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QHC-S5FR01-18 Rev. 0 CONFIDENTIAL ⅢC

PRODUCT SPECIFICATION

製品規格

ISH CONNECTOR

ISHV CONNECTOR

No. PSS-0011

Approved by Checked by Prepared by

T.Endo Oct./14/’16

J.Mukunoki Oct./14/’16

K.Hanaki Oct./14/’16

0 RS0311 Oct./14/’16

REV. ECN BY DATE APP.

REVISION RECORD

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DOCUMENT CLASSIFICATION

製品規格

Product Specification

TITLE

ISH CONNECTOR

DOCUMENT No.

PSS – 0011


1. 序言：本コネクタは、0.5mm端子の車載用小型 SMT コネクタである。

Scope： This CONNECTOR is a 0.5mm terminal miniature SMT connector.

2. 目的：本規格は、LV214試験に準拠した。

ISH コネクタの性能と試験条件について規定する。

Purpose：This specification is complaint with LV214.

It covers the requirements for product performance and test methods of ISH CONNECTOR.

3. 適用品目 / Application items

以下に本規格で取り扱う品目を記載する。

This specification is applicable to the items listed below

MALE CONNECTOR

FEMALE CONNECTOR

ISHV CONNECTOR HORIZONTAL TYPE

MALE CONNECTOR

FEMALE CONNECTOR

ISH CONNECTOR VERTICAL TYPE

MALE ASS'Y FEMALE HOUSING RETAINER FEMALE TERMINAL

8P V0026-008E-002 V0027-91008-211 V0027-92008-211

10P V0019-010E-002 V0020-91010-211 V0020-92010-211

20P V0019-020E-002 V0020-91020-211 V0020-92020-211

26P V0019-026E-002 V0020-91026-211 V0020-92026-211

12P V0025-012E-001 V0027-91012-211 V0027-92012-211

16P V0025-016E-001 V0027-91016-211 V0027-92016-211Horizontal

Vertical

VT001-512

PARTS No.No. of polesTYPE

表 1/Table 1.製品一覧 / Product line

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ISH CONNECTOR

DOCUMENT No.

PSS – 0011


ﾘﾌﾛｰ時間[s]

ｺﾈ

ｸﾀ温

度[℃

]

260℃±5℃(Peak )

90±30sec. 60sec. Max .

100

150

200

250

300

180℃

150150℃

220℃

4. 使用条件 / Operating Condition

温度 / Temperature ：-40～125℃（温度上昇含む/ including temperature rise）

5. 構成、材料及び仕上げ / Construction, Materials and Finish

5.1 ISH CONNECTOR, ISHV CONNECTOR

(1)オスハウジング / MALE HOUSING・・・・・Glass-filled LCP, UL94-V0, BLACK

(2)オス端子 / MALE TERMINAL・・・・・BRASS, Sn(Reflow)

(3)ペグ / PEG・・・・・BRASS, Sn(Reflow)

(4)メスハウジング / FEMALE HOUSING・・・・・PBT, UL94-HB, BLACK

(5)メスリテーナ / FEMALE RETAINER・・・・・PBT, UL94-HB, BLACK

(6)メス端子 / FEMALE TERMINAL・・・・・本体 / BOX ：BRASS, Sn(Reflow)

バネ / Spring ：Copper alloy, Sn(Reflow)

(7)適用電線 / Applicable Cable・・・・・0.3sq

被覆外径φ1.42mm以下 / Outer diameter 1.42mm MAX.

5.2端子圧着仕様 / Terminal crimp specification

端子の圧着仕様は取扱い説明書【HDM-0002】に準拠する。

Terminal crimp specification complaint with Handling Manual 【HDM-0002】

6. リフロー温度プロファイル / Reflow Temperature Profile

図 1 / Fig 1.リフロープロファイル / Reflow profile

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ISH CONNECTOR

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7. LV214試験 / Test Methods and Performances

7.1試験項目一覧 / Mechanical Performances

表 2/Table 2.試験項目一覧 / Mechanical Performances

LV214 PPS-0011 No. 試験項目 / Test item

PG 0 7.2初期検査Inspection of as-reseived condition

PG 1 7.4寸法Dimensions

PG 2 7.5金属材料特性及びめっき状態検査Material and surface analysis,contacts

PG 3 7.6樹脂材料特性及び表面状態検査Material and surface analysis,housing

PG 4 7.7コンタクトの嵌合長さContact engagement length

PG 5 7.8応力緩和Mechanical and thermal relaxation behavior

PG 6 7.9ハウジングと端子の相互作用Interaction between contact and housing

PG 7 7.10ハウジングの取扱い及び機能Handling and functional reliability of the housing

PG 8 7.11メス端子挿入力・保持力Insertion and retention forces of the contact parts in the housing

PG 9 7.12斜め嵌合/こじり時端子干渉Insertion inclination/misuse safe(scoop-proofing)

PG 10 7.13圧着強度Contacts：conductor pull-out strength

PG 11 7.14繰返し挿抜によるコネクタ挿入力・離脱力の変化Contacts：Insertion and removal forces, mating cycle frequency

PG 12 -ディレーティングカーブCurrent heating, derating

PG 13 7.15ディレーティングのハウジングへの影響Housing inflience on the derating

PG 14 7.16熱時定数（定格電流をn倍した時の温度上昇）thermal time constant(current excess temperature at n times rated current)

