platforma laborator materiale
DESCRIPTION
platoforma laborator materialeTRANSCRIPT
L U C R A R E A N R . 1
MATERIALE DIELECTRICE SOLIDE
1. Scopul lucrării:
Lucrarea permite determinarea permitivităţii relative complexe şi
analiza comportării acesteia în frecvenţă (100Mhz - 1Ghz), pentru materiale
dielectrice cu polarizare temporară, folosite frecvent în industria electronică,
fie ca material dielectric pentru condensatoare, fie ca suport de cablaj
imprimat.
2. Noţiuni teoretice
Dielectricii sunt materiale izolatoare, care se caracterizează prin stări de
polarizaţie cu funcţii de utilizare; prin stare de polarizaţie electrică se
înţelege starea materiei caracterizată prin momentul electric al unităţii de
volum diferit de zero. Starea de polarizaţie poate fi temporară, dacă depinde
de intensitatea locală a câmpului electric în care este situat dielectricul şi
poate fi de deplasare (electronică sau ionică) sau de orientare dipolară.
Indiferent de mecanismul de polarizare, în domeniul liniar, interacţiunea
unui dielectric izotrop cu câmpul electric este caracterizată de permitivitatea
relativă complexă (rel. 1 ):
(1)
unde: D este inducţia electrică,
E este intensitatea câmpului electric, iar
, permitivitatea vidului.
Dacă un material dielectric cu permitivitatea complexă relativă r, se
introduce între armăturile unui condensator care are în vid capacitatea Co, în
aproximaţia că liniile de câmp se închid în întregime prin material (efectele
LABORATORUL DE MATERIALE CATEDRA TEF1
L U C R A R E A N R . 1
de margine sunt neglijabile), admitanţa la bornele condensatorului astfel
format are expresia:
(2)
Schema echivalentă a condensatorului cu material dielectric şi diagrama
fazorială sunt date în Figura 1.
Din schema echivalentă se observă că partea reală a permitivităţii complexe
relative caracterizează dielectricul din punct de vedere al proprietăţilor sale
de a se polariza (indiferent de mecanismul de polarizare) şi are ca efect
creşterea de 'r ori a capacităţii condensatorului la aceleaşi dimensiuni
geometrice, capacitatea condensatorului obţinut fiind :
Ce = ' r Co (3)
Figura 1. Schema echivalentă şi diagrama fazorială pentru un condensator
cu dielectric între armături
Partea imaginară a permitivităţii complexe relative ''r, caracterizează
dielectricul din punct de vedere al pierderilor de energie în material, pierderi
modelate prin rezistenţa
(4)
În diagrama fazorială din Figura 1, unghiul este unghiul dintre tensiunea
U aplicată condensatorului şi curentul I care îl străbate. Complementarul
unghiului de fazaj se numeşte unghi de pierderi şi se notează cu .
Se defineşte tangenta unghiului de pierderi a materialului dielectric, ca fiind
raportul:
LABORATORUL DE MATERIALE CATEDRA TEF2
L U C R A R E A N R . 1
(5)
unde: Pa = puterea activă la bornele condensatorului,
Pr = puterea reactivă la bornele condensatorului.
Inversul tangentei unghiului de pierderi se numeşte factor de calitate
al materialului dielectric şi se notează cu
(6)
Permitivitatea complexă relativă poate fi pusă şi sub forma:
(7)
În acest caz, partea imaginară ne dă o informaţie completă asupra
pierderilor totale (pierderi prin polarizare, pierderi prin conducţie electrică,
pierderi prin ionizare) în dielectric. Din punct de vedere al utilizatorului de
componente, pentru materialul dielectric aceşti doi parametri 'r şi tg sunt
esenţiali.
Datorită structurii fizice şi fenomenelor complexe ce se petrec în dielectric,
când asupra acestuia se aplică un câmp electric, permitivitatea dielectrică
reală 'r şi tangenta unghiului de pierderi tg sunt dependente puternic de
frecvenţă şi temperatură.
În Tabelul 1 sunt date caracteristicile tipice ale câtorva materiale studiate în
lucrare (măsurate la = 20 ºC si f = 50 Hz), iar în Figurile 2 şi 3 este
prezentată dependenţa de frecvenţă a permitivităţii, 'r , si a tangentei
unghiului de pierderi, tg, la temperatura constantă de º= 20 ºC, pentru 2
materiale dielectrice uzuale: polietilentereftalat (mylar) şi policarbonat.
