+5V電源漣波佔用頻寬一直延續到16 MHz，因此對

設備造成嚴重的影響。由此找到設備無法正常運作的真

正原因。

案例結論

本案例使用示波器和頻譜分析儀來測試電源漣波。靈活

設定頻譜分析儀的頻距，輕鬆地測試頻域中電源漣波所

佔用的頻寬，MDO集示波器和頻譜分析儀功能於一身，

可以同時顯示時域和頻域，非常適合此類應用。

案例四 利用MDO測試地線因佈線不當所引起的

EMI問題

時間：2012年11月16日

地點：華北電力大學 (中國)

待測試設備：某電子設備電路板 (同案例三)

測試儀器：Tektronix MDO4104-6 + BNC電纜

面臨的問題

找到案例三的問題後，我們立刻想到，既然電源漣波會

影響設備性能，那麼地線是否會因佈線不當有該開關電

源漣波造成的EMI問題？為此我們做了進一步測試。

實測過程

分別將示波器探棒和BNC 電纜接到電路板地線，為觀

測地線的EMI，我們測試1 GHz頻距的頻譜，測試波形

如下所示：

由此圖波形得知，電路板地線很不乾淨， 大漣波約

20mV。在圖下半部的頻譜圖中，發現較嚴重的EMI問題，在1 GHz頻距內幾乎都有問題。從頻譜軌跡形狀即

可判斷，地線既有開關電源造成也有時脈洩漏造成的

EMI問題，因為頻譜軌跡有類似方波的諧波。透過測試

間諧波的頻譜間隔，輕鬆測得時脈洩漏頻率為25 MHz。由與EMI問題遍及整個頻距，為測得EMI 嚴重的頻

段，我們降低MDO頻譜分析儀頻距為500 MHz、RBW設為5M，結果如下：

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從結果得知，地線在105 MHz和227.5 MHz兩處的EMI振幅較高，利用MDO跨域分析功能，上半部顯示的時域

軌跡中，橙色橫條位置是下半部頻譜分析時間段，它在

距觸發點1.02 µs處，即地線較寬的波形處。我們向左調

整頻譜分析時間段，結果如下：

此時，頻譜分析時間段位於距觸發點730nS處，即地線

較短的波形處，可知該處產生227.5 MHz的EMI干擾。

再調整頻譜分析時間段至地線雜波較寬處，即距觸發點

1.1 µs處，結果如下：

從結果得知，此處地線漣波產生105 MHz處的EMI。透

過上述的跨域分析，我們可以找到EMI產生的根本原因。

案例結論

本案例使用示波器以及頻譜分析儀來測試地線的漣波，

輕鬆地發現EMI問題。靈活設定頻譜分析儀RBW，利用

MDO獨有的跨域分析功能，輕鬆找出某個頻段EMI產生

的根源。

案例五 利用MDO測試高速資料所引起的EMI問題

時間：2012年11月16日 地點：華北電力大學 (中國) 待測試設備：某視訊訊號處理設備電路板 測試儀器：Tektronix MDO4104-6 + BNC電纜

面臨的問題

本案例的客戶同案例三和案例四，但被測的電路板卻不

相同。本次測試客戶的另一款視訊訊號處理單元電路

板。眾所周知，視訊訊號對干擾十分敏感，處理不好很

容易出現馬賽克現象，該客戶就面臨這樣的問題。

實測過程

由於有了前兩次的測試經驗，我們直接想到的就是電源

或地線的EMI問題，於是將示波器通道1接到電路板 +5V供電，同時利用BNC電纜將其電源接到頻譜分析儀

輸入端，得到如下的結果：

從結果發現，黃色的電源波形上仍然有20mV的漣波。

下半部的頻譜圖中，低頻端的基本雜訊抬升且相應的頻

峰也是典型由電源漣波造成的EMI頻譜。游標a指出電源

漣波的EMI頻寬只有384KHz，遠低於案例三中的16 MHz，即此視頻處理電路的供電漣波遠優於案例三中的

電路，因此視訊訊號不是因電源漣波造成干擾。但是我

們在下半部頻譜圖的1 MHz和1.35 MHz兩個頻點看到

頻峰，而且這些頻峰還在隨時間變化，另一時間的測試

結果如下：

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此次測試的EMI頻峰，除前述的兩個外，還有608KHz以及910KHz等多個頻峰，這些頻峰的存在，表示EMI問題可能與某些時脈串音有關，由於其呈週期性變化，