PG 15 7.17電気的負荷試験Electrical stress test

PG 16 7.18摩耗腐食Friction corosion

PG 17 7.19動的負荷Dynamic load

PG 19 7.20環境シミュレーション試験simulationEnvironmental

PG 20 7.21ハウジングに対する環境試験Climate load of the housing

PG 21 7.22長期温度耐久試験Long-term temperature aging

PG 22A 7.23耐薬品性Chemical resistance

PG 28 7.24ロック音Locking noise

※PG13にて実施。

用途に対して対象薬品での実施を致します。

Chemical for applicable application will be tested

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7.2 接触抵抗の測定 / Electrical Performances Test Method [LV214 E0.2,E14.0]

(1) 低電圧電流抵抗 / Dry Circuit Resistance[LV214 E0.2]

A．試験方法・・・開放時20mV、短絡時10mAで通電し、図2のA-B間とB-C間の抵抗値を測定する。

下記の式を用いて低電圧電流抵抗(R)を算出する。

R= R(AC) = R(AB) - R(BC)

※R(BC)：ケーブル導体抵抗

A. Test method・・・Apply current at 20mV (open circuit), 10mA (short circuit).

Measure and record the resistance across A to B and B to C as illustrated

in Figure 1, In-Line Circuit Test Lead Location.

Calculate the resistance with the following formula: R= R(AC) = R(AB) - R(BC)

※R(BC)：Cable conductor resistance

B

C

A

A

V

R（AB）

R（AC）

R（BC）

75±3mm

B．性能・・・初期 10mΩ以下、試験後 20mΩ以下である事。

B．Requirement・・・Initial：10mΩ Max. After test：20mΩ Min.

(2)抵抗変動モニタリング / Continuous contact resistance [LV214 E14.0]

A.試験方法・・・試験中の電圧降下をモニタリングする。

A. Test method・・・Monitor voltage drop during the test.

B.性能・・・記録する事。

B. requirement・・・Record must be maintained.

図 2/ Fig 2. 接続回路及び測定位置 / In-line Circuit Test Lead Location

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7.3 初期検査 Inspection of as-received condition [LV214 PG 0]

(1) 外観検査 Visual inspection [E 0.1]

試験サンプル数・・・各部品各 n=5

Number of test sample・・・Each part n=5

A．試験方法・・・目視(拡大鏡など使用)、触感により評価する。

A. Test method・・・Visual(e.g. magnifier) and tactile verification.

B．性能・・・有害な変形無き事。

B. requirement・・・No detrimental deformation.

(2) 低電圧電流抵抗 Dry circuit resistance [E 0.2]

試験サンプル数・・・コネクタ n=5

Number of test sample・・・Connector n=5

A．試験方法・・・7.2(1)参照

①端子接触抵抗②圧着部接触抵抗について、それぞれ測定を実施する。

A. Test method・・・See 7.2(1)

①Contact resistance in contact area②Contact resistance in line area will be measured.

B．性能・・・7.2(1)参照

B. requirement・・・See 7.2(1)

(3) 絶縁抵抗 Insulation resistance [E 0.3]

試験サンプル数・・・嵌合されたコネクタ n=5

Number of test sample・・・Mated connector n=5

A．試験方法・・・隣接した全てのコンタクト間の絶縁抵抗を測定する。

試験電圧＝500±50V、試験時間＝60±5s

A. Test method・・・Measure insulation resistance between all adjacent contacts.

Test Voltage=500+50V, test time=60±5s

B．性能・・・100MΩより大きい事。

B. requirement・・・100MΩ Min.

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7.4 寸法 Dimensions [LV214 PG 1]

試験サンプル数・・・各部品 n=1

Number of test sample・・・Each part n=1






(2) 寸法検査 Dimensions [E 1.1]

A．試験方法・・・ノギス、マイクロメータ、投影機などを使用して寸法を測定する。

A. Test method・・・Measure dimensions using caliper, micrometer, projector.

B．性能・・・図面値に適合する事。

B. requirement・・・Satisfy drawing dimension.

(3) 圧着寸法検査 Dimensions (of processed components) [E 1.2]

A．試験方法・・・圧着部の寸法をノギス、マイクロメータ、投影機などを使用して寸法を測定する。

A. Test method・・・Measure dimensions of the crimping part using caliper, micrometer, projector.

B．性能・・・図面に適合する事。

B. requirement・・・Satisfy drawing dimension.

7.5 金属材料特性及びめっき状態検査 Material and surface analysis, contacts [LV214 PG 2]

試験サンプル数・・・オス端子、メス端子、ペグ各 n=1

Number of test sample・・・Male terminal, Female terminal, Peg n=1






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(2) 材料特性 Material test of contact parts [E 2.1]

A．試験方法・・・オス端子、メス端子、ペグ材料特性の記載。

材料：材料証明書、導電率、引張強さ、弾性率

A. Test method・・・Material properties indication for male terminal, female terminal and peg.

Material: material certificate, conductivity, tensile strength, modulus of elasticity

B．性能・・・記録する事。RoHS、ELV指令を遵守している事。

B. requirement・・・Record must be maintained. RoHS, ELV directives must be observed.

7.6 ハウジングの材料特性 Material and surface analysis, housings and single-wire seals [LV214 PG 3]