Tabelul 1
Material Tip de polarizare 'r tg
Polietilentereftalat polarizare de orientare 3 (45)·10-3
Polimetacrilat de " 3,5 0,020,08
LABORATORUL DE MATERIALE CATEDRA TEF3
L U C R A R E A N R . 1
metil (plexiglas)
Policarbonat " 3 (812)·10-4
Hârtie de conden-
sator
" 6,6 (67)·10-3
Politetrafluretilenă
(teflon)
polarizare de deplasare
electronică
1,92,2 (14)·10-4
Fig.2 Fig.3
3. Aparatura utilizată: analizorul RF de impedanţă/ material, model
E4991A, Agilent.
Aparatul de măsură şi control cu ajutorul căruia se execută măsurarea
permitivităţii complexe relative a materialelor dielectrice este analizorul RF
de impedanţă/material, model E 4991A. Acesta este folosit pentru
măsurarea impedanţei, a permitivităţii complexe relative a materialelor
dielectrice şi a permeabilităţii magnetice relative a materialelor magnetice.
Lucrarea se ocupă de măsurarea permitivităţii complexe relative a
materialelor dielectrice solide într-o gamă largă de frecvenţe.
În scopul măsurării permitivităţii complexe relative a materialelor
dielectrice, analizorul de materiale E 4991A foloseşte următoarele accesorii:
capul de test E4991A, dispozitivul de fixare a materialelor dielectrice
16453A, suportul de fixare, tastatura, penseta, mouse-ul, proba standard de
LABORATORUL DE MATERIALE CATEDRA TEF4
Figura 2. Dependenţa de frecvenţă a lui r' si tg
pentru polietilentereftalat la temperatura de 200C
Figura 3. Dependenţa de frecvenţă a lui r' si tg
pentru policarbonat la temperatura de 200C
L U C R A R E A N R . 1
material dielectric şi probele de material dielectric solid de măsurat,
Figura 4. Opţional, se foloseşte un display, care se conectează la panoul
din spate al analizorului.
Figura 4 Analizorul E4991A şi accesoriile folosite la măsurarea
permitivităţii
Analizorul E 4991A măsoară, calculează şi vizualizează valoarea
permitivităţii complexe relative a materialului dielectric solid si a tangentei
unghiului de pierderi din valoarea capacităţi condensatorului echivalent.
Condensatorul echivalent, Ce este realizat fizic din: electrozii superior si
inferior ai dispozitivului pentru test, 16453A şi materialul testat (MUT -
Material Under Test) MUT se poziţionează între electrozii dispozitivului
de fixare pentru test, 16453A, aşa cum este prezentat în Figura 5.
a) b)
LABORATORUL DE MATERIALE CATEDRA TEF5
L U C R A R E A N R . 1
Figura 5 a) dispozitivul de fixare a materialului dielectric 16453A;
b) condesatorul echivalent.
Partea reală a permitivităţii complexe relative se determină cu relaţia:
(8)
unde: S = Si - suprafaţa electrodului inferior, cu diametrul de 7mm,
g - grosimea materialului dielectric;
Partea imaginară a permitivităţii complexe relative esre data de relaţia:
(9)
iar, tangenta unghiului de pierderi a materialului dielectric rezulta din
raportul celor doua marimi
(10)
4. Desfăşurarea lucrării
Modul de executare în detaliu a fiecărui pas din schema logică de masura
este descris în ANEXA 1 a lucrării de laborator.
4.1 Mod de lucru şi prelucrarea rezultatelor
4.1.1 Se măsoară permitivitatea complexă, partea reală şi imaginară ale
acesteia şi tangenta unghiului de pierderi, pentru următoarele materiale:
politetrafluoretilena (teflon), polimetacrilat de metil (plexiglas), stratificat
pe bază de hârtie (pertinax), stratificat pe bază de sticlă (sticlotextolit) şi a
oxidului de aluminiu (alumina) în gama de frecvenţe de la 100 MHz la
1GHz.
