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SCIEX X500 QTOFシステム システムユーザガイド 20178RUO-IDV-05-2334-JA-E

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Page 1: SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド Acquisition パネル.....74 ユーザーワーク Analysts.....76 Method Developers.....76 Administrators.....77 レビュアー.....77

SCIEX X500 QTOFシステム

システムユーザガイド

2017年8月RUO-IDV-05-2334-JA-E

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本書はSCIEX機器をご購入され、実際に使用されるお客様にむけてのものです。本書の著作権は保護されています。本書および本書の一部分を複製することは、SCIEXが書面で合意した場合を除いて固く禁止されています。

本機器は研究専用です。診断手段としての使用は想定されていません。実験室用診断への使用を推奨

します。保証は後述の通りです。

すべての国で販売されているわけではありません。このような使用はいかなる場合も、これらの製造

業者による製品をSCIEXの供給機器として扱う場合に限り、その権利やライセンスの使用、またはその他の業者にこれらの製造業者名および製品名の商標利用を許可するものではありません。

SCIEXの保証は販売またはライセンス供与の時点で提供される明示的保証に限定されており、またSCIEXの唯一かつ独占的な表明、保証および義務とされています。SCIEXは、制定法若しくは別の形の法律、または取引の過程または商慣習から生じるかどうかに関わらず、特定の目的のための市場性または適

合性の保証を含むがこれらに限定されず明示的・黙示的を問わず、いかなる種類の他の保証も行わな

い。そのすべては明示的に放棄されている。またAB Sciexは購買者による使用、またはそれから生じる逆境が原因の間接的または必然的な損害を含め、一切の責任または偶発債務を負わないものとしま

す。

研究専用。診断手段としての使用は想定されていません。

AB SciexはSciexブランドの下で事業を行っています。

ここに示されているすべての商標は、 AB Sciex Pte. Ltd. またはそれぞれの権利保有者の財産です。

AB SCIEX™ はライセンスの下で使用されています。

© 2017 AB Sciex

AB Sciex Pte. Ltd.Blk 33、#04-06Marsiling Ind Estate Road 3Woodlands Central Indus.Estate.シンガポール 739256

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E2 / 252

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1 操作上の予防措置および制限事項.......................................................................................................8一般的な安全情報..................................................................................................................................................8監督法規の遵守......................................................................................................................................................8オーストラリアおよびニュージーランド...................................................................................................8カナダ.................................................................................................................................................................9欧州.....................................................................................................................................................................9米国.....................................................................................................................................................................9国際的...............................................................................................................................................................10

電気系統に関する注意........................................................................................................................................10交流主電源.......................................................................................................................................................10接地(アース)による保護..........................................................................................................................11

化学物質に関する注意事項................................................................................................................................11システムに対して安全な液体.....................................................................................................................12

換気に関する注意事項........................................................................................................................................13環境に関する注意事項........................................................................................................................................14電磁環境...........................................................................................................................................................14停止および廃棄..............................................................................................................................................15

機器の利用と変更................................................................................................................................................16資格のある技術者................................................................................................................................................16お問い合わせ先....................................................................................................................................................17テクニカルサポート............................................................................................................................................17文書内のシンボルと規約....................................................................................................................................17

2 動作原理.............................................................................................................................................19システム概要.........................................................................................................................................................19ハードウェア概観................................................................................................................................................20パネルシンボル..............................................................................................................................................24

動作原理.................................................................................................................................................................24データの取り扱い..........................................................................................................................................25

動作原理 - SCIEX OS...............................................................................................................................................25ソフトウェア概論..........................................................................................................................................25スキャンの技術..............................................................................................................................................26定量分析...........................................................................................................................................................28解析...................................................................................................................................................................28結果表...............................................................................................................................................................28キャリブレーションカーブ..........................................................................................................................29回帰方程式.......................................................................................................................................................29重み付け係数...................................................................................................................................................30回帰種類...........................................................................................................................................................31定性分析...........................................................................................................................................................33

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド3 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

内容

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3 取扱説明書—ハードウェア..................................................................................................................37システムの起動....................................................................................................................................................37システムのシャットダウンと大気開放...........................................................................................................38ダイバーターバルブ............................................................................................................................................39インジェクターモードでのダイバーターバルブ配列............................................................................40ダイバーターモードでのダイバーターバルブ配列................................................................................41

キャリブラント供給システム...........................................................................................................................42CDSボトルの交換............................................................................................................................................42CDSの開始.........................................................................................................................................................43CDSの停止.........................................................................................................................................................43CDSのフラッシュ............................................................................................................................................43

4 デバイスを設定..................................................................................................................................46デバイスの追加....................................................................................................................................................46デバイス設定の編集............................................................................................................................................46デバイスを削除....................................................................................................................................................47デバイスを無効にする........................................................................................................................................48

5 ソフトウェアへのアクセスを設定.....................................................................................................49Users概要.................................................................................................................................................................49役割と権限.......................................................................................................................................................49Analytics (分析物) 機能へのアクセス...........................................................................................................51ユーザーの追加..............................................................................................................................................54ユーザーを無効にする..................................................................................................................................55ユーザーの削除..............................................................................................................................................55

全画面モードの有効化........................................................................................................................................55実験室情報管理システム(LIMS)の設定.......................................................................................................55キューオプションの選択....................................................................................................................................56地域設定を選択....................................................................................................................................................56化合物ライブラリの管理....................................................................................................................................57

LibraryViewパッケージのインポート...........................................................................................................57化合物データベースのインポート.............................................................................................................58Cliquidパッケージのインポート...................................................................................................................59Excelファイルのインポート..........................................................................................................................59ライブラリデータベースのスナップショットのインポート ..............................................................61サードパーティーのライブラリパッケージのインポート ..................................................................61ライセンスのあるLibraryViewパッケージのインポート..........................................................................62化合物の不一致 .............................................................................................................................................64化合物の追加...................................................................................................................................................66化合物への質量スペクトルの追加.............................................................................................................66

6 取扱説明書 – ソフトウェア................................................................................................................68ホームページ について.......................................................................................................................................68リボンとランチャーについて...........................................................................................................................69Status パネルについて..........................................................................................................................................71プロジェクトの追加......................................................................................................................................73プロジェクトを選択......................................................................................................................................74デバイス状態のControl (制御) ......................................................................................................................74

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E4 / 252

内容

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状態パネルの表示..........................................................................................................................................74状態パネルを非表示にする..........................................................................................................................74

Data Acquisition パネル..........................................................................................................................................74ユーザーワークフロー........................................................................................................................................76

Analysts..............................................................................................................................................................76Method Developers.............................................................................................................................................76Administrators....................................................................................................................................................77レビュアー.......................................................................................................................................................77

バッチおよびキューワークスペース...............................................................................................................77バッチを管理...................................................................................................................................................78バッチをインポート......................................................................................................................................79バッチをLIMSからインポート......................................................................................................................80バッチを手動で作成します..........................................................................................................................81プレートレイアウト機能を使用してバッチを作成する........................................................................84イオン参照表の作成......................................................................................................................................86CDSを使用したシステムのキャリブレーション......................................................................................87LCメソッドを使用したシステムのキャリブレーション........................................................................88システムの平衡化..........................................................................................................................................88キューの管理...................................................................................................................................................891つのサンプルをキューに提出...................................................................................................................91複数のサンプルをキューに提出.................................................................................................................91列の表示または非表示..................................................................................................................................92コンポーネント濃度列を追加.....................................................................................................................92コンポーネント濃度列を削除.....................................................................................................................92キューアイコン..............................................................................................................................................93

「MSメソッド」ワークスペース......................................................................................................................93MSメソッドの作成.........................................................................................................................................93MSメソッドの実験.........................................................................................................................................95MSメソッドについて.....................................................................................................................................96MS メソッドのパラメータ............................................................................................................................98MSメソッドの動的衝突エネルギーを計算する.....................................................................................111

「LCメソッド」ワークスペース......................................................................................................................112LCメソッドの作成.........................................................................................................................................112

「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペース........................................................................................112分析物の存在の確認....................................................................................................................................112イオンの抽出.................................................................................................................................................114トータルイオンクロマトグラムを開く...................................................................................................116ベースピーククロマトグラムを開く.......................................................................................................118データおよびピーク表の表示...................................................................................................................121サンプル情報の表示....................................................................................................................................123グラフ選択情報の表示................................................................................................................................124グラフのSettingsの編集................................................................................................................................129グラフのデータを操作する........................................................................................................................131ダブルペインの操作ツールを使用する...................................................................................................136ペインまたはウィンドウを移動させる...................................................................................................138ガウシアンスムーズの実行........................................................................................................................140しきいデータ.................................................................................................................................................141

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内容

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サブセットデータ(グラフ選択へ).......................................................................................................143ベースライン補正クロマトグラム...........................................................................................................144クロマトグラムのオフセット...................................................................................................................146スペクトルの重心作成................................................................................................................................147テキストとしてデータをエクスポートする..........................................................................................149テキストとしてピークリストをエクスポートする..............................................................................151データの印刷.................................................................................................................................................151オプションのリセット................................................................................................................................152オプションの設定........................................................................................................................................152

Analytics ワークスペース...................................................................................................................................156プロジェクトの安全エクスポート設定を設定......................................................................................156プロジェクトの修正されたピーク警告の有効化..................................................................................157プロジェクトのデフォルト設定を定義...................................................................................................157処理メソッドの作成....................................................................................................................................158結果表について............................................................................................................................................159ピークのレビュー........................................................................................................................................181統計ペインについて....................................................................................................................................190キャリブレーションカーブ:オプション...............................................................................................192メトリックプロットを使用してデータを分析する..............................................................................195監査証跡.........................................................................................................................................................196

Integration Algorithm Parameters...........................................................................................................................200MQ4 Integration Algorithm Parameters............................................................................................................200AutoPeak積分アルゴリズムのパラメータ................................................................................................202

レポートテンプレートの編集.........................................................................................................................203Reporterテンプレート...................................................................................................................................205

MS Tune (MSチューン).........................................................................................................................................207クイック状態チェックの実行...................................................................................................................207検出器の最適化............................................................................................................................................208Q1のチューニング........................................................................................................................................208TOF MSのチューニング................................................................................................................................209Q1 Highのチューニング................................................................................................................................210高度なトラブルシューティングの実行...................................................................................................211装置データの復元........................................................................................................................................211

Event Log (イベントログ) ワークスペース......................................................................................................212ログを表示.....................................................................................................................................................212ログの印刷.....................................................................................................................................................212ログをアーカイブ........................................................................................................................................213

7 サービスおよびメンテナンス情報...................................................................................................214推奨されるメンテナンススケジュール.........................................................................................................214表面のクリーニング..........................................................................................................................................217フロントエンドのクリーニング.....................................................................................................................217汚染の兆候.....................................................................................................................................................218必要な材料.....................................................................................................................................................218クリーニングの最善の方法........................................................................................................................219質量分析装置の準備....................................................................................................................................220カーテンプレートのクリーニング...........................................................................................................221オリフィスプレートの前面をクリーニング..........................................................................................223

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E6 / 252

内容

Page 7: SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド Acquisition パネル.....74 ユーザーワーク Analysts.....76 Method Developers.....76 Administrators.....77 レビュアー.....77

質量分析装置の運転再開............................................................................................................................223イオン源排気ドレインボトルを空にする.....................................................................................................223チェックバルブおよび流量モジュールの交換............................................................................................226粗引きポンプのオイルレベルの点検.............................................................................................................227保管と取り扱いのための環境要件.................................................................................................................228質量分析装置の移動..........................................................................................................................................229サポートパッケージの生成..............................................................................................................................235

8 質量分析装置のトラブルシューティング........................................................................................236

A 推奨キャリブレーションイオン......................................................................................................240APCIキャリブレーションイオン......................................................................................................................241ESIキャリブレーションイオン.........................................................................................................................242

B 正確な質量および化学式.................................................................................................................246

C シンボルについての用語集..............................................................................................................247

D 警告についての用語集....................................................................................................................251

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド7 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

内容

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注:システムを操作する前に、本ガイドのすべてのセクションを注意してお読みください。

このセクションには、一般の安全関連の情報が含まれており、規制対応の情報が提供されて

います。また、システムに関する潜在的な危険および関連する警告および危険を最小限にす

るために採るべき予防措置も説明されています。

検査室環境、システムおよび本文書内で使用されているシンボルと規約に関する情報につい

ては、このセクションに加えて、シンボルについての用語集該当ページ 247を参照してください。設置条件要求事項については設置計画概要書を参照してください。ここには交流主電

源、イオン源排気、換気、圧縮空気、窒素および粗引きポンプ要件が含まれています。

一般的な安全情報

人身傷害またはシステムの損傷を防ぐためにも、本書、製造業者の化学薬品安全性データシー

ト(SDS)、および製品ラベル情報に記載されているすべての安全に関する注意事項および警告を読み、理解し、それに従ってください。これらのラベルは、国際的に認められたシンボ

ルで表示されています。これらの警告に従わない場合、重傷に至る可能性があります。

この安全情報は、連邦、州、地方、および地域環境、衛生および安全(EHS)規制を補足するものです。ここで提供される情報には、本システムの操作に適用されるシステム関連の安全

情報が含まれています。実践すべき安全手順がすべて掲載されているわけではありません。

最終的に、連邦、州、地方、そして地域のEHS規則等の遵守、および安全な研究環境の維持に対する責任は、ユーザーと組織にあります。

適切なラボ参考資料と標準業務手順書を参照してください。

監督法規の遵守

本システムは、本セクションに記載されている規制および標準に準拠しています。日付のあ

る情報については、システムおよび個々のシステムコンポーネント同梱の適合宣言書を参照

してください。適応ラベルはシステムに貼られています。

オーストラリアおよびニュージーランド

• 電磁両立性(EMC)1992年無線通信法に以下の標準として制定:

• 電波障害—AS/NZS CISPR 11/ EN 55011/ CISPR 11 (Class A) 。電磁妨害該当ページ 15を参照してください。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E8 / 252

1操作上の予防措置および制限事項

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• 安全性: AS/NZ 61010-1、およびIEC 61010-2-061

カナダ

• 電波障害(EMI): CAN/CSAA CISPR11。このISM機器は、カナダICES-001に適合しています。電磁妨害該当ページ 15を参照してください。

• 安全性:

• CAN/CSA C22.2 No. 61010-1

• CAN/CSA C22.2 No 61010-2-061

欧州

• 電磁両立性(EMC):以下の標準で実行されている電磁両立性指令 2014/30/EU:

• EN 61326-1

• EN 55011(Class A)電磁両立性該当ページ 14を参照してください。

• 安全性:以下の標準で実行されている低電圧指令 2014/35/EU:

• EN 61010-1

• EN 61010-2-061

• 廃棄物、電気および電子機器(WEEE):廃電気電子機器指令 2012/96/EEC(EN 40519で実施される通り)廃電気電子機器指令該当ページ 16を参照してください。

• 梱包および梱包廃棄物(PPW):梱包および梱包廃棄物指令 94/62/EC

米国

• 無線送信妨害規制:47 CFR 15(FCC Part15で実施される通り(クラスA)

• 安全性:職業安全衛生法、29 CFR 1910(以下の標準で実施される通り)

• UL 61010-1

• IEC 61010-2-061

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操作上の予防措置および制限事項

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国際的

• 電磁両立性(EMC):

• IEC 61326-1

• IEC CISPR 11(クラスA)

• IEC 61000-3-2

• IEC 61000-3-3電磁両立性該当ページ 14を参照してください。

• 安全性:

• IEC 61010-1

• IEC 61010-2-061

電気系統に関する注意

警告!感電の危険性。カバーを取り外さないでください。カバーを取り外すと、傷

害またはシステムの故障が発生する場合があります。定期的なメンテナンス、点検、

または調整のためにカバーを取り外す必要はありません。カバーを取り外す必要が

ある修理については、SCIEXのフィールドサービス担当者(FSE)にお問い合わせください。

• 電気安全作業習慣に従ってください。

• ケーブルの管理慣行の実行により、ケーブルを管理してください。これにより、つまずく

危険が軽減されます。

システムの電気仕様についての情報は、設置計画概要書を参照してください。

交流主電源

本ガイドの指示の通り、システムを互換性のある交流主電源に接続します。

警告!感電の危険性。すべての電気機器および接続器のインストールは必ず有資格

者が実施し、すべてのインストールが現地規制および安全規格に従うようにしてく

ださい。

警告!感電の危険性。緊急時にシステムを主電源コンセントから外せるようにして

おいてください。主電源コンセントの周囲に物を置かないでください。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E10 / 252

操作上の予防措置および制限事項

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警告!感電の危険性。システムに同梱された電力ケーブルのみを使用します。この

システムの操作にとって適切な定格ではない電力ケーブルは使用しないでください。

外部ライン変圧器は質量分析装置や粗引きポンプには不要です。

接地(アース)による保護

装置主電源には、保護接地線(アース)が正常に組み込まれていなければいけません。シス

テムを接続する前に、資格のある技師により必ず保護接地線(アース)を設置または確認し

てください。

警告!感電の危険性。接地保護導体系を意図的に妨害しないでください。接地保護

導体の妨害が生じると、感電の危険性が発生します。

警告!感電の危険性。保護接地線(接地ケーブル)がサンプルループとイオン源の

適切な接地点の間に接続されていることを確認します。この補足的な接地は、SCIEXによって指定された安全構成を強化するものです。

化学物質に関する注意事項

警告! 放射線障害、生物学的危害、化学的危害。クリーニングやメンテナ

ンス前に、汚染除去が必要かどうかを判断します。放射性物質、生物学的病

原体、または有害化学物質が質量分析装置に使用された場合、お客様はクリー

ニングまたはメンテナンス前にシステムに対して汚染除去を行う必要があり

ます。

警告!環境の危険性。システムコンポーネントを一般廃棄物として処分しないでく

ださい。コンポーネントを処分する際は、地域の規制に従います。

警告!生物学的危害、有害化学物質の危険性。漏れを防ぐために、ドレイン

チューブを質量分析装置とイオン源排気ドレインボトルに正しく接続します。

• サービスや定期保守の前に、システムに使用された化学物質を特定してください。化学物

質について遵守する必要がある安全衛生対策については、安全性データシートを参照して

ください。

• 通気性の良いエリアまたはドラフト内で作業を行ってください。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド11 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

操作上の予防措置および制限事項

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• パウダーフリーのネオプレン製またはニトリル製手袋、安全メガネ、白衣など、割り当て

られた個人用防護具を常に着用してください。

• イソプロパノール、メタノール、その他可燃性溶媒などの可燃性物質を用いて作業を行う

際には、発火源を避けてください。

• 化学製品の使用および廃棄については十分注意してください。化学製品の取扱および廃棄

について正しい手順が守られない場合には、個人レベルの傷害の危険性があります。

• クリーニングの間、および使用後の手洗いの際には化学物質が肌に触れないようにしてく

ださい。

• すべての排気ホースがしっかりと接続され、すべての接続が設計通りに機能していること

を確認します。

• 使用済み液体をすべて回収し、有害廃棄物として処分します。

• 病原体、毒性、または放射性物質の保管、取扱、廃棄については、地域のすべての規制を

遵守してください。

• (推奨)発生する恐れがある化学物質流出に対処するために、粗引きポンプ、溶剤ボト

ル、および廃棄物収集容器の下に二次封じ込めトレイを使用します。

システムに対して安全な液体

以下の液体は、システムを使用すれば安全に使用できます。安全な洗浄液についての情報は、

必要な材料該当ページ 218を参照してください。

注意:ダメージを与える恐れがあります。他の流体は、SCIEXによって危険がないことが確認されるまで、使用しないでください。これは完全なリストではありません。

• 有機溶剤

• MSグレード アセトニトリル 最大100%

• MSグレード メタノール 最大100%

• イソプロパノール 最大100%

• HPLC-レベルまたはそれ以上の水 最大100%

• テトラヒドロフラン 最大100%

• トルエンおよびその他芳香溶媒 最大100 %

• ヘキサン 最大100%

• バッファ

• 酢酸アンモニウム 1%未満

• ギ酸アンモニウム 1 %未満

• リン酸塩 1%未満

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E12 / 252

操作上の予防措置および制限事項

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• 酸と塩基

• ギ酸 1 %未満

• 酢酸 1%未満

• トリフルオロ酢酸(TFA) 1%未満

• ヘプタフルオロ酪酸(HFBA) 1 %未満

• アンモニア/水酸化アンモニウム 1%未満

• リン酸 1 %未満

• トリメチルアミン 1%未満

• トリエチルアミン 1 %未満

換気に関する注意事項

ガスの排気や廃棄物の処理は必ず連邦政府、州、区域、地域の保健規制や安全規制を遵守し

てください。地域の衛生法規や安全規制に準拠して空気の品質を維持することは、お客様の

責任です。

イオン源排気システムおよび粗引きポンプは、必ず専用の検査室用ドラフトチャンバまたは

外部排気システムに通気してください。

警告!火災の危険性。可燃性蒸気がイオン源にたまるのを防ぐため、イオン源排気

システムが接続され機能していることを確認してください。

警告!放射線障害、生物学的危害、化学的危害。排気ガスを専用の実験室用

ドラフトチャンバーまたは排気システムで通気するよう注意して、換気チュー

ブがクランプで固定されていることを確認します。検査室は実施される作業

に適切な換気が行われるようにしなければなりません。

警告! 放射線障害、生物学的危害、化学的危害。イオン源排気管や粗引き

ポンプ排気ホースが検査室の換気システムに適切に接続されていない場合、

質量分析装置を操作しないでください。排気チューブを定期的に点検して、

漏れがないようにします。適切なシステムの換気をせずに質量分析装置を使

用すると、健康を害し、重度の傷害を引き起こす恐れがあります。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド13 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

操作上の予防措置および制限事項

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警告!放射線障害、生物学的危害、化学的危害。イオン源で使用する有害物

質や障害性物質の適正使用、汚染、排気に関する知識や訓練を受けている場

合に限り、イオン源を使用します。

警告!穿刺災害、放射線障害、生物学的危害、あるいは有害化学物質の危険

性。イオン源のウィンドウがひび割れたり破損したりした場合、イオン源の

使用を中止して、SCIEXフィールドサービス担当者(FSE)にお問い合わせください。装置に導入された有害物質や障害性物質は、イオン源排気出力に存

在します。認定を受けた検査室安全手順に従い、鋭利物を処分します。

環境に関する注意事項

送電線、加熱装置、換気装置、配管の供給および固定などのインストールについては資格の

ある担当者にお問い合わせください。すべての設置が地方条例および有害物質規制を遵守し

ていることを確認してください。システムの環境条件への要求事項に関する情報は、設置計

画概要書を参照してください。

システムのセットアップを行う際には、装置の周囲にアクセス空間を確保してください。

危険!爆発の危険性。爆発性ガスを含む環境でシステムを操作しないでください。

システムは爆発の危険がある環境での操作を意図していません。

警告!生物学的危害。生物学的有害物質を使用する場合、危険性評価・制御、およ

び危険物取扱に関する現地規制を必ず遵守します。本システム、あるいはそのいか

なる部分も、生物学的封じ込めとして機能することを意図していません。

注意:潜在的質量シフト。周辺温度を安定した状態に保ってください。温度の変化が毎時

2°Cを超えると、分解と質量キャリブレーションに影響する可能性があります。

電磁環境

電磁両立性

基本的電磁環境:公共メインネットワークからの低電圧で直接供給されているという特徴が

ある場所に存在する環境。

性能基準A(基準A):機器は、テスト中またはテスト後に性能の低下なしおよび機能の損失なしに想定どおりに操作できるものとします。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E14 / 252

操作上の予防措置および制限事項

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性能基準B(基準B):機器は、テスト中に機能を損失(1つ以上)する場合があるが、テスト後に性能がいくらか低下して機能が自己回復可能で想定どおりに操作できるものとします。

性能基準C(基準C):機器は、テスト中に機能を損失(1つ以上)する場合があるが、テスト後に性能がいくらか低下して機能がオペレータによって回復可能で想定どおりに操作でき

るものとします。

機器は、基本的電磁環境での使用を前提としています。

電磁環境耐性条件における予想される性能損失は、総イオンカウント(TIC)の変化が20%未満です。

装置と互換性のある電磁環境が整備されており、装置が想定どおりに使用できることを確認

してください。電源の電気的ノイズが大きい場合は、サージ保護装置を取り付けてください。

電磁妨害

クラスA機器:家庭用施設および住宅用に使用される建物に供給する低電圧電源供給ネットワークに直接接続する施設以外のすべての施設内での使用に適する機器。[CISPR 11:2009, 5.3より派生] クラスA機器はクラスAの制限を満たすものとします。

この装置はクラスAデジタル機器の制限に準拠したテストを行っており、FCC(FederalCommunications Commission:連邦通信委員会)コンプライアンス規制パート15の基準を満たしています。

これらの制限は、装置が商業環境下で用いられた場合に、妨害行為から装置を適切に保護す

る必要性を考慮したものです。この装置は高周波エネルギーの生成、使用および放出を行い

ます。オペレーターズマニュアルに従ってインストールが行われなかった場合は、ラジオ通

信に障害を発生させる恐れがあります。

住宅地域でのこの装置の操作は、発生した場合に自己負担で妨害を修正する必要がある有害

な妨害を引き起こす恐れがあります。製造業者によって認可のない変更や調節を行った場合、

装置を使用する権限を剥奪される場合があります。

停止および廃棄

停止の前に、現地規制に従ってシステム全体に対して汚染除去を行います。

システムをサービスから外す際は、国または地域の環境規制に従って、異なる素材を分別お

よびリサイクルしてください。保管と取り扱いのための環境要件該当ページ 228を参照してください。

注: SCIEXは洗浄フォームの記入のない場合、システムの引き取りはお受けしかねます。フォームのコピーが必要な場合は、FSEにお問い合わせください。

システムのコンポーネントまたはサブアセンブリ、例えば、コンピュータの部品などは、分

別されていない一般廃棄物として廃棄しないでください。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド15 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

操作上の予防措置および制限事項

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廃電気電子機器指令

廃棄物、電気および電子機器(WEEE)の環境への影響を軽減するための適切な廃棄規定については、地域の一般廃棄物命令に従ってください。この機器を安全に廃棄するために、お近

くのカスタマーサービスに連絡し、無料の機器引き取りおよびリサイクルをご利用ください。

機器の利用と変更

警告!人的危害の危険。製品の設置、調整、または移設が必要な場合は、SCIEXの担当者に連絡してください。

警告!感電の危険性。カバーを取り外さないでください。カバーを取り外すと、傷

害またはシステムの故障が発生する場合があります。定期的なメンテナンス、点検、

または調整のためにカバーを取り外す必要はありません。カバーを取り外す必要が

ある修理については、SCIEXのフィールドサービス担当者(FSE)にお問い合わせください。

警告!人的危害の危険。SCIEXが推奨する部品のみを使用してください。SCIEXが推奨しない部品を使用したり、用途以外の目的で部品を使用すると、ユーザーが危険

に晒されたり、システムの性能に悪影響を及ぼしたりする可能性があります。

システムは設置計画概要書で推奨されている環境条件下にある実験室内で使用してください。

システムが製造業者の規定に反した環境および方法で使用された場合、機器の安全性は保障

されません。

システム上で認定外の変更や動作を行ったために個人レベルの負傷や機器の破損が発生した

場合は、保証が適用されない可能性があります。システムが推奨環境条件下で正しく使用、

および認定外の変更を行って使用されたどちらの場合でも、正常でないデータが生成される

ことがあります。システムサービスに関する情報は、FSEにお問い合わせください。

資格のある技術者

資格のあるSCIEXエンジニアのみが、装置の設置、検査、およびサービスを行うようにしてください。システムのインストール後、フィールドサービスエンジニア(FSE)はカスタマー習熟チェックリストを使用し、お客様にシステムの動作、クリーニング、基本のメンテナン