試験サンプル数・・・オスハウジング、メスハウジング、リテーナ各 n=1

Number of test sample・・・Male housing, Female housing, Retainer n=1






(2) オスハウジング、メスハウジング、リテーナの材料特性

Material test of housings and single-wire seals [E 3.1]

A．試験方法・・・オスハウジング、メスハウジング、リテーナ材料特性の記載。

①材料：材料証明書

②機能に影響する部分のバリの測定

A. Test method・・・Material properties indication for male terminal, female terminal and peg.

①Material: Material certificate

②Measurement of burrs in functional areas

B．性能・・・記録する事。機能に影響するバリ無き事。

B. requirement・・・Record must be maintained. No burrs detrimental to function.

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(3) 表面の汚れや傷 Markings on the surface [E 3.2]

A．試験方法・・・組立品におけるオスハウジング、メスハウジング、リテーナの汚れや傷の確認。

A. Test method・・・Check for any dirt or markings on assembled parts, male housing, female housing and

retainer.

B．性能・・・検査基準書の外観検査を満足する事。作動面でのバリ無き事。

B. requirement・・・Must satisfy appearance inspection of the inspection standard.

No burrs on functional area.

7.7 コンタクトの嵌合長さ Contact engagement length [LV214 PG 4]

試験サンプル数・・・CADによる確認

Number of test sample・・・Confirmed by the CAD

(1)コンタクトの嵌合長さ Contact engagement length [E 4.1]

A．試験方法・・・コンタクト嵌合長さ及び必要ピンクリアランスは最悪条件において算出する事。

A. Test method・・・Contact engagement length and required clearance must be calculated based on worst

case dimensions.

B．性能・・・コンタクト嵌合長さ： >1.00 mm（全ての接触点に対して）

ピンクリアランス： >0mm（最悪条件時)

B. requirement・・・Contact engagement length：>1.00mm (for all contact points)

Clearance：>0.00mm (in the worst case)

図 3 / Fig 3. コンタクト嵌合長さ・ピンクリアランス / Contact engagement length, Clearance

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7.8 応力緩和 Mechanical and thermal relaxation behavior [LV214 PG 5]

試験サンプル数・・・オス端子、メス端子各 n=5(グループ 1～6)

Number of test sample・・・Male terminal, Female terminal n＝5（Group1 to 6）


A．試験方法・・・目視(拡大鏡など使用)、触感により評価する。(全グループ)

A. Test method・・・Visual(e.g. magnifier) and tactile verification. (All groups)



(2) 初期状態のメス端子接点間寸法測定(光学的測定) [E 5.1]

Contact opening dimension in the unused condition (optical measurement)

A．試験方法・・・メス端子接点間の寸法を測定する。(全グループ)

A. Test method・・・Measure contact opening dimension. (All groups)

B．性能・・・測定値を記録する事。

B. requirement・・・Record the measured values.

(3) 試験前 5回挿抜 [B 5.1]

Insertion and removal before the test (5 times)

A．試験方法・・・端子の挿抜を 5回行う。(全グループ)

A. Test method・・・Insert and remove the terminal 5 times. (All groups)

(4) 挿抜後のメス端子接点間寸法測定(光学的測定) [E 5.1]

Contact opening dimension of the inserted 5 times (optical measurement)

A．試験方法・・・メス端子接点間の寸法を測定する。(全グループ)

A. Test method・・・Measure contact opening dimension. (All groups)



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(5) 接触荷重 Normal contact force [E 5.2]

A．試験方法・・・接触荷重測定を実施する。(グループ 1)

A. Test method・・・Measure normal contact force. (Group 1)

B．性能・・・測定方法、測定値を記録する事。

B. requirement・・・Record measurement method and measured values.

(6) 試験サンプルの挿入 [B 5.2]

Insert test sample

A．試験方法・・・オス端子をメス端子に挿入する。(グループ 2～6)

A. Test method・・・Insert male terminal into female terminal. (Group 2 to 6)

(4) 高温放置 Aging in dry heat, inserted [B 5.3]

A．試験方法・・・嵌合したサンプルを 125℃に保たれた恒温槽内に放置し各時間(1、100、200、500、

1000時間)に取り出す。(グループ 2～6)

A. Test method・・・Age mated samples in chamber at 125℃. Remove the sample at each specified timing

(1h, 100h, 200h, 500h, and 1000h). (Group 2 to 6)


A．試験方法・・・目視(拡大鏡など使用)、触感により評価する。(グループ 2～6)

A. Test method・・・Visual (e.g. magnifier) and tactile verification. (Group 2 to 6)



(6) メス端子接点間寸法測定 Contact opening dimension [E 5.1]

A．試験方法・・・メス端子接点間の寸法を測定する。(グループ 2～6)

A. Test method・・・Measure contact opening dimension. (Group 2 to 6)



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(7) 接触荷重 Normal contact force [E 5.2]

A．試験方法・・・接触荷重を測定する。(グループ 2～6)

A. Test method・・・Measure normal contact force. (Group 2 to 6)

B．性能・・・測定方法、測定値を記録する事。

B. requirement・・・Record measurement method and measured values.

7.9 ハウジングと端子の相互作用 Interaction between contact and housing [LV214 PG 6]

試験サンプル数・・・メスハウジング、メス端子、メスコネクタ（二次ロック前）各 n＝5

Number of test sample・・・Female housing, Female terminal, Female connector (before secondary lock)

n=5






(2) 一次ロック機能 Actuation forces for primary lock [E 6.2]

A．試験方法・・・ハウジングに端子を最後まで挿入し、最大 10Nで引き戻す。

A. Test method・・・Insert terminal completely into housing, pull out at 10N max.

B.性能・・・一次ロック時は音による判別ができる事。

引張り(10N max.)、ロックしている事を確認する。

B. requirement・・・Confirm audible click for primary lock.

Confirm that it is locked under tensile strength (10N max.).