Materialele se fixează, pe rând, în dispozitivul de fixare a probei de test
16453A (Figura 5) şi se parcurge algoritmul din ANEXA 1. Calibrarea
LABORATORUL DE MATERIALE CATEDRA TEF6
L U C R A R E A N R . 1
analizorului se execută o singură dată. Valorile măsurate ( , ,tgδ) la
diferite valori ale frecvenţei de lucru, se trec în Tabelul 2. Ultima linie din
tabel se completează cu valorile factorului de calitate, care se calculează cu
relaţia (6).
4.1.2 Se va reprezinta, în trei grafice separate, evoluţia , si tgδ
pentru cele cinci materiale măsurate, teflon, sticlotextolit, pertinax şi
plexiglas şi se va comenta modul în care se modifică parametrii menţionaţi
în gama de frecvenţă.
Tabelul 2
F [MHz] 100 200 300 400 500 600 700 800 900 1000
Tef
lon
g= 3
mm
tgδ
Qε
Ste
clot
exto
lit
g= 1
mm
tgδ
Qε
Per
tina
x
g= 0
,95m
m
tgδ
Qε
Ple
xigl
as
g= 2
,1m
m
tgδ
Qε
LABORATORUL DE MATERIALE CATEDRA TEF7
L U C R A R E A N R . 1
Alu
min
a
g=1m
m
tgδ
Qε
4.1.3 Se măsoară , ale probelor din plexiglas şi steclotextolit la
frecvenţele date în Tabelul 3 şi rezultatele se trec în tabel. Se realizează din
cele două probe un sandwich care se introduce între electrozii dispozitivului
de fixare şi se măsoară valorile care se înscriu în tabel, pentru trei valori
ale frecvenţei.
Tabelul 3
Material
f[MHz]
, ,
100 500 800
Pertinax
(g1 = 0,95mm)
Steclotextolit
(g2 = 2,1mm)
Sandwich pertinax +
steclotextolit
( g1+2 = 1,95mm)
măsurat
Sandwich pertinax +
steclotextolitcalculat
Sandwich pertinax +
steclotextolitmăs - calc =
Se calculează cu relaţia următoare:
LABORATORUL DE MATERIALE CATEDRA TEF8
L U C R A R E A N R . 1
(11)
unde: valorile lui g1 şi g2 se în mm
Se compară rezultatele obţinute prin măsurători cu cele calculate şi se
justifică eventualele diferenţe.
5. Conţinutul referatului
1. scopul lucrării;
2. valorile măsurate şi valorile calculate (Tabele 2 şi 3); se foloseşte
formula (6) pentru calculul factorului de calitate Qε;
3. reprezentarea grafică
pentru
materialele măsurate; fiecare grafic va fi comentat.
4. determinarea atât prin măsurare cât şi prin calcul (Tabelul 3); se vor
comenta rezultatele;
5. concluzii şi observaţii personale privind fenomenul fizic analizat.
6. Întrebări şi probleme
1. Comentaţi comportarea materialelor măsurate in domeniul de frecventa
utilizat.
2. Să se deducă formula de calcul a tangentei unghiului de pierderi
echivalente a două condensatoare legate în paralel şi în serie când se
cunoaşte capacitatea şi tangenta unghiului de pierderi pentru fiecare
condensator.
3. Să se calculeze permitivitatea complexă echivalentă a unui dielectric
format din două straturi de materiale diferite, când se cunoaşte
permitivitatea complexă a fiecăruia (vezi Figura 6).
LABORATORUL DE MATERIALE CATEDRA TEF9
L U C R A R E A N R . 1
Fig.6
4. Dacă ε1 = 2.1, ε2 = 3.5 si g1 = (1/4)∙g2, să se determine ε echivalent
pentru structura din Fig 7.
Fig 7.
5. Determinaţi valoarea părţii reale a permitivităţii complexe relative 'r1 a
unei probe de mică cu grosimea de 0,1mm cu ajutorul unei probe de teflon
cu grosime de 0.8mm şi 'r2 = 2.1 şi 'rechivalent= 2.23.
6. Intre armaturile condensatorului plan - paralel cu capacitatea in vid de
C = 100pF, se introduce un dielectric avand permitivitatea relativa
complexa cu termenii =5 si ''r =5· 10 ; sa se calculeze admitanta si
elementele schemei echivalente paralel pentru condensatorul astfel obtinut,
la frecventa de 1MHz.
7. Pentru acelasi condensator cu dielectricul intre armaturi, sa se calculeza
factorul de calitate Q si tangenta unghiului de pierderi tgδ, la frecventa de
1MHz .