スを説明します。

装置のメンテナンスは、製造業者が認定した技術者のみが行うようにしてください。認定済

みの実験室では、認定メンテナンス作業員(QMP)とともに設置時の手順について習熟度を深めることもできます。QMPとは、研究室の機器へのサービスに関連する電気および化学物質のリスクに関して適切な理解のある担当者です。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E16 / 252

操作上の予防措置および制限事項

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お問い合わせ先

SCIEXのサポート

• sciex.com/contact-us

• sciex.com/request-support

お客様のトレーニング

• 北米:[email protected]

• ヨーロッパ:[email protected]

• EUおよび北米以外の連絡先については、sciex.com/educationを参照してください。

オンライン学習センター

• SCIEXUniversity

SCIEX製品のサイバーセキュリティに関する最新のガイダンスについては、sciex.com/productsecurityを参照してください。

テクニカルサポート

SCIEXおよびその代理店は、十分に訓練を受けた保守/技術専門要員を世界中に配備しています。システムまたは起こり得る技術的問題に関するご質問にお答えします。詳しくは、SCIEXのウェブサイト(sciex.com)をご覧ください。

文書内のシンボルと規約

このガイド内では以下のシンボルと規約が適用されます。

危険!「危険」は致命傷や死を引き起こす行動を指します。

警告!「警告」は、注意点を守らなかった場合に個人レベルの負傷を引き起こす可

能性のある行動を指します。

注意:「注意」は注意点を守らなかった場合にシステム損傷やデータ損失を引き起こす可

能性のある行動を指します。

注:「注」は手順および説明内の重要な情報を指します。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド17 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

操作上の予防措置および制限事項

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ヒント!「ヒント」は本文記載の技術および手順の応用に役立つ情報です。特別なニーズ

がある場合、手順を短縮する場合の補足事項として使用ください。手順を完了するために

必須のものではありません。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E18 / 252

操作上の予防措置および制限事項

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SCIEX X500 QTOFシステムは、化学種の定性分析および定量分析用に設計されています。

このセクションには、質量分析装置およびSCIEX OS。イオン源の概要に関しては、『イオン源オペレータガイド』を参照してください。

システム概要

SCIEX X500 QTOFシステムには以下のコンポーネントが含まれます:

• SCIEX X500 QTOF質量分析装置、粗引きポンプを装備。

• Turbo VTMイオン源(ツインESIプローブまたはツイン大気圧化学イオン化法(APCI)プロー

ブのいずれかを使用)。 Turbo VTM『イオン源オペレータガイド』を参照してください。

• 機器の最適化、測定メソッド開発、処理、およびデータ測定のためのSCIEX OS搭載SCIEX供給のコンピュータおよびモニタ。コンピュータの仕様および要件については、SCIEX OSのリリースノートを参照してください。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド19 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

2動作原理

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ハードウェア概観

図 2-1 正面/右側面図:X500R

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E20 / 252

動作原理

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図 2-2 正面/右側面図:X500B

説明項目

ダイバーターバルブ(標準の位置)。ダイバーターバルブ該当ページ 39を参照してください。

1

ダイバーターバルブの他の取り付け位置(左側)。詳細については、FSEにお問い合わせください。

2

イオン源。イオン源オペレータガイドを参照してください。3

キャリブラントボトル。CDSボトルの交換該当ページ 42を参照してください。

4

パネルシンボル。パネルシンボル該当ページ 24を参照してください。5

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド21 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

動作原理

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図 2-3 背面および左側のビュー:X500R

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E22 / 252

動作原理

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図 2-4 背面/左側面図:X500B

説明項目

左側バルクヘッド。ガスおよび通信の接続部があります。1

Ventボタン。システムのシャットダウンと大気開放該当ページ 38を参照してください。

2

イオン源の接続。一部のイオン源は、このポートに接続します。3

AUX入出力接続。未使用。4

Ethernet 接続。測定用コンピュータとの通信に使用します。5

ゼログレードエアのガス供給6

排気排出。イオン源排気ドレインボトルを空にする該当ページ223を参照してください。

7

窒素ガス供給8

排気ガス供給。イオン源用のエアを供給します。9

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド23 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

動作原理

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説明項目

粗引きポンプ用真空ホースの接続10

質量分析装置のコンビニエンススイッチ。システムの起動該当ページ 37またはシステムのシャットダウンと大気開放該当ページ 38を参照してください。

11

測定用コンピュータのTDCカードへのInfiniBandケーブル接続位置12

パネルシンボル

表 2-1は質量分析装置のステータスLEDについて説明します。

表 2-1 パネルシンボル

説明名称カラーLED

システムに電源が入ったときに点灯しま

す。

電力緑色

適切な真空レベルが達成されたときに点

灯します。真空が適切なレベルにない場

合に点滅します(ポンプ停止またはベン

トの間)。

真空緑色

システムが準備完了状態にあるときに点

灯します。システムは作動準備ができた

状態である必要があります。

準備完了緑色

システムがデータを取得しているときに

点滅します。

スキャニング青色

システムに障害が発生した場合に点灯し

ます。

障害赤色

システムの電源を入れると電源LEDが点灯し、障害LEDが数秒間点滅します。その後、真空LEDが点滅を開始します。適切な真空レベルに到達すると、このLEDは点灯したままになります。

動作原理

質量分析装置はイオンの質量電荷比を測定して、化合物を同定および定量化します。

SCIEX X500 QTOFシステムには一連の四重極フィルターが搭載されており、質量電荷比(m/z)に従ってイオンを伝達します。その中で最初の四重極となるのがQJet

®イオンガイドであり、

オリフィスプレートとQ0領域の間に配置されています。QJet®イオンガイドはイオンを濾過し

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E24 / 252

動作原理

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ませんが、Q0領域に入る前にイオンにフォーカスします。より幅の広いオリフィスプレートにより作られたより大きなイオン流量に事前にフォーカスされることにより、QJet

®イオンガ

イドはシステム感度を増加させ、SN比を向上させます。Q0領域において、イオンはQ1四重極に通過していく前に再度フォーカスされます。

Q1四重極はQ2衝突セルに入る前にイオンを選別します。Q1四重極は、以下の2種類のモードで動作します。

• 指定されたm/z範囲内のすべてのイオンをQ2衝突セルに通過させる。これはTOF MSスキャンです。すべてのイオンがTOFシステムによって分析されます。

• 指定されたm/z比を持つ1つのイオンをQ2衝突セルに通過させる。これはTOF MS/MSスキャンです。選択されたイオンだけが分析されます。

Q2衝突セルでは、ガス分子との衝突によってイオンの内部エネルギーが増加され、分子結合の破壊によるプロダクトイオンの生成に至ります。この手法によってプロダクトイオンのm/z比を測定し、親イオンの成分を特定することで、分子の構造と化学的性質に関する情報を提

供する実験を設計することができます。

Q2衝突セルの通過後、イオンはTOF領域に入り、さらに質量分析が行われます。検出器への到達にかかる時間は、それぞれのm/z比によって異なります。検出器では、イオンは電圧パルスに変換される電流を生成します。このような電圧パルスはカウントされ、パルス数は検

出器に入ったイオン量に直接的に比例します。質量分析装置は電圧パルスを信号に変換し、

その信号を各イオンが検出器に到達するまでにかかった時間と相関させます。信号はイオン

の強度を表し、検出器への到達にかかった時間は具体的なm/z比を表します。質量分析装置は、このデータを質量スペクトルとして表示します。

データの取り扱い

SCIEX OSを使用するには、Windows 7、64ビットOS搭載のコンピュータが必要です。コンピュータおよび関連するシステムは、システムおよびデータ収集を制御するシステムコントローラ

および関連するファームウェアによって作動します。システムの動作中、取得されたデータ

はSCIEX OSへ送信されます。そこでデータは完全な質量分析スペクトル、単一または複数の対時間イオンまたは対時間の全イオン電流として表示することができます。

動作原理 - SCIEX OS

ソフトウェア概論

SCIEX OSには、機器コントロール、データ測定、データ処理、およびレポート機能がすべて1つのパッケージに含まれます。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド25 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

動作原理

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スキャンの技術

本装置は、液体サンプルストリームの液体クロマトグラフィー質量分析を実施して、化合物

の同定、定量、検査ができる多目的で信頼できるシステムです。

本装置は次の質量分析技術を用いてサンプルの分析を行います。

• 単一質量分析(MS)の2モード:

• 四重極形単一質量分析(Q1キャリブレーションのみ)

• 飛行時間型単一質量分析

• タンデム質量分析装置(MS/MS)の1モード:

• プロダクトイオン質量分析

さまざまなデータビュー

次の図は、トータルイオンクロマトグラム(TIC)および抽出イオンクロマトグラム(XIC)という2種類のデータビューの例を示したものです。

TIC:全イオン電流の強度を時間の関数としてプロットしたものです。

図 2-5 TICの例

XIC:一連のマススペクトルスキャンにおいて、単一または複数の質量値あるいは質量範囲の強度値によって作成されたイオンクロマトグラムです。これは、該当する質量または質量

範囲の振る舞いを時間の関数として示したものです。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E26 / 252

動作原理

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図 2-6 XICの例

クロマトログラム

たとえば、ある一連のマススペクトルスキャンを複数回繰り返し実行するように装置がプロ

グラムされている場合、クロマトログラムには、繰り返しの実験における時間を基準とした

一定量の変動が表示されます。クロマトログラムのデータは、データの強度がゼロの場合で

も連続したデータになります。クロマトログラムは装置によって直接生成されるわけではな

く、マススペクトルから生成されます。

クロマトグラムのグラフでは、1秒当たりのカウント(cps)で表した強度がy軸として表示され、時間がx軸として表示されます。ピークには自動的にラベルが付けられます。

LC-MSの場合、多くの場合クロマトグラムは時間の関数として表示されます。この時間は特定のスキャンが取得された時間であり、スキャン番号から参照できます。

クロマトグラムはデータの全体像を提供し、LCカラムを使用している場合は一般的に時間に依存しますが、ピークのコンポーネントに関する情報を提供します。たとえば、クロマトグ

ラムにピークが1つしか表示されていない場合でも、そのピークが複数の化合物を表す場合があります。つまり、質量が異なるということです。

あるサンプルでクロマトグラムの条件が変化した場合、クロマトグラムのデータは時間と強

度の両面で変化が発生する場合があります。

スペクトル

スペクトルとは装置から直接取得されたデータであり、通常は特定の質量電荷比(m/z)で検出されたイオンの数を表します。スペクトルは、m/z値を示すx軸と強度(cps)を示すy軸のグラフとして表示されます。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド27 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

動作原理

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MS/MSデータの場合、強度はすべての質量、前駆体、およびフラグメントイオンに関連付けられています。

データをスペクトルとして表示すると、化合物に関する質量固有の情報が取得されます。ス

ペクトルは特定のピークに注目したものであり、対応する化合物のm/z値を提供します。これは、より具体的な情報を特定する目的で使用できます。たとえばスペクトルにより、各質

量の強度など、ピークを構成するすべての質量が示されます。

スペクトル強度は変化する場合がありますが、化合物の質量は変化しないため、質量は固定

されます。

スペクトルデータを生成する方法は、以下の2通りです。

• スキャンが1つしか取得されていない場合、そのデータはスペクトルとして表示されます。

• クロマトグラムから生成されます。

一般的なスペクトルは分子量とともに表示され、m/z (質量電荷比)のラベルが付けられてx軸として示されます。強度はy軸として示されます。

定量分析

定量分析はサンプル中の特定の物質の濃度を発見するために使用されます。未知のサンプル

を分析しそれを既知濃度(基準)を持つ同一物質を含む他のサンプルと比較することによっ

て、本ソフトウェアは未知のサンプルの濃度を算出することができます。プロセスには、基

準を使用してキャリブレーションカーブを作成すること、次いで未知のサンプルの濃度を算

出することが含まれます。各サンプルの算出された濃度は次いで結果表の形で利用できます。

解析

LC-MS/MSデータでは、解析とは、特定の化合物に関連したビークのカーブ下にあるエリアを取得することを意味します。質量トランジション、予期される保持時間、内部標準、積分、

および回帰パラメータを指定する処理メソッドの開発を通して、ソフトウェアは所定のサン

プルセットでのピークを自動的に積分できるようになっています。

特定のサンプルセットの定量または定性情報をまとめたものが結果表です。結果表該当ペー

ジ 28を参照してください。

結果表

結果表は、サンプルセットに関連した定量情報および定性情報をまとめたものです。これに

は、キャリブレーション(標準)カーブを補間した結果によって決定される濃度および精度

の計算が含まれます。結果表には、ライブラリ検索の結果、式検出の結果、およびその他の

定性分析の結果も表示されます。面積、高さ、および他の数値特性が表示されます。結果表

内のカラムの番号および種類を編集して、簡素化した表示にすることができます。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E28 / 252

動作原理

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キャリブレーションカーブ

キャリブレーションカーブは、標準濃度カーブとも呼ばれ、不明なサンプルと濃度が分かっ

ている標準サンプルを比較することにより、不明なサンプル内の物質濃度を決定する方法で

す。キャリブレーションカーブは、装置が分析試料(測定が行われる物質)の濃度の変化に

どう反応するか(分析信号)に関するプロットです。オペレータは、未知のサンプル内の分

析試料の予想濃度に近い濃度範囲の一連の標準液を準備します。

キャリブレーション標準は、キャリブレーションカーブの形成に使用されます。キャリブレー

ションサンプルの正確でない読み取り、または読み取りの欠如は、分析ランに問題があるこ

とを示唆している場合があります。文書に記載されている許容される方法、および規制当局

のガイダンスに従ってキャリブレーションカーブを作成してください。キャリブレーション

カーブの準備におけるグッドプラクティスの例には、以下が含まれます:

• 分析試料の測定を行うブランクのマトリクスにキャリブレーション標準を準備します。

• 測定する各分析試料に対し、キャリブレーションカーブを生成します。

• 代表的標本、および非定型標本を含め、分析試料の推定濃度範囲を網羅するようにしま

す。

• カーブの生成に、6~8の標準を使用します。

これは包括的なリストではありません。実験室におけるキャリブレーションカーブの作成に

関するベストプラクティスを決定する際には、他のガイダンスも参照する必要があります。

注:分析ランにおいて、1点キャリブレーション標準が使用される場合もあります。1点キャリブレーションは、マトリクスブランクサンプル、および1つの標準濃度を使用して実行します。装置の反応および分析試料濃度の間の関係は、これら2つの点で作成される線によって決定されます。収集メソッドおよび処理メソッドのどちらも、目的の用途に対する許可

を得る前に検証を行う必要があります。

回帰方程式

このセクションでは、回帰曲線の計算に使用する式について説明します。以下の各式では、

xはStandard(標準)サンプルにおける分析物濃度を表し、yは対応するピークの面積または高さを表します。回帰に使用する正確な変数は、表 2-2に示すように、内部標準が使用されているかどうか、およびピーク面積とピーク高さのどちらが使用されているかによって異なり

ます。

表 2-2 回帰変数

yx面積の使用内部標準の使用

Aa / AisCa / Cis / DFはいはい

Ha / HisCa / Cis / DFいいえはい

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド29 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

動作原理

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表 2-2 回帰変数 (続き)

yx面積の使用内部標準の使用

AaCa/ DFはいいいえ

HaCa/ DFいいえいいえ

各値の意味:

• Ca = 実際の分析物濃度

• Cis = 内部標準の濃度

• DF = 希釈係数

• Aa = 分析物のピーク面積

• Ais = 内部標準のピーク面積

• Ha = 分析物のピーク高さ

• His = 内部標準のピーク高さ

重み付け係数

表 2-3は、重み付け係数 (式にあるw) を7種類の重み付けのそれぞれで計算する方法を示します。

表 2-3 重み付け係数

重み (w)重み付けの種類

常に1.0なし

|x| < 10-5の場合、w = 105

。そうでない場合、w = 1 / |x|。1 / x

|x| < 10-5の場合、w = 1010

。そうでない場合、w = 1 / x2。1 / x2

|y| < 10-8の場合、w = 108

。そうでない場合、w = 1 / |y|。1 / y

|y| < 10-8の場合、w = 1016

。そうでない場合、w = 1 / y2。1 / y2

x < 0の場合、エラーが生成。 x < 10-5の場合、w = ln 105

。そうでな

い場合、w = |ln x|。ln x

y < 0の場合、エラーが生成。 y < 10-8の場合、 = ln 108

。そうでない

場合、w = |ln y|。ln y

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E30 / 252

動作原理

Page 31: SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド Acquisition パネル.....74 ユーザーワーク Analysts.....76 Method Developers.....76 Administrators.....77 レビュアー.....77

回帰種類

キャリブレーションカーブ標準の分析試料ピークの面積は、既知の濃度に対してプロットさ

れます。それに続き、線がポイントにフィッティングされます。この回帰線は未知サンプル

の濃度を計算するために使用されます。

Analyticsワークスペースで、次の種類の回帰がキャリブレーションカーブのために利用できます:

• 直線 (y = mx + b)

• 0を通る直線 (y = mx)

• 平均レスポンスファクター

• 二次式 (y = a2 + bx + c)

• Power

• Wagner

• Hill

同様に、以下を含む異なる種類の重み付けが回帰のために利用できます:

• なし

• 1/x

• 1/x2

• 1/y

• 1/y2

• ln(x)

• ln(y)

線型

線型キャリブレーション方程式:

y = mx + b

傾きおよび切片は以下のように計算されます:

ここで:

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド31 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

動作原理

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Linear Through Zero

ゼロ点を通る線形キャリブレーション方程式:

y = mx

傾きは以下のように計算されます:

平均応答係数

平均応答係数キャリブレーション:

y = mx

これは、ゼロ点を通る線形用方程式と同じものです。しかし、以下の通り、傾きは別個に算

出されます:

応答係数の標準偏差:

ここで:

注: xの値が0であるポイントは、合計から除外されます。

ポイントの線に直線性および湾曲が見られる場合、それらの間で線を作成する際に線形回帰

または二次回帰の代わりに指数回帰を使用してください。

二次

二次キャリブレーション方程式:

y = a2x2 + a1x + a0

多項式係数は以下のように計算されます:

a2 = (b2/b0 - b5/b3) / (b1/b0 - b4/b3)

a1 = b5/b3 - a2b4/b3

ここで:

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E32 / 252

動作原理

Page 33: SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド Acquisition パネル.....74 ユーザーワーク Analysts.....76 Method Developers.....76 Administrators.....77 レビュアー.....77

Power

べき関数キャリブレーション方程式:

y = axp

線形キャリブレーション用の方程式が上記の説明に従って使用され、傾き(m)および切片(b)の計算が行われます。ただし、この方程式中のxはln xに、yはln yに置き換えられます。この場合、aおよびpは以下のように計算されます:

a = eb

p = m

xまたはyの値のいずれかが負の数、またはゼロである場合、エラーが報告されます。

Wagner

ワグナーキャリブレーション方程式:

ln y = a2 (ln x)2 + a1 (ln x) + a0

二次キャリブレーション用の方程式が上記の説明に従って使用され、a0, a1、およびa2の計算

が行われます。ただし、この方程式中のxはln xに、yはln yに置き換えられます。

xまたはyの値のいずれかが負の数、またはゼロである場合、エラーが報告されます。

Hill

ヒルキャリブレーション方程式:

y = (a + bxn) / (c + xn)

a、b、c、およびnについて解くための解析関数を提供することはできません。その代わり、レーベンバーグ・マーカート反復法を使って係数が決定されます。

定性分析

定性分析とは、ターゲット化合物または未知の化合物を同定することです。質量分析では、

質量精度、保持時間、同位体パターン、ライブラリ検索、式の検出を使用して、どの化合物

が存在するのかを特定します。このようなツールをすべて組み合わせて使用することで、未

知のサンプルに含まれるターゲット化合物および非ターゲット化合物の両方の同定において

信頼性を高めることができます。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド33 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

動作原理

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質量精度

サンプル中の既知のターゲット化合物を同定する場合は、化合物の質量精度に注目し、その

化合物に対して可能性のあるヒットの質量精度が、一定の許容範囲内に収まっているかどう

かを確認すると便利です。例えば、イマザリルはC14H14Cl2N2Oの化学式を持ち、その質量は296.0483で、小数点以下は4桁です。プロトン化された付加物は正電荷を持つイオンであり、通常は正確な飛行時間型質量分析計を使用して検出します。イマザリルのプロトン化された

付加物の質量は297.0556です。サンプルにイマザリルの含有が疑われる場合は、検出された化合物の質量とプロトン化されたイマザリルの質量を比較し、両者がどのくらい類似してい

るかを確認します。化合物の類似性が高い(ppmまたはDa)ほど、ターゲット化合物と一致する可能性が高くなります。

保持時間

ほとんどの高精度質量分析システムは、何らかの種類のクロマトグラフィーを使用していま

す。SCIEX X500 QTOFシステムで使用しているのは、液体クロマトグラフィー(LC)です。LCシステムでは、化合物に対応する既知の標準を使用した保持時間が設定されています。この

時間を使用して、サンプル中の既知のターゲット化合物を同定します。未知のサンプルに特

定の化合物が含まれると思われる場合、その保持時間と標準から設定された保持時間が近い

ほど、未知の化合物を同定できる可能性が高くなります。保持時間は変更が可能で、更新す

る必要があります。

同位体パターン

正確な質量システム上で化合物から得たフルスキャンのマススペクトルは、分子式に基づく

明確な同位体パターンを持ちます。図 2-7は、イマザリルの同位体パターンを示したものです。

図 2-7 同位体パターン

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E34 / 252

動作原理

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ライブラリ検索

未知のサンプルから取得したMS/MSスペクトルを、基準スペクトルを持つ化合物のデータベースと比較するという手法は、定性分析における最も強力なツールの1つです。この手法ではライブラリ検索アルゴリズムを使用し、サンプルの未知のスペクトルを比較してから、そのス

ペクトルと既知のスペクトルおよびデータベースのスペクトルとの一致を試みます。一致の

結果が類似していて、報告されるスコアが高いほど、その化合物を同定できている可能性が

高くなります。

純度、適合性、逆適合性は、以下のように計算されます。

• (補正された)ライブラリスペクトルと(補正された)未知のスペクトルの両方で、特定

の質量にピークが存在する場合で、その強度比がユーザー指定の制限内である場合、ライ

ブラリスペクトルでのピークの強度は未知のスペクトルの強度と同じ値に設定されます。

• 純度は以下のように計算されます。

100.0 (ULtotal)2 / (Utotal•Ltotal) 各値の意味:

Utotal = ∑ Um•Um

Ltotal = ∑ Lm•Lm

ULtotal = ∑ Um•Lm

合計には、強度UmおよびLmが質量で重み付けされた、つまり補正された未知のエントリお

よびライブラリエントリの平方根であるすべての質量が含まれます。純度は常に0から100の範囲に収まり、ライブラリスペクトルと未知のスペクトルの類似性を示す尺度となりま

す。

• 適合性は純度とまったく同じ方法で計算されますが、合計に含まれるのがライブラリスペ

クトルに出現する質量だけである点が異なります。合計から何らかの項が削除されるわけ

ではないため、LtotalまたはULtotalに影響が及ぶことはありません。適合性は、ライブラリス

ペクトルが未知のスペクトルに含まれる程度を示す尺度となります。適合性が高く純度が

低い場合、その未知のスペクトルは純度が低いものの、ライブラリの化合物を含む可能性

が高いことを示します。

• 逆適合性も純度と同じ方法で計算されますが、合計に含まれるのが未知のスペクトルに出

現する質量だけである点が異なります。逆適合性は、未知のスペクトルがライブラリスペ

クトルに含まれる程度を示す尺度となります。

式の検出

式の検出アルゴリズムでは、正確な質量数を使用して化合物に対応する化学式を予測しよう

とします。これは、正確な質量と質量分析装置から生成されたMSおよびMS/MSスペクトルに基づいたものです。そのため、Formula Finderのスコアが高いからといって、サンプル中の化合物が必ずしもFormula Finderによって同定されたものではないことを認識しておくことが重要です。多くの場合は数ppmの質量誤差の範囲内で複数の式が一致します。注意を払い、他の確認テストを実行してから、Formula Finderを使用して化合物を同定する必要があります。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド35 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

動作原理

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可能性のある式のリストは、前駆体質量の精度、同位体パターン、およびMS/MSフラグメンテーションを使用して特定します。提示される式には、前駆体質量の精度と一致するフラグ

メントの平均MS/MS質量精度に基づいてスコアが付けられます。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E36 / 252

動作原理

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警告!人的危害の危険。システムを使用する際は、ドキュメントに記載された指示

に従ってください。装置がSCIEXによって規定された方法で使用されない場合、装置による保護機能が損なわれることがあります。

システムの起動

警告!感電の危険性。緊急時にシステムを主電源コンセントから外せるようにして

おいてください。主電源コンセントの周囲に物を置かないでください。

注:装置を操作する前に、操作上の予防措置および制限事項該当ページ 8に記載の安全性に関する情報をお読みください。

前提条件

• 『設置計画概要書』に規定されている施設要求事項に適合していること。『設置計画概

要書』には、主電源および接続、圧縮空気、窒素、粗引きポンプ、換気、排気、施設の

清掃の各要件に関する情報が掲載されています。『設置計画概要書』のコピーが必要な

場合は、弊社宛てにご連絡ください。連絡先情報については、sciex.com/contact-us

• イオン源排気ガス、圧縮空気、窒素ガスが質量分析装置に接続されていること。

• 4 Lイオン源排気ドレインボトルが、質量分析装置の背面にある排気排出接続、およびラボ換気システムに接続されていること。

• イオン源排気ホースが質量分析装置、ドレインボトル、換気連結部にしっかりと固定さ

れていること。

• 質量分析装置のコンビニエンススイッチがオフになっていて、主電源ケーブルが質量分

析装置に差し込まれていること。

• 質量分析装置および粗引きポンプの主電源ケーブルが200 VAC~240 VAC主電源に差し込まれていること。

1. 粗引きポンプの電源を入れます。

開始/停止スイッチは粗引きポンプの主電源接合部の隣にあります。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド37 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

3取扱説明書—ハードウェア

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図 3-1 粗引きポンプ – 開始/停止スイッチ

2. 質量分析装置のコンビニエンススイッチをオンにします。図 2-3または図 2-4を参照してください。

3. コンピュータの電源を入れます。

4. SCIEX OSソフトウェアを開きます。

システムのシャットダウンと大気開放

一部の手順では、システムをシャットダウンする必要があります。その他にも、大気開放が

必要になる場合があります。次の手順に従ってシステムをシャットダウンし、必要に応じて

大気開放します。

注:インプットガス供給を外す必要がある場合、外す前にガスラインの圧力を開放します。

ヒント!質量分析装置を一定期間使用しない場合は、イオン源をすぐ使用できる状態にし

たままStandbyモードにしておいてください。質量分析装置をシャットダウンさせるには、次の手順に従ってください。ターボポンプの回転が止まるまで、粗引きポンプを停止させ

ないでください。

1. 継続中のスキャンを完了させるか、停止してください。

注意:ダメージを与える恐れがあります。システムをシャットダウンする前に、サンプ

ルフローを停止します。

2. システムのサンプルフローを停止します。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E38 / 252

取扱説明書—ハードウェア

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3. SCIEX OSソフトウェアで、デバイスが有効になっている場合は無効化してください。

4. ソフトウェアを閉じます。

5. 必要に応じて、次の手順に従ってシステムを大気開放します。

注:真空インターフェースのフルクリーニング実行前、Q0領域のクリーニング前、および粗引きポンプオイルの交換前にシステムを大気開放してください。詳細については、

有資格保守要員(QMP)またはFSEにお問い合わせください。

a. Ventボタンを3秒間押します。

真空LEDが素早く(ポンプ停止時よりも速く)点滅し始めます。ターボポンプの回転速度が徐々に落ちます。

b. 粗引きポンプの電源を切ってください。システムを20分間大気開放します。

6. 質量分析装置のコンビニエンススイッチを切ります。図 2-3 該当ページ 22または図 2-4 該当ページ 23を参照してください。

7. 質量分析装置の主電源ケーブルを、主電源コンセントから取り外します。

8. (システムを大気開放する場合)粗引きポンプの電源供給ケーブルを、主電源コンセントから取り外します。

9. 質量分析装置の大気開放を行い、8時間以上使用しない場合は、窒素ガス供給を切ります。

ガス供給を切るまでは、装置がシャットダウンされて大気開放されても4 L/minの割合でカーテンプレートから窒素ガスが流れ続けます。

質量分析装置の大気開放後

• クイック状態チェックの実行該当ページ 207.