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(3) 二次ロック操作力 Actuation forces for secondary lock [E 6.4]

A．試験方法・・・メスコネクタハウジング全極にメス端子を完全に挿入した後、リテーナ挿入軸に沿って

装着・離脱する。

A. Test method・・・Fully populate the female connector housing, insert the retainer then remove.

B.性能・・・①二次ロック係止時の荷重：50N以下である事。

②二次ロック解除時：10～50Nである事。

③端子が正規位置にない状態での挿入ができない事。

B. requirement・・・① Force when secondary lock is locked: 50N max.

② Force when unlocked: 10N to 50N

③ Insertion is not possible unless terminals are in the correct position

7.10 ハウジングの取扱い及び機能 Handling and functional reliability of the housing [LV214 PG 7]

試験サンプル数・・・オスコネクタ、メスハウジング各 n＝5

Number of test sample・・・Male connector, Female housing n=5






(2) ハウジングロック保持力 Retention force of the housing latch/lock [E 7.2]

A．試験方法・・・メス端子無しのコネクタ嵌合状態にて嵌合ロックを解除しないままメスハウジングを

引き抜いた時の変位量 1mm時の荷重及び最大荷重を測定する。

メスハウジングに CPAがある場合、試験は CPAが開いた状態と閉じた状態の両方で

実施する。

A. Test method・・・Measure the force required to pull the female housing by a distance of 1mm, and the

maximum force. Female housing is mated without any terminals and locked.

If female housing has CPA, test must be performed for both CPA open and closed.

B.性能・・・最大荷重 80N以上。

B. requirement・・・Maximum force must be 80N Min.

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7.11 ハウジングのコンタクト部品の挿入力と保持力

Insertion and retention forces of the contact parts in the housing [LV214 PG 8]

試験サンプル数・・・メスコネクタ、メス端子 n=3(端子 n=10 Min.)

Number of test sample・・・Female connector, Female terminal n=3(Terminal n=10 Min.)






(2) メス端子挿入力の決定 Determination of the contact insertion forces [E 8.1]

A．試験方法・・・ハウジングにメス端子を挿入する際のピーク値を確認する。

A. Test method・・・Determine the peak force required to insert female terminal into housing.

B．性能・・・15N以下。

B. requirement・・・15N Max.

(3) メス端子保持力 Contact removal force from the housing [E 8.2]

A．試験方法・・・メス端子を反挿入方向へ引張り、端子がハウジングから抜けた時の荷重を測定する。

一次ロックのみと二次ロック含む場合の 2通りにて実施する。

A. Test method・・・Measure the force required to remove the terminal from the housing, by pulling female

terminal into the opposite direction of insertion.

B．性能・・・一次ロック：30Ｎ以上

二次ロック：60Ｎ以上

B. requirement・・・primary lock：30N Min.

secondary lock：60N Min.

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7.12 斜め嵌合/こじり嵌合時の端子干渉 Insertion inclination/misuse safe(scoop-proofing) [LV214 PG 9]

試験サンプル数・・・CADによる確認

Number of test sample・・・Confirmed by the CAD

(1) 斜め嵌合時の挿入確認 Max. possible insertion inclination [E 9.2]

A．試験方法・・・CAD による、X方向及び Y方向(Zは挿入方向)に最も傾けた状態での

嵌合確認。

A. Test method・・・Using CAD, verify mated state under maximum possible insertion inclination (X and Y

directions. Z is the insertion direction).

B．性能・・・最悪条件時でも、メス端子のヘタリ、オス端子の座屈無く、ハウジングにガイドされる

構造である事。

B. requirement・・・Must be designed so connector is guided into housing without female terminal settling or

male terminal buckling under the worst case dimensions.

(2) こじり時の端子干渉検査 Examination of housing for scoop-proofing [E 9.3]

A．試験方法・・・CADによるこじり嵌合時の確認

A. Test method・・・Using CAD, verify scoop-proofing.

B．性能・・・正規嵌合時にのみ導通する事。オス端子とメスハウジングの干渉無き事。

B. requirement・・・Electrical connection is established only when correctly mated.

No interference between male terminal and female housing.

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7.13 圧着強度 Contacts：conductor pull-out strength [LV214 PG 10]

試験サンプル数・・・メス端子 n=10

Number of test sample・・・Female terminal n=10






(2) 圧着強度 conductor pull-out strength [E 10.1]

A．試験方法・・・導体を引張り、圧着部から導体が引き抜けた時の荷重を測定する。

このときインシュレーションバレルは機能させない。

A. Test method・・・Measure the force required to pull out the conductor from the crimp.

Insulation barrel is not in function.