8. Intre armaturile unui condensator plan - paralel cu capacitatea in vid C
= 68 pF, se introduce un dielectric avand permitivitatea relativa complexa
cu termenii =3,5 si ''r =4·10 ;
LABORATORUL DE MATERIALE CATEDRA TEF10
L U C R A R E A N R . 1
a) sa se calculeze admitanta si elementele schemei echivalente paralel
pentru condensatorul astfel obtinut, la frecventele de 500 kHz si 5 MHz;
comentati rezultatele.
b) sa se calculeze factorul de calitate Q si tangenta unghiului de pierderi
tgδ, la frecventele de 500 kHz si 5 MHz; comentati rezultatele.
LABORATORUL DE MATERIALE CATEDRA TEF11
L U C R A R E A N R . 1
ANEXA 1.1
Executarea măsurării permitivităţii complexe relative a materialelor
dielectrice cu „Analizorul RF de impedanţă / materiale , Model 4991A”,
Agilent
Pasul 1 - Pregătirea analizorului pentru măsurători
Conectarea şi deconectarea analizorului se execută cu butonul , plasat
dreapta - jos. Simultan cu cuplarea analizorului se activează şi softul
acestuia.
Observaţie: Pe durata nefuncţionării se recomandă ca aparatul să fie
deconectat de la reţea, pentru evitarea şocurilor tensiunii reţelei.
Iniţializarea softului aparatului. Analizorul foloseşte “Windows 2000
Professional”. În fereastra de dialog, pe linia „user name” se tastează
„agt_instr” în loc de „Administrator” şi apoi, fără „password” se apasă
butonul „OK”. În etapa aceasta analizorul este pregătit pentru măsurători de
impedanţă şi de material.
Pasul 2- Selectarea modului de măsurare
Pe display apare fereastra de măsurare, aşa cum este prezentată în
Figura A1.
Trace 1 - E4991A Impedance/Material Analyzer –
Trace Meas/Format Scale Display Marker Stimulus Trigger
Utility Save/Recal System
LABORATORUL DE MATERIALE CATEDRA TEF12
L U C R A R E A N R . 1
Figura A1. Imaginea ferestrei de măsurare.
Pentru măsurarea permitivităţii se procedează astfel:
1. În meniul “System” se apasă caseta “Preset” pentru iniţializarea
analizorului.
2. În meniul “Utility” se apasă caseta “Utility...”.
3. Se apasă caseta “Material Option Menu”.
4. Se selectează “Permittivity” în căsuţa “Material Type”.
La sfârşitul pasului 2 analizorul este pregătit pentru efectuarea măsurătorii
permitivităţii materialului.
Pasul 3. Se selectează condiţiile de măsurare
3.1 Setarea parametrilor de măsură şi a formatului desfăşurării se
execută pentru ε’r, ε”
r, tanδε în felul următor:
1. În meniul “Display” se activează caseta “Display...”.
2. Se selectează “3 Scalar” din căsuţa “Num of Traces”;
3. În meniul “Meas/Format” se activează caseta “Meas/Format...” şi se
atribuie fiecărei desfăşurări un parametru;
4. Astfel, când desfăşurarea “Trace 1” este activă apare (* marca) pe
display şi selectează εr` în căsuţa “ Meas Parameter”;
5. În căsuţa “Format” se selectează “Lin Y-Axis” sau “Log Y-Axis”;
LABORATORUL DE MATERIALE CATEDRA TEF13
L U C R A R E A N R . 1
6. Similar se procedează pentru desfăşurările 2 şi 3 pentru εr" şi respectiv
tanδε.
3.2 Setarea punctelor de măsură, a parametrilor de baleiaj
Se parcurg următoarele etape:
1. În meniul “Stimulus” se activează butonul “Sweep Setup”;
2. În căsuţa “Number of Points” se introduce numărul de puncte necesare
măsurătorilor, pentru asigurarea preciziei dorite. Exemplu: pentru 201
puncte, se tastează [2] [0] [1] si [Enter];
3. În căsuţa “Sweep Parameter” se selectează “Frequency”;
4. În căsuţa “Sweep Type” se selectează “Linear” pentru scala lineara de
frecvenţe sau “ Log”, pentru scala logaritmică de frecvenţe;
3.3 Setarea sursei şi a nivelului oscilatorului se execută în felul următor:
1. În meniul “Stimulus”se activează “Source”
2. În căsuţa “Osc Unit” se selectează “Voltage”
3. În căsuţa “Osc Level” se introduce nivelul de 100 mV, se tastează [1]
[0] [0] [m] si [Enter].
