nonvolatile residue monitor ( nrm ) for the semiconductor industry 郭飞 13524857067 ...
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Nonvolatile Residue Monitor ( NRM ) for the Semiconductor Industry 郭飞 13524857067 上海广思微净化设备有限公司. 目录. 哪些物质属于非挥发生物质? 为什么我们需要监测它? 监测非挥发性有什么好处与其它设备 ? 为什么以前我们通过良好的管理不用检测 NRM ,但现在要使用? 为什么以前我们通过良好的管理不用检测 NRM ,但现在要使用? NRM 的产生过程. 非挥发性残渣有哪些? 非挥发性残渣是溶解性的无机物质 主要成分是硅 , 包括溶解性和胶胶体 - PowerPoint PPT PresentationTRANSCRIPT
Nonvolatile Residue Monitor ( NRM ) for the Semiconductor Industry
郭飞13524857067
上海广思微净化设备有限公司
哪些物质属于非挥发生物质? 为什么我们需要监测它? 监测非挥发性有什么好处与其它设备 ? 为什么以前我们通过良好的管理不用检测
NRM ,但现在要使用? 为什么以前我们通过良好的管理不用检测
NRM ,但现在要使用? NRM 的产生过程
目录
非挥发性残渣有哪些? 非挥发性残渣是溶解性的无机物质
• 主要成分是硅 , 包括溶解性和胶胶体
• 还包括 钠 , 阴离子 , 阳离子 和微量的金属 .
* 所以非挥发性残渣不代表颗粒度 .
为什么我们要监测非挥发性残渣? NR M正越来越多的被用来全面的监测水质;
NRM 是在线监测,能第一时间发现超纯水系统中的问题;
NRM 能实时监测水质 PPT 级别的变化。
监测非挥发性有什么好处与其它设备?
在线 TOC 和颗粒计数器同样不能监测
出具体的 TOC 化合物和颗粒物的构成, 但是,在线实时监测设备反应速度就是
一切,它能及时的发现问题,然后再去取样监测问题的来源,从而解决问题。
为什么以前我们通过良好的管理不用检测 NRM ,但现在要使用?
随着半导体线宽越来越小,半导体的生产对小颗粒的敏感度越来越大。
国际半导体技术蓝图委员会面向未来,正在寻找这个极限测量参数。
NRM 的产生过程 20 年以前, Bob MacIntosh (Intel) 要求
David Dr. 去研发的超纯水系统中硅胶的影响。
1992 年这个 NRM 被引入。
他的基本理论不是新的,它是在 1964 年加拿大的两个教授就已经提议用一个喷雾器,一个干燥的圆柱和一个粒子计数器去测量非挥发性残渣在溶剂里。
最早的 NVR 悬液剂系统(Salkowski and Werle, 1964)
NRM 原理图解
Key Components of the NRM
Nebulizer: Customed-designed. Produces a poly-dispersed size distribution of water droplets.
Saturator: Residue particles are saturated with water vapor and temperature equilibrated.
Growth Tube:1. Wetted walls are heated to raise vapor pressure. 2. The high diffusivity of the vapor allows it to reach the center of the
sample stream at a faster rate than the thermal diffusivity of the vapor can equilibrate to the higher temperatures near the walls, resulting in a supersaturated condition along the radius of the flow stream.
3. Residue particles in the flow stream act as nuclei for condensation.4. Water condenses on the residue particles to form large droplets.5. Droplets are detected by the optical detector .
NRM 技术
“Drip-counter” for measuring very low flow rates
Improvements over the original NRM
Expanded measurement range, 1ppt to 60 ppb. No more n-butyl alcohol. 10x faster response time. 1/3rd the weight and 2/3rd the volume. Innovative water inlet flow monitor. Able to measure water up to 80 degrees
centigrade. Universal power supply. Pressure actuated water regulator (no more
water leaks).
NRM Model 8000
Time (minutes)
0 50 100 150 200
Ra
w N
RM
co
un
t d
ata
0
2000
4000
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14000
1 ppb
2 ppb 3 ppb
KCl challenges
9.8 ppt challenge of KClData averaged every 60 seconds
Time (seconds)
0 500 1000 1500 2000 2500 3000 3500
Raw
NR
M c
ou
nt
dat
a
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1100
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1400
1500
US Semiconductor FacilitySimultaneous data collected for the NRM and a Hach
Silica Monitor
Non
vola
tile
Res
idue
(pp
t)
Time
Dissolved S
ilica (ppb)
0
1
2
3
4
NVR
SiO2
4pm 5pm 6pm 7pm 8pm 9pm 10pm 11pm 12pm 1am 2am 3am 4am 5am 6am
0
100
200
300
400
Low level (<10 ppb) 22nm colloidal silica challenge20 nm pore size filter
Time (minutes)
Filter removal efficiency 72%
0 10 20 30 40 50 60 70
Raw
NR
M c
ou
nt
dat
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0
200
400
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800
1000
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1600
1800
2000
400 meshdiffusion screen
thro
ugh
filte
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filte
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pass
ed
Site A 245 ppt
Site B 243 ppt
Site C 199 ppt
Site D 156 ppt
Site E 102 ppt
Site F 96 ppt
结论 全新的 NRM 能够提高超纯水系统的测量的污染物的测量范围,能够快速的反应出水质的变化。对未来半导体行业的发展提供有力的支持与服务。