B．性能・・・50Ｎ以上である事。（導体 0.3sq(AWG22)時）

B. requirement・・・50N Min.(Conductor：0.3sq(AWG22))

7.14 繰返し挿抜によるコネクタ挿入力・離脱力の変化

Contacts：Insertion and removal forces, mating cycle frequency [LV214 PG 11]

試験サンプル数・・・オスコネクタ、メスコネクタ n=5

Number of test sample・・・Male connector, Female connector n=5






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(2) 繰返し嵌合によるコネクタ挿入力・離脱力の変化[E 11.1]

Contacts：Insertion and removal forces, mating cycle frequency

A．試験方法・・・20回繰返し挿抜を行う。潤滑油の追加なし。

A. Test method・・・Repeat insertion/removal 20 times. No addition of lubricant.

B．性能・・・①挿入力変化量は初期値と比較し、最大 25％までとする。

②接点部めっき削れがない事。

B. requirement・・・① Insertion force change compared with the initial value must be 25% max.

② No scraping of contact plating.

7.15ディレーティングのハウジングへの影響 Housing influence on the derating [LV214 PG13]

試験サンプル数・・・嵌合されたコネクタ n=5

Number of test sample・・・Mated connector n=5

メス端子電線サイズ及び長さ/Female terminal cable size and length：0.3sq(AWG22)、200mm .






(2) 温度上昇 Current excess temperature with housing [E 13.1]

A．試験方法・・・全極にて表 3に示す定格電流を通電する。

(端子の温度変動は 5分間隔で、3回連続して測定した時±2℃以上の差が無いこと)

端子の温度が安定するまで 1時間放置した後、温度上昇を測定する。

A. Test method・・・ Apply the rated current in Table 3 to all terminals.

(temperature change of terminal must be ±2℃min. when measured for 3 times at an

interval of 5 minutes) Leave the terminal for 1 hour to stabilize temperature and measure

the increase.

B．性能・・・各端子サイズの温度上昇が 30℃以下である事。

B. requirement・・・Temperature increase of each terminal size must be 30℃ max.

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(3) ハウジング有りでのディレーティングカーブ Derating with housing [E 13.2]

A．試験方法・・・直列回路にて異なる電流値を通電し、端子の温度が安定するまで 1時間放置する。


周囲温度の測定は試験サンプルより、水平方向へ 50mm離れた位置にて測定

すること。その時の周囲温度、端子の表面温度及び通電電流を記録する。

温度上昇カーブより、ベースカーブ及び、80％のディレーティングカーブを作成する。

A. Test method・・・Different current is applied to DC circuit and left for 1 h to stabilize the terminal

temperature.(temperature change of terminal must be ±2℃min. when measured for 3

times at an interval of 5 minutes) Measure the ambient temperature at a distance of 50mm

min. horizontally from the sample. Record the ambient temperature, surface temperature of

the terminal, and current applied.

Create base curve and 80% derating curve from the temperature increase curve.

B．性能・・・ディレーティングカーブの作成。

B. requirement・・・Create derating curve.






表 3/Table 3. 極数別電流値 / Number of poles by current value

極数 / No of Poles 電流値 / Current value[A] 極数 / No of Poles 電流値 / Current value[A]

3 3.0 16 1.8

6 2.7 20 1.4

8 2.6 24 1.0

10 2.4 26 0.8

12 2.2 28 0.6

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7.16 熱時定数(定格電流を n倍した時の温度上昇) [LV214 PG 14]

Thermal time constant(current excess temperature at n times rated current)

試験サンプル数・・・オス端子、メス端子各 n=3

Number of test sample・・・






(2) 熱時定数 Thermal time constant [E 14.1]

A．試験方法・・・単極にて 4.5Aの 1・2・3・4・5倍の電流を通電する。


端子の温度が安定するまで 1時間放置した後、温度上昇を測定する。

許容温度上昇値は 100℃とする。

A. Test method・・・Apply current value of 1x, 2x, 3x, 4x, 5x the 4.5A to single terminal.

(temperature change of terminal must be ±2℃min. when measured for 3 times at an

interval of 5 minutes) Leave the terminal for 1 hour to stabilize temperature and measure

the increase. Temperature increase tolerance: 100℃

B．性能・・・温度上昇グラフの作成。

B. requirement・・・Create temperature increase graph.






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7.17 電気的応力試験 Electrical stress test [LV214 PG 15]

試験サンプル数・・・コネクタ各 n=5







(2) メス端子接点間寸法測定 Contact opening dimension [E5.1]

A．試験方法・・・オス端子とメス端子を 2回挿入/離脱を実施させた後、メス端子接点間の

寸法を測定する。

A. Test method・・・Insert and remove male terminal and female terminal twice, then measure the contact

opening dimension.

B．性能・・・記録する事。

B. requirement・・・Record measured values.




B．性能・・・9.2(1)参照


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(4) ディレーティングカーブ Derating [E 12.2]

A．試験方法・・・(3)にて試験を実施したサンプルの内、最大抵抗を持つサンプル 3本を

直列回路にて異なる電流値を通電し、端子の温度が安定するまで 1時間放置する。


周囲温度の測定は試験サンプルより、水平方向へ 50mm離れた位置にて測定

すること。その時の周囲温度、端子の表面温度及び通電電流を記録する。

温度上昇カーブより、ベースカーブ及び、80％のディレーティングカーブを作成する。

ディレーティンググラフの限界温度は 125℃とする。

A. Test method・・・Different current is applied to DC circuit and left for 1 h to stabilize the terminal

temperature.(temperature change of terminal must be ±2℃min. when measured for 3

times at an interval of 5 minutes) Measure the ambient temperature at a distance of 50mm

min. horizontally from the sample. Record the ambient temperature, surface temperature of

the terminal, and current applied.