一時還難以判斷與哪類時脈有關。對於這種呈週期性變

化的EMI問題， 好的測試方法就是對射頻訊號進行振

幅解調變，將射頻訊號的振幅隨時間的變化規律顯示出

來。為此我們將MDO時域的時基由10 µs調整為10mS，同時打開MDO射頻振幅隨時間變化的功能，結果如下：

透過上半部時域波形圖，橙色振幅隨時間變化的軌跡，

我們發現射頻訊號的振幅呈規律性的變化，只是10mS時基仍然不夠長，無法看清射頻訊號變化的全貌，於是

我們將時基延長到40mS，結果如下：

從上半部時域波形圖中的橙色軌跡，明顯地發現射頻輸

入的振幅呈規律週期性變化。表示頻譜時間段的橙色橫

條位於圖中較寬的突發處，下半部頻譜圖則顯示頻峰間

隔約300KHz，即表此刻EMI與一個100KHz時脈有關。

我們將頻譜分析時間段移到帶有臺階的突發較窄段，結

果如下：

此時的頻峰間隔比300KHz短，說明此時刻EMI與另一個

頻率低於100KHz的時脈有關。我們在時域波形中打開

游標，可以此時帶臺階的突發重複週期約20mS，較窄

突發與較寬突發重複週期約10mS，由此可初步判斷該

視頻處理單元電源線上的EMI與控制圖像的兩個時脈訊

號有關。於是我們繼續移動頻譜分析時間段到矮臺階

處，結果如下：

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此時，頻峰間隔再起變化，由此找到另一個干擾視頻品

質的時脈洩漏問題。

案例結論

MDO振幅隨時間變化功能，對週期性變化的EMI干擾問

題非常有用，可以輕鬆找到潛在多個問題的根源。

案例六 利用MDO測試高速資料所引起的EMI問題

時間：2011年11月17日 地點：西安某公司 (中國) 待測試設備：某電子設備電路板 測試儀器：Tektronix MDO4104-6 + 近場探棒

面臨的問題

該電子設備為300 MHz頻段專用的無線通訊設備，要通

過EMC認證沒有問題，但該設備自身運作並不正常，曾

使用頻譜分析儀搭配近場探棒測試過，發現在嵌入式射

頻發射電路板內的FPGA處有較強的EMI輻射，造成基本

雜訊升高，使得該通訊設備發射訊號的訊號雜訊比降

低，影響通訊品質。多次調整變更設計，但效果不彰。

實測過程

因客戶已經測試過EMI，我們首先使用MDO進行驗證，

在0~330 MHz頻距內測試電路板EMI問題。果然發現基

本雜訊抬升明顯，EMI問題十分嚴重。利用近場探棒逐

點探測，在電路板FPGA處基本雜訊抬升 明顯，表示

電路EMI源自此FPGA。此FPGA面積不大，很容易屏

蔽，因此通過EMC認證沒有問題，關鍵是電路板射頻的

射頻輸出訊號雜訊比差，影響到自身的性能。由於FPGA是電路板的心臟，一旦定型很難更動。如果重新設計，

等於是從頭開始，客戶無法接受。觀察一段時間後，我

們發現該基本雜訊抬升是隨時間變化的，於是我們分別

儲存基本雜訊在 高和 低時的兩個結果，如下圖所示：

此時為基本雜訊較高時，達 -65dBm。

此時為基本雜訊較低時， 高基本雜訊振幅不超過

-80dBm。

對於振幅隨時間變化的頻譜，MDO的優勢在於調變域分

析，因此我們打開MDO振幅隨時間變化軌跡顯示功能，

利用MDO射頻功率觸發得到如下的結果：

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從結果得知，觸發點處基本雜訊振幅 高，在280 MHz以及432 MHz處達 -59dBm。圖上半部顯示，突發振幅