• 解像度のドリフトが開始後16~24時間で発生した場合、クイックステータスチェックを再度実施します。

ダイバーターバルブ

ダイバーターバルブは、2つのポジションと6つのポートを持つバルブです。インジェクターモードまたはダイバーターモードで配管することができます。インジェクターモードでは、

サンプルループを使用して構成し、サンプル注入に対応することができます。ダイバーター

モードで、各LCランの最初にサンプルを廃棄に切り替えるよう構成することができます。

注意: 潜在的に正しくない結果。運転中、ダイバーターバルブボタンを押さないでくださ

い。データが不正確になる場合があります。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド39 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

取扱説明書—ハードウェア

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インジェクターモードでのダイバーターバルブ配列

バルブが位置Aの場合、サンプルが外部ループを流れます。バルブが位置Bへ切り替わった場合、サンプルが注入されます。

• インジェクターモードのバルブを配列します。

図 3-2 ダイバーターバルブ:インジェクターモード位置A

図 3-3 ダイバーターバルブ:インジェクターモード位置B

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E40 / 252

取扱説明書—ハードウェア

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説明項目

サンプルイン1

排出2

サンプルループ(ポート3および6)3

モバイルフェーズイン4

カラムへ(カラムが設置されていない場合、質量分析装置へ)5

ダイバーターモードでのダイバーターバルブ配列

バルブが位置Aの場合、フローは廃棄側に流れます。バルブを位置Bに変更すると、フローは質量分析装置側に流れます。

• ダイバーターモードのためにバルブを測定してください。

図 3-4 ダイバーターバルブ:ダイバーターモード位置A

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド41 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

取扱説明書—ハードウェア

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図 3-5 ダイバーターバルブ:ダイバーターモード位置B

説明項目

質量分析装置用1

カラムから2

排出3

キャリブラント供給システム

キャリブラント供給システム(CDS)では、質量分析装置の自動質量キャリブレーションにキャリブレーション溶媒を導入することで、バッチ測定全体を通して装置の質量精度を維持

します。

キャリブレーションには約1分半しかかからないため、キャリブレーションは頻繁に実行することをお勧めします。

CDSボトルの交換

警告! 有害化学物質の危険性。化学製品の安全性データシートを参照し、化学物質

の取り扱い、保管、処理についての全ての推奨安全手順に従ってください。安全衛

生対策については、化学物質に関する注意事項該当ページ11を参照してください。

CDSは、最大で2本のキャリブラントボトルに対応しています。ボトル1はポジティブキャリブラント溶液で使用し、ボトル2はネガティブキャリブラント溶液で使用します。二次汚染を防ぐため、ボトルは正しい方向で取り付けてください。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E42 / 252

取扱説明書—ハードウェア

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1. ボトルを反時計回りに回して、CDSから取り外します。

2. 新しいボトルを時計回りに回して取り付けます。

CDSの開始

CDSをフラッシュする場合、またはチューニング中に溶液を導入する場合は、ダイレクトコントロール機能を使用して手動でCDSを開始します。

1. 状態パネルで、「Direct CDS Control(ダイレクトCDSコントロール)」アイコン( )

をクリックします。

「Device Control(デバイス制御)」ダイアログが表示されます。

図 3-6 Device Control (CDS)

2. 「Start(開始)」をクリックします。

CDSの停止

1. 状態パネルで、「Direct CDS Control(ダイレクトCDSコントロール)」アイコン( )

をクリックします。

2. 「Stop(停止)」をクリックします。

CDSのフラッシュ

警告! 有害化学物質の危険性。化学製品の安全性データシートを参照し、化学物質

の取り扱い、保管、処理についての全ての推奨安全手順に従ってください。安全衛

生対策については、化学物質に関する注意事項該当ページ11を参照してください。

別のキャリブラント溶液を取り付ける前に、必ずCDSチューブをフラッシュして既存のキャリブラントを取り除いてください。この手順は、両方のCDSボトルに適用されます。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド43 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

取扱説明書—ハードウェア

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必要な材料

• 洗浄溶液のボトル(水とアセトニトリルを1:1で混合)

• 廃棄物コンテナ

1. キャリブラントボトルを取り外します。

2. キャリブラントチューブの両端を廃棄物コンテナに入れます。チューブを液体に浸さないように注意してください。

装置から排出される溶液に対応できるように、コンテナは最低でも20 mLの溶液を余分に保持できる必要があります。

3. SCIEX OSで、次のステップに従ってCDSを洗浄モードに移行します。

a. Status パネルで、Direct CDS Controlアイコンをクリックします。

Device Controlダイアログが表示されます。

図 3-7 Device Control (CDS)

b. Wash Modeを選択します。

これにより、ボトル位置の背後にあるボトルセンサーによってポンプを制御できるように

なります。

4. ボトルセンサーのスイッチを1分間押したままにして、ポンプを始動します。

CDSが空気を吸い込み、液体を排出します。ポンプを停止するには、スイッチの押下をやめます。

5. 廃液を廃棄します。

6. 吸入チューブ(左側)を洗浄液のボトルに入れます。

7. リターンチューブ(右側)を廃棄ボトルに入れます。

8. ソフトウェアが洗浄モードのままであることを確認します。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E44 / 252

取扱説明書—ハードウェア

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9. ボトルセンサーのスイッチを1分間、または20 mLの溶媒が廃棄物コンテナに溜まるまで押し続けます。

10.廃液を廃棄します。

11.ステップ 2からステップ 5を繰り返して、洗浄液をパージします。

12.(オプション)吸入チューブを新品のキャリブラント溶液のボトルに入れ、ステップ 6からステップ 9を繰り返して新品のキャリブラントでCDSをフラッシュします。サンプルを保護するため、パージは10秒間だけ、または2 mL~3 mLの溶液が廃棄物コンテナに溜まるまでの間に留めてください。

ヒント!新品のキャリブラントをキャリブラントボトルで再循環させる前に、新品の

キャリブラント溶液でチューブをフラッシュしておくことをお勧めします。

13. SCIEX OSで、Wash Modeをクリアします。

14.リターンチューブをキャリブラントボトルに入れ、ボトルを取り付けます。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド45 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

取扱説明書—ハードウェア

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以下のために Configuration ワークスペースを使用します:

• デバイスを有効または無効にする

• デバイスを追加または削除する

• デバイス設定を編集する

• デバイスをテストする

デバイスの追加

1. Configurationワークスペースを開きます。

2. 左側のパネルの Devicesをクリックします。

3. Deactivateをクリックします。

4. Addをクリックします。

Deviceダイアログが開きます。

5. Typeリストで、必要な種類を選択します。

6. Modelリストで、必要なモデルを選択します。

7. Settingsをクリックして、設定の編集またはデフォルト値の復元を行います。

8. Test Deviceをクリックして、デバイスが正しく設定されていて使用可能であることを確認します。

9. Saveをクリックします。

10.必要に応じて、手順 4から手順 9を繰り返します。

11. Activate Devicesをクリックします。

Devices リストで選択されているすべてのデバイスが有効にされます。

デバイス設定の編集

1. Configuration (構成)ワークスペースを開きます。

2. 左側のパネルの Devices (デバイス)をクリックします。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E46 / 252

4デバイスを設定

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3. Deactivateをクリックします。

4. 統合システムまたは質量分析装置のいずれかを選択します。

Included (含まれる) チェックボックスが選択されます。

5. Edit (編集)をクリックします。

「デバイス」ダイアログが表示されます。

6. 必要に応じてデバイスを編集します。

• Settings (設定)をクリックして、デバイスコンポーネントについての情報を見て、デバイスのデフォルト値を復元し、デバイスをテストします。

• Test Device (デバイスのテスト)をクリックして、デバイスが正しく設定されていて使用可能であることを確認します。

7. Test Device (デバイスのテスト)をクリックします。

テストに成功した場合、緑色の情報メッセージが表示されます。そうでない場合は、情報

メッセージは構成が無効で更新が必要であることを示します。

8. Saveをクリックします。

9. Activate Devicesをクリックします。

Devices (デバイス)リストで選択されているすべてのデバイスが有効にされます。

デバイスを削除

注: 削除中のデバイスが統合システムの一部である場合、統合システムのすべてのデバイ

スが削除されます。ユーザーは、統合システムの中の1つのデバイスを削除することはできません。

1. Configuration (構成)ワークスペースを開きます

2. 左側のパネルの Devices (デバイス)をクリックします。

3. Deactivate (無効)をクリックします。

4. デバイスを選択します。

5. Delete (削除)をクリックします。

6. Activate Devices (デバイスを有効にする)をクリックします。

Devices (デバイス)リストで選択されているすべてのデバイスが有効にされます。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド47 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

デバイスを設定

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デバイスを無効にする

1. 「Configuration(構成)」ワークスペースを開きます。

2. 左側のパネルの「Devices(デバイス)」をクリックします。

3. 「Deactivate(無効)」をクリックします。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E48 / 252

デバイスを設定

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このタスクを実行できるのは、管理者またはメソッドディベロッパーの役割が割り当てられ

ているユーザーだけです。

Users概要ユーザーがこの機能へのアクセス権を持っている場合、タイトルにUsersというラベルが付けられます。ユーザーがアクセス権を持っていない場合、タイルは非表示になります。

役割と権限

ユーザーには2つ以上の役割を割り当てることができます。

表 5-1 役割と権限

レビューアAnalystメソッド開発

管理者権限

いいえはいはいはい「キュー」ワークスペースへ

のアクセス

いいえはい*はいはい「バッチ」ワークスペースへ

のアクセス

いいえいいえいいえはい以下の定量化設定へのアクセ

ス:

• プロジェクトの安全エクス

ポート設定

• プロジェクトの修正された

ピーク警告の有効化

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド49 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

5ソフトウェアへのアクセスを設定

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表 5-1 役割と権限 (続き)

レビューアAnalystメソッド開発

管理者権限

いいえいいえはいはい以下のアドバンスト定量化設

定および機能へのアクセス:

• プロジェクト積分のデフォ

ルト

• プロジェクト単位&キャリ

ブレーションのデフォルト

• 処理メソッドの作成

• 結果表の定量化メソッドを

*.qmethodとしてエクスポート

• ロック解除された結果表を

エクスポートして保存

• レポートを作成してロック

解除された結果表を保存

• 列設定の修正

• カスタム列の追加

• 結果表のロック解除

はいいいえはいはいLISに移動

いいえはいはいはい以下の基本定量化設定および

機能へのアクセス:

• 結果表の作成

はいはいはいはい結果のレビュー

いいえいいえはいはいLCメソッド

いいえいいえはいはいMSメソッド

はいはいはいはいデータの探索

はいはいはいはいログを見る

いいえいいえいいえはいログをアーカイブ

いいえいいえはいはいLISを設定

いいえはいはいはいデバイスを設定

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E50 / 252

ソフトウェアへのアクセスを設定

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表 5-1 役割と権限 (続き)

レビューアAnalystメソッド開発

管理者権限

いいえいいえはいはいデバイスアドバンストオプ

ションを設定

いいえいいえいいえはいUsers (ユーザー)ワークスペースにアクセスして、ユーザー

と割り当てられた役割を追加

します。

いいえいいえはいはい質量分析装置の最適化

いいえいいえはいはいプロジェクトの追加

*アナリストはロックされたMSおよびLCメソッドを用いてのみデータを取得できます

Analytics (分析物)機能へのアクセス

注: Analyticsワークスペースからのデータ出力制御方法は、Results Tables のエクスポート、LIMS への転送、およびレポーティングです。Results Tables からのコピーおよびペーストなどのその他の出力データソースは制御されていません。規制上、制御されていない出力メソッ

ドを使用しないでください。

表 5-2 Analytics (分析物)機能へのアクセス

レビューアAnalystメソッド開発者管理者権限

いいえはいはいはいセッションファ

イルの作成

いいえいいえはいはい処理メソッドの

作成

いいえいいえはいはい処理メソッドの

修正

いいえいいえはいはいロック解除され

た結果表のレ

ポートのエクス

ポートおよび作

はいいいえはいはい保存するときに

既存の結果表を

置き換える

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド51 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

ソフトウェアへのアクセスを設定

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表 5-2 Analytics (分析物)機能へのアクセス (続き)

レビューアAnalystメソッド開発者管理者権限

いいえいいえはいはいデフォルトの処

理メソッドの設

定を変更

いいえいいえはいはいデフォルトの処

理メソッドの積

分アルゴリズム

の変更

いいえいいえはいはいデフォルトの処

理メソッドの積

分パラメータの

修正

いいえいいえいいえはいプロジェクトの

修正されたピー

ク警告の有効化

を許可

いいえいいえいいえはいプロジェクトの

安全エクスポー

ト設定を許可

いいえはいはいはい結果表にサンプ

ルを追加

いいえはいはいはい結果表からサン

プルを削除

いいえいいえはいはいサンプル名の修

いいえはいはいはいサンプル種類の

修正

いいえいいえはいはいサンプルIDの修正

いいえはいはいはい実際の濃度の修

いいえはいはいはい希釈係数の修正

いいえいいえはいはいコメントフィー

ルドの修正

いいえはいはいはい手動積分を許可

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E52 / 252

ソフトウェアへのアクセスを設定

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表 5-2 Analytics (分析物)機能へのアクセス (続き)

レビューアAnalystメソッド開発者管理者権限

いいえはいはいはいピークに設定が

見つからないを

許可

いいえはいはいはい結果表にピーク

を含めるまたは

そこから除外

いいえいいえはいはい濃度の単位およ

びフィッティン

グと重み付けの

ための回帰設定

を修正

いいえはいはいはい1つのクロマトグラムのための結

果表の積分パラ

メータを修正

いいえはいはいはい結果表の化合物

のための処理メ

ソッドを修正

はいはいはいはい結果表のメト

リックプロット

の作成、使用、

またはエクス

ポート

いいえいいえはいはいカスタム列の追

加、名前変更、

または修正

いいえいいえはいはいカスタム列の削

いいえいいえはいはい結果表の列設定

の修正

いいえいいえはいはい列設定をプロ

ジェクトのデ

フォルトとして

保存

はいはいはいはい結果表をロック

して保存

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド53 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

ソフトウェアへのアクセスを設定

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表 5-2 Analytics (分析物)機能へのアクセス (続き)

レビューアAnalystメソッド開発者管理者権限

いいえいいえはいはい結果表をロック

解除して保存

はいいいえはいはい結果表をレ

ビューして保存

いいえいいえはいはいバーコードの修

いいえいいえはいはい外部キャリブ

レーションのエ

クスポート、イ

ンポート、また

は削除

いいえいいえはいはい比較サンプル割

り当ての変更

いいえいいえはいはいMSMSスペクトルをライブラリに

追加

ユーザーの追加

1. Usersワークスペースを開きます。

2. Addをクリックします。

Select User or Groupダイアログが開きます。

3. 必要に応じてユーザーを追加して、OKをクリックします。

4. OKをクリックします。

新規ユーザーが、ワークスペースの左側パネルのユーザーのリストに含められます。

5. 左側パネルの新規ユーザーをクリックします。

6. ワークスペースの右側パネルで、ユーザーの権限を選択します。

ヒント!ユーザーには2つ以上の役割を割り当てることができます。

7. Saveをクリックします。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E54 / 252

ソフトウェアへのアクセスを設定

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ユーザーを無効にする

1. 「Users(ユーザー)」ワークスペースを開きます。

2. 左側のパネルでユーザーまたはグループをクリックします。

3. Active (有効化)チェックボックスをクリアします。

4. Saveをクリックします。

ユーザーの削除

この手順を使用して、ユーザーをソフトウェアから削除します。ユーザーがMicrosoft Windowsから削除された場合、ユーザーはSCIEX OSからも削除される必要があります。

1. Usersワークスペースを開きます。

2. Usersリストでユーザーまたはグループをクリックします。

3. Remove Userをクリックします。

全画面モードの有効化

この機能を選択して、SCIEX OSソフトウェアを主要アプリケーションとして使用します。ユーザーは、ソフトウェアを閉じたり、その他のソフトウェアプログラムにアクセスしたりする

ことはできません。

1. Configuration (構成)ワークスペースを開きます。

2. 左側のパネルの General (一般)をクリックします。

3. General (一般)から、Enable (有効化)を選択してFull Screen Mode (全画面モード)を有効にします。

4. Saveをクリックします。

実験室情報管理システム(LIMS)の設定この機能を使用して、LISサーバーに接続します。ユーザーは、バッチ情報をLISからインポートでき、またそこに結果をエクスポートすることもできます。

1. Configurationワークスペースを開きます。

2. 左側のパネルのLIMS Communicationをクリックします。

3. サーバーアドレスをLIMS Serverフィールドに入力します

4. Enabledチェックボックスを選択します。

5. Saveをクリックします。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド55 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

ソフトウェアへのアクセスを設定

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キューオプションの選択

キューは、保留中の送信済みサンプルのリスト、または手動で送信されたサンプルを1つずつ進行させます。各サンプルは、選択された測定メソッドを使用して実行されます。すべての

サンプルの測定が完了するとキューが停止し、システムは準備完了状態になります。また、

「Instrument Idle Time(装置のアイドル時間)」フィールドに設定されている時間が経過すると、システムはスタンバイ状態になります。スタンバイ状態では、LCポンプとカラムオーブン、さらには質量分析装置の一部のコンポーネントの電源がオフになります。ただし、サン

プルの劣化を防ぐため、オートサンプラーの温度制御はオンの状態が保たれます。

最後の測定が完了した後にキューの実行状態を保つ時間の長さを変更できるのは、管理者ま

たはメソッドディベロッパーに割り当てられているユーザーだけです。この時間が経過する

と、装置はスタンバイ状態になります。

1. 「Configuration(構成)」ワークスペースを開きます。

2. 左側のパネルの「Queue(キュー)」をクリックします。

3. 「Instrument idle time(装置のアイドル時間)」フィールドに、システムが準備完了状態を保つ時間を分単位で入力します。この時間が経過すると、スタンバイ状態に移行しま

す。

4. 「Maximum number of acquired samples allowed(測定するサンプルの最大数)」フィールドに数値を入力します。

5. 「If a sample is missing, proceed to the next sample(サンプルが見つからない場合は次のサンプルに進む)」チェックボックスを選択します。サンプルが見つからない場合、

キューは次のサンプルに進みます。

6. 「If calibration fails, proceed to the next sample(キャリブレーションに失敗した場合は次のサンプルに進む)」チェックボックスを選択します。キャリブレーションに失敗し

た場合、キューは次のサンプルに進みます。

7. 「Save calibration data (in the current project)(キャリブレーションデータを現在のプロジェクトに保存する)」チェックボックスを選択します。

8. 「Save(保存)」をクリックします。

地域設定を選択

この機能は、Control Panel (コントロールパネル) で選択された地域設定と言語設定を適用します。ピリオド「.」またはカンマ「,」のみが小数点の記号として使用できます。桁のグルーピングには対応していません。

1. Configuration (構成)ワークスペースを開きます。

2. 左側のパネルの General (一般)をクリックします。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E56 / 252

ソフトウェアへのアクセスを設定

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3. Regional Settings (地域設定)の下のGeneral (一般)パネルで、Apply (適用)をクリックします。

Windowsオペレーティングシステムで設定されている地域設定は、コンピュータを再起動した後にソフトウェアに適用されます。

4. Saveをクリックします。

5. コンピュータを再起動します。

化合物ライブラリの管理

LibraryViewパッケージのインポート

1. ManageペインでCompoundsリストを展開します。

2. All Compoundsをクリックします。

3. Importアイコンをクリックします。

4. Library ImporterダイアログにあるLibraryView Package (*.lbp)をクリックします。

5. Openダイアログで、目的のファイルまで移動します。

6. ファイルを選択してOpenをクリックします。

7. 次のいずれかを実行します。

• Library ImporterダイアログのCompound列の上にあるAllをクリックします。

• Library Importerダイアログにある適切な行の内側をクリックします。

ヒント! Searchフィールドを使用すると、目的の化合物を簡単に探すことができます。検索条件を入力すると、表示されている列が検索され、指定した条件と一致する

情報だけを表示するように更新されます。

8. 次のいずれかを実行して、ライブラリに化合物を追加します。

• Add to Compound Libraryリストから適切なライブラリを選択します。

• ライブラリの名前をAdd to Compound Libraryリストフィールドに入力します。

9. Nextをクリックします。

注:データベースにすべての化合物がコピーされる前にインポートをキャンセルした場

合でも、すでにインポート済みの化合物はそのままデータベースに保持されます。イン

ポート前の状態に戻されることはありません。

10.必要に応じて、競合を解決します。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド57 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

ソフトウェアへのアクセスを設定

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11. Finishをクリックします。

化合物データベースのインポート

1. ManageペインでCompoundsリストを展開します。

2. All Compoundsをクリックします。

3. Importアイコンをクリックします。

4. 次のいずれかを実行します。

• Library ImporterダイアログにあるDiscoveryQuant Compound Database (*.mdb)をクリックします。

• Library ImporterダイアログにあるAnalyst Compound Database (*.mdb)をクリックします。

5. Openダイアログで、目的のファイルまで移動します。

6. ファイルを選択してOpenをクリックします。

7. 次のいずれかを実行します。

• Library ImporterダイアログのCompound列の上にあるAllをクリックします。

• Library Importerダイアログにある適切な行の内側をクリックします。

ヒント! Searchフィールドを使用すると、目的の化合物を簡単に探すことができます。検索条件を入力すると、表示されている列が検索され、指定した条件と一致する

情報だけを表示するように更新されます。

8. 次のいずれかを実行して、ライブラリに化合物を追加します。

• Add to Compound Libraryリストから適切なライブラリを選択します。

• ライブラリの名前をAdd to Compound Libraryリストフィールドに入力します。

9. Nextをクリックします。

注:データベースにすべての化合物がコピーされる前にインポートをキャンセルした場

合でも、すでにインポート済みの化合物はそのままデータベースに保持されます。イン

ポート前の状態に戻されることはありません。

10.必要に応じて、競合を解決します。

11. Finishをクリックします。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E58 / 252

ソフトウェアへのアクセスを設定

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Cliquidパッケージのインポート

1. ManageペインでCompoundsリストを展開します。

2. All Compoundsをクリックします。

3. Importアイコンをクリックします。

4. Library ImporterダイアログにあるCliquid Package (*.clq)をクリックします。

5. Openダイアログで、目的のファイルまで移動します。

6. ファイルを選択してOpenをクリックします。

7. 次のいずれかを実行します。

• Library ImporterダイアログのCompound列の上にあるAllをクリックします。

• Library Importerダイアログにある適切な行の内側をクリックします。

ヒント! Searchフィールドを使用すると、目的の化合物を簡単に探すことができます。検索条件を入力すると、表示されている列が検索され、指定した条件と一致する

情報だけを表示するように更新されます。

8. 次のいずれかを実行して、ライブラリに化合物を追加します。

• Add to Compound Libraryリストから適切なライブラリを選択します。

• ライブラリの名前をAdd to Compound Libraryリストフィールドに入力します。

9. Nextをクリックします。

10.必要に応じて、Instrument NameダイアログのInstrument Nameフィールドに質量分析装置の名前を入力します。

11. OKをクリックします。

注:データベースにすべての化合物がコピーされる前にインポートをキャンセルした場

合でも、すでにインポート済みの化合物はそのままデータベースに保持されます。イン

ポート前の状態に戻されることはありません。

12.必要に応じて、競合を解決します。

13. Finishをクリックします。

Excelファイルのインポート

1. ManageペインでCompoundsリストを展開します。

2. All Compoundsをクリックします。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド59 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

ソフトウェアへのアクセスを設定

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3. Importアイコンをクリックします。

4. Library ImporterダイアログにあるExcel file (*.xls)をクリックします。

5. Openダイアログで、目的のファイルまで移動します。

6. ファイルを選択してOpenをクリックします。

7. Library Importerダイアログにある適切なExcel worksheet to importを選択します。

8. ワークシートに列ヘッダーが含まれている場合は、Selected Excel Worksheet has headersチェックボックスを選択します。

9. 必要に応じて、Instrument NameダイアログのInstrument Nameフィールドに質量分析装置の名前を入力します。

10.情報の各列に対して適切な見出しを選択します。

ヒント! Compound:CompoundIdおよびCompound:Nameは必須の選択肢です。必要のない情報については、---[not used]---を選択します。

11. Nextをクリックします。

12.次のいずれかを実行します。

• Library ImporterダイアログのCompound列の上にあるAllをクリックします。

• Library Importerダイアログにある適切な行の内側をクリックします。

ヒント! Searchフィールドを使用すると、目的の化合物を簡単に探すことができます。検索条件を入力すると、表示されている列が検索され、指定した条件と一致する

情報だけを表示するように更新されます。

13.次のいずれかを実行して、ライブラリに化合物を追加します。

• Add to Compound Libraryリストから適切なライブラリを選択します。

• ライブラリの名前をAdd to Compound Libraryリストフィールドに入力します。

14. Nextをクリックします。

注:データベースにすべての化合物がコピーされる前にインポートをキャンセルした場

合でも、すでにインポート済みの化合物はそのままデータベースに保持されます。イン

ポート前の状態に戻されることはありません。

15.必要に応じて、競合を解決します。

16. Finishをクリックします。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E60 / 252

ソフトウェアへのアクセスを設定

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ライブラリデータベースのスナップショットのインポート

注意:データ損失の発生要因。このパッケージの情報は、LibraryViewTMソフトウェアデー

タベースのすべての既存のデータを上書きします。インポートの開始後は、操作を取り消

すことはできません。この手順を実行する前に、現在のデータベースのバックアップを作

成しておくことをお勧めします。

1. ManageペインでCompoundsリストを展開します。

2. All Compoundsをクリックします。

3. Importアイコンをクリックします。

4. Library ImporterダイアログにあるOverwrite Database with Library Snapshot (*.lbp)をクリックします。

5. WarningダイアログでYesをクリックします。

6. Openダイアログで、目的のファイルまで移動します。

7. ファイルを選択してOpenをクリックします。

8. Finishをクリックします。

サードパーティーのライブラリパッケージのインポート

1. ManageペインでCompoundsリストを展開します。

2. All Compoundsをクリックします。

3. Importアイコンをクリックします。

4. Library ImporterダイアログにあるThird Party Library Package (*.tplp)をクリックします。

5. Openダイアログで、目的のファイルまで移動します。

6. ファイルを選択してOpenをクリックします。

7. 次のいずれかを実行します。

• Library ImporterダイアログのCompound列の上にあるAllをクリックします。

• Library Importerダイアログにある適切な行の内側をクリックします。

ヒント! Searchフィールドを使用すると、目的の化合物を簡単に探すことができます。検索条件を入力すると、表示されている列が検索され、指定した条件と一致する

情報だけを表示するように更新されます。

8. 次のいずれかを実行して、ライブラリに化合物を追加します。

• Add to Compound Libraryリストから適切なライブラリを選択します。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド61 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

ソフトウェアへのアクセスを設定

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• ライブラリの名前をAdd to Compound Libraryリストフィールドに入力します。