3.4 Setarea gamei de frecvenţă se execută în felul următor:
1. În meniul “Stimulus” se activează “Start/Stop...””.
2. Cu căsuţa “Start” se introduce frecvenţa de start, 1 MHz, pentru aceasta,
se tastează [1] [M] si [Enter].
3. Cu căsuţa “Stop” se introduce frecvenţa de stop, 1 GHz, se tastează [1]
[G] si [Enter].
La sfârşitul pasului 3 analizorul este pregătit pentru conectarea
dispozitivului de fixare 16453A
Pentru protecţia antistatică a analizorului, operaţiunile de la pasul 4 la
pasul 10 se execută cu brăţara ESD conectată la mână.
LABORATORUL DE MATERIALE CATEDRA TEF14
L U C R A R E A N R . 1
Pasul 4 Conectarea dispozitivului de fixare 16453A
Această activitate se execută numai de personalul didactic din cadrul
laboratorului
Conectarea dispozitivului 16453A se realizează astfel:
1. Se fixează dispozitivul 16453A pe capul de test, cu şuruburile prizonier
ale suportului de fixare;
2. Se cuplează dispozitivul 16453A la mufa N 7-mm rotind piuliţa
conectorului în sensul invers acelor de ceasornic;
3. Piuliţa se strânge cu cheia dinamometrică, în sensul invers acelor de
ceasornic până la obţinerea cuplului de 1,36 Nm, marcat pe cheie şi
semnalizat prin rabaterea braţului cheii.
După pasul 4 analizorul este pregătit pentru calibrare.
Pasul 5. Introducerea grosimii probei standard de material
1. În meniul “Stimulus” se apasă “Cal/Comp...”.
2. Se apasă butonul “Cal Kit Menu”.
3. În căsuţa “Thickness” se introduce valoarea grosimii probei standard de
material. Exemplu: dacă grosimea probei standard de material este de 0.75
mm, se tastează [0] [.] [7] [5] [m] şi [Enter].
Observaţie: Proba standard de material este realizată din teflon şi are
permitivitatea relativă ε’r = 2,1. De aceea, iniţial analizorul E4991A are
setată valoarea ε’r în căsuţa “Real” în bara de comenzi “Cal Kit” de 2,1000
şi valoarea pierderilor în căsuţa “εr Loss” ε”r= 0,0000.
Pasul 6 Calibrarea analizorului
Calibrarea se realizează în planul suprafeţelor de contact ale dispozitivului
de fixare pentru test 16453A. Calibrarea este obligatorie şi se execută în
LABORATORUL DE MATERIALE CATEDRA TEF15
L U C R A R E A N R . 1
scopul înlăturării erorilor introduse de elementele de circuit din schema
echivalentă a capului de măsură, Figura A2.
Figura A2 Schema echivalentă a dispozitivului de fixare 16453A
Calibrarea se execută astfel:
1. În meniul “Stimulus” se tastează ”Cal/Comp...”.
2. În căsuţa “Fixture Type” se confirmă tipul dispozitivului de fixare
pentru test “16453”.
3. Se apasă butonul “Cal Menu”.
4. În căsuţa “Cal Type” se selectează punctele de măsură cerute de datele
de calibrare.
Observaţie: Pe durata calibrării apare mesajul “Wait-Measuring Cal
Standard” la stânga barei de calibrare.
5. Pentru calibrarea în gol se trage în sus butonul de partea superioară a
dispozitivului 16453A, pentru depărtarea electrozilor. În această poziţie, se
apasă butonul “Meas Open” şi se aşteaptă aproximativ 10 sec până la
apariţia bifei √ la stânga “Meas Open”;
6. Pentru calibrarea în scurtcircuit electrozii dispozitivului de fixare sunt în
contact, (electrodul superior este eliberat). Se apasă butonul “Meas Short”
şi se realizează calibrarea în gol care se finalizează la apariţia bifei √ la
stânga “Meas Short”;
LABORATORUL DE MATERIALE CATEDRA TEF16
L U C R A R E A N R . 1
7. Cu brăţara ESD conectată la mână şi folosind penseta se introduce proba
de material etalon în dispozitivul de fixare. Se activează butonul “Meas
Load” şi se măsoară proba de material etalon, care se finalizează la apariţia
bifei √ în stânga “Meas Load”.