Create base curve and 80% derating curve from the temperature increase curve.

Limit temperature of derating graph : 125℃

B．性能・・・ディレーティングカーブの作成。

B. requirement・・・Create derating curve.

(5) 抵抗変動モニタリング Continuous contact resistance during (6) with test current [E 14.0]


試験電流による(6)中も継続する抵抗変動モニタリング

測定頻度： 5分毎


Continuous contact resistance during (6) with test current

Frequency of measurement: every 5 minutes

B．性能・・・9.2(2)参照


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(6) 温度サイクル耐久試験/電流サイクル耐久試験 [B 15.2]

Temperature cycle endurance test/current cycle endurance test

A．試験方法・・・温度上昇値 45℃となる電流値を通電させながら、T0=80℃とし、図 4の温度条件を

1サイクル(6h)として、合計 60サイクル実施する。

A. Test method・・・Apply current so the temperature increase is 45℃. T0=80℃.

1 cycle (6h) as shown in Fig. 4. Repeat 60 cycles.

図 4.温度サイクル / Temperature cycle

(7) 温湿度サイクル Humid heat, cycle [B 15.3]

A．試験方法・・・温度：25～55℃、相対湿度：95%RHにて図 5の試験条件を 1サイクル(24h)として

合計 21サイクル実施する。

A. Test method・・・Temperature: 25～55℃. Relative humidity: 95%RH.


図 5.高温高湿サイクル / Humid heat cycle

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Frequency of measurement: every 5 minutes

B．性能・・・9.2(2)参照


(9) 温度サイクル耐久試験/電流サイクル耐久試験[B 15.2]

Temperature cycle endurance test/current cycle endurance test

A．試験方法・・・温度上昇値 45℃となる電流値を通電させながら、T0=80℃とし、図 4の温度条件を

1サイクル(6h)として、合計 60サイクル実施する。

A. Test method・・・Apply current so the temperature increase is 18℃. T0=62℃.





B．性能・・・9.2(1)参照


(11) メス端子接点間寸法測定 Contact opening dimension [E 5.1]

A．試験方法・・・メス端子接点間の寸法を測定する。

A. Test method・・・Measure contact opening dimension

B．性能・・・記録する事。


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7.18 摩擦腐食 Friction corrosion [LV214 PG 16]

試験サンプル数・・・オス端子、メス端子各 n=5

Number of test sample・・・Male terminal, Female terminal n=5






(2) 抵抗変動モニタリング Contact resistance, continuous monitoring during (3),recording, and storing [E 16.0]



測定周波数： 4Hz



Frequency: 4Hz

B．性能・・・9.2(2)参照

B. requirement・・・See9.2(2)

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(3) 摩擦負荷 Friction load [B 16.1]

A．試験方法・・・オス端子とメス端子を挿入し、摺動距離：50μm、サイクル時間：1Hz、

サイクル数：10000回を最低実施回数として、摺動させながらMAX.100mV、10mAにて

通電させた時の低電圧電流抵抗値をモニタリングする。

A. Test method・・・Insert male terminal into female terminal. Distance of fretting motion: 50μm,

Cycle time：1Hz、No. of cycles: 10000 cycles min.. Monitor dry circuit resistance

during fretting motion MAX.100mV、10mA

B．性能・・・サイクル数に対する抵抗値のグラフを作成する事。

低電圧電流抵抗が 300mΩとなるサイクルを記録する事。

B. requirement・・・Create a graph of resistance vs no. of cycles.

Record cycles at dry circuit resistance 300mΩ.






7.19 動的荷重 Dynamic load [LV214 PG 17]

試験サンプル数・・・コネクタ各方向 n=4

Number of test sample・・・Male terminal, Female terminal n=10(Connector n=2 Min.)









B．性能・・・9.2(1)参照


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試験電流による(4)中も継続する抵抗変動モニタリング（100 mA）



Continuous contact resistance during (4) with test current （100 mA）

Frequency of measurement: every 1 minute

B．性能・・・9.2(2)参照


(4) 動的荷重、広帯域ランダム振動 Dynamic load, broad-band random vibration [B 17.2]

A．試験方法・・・振動条件：表 4を参照

掃引速度：1 oct./min

A. Test method・・・Vibration: see Table 6

Sweep speed:1 oct./min

表 4 / Table 4. .振動及び衝撃条件(エンジン周り、非防水) Vibration and shock (engine peripheral, non-sealed)

TC (温度サイクル)

TC (temp. cycle)

TC によるランダム振動

Random vibration with TC

TC による正弦波

Sine wave with TC

衝撃数

No. of shocks

0 min / 20 ℃

60 min / - 40 ℃

150 min / - 40 ℃

300 min / 105 ℃

420 min / 105 ℃

480 min / 20 ℃

各軸につき 20時間

加速度 27.8m/s2の RMS値

20 h per axis RMS value of

acceleration 27.8m/s2

正弦波なし

No sine wave

A=30 G

T=6 ms

正弦半波長

Sinusoidal half-wave

衝撃数 No. of shocks：6000

Hz

10

55

180

300

360

1000

(m/s2)

