s p m (scanning probe microscopy)
DESCRIPTION
S P M (Scanning Probe Microscopy). Nanofelbontású méréstechnika. Dr. Pungor Andr á s. Miskolc, 2008 április 2. STM (Scanning Tunneling Microscope). 1983: G. Binnig H. Rohrer megalkotta az STM-et 1986: Megkapták a Nobel dijat. Mi tette technikailag lehetővé az STM megalkotását? - PowerPoint PPT PresentationTRANSCRIPT
SPM(Scanning Probe
Microscopy)
Dr. Pungor András
Miskolc, 2008 április 2
Nanofelbontású méréstechnika
STMSTM(Scanning Tunneling (Scanning Tunneling
Microscope)Microscope) 1983: G. Binnig H. Rohrer megalkotta az STM-et1983: G. Binnig H. Rohrer megalkotta az STM-et 1986: 1986: Megkapták a Nobel dijatMegkapták a Nobel dijat
Mi tette technikailag lehetővé az STM megalkotását?Piezoelektromos vezérlés
Mi is a piezoelektromos hatás?
Elmozdulás Feszültség
STMSTMA mérés mechanizmusa
STMSTM
Constant current modeConstant height mode
A két fő méréstechnikai metódus a szabályozásra
STMSTM K Képformálásépformálás
STM képe az HOPG-nekHighly Oriented Pyrolytic Graphite
4 x 4 nm képméret
Az atomok közötti távolság : 2.5 angstrom
SPM KépformálásSPM Képformálás
SPMSPMMi az STM hátránya?
Csak vezető felületeket mér!Megoldás!
AFMAtomic Force Microscope
AFMAFM
Miért AFM?
AFM SFM Scanning Force Microscopy
SFMSFM
SFMSFMAz érzékelés evolúciója
SFM SFM Mérési Módok
Constant Height Constant Force
SFM SFM ““műremekekműremekek””(artifacts)(artifacts)
A rugólemez elhajlása
SFM SFM ““műremekekműremekek””(artifacts)(artifacts)
TűhatásokMérés Mért felület
SFM SFM ““műremekekműremekek””(artifacts)(artifacts)
Tű-felszin kölcsönhatás
6 x 6 micrometeresU betű fehérjéből
SFM SFM ““műremekműremekekek””(artifac(artifac
ts)ts)Tű-felszin kölcsönhatás
A mikroseprű működése
SFM SFM ““műremekekműremekek””(artifacts)(artifacts)
Tű-felszin kölcsönhatás
Túlszabályozás Súrlódás
AFM, atomic force microscopy contact AFM
non-contact AFMdynamic contact AFM
BEEM, ballistic electron emission microscopyEFM, electrostatic force microscope
ESTM electrochemical scanning tunneling microscopeFMM, force modulation microscopy
KPFM, kelvin probe force microscopyMFM, magnetic force microscopy
MRFM, magnetic resonance force microscopyNSOM, near-field scanning optical microscopy (or SNOM, scanning
near-field optical microscopy)PSTM, photon scanning tunneling microscopy
PTMS, photothermal microspectroscopy/microscopySECM, scanning electrochemical microscopy
SCM, scanning capacitance microscopySGM, scanning gate microscopy
SICM, scanning ion-conductance microscopySPSM spin polarized scanning tunneling microscopy
SThM, scanning thermal microscopy[1]STM, scanning tunneling microscopySVM, scanning voltage microscopy
SHPM, scanning Hall probe microscopy
SFM mérésekSFM mérésekErő-elmozdulás Felszin keménység
CCFMCCFMConstant Compliance
Force Modulation
CCFMCCFMConstant Compliance
Force Modulation
CCFMCCFMConstant Compliance
Force Modulation
A CCFM mérés felépitéseA CCFM mérés felépitése
MMáás s SFM SFM méréstechnikákméréstechnikák
Non Contact Semi Contact(Tapping Mode)
SPM SPM méréstechnikákméréstechnikákSCM
(Scanning Capacitance Microscopy)SMFM
(Scanning Magnetic Force Microscopy)
Köszönöm a figyelmet