9. Nextをクリックします。

注:データベースにすべての化合物がコピーされる前にインポートをキャンセルした場

合でも、すでにインポート済みの化合物はそのままデータベースに保持されます。イン

ポート前の状態に戻されることはありません。

10.必要に応じて、競合を解決します。

11. Finishをクリックします。

ライセンスのあるLibraryViewパッケージのインポート

注: LibraryViewTMソフトウェアがインストールされている必要があります。

ライセンスのあるライブラリは、DVDから、またはSCIEXのWebサイトからダウンロードした.zipアプリケーションファイルからインストールできます。アプリケーションファイルには、化

合物名、化合物トランジション情報、化合物ライブラリスペクトルを含めることができます。

1. 管理者権限を持つMicrosoft Windowsのユーザーとしてコンピュータにログオンします。

2. 次のいずれかを実行します。

• ライブラリをDVDからインストールする場合は、DVDドライブにDVDを挿入してステップ5に進みます。

• ライブラリをダウンロードしたファイルからインストールする場合は、ステップ3に進みます。

3. 必要な.zipファイルをSCIEXのウェブサイトからダウンロードします。

ヒント!インストール時の問題を避けるため、ファイルはコンピュータデスクトップ以

外の場所に保存してください。

4. ダウンロードが完了したら、ダウンロードしたファイルを右クリックしてExtract Allをクリックします。

5. 展開したファイルまたはDVDにブラウズして、Library.exeをダブルクリックします。

ヒント! User Account Controlダイアログが開いた場合は、Yesをクリックします。

ヒント! LibraryView Setupの(Not Responding)メッセージダイアログが開いた場合は、メッセージダイアログを閉じ、Library.exeファイルを右クリックしてRun as administratorオプションを選択し、インストールを再度開始します。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E62 / 252

ソフトウェアへのアクセスを設定

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6. LibraryViewPackages Feature UnavailableダイアログでSoftware Activationをクリックします。

LibraryViewPackages Activationダイアログが開きます。

7. 表示されるフィールドにライセンスキーを正確に入力します。

ライセンスキーを入手できない場合は、sciex.com/request-supportにお問い合わせください。

8. Generate Computer IDをクリックします。

この操作により、ワークステーションの固有の識別子が作成されます。

9. Copy ID to Clipboardをクリックします。

10.指示に従ってライセンスを取得します。

注:ライセンスを取得するにはインターネットへのアクセスが必要です。 コンピュー

タがインターネットに接続されていない場合は、生成されたコンピュータIDをメモしておきます。インターネットに接続されているコンピュータでSCIEX Webサイトのライセンスページにアクセスし、指示に従ってライセンスを取得します。

必要な情報を送信すると、指定したすべてのメールアドレスにライセンスファイルが配信

されます。

11.ブラウザウィンドウを閉じます。

12.ライセンスファイルが添付されたメールを受信したら、ライセンスファイルをワークステーションのデスクトップにコピーします。

13.「LibraryViewPackages Activation(LibraryViewパッケージの有効化)」ダイアログで「InstallLicense File(ライセンスファイルのインストール)」をクリックします。

14.「Select the new license file to be installed(インストールする新しいライセンスファイルの選択)」ダイアログで、ライセンスファイルにブラウズして選択します。

15.「Open(開く)」をクリックします。

「Select the new license file to be installed(インストールする新しいライセンスファイルの選択)」ダイアログおよび「LibraryViewPackage Activation(LibraryViewパッケージの有効化)」ダイアログが両方とも閉じます。

16.次のいずれかを実行します。

• すべての化合物をインポートするには、Library ImporterダイアログのCompound列の上にあるAllをクリックします。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド63 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

ソフトウェアへのアクセスを設定

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• 個別の化合物をインポートするには、Library Importerダイアログの目的の行内をクリックします。

ヒント! Searchフィールドを使用すると、目的の化合物を簡単に探すことができます。検索条件を入力すると、表示されている列が検索され、指定した条件と一致する

情報だけを表示するように更新されます。

17.「Next(次へ)」をクリックします。

注:データベースにすべての化合物がコピーされる前にインポートをキャンセルした場

合でも、すでにインポート済みの化合物はそのままデータベースに保持されます。イン

ポート前の状態に戻されることはありません。

18.必要に応じて、競合を解決します。

19. Finishをクリックします。

化合物の不一致

化合物のグループを含むライブラリのインストールまたは個別の化合物のインストールを行

う際は、ソフトウェアはパッケージにある化合物と同じ名前または式を持つ化合物がないか

データベースを検索します。そのような化合物が見つかると、ソフトウェアはパッケージに

ある対応する化合物にフラグを立て、ユーザー入力の継続を待ちます。

ユーザーが持つオプション:

• 化合物情報を統合する。パッケージにある化合物の新しいスペクトル、遷移、および保持

時間が、データベースに保存されている化合物情報に追加されます。

• 化合物情報を上書きする。パッケージの化合物情報は、データベースに保存されている化

合物情報に置き換れられます。

• 化合物情報を維持する。データベースにある化合物情報は保持され、パッケージの化合物

情報は破棄されます。

不一致の情報は、ユーザーが正しい選択をするのに役立つよう利用可能です。

化合物の不一致の表示

1. Library Importerダイアログの化合物の隣にある「Resolve(解決)」をクリックして、不一致の詳細を表示します。

2. 次のいずれかを実行します。

• 既存の化合物情報を保持し、新しい情報を破棄するには、「Keep Original(元の化合物を維持)」をクリックします。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E64 / 252

ソフトウェアへのアクセスを設定

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• 既存の化合物情報を新しい情報で置き換えるには、「Use New(新しい化合物を使用)」をクリックします。

3. 化合物ごとにステップ1と2を繰り返します。

4. すべての不一致が解消されたら、「Finish(完了)」をクリックします。

化合物の統合

1. 次のいずれかを実行します。

• Library Importerダイアログの「Merge(統合)」をクリックして、インポートパッケージの個別の化合物の新しいスペクトル、トランジション、および保持時間を、データ

ベースに保存されている対応する化合物と統合します。

• Library Importerダイアログの「Merge All(すべて統合)」をクリックして、インポートパッケージのすべての化合物の新しいスペクトル、トランジション、および保持時間

を、データベースに保存されている対応する化合物と統合します。

2. すべての不一致が解消されたら、「Finish(完了)」をクリックします。

化合物の上書き

1. 次のいずれかを実行します。

• データベースに保存されているすべての化合物情報をインポートパッケージからの化

合物情報で上書きする場合は、Library Importerダイアログの「Overwrite All(すべて上書き)」をクリックします。

• データベースに保存されている個別の化合物情報をインポートパッケージからの化合

物情報で上書きする場合は、Library Importerダイアログの目的の化合物の隣にある「Resolve(解決)」をクリックし、「Use New(新しい化合物を使用)」をクリックします。

2. すべての不一致が解消されたら、「Finish(完了)」をクリックします。

元の化合物の維持

1. 次のいずれかを実行します。

• データベースに保存されているすべての化合物情報を維持し、インポートパッケージ

からの化合物情報を破棄する場合は、Library Importerダイアログの「Keep All Original(元の化合物をすべて維持)」をクリックします。

• データベースに保存されている個別の化合物情報を維持し、インポートパッケージか

らの化合物情報を破棄する場合は、Library Importerダイアログの「Keep Original(元の化合物を維持)」をクリックします。

2. すべての不一致が解消されたら、「Finish(完了)」をクリックします。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド65 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

ソフトウェアへのアクセスを設定

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化合物の追加

注:化合物は、Edit Libraryオプションを使用してライブラリに追加することもできます。

1. ManageペインでCompoundsリストを展開します。

2. All Compoundsをクリックします。

3. Addアイコンをクリックします。

注:化合物名は必須です。その他の情報は、すべてオプションです。

4. Detailsタブの各フィールドに、必要な情報を入力します。

5. Saveをクリックします。

化合物への質量スペクトルの追加

1. ManageペインでCompoundsリストを展開します。

2. All Compoundsをクリックします。

3. 目的の化合物をダブルクリックします。

4. 目的の化合物をダブルクリックします。

ヒント!Searchフィールドを使用すると、目的の化合物を簡単に探すことができます。検索条件を入力すると、表示されている列が検索され、指定した条件と一致する情報だ

けを表示するように更新されます。

5. 目的の化合物をダブルクリックします。

6. 目的の化合物をダブルクリックします。

ヒント!Searchフィールドを使用すると、目的の化合物を簡単に探すことができます。検索条件を入力すると、表示されている列が検索され、指定した条件と一致する情報だ

けを表示するように更新されます。

7. MS Spectraタブをクリックします。

8. Edit Modeアイコンをクリックします。

9. Add Spectraアイコンをクリックします。

10. Add Mass Spectrum from *.wiff file to CompoundダイアログでOpen *.wiff fileをクリックします。

11. Openダイアログにある適切な.wiffまたは.wiff2ファイルを閲覧してから選択します。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E66 / 252

ソフトウェアへのアクセスを設定

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12. Openをクリックします。

13.次のいずれかを実行して、ライブラリに化合物を追加します。

• IDAデータの場合はサンプルを展開し、左側のナビゲーションペインで目的の化合物を選択します。

• EPS、MRM、ループデータの場合は、目的のサンプルを選択します。

14.次のいずれかを実行して、化合物にスペクトルを追加します。

• IDAデータの場合は、Acquired SpectrumペインでAdd Spectrumをクリックします。

• EPS、MRM、ループデータの場合はTICをダブルクリックし、Acquired SpectrumペインでAdd Spectrumをクリックします。

15.追加するスペクトルごとにステップ7~11を繰り返します。

16. Saveをクリックします。

17. MS SpectraタブでSaveをクリックします。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド67 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

ソフトウェアへのアクセスを設定

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ホームページについて

ホームページは、機能に分割されたワークスペースタイル、Status パネル、リボン、およびランチャーで構成されています。ワークスペースへのアクセスは、ユーザーに割り当てられ

ている役割およびソフトウェアライセンスによって決められます。各ワークスペース内で、

ユーザーは手動で測定を開始、または測定されているデータを見て探索することができます。

図 6-1 ホームページ

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E68 / 252

6取扱説明書 – ソフトウェア

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説明項目

ダークブルーのタイルの左側にあるライトブルーの垂直な線は、ワーク

スペースが開かれ、ワークが進行中で、ユーザーが機能へのアクセスを

持っていることを示します。開いているワークスペースの状態は、タイ

ルに表示されます。

1

ダークブルーのタイルは、ワークスペースが閉じられていることを示し

ます。

2

灰色のタイルは、ワークスペースが有効でないことを示します。3

ワークスペースが開いているときは、閉じるのアイコン (X) が右上隅に表示されます。

4

ランチャーへのアクセスランチャーには、すべてのワークスペースのリ

ストが含まれています。アイコンの右側の をクリックして、ランチャー

を開きます。

5

リボン。リボンとランチャーについて該当ページ 69を参照してください。別のワークスペースに移動するには、リストからワークスペースを

クリックします。現在開いているワークスペースは有効のままで、ワー

クスペースアイコンがリボンに表示されます。有効なワークスペースを

閉じるには、 をクリックします。ホームページに戻るには、 をク

リックします。

6

機能:測定、処理、および管理。アクセスは、ユーザーに割り当てられ

た役割またはライセンスに依存します。

7

システムの状態。タイトルバーをクリックして、Status パネルを表示、または非表示にします。

8

Status パネル。Status パネルについて該当ページ 71を参照してください。9

リボンとランチャーについて

図 6-2 リボン

説明項目

別のワークスペースに移動するには、リストからワークスペースを選択

します。現在開いているワークスペースは有効のままで、ワークスペー

スアイコンがリボンに表示されます。図 6-3を参照してください。

1

有効なワークスペースの名前を表示します。2

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド69 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

取扱説明書 – ソフトウェア

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説明項目

ホームページに戻るには、 をクリックします。3

有効なワークスペースに進むには、ワークスペースアイコンをクリック

します。

4

現在ログインしているユーザーを表示します。5

システム状態を表示します。Status パネルについて該当ページ 71を参照してください。

6

ヘルプを開くには、?をクリックします。7

図 6-3 ランチャー

説明項目

ワークスペースのリストを表示するには、 をクリックします。1

有効なワークスペースの名前を表示します。2

ワークスペースの状態を表示します。ダークブルーの背景は、ワークス

ペースが閉じられていることを示します。左側にあるライトブルーのバー

は、ワークスペースが有効であることを示します。ライトブルーの背景

は、ワークスペースが開いていることを示します。

3

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E70 / 252

取扱説明書 – ソフトウェア

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説明項目

有効なワークスペースを閉じるには、 をクリックします。4

開いているワークスペースを閉じるには、 をクリックします。5

Status パネルについてステータスバーのアイコンおよび色の変化により、システムのステータスが示されます。

Status パネルを使用して、以下を行います:

• プロジェクトを追加または選択します。

• キューに残っているサンプルおよびバッチを測定するために残っている予想時間を見ま

す。

• Configurationワークスペースのデバイスリストで有効にされた個々のデバイスのシステムステータス、またはステータスを表示します。

• ダイレクトデバイスコントロールにアクセスします。

• デバイスの詳細を表示します。

• 質量分析装置、またはLCをスタンバイモードにします。

• TOF MSおよびTOF MS/MSモードの確認およびキャリブレーションを実行します。

• システムの平衡化を行います。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド71 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

取扱説明書 – ソフトウェア

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図 6-4 SCIEX OSステータスパネル

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E72 / 252

取扱説明書 – ソフトウェア

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説明項目

システムの状態を表示します。タイトルバーをクリックして、Status パネルを表示、または非表示にします。

• 準備完了の場合は緑になります

• オフラインが灰色で示されます。

• 平衡化、実行中、および読み込み中の場合は青になります。

• 停止済み、または停止中の場合は黄色になります。

• 故障の場合は赤になります

1

現在のプロジェクトを表示します。矢印をクリックして、既存のプロジェ

クトを選択します。プラス記号をクリックして、プロジェクトを追加し

ます。プロジェクトの追加該当ページ 73を参照してください。

2

キューにあるサンプルの状態を表示します。3

デバイスの状態を表示します。デバイスのタイトルをクリックすると、

Device Detailsダイアログが開き、詳細が表示されます。4

Direct Device Controlアイコンをクリックすると、デバイスのコントロールにアクセスできます。オプションのシリンジは、Device Controlダイアログで開始、または停止することができます。

5

デバイスのステータスを表示します。アイコンはデバイスのステータス

を表示するのみのインジケータです。

6

クリックしてMSチューニング手順にアクセスし、TOF MSおよびTOF MS/MSモードの確認およびキャリブレーションを実行します。

7

該当するボタンをクリックして、システムを平衡化するか、または Standbyモードにします。

8

プロジェクトの追加

プロジェクトには、測定メソッド、データ、バッチ、処理メソッド、処理結果などが保存さ

れます。各プロジェクトに対して別々のプロジェクトフォルダを使用することを推奨します

SCIEX OSソフトウェアの外部にプロジェクトを作成したり、ファイルをコピーまたは貼り付けしたりしないでください。

1. 状態パネルのProjects (プロジェクト)リストの隣にあるプラス記号をクリックします。

2. 名前を入力します。

3. OKをクリックします。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド73 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

取扱説明書 – ソフトウェア

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プロジェクトを選択

• 状態パネルのProjects (プロジェクト)リストからプロジェクトを選択します。

デバイス状態のControl (制御)

この手順を使用して、デバイスの状態の詳細なフィードバックを取得します。例えば、温度、

圧力、電圧などです。デバイス状態を監視するには、デバイスのタイトルの一番右側にある

アイコンをクリックします。

1. 状態パネルで、デバイスのタイトルの右側にあるDirect Device Control (直接デバイス制御)アイコンをクリックします。

Device Control (デバイス制御)ダイアログが表示されます。

2. 必要に応じて、デバイスを開始、停止、または更新します。

3. OKをクリックします。

状態パネルの表示

• 最小化した状態パネルの一番上にある色が付いたバーをクリックします。

状態パネルを非表示にする

• 状態パネルの一番上にある色が付いたバーをクリックします。

状態パネルはワークスペースの右側に最小化されます。

Data Acquisition パネルData Acquisitionパネルを使用して、リアルタイムデータ測定を開始して監視します。リアルタイムデータ測定の間に測定メソッドパラメータを編集することもでき、またExplorerワークスペースでデータを保存する、またはデータを開くこともできます。

ヒント! Data Acquisitionパネルの一番上を上下にクリックして、目次のサイズを変更します。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E74 / 252

取扱説明書 – ソフトウェア

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図 6-5 Data Acquisition パネル

説明ラベル項目

TICとスペクトルを表示します。MS tab1

TWC とスペクトルを表示します。DAD tab (DADデバイスが有効な場合にのみ利

用可能)

2

Calibration: ON:システムが、選択した参照表にある質量を使用して質量分析装置のキャリブレーションを行っ

ていることを示します。

Ramping: ON:パラメータのランプが行われていることを示します。パラメータのランピングは、サイクル毎

にパラメータの値を増減させる間に、自動的に実験を

循環させることから構成されます。

Calibration: ON またはRamping: ON

3

クリックすると、手動測定を開始します。Start4

Start > Start with LCをクリックして、Start with LC ダイアログを開きます。

Start with LC4

クリックすると、手動測定を停止します。Stop5

クリックすると、データを保存できます。Save6

クリックすると、リアルタイムでデータを探索できま

す。

—7

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド75 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

取扱説明書 – ソフトウェア

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ユーザーワークフロー

Analysts

表 6-1 Analystワークフロー

ソフトウェアアクセスタスク

ホームページについて該当ページ 68およびStatus パネルについて該当ページ 71を参照してください。

メイン画面および状態パネルを表示して、シ

ステムのステータスを確認します。

バッチおよびキューワークスペース該当ペー

ジ 77を参照してください。Excelスプレッドシート、LIMS、または手動のいずれかを使用してバッチを作成して提出し

ます。LCおよびMSメソッドは、Analystsによってバッチの作成・送信が行われる前に、メ

ソッドディベロッパーがロックする必要があ

ります。

バッチおよびキューワークスペース該当ペー

ジ 77を参照してください。キュー内のサンプルを確認し管理します。

Analytics ワークスペース該当ページ156を参照してください。

Results Tablesのデータを処理およびレビューします。

「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペース該当ページ 112を参照してください。

データを探索します。

Method Developers

ソフトウェアアクセスタスク

以下を参照してください:

• 取扱説明書—ハードウェア該当ページ37およびデバイスを設定該当ページ 46。

• プロジェクトのデフォルト設定を定義該当ページ

157。

• Results Tableのための列を選択該当ページ 165。

システムを構成します。

MS Tune (MSチューン)該当ページ 207を参照してください。

質量分析装置をチューニングしま

す。

取扱説明書—ハードウェア該当ページ 37を参照してください。

LCデバイスを構成します。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E76 / 252

取扱説明書 – ソフトウェア

Page 77: SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド Acquisition パネル.....74 ユーザーワーク Analysts.....76 Method Developers.....76 Administrators.....77 レビュアー.....77

ソフトウェアアクセスタスク

「LCメソッド」ワークスペース該当ページ 112を参照してください。

LCメソッドを作成します。

「MSメソッド」ワークスペース該当ページ 93を参照してください。

MSメソッドを作成します。

処理メソッドの作成該当ページ 158を参照してください。

処理メソッドを開発します。

Administrators

ソフトウェアアクセスタスク

実験室情報管理システム(LIMS)の設定該当ページ55を参照してください。

LIMSを構成します。

ソフトウェアへのアクセスを設定該当ページ 49を参照してください。

ソフトウェアにユーザーを追加し、

役割を割り当てます。

ログをアーカイブ該当ページ213を参照してください。ログをアーカイブします。

レビュアー

ソフトウェアアクセスタスク

Analytics ワークスペース該当ページ156を参照してください。

処理された結果のレビューを行いま

す。

「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペース該当ページ 112を参照してください。

データを探索します。

ログを表示該当ページ 212を参照してください。ログのレビューを行います。

バッチおよびキューワークスペース

Batch ワークスペースは分析対象のサンプルに関する情報の収集を表示します。バッチはソフトウェアに、サンプルを分析する順番を伝達します。

Queue ワークスペースは、ユーザーがサンプルとバッチをキューで管理できるように、キュー、バッチ、およびサンプルの状態を表示します。キューにある特定のサンプルをダブルクリッ

クすることで、そのサンプルからデータにアクセスして、それをData Explorerワークスペースで開くこともできます。

デフォルトでは、サンプルはキューに表示されません。サンプル情報は、バッチ名の下で折

り畳まれています。バッチの状態、バッチ名、バッチ内のサンプルの数、および現在のバッ

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド77 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

取扱説明書 – ソフトウェア

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チを測定するための残り時間が表示されます。バッチに含まれるキャリブレーションサンプ

ルは、Sample Name 列のキューで Cal と表示されます。

バッチを管理

必要に応じて、Batch ワークスペースで以下の機能を使用します。

表 6-2 Batchワークスペースの機能

...この作業を行う目的の作業

Manage > Cutをクリックします。行の切り取り

Manage > Copyをクリックします。行のコピー

Manage > Pasteをクリックします。行の貼り付け

Manage > Insert Rowをクリックします。行を挿入する

Manage > Delete Rowをクリックします。行の削除

Manage > Select Columns をクリックします。列の表示または非表示該当ページ 92を参照してください。

列を選択

Manage > Add component concentration columnをクリックします。コンポーネント濃度列を追加該当ページ 92を参照してください。

注:このコンポーネント列はすべてのサンプルで編集可能

です。

コンポーネント濃度を追加

Manage > Delete component concentration columnをクリックします。コンポーネント濃度列を削除該当ページ 92を参照してください。

コンポーネント濃度を削除

Manage > Apply current concentrations across all columnsをクリックします。

コンポーネント濃度を列のす

べての行に適用

ワークスペースメニューからPrint (印刷)をクリックします。バッチを印刷

バッチを現在のプロジェクトに保存するには、ワークスペー

スメニューからSave > SaveまたはSave > Save Asをクリックします。

バッチを保存

バッチを.txtまたは.csvファイルとして保存するには、ワークスペースメニューからSave > Exportをクリックします。

バッチをエクスポート

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E78 / 252

取扱説明書 – ソフトウェア

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バッチをインポート

バッチの内容は、サンプルを提出する前に必ずレビューしてください。ピリオド「.」だけが小数点の記号としてインポートされる.csvまたは.xslファイルに対応しています。

必要に応じてユーザーはインポートしたバッチを編集することができます。

ヒント!切り取り、コピー、貼り付け、行の追加、および行の削除の各機能にアクセスす

るには、「Manage(管理)」をクリックします。

1. Batch (バッチ)ワークスペースを開きます。

2. (オプション)「Batch(バッチ)」ワークスペースに表示される列を選択します。

3. 「開く」 > 「ファイルからインポート」をクリックします。

4. Browse (ブラウズ)をクリックします。

5. 目的のファイルに移動します。

6. Openをクリックします。

7. (オプション)必要に応じて、「Append to current batch(現在のバッチに加える)」チェックボックスを選択またはクリアします。

注:「Append to current batch(現在のバッチに加える)」オプションを選択していない場合、グリッド内の既存のデータはすべて上書きされます。

8. Import (インポート)をクリックします。

9. (オプション) Save (保存)をクリックします。

10. Save As (以下として保存)をクリックします。

Save As Batch (バッチとして保存)ダイアログが開きます。

11. File Name (ファイル名)フィールドにファイル名を入力し、次にSave (保存)をクリックします。

12.サンプル位置を選択または確認する基準としてプレートレイアウトを使用するには、「PlateLayout(プレートレイアウト)」をクリックします。

プレートレイアウトにより、未割り当てサンプルのウェルおよびバイアルの位置が自動的

に提供されます。

13.(オプション)キャリブレーションサンプルをバッチに含めるには、以下の操作を実行します。

a. 「Batch-Automatic Calibration Editor(バッチ - 自動キャリブレーションエディタ)」ダイアログを開くには、「Auto-Calibrate(自動キャリブレーション)」をクリックします。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド79 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

取扱説明書 – ソフトウェア

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b. 指定した頻度で自動的に適用するイオン参照およびキャリブラント供給の設定を選択します。

c. 「OK」をクリックします。

d. 「Auto-Calibrate(自動キャリブレーション)」ボタンの左側にあるチェックボックスを選択します。

14.バッチを提出する前に、カラムオーブンの温度に到達していることを確認してください。

15.システムが、同じMSおよびLCメソッドを使用して平衡化されていることを確認します。

16.提出をクリックします。

画面の一番上にエラーが表示される場合は、エラーを解決してから「Submit(提出)」を再度クリックします。バッチにあるすべてのエラーは、バッチの提出前に解決されなけ

ればなりません。

サンプルの分析を開始する前に、キューが開始していることを確認します。キューが開始

していない場合は、「Queue(キュー)」ワークスペースに移動して、メニューバーの「Start(開始)」をクリックします。

測定は、サンプルが「Batch(バッチ)」ワークスペースから提出された後に始まります。

バッチをLIMSからインポート

バッチの内容は、サンプルを提出する前に必ずレビューしてください。

実験室情報管理システム(LIMS)の設定該当ページ 55を参照してください。

ヒント!切り取り、コピー、貼り付け、行の追加、および行の削除の各機能にアクセスす

るには、「Manage(管理)」をクリックします。

1. Batch (バッチ)ワークスペースを開きます。

2. (オプション)「Batch(バッチ)」ワークスペースに表示される列を選択します。

3. Open > Import from LIMSをクリックします。

Import a Batch Fileダイアログが開きます。

4. 次を実行します。

a. ファイルの場所、またはファイル名を入力します。

b. (オプション)Append to the current batchチェックボックスをクリックします。

c. Importをクリックします。

5. サンプル位置を選択または確認する基準としてプレートレイアウトを使用するには、「PlateLayout(プレートレイアウト)」をクリックします。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E80 / 252

取扱説明書 – ソフトウェア

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プレートレイアウトにより、未割り当てサンプルのウェルおよびバイアルの位置が自動的

に提供されます。

6. (オプション)キャリブレーションサンプルをバッチに含めるには、以下の操作を実行します。

a. 「Batch-Automatic Calibration Editor(バッチ - 自動キャリブレーションエディタ)」ダイアログを開くには、「Auto-Calibrate(自動キャリブレーション)」をクリックします。

b. 指定した頻度で自動的に適用するイオン参照およびキャリブラント供給の設定を選択します。

c. 「OK」をクリックします。

d. 「Auto-Calibrate(自動キャリブレーション)」ボタンの左側にあるチェックボックスを選択します。

7. バッチを提出する前に、カラムオーブンの温度に到達していることを確認してください。

8. 提出をクリックします。

画面の一番上にエラーが表示される場合は、エラーを解決してから「Submit(提出)」を再度クリックします。バッチにあるすべてのエラーは、バッチの提出前に解決されなけ

ればなりません。

サンプルの分析を開始する前に、キューが開始していることを確認します。キューが開始

していない場合は、「Queue(キュー)」ワークスペースに移動して、メニューバーの「Start(開始)」をクリックします。

測定は、サンプルが「Batch(バッチ)」ワークスペースから提出された後に始まります。

バッチを手動で作成します

バッチの内容は、サンプルを提出する前に必ずレビューしてください。

ヒント!切り取り、コピー、貼り付け、行の追加、および行の削除の各機能にアクセスす

るには、「Manage(管理)」をクリックします。

1. Batch (バッチ)ワークスペースを開きます。

2. (オプション)Batchワークスペースに表示される列を選択します。

ヒント!既存のバッチを使用するには、Open > Openをクリックします。

3. Newをクリックします。

4. 「MS Method(MSメソッド)」リストからMSメソッドを選択します。

5. (オプション) LC Method (LCメソッド)リストからLCメソッドを選択します。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド81 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

取扱説明書 – ソフトウェア

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6. サンプル位置を選択または確認する基準としてプレートレイアウトを使用するには、「PlateLayout(プレートレイアウト)」をクリックします。