呈週期性變化，利用MDO時域游標測出其週期為94 µs。我們將代表頻譜分析時間段的橙色橫條移動到突發

振幅右側的幾條線處，結果如下：

此時基本雜訊明顯下降，280 MHz處為 -71dBm，當我

們再將頻譜分析時間段右移至完全沒有突發振幅處時，

結果如下：

此時基本雜訊已經降低到 -85dBm以下，原來280 MHz頻點處被基本雜訊掩蓋的 -73dBm訊號，此時已經顯現

出來。

由於電路板EMI呈週期性變化，既然難以在短時間內變

更FPGA設計，我們能否透過有效的控制手段，讓有用

的射頻訊號在突發週期間隔中，於基本雜訊較低的時刻

發射，以及不在突發振幅時刻發射有用資訊？客戶認為

此方法可行。基本雜訊呈週期性變化，必定與電路板中

某種控制訊號相關，雖然我們已經測出突發基本雜訊變

化的週期，但若不知道這種週期與哪種控制相關，上述

想法就難以實現。客戶對其內部控制時序相當熟悉，94 µs的週期剛好是電路板高速USB訊號傳輸控制週期。為

驗證此一假設，我們將MDO示波器通道1接到高速USB控制測試點，以測試射頻頻譜，結果如下：

測試結果充分證明通道1中的高速USB訊號與基本雜訊

突發抬升的規律相同，即表二者相關。嵌入式程式控制

高速USB的時序，僅需在程式中控制射頻在高速USB訊號發出後延遲50 µs發射，發射持續時間小於40 µs即可。

案例結論

本案例利用MDO跨域分析及調變域分析功能，成功地確

認EMI與高速USB訊號相關，透過時序控制，跨域有效

避免先前難以解決的問題。

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案例七 利用Tektronix即時頻譜分析儀發現瞬態

EMI問題，並使用MDO追蹤該EMI根源

時間：2013年4月1日 地點：某公司機房 待測試設備：某電子裝置 測試儀器：Tektronix RSA5106、MDO4104-6 + BNC電纜

面臨的問題

該電子裝置為2.4 GHz FSK射頻發射裝置、FSK速率約

10KHz。該裝置安裝在某大型設備內部，定期將設備的

工作參數傳送到中央控制機房。該裝置在一般情況下運

作正常，但每當操作人員操作大型設備的控制面板時，

發射裝置便會傳送回有問題的資料，使得大型設備存在

安全隱憂。檢修時使用誤碼分析儀測試，發現電子裝置

在操作人員按下大型設備控制台按鍵的同時，發射的

FSK訊號誤碼劇增。在更換大型設備控制台及相關連接

線後，情況依舊。使用頻譜分析儀監測操作大型設備控

制台時的FSK頻譜，並未發現問題。

實測過程

我們首先在客戶現場使用MDO的頻譜功能，監測操作大

型設備面板時的頻譜，也未發現問題。我們分析可能是

瞬態問題。第二天使用該公司的即時頻譜分析儀

RSA5106。由於FSK頻譜可能會造成無法發現問題，我

們建議客戶讓該電子裝置僅發射2.4 GHz載波，於操作

大型設備面板時使用RSA5106 DPX功能去找出問題。

由於RSA DPX功能可以100%發現頻域上駐留時間大於

3.8 µs的偶發事件，便在按下大型設備控制按鍵時，觀

測到如下的DPX頻譜：

在DPX頻譜中，顏色越藍，表示訊號駐留時間越長，2.4 GHz載波和基本雜訊顏色較深，而那些較淡的藍色表示

在操作大型設備控制台時，FSK發射裝置頻率發生改

變，只不過改變的持續時間很短。利用RSA5106的頻域

觸發功能，我們輕鬆地擷取此一過程，然後再進行時間

相關的多域分析，其結果如下：

結果的左上角顯示FSK發射裝置2.4 GHz載波在變化過

程中的三維頻譜、右上角顯示其振幅隨時間的變化、左

下角為其頻譜，右下角則為其頻率隨時間的變化狀況。

由此結果可知，在操作大型設備控制台時，2.4 GHz載波振幅基本不變，但頻率有瞬態失真， 大變化約 -16 MHz，變化持續時間約470 µs。由於大型設備控制台按