2/Hz

10

3.25

0.125

0.125

0.07

0.07






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Frequency of measurement: every 1 minute

B．性能・・・9.2(2)参照


(7) 耐久衝撃試験 Endurance shock test [B 17.3]

A．試験方法・・・衝撃条件：表 4を参照

掃引速度：1 oct./min

A. Test method・・・Vibration: see Table 6

Sweep speed:1 oct./min









B．性能・・・9.2(1)参照


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(10) コネクタ共振周波数 Resonance frequency of the contact assembly [B 17.4]

A．試験方法・・・振動変換器をハウジングに取り付け、下記条件にてコネクタの共振周波数を確認する。

動荷重、正弦波

掃引速度：a = 10 m/s2

f = 5 Hz – 2 000 Hz – 5 Hz

A. Test method・・・Affix vibration transducer to the housing to determine resonance frequency, based on the

conditions below:

Dynamic load, sinusoidal

Sweep speed: a = 10 m/s2

f = 5 Hz – 2 000 Hz – 5 Hz

B．性能・・・ハウジングの振動応答をグラフとして記録する事。

B. requirement・・・Create a graph of vibration response of the housing.

7.20 環境シミュレーション試験 Environmental simulation [LV214 PG19]

試験サンプル数・・・コネクタ各 n=5(グループ 1～3)

Number of test sample・・・Connector n=5( Group1 to 3)

表 5 / Table 5. 3グループの概要 / Description of the 3 groups

グループ 1

Group 1

グループ 2

Group 2

グループ 3

Group 3

サンプル数

No. of samples 10 10 10

挿入回数

No. of insertion

1回

Once

1回

Once

10回

10 times

サンプル状態

Inserted/

Not inserted

非挿入状態

Not inserted

挿入状態

Inserted

挿入状態

Inserted

抵抗測定方法

Measurement

Method

7.2(1) [E 0.2] 7.2(2) [E 14.0] 7.2(2) [E 14.0]



A. Test method・・・Visual (e.g. magnifier) and tactile verification. (All groups)



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A．試験方法・・・9.2(1)参照。(全グループ)

A. Test method・・・See 9.2(1). (All groups)

B．性能・・・9.2(1)参照


(3) コネクタの挿入及び抜去 Inserting and removing [B 19.0]

A．試験方法・・・表 7に基づき各グループ別にコネクタの挿入及び抜去を実施する。

A. Test method・・・Insert/remove connectors for each group according to Table 7.


A．試験方法・・・9.2(1)参照。(全グループ)


B．性能・・・9.2(1)参照





測定頻度： 1分毎(グループ 2 、3)



Frequency of measurement: every 1 minute (Groups 2 and 3)

B．性能・・・9.2(2)参照


(6) 熱衝撃試験 Temperature shock [B 19.1]

A．試験方法・・・－40℃⇔125℃の温度にて、それぞれ 15分を 1サイクルとし、144サイクル

実施する。各温度への移行時間は 10秒以内とする。(全グループ)

A. Test method・・・－40℃⇔125℃.1 cycle=15 mins. Repeat 144 cycles.

Acclimatization period: 10 sec. max. (All groups)

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B．性能・・・9.2(2)参照

B. requirement・・・See 9.2（2）

(8) 温度サイクル Temperature cycle [B 19.2]

A．試験方法・・・－40℃⇔125℃の温度にて、それぞれ 3時間、温度変化を 2時間以内として、10時間を

を 1サイクルとし、20サイクル実施する。(全グループ)

A. Test method・・・－40℃⇔125℃.1 cycle= 10 h (with 3 h. time for temperature cycle: 2 h max.) Repeat 20

cycles. (All groups)





A. Test method・・・See 9.2（2）



B．性能・・・9.2(2)参照

B. requirement・・・See 9.2（2）

(10) 高温放置 Aging in dry heat [B 19.3]

A．試験方法・・・温度が 125℃に保たれた恒温槽内に 120時間放置する。(全グループ)

A. Test method・・・Age for 120 h in chamber at 125℃. (All groups)



A. Test method・・・Visual(e.g. magnifier) and tactile verification. (All groups)



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(12) 産業風土(複合要素の風土)Industrial climate (multi-component climate)[B 19.4]

A．試験方法・・・温度 25℃、相対湿度 75%、流量 1m3/hにて各濃度が二酸化硫黄：0.2ppm、

硫化水素：0.01ppm、二酸化窒素：0.2ppm、塩素：0.01ppmに保たれた槽内に

21日間放置する。

A. Test method・・・Age for 21 days in the chamber. Temperature 25℃. Relative humidity: 75%. Flow rate:

1m3/h. SO2：0.2ppm, H2S：0.01ppm、NO2：0.2ppm、CI2：0.01ppm





A. Test method・・・See 9.2（2）


Frequency of measurement: every 10 minutes (Groups 2 and 3)

B．性能・・・9.2(2)参照


(14) 温湿度サイクル Humid heat, cyclic [B 19.5]

A．試験方法・・・温度：25～55℃、相対湿度：95%RHにて図 4の試験条件を 1サイクル(24h)として、

合計 10サイクル実施する。(全グループ)