プレートレイアウトにより、未割り当てサンプルのウェルおよびバイアルの位置が自動的

に提供されます。

7. バッチの情報をグリッドに入力します。

8. (オプション) Save (保存)をクリックします。

9. バッチを提出する前に、カラムオーブンの温度に到達していることを確認してください。

10.システムが、同じMSおよびLCメソッドを使用して平衡化されていることを確認します。

11.提出をクリックします。

画面の一番上にエラーが表示される場合は、エラーを解決してから「Submit(提出)」を再度クリックします。バッチにあるすべてのエラーは、バッチの提出前に解決されなけ

ればなりません。

サンプルの分析を開始する前に、キューが開始していることを確認します。キューが開始

していない場合は、「Queue(キュー)」ワークスペースに移動して、メニューバーの「Start(開始)」をクリックします。

測定は、サンプルが「Batch(バッチ)」ワークスペースから提出された後に始まります。

バッチインポートのセットアップ

選択したオートサンプラーについて、ラックコード、ラック位置、プレートコード、プレー

ト位置、およびバイアル位置はすべて相互に依存しており、特定の値だけが有効になります。

表 6-3 バッチインポートのセットアップ

フィールド値の要件定義列の名称

50文字未満。サンプル名に次の無効な文字を含めることはできませ

ん:\ / : * ? " < > |=

サンプルの名前。Sample Name

50文字未満。サンプルIDに次の無効な文字を含めることはできませ

ん:\ / : * ? " < > |=

サンプルに付けるカスタ

ム番号などの識別子。

Sample ID

50文字未満。サンプル固有のID。Barcode ID

MSメソッドは、現在のプロジェクトに存在している必要がありま

す。このフィールドでは、大文字

と小文字が区別されません。

メソッドの名前。MS Method

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E82 / 252

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表 6-3 バッチインポートのセットアップ (続き)

フィールド値の要件定義列の名称

LCメソッドは、現在のプロジェクトに存在している必要がありま

す。このフィールドでは、大文字

と小文字が区別されません。

メソッドの名前。LC Method

処理メソッドは、現在のプロジェ

クトに存在している必要がありま

す。このフィールドでは、大文字

と小文字が区別されません。

メソッドの名前。Processing Method

LCメソッドで指定したオートサンプラーに対して有効な選択肢でな

ければなりません。

オートサンプラーのラッ

クの種類。

Rack Code

数値。トレイでのラックの位

置。

Rack Position

LCメソッドで指定したオートサンプラーに対して有効な選択肢でな

ければなりません。

オートサンプラーでの

ウェルプレートの位置。

注:ラックコードでバ

イアルが指定されている

場合、この列は使用でき

ません。

Plate Code

事前定義されたオートサンプラー

のプレート位置のいずれかと一致

している必要があります。

ラックでのプレートの位

置。

Plate Position

数値。最大値がラックのバイアル

数以下でなければなりません。

プレートでのバイアルの

位置。

Vial Position

サンプルの種類が、事前定義され

ているいずれかのサンプルの種類

と一致していることを確認してく

ださい。一致していない場合は、

自動的にUnknownに置き換えられます。

サンプルの種類。Sample Type

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド83 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

取扱説明書 – ソフトウェア

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表 6-3 バッチインポートのセットアップ (続き)

フィールド値の要件定義列の名称

SCIEXが開発したメソッドの場合、値は1.00でなければなりません。

小数点以下6桁のゼロよりも大きな値。デフォルト値は1.000000です。フィールドを空白にしないでくだ

さい。

個別のサンプルの希釈係

数。

Dilution factor

252文字未満でなければなりません。合計文字数には、データサブ

フォルダパスの文字数も含まれま

す。データファイルに次の無効な

文字を含めることはできません:\ / : * ? " < > |=

取得されたデータの保存

先となるファイル名。

Data File

50文字未満でなければなりません。このフィールドに次の無効な

文字を含めることはできません:\ / : * ? " < > |=

テキストComments

MRMスキャンではMSメソッド、またはその他のスキャンでは処理メ

ソッドのいずれかで以前定義され

た名前である必要があります。名

前はメソッドの作成の間に検証さ

れます。

MRM HRスキャン:MRMメソッドで定義された化合

物の名前。

その他のスキャン:処理

メソッドで定義されたコ

ンポーネントの名前。

バッチには、最大500の化合物またはコンポーネン

ト名の列を含めることが

できます。名前は、ユー

ザーが作成したバッチイ

ンポートファイルで列名

として使用されます。

Compound Name for MRM HR(MRM HRの化合物名) (MRMHR scans)

Component Name (other scans)

プレートレイアウト機能を使用してバッチを作成する

プレートレイアウト機能ではラックとプレートの構造がグラフィック表現で表示され、「Batch(バッチ)」ワークスペースのグリッドに入力する目的で使用できます。

1. 「Batch(バッチ)」ワークスペースを開きます。

2. LCメソッドを選択します。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E84 / 252

取扱説明書 – ソフトウェア

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プレートレイアウト機能を使用するには、LCシステムをアクティブにする必要があります。

3. 「Plate Layout(プレートレイアウト)」をクリックします。

「Plate Layout(プレートレイアウト)」ウィンドウが開き、デフォルトでは、ラックコードのグラフィック表現が表示されます。それに続いて、最後に使用されたラックコードや

現在強調表示されているサンプルに対して指定されているラックコードが表示されます。

4. ラックコードを変更するには、「Rack Code(ラックコード)」フィールドの矢印をクリックし、目的のラックコードをリストから選択します。

ウィンドウが更新され、選択したラックコードのグラフィック表現が表示されます。

5. グラフィック表現で、サンプルの位置をクリックします。

選択したサンプルの位置は、グラフィック表現では完全に強調表示されて表示されます。

「Batch(バッチ)」ワークスペースが更新され、サンプル位置の定義が不完全な行が最初に表示されます。定義が不完全な行とは、ラックコード、プレートコード(ウェルを使用

する場合)、バイアル位置の各値が含まれていない行です。グリッドには、この情報に

従ってサンプル位置が表示されます。

6. 必要に応じてグラフィック表現でサンプル位置の選択を続行し、「Batch(バッチ)」ワークスペースでグリッドに入力します。

「Batch(バッチ)」ワークスペースのグリッドにサンプル位置を直接入力すると、それに従ってグラフィック表現が更新されます。

7. 選択したサンプル位置に対して繰り返し注入を指定するには、Ctrlキーを押しながらグラフィック表現でサンプル位置をクリックします。

グラフィック表現には、繰り返し注入のサンプルの位置が色付きの輪郭で表示され、「Batch(バッチ)」ワークスペースのグリッドには、それに対応するデータが表示されます。図

6-6を参照してください。

図 6-6 「Plate Layout(プレートレイアウト)」—繰り返し注入

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド85 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

取扱説明書 – ソフトウェア

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8. グラフィック表現でサンプルインデックスを確認するには、サンプル位置にマウスのカーソルを合わせます。

サンプルインデックスがツールチップで表示されます。

9. 位置を削除するには、選択したサンプル位置をグラフィック表現でクリックします。

グラフィック表現ではサンプル位置が強調表示されなくなり、「Batch(バッチ)」ワークスペースのグリッドからデータが削除されます。

10.指定したラックコードに関連付けられたすべてのデータを削除するには、「Clear All(すべてクリア)」をクリックします。

選択したラックコードでプレートが示されている場合は、「Clear All(すべてクリア)」の下のメニューに「Clear Front(前方向にクリア)」および「Clear Back(後方向にクリア)」という項目が表示されます。

指定したラックコードについて、グラフィック表現で選択したすべてのサンプル位置がク

リアされ、すべてのデータが「Batch(バッチ)」ワークスペースのグリッドから削除されます。

注:グラフィック表現に繰り返し注入のサンプル位置が含まれている場合は警告メッ

セージが表示され、確認を求められます。

11.すべての位置を割り当てたら、「Plate Layout(プレートレイアウト)」ウィンドウで「Close(閉じる)」をクリックし、「Batch(バッチ)」ワークスペースで「Save(保存)」をクリックします。

イオン参照表の作成

1. 「Batch(バッチ)」ワークスペースを開きます。

2. 「Auto-Calibrate(自動キャリブレーション)」をクリックします。

「Batch - Automatic Calibration Editor(バッチ - 自動キャリブレーションエディタ)」ダイアログが開きます。

3. 「Edit(編集)」をクリックします。

「Ion Reference Table Editor(イオン参照表エディタ)」ダイアログが開きます。

4. 「New(新規)」をクリックします。

ヒント! Tabキーを使用してセルを移動し、Enterを押して行を追加します。

5. 「Reference Ions for TOF MS Calibration(TOF MSキャリブレーションのための参照イオン)」グリッドで、前駆体質量を入力します。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E86 / 252

取扱説明書 – ソフトウェア

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「Compound Name(化合物名)」フィールドはオプションです。

6. 必要に応じて行を追加します。

7. 「Use(使用する)」列で、使用するイオンを選択します。

8. MS/MSで使用する前駆体質量について、「Use for MS/MS(MS/MSで使用する)」ラジオボタンを選択します。

9. ステップ7で選択した前駆体質量について、「CE for MS/MS(MS/MSのCE)」および「DPfor MS/MS(MS/MSのDP)」の各フィールドに値を入力します。

10.「Reference Ions for MS/MS Calibration(MS/MSキャリブレーションのための参照イオン)」グリッドで、2つ以上のフラグメント質量を追加して選択します。

「Fragment Name(フラグメント名)」フィールドはオプションです。

11.「OK」をクリックします。

12.「Save Reference Table(参照表の保存)」ダイアログで名前を入力して「OK」をクリックします。

注:キャリブラント供給メソッドとして「LC Method(LCメソッド)」を選択した場合は、「Reference Ions(参照イオン)」表で「Retention Time(保持時間)」「Retention TimeTolerance(保持時間許容範囲)」を指定する必要があります。

CDSを使用したシステムのキャリブレーション

1. 「Batch(バッチ)」ワークスペースを開きます。

2. 「Auto-Calibrate(自動キャリブレーション)」をクリックします。

「Batch - Automatic Calibration Editor(バッチ - 自動キャリブレーションエディタ)」が開きます。

3. イオン参照表を選択します。

4. キャリブレーション間に取得するサンプルの数を入力します。

5. キャリブラント供給メソッドとして「CDS」を選択します。

デフォルトでは、CDSチャネル1が選択されています。チャネル1は正の溶液に使用し、チャネル2は負の溶液に使用します。

6. 「OK」をクリックしてダイアログを閉じます。

7. 「Auto-Calibrate(自動キャリブレーション)」ボタンの左側のチェックボックスが選択されていることを確認してください。

8. バッチを作成して送信します。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド87 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

取扱説明書 – ソフトウェア

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LCメソッドを使用したシステムのキャリブレーション

1. 「Batch(バッチ)」ワークスペースを開きます。

2. 「Auto-Calibrate(自動キャリブレーション)」をクリックします。

「Batch - Automatic Calibration Editor(バッチ - 自動キャリブレーションエディタ)」が開きます。

3. イオン参照表を選択します。

4. キャリブレーション間に取得するサンプルの数を入力します。

5. キャリブラント供給メソッドとして「LC Method(LCメソッド)」を選択します。

ダイアログの右側に、オートサンプラーのラック、プレート、バイアルのフィールド、お

よびMSメソッドフィールドが表示されます。

6. MSメソッドを選択して、適切なラック、プレート、およびバイアル情報を選択します。

7. 「OK」をクリックしてダイアログを閉じます。

8. 「Auto-Calibrate(自動キャリブレーション)」ボタンの左側のチェックボックスが選択されていることを確認してください。

9. バッチを作成して送信します。

システムの平衡化

1日の最初にシステムの平衡化を行った後に、新しいメソッドの実行、またはバッチの提出を行います。平衡化は、次のサンプルまたはバッチのために、質量分析装置をウォームアップ

させ、準備を行います。

1. 状態パネルで「Equilibrate(平衡化)」をクリックします。

「Equilibrate(平衡化)」ダイアログが開きます。

2. 「MS Method(MSメソッド)」リストからMSメソッドを選択します。

3. 「LC Method(LCメソッド)」リストからLCメソッドを選択します。

4. Time (min)フィールドに、平衡時間を分単位で入力します。

5. 「OK」をクリックします。

平衡化が完了すると、状態パネルに示されるシステム状態がReadyになります。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E88 / 252

取扱説明書 – ソフトウェア

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キューの管理

測定は、サンプルがBatch (バッチ)ワークスペースから提出された後に始まります。バッチの提出前に、システムが平衡になっていることを確認してください。システムの平衡化該当

ページ 88を参照してください。

注:サンプル測定中に異常な終わり方をした場合、サンプルを再実行します。停電によっ

て異常な終わり方をした場合、オートサンプラートレイの温度が持続されず、サンプルの

完全性が損なわれる恐れがあります。

1. Queue (キュー)ワークスペースを開きます。

注:サンプル測定の間は、バルブ位置を手動で変更しないでください。

2. 表 6-4にある機能を使用して、キューにあるサンプルとバッチを管理します。

注:測定されていない単一のバッチまたはサンプルのみが移動できます。

表 6-4 「キュー」ワークスペース機能

...この作業を行うこの作業を行うには...

をクリックします。バッチにあるすべてのサンプル

を見ます。

をクリックします。バッチにあるすべてのサンプル

を折り畳みます。

Start (スタート)をクリックします。サンプルのランを行う前にシステムの平衡化を行います。

測定を開始します。

a. サンプルをクリックします。

b. Manage (管理) > Reacquire samples (サンプルを再測定)をクリックします。

選択したサンプルを再測定しま

す。

a. サンプルをクリックします。

b. Manage (管理) > Delete samples (サンプルを削除)をクリックします。

選択したサンプルを削除しま

す。

a. サンプルをクリックします。

b. Manage (管理) > Delete samples below rowselection (列選択の下のすべてを削除)をクリックします。

選択したサンプルの下のすべて

のサンプルを削除します。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド89 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

取扱説明書 – ソフトウェア

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表 6-4 「キュー」ワークスペース機能 (続き)

...この作業を行うこの作業を行うには...

Manage (管理) > Clear queue (キューをクリア)をクリックします。

すべての測定したバッチまたは

サンプルのキューをクリアしま

す。

a. 必要に応じて、サンプルまたはバッチを選択します。

b. 「Manage(管理)」 > 「Clear all selections(すべての選択をクリア)」をクリックします。

すべての測定済みの選択した

バッチまたはサンプルのキュー

をクリアします。

a. バッチのヘッダーをクリックします。

b. Manage (管理) > Move row to top(行を一番上に移動)をクリックします。

選択したバッチまたはサンプル

をキューの一番上に移動しま

す。

a. サンプルをクリックします。

b. Manage (管理) > Move row up (行を上に移動)をクリックします。

キュー内の選択したサンプルを

上に移動します。

a. サンプルをクリックします。

b. Manage (管理) > Move row down (行を下に移動)をクリックします。

キュー内の選択したサンプルを

下に移動します。

Manage (管理) > Collapse all rows (すべての行を折り畳む)をクリックします。

すべてのサンプルとバッチを折

り畳みます。

Manage (管理) > Expand all rows (すべての行を拡張する)をクリックします。

すべてのサンプルとバッチを表

示します。

• 測定が進行中のサンプルをダブルクリックします。

• Explorer (エクスプローラ) ワークスペースアイコンをクリックします。

測定が進行中のデータを見ま

す。

測定されたサンプルをダブルクリックします。測定されたサンプルのデータを

見ます。

a. Manage (管理) > Select Columns (列を選択)をクリックします。

b. Select Columns (列の選択)ダイアログのBarcode (バーコード)およびScanned barcode (スキャンしたバーコード)チェックボックスを選択します。列の表示または非表示該当ページ 92を参照してください。

c. OKをクリックします。

スキャンされているバーコード

バイアルを見ます。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E90 / 252

取扱説明書 – ソフトウェア

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表 6-4 「キュー」ワークスペース機能 (続き)

...この作業を行うこの作業を行うには...

a. Manage (管理) > Select Columns (列を選択)をクリックします。

b. 必要に応じて、Select Columns (列の選択)ダイアログの列チェックボックスを選択またはクリアします。列の

表示または非表示該当ページ92を参照してください。

c. OKをクリックします。

列を表示または非表示にしま

す。

a. Stop (停止)をクリックします。

b. Stop (停止)ダイアログで、測定を停止させる方法を選択します。

c. OKをクリックします。

キューを停止します。

ワークスペースメニューからPrint (印刷)をクリックします。

キューを印刷します。

1つのサンプルをキューに提出

1. 各サンプルの行インデックス番号を選択します。

2. バッチの提出前に、システムが平衡になっていることを確認してください。

3. 提出をクリックします。

画面の一番上にエラーが表示される場合は、エラーを解決してから「Submit(提出)」を再度クリックします。バッチにあるすべてのエラーは、バッチの提出前に解決されなけ

ればなりません。

サンプルの分析を開始する前に、キューが開始していることを確認します。キューが開始

していない場合は、「Queue(キュー)」ワークスペースに移動して、メニューバーの「Start(開始)」をクリックします。

測定は、サンプルが「Batch(バッチ)」ワークスペースから提出された後に始まります。

複数のサンプルをキューに提出

1. 次のいずれかを実行します。

• Ctrlと各サンプルのサンプル行インデックス番号をクリックします。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド91 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

取扱説明書 – ソフトウェア

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• インデックス番号のリストを上下にドラッグします。

注:サンプルは、選択されるために提出され、バッチで表示されるためではありま

せん。

2. バッチの提出前に、システムが平衡になっていることを確認してください。

3. 提出をクリックします。

画面の一番上にエラーが表示される場合は、エラーを解決してから「Submit(提出)」を再度クリックします。バッチにあるすべてのエラーは、バッチの提出前に解決されなけ

ればなりません。

サンプルの分析を開始する前に、キューが開始していることを確認します。キューが開始

していない場合は、「Queue(キュー)」ワークスペースに移動して、メニューバーの「Start(開始)」をクリックします。

測定は、サンプルが「Batch(バッチ)」ワークスペースから提出された後に始まります。

列の表示または非表示

1. 「Batch(バッチ)」ワークスペースで、「Manage(管理)」 > 「Select Columns(列の選択)」をクリックします。

2. 必要に応じて、「Select Columns(列の選択)」ダイアログの列チェックボックスを選択またはクリアします。

3. OKをクリックします。

コンポーネント濃度列を追加

この手順を使用してコンポーネント濃度列をバッチに追加します。

注: この手順を用いて追加したコンポーネント濃度列は、すべてのサンプルで編集可能で

す。コンポーネントを含む処理メソッドがサンプルで定義されている場合、コンポーネン

ト濃度列はバッチにも追加されます。これらのコンポーネント濃度列は、コンポーネント

を含む処理メソッドが付いたサンプルでのみ編集できます。

1. Batchワークスペースで、Manage > Add component concentration columnをクリックします。

2. Componentの名前を入力します。

3. OKをクリックします。

コンポーネント濃度列を削除

この手順を使用してコンポーネント濃度列をバッチから削除します。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E92 / 252

取扱説明書 – ソフトウェア

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1. Batchワークスペースで、Manage > Delete component concentration columnをクリックします。

コンポーネントのリストが表示されます。それには、Add component concentrationcolumnコマンドで追加された、またはMRMメソッドまたは処理メソッドがバッチに追加された際に追加されたすべてのコンポーネントが含まれています。

2. リストからコンポーネントを選択します。

3. OKをクリックします。

キューアイコン

表 6-5 キューおよび測定状態のアイコン

説明名称アイコン

サンプルまたはバッチ全体の測定に成功しました。合格

サンプルは測定されましたが、ユーザーが測定を停止または延長

しました。

警告

サンプルまたはバッチのサンプルの測定に失敗しました。失敗

キャリブレーションサンプルが合否基準を満たしていませんでし

た。アイコンをダブルクリックして、ステータスレポートを確認

してください。

失敗

サンプルまたはバッチは測定中です。進行中

サンプルまたはバッチはまだ測定されていないか、測定が進行中

です。

待機中

バーコードの読み取りエラーまたはバーコードスキャンおよびサ

ンプルの不一致がありました。

バーコード警

バッチにあるサンプルを表示します。展開矢印

バッチにあるサンプルを非表示にします。折り畳み矢印

「MSメソッド」ワークスペース

MSメソッドの作成

必要に応じて、次を参照してください。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド93 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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• MSメソッドの実験該当ページ 95

• MSメソッドについて該当ページ 96

• MS メソッドのパラメータ該当ページ 98

• MSメソッドの動的衝突エネルギーを計算する該当ページ 111

• ヘルプシステム

1. MS Methodsワークスペースを開きます。

2. Newをクリックし、メソッドをクリックします。

3. (オプション)Advancedをクリックし、必要に応じて以下の項目を選択します。

• Apply experiment scheduling:実験の実行時に保持時間ウィンドウを適用する場合に選択します。ループ実験の場合、いずれかの実行開始時間が0で、いずれかの実行停止時間がメソッドの持続時間と等しくなければなりません。

• Show advanced parameters:タイムビン合計やチャネルなど、アドバンストパラメータを表示する場合に選択します。

• Apply intact protein mode:インタクトプロテインモードフィールドを表示する場合に選択します。

• Ramp:パラメータをランプする場合に選択します。パラメータのランプは、パラメータの値を増減させながら自動的に実験を実行するという処理で構成されます。ランプ

できるパラメータは1回に1つだけで、ステップは同じ向きでなければなりません(開始値または停止値の範囲内で増加または減少のどちらか)。このダイアログでは、パ

ラメータのランプを行うための基準を設定できます。ユーザーは、開始電圧および終

了電圧と、その間のステップのサイズを設定できます。ランプは、イオンに対してパ

ラメータを最適化する目的で使用できます。TOF MSメソッドでは、DPパラメータをランプできます。TOF MSMSメソッドでは、DPまたはCEのいずれかのパラメータをランプできます。ランプは、Apply ramping to the compound parameter を選択することで有効にできます。

• Calibrate:スペクトルと装置を稼働中にキャリブレートする場合に選択します。このダイアログにより、キャリブレーション用の適切なイオン参照表を選択できます。この

機能は通常キャリブラント供給システムとともに使用されます。キャリブレーション

結果を表示するには、Queueワークスペースに移動して、キャリブレーション実行の取得状態アイコンをダブルクリックします。キャリブレーションには1.25分かかります。

• Dynamic collision energy:Dynamic Collision Energyダイアログが開きます。

4. 必要に応じて、フィールドに値を入力します。

5. (オプション)Add Experimentをクリックします。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E94 / 252

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ヒント! Experiment フィールドの隣にあるリストを使用して、実験を変更または削除します。

6. 次のいずれかを実行します。

• Save > Lock Methodをクリックして、MSメソッドを保存およびロックします。

• Save > Saveをクリックします。

• Save > Save asをクリックします。

MSメソッドの実験

MS メソッドのパラメータ該当ページ 98を参照してください。

MSメソッドを作成または編集する場合は、MS Method(MSメソッド)ワークスペースを使用します。MSメソッドには、1つまたは複数の実験を含めることができます。デフォルトでは、新規TOF MSメソッドには1つの実験が含まれています。

使用できるMS実験の種類は、以下のとおりです。

• 3種類の基本的なメソッドの実験:TOF MS、TOF MSMS、Q1

• 3種類の複合的なメソッドの実験:IDA、SWATH、MRMHR

さらに、ステップごとの手順を使用して、MRMHR実験を容易に作成できます。手順が完了し

たら、パラメータを使用してMRMHRメソッドに入力します。

表 6-6 基本的なメソッドの実験

定義種類

TOF領域を使用した質量分析。イオンのm/z値は、TOF領域の飛行時間に基づいて保持されます。

TOF MS

四重極質量フィルターを使用して、前駆体イオンが選択されます。フラ

グメントイオンのm/z値は、TOF MS領域の飛行時間に基づいて返されます。この実験は、化合物の構造を特定する目的で使用します。

TOF MSMS

四重極質量フィルターを使用したデータ取得。イオン強度はスキャン範

囲での質量に対して返されます。

Q1

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド95 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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表 6-7 複合的なメソッドの実験

定義種類

IDA(情報依存採取)実験では、データを取得しながら分析を行い、分析結果に応じて実験条件を変更します。依存スキャンの実行対象となる質

量は、結果の分析によって決定されます。ユーザーは、IDA実験がアクティブになる条件と、アクティブになったIDA実験のパラメータを全体的に制御できます。

IDA

SWATH®測定では、LCタイムテーブル上の広範な質量範囲にわたるすべて

の前駆体イオンのMS/MS分析が可能です。Q1四重極は、従来のプロダクトイオン測定で使用されていたウィンドウよりも幅の広い選択ウィンド

ウ(一般的には10 Da~50 Da)に設定されています。複数の連続した選択ウィンドウをステップごとに実行することで、広範な質量範囲を迅速に

カバーします。結果として生成される質量スペクトルは、対応するQ1選択ウィンドウを通過したすべての前駆体イオンのフラグメントの複合体

です。この手法では、サンプル中のすべての種の非ターゲットMS/MS分析が可能です。

SWATH

MRMHR実験は、既知の質量と保持時間を持つ化合物の高品質のMS/MSデー

タの測定に役立ちます。この測定は、TOF MSMSスペクトルから狭い幅(0.02 Da)のフラグメントの質量を抽出するために使用することもできます。狭い幅の抽出により、選択性が高まります。

MRM HR

MRMHRメソッドを容易に作成できるステップごとの手順。手順の各ステッ

プが完了したら、パラメータを使用してMRMHRメソッドの種類に入力し

ます。

Guided MRM HR

MSメソッドについて

MSメソッドは、以下の各要素で構成されています。

• Source and Gasのパラメータなど、メソッド全体に関連するパラメータ。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E96 / 252

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• 1つまたは複数の実験。

• 各メソッドには少なくとも1つの実験が含まれていなければなりません。

• どのメソッドにも、複数の実験を含めることができます。これはループ実験と呼ばれ

ます。

• TOF MS実験およびTOF MSMS実験は、メソッド内でループさせることができます(最大10件の実験)。Q1実験はループできません。

• IDA、SWATH、MRMHRの各実験は、メソッド内でループさせることができます(最大2件

の実験)。

注: IDA + IDAやSWATH + MRMHRなど、使用できるのは特定の実験の組み合わせだけで

す。

• 実験ごとに固有の高度な設定が用意されています。

• 各実験内の個別のスキャン

表 6-8 MS Methodsワークスペースの機能

実行する操作目的の作業

Add Experimentをクリックし、実験の種類をクリックします。

複数の実験を持つメソッド、

つまりループ実験を作成す

る。

Experimentの隣にあるリストをクリックし、実験の種類をクリックします。

既存のMSメソッド内で実験を切り替える。

Experimentの隣にあるリストをクリックし、Add IDA criteriaをクリックします。

TOF MSMS実験をIDA実験に切り替える。

Experimentの隣にあるリストをクリックし、Delete TOF MS(of MRM HR)をクリックします。

注:ループ実験だけに適用されます。

MRMHR実験で、メソッドから

TOF MSを削除する。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド97 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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表 6-8 MS Methodsワークスペースの機能 (続き)

実行する操作目的の作業

Experimentの隣にあるリストをクリックし、Deleteexperimentをクリックします。

メソッド内に複数の実験が存

在する場合に実験を削除す

る。

ワークスペースの左側にあるMethod Overviewパネルを展開したり折り畳んだりします。

以下のメソッドの構造を表示

する:

• メソッドの内の実験数。

• メソッドの内の各実験のス

ケジュール期間。

• 複数の実験に対するTOFMSMSスキャンの回数。

MS メソッドのパラメータ

表 6-9 MS メソッドのパラメータ

実験定義パラメータ

TOF MS、TOF MSMS、Q1、SWATH、MRM HR、IDA

ユーザー定義のMSメソッドの期間。Method duration

TOF MS、TOF MSMS、Q1、SWATH、MRM HR、IDA

各サイクルの実行に必要な時間。実験時

間とオーバーヘッド(質量範囲間および

実験間の切り替え時間)で構成されてい

ます。合計スキャン時間は、LCピーク全体のポイント数を推定し、良好な定量結

果を得る目的で使用します。

Total scan time

TOF MS、TOF MSMS、IDA、MRMHR、SWATH

クリックして実験を追加します。Add Experiment

TOF MS、TOF MSMS、Q1、SWATH、MRM HR、IDA

実行されるサイクル数は、Method durationフィールドの値に基づいて計算されます。

Estimated cycles

IDA、SWATH最適な性能を実現するため、m/z値と荷電状態に基づいて衝突エネルギーが自動的

に計算されます。

Dynamic CollisionEnergy

TOF MS、TOF MSMS、IDA、SWATH、MRM HR

Apply intact protein モードの機能が選択された場合に表示されます。この機能は、

10 KDaよりも大きいインタクトプロテインを分析する場合に使用します。

Intact proteinmode

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E98 / 252

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表 6-9 MS メソッドのパラメータ (続き)

実験定義パラメータ

TOF MS、TOF MSMS、IDA、SWATH、MRM HR

この機能は、70 KDaよりも大きいインタクトプロテインを分析する場合に使用し

ます。例:モノクローナル抗体。

Large proteins(>70 kDa)

TOF MS、TOF MSMS、IDA、SWATH、MRM HR

多価のプロテインからのシグナルに大き

く影響を与えることなく、一価のバック

グラウンドイオンからシグナルを低下さ

せるように選択します。この機能は、多

重荷電のある分析で信号対ノイズ比を向

上させます。

Decrease detectorvoltage

イオン源パラメータ

TOF MS、TOF MSMS、Q1、IDA、SWATH、MRM HR

カーテンプレートとオリフィスプレート

間のガス流量を指定します。Curtain GasTM

インターフェースの流れにより、イオン

光学部品の汚染を防ぎます。

Curtain gas

TOF MS、TOF MSMS、Q1、IDA、SWATH、MRM HR

イオン源ガス1の流量を指定します。このパラメータにより、TurboIonSpray

®プロー

ブのネブライザガスとAPCIプローブの補助ガスを制御します。

Ion source gas 1

TOF MS、TOF MSMS、Q1、IDA、SWATH、MRM HR

イオン源またはプローブ内のヒーターガ

スの温度を指定します。

Temperature

TOF MS、TOF MSMS、Q1、IDA、SWATH、MRM HR

イオン源ガス2の流量を指定します。このパラメータにより、TurboIonSpray

®プロー

ブの補助ガスまたはターボガスを制御し

ます。スプレーの液滴の蒸発を促進させ

る目的で使用します。Ion source gas 2 は、Temperature パラメータと連携して機能します。

Ion source gas 2

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド99 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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表 6-9 MS メソッドのパラメータ (続き)

実験定義パラメータ

TOFMS、TOFMSMS、Q1、SWATH、MRM HR、IDA

衝突セル内のガスの圧力を制御します。

衝突ガスは、衝突セルを通過しているも

のとして、イオンに焦点を当てるのに役

立ちます。CADパラメータのプリセット値は、固定モードです。スキャンの種類が

MS/MSスキャンの場合、CADガスは、前駆体イオンを集めるのに役立ちます。前駆

体イオンが衝突ガスと衝突すると、それ

ぞれが分離してプロダクトイオンとなり

ます。

プリセット値を使用し、混合物用に最適

化します。

CAD gas

実験

TOF MS、TOF MSMS、Q1、IDA、SWATH、MRM HR

対象となるイオンの電荷に対して適切な

極性を選択します。

Polarity

TOF MS、TOF MSMS、Q1、SWATH、MRM HR、IDA

APCIプローブ内のコロナ放電ニードルに印加される電流を制御します。放電によ

り溶媒分子がイオン化され、それに次い

でサンプル分子もイオン化されます。

Nebulizer current

TOF MS、TOF MSMS、Q1、IDA、SWATH、MRM HR、IDA

サンプルをスプレー噴射するニードルに

印加される電圧。Spray voltage パラメータはスプレーの安定性と、それに伴う信号

の感度に影響を与えます。

Spray voltage

TOF MS、TOF MSMS、Q1、IDA、SWATH、MRM HR

イオン飽和とMCPプレートの早期摩耗を防ぐため、イオン伝送係数(ITC)パラメータによってイオンビームを減衰しま

す。TOFMS モードでは、ソフトウェアによって動的にイオン減衰が調整され、対

応する補正係数がデータ出力に適用され

ます。一般的にMS/MSではビーム減衰は行われないため、計算は必要ありません。

ITC

TOF MSMS、IDA、SWATH、MRMHR

TOF MSMS実験に対して選択されている候補イオン。

Precursor ion

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E100 / 252

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表 6-9 MS メソッドのパラメータ (続き)

実験定義パラメータ

TOF MS、TOF MSMS、Q1、SWATH、MRM HR

オリフィスの電圧を制御します。これは、

真空容器に入った後にサンプルイオンに

残る可能性がある溶媒殻を最小化し、必

要に応じて断片化させるために使用しま

す。電圧が高くなるほど、イオンに加え

られるエネルギーは高くなります。DPパラメータが高過ぎる場合、不要なフラグ

メンテーションが発生する場合がありま

す。

Declusteringpotential

TOF MS、TOF MSMS、IDA、SWATH、MRM HR

DP spread パラメータ(DPS)とDeclusteringpotential パラメータを組み合わせて、イオンに印加されるデクラスタリングポテン

シャルを特定します。デクラスタリング

ポテンシャルは、低から高にランプされ

ます。たとえばポジティブモードの場合、

デクラスタリングポテンシャルはDP – DPSからDP + DPSにランプされます。DPS値を入力することにより、デクラスタリング

ポテンシャルのスプレッドが自動的にア

クティブになります。

DP spread

TOF MS、TOF MSMS、SWATH、MRM HR、IDA

衝突エネルギーとは、エントランス電位

(Q0)と衝突セル四重極(Q2)の電圧の差です。MS/MSスキャンでは、衝突エネルギーによって衝突活性化解離(CAD)のエネルギーが提供されます。衝突エネルギー

は化合物に固有なため、最適な値は化合

物ごとに異なります。

Collision energy

TOF MSMS、IDA、TOF MS、SWATH、MRM HR

CE spread パラメータ(CES)とCollisionEnergy パラメータ(CE)を組み合わせ、プロダクトイオンスキャンで前駆体イオ

ンに印加される衝突エネルギーを決定し

ます。衝突エネルギーは、低から高にラ

ンプされます。たとえばポジティブモー

ドの場合、衝突エネルギーはCE – CESからCE + CESにランプされます。CES値を入力することにより、衝突エネルギーのスプ

レッドが自動的にアクティブになります。

CE spread

TOF MS、TOF MSMS、IDA、SWATH、MRM HR

スキャン範囲の開始質量を入力します。TOF start mass

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド101 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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表 6-9 MS メソッドのパラメータ (続き)

実験定義パラメータ

TOF MS、TOF MSMS、IDA、SWATH、MRM HR

スキャン範囲の停止質量を入力します。TOF stop mass

TOF MS、TOF MSMS、IDA、SWATH、MRM HR

装置が1つのTOFスペクトルを測定するのに必要な時間。蓄積時間を調整すること

で、合計スキャン時間を最適化できます。

Accumulation time

Q1Q1スキャン範囲の開始質量を入力します。Start mass

Q1Q1スキャン範囲の停止質量を入力します。Stop mass

Q1Q1質量範囲をスキャンするのに必要な時間。

Scan time

SWATHクリックすると、Autofill SWATH Windowsダイアログが開きます。詳細については、

ヘルプを参照してください。

Auto Fill SWATHwindows

MRM HRクリックすると、Import and Auto-fill MSMSScan Information ダイアログが開きます。詳細については、ヘルプシステムを参照し

てください。

Import andauto-fill

TOF MS、TOF MSMS、MRM HR、IDA、SWATH

実験の開始時間を入力します。Start run time

TOF MS、TOF MSMS、MRM HR、IDA、SWATH

実験の停止時間を入力します。Stop run time

MRM HR各MRMトランジションに対してMRMHRを

適用する場合に選択します。フラグメン

トイオンは、フラグメント質量を中心と

した+/- 10 Daの範囲のウィンドウを表します。

Apply fragmention mass

MRM HR前駆体イオンおよび指定したフラグメン

ト質量範囲にMRMHRを適用する場合に選

択します。ユーザーは、フラグメント質

量範囲に対する開始質量と停止質量を入

力できます。

Apply TOF start/stop mass

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E102 / 252

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表 6-9 MS メソッドのパラメータ (続き)

実験定義パラメータ

MRM HR各MRM実験を指定した時間に実行できるように、個別のMRMトランジションに保持時間ウィンドウを適用する場合に選択

します。複雑なサンプルを処理する場合

は、最大1250のScheduled MRMHRトラン

ジションを入力できます。

Apply ScanSchedule

MRM HR測定前にMS表で前駆体の質量を昇順で並べ替えます。状況によっては、MRMトランジションを昇順で測定することによっ

てMRM感度が改善する場合があります。

Sort by precursorion

TOF MSMS、SWATH、MRM HR、Scheduled MRM HRTOF MSMS、TOF MSMS (SWATH)、MRM HR、およびScheduled MRMHR

TOF MSスキャンで、測定したコンポーネントの線型ダイナミックレンジをより高

濃度に拡張します。この機能が選択され

た場合、サイクル時間が変化することが

あります。

注:この機能が選択された場合、MSMS実験の蓄積時間は25 ms未満には設定できません。

Enhance dynamicrange

高度な実験設定

TOF MSMS、Q1、IDA近接するコンポーネントの分離に使用す

る解像度を選択します。Q1解像度は、四重極の分解能です。MSMS実験で求められる感度が高い場合は、解像度設定を低減

して、分析の対象となるイオン数を増や

すことができます。Q1解像度の設定を Lowまたは Open に設定することで、結果として生成される信号の強度を増加させたり、

任意の同位体パターンでC12以外の同位体を表示したりできます。解像度を Open に設定することで信号強度が高くなるため、

より多くの同位体を表示することができ

ます。

Q1 resolution

Q1スキャン間隔のサイズをダルトン単位で

入力します。

Step size

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド103 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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表 6-9 MS メソッドのパラメータ (続き)

実験定義パラメータ

TOF MS、TOF MSMS、IDA、MRMHR、SWATH

合計するデータポイントの数を選択しま

す。小分子またはペプチドの範囲:4~6。インタクトプロテイン分析(> 20 kDa)の開始値:40

Time bins to sum

TOF MS、TOF MSMS、IDA、MRMHR、SWATH

時間-デジタル変換器(TDC)のチャネル数を選択します。イオンは、各チャネル

で計数されます。4チャネルすべてを選択(デフォルト設定)した場合、全4チャネルが合計イオン数として合算されます。

Channels 1 to 4

表 6-10 IDA Criteria

説明ラベル

IDA基準とは、調査実験、つまりTOFMS実験に適用されるフィルターです。IDA基準に一致するイオンだけが、MS/MS実験でトリガーされます。各アプリケーションウィンドウでは、適切なIDA基準が選択され、UI上に表示されます。また、ユーザーがすべてのワークフローを選択し、目的の基準を選

択することもできます。

IDA Criteria

サイクルごとに実行されるTOF MSMS実験の回数を指定します。存在する候補イオン数が、入力された最大候補イオン数よりも少ない場合、MS/MSに費やされる時間は候補イオン間で分散されます。つまり、測定全体を通じ

て、合計サイクル時間は相対的に一定に保たれます。返されるTOF MSMSスペクトルは、すべてcpsに正規化されます。ソフトウェアでは、サイクルごとに最大100件のTOF MSMS実験を追加できます。

Maximumcandidate ions

TOF MSスペクトルで強度を高めているイオンを優先し、強度の低下が始まる前にMS/MS測定に対してトリガーします。このフィルターによって、一定したバックグラウンドイオンが候補リストから削除され、小規模であり

ながら強度を高めているイオンがトリガーされます。シグナル対ノイズ比

が高い場合、このようなイオンは複数回トリガーされる可能性がありま

す。動的バックグラウンドサブトラクションフィルターは、IDA基準セクションで他の標準フィルターと組み合わせて使用することができます。

Dynamicbackgroundsubtraction

TOF MSMS実験での候補イオンの最小強度(秒あたりのイオン数)を指定します。

Intensity thresholdexceeds

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表 6-10 IDA Criteria (続き)

説明ラベル

以前の候補イオンを無視する条件のオプションを選択します。

• For (sec):TOF MSMS実験に対して選択された候補イオンは、それ以降X秒はMS/MSで候補の対象となりません。この値はLCピーク幅の半分に設定し、候補イオンがピーク頂点でトリガーされるようにすることをお勧めします。

• After _ occurrences:

For (sec) との組み合わせ:後続サイクルのX秒の間、候補イオンがMS/MSに対してY回選択されるようにします。その後は、候補リストから除外されるようになります。

注: 動的除外ルーチンでは、MWを使用します(m/z比ではありません)。同じMW(質量許容範囲内)を持ち、荷電状態が異なる候補イオンは、同一の候補とみなされます。繰り返し回数の条件に一致しな

い場合は、最も強度が高い荷電状態が候補リストに残ります。候補イ

オンがMSMSに対して1回選択されていて、それ以上トリガーされないようにする場合は、For (Sec) フィールドにメソッドの期間を秒単位で入力します。

Exclude formercandidate ions

m/z値とイオンの荷電状態に基づいて、衝突エネルギーが自動的に計算されます。MSメソッドの動的衝突エネルギーを計算する該当ページ 111を参照してください。

動的CEは、CEスプレッドと組み合わせて使用できます。衝突エネルギースプレッド(CES)は、計算された衝突エネルギーを中心として適用されます。

Dynamic CE forMS/MS

候補イオンの荷電状態範囲を指定します。これにより、一価のバックグラ

ウンドイオンや未知の荷電イオンを排除することができます。このフィル

ターは、一般的にペプチドの用途で使用します。荷電状態の基準を選択し

た場合は、モノアイソトピックイオンだけがMS/MSに対して選択されます。

Charge State

高度な基準

Dynamic Accumulation では、強度が低いイオンに対する蓄積時間を長く、強度が高いイオンに対する蓄積時間を短くすることで、高品質なMS/MSデータの取得に役立てます。また、前駆体の強度に基づいてMSMS蓄積時間を適用する機能を使用することで、MS/MSスペクトルの品質を改善することができます。このオプションを選択すると、蓄積時間が調整されます。つま

り、最も強度が高い候補には最短の蓄積時間が割り当てられ、候補イオン

の強度が低いほど長い蓄積時間が割り当てられることになります。また、

測定全体を通じて、合計サイクル時間は相対的に一定に保たれます。

Dynamicaccumulation

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表 6-10 IDA Criteria (続き)

説明ラベル

候補イオンのm/z範囲を指定します。候補質量範囲は、常にTOF MS質量範囲に収まります。

Candidate massrange

同位体の除外ウィンドウを指定する場合に選択します。このウィンドウ

は、MS/MSに対して選択された候補イオンを中心とした左右対称のウィンドウです。入力する値は、ウィンドウの半分の幅になります。つまり、値

4を入力した場合、ウィンドウM-4~M+4の範囲内に収まる任意のピークは、Mと同一のサイクルにおいてMS/MSに対して選択されません。この機能がアクティブの場合、Peak Finderでは未知のピークがモノアイソトピックで+1の荷電状態とみなされます。これは、小分子の用途に最適化されていま

す。

Exclude isotopeswithin +/- Da

CEの大きさを自動的に9 V増加させます。このフィールドを選択すると、Dynamic CE for MS/MS チェックボックスが自動的に選択され、使用できなくなります。

Adjust CE whenusing iTRAQ

®

reagent(iTRAQ試薬の使用時は

CEを調整する)

質量許容範囲ウィンドウを指定します。このウィンドウは、MS/MSに対して選択された候補イオンを中心とした左右対称のウィンドウです。ウィン

ドウの半分の幅を入力してください。たとえば、入力した値が50 mDaの場合、ウィンドウM-50 mDa~M+50 mDaの範囲に収まるピークは、Mと同じピークとみなされます。Mはイオンのm/z値です。ユーザーはppmかmDaのいずれかを選択できます。質量許容範囲は、動的除外を持つ分子量または

イオンのm/z値に適用できます。

Mass tolerance +/-mDa

ppm

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表 6-10 IDA Criteria (続き)

説明ラベル

IDA: Inclusion List 基準を使用する場合は、チェックボックスを選択します。リンクをクリックしてIDA: Inclusion List ダイアログを開き、基準を編集します。

含めるリストに存在し、含めるリストの基準と一致する候補イオンは、MS/MSに対して優先的に選択されます。

• Compound name:候補イオンの名前。名前には任意の文字を含めることができ、固有である必要はありません。化合物名は、ファイル情報に記

録されます。このフィールドは空白のままにしておくことができます。

• m/z (Da):MS/MSを優先的に実行する対象となるイオンのm/z値を入力します。

• Retention time (min):対象となるイオンのLC保持時間を入力します。指定した保持時間でイオンが検出された場合、そのイオンはMS/MSに対して優先的に選択されます。値として0を入力すると、測定全体を通じてイオンが優先的に選択されます。

• Retention time tolerance (+/-sec):指定した保持時間を中心とした+/-の時間ウィンドウです。許容範囲は、LC保持時間で発生するドリフトに対応するのに役立ちます。含めるリストに存在するイオンが、指定した保持時

間を中心としたウィンドウの範囲内で検出された場合、そのイオンは

MS/MSに対して優先的に選択されます。

• Intensity (cps):含めるリストのイオンについて、強度のしきい値を指定します。候補イオンがしきい値(cps単位)を上回っている場合、そのイオンはMS/MSに対して優先的に選択されます。

Inclusion List

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表 6-10 IDA Criteria (続き)

説明ラベル

IDA: Exclusion List 基準を使用する場合は、チェックボックスを選択します。リンクをクリックしてIDA: Exclusion List ダイアログを開き、基準を編集します。

除外リストに存在する候補イオンは、指定した保持時間でMS/MSに対して選択されません。

• Compound name:候補イオンの名前。名前には任意の文字を含めることができ、固有である必要はありません。化合物名は、ファイル情報に記

録されます。このフィールドは空白のままにしておくことができます。

• m/z(Da):MS/MSを実行しない対象となるイオンのm/z値を入力します。

• Retention time (min):対象となるイオンのLC保持時間を入力します。指定した保持時間でイオンが検出された場合、そのイオンはMS/MSに対して選択されません。値として0を入力すると、測定全体を通じてイオンが選択されません。

• Retention time tolerance (+/-sec):指定した保持時間を中心とした+/-の時間ウィンドウです。許容範囲は、LC保持時間で発生するドリフトに対応するのに役立ちます。除外リストに存在するイオンが、指定した保持時間

を中心としたウィンドウの範囲内で検出された場合、そのイオンはMS/MSに対して除外されます。

Exclusion List

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表 6-10 IDA Criteria (続き)

説明ラベル

質量欠損フィルター基準を使用する場合は、チェックボックスを選択しま

す。リンクをクリックしてIDA: Mass Defect Filter ダイアログを開き、基準を編集します。

指定した質量欠損基準に一致する任意のイオンに対して、MS/MSがトリガーされます。IDAアルゴリズムではイオンが分子量に変換され、分子量が質量欠損基準と比較されます。質量欠損フィルターを適用することで、予期さ

れる分子量範囲から外れるすべてのイオンだけでなく、予期される分子量

の範囲内に収まりながら予期される質量欠損範囲を超えるイオンもフィル

タリングできます。

質量欠損(mDa) = ABS(単一質量 - 公称質量)

• Chemical formula:代表となる対象化合物の分子式を入力します。複数の式を入力することで、複数の質量欠損をリアルタイムでフィルタリング

できます。

• MW(Da):化学式の単分子量はソフトウェアが生成します。

• MW tolerance (+/- Da ):式を入力すると、関連する分子量(MW)はソフトウェアによって自動的に計算されます。MW tolerance (+/-Da) とは、計算されたMWを中心としたウィンドウです。候補イオンの質量欠損が、質量欠損±質量欠損許容範囲の基準と一致し、MWを中心としたウィンドウの範囲内に収まる場合は、MS/MSに対して選択されます。

• Mass defect ( Da ):分子式とMW許容範囲を入力します。入力された式の質量欠損は、ソフトウェアが計算します。

• Mass defect tolerance (mDa):質量欠損に関する許容範囲を入力します。

Use the mass defect filter with no other IDA criteria:質量欠損フィルターを排他的に使用する場合は、このチェックボックスを選択します。MS/MSは、指定した基準の範囲内に収まる質量欠損を持つ候補イオンに対してのみ実行さ

れます。このチェックボックスを選択していない場合、質量欠損基準と一

致する候補イオンは、候補リストの中で他のイオン(指定した残りのIDA基準と一致するイオン)よりも優先順位が高くなります。ただし、含めるリ

ストは例外です。含めるリストの基準を満たす候補イオンは、質量欠損基

準を満たすイオンと同じ優先順位になります。

Mass Defect Filter

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表 6-10 IDA Criteria (続き)

説明ラベル

同位体の一致基準を使用する場合は、チェックボックスを選択します。リ

ンクをクリックしてIsotopic Matching ダイアログを開き、基準を編集します。

同位体の一致を選択している場合、ユーザーは同位体パターンを手動で入

力したり、Isotopic Calculator を使用して計算してからMS/MSのトリガーに使用する同位体パターンを入力したりできます。パターンを手動で入力する

場合、最初のエントリは質量差が0 Daで100%の相対量でなければなりません。同位体パターンの中でモノアイソトピックイオンが最も豊富なイオン

でない場合、Abundance 列の後続のエントリは100%よりも大きな値にすることができます。

Isotope to use for TOF MSMS:同位体パターンの中で、MS/MSを実行する対象となるピークを選択します。たとえば、モノアイソトピックイオンまたは

最も強度が高いイオンを選択します。

Isotopic Calculator:ユーザーが指定した式または荷電状態、さらに必要な場合はH+の電荷エージェントに基づいて、同位体パターンを自動的に計算します。Isotopic Calculatorに式を入力して、Calculate をクリックします。OK をクリックすると、Isotopic Calculator ダイアログが閉じます。Mass DifferenceおよびAbundance の各列は自動的に入力されます。

注:相対量が1%未満の行は、自動的に削除されます。

Tolerance (mass):パターン内で指定されたピークの質量差は、+/-の許容範囲に収まっていないとパターンに一致しません。

Tolerance (Abundance):%単位で表した相対量の許容範囲です。パターン内で指定されたピークの相対量は、±の相対量許容範囲に収まっていないとパターンに一致しません。

Isotopic Matching

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表 6-10 IDA Criteria (続き)

説明ラベル

中性損失基準を使用する場合は、チェックボックスを選択します。リンク

をクリックしてNeutral Loss ダイアログを開き、基準を編集します。

中性損失を選択している場合、異なるCE値(低/高CE値)を持つ2種類のTOFMS実験の質量リストが比較され、質量差が許容範囲(質量)に収まる前駆体質量がMS/MSに対してトリガーされます。

注: MS/MSによってトリガーされるのは、低CE調査スキャンの前駆体イオンだけです。中性損失フィルターを選択している場合、中性損失イオ

ンがIDA実験に対して排他的に選択されます。Neutral Loss 機能を選択すると、TOF MSメソッドのCE値は使用できなくなります。

• Low CE (survey scan):最初のTOF MS実験に適用する衝突エネルギーを設定します。

• High CE (second scan):2回目のTOF MS実験に適用する衝突エネルギーを設定します。

注:正極の場合、High CE は Low CE の値よりも大きくなります。負極の場合、Low CE が High CE の値よりも大きくなります。

• Tolerance (mass):質量差に適用する許容範囲を指定します。デフォルト値は0.02 Daです。

Neutral Loss

MSメソッドの動的衝突エネルギーを計算する

1. 「MS Method(MSメソッド)」ワークスペースを開きます。

2. IDA基準またはSWATH®アプリケーション基準を含むMSメソッドを作成するか開きます。

3. 「Advanced(アドバンスト)」 > 「Dynamic collision energy(動的衝突エネルギー)」をクリックします。

4. 必要に応じてフィールドの情報を修正します。

5. 次のいずれかを実行します。

• 以前に保存したデフォルト値を使用して動的衝突エネルギーを計算するには、「LoadDefault Settings(デフォルト値のロード)」をクリックします。

• 新しいメソッドで動的衝突エネルギーを計算する場合に使用するデフォルト値として

現在の値を保存するには、「Save as Default Settings(デフォルト値として保存)」をクリックします。

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• 現在の値を現在のメソッドに適用して動的衝突エネルギーを計算するには、「Apply(適用)」をクリックします。

• ダイアログを閉じて変更内容を破棄するには、「Cancel(キャンセル)」をクリックします。

「LCメソッド」ワークスペース

LCメソッドの作成

LCデバイスに付属している資料等を参照してください。

1. LC Method (LCメソッド)ワークスペースを開きます。

2. Newをクリックします。

3. 必要に応じて、左側のパネルにあるデバイスをクリックし、次にフィールドを編集します。

4. ファイルを保存します。

「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペース

分析物の存在の確認

1. 「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペースを開きます。

2. File > Open Multiple Samplesをクリックします。

図 6-7 File メニュー—オプション

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E112 / 252

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3. Select Samplesダイアログで、Availableリストからサンプルを選択して矢印をクリックし、ファイルをSelectedリストに移動します。

ヒント!サンプルを1つ選択するには、ファイルを展開してサンプルをクリックし、矢印をクリックします。

4. 「OK」をクリックします。

5. Show > Extract Ion Chromatogram (XIC)をクリックします。

図 6-8 Show メニュー—オプション

Specify XIC Rangesダイアログが開きます。

6. 「Specify XIC Ranges(XICの範囲指定)」ダイアログで「Center(中心)」、「Width(幅)」、「Compound(化合物)」の各値を入力します。イオンの抽出該当ページ114を参照してください。

7. 「OK」をクリックします。

8. 「Show(表示)」 > 「Data and Peaks Table(データおよびピーク表)」をクリックします。

図 6-9 「Show(表示)」メニュー—オプション

9. 化合物のピーク面積、強度、質量、および電荷を確認します。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド113 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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イオンの抽出

重なっている1つ以上の抽出イオンクロマトグラム(XIC)を計算する目的で使用します。これは、保持時間を関数とした一定の質量範囲にわたる強度和のプロットです。

1. Explorerワークスペースを開きます。

2. File > Open Multiple Samplesをクリックします。

図 6-10 File メニュー—オプション

3. Select Samplesダイアログで、Availableリストからサンプルを選択して矢印をクリックし、ファイルをSelectedリストに移動します。

ヒント!サンプルを1つ選択するには、ファイルを展開してサンプルをクリックし、矢印をクリックします。

4. OKをクリックします。

5. Show > Extract Ion Chromatogram (XIC)をクリックします。

図 6-11 Show メニュー—オプション

Specify XIC Rangesダイアログが開きます。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E114 / 252

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6. Center、Width、Compoundの各値を入力するか、値をインポートします。

注: XICのデフォルトのタイトルは、特定の行のセルに表示されている化合物名で構成されています。

ヒント! Center/Widthモードを使用している場合、Center値として質量ではなく化学式を指定できます。中性の組成物(H20など)を使用している場合、ポジティブモードでは自動的にプロトンが加算され、ネガティブモードでは自動的に減算されます(水の例