鍵為人工手動，其重複時間只有秒的程度；亦即，2.4 GHz載波在1秒的重複週期內，頻率在420 µs暫態內變

化16 MHz，普通的頻譜分析儀很難監測到這種情況，這

就是先前找不出問題的原因。由於該FSK發射裝置調變

速率約10 KHz，即週期約100 µs，420 µs頻率的變化足

以引起誤碼。問題雖然找到了，但要如何解決呢？必須

找到引起誤碼問題的根源。分析一下引起問題的前因後

果：操作人員按下大型設備的按鍵引起監控發射裝置的

性能變化。按鍵所能造成的干擾，通常不是在地線上，

就是在電源上。於是我們將MDO4104-6的示波器通道1連接到FSK的供電電源上，果然在按下大型設備控制按

鍵時，在波形上監測到干擾突波：

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雖然在按下控制台時FSK發射裝置的電源有干擾突波，

我們如何判斷這個干擾就是引起誤碼的根源？MDO獨

特的跨域分析功能，將2.4 GHz射頻訊號與電源突波關

聯起來。我們使用MDO示波器通道1的電源突波做觸

發，同時擷取2.4 GHz載波，並在時域中顯示2.4 GHz載波頻率隨時間變化的波形，結果如下：

由結果可知，電源突波出現後，2.4 GHz載波的頻率隨

之發生失真，其變化的波形與RSA5106所測試的波形相

同，持續時間都是470 µs左右。調整圖上半部代表頻譜

分析時間視窗的橙色橫條在時間軸上的位置，我們可以

看到2.4 GHz載波頻譜變化的過程：

我們透過此測試，可以斷定引起FSK發射裝置誤碼的根

源就是按下大型設備控制按鍵所造成的傳導EMI干擾問

題，僅需在FSK發射裝置電源上適當濾波，即可很容易

地解決。

案例結論

本案例充分展現 EMI診斷與 EMI預認證的關係。

Tektronix即時頻譜分析儀相當於EMI預認證測試分析

儀，它除具有發現瞬態EMI的優勢外，還能測試EMI的影響。即使如此高階的頻譜分析儀，也無法追蹤EMI的真正來源。MDO跨域分析特性，輕鬆診斷出該EMI與電

源瞬態波動的關係，順利地追蹤到EMI的根源。

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Tektronix 聯絡方式：

東南亞國協/大洋洲 (65) 6356 3900奧地利 00800 2255 4835*

巴爾幹半島、以色列、南非及其他 ISE 國家 +41 52 675 3777比利時 00800 2255 4835*巴西 +55 (11) 37597600加拿大 1 800 833 9200

中東歐、烏克蘭及波羅的海諸國 +41 52 675 3777中歐與希臘 +41 52 675 3777

丹麥 +45 80 88 1401芬蘭 +41 52 675 3777法國 00800 2255 4835*德國 00800 2255 4835*

香港 400 820 5835印度 000 800 650 1835

義大利 00800 2255 4835*日本 81 (3) 67143010

盧森堡 +41 52 675 3777墨西哥、中/南美洲與加樂比海諸國 (52) 56 04 50 90

中東、亞洲及北非 + 41 52 675 3777荷蘭 00800 2255 4835*

挪威 800 16098中國 400 820 5835

波蘭 +41 52 675 3777葡萄牙 80 08 12370

南韓 001 800 8255 2835俄羅斯及獨立國協 +7 (495) 7484900

南非 +41 52 675 3777西班牙 00800 2255 4835*瑞典 00800 2255 4835*瑞士 00800 2255 4835*台灣 886 (2) 2656 6688

英國與愛爾蘭 00800 2255 4835*美國 1 800 833 9200

* 歐洲免付費電話，若沒接通，請撥：+41 52 675 3777後更新日 2011 年 2 月 10 日

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