A. Test method・・・Temperature: 25～55℃. Relative humidity: 95%RH.

1 cycle (24h) as shown in Fig. 4. Repeat 10 cycles. (All groups)






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B．性能・・・9.2(2)参照


(17) 動的負荷、広帯域ランダム振動 Dynamic load, Broad-band random vibration [B 19.6]

A．試験方法・・・加速度 13.9m/s2 RMS、6時間/軸にて表 6の条件により振動試験を行う。

(グループ 2 、3)

A. Test method・・・RMS value of acceleration: 13.9m/s2. 6 h per axis according to Table 6. (Groups 2 and 3)

表 6 / Table 6. 広帯域ランダム振動 /Broad-band random vibration




測定頻度：10分毎(グループ 2 、3)




B．性能・・・9.2(2)参照


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(19) 衝撃試験 Mech. shocks(single shocks) [B 19.7]

A．試験方法・・・加速度 30G、衝撃時間 6ms、正弦半波にて 50回の衝撃試験を行う。(全グループ)

A. Test method・・・Acceleration: 30G. Individual shock duration: 6ms. Sinusoidal half-wave. 50 shocks.

(All groups)

(20) コネクタの抜去及び挿入 One-time disconnection and insertion [B 19.8]

A．試験方法・・・コネクタを 1回挿抜する(全グループ)

A. Test method・・・Insert and remove once. (All groups)


A．試験方法・・・9.2(1)参照(全グループ)


B．性能・・・9.2(1)参照







7.21 ハウジングに対する環境試験 Climate load of the housing [LV214 PG 20]








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A. Test method・・・Measure insulation resistance between all contacts.

Test voltage: 500±50V. Test duration: 60±5s




A．試験方法・・・温度が 125℃に保たれた恒温槽内に 120時間放置する。

A. Test method・・・Age for 120 h in the chamber at 125℃.

(4) 温湿度試験 Humid heat, constant [B 20.2]

A．試験方法・・・温度 40℃、相対湿度 95％に保たれた恒温恒湿槽内に 10日間放置する。

A. Test method・・・Age for 10 days in the chamber at 40℃、RH 95％.




尚、測定は(4)の試験終了後、30～60分後で実施する。



Measurement must be taken 30 to 60 mins after the completion of the test (4).








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(7) 低温放置 Low-temperature aging [B 20.3]

A．試験方法・・・温度が－40℃に保たれた恒温槽内に 48時間放置する。

A. Test method・・・Age for 48 h in the chamber at －40℃.

(8) -20℃での抜去及び挿入 Removal and insertion at -20℃ [B 20.4]

A．試験方法・・・-20℃雰囲気中にてコネクタの抜去及び挿入を 1回実施する。

A. Test method・・・Insert and remove once at -20℃.

B．性能・・・-20℃の環境下で、抜去/挿入が出来る事。

B. requirement・・・Must be able to insert and remove at -20℃.







A．試験方法・・・温度が 125℃に保たれた恒温槽内に 48時間放置する。







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7.22 長期温度耐久試験 Long-term temperature aging [LV214 PG 21]











B．性能・・・9.2(1)参照


(3) 長期耐熱性 Long-term aging in dry heat [B 21.1]

A．試験方法・・・温度が 125℃に保たれた槽内に 1000時間放置する。

その後室温にて 48時間放置する。


Leave for 48 h at room temperature.




B．性能・・・9.2(1)参照


(5) コネクタ挿入及び抜去 Functional test with both groups [E 21.1]

A．試験方法・・・コネクタの挿入及び抜去を 5回実施する。

A. Test method・・・Insert and remove 5 times.

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7.23 耐薬品性 Chemical resistance [LV214 PG 22A]










試験電圧＝500±50V、試験時間＝60±5ｓ







(3) 科学薬品に対する耐性(一般条件) Resistance of agents (general requirements) [B22.1A]

A．試験方法・・・市販の内装洗浄剤、ガラスクリーナー、潤滑剤に暴露後、125℃の試験槽に 48時間

放置する。

A. Test method・・・Expose the sample to commercially available interior cleaner, glass cleaner, Contact

spray, then age for 48 h in the chamber at 125℃

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試験電圧＝500±50V、試験時間＝60±5ｓ












7.24 ロック音 Locking noise [LV214 PG 28]


Number of test sample・・・ Connector n=5






(2) エージング Aging [B 28.1]

A．試験方法・・・室温で 24時間放置する。

A. Test method・・・Leave for 48 h at room temperature.

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(3) ロック音 Locking noise [E 28.1]

A．試験方法・・・オスコネクタにメスコネクタを挿入したときのロック音[db]を測定する。

挿入は、マイクからの距離 600±50mm、地面からの高さ 1mにて実施する。

A. Test method・・・Measure the locking noise [db] when female connector is inserted into male connector.

Distance to microphone: 600±50mm. Distance from the floor: 1m

B．性能・・・ロック音は 70dB(A)以上を満足する事。

ロック音と環境音の差は少なくとも 7dB(A)以上である事。

B. requirement・・・Must satisfy 70dB(A) min.

Signal-to-noise ratio between the locking noise and ambient noise must be at least 7dB(A).

図 6 / Figure 6. ロック音 / Locking noise






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