の場合、ポジティブモードではH3O+のm/zが使用されます)。組成の末尾に+nまたは-nを

付けて、明示的に電荷状態を指定します。nは電荷状態を表し、省略した場合は1とみなされます。たとえば、H2ONa+

と指定されている場合、H2ONa+のm/zはそのまま使用されま

す。

7. Specify XIC Rangesダイアログで右クリックし、表示される機能を使用します。

図 6-12 Specify XIC Ranges ダイアログの右クリックメニュー

8. OKをクリックします。

アクティブなグラフに、別のサンプルと重なっている系列が含まれている場合は、ProcessAll Overlays?ダイアログが開きます。

9. Process All Overlays?ダイアログが開いた場合は、以下のいずれかの操作を行います。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド115 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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• 使用可能なすべてのサンプルについてXICのオーバーレイを生成するには、All Overlaidを選択します。

• 現在アクティブなサンプルだけでXICを生成するには、Active Onlyを選択します。

Only show this dialog again if the Shift key is downチェックボックスが選択されている場合は、ユーザーがShiftキーを押してオプションを変更するまで、選択されているアクションが使用されます。

トータルイオンクロマトグラムを開く

トータルイオンクロマトグラム(TIC)は、一連の質量スキャンから得られたすべてのイオンの強度寄与を合計することで作成されます。TICを使用して、データセット全体を単一のペインで表示します。TICは、クロマトグラムのペインの時間に対してプロットされたスキャンのすべてのイオンの強度の合計で構成されています。

1. 「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペースを開きます。

2. File > Open Multiple Samplesをクリックします。

図 6-13 File メニュー—オプション

3. Select Samplesダイアログで、Availableリストからサンプルを選択して矢印をクリックし、ファイルをSelectedリストに移動します。

ヒント!サンプルを1つ選択するには、ファイルを展開してサンプルをクリックし、矢印をクリックします。

4. OKをクリックします。

5. Show > Total Ion Chromatogram (TIC)をクリックします。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E116 / 252

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アクティブなグラフに、別のサンプルと重なっている系列が含まれている場合は、ProcessAll Overlays?ダイアログが開きます。

6. Process All Overlays?ダイアログが開いた場合は、以下のいずれかの操作を行います。

• 使用可能なすべてのサンプルについてXICのオーバーレイを生成するには、All Overlaidを選択します。

• 現在アクティブなサンプルだけでXICを生成するには、Active Onlyを選択します。

Only show this dialog again if the Shift key is downチェックボックスが選択されている場合は、ユーザーがShiftキーを押してオプションを変更するまで、選択されているアクションが使用されます。

7. TICで右クリックして、図 6-14に示されている機能を使用します。

図 6-14 Total Ion Chromatogram右クリックメニュー

説明ラベル項目

重なっているトレースが複数存在する場合に使用で

きます。現在アクティブなトレースがグラフから削

除されます。現在アクティブではないトレースを削

除するには、目的のトレースをアクティブにしてか

らこの機能を選択します。

Remove Active Trace1

重なっているトレースが複数存在する場合に使用で

きます。現在アクティブなトレースを除き、すべて

のトレースが削除されます。保持するトレースが現

在アクティブではない場合は、目的のトレースをア

クティブにしてからこの機能を選択します。

Remove All Traces ExceptActive

2

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説明ラベル項目

グラフにテキストを追加します。

必要に応じてFontをクリックし、フォントのプロパティを調整してからOKをクリックします。キャプションは、ユーザーが右クリックしてメニューを開

いた(x, y)位置に追加されます。

キャプションの追加後は、ドラッグして別の場所に

移動することができます。x軸またはy軸にドラッグすると、ドラッグ操作が取り消されます。

\dおよび\uという文字列は、特別に扱われます。前者の場合、その直後に続く1文字が下付き文字として描画され、後者の場合は上付き文字として描画されま

す。どちらの場合も、特殊文字は表示されません。

これは、化学式を表現する場合に特に便利です。た

とえば、「H\d3O\u+」と入力するとH3O+と表示されま

す。

Add Caption3

キャプションの上で右クリックします。このダイア

ログは、キャプションをダブルクリックして開くこ

ともできます。

Edit Caption4

キャプションの上で右クリックして、この機能を選

択します。また、キャプションをグラフの外までド

ラッグすると削除されます。

Delete Caption5

グラフに1つ以上のキャプションが存在する場合に使用できます。1回の操作ですべてのキャプションが削除されます。

Delete All Captions6

グラフに画像を貼り付けます。Paste Image7

選択した画像をグラフから削除します。Delete Image8

ベースピーククロマトグラムを開く

各スペクトルにおける最大ピークの強度を時間の関数としてプロットします。

1. 「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペースを開きます。

2. File > Open Multiple Samplesをクリックします。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E118 / 252

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図 6-15 File メニュー—オプション

3. Select Samplesダイアログで、Availableリストからサンプルを選択して矢印をクリックし、ファイルをSelectedリストに移動します。

ヒント!サンプルを1つ選択するには、ファイルを展開してサンプルをクリックし、矢印をクリックします。

4. OKをクリックします。

5. Show > Base Peak Chromatogram (BPC)をクリックします。

図 6-16 Show メニュー—オプション

BPC Options ダイアログが開きます。

6. 図 6-17に示されている機能を使用します。

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図 6-17 BPC Options ダイアログ

注:ベースピーククロマトグラムの生成中に、単一の選択範囲が1.0分を超えて広がっているクロマトグラムがアクティブになっている場合、時間範囲は、デフォルトでその選

択範囲の時間範囲になります。それ以外の場合は、最後の時間範囲が使用されます。時

間範囲を制限することで、ユーザーが手動で範囲を入力する手間を省けます。

アクティブなグラフに、別のサンプルと重なっている系列が含まれている場合は、ProcessAll Overlays?ダイアログが開きます。

図 6-18 Process All Overlays?ダイアログ

ラベル項目

「BPCの表示」は、重なっているすべてのデータセット、またはアクティブなデータセットのみのどちらに行いますか?

• すべてのオーバーレイ

• のみ有効

1

Shiftキーを押した場合にのみこのダイアログボックスを再び表示する2

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ラベル項目

OK3

キャンセル4

7. Process All Overlays?ダイアログが開いた場合は、以下のいずれかの操作を行います。

• 使用可能なすべてのサンプルについてXICのオーバーレイを生成するには、All Overlaidを選択します。

• 現在アクティブなサンプルだけでXICを生成するには、Active Onlyを選択します。

Only show this dialog again if the Shift key is downチェックボックスが選択されている場合は、ユーザーがShiftキーを押してオプションを変更するまで、選択されているアクションが使用されます。

データおよびピーク表の表示

データおよびピーク表は、2種類の表で構成されています。データ表にはデータセットを構成する生データの(x、y)値が表示され、ピーク表にはピーク自体の情報が表示されます。この表は、グラフがアクティブの場合に生成されます。

注:表示されるのは、グラフのy軸に対して青い矢印を使用して設定した現在のしきい値を超えているピークだけです。グラフのデータを操作する該当ページ 131を参照してください。

この機能は、現在アクティブなデータに対して2種類の表で構成されたペインを表示する目的で使用します。2種類の表とは、生データの(x、y)値が表示される表とピークのリストが表示される表です。

1. 「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペースを開きます。

2. File > Open Multiple Samplesをクリックします。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド121 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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図 6-19 File メニュー—オプション

3. Select Samplesダイアログで、Availableリストからサンプルを選択して矢印をクリックし、ファイルをSelectedリストに移動します。

ヒント!サンプルを1つ選択するには、ファイルを展開してサンプルをクリックし、矢印をクリックします。

4. OKをクリックします。

5. Show > Data and Peaks Tableをクリックします。

図 6-20 Show メニュー—オプション

表 6-11に示されている機能を使用します。

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表 6-11 データおよびピーク表の機能

...この作業を行う目的の作業

列見出しをクリックします。そのフィールドを基準として

表を並べ替える。

表内で右クリックして、Copyをクリックします。Dataタブがアクティブの場合は、選択されているx値およびy値がコピーされます。Peaksタブがアクティブの場合は、選択されているピーク情報がコピーされます。

現在選択されているセルをコ

ピーする。

まず行選択列でドラッグして行を選択してから、ShiftまたはCtrlキーを使用して複数の行を選択します。

選択した行だけをコピーす

る。

Ctrlキーを押しながら列見出しをクリックします。単に列見出しをクリックした場合は、列が並べ替えられます。

複数の列を選択する。

Edit > Select Allをクリックして、Edit > Copyをクリックします。

表全体をコピーする。

ペイン内で右クリックし、Export Data as Textをクリックします。

指定したファイルにデータリスト全体を保存します。x値とy値はタブで区切られており、各(x、y)ペアの後にはキャリッジリターンが続きます。

テキストとしてデータをエク

スポートする。

ペイン内で右クリックし、Export Peak List as Textをクリックします。

指定したファイルにピークリスト全体を保存します。これ

には、関連付けられたグラフのy軸で設定されている現在のしきい値を下回っているピークは含まれません。各種

ピークメトリックはタブで区切られており、各ピークの後

にはキャリッジリターンが続きます。

テキストとしてピークリスト

をエクスポートする。

サンプル情報の表示

「Sample Information(サンプル情報)」ペインには、アクティブデータの取得に使用されている実験の説明がテキスト情報として表示されます。表示される情報は、サンプル名やデータ

取得に関する情報(実験の回数や種類など)といったサンプルに固有の情報です。

異なるサンプルに関連付けられた複数の「Sample Information(サンプル情報)」ペインが表示されている場合は、いずれかのペインのツリービューで項目をクリックすると、他のすべて

のペインでは対応するセクションまでスクロールします。これは、すべてのペインに同じ名

前を持つセクションが存在することを前提とした機能です。この機能は、2つの類似した(ただし同一ではない)「Sample Information(サンプル情報)」ペインを比較する場合に便利です。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド123 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

取扱説明書 – ソフトウェア

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1. 「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペースを開きます。

2. File > Open Multiple Samplesをクリックします。

図 6-21 File メニュー—オプション

3. Select Samplesダイアログで、Availableリストからサンプルを選択して矢印をクリックし、ファイルをSelectedリストに移動します。

ヒント!サンプルを1つ選択するには、ファイルを展開してサンプルをクリックし、矢印をクリックします。

4. OKをクリックします。

5. 「Show(表示)」 > 「Sample Information(サンプル情報)」をクリックします。

グラフ選択情報の表示

このウィンドウには、クロマトグラムまたはスペクトルで選択されている領域の情報が表示

され、このようなペインのいずれかがアクティブの場合に生成されます。

1. 「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペースを開きます。

2. File > Open Multiple Samplesをクリックします。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E124 / 252

取扱説明書 – ソフトウェア

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図 6-22 File メニュー—オプション

3. Select Samplesダイアログで、Availableリストからサンプルを選択して矢印をクリックし、ファイルをSelectedリストに移動します。

ヒント!サンプルを1つ選択するには、ファイルを展開してサンプルをクリックし、矢印をクリックします。

4. OKをクリックします。

5. Window > Graph Selection Windowをクリックします。

Graph Selection Infoダイアログが開きます。

図 6-23 Graph Selection Info ダイアログ

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド125 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

取扱説明書 – ソフトウェア

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6. グラフで1つまたは複数の選択を行います。

図 6-24 Graph Selection Info

7. リストから、Default Info、XY Info、Standard Deviations、またはSignal/Noiseのいずれかのオプションを選択します。

8. 必要に応じて表 6-12の機能を使用します。

表 6-12 Graph Selection Information

説明ラベル

Default Info

グラフで複数の選択が行われている場合、情報はそれぞれ個別に表示されます。

選択した部分の左右のx値。Selected Start andEnd

選択したx値の範囲に対応したデータポイントのインデックス。Selected Points

選択した領域内に含まれるデータポイントの最小および最大y値。Min and Max

選択した領域内に含まれるデータポイントのy値の合計。Sum

選択した部分における最大ピークのx値。グラフに関連付けられたPeakFinderがその領域でピークを見つけられなかった場合、このフィールドは表示されません。選択した領域でPeak Finderがピークを見つけられない場合は、X at Max Yという追加フィールドが表示されます。このフィールドには、最大y値を持つ選択範囲内のポイントに対応するx値が表示されます。

Peak

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表 6-12 Graph Selection Information (続き)

説明ラベル

高さの半分の位置におけるピークの幅。選択した領域でピークが見つ

からなかった場合、このフィールドは表示されません。

Peak Width at 50%

高さの半分の位置におけるデータポイントのピークの幅。選択した領

域でピークが見つからなかった場合、このフィールドは表示されませ

ん。

Points Across Peakat 50%

ベース位置におけるピークの幅。選択した領域でピークが見つからな

かった場合、このフィールドは表示されません。

Peak Width at Base

ベース位置におけるデータポイントのピークの幅。選択した領域でピー

クが見つからなかった場合、このフィールドは表示されません。

Points Across Peakat Base

選択した部分における最大ピークの面積。選択した領域でピークが見

つからなかった場合、このフィールドは表示されません。

Peak Area

XY Info

このビューには、Default Infoビューに表示される情報のサブセットが表示されます。選択したx値(またはy値)をコピーして別の場所に貼り付ける場合は、こちらのほうが便利です。

選択した部分にPeak Finderが検出したピークが含まれている場合、ここにはPeak Finderが検出したx値(選択した部分の中で最大のピークに対応するx値)が表示されます。そうでない場合は、選択した部分の中で最大の強度を持つデータポイントに対応するx値が表示されます。

X-values

選択した各部分の中で最大のy値。Y-values

選択した各部分における最大ピークのピーク面積。Peak Area

Standard Deviations

このオプションが選択されている場合、選択した部分がおおよそ一定の強度を持つ領域

に広がっているものと想定されます。選択した領域にピークが含まれている場合は、こ

の項目を選択しないでください。

選択した領域内のy値の平均とその標準偏差。Average andStd.Deviation

Signal/Noise

グラフ内で少なくとも2か所の選択を行い、1か所にはノイズ領域が含まれ、もう1か所には目的のピークが含まれるようにします。

そのピークの信号/ノイズ(S/N)比が報告されます。最大y値を含む選択範囲にはピークが含まれるものと想定され、その他の選択範囲にはノイズ領域が含まれるものと想定さ

れます。3か所以上の領域を選択すると、最小のy値を持つ領域がノイズ領域と想定され、その他の領域に目的のピークが含まれるものと想定されます。

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表 6-12 Graph Selection Information (続き)

説明ラベル

ノイズ領域に対応するy値の平均とその標準偏差が表示されます。Average andStd.Deviation

ピークの選択範囲(複数の選択範囲の場合も含む)について、ピーク

高さからノイズ領域の平均y値を差し引いた値(つまりノイズを上回る部分のピーク高さ)。

Subtracted Height

計算されたピークのS/N比。ピークのSubtracted Heightをノイズ領域の標準偏差で除算し、係数で乗算した値です。この係数は、Optionsセクションで指定されているノイズ係数です。このノイズ係数は、出力ではカッ

コ付きで表示されます。ここで定義される信号/ノイズ比は二乗平均平方根(RMS)S/Nと呼ばれる場合があります。これは、標準偏差が平均値に基づいて推定されるノイズ値のRMSであるためです。

Signal/Noise

ピークのSubtracted Heightをノイズ領域の範囲全体(最大Y-最小Y)で除算して計算されたS/N。

Peak-to-Peak S/N

9. (オプション)Options アイコンをクリックします。

Graph Info Optionsダイアログが開きます。

図 6-25 Graph Info Optionsダイアログ

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説明ラベル項目

信号/ノイズ比では、ノイズとは、指定されたバックグラウンド領域内のポイントの標準偏差をこの係数

で乗算した値として定義されます。通常この値は、1~3の範囲になります。

Noise multiplier for S/N1

Sum Y Above x%およびPeak Width at x%フィールドの計算で使用される高さの割合を変更することが

できます。通常はデフォルト値の50%が適しており、変更する必要はありません。

Spectral heightpercentage

2

選択すると、背後のデータが見えるように情報ウィ

ンドウが半透明で描画されます。この機能を使用し

ている場合、ユーザーがウィンドウをクリックして

アクティブにすると、そのウィンドウは不透明で描

画されます。この機能は、グラフが情報表示の妨げ

となっている場合に使用します。

Semi-transparent (whennot active)

3

10.(オプション)Fill Peaks アイコンをクリックします。

アクティブなグラフで、暗部と明部が交互に変化するようにピークを塗りつぶすモード

と、そのようにしないモードを切り替えます。この機能は、Peak Width at Baseに対応するピークの範囲を確認する場合に便利です。

11.(オプション)Show Point Symbols アイコンをクリックします。

アクティブなグラフで、データポイントをポイント記号で示すモードと、そのようにしな

いモードを切り替えます。この機能は、メインウィンドウに表示されるテキスト情報を使

用するだけでなく、ピークを細かく調べ、どのくらいのデータポイント数で構成されてい

るのかを確認する場合に便利です。

グラフのSettingsの編集

1. 「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペースを開きます。

2. File > Open Multiple Samplesをクリックします。

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図 6-26 File メニュー—オプション

3. Select Samplesダイアログで、Availableリストからサンプルを選択して矢印をクリックし、ファイルをSelectedリストに移動します。

ヒント!サンプルを1つ選択するには、ファイルを展開してサンプルをクリックし、矢印をクリックします。

4. OKをクリックします。

5. Editをクリックし、図 6-27の機能を使用します。

図 6-27 Editメニュー—オプション

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説明ラベル項目

現在のデータをクリップボードにコピーします。ス

ペクトルまたはクロマトグラムがアクティブの場合、

そのアクティブなグラフの画像がコピーされます。

Copy1

スペクトルまたはクロマトグラムがアクティブの場

合、このオプションを使用して、現在のグラフを画

像としてクリップボードにコピーします。

Copy Graph2

アクティブなウィンドウ全体の画像をクリップボー

ドにコピーします。ウィンドウのタイトルバーおよ

び各種ペインのツールバーは含まれません。

Copy Window3

このオプションを使用して、データをクリップボー

ドから現在のビューに貼り付けます。

Paste4

表がアクティブの場合は、表内のすべての行を選択

します。テキストペインがアクティブの場合は、す

べてのテキストを選択します。

Select All5

グラフの外観、ピークのラベル付けと検出、自動処

理、XIC範囲の計算に関するオプションを設定することができます。オプションの設定該当ページ152を参照してください。

Options6

このオプションを使用して、デフォルトのエクスプ

ローラオプションに戻します。オプションのリセッ

ト該当ページ 152を参照してください。

Reset Options7

グラフのデータを操作する

1. 「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペースを開きます。

2. Select Samplesダイアログで、Availableリストからサンプルを選択して矢印をクリックし、ファイルをSelectedリストに移動します。

ヒント!サンプルを1つ選択するには、ファイルを展開してサンプルをクリックし、矢印をクリックします。

3. OKをクリックします。

4. ピークのラベル付けや、それに伴うData and Peaks表などの機能に対するしきい値を設定するには、グラフのy軸に表示される青い矢印をドラッグします。

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図 6-28 Y軸の青い矢印

5. 図 6-29に示されている機能を使用します。

図 6-29 Graphメニュー—オプション

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説明ラベル項目

後続の操作で処理されるグラフの部分を選択します。

たとえば、クロマトグラムの領域を選択してダブル

クリックし、平均スペクトルを取得します。SetSelection機能を使用して具体的なxの範囲を入力すると、カーソルを使用した場合よりも正確に選択部分

を設定することができます。

a. Graph > Set Selectionをクリックします。

b. Set Selectionダイアログで、CenterおよびWidthの各値を入力します。

c. OKをクリックします。

ヒント!グラフ内での選択部分を手動で設定する

には、プロット領域でカーソルをドラッグして選択

を行います。Shiftキーを押すと、現在の選択部分が保持されます。

Set Selection1

プロットを目的として、指定した係数の範囲内でy値を拡大します。

a. データファイルを開きます。

b. グラフの部分を選択します。

c. Graph > Expand Selected Y-Values byをクリックします。

d. Expand Selectionダイアログで、拡大係数を入力します。

e. OKをクリックします。

Expand Selected Y-ValuesBy

2

すべての拡大範囲を解除します。

• 拡大された範囲が存在するグラフで、Graph >Clear Expansion Rangesをクリックします。

Clear Expansion Ranges3

この機能は、重なっているトレースが複数存在する

場合に使用できます。現在アクティブなトレースが

グラフから削除されます。

• 重なっているトレースが複数存在するグラフで、

Graph > Remove Active Traceをクリックします。

Remove Active Trace4

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説明ラベル項目

この機能は、重なっているトレースが複数存在する

場合に使用できます。現在アクティブなトレースを

除き、すべてのトレースが削除されます。

• 重なっているトレースが複数存在するグラフで、

Graph > Remove All Traces Except Activeをクリックします。

Remove All Traces ExceptActive

5

現在のしきい値設定を下回るすべてのデータポイン

トについて、重なっているトレースがグラフから削

除されます。

x範囲の一部だけが表示されるようにグラフが現在ズームされている場合は、ダイアログが開きます。

このダイアログでは、範囲全体を使用してしきい値

を下回るトレースを削除するのか、現在表示されて

いる部分だけを使用するのか選択できます。

• 重なっているトレースが複数存在するグラフで、

Graph > Remove Traces Below Thresholdをクリックします。

Remove Traces BelowThreshold

6

アクティブなグラフに重なっているトレースが複数

存在する場合は、現在アクティブなトレースを除き、

通常よりも淡い色合いで表示します。この機能は、

アクティブなトレースを注視する場合に使用します。

アクティブではないトレースは、目立たなくなりま

す。元のスタイルに戻すには、もう一度この機能を

選択します。

• 重なっているトレースが複数存在するグラフで、

Graph > Fade Inactive Tracesをクリックします。

Fade Inactive Traces7

アクティブなグラフに重なっているトレースが複数

存在する場合は、このオプションを使用すると2番目のトレースが反転します。これにより、類似する2つのトレースを視覚的に比較しやすくなります。元の

表示に戻すには、Invert Second Overlay を再度選択します。

Invert Second Overlay8

グラフを、個別のトレースをすべて合計した単一の

トレースに置き換えます。

• 重なっているトレースが複数存在するアクティブ

なグラフで、Graph > Sum Graph Tracesをクリックします。

Sum Graph Traces9

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説明ラベル項目

個別のオーバーレイごとにグラフを作成します。た

とえば、3つのトレースが重なったグラフでこの機能を選択すると、最終的には4つのペインで構成されることになります。1つはオーバーレイが表示された元のグラフで、残りにはそれぞれ個別のデータセット

が表示されます。

a. 重なっているトレースが複数存在するアクティブなグラフで、Graph > Split Traces into SeparatePanesをクリックします。

b. Number of Columnsダイアログで、出力の列数を選択します。

必要な行数は、行数と重なっているトレースの数

に基づいて決定します。

c. チェックボックスを選択して、新しいペインを新しいウィンドウに配置します。チェックボックス

が選択されていない場合、新しいペインは同じ

ウィンドウ内に配置されます。

Split Traces into SeparatePanes

10

Set Titlesダイアログが開きます。このオプションを使用して、トレースのタイトルを手動で変更します。

Set Graph Title(s)11

Colorダイアログが開きます。このオプションを使用して、現在アクティブなグラフトレースのカラーを

設定します。

Set Active Trace Color12

Set Trace Colors Using Pattern Matchingダイアログが開きます。複数のグラフトレースが重なっている場合、

各オーバーレイにはデフォルトのカラーが使用され

ます。タイトルに特定のテキストが含まれているト

レースに対して特定のカラーを使用する場合は、こ

のオプションを使用します。

Set Trace Colors UsingTitles

13

現在アクティブなグラフデータのコピーを作成し、

グラフに追加します。この機能は、特定のデータ処

理操作による影響を確認する目的で使用します。た

とえば、この機能を使用してデータを複製し、2つのトレースのいずれかをスムージング処理すると、グ

ラフには処理前と処理後のデータが重なって表示さ

れることになります。

• アクティブなグラフで、Graph > Duplicate ActiveDataをクリックします。

Duplicate Active Data14

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説明ラベル項目

現在アクティブなグラフのコピーを作成します。こ

の機能は、特定のデータ処理操作による影響を確認

する目的で使用します。たとえば、この機能を使用

してデータを複製し、2つのトレースのいずれかをスムージング処理すると、2つの独立したグラフに処理前と処理後のデータが表示されることになります。

一方のグラフをズームすると他方も自動的にズーム

されるように、x軸をリンクしておきます。• アクティブなグラフで、Graph > Duplicate Graphをクリックします。

Duplicate Graph15

Offset Tracesダイアログが開きます。このオプションは、重なっている一連のグラフトレースから3次元の積層グラフを作成する場合に使用します。

Offset Traces in X and Y16

このオプションは、生成されたオフセットをTICから削除する場合に使用します。

Remove XY Offset17

ダブルペインの操作ツールを使用する

1. 「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペースを開きます。

2. ペインの右端に並んでいるアイコン(表 6-13を参照)を使用して、2つのペイン(ソースペインとターゲットペイン)で操作を実行します。どのような場合でも、ソースペインで

アイコンをクリックして、ターゲットペインにドラッグします。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E136 / 252

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表 6-13 ダブルペインのツール

説明名称アイコ

各ペインの右上に表示されます。ペインの相対的な位置を変更しま

す。1つのペインのアイコンをクリックして、第2のペインの上、下、左、または右側部分にドラッグします。カーソルが解放された場所に

応じて、最初のペインは、第2のペインに関連して位置が変更されます。ペインをドラッグすると、第2のペインの1辺が赤で強調表示され、最初のペインが配置される場所が示されます。

注:また、一方のウィンドウから他方のウィンドウにペインをド

ラッグすることもできます。

MovePane(ペインの移

動)

ポイントごとに2つのデータセットを合計する場合に使用します。最初にクリックしたソースペインのデータが、アイコンをリリースした

ターゲットペインのデータに加算されます。変更したペインのタイト

ルが更新され、データが変更されたことを示します。

注:加算できるのは、同じ種類の2つのデータセットだけです。たとえば、クロマトグラムにスペクトルを加算することはできません。

ヒント!ターゲットグラフに複数の重なっているトレースが含まれ

ている場合、デフォルトでは、ソースデータはアクティブなターゲッ

トデータだけに加算されます。ソースをターゲットペインのすべて

のデータセットに加算するには、Ctrlキーを押しながら操作します。

Add Data(データ

の加算)

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表 6-13 ダブルペインのツール (続き)

説明名称アイコ

「Add Data(データの加算)」アイコンに似ていますが、ソースデータがターゲットデータから減算されます。この機能を使用して、質量

スペクトルからバックグラウンドを減算します。

ヒント!ターゲットグラフに複数の重なっているトレースが含まれ

ている場合、デフォルトでは、ソースデータはアクティブなターゲッ

トデータからのみ減算されます。ソースをターゲットのすべてのデー

タセットに加算するには、Ctrlキーを押しながら操作します。

ヒント!通常、ソースの強度がターゲットよりも高いデータポイン

トは保持されません。つまり、負のy値は破棄されます。負の強度を持つポイントを保持するには、Shiftキーを押しながら操作します。

SubtractData(データ

の減算)

ソースグラフのアクティブなデータをターゲットグラフに重ね合わせ

ます。操作が完了すると、ターゲットグラフは、ターゲットデータの

コピーを含む新しい系列が表示された状態になります。

ヒント!ソースグラフに複数の重なっているトレースが含まれてい

る場合、デフォルトでは、アクティブなデータのコピーだけがター

ゲットグラフに移動されます。ソースグラフのすべてのデータセッ

トのコピーをターゲットグラフ上で重ね合わせるには、Ctrlキーを押しながら操作します。

OverlayData(データ

の重ね合

わせ)

ペインまたはウィンドウを移動させる

1. 「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペースを開きます。

2. File > Open Multiple Samplesをクリックします。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E138 / 252

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図 6-30 File メニュー—オプション

3. Select Samplesダイアログで、Availableリストからサンプルを選択して矢印をクリックし、ファイルをSelectedリストに移動します。

ヒント!サンプルを1つ選択するには、ファイルを展開してサンプルをクリックし、矢印をクリックします。

4. OKをクリックします。

5. Windowをクリックし、図 6-31の機能を使用します。

図 6-31 Window メニュー—オプション

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド139 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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説明ラベル項目

