Podstawowe treści I części wykładu:1. Spektroskopia masowa.2. Atom i wiązania chemiczne-spektroskopia molekularna.3. Metody dyfrakcyjne.4. Rezonans magnetyczny.5. Badanie struktury powierzchni.

Literatura do I części wykładu -FIZYKA WSPÓŁCZESNA W ZASTOSOWANIACH:

1.K.Pigoń, Z. Ruziewicz, Chemia fizyczna t.2, PWN

2.P.W.Atkins, Chemia fizyczna, PWN

3.A.Oleś, Metody eksperymentalne w fizyce ciała stałego, WNT

Powtórzenie-1 wykład.

1. Źródła pola elektrycznego i magnetycznego.2. Ruch ładunku w polu E3. Ruch ładunku w polu B –podstawowe parametry toru ładunku4. Praca wykonana przez siłę w polu elektrycznym i magnetycznym.5. Zasada działania spektrometru masowego -schemat blokowy.6. Jakie informacje można uzyskać przy pomocy spektrometru ?7. Widma uzyskane przy pomocy spektrometru masowego-narysuj widmo H20

Powtórzenie-2 wykład

1.Jakie informacje o cząstce można uzyskać rozwiązując równanie Schrödingera?

2.Czy funkcja falowa ma jakiś sens fizyczny?3.Język pojęć w mechanice kwantowej4.Atom wodoru w mechanice kwantowej- dozwolone

poziomy energetyczne,liczby kwantowe, stany kwantowe, orbitale.

5. Atomy wieloelektronowe, poziomy energetyczne, zakaz Pauliego, układ okresowy pierwiastków.

6. Hybrydyzacja orbitali-sp3, sp2

7. Rodzaje wiązań chemicznych.8.Podstawowe parametry wiązania-długość, energia.9. Oscylacje i rotacje wiązań-stany energetyczne, „siła

wiązania”

Powtórzenie-3 wykład:

1.Schemat blokowy układu do pomiaru widm emisyjnych i absorpcyjnych

2. Rozpraszanie Ramana- układ do pomiaru widm ramanowskich.

3. Spektroskopia UV-VIS, efekt izotopowy, sprzężenie spin-orbita.

4. Widma oscylacyjne, oscylator harmoniczny dozwolone energie, reguły wyboru.

Oscylator anharmoniczny.5. Rodzaje oscylacji- informacje o wiązaniach uzyskane

z widm oscylacyjnych.6. Poziomy rotacyjne , energie, reguły wyboru. Moment

bezwładności cząsteczek.7. Spektroskopia Ramana a spektroskopia IR.8. Określ energie fotonów potrzebne do przejść

elektronowych, oscylacyjnych i rotacyjnych.9.Fluorescencja i fosforescencja.

Powtórzenie-4 wykład.

1.Co to jest interferencja i dyfrakcja?2.Interferencja konstruktywna i destruktywna, spójność promieniowania3.Jakie obiekty ulegają zjawiskom dyfrakcji i interferencji?4.Rodzaje struktur w ciele stałym.5.Komórka elementarna i sieci Bravais.Co pełni rolę stałej siatki w strukturze krystalicznej?6.Zaplanuj doświadczenie, w którym następuje dyfrakcja na strukturze atomowej.7.Równanie Bragga-obraz dyfrakcyjny dla mono i polikryształów8.Wyznaczanie dhkl i parametrów komórki elementarnej.9.Zdolność rozdzielcza dyfraktometru

1.Moment magnetyczny, moment siły i energia potencjalna obwody kołowego z prądem. (pole obwodu S, prąd I)2. Moment magnetyczny elektronu związany z jego ruchem orbitalnym i spinem. Magneton Bohra.3.Moment magnetyczny atomów wieloelektronowych – diamagnetyki i

paramagnetyki.4.Spin protonu i neutronu-magnetyczne własności jądra atomowego.5. Moment magnetyczny jądra atomowego-magneton jądrowy, współczynnik g6.Efekt Zeemana-poziomy energetyczne jądra w polu B=0 i B0.-stany i .7. Podstawy fizyczne rezonansu magnetycznego-energia potrzebna do zmiany ustawienia spinu : a) elektronu b) nukleonu8.Zależność częstości rezonansowej od lokalnego pola magnetycznego-prze- sunięcie chemiczne. Identyfikacja grupy atomów. Ilość atomów H .9.Sprzężenie spin-spin- subtelna struktura widma-ilość linii dla grup CHn10. Obrazowanie NMR (MRI) i jego zastosowanie w medycynie.11. O czym informuje: ilość zaabsorbowanej energii, wielkość energii, czas

relaksacji?12. Porównanie tomografii rtg i MRI

Powtórzenie-5 wykład

Powtórzenie- 6 wykład

1. Równanie Schrödingera -próg potencjału, bariera potencjału.2.Prawdopodobieństwo przejścia cząstki przez barierę potencjału-prąd tunelowy3.Zasada działanie mikroskopu polowego (FIM) i skaningowego mikroskopu tunelowego (STM)4. Ostrze, układ przesuwający ostrze, układ do tłumienia drgań.5.Na czym polega stałoprądowy i stałonapięciowy mod pracy mikroskopu?6.Nanomanipulacje i nanolitografia.7. Siły van der Waalsa.8. Wykorzystanie siła van der Waalsa w mikroskopie sił atomowych (FIM)9.Która z 3 opisanych metod służy do badania powierzchni metali, a która do badania izolatorów ?