8. Se apasă butonul “Done” şi analizorul calculează datele de calibrare şi le
salvează în memoria internă. După finalizarea pasului 6, analizorul este
pregătit pentru introducerea grosimii MUT.
Pasul 7 Introducerea grosimii probei de măsură (MUT)
Grosimea probei se măsoară cu şublerul şi se introduce în programul de
măsurare astfel:
1. În meniul “Utility” se activează “Utility...” .
2. Se activează butonul “Material Option Menu”.
3. În căsuţa “Thickness” se introduce grosimea probei. De exemplu pentru
grosimea de 1 mm, se tastează [1] [m] şi [Enter].
Pasul 8 Conectarea probei de măsură (MUT)
Se execută prin introducerea probei între electrozii dispozitivului de test. Se
verifică contactul electrozilor, dispozitivul de fixare şi (numai daca este
cazul) se reglează presiunea electrodului superior cu rozeta „Pressure
Adjustment”. Cu parcurgerea paşilor 7 şi 8 analizorul este pregătit pentru
măsurarea şi analiza rezultatelor.
Pasul 9. Măsurarea şi analiza rezultatelor
Odată introdusă grosimea probei de măsurat în căsuţa şi cu materialul fixat
între electrozi, după activarea “Autoscale all”, rezultatele măsurătorilor se
afişează pe ecran. Explorarea rezultatelor se realizează cu bara de comenzi
“Marker”, pentru determinarea valorilor specifice de interes. Folosind
“Marker Fctn (function)”, bara de comenzi arată analiza care se
efectuează cu ajutorul markerilor activaţi. Pentru afişarea rapidă a
LABORATORUL DE MATERIALE CATEDRA TEF17
L U C R A R E A N R . 1
rezultatelor, din “Scale”, se activează autoscalarea cu “autoscale” şi
“autoscale all”.
În Figura A3 se prezintă o imagine a ecranului cu unele rezultate ale
măsurătorilor privind permitivitatea, (ε’r [U], ε’’
r [mU] si tg ), în intervalul
de frecvenţe 1MHz – 1GHz.
Figura A3 Display-ul cu rezultatele măsurătorilor
Pasul 10. Modificarea condiţiilor de baleiere
Când punctele de măsură la calibrare sunt definite de utilizator,
măsurătoarea se porneşte cu pasul 6. Când calibrarea nu este necesară
măsurătoarea se porneşte cu pasul 9. Dacă se măsoară şi alte probe cu
aceeaşi grosime, măsurătoarea se porneşte de la pasul 8. Dacă probele au
grosimi diverse măsurătoarea se porneşte de la pasul 7.
LABORATORUL DE MATERIALE CATEDRA TEF18
L U C R A R E A N R . 1
Pasul 11. Deconectarea analizorului
Pentru deconectarea analizorului se procedează în felul următor:
1. Se scoate proba de material, cu ajutorul pensetei dintre armăturile
dispozitivului de fixare 16453A, prin ridicarea electrodului superior.
2. Se pune proba etalon, în cutia sa de plastic, în trusa dispozitivului de
fixare 16453A şi probele de material în cutia de depozitare ale
acestora.
3. Se pune penseta în locaşul ei din trusa aceluiaşi dispozitiv. Se scoate
mănuşa de protecţie, brăţara de la mână prin slăbirea încheietorii
brăţarei.
4. În meniul “System” se apasă caseta “Preset” pentru resetarea
analizorului.
5. Se decuplează soft-ul analizorului cu „Ctrl+Alt+Delete” şi „Shut
Down”.
6. După închiderea soft-ului se decuplează butonul , plasat dreapta
– jos, pe panoul analizorului.
7. Se decuplează tensiunea de alimentare de la panoul d forţă a
laboratorului.
Atenţie! În caz de nefuncţionare analizorul nu se ţine sub
tensiune. Pericol de defectare, ca urmare a şocurilor din reţeaua
electrică.
LABORATORUL DE MATERIALE CATEDRA TEF19