アクティブなグラフで選択した領域の情報を表示す

るウィンドウが開きます。たとえば、選択した領域

のx範囲や選択したポイントの強度範囲などです。このウィンドウがすでに表示されている場合、このメ

ニュー項目を選択するとウィンドウが閉じます。グ

ラフ選択情報の表示該当ページ124を参照してください。

Graph Selection Window1

ウィンドウに表示される情報のレイアウトを行フォー

マットから列フォーマットに変更する場合は、この

オプションを使用します。

Vertical Mode PaneLayout

2

現在アクティブなペインをウィンドウから削除し、

そのペイン単独で新規ウィンドウに配置します。

Move Pane To NewWindow

3

開いているウィンドウ(最小化されていないもの)

を、同じ行で隣り合うように並べます。

Tile Vertically4

開いているウィンドウ(最小化されていないもの)

を、同じ列で上下に重なるように並べます。

Tile Horizontally5

ガウシアンスムーズの実行

ガウシアンスムーズアルゴリズムを適用します。指定された幅のフィルターであり、重み付

け係数はガウシアン関数または「正規」関数に従います。

1. 「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペースを開きます。

2. File > Open Multiple Samplesをクリックします。

図 6-32 File メニュー—オプション

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E140 / 252

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3. Select Samplesダイアログで、Availableリストからサンプルを選択して矢印をクリックし、ファイルをSelectedリストに移動します。

ヒント!サンプルを1つ選択するには、ファイルを展開してサンプルをクリックし、矢印をクリックします。

4. OKをクリックします。

5. 「Process(処理)」 > 「Gaussian Smooth(ガウシアンスムーズ)」をクリックします。

「Gaussian Smooth(ガウシアンスムーズ)」ダイアログが開きます。

図 6-33 「Gaussian Smooth(ガウシアンスムーズ)」ダイアログ

6. 「Smoothing width(スムージング幅)」フィールドに値を入力します。

これは実際には、最大高の半分の位置におけるガウシアン関数の幅となります。計算はガ

ウシアン関数の両翼に向かって実行されるため、合計幅はさらに大きくなります。ガウシ

アンの半分の幅が1ポイント未満の場合は、小数値を使用できます。

7. アクティブなグラフに複数のトレースが存在する場合は、Process all overlays (otherwiseactive data only)を選択して、すべてのトレースに操作を適用します。

Only show this dialog again if the shift key is downチェックボックスが選択されている場合は、ユーザーがShiftキーを押してオプションを変更するまで、選択されているアクションが使用されます。

8. 「OK」をクリックします。

しきいデータ

現在のしきい値設定を下回る強度のデータポイントをすべて削除します。しきい値は、グラ

フのy軸に示されている青い矢印をドラッグして設定します。

1. 「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペースを開きます。

2. File > Open Multiple Samplesをクリックします。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド141 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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図 6-34 File メニュー—オプション

3. Select Samplesダイアログで、Availableリストからサンプルを選択して矢印をクリックし、ファイルをSelectedリストに移動します。

ヒント!サンプルを1つ選択するには、ファイルを展開してサンプルをクリックし、矢印をクリックします。

4. OKをクリックします。

5. Process > Threshold Dataをクリックします。

アクティブなグラフに、別のサンプルと重なっている系列が含まれている場合は、ProcessAll Overlays?ダイアログが開きます。

図 6-35 Process All Overlays?ダイアログ

6. Process All Overlays?ダイアログが開いた場合は、以下のいずれかの操作を行います。

• 使用可能なすべてのサンプルについてXICのオーバーレイを生成するには、All Overlaidを選択します。

• 現在アクティブなサンプルだけでXICを生成するには、Active Onlyを選択します。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E142 / 252

取扱説明書 – ソフトウェア

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Only show this dialog again if the Shift key is downチェックボックスが選択されている場合は、ユーザーがShiftキーを押してオプションを変更するまで、選択されているアクションが使用されます。

サブセットデータ(グラフ選択へ)

この機能は、領域が1つだけ選択されているグラフがアクティブの場合のみ使用できます。選択されている領域外のデータポイントが削除されます。この機能は、データ全体のサブセッ

トにデータ処理を集中させる場合に使用します。

1. 「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペースを開きます。

2. File > Open Multiple Samplesをクリックします。

図 6-36 File メニュー—オプション

3. Select Samplesダイアログで、Availableリストからサンプルを選択して矢印をクリックし、ファイルをSelectedリストに移動します。

ヒント!サンプルを1つ選択するには、ファイルを展開してサンプルをクリックし、矢印をクリックします。

4. OKをクリックします。

5. グラフで選択を行います。

6. Process > Subset Data (to graph selection)をクリックします。

アクティブなグラフに、別のサンプルと重なっている系列が含まれている場合は、ProcessAll Overlays?ダイアログが開きます。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド143 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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図 6-37 Process All Overlays?ダイアログ

7. Process All Overlays?ダイアログが開いた場合は、以下のいずれかの操作を行います。

• 使用可能なすべてのサンプルについてXICのオーバーレイを生成するには、All Overlaidを選択します。

• 現在アクティブなサンプルだけでXICを生成するには、Active Onlyを選択します。

Only show this dialog again if the Shift key is downチェックボックスが選択されている場合は、ユーザーがShiftキーを押してオプションを変更するまで、選択されているアクションが使用されます。

ベースライン補正クロマトグラム

比較的ゆっくりと変化するバックグラウンドをクロマトグラムから削除します。

クロマトグラムの各データポイントについて、ウィンドウは対応するX値の中央に配置され、ウィンドウの範囲内で最小の強度を持つポイントの左右両側にあるデータポイントが検出さ

れます。また、これら2つのポイント間で直線が接続され、ウィンドウの中心でY値が計算されます。これは、そのポイントでデータから削除されたベースラインとなります。

1. 「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペースを開きます。

2. File > Open Multiple Samplesをクリックします。

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図 6-38 File メニュー—オプション

3. Select Samplesダイアログで、Availableリストからサンプルを選択して矢印をクリックし、ファイルをSelectedリストに移動します。

ヒント!サンプルを1つ選択するには、ファイルを展開してサンプルをクリックし、矢印をクリックします。

4. OKをクリックします。

5. 「Process(処理)」 > 「Baseline Subtract(ベースライン補正)」をクリックします。

「Baseline Subtract(ベースライン補正)」ダイアログが開きます。

図 6-39 「Baseline Subtract(ベースライン補正)」ダイアログ

6. 「Subtraction half window(補正ハーフウィンドウ)」に分単位の値を入力します。

7. アクティブなグラフに複数のトレースが存在する場合は、Process all overlays (otherwiseactive data only)を選択して、すべてのトレースに操作を適用します。

Only show this dialog again if the shift key is downチェックボックスが選択されている場合は、ユーザーがShiftキーを押してオプションを変更するまで、選択されているアクションが使用されます。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド145 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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クロマトグラムのオフセット

クロマトグラムの時間値をオフセットする目的で使用します。

1. 「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペースを開きます。

2. File > Open Multiple Samplesをクリックします。

図 6-40 File メニュー—オプション

3. Select Samplesダイアログで、Availableリストからサンプルを選択して矢印をクリックし、ファイルをSelectedリストに移動します。

ヒント!サンプルを1つ選択するには、ファイルを展開してサンプルをクリックし、矢印をクリックします。

4. OKをクリックします。

5. 「Process(処理)」 > 「Offset Chromatogram(クロマトグラムのオフセット)」をクリックします。

「Offset(オフセット)」ダイアログが開きます。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E146 / 252

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図 6-41 「Offset(オフセット)」ダイアログ

6. 「Total offset(合計オフセット)」フィールドに分単位の値を入力します。

7. アクティブなグラフに複数のトレースが存在する場合は、Process all overlays (otherwiseactive data only)を選択して、すべてのトレースに操作を適用します。

Only show this dialog again if the shift key is downチェックボックスが選択されている場合は、ユーザーがShiftキーを押してオプションを変更するまで、選択されているアクションが使用されます。

8. 時間方向にオーバーレイを分散するには、「User incremental offset (to fan out overlays)(ユーザー増分オフセット(オーバーレイをファンアウト))」を選択します。

スペクトルの重心作成

マススペクトルの重心を作成します。つまり、プロファイルのスペクトルを検出されたピー

クだけの(質量、強度)ポイントで置き換えます。

1. 「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペースを開きます。

2. File > Open Multiple Samplesをクリックします。

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図 6-42 File メニュー—オプション

3. Select Samplesダイアログで、Availableリストからサンプルを選択して矢印をクリックし、ファイルをSelectedリストに移動します。

ヒント!サンプルを1つ選択するには、ファイルを展開してサンプルをクリックし、矢印をクリックします。

4. OKをクリックします。

5. Process > Centroid Spectrum をクリックします。

Centroidダイアログが開きます。

6. 図 6-43で示されている機能を使用します。

図 6-43 Centroid ダイアログ

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表 6-14 Centroid ダイアログ - 説明

説明項目

各ピークについて、重心のy値はピークを構成する最大データポイントの強度を表します。

Intensity

この機能は、ベースラインオフセットが存在する場合は強度がベース

ライン強度で減算される点を除き、Intensity 機能と同じです。Height

各ピークについて、重心のy値はピークの合計面積を表します。これは、報告される値が強度プロファイルとピーク幅の両方に依存すると

いう観点から真の積分といえます。

Area

各ピークについて、y値はピーク頂点強度の50%を超えるピークで構成された強度の合計を表します。この値は(IntensityおよびHeightの各機能のように)単一のデータポイントの強度だけに依存せず、ノイズや

干渉が発生しやすいピークのエッジによる影響を受けないため便利で

す。

Intensity sum above50%

7. アクティブなグラフに複数のトレースが存在する場合は、Process all overlays (otherwiseactive data only)を選択して、すべてのトレースに操作を適用します。

Only show this dialog again if the shift key is downチェックボックスが選択されている場合は、ユーザーがShiftキーを押してオプションを変更するまで、選択されているアクションが使用されます。

テキストとしてデータをエクスポートする

現在アクティブなスペクトルまたはクロマトグラムが、タブ区切りのテキストファイルに保

存されます。

1. 「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペースを開きます。

2. File > Open Multiple Samplesをクリックします。

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図 6-44 File メニュー—オプション

3. Select Samplesダイアログで、Availableリストからサンプルを選択して矢印をクリックし、ファイルをSelectedリストに移動します。

ヒント!サンプルを1つ選択するには、ファイルを展開してサンプルをクリックし、矢印をクリックします。

4. OKをクリックします。

5. 「File(ファイル)」 > 「Export(エクスポート)」 > 「Data as Text(テキストとしてデータをエクスポート)」をクリックします。

スペクトルデータをエクスポートする場合は、「Add Zero Intensity Points for Export(エクスポートでゼロ強度ポイントを追加する)」ダイアログが開きます。

図 6-45 Add Zero Intensity Points for Export(エクスポートでゼロ強度ポイントを追加する)

6. ファイル名を入力します。

7. 「Save(保存)」をクリックします。

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テキストとしてピークリストをエクスポートする

現在アクティブなスペクトルまたはクロマトグラムのピークリストは、タブ区切りのテキス

トファイルとして保存できます。このファイルには、重心のx値(質量または時間)、ピーク面積、高さなどの情報が記録されています。

1. 「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペースを開きます。

2. File > Open Multiple Samplesをクリックします。

図 6-46 File メニュー—オプション

3. Select Samplesダイアログで、Availableリストからサンプルを選択して矢印をクリックし、ファイルをSelectedリストに移動します。

ヒント!サンプルを1つ選択するには、ファイルを展開してサンプルをクリックし、矢印をクリックします。

4. 「OK」をクリックします。

5. 「File(ファイル)」 > 「Export(エクスポート)」 > 「Peak List as Text(テキストとしてピークリストをエクスポート)」をクリックします。

6. ファイル名を入力します。

7. 「Save(保存)」をクリックします。

データの印刷

1. 「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペースを開きます。

2. File > Open Multiple Samplesをクリックします。

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図 6-47 File メニュー—オプション

3. Select Samplesダイアログで、Availableリストからサンプルを選択して矢印をクリックし、ファイルをSelectedリストに移動します。

ヒント!サンプルを1つ選択するには、ファイルを展開してサンプルをクリックし、矢印をクリックします。

4. OKをクリックします。

5. 「File(ファイル)」 > 「Print(印刷)」をクリックして、必要なオプションを選択します。

オプションのリセット

「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペースのすべてのオプションは、デフォルト値にリセットすることができます。これには、処理オプションだけでなく、前のセクションで説明

したオプションも含まれます。オプションのリセットによる影響を受けるのは現在ログイン

しているWindowsユーザーだけで、同じコンピュータの他のユーザーは影響を受けません。

1. 「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペースを開きます。

2. 「Edit(編集)」 > 「Reset Options(オプションのリセット)」をクリックします。

オプションの設定

必要に応じて、各タブの機能を使用します。

1. 「Explorer(エクスプローラ)」ワークスペースを開きます。

2. 「Edit(編集)」 > 「Options(オプション)」をクリックします。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E152 / 252

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「Options(オプション)」ダイアログが開き、「Graph Appearance(グラフの外観)」タブが表示されます。

3. 図 6-48に示されている機能を使用します。

図 6-48 「Options(オプション)」ダイアログ—「Graph Appearance(グラフの外観)」タブ

4. 「Peak Labeling & Finding(ピークのラベル表示と探索)」タブをクリックします。

5. リストから「Mass Spectra(質量スペクトル)」を選択します。

6. 図 6-49に示されている機能を使用します。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド153 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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図 6-49 「Options(オプション)」ダイアログ—「Peak Labeling & Finding(ピークのラベル表示と探索)」タブ—「Mass Spectra(質量スペクトル)」

7. リストから「Chromatograms(クロマトグラム)」を選択します。

8. の機能を使用します(図 6-50を参照)。

図 6-50 「Options(オプション)」ダイアログ—「Peak Labeling & Finding(ピークのラベル表示と探索)」タブ—「Chromatograms(クロマトグラム)」

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E154 / 252

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9. 「Auto Processing(自動処理)」タブをクリックします。

10.図 6-51に示されている機能を使用します。自動処理オプションは、動的に更新されるスペクトルには適用されません。

図 6-51 「Options(オプション)」ダイアログ—「Auto Processing(自動処理)」タブ

11.「XIC」タブをクリックします。

12.図 6-52に示されている機能を使用します。

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図 6-52 「Options(オプション)」ダイアログ—「XIC」タブ

13.「OK」をクリックします。

Analytics ワークスペースこのワークスペースにある機能へのアクセスは、ユーザーに割り当てられた権限ごとに管理

されています。Analytics (分析物)機能へのアクセス該当ページ 51を参照してください。

注: Analyticsワークスペースからのデータ出力制御方法は、Results Tables のエクスポート、LIMS への転送、およびレポーティングです。Results Tables からのコピーおよびペーストなどのその他の出力データソースは制御されていません。規制上、制御されていない出力メソッ

ドを使用しないでください。

番号のグループ化はAnalyticsワークスペースではサポートされていません。テキストボックス(例えば、積分パラメータ)またはグリッド(例えば、Results Tables)にある番号をグループ化しないでください。

処理メソッドには、積分用に選択したピークを定量するために使用される基準が含まれてい

ます。

レビューアは、自身の標準操作手順 (SOPs) にあるピーク積分およびデータの合否の基準に従ってデータをレビューする必要があります。

プロジェクトの安全エクスポート設定を設定

このタスクを実行できるのは、管理者の役割が割り当てられているユーザーだけです。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E156 / 252

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このオプションが選択された場合、テキストファイルにあるデータはエクスポートの間に暗

号化されます。パスワードを設定して、暗号化を有効にします。

1. Analyticsワークスペースを開きます。

2. Projects (プロジェクト) > Project secure export settings (プロジェクトの安全エクスポート設定)をクリックします。

3. Encrypt Results Table when reporting for this project (このプロジェクト用にレポーティングするときの結果表の暗号化)チェックボックスを選択します。

4. Password (パスワード)フィールドに、パスワードを入力します。

5. Confirm Password (パスワードの確定)フィールドに、パスワードを再度入力します。

6. OKをクリックします。

プロジェクトの修正されたピーク警告の有効化

デフォルトでは、このオプションは選択されません。選択した場合、ユーザーが結果表にあ

るクロマトグラムに変更を行い、次にその変更を保存した場合、警告メッセージで変更が行

われたことが示されます。ユーザーは、保存を続行するか、結果表に戻るかを選択できます。

プロジェクトのデフォルト設定を定義

このオプションでは、処理メソッドを作成する際に使用されるデフォルトのピーク検出パラ

メータを設定します。コンポーネントが2、3個以上ある場合、クロマトグラフィーに基づいてデフォルト値を設定し、それらをすべてのコンポーネントで個別に調整する必要がないよ

うにします。しかし、すべてのコンポーネントにとって理想的なパラメータは1つもない可能性が高いため、いくつかのコンポーネントのためのいくつかのパラメータを調整する必要が

ある場合があります。

1. Analyticsワークスペースを開きます。

2. Projects > Project default settingsをクリックします。

Project Default Settingsダイアログが開きます。

3. Quantitative ProcessingタブにあるIntegration Algorithmリストからアルゴリズムを選択します。

アルゴリズムについての情報のヘルプを参照してください。

4. Qualitative ProcessingタブのLibrary Search Algorithmリストからライブラリ検索アルゴリズムを選択します。

アルゴリズムについての情報のヘルプを参照してください。

5. Saveをクリックします。

6. Closeをクリックします。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド157 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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処理メソッドの作成

処理メソッドには、データ処理のための定量および定性設定が含まれます。非ターゲットワー

クフローは、未知のコンポーネントのために使用されます。

1. Analyticsワークスペースを開きます。

2. Process Method > Newをクリックします。

ヒント!既存の処理メソッドを編集するには、Process Method > Edit embedded methoをクリックし、次に以下のステップを行います。

3. Workflowページを選択し、次に参照サンプルと少なくとも1つのワークフローを選択します。

4. Componentsページを選択し、次にコンポーネント名、質量、内部標準、グループなどを定義します。

ヒント!コンポーネントの表でグループが定義されている場合、前駆体イオンと実験的

指標が遷移について異なっている場合でも、グループ内のイオンを合計できます。合計

されたイオンは表には表示されませんが、IntegrationページとResults Table には<グループ名>_Sumという形式で表示されます。この機能は、タンパク質とペプチドの定量化に便利です。

ヒント!コンポーネントの保持時間が未知の場合、質量または化学式のRetention TimeModeをFind n peaksに設定します(ここでnは1、2、5、10、またはすべて)。ソフトウェアは、最大ピーク面積を持つ機能の指定された数を特定し、適切な保持時間を割り

当て、次にターゲットのピーク処理ワークフローを実行します。処理が完了したならば、

Results Tableの埋め込みメソッドは通常のターゲットのメソッドとして保存できます。

5. Integrationページを選択し、次に各コンポーネントのための積分パラメータを選択します。

6. LibrarySearch (ワークフローに依存) ページを選択し、次にライブラリ検索パラメータを定義します。

7. Acceptance Criteriaページを選択し、次にピーク積分のための合否基準、標準の精度と品質管理、および未知のサンプル用の計算された濃度範囲を選択します。

8. Qualitative Rules (信頼限界) ページを選択し、次に質量の精度のための信号灯設定、保持時間の差、アイソトープの一致、ライブラリのスコア、およびフォーミュラファインダのス

コアを定義します。

9. Ion Ratio(信頼限界)ページを選択し、次にイオン比の許容に対応する信号灯設定を定義します。

イオン比とは、ピークレスポンスの比率です (クオリファイアおよびクオンティファイアの面積または高さ)。

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10. Formula Finderページを選択し、次にフォーミュラファインダ設定を選択します。

11. Non-targeted Peaksページ(非ターゲットワークフローが選択されている場合にのみ利用可能)を選択し、非ターゲット検索パラメータを定義します。

12. Saveをクリックします。

ヒント!非ターゲットメソッドを作成する場合、ピーク解析には現在のプロジェクトの

デフォルトパラメータが使用され、それらのパラメータがメソッドファイルに保存され

ます。処理メソッドにターゲット分析物が含まれている場合、ターゲット化合物に対し

てカスタマイズされた積分パラメータが非ターゲットピーク解析に影響を与えることは

ありません。後でプロジェクトのデフォルトパラメータに変更を加えても、変更された

パラメータが既存の非ターゲットメソッドに影響を与えることはなく、メソッドの作成

時点のパラメータが引き続き含まれることになります。変更したパラメータが使用され

るのは、新たに作成した非ターゲットメソッドだけです。

結果表について

結果表では、キャリブレーションカーブに基づいて、不明な各サンプル内の分析物の計算さ

れた濃度、およびライブラリヒットやFormula Finder結果などの定量分析結果などが要約されます。結果表には、キャリブレーションカーブと結果の統計も含まれます。ユーザーは、結

果表をカスタマイズし、結果表をレイアウトで閲覧できます。

結果表のデータは、.txtファイルにエクスポートし、Microsoft Excelなどの他のアプリケーションで使用することができます。ユーザーは、結果表内のデータすべて、または表示した列の

データのみをエクスポートすることができます。

ヒント!結果表の複数のセッションが垂直または水平にタイル化されている場合、Views> Reset layoutをクリックすると、結果表が元のレイアウトに戻ります。

表 6-15 右クリックメニュー

説明ラベル

このオプションを使用して、現在のデータをクリップボードに

コピーします。

Copy

このオプションを使用して、データをクリップボードから現在

のビューに貼り付けます。

Paste

このオプションを使用して、表全体をクリップボードにコピー

します。

Copy Entire Table

このオプションを使用して、最初に選択した行の情報を続いて

選択したすべての行に複製を作ります。

Fill Down

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表 6-15 右クリックメニュー (続き)

説明ラベル

このオプションは、現在アクティブの結果表の行をすべて選択

する際に使用します。ユーザーが、選択された行で操作を行う

Copyなどのコマンドを後で適用したい場合に便利です。

Select All Rows

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表 6-15 右クリックメニュー (続き)

説明ラベル

分析物が1つ以上ある場合、および分析物すべてが同じ濃度のこれらのサンプルに存在する場合、このオプションを使うと標準

サンプルの分析物すべてに対する実際の濃度フィールドを設定

するショートカットが使用できます。この機能を使用するには:

1. Components and Groups Listを使うと、表の中の特定の1つの分析物のみが表示されます。コンポーネントとグループの

リスト該当ページ 180を参照してください。

2. (オプション)Sample Typeフィルターを使用すると、Standardサンプルのみが表示されます。サンプルの種類フィルター該当ページ 163を参照してください。

3. 分析物のための実際の濃度を、セルへの直接入力、または列を選択してテキストをそこに貼り付けのどちらかを行って指

定します。

4. Apply Current Analyte's Actual Concentrations to Allを選択します。

必要に応じて、すべてのコンポーネントおよびすべてのサンプ

ルの種類の表示に戻します。

Apply Current Analyte's ActualConcentrations to All

内部標準が1つ以上ある場合、および内部標準すべてが同じ濃度のこれらのサンプルに存在する場合、このオプションを使うと

標準サンプルの内部標準すべてに対する実際の濃度フィールド

を設定するショートカットが使用できます。この機能を使用す

るには:

1. Components and Groups Listを使うと、表の中の特定の1つの分内部標準のみが表示されます。コンポーネントとグルー

プのリスト該当ページ 180を参照してください。

2. (オプション)Sample Typeフィルターを使用すると、Standardサンプルのみが表示されます。サンプルの種類フィルター該当ページ 163を参照してください。

3. セルに直接入力するか、または列を選択してテキストを貼り付けるかして、内部標準の実際の濃度を指定します。

4. Apply Current IS's Actual Concentrations to Allを選択します。

必要に応じて、すべてのコンポーネントおよびすべてのサンプ

ルの種類の表示に戻します。

Apply Current IS's ActualConcentrations to All

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド161 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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データの処理

1. Analyticsワークスペースを開きます。

2. Results > Newをクリックします。

3. Process New Resultsページで、矢印を使用してサンプルのバッチを選択します。

4. リストから処理メソッドを選択します。

5. 必要に応じて、Newをクリックして新しい処理メソッドを作成するか、Editをクリックして既存の処理メソッドを編集します。処理メソッドの作成該当ページ 158を参照してください。

6. 非ターゲットワークフローのための比較サンプルを選択します。

7. Processをクリックします。

8. サンプル種類を表示または非表示にするには、Sample Typeをクリックし、次に必要なチェックボックスを選択またはクリアします。

9. 合否フィルターを設定するには、Acceptanceをクリックし、次に必要なチェックボックスを選択またはクリアします。

10.定量化信頼フィルターを選択するには、Confidence信号灯をクリックし、次に必要なチェックボックスを選択またはクリアします。

注:AutoPeakアルゴリズムを使用して結果表を生成した場合、ユーザーがXIC幅と予測されるRTを変更しても、新しいXIC幅とExpected RTの値を使用してモデルを更新していない限り、古いアルゴリズムモデルを使用してデータが処理されます。

以下を参照してください:

• サンプルの種類フィルター該当ページ 163

• 結果表について該当ページ 159

• 合否基準該当ページ 164

• 信頼信号灯該当ページ 164

サンプルの追加

このオプションで、追加的なサンプルを現在有効な Results Table (結果表)に追加します。

1. Results Table (結果表)が開いている状態で、Results (結果) > Add samples (サンプルの追加)をクリックします。

2. Select Samples (サンプルの選択)ダイアログで、必要なサンプルを選択します。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E162 / 252

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• 「Available(利用可能)」ペインは、サブフォルダ、.wiff2ファイル、および選択したフォルダのための「Data(データ)」フォルダで利用可能なサンプルを示します。

• 個別のフォルダを、サブフォルダや.wiff2ファイルを見るために拡張します。.wiff2ファイルが拡張された場合、それが開いて利用可能なサンプルを表示します。

• 矢印を使用して、サンプルの追加や削除を行います。

• 個別のサンプルをダブルクリックする、サンプルまたはデータファイルを選択して

「=>」ボタンをクリックする、または左側のペインから右側のペインにサンプルまたはデータファイルをドラッグすることで、サンプルを選択します。ShiftまたはCtrlを押して、複数のファイルまたはサンプルを、それらが移動される前に選択します。

3. OKをクリックします。

新しいサンプルが積分され、既存の表に追加される間は、進行バーが表示されます。

サンプルの種類フィルター

表 6-16 サンプルの種類フィルターの説明

説明フィルターの種

未知の濃度の通常サンプルであるUnknownのサンプルのみを表示します。標準サンプルを使用すると、その濃度はキャリブレーションカーブから逆

算され、計算された濃度として結果表で報告されます。

Unknowns

既知の濃度を持つサンプルだけが表示されます。このようなサンプルは、

キャリブレーションカーブの作成で使用されます。

Standards

品質管理サンプルだけが表示されます。このようなサンプルは既知の濃度

を持ち、キャリブレーションカーブの精度を確認する目的で使用されます

が、カーブの実際の構築には影響しません。

Quality Controls

ブランクサンプルだけが表示されます。一般的には、内部標準化合物(使

用されている場合)を含み、分析物を含まないサンプルです。また、通常

のサンプル調製手順を通じて生成されたものです。このようなサンプルは、

キャリブレーションカーブの構築では使用されません。これを含めるには、

サンプルの種類として Standard を選択し、Actual Concentration を0に設定します。

Blanks

ダブルブランクサンプルだけが表示されます。内部標準と分析物のどちら

も含まれていないサンプルです。

Double Blanks

溶媒サンプルだけが表示されます。通常のサンプル調製手順を通じて生成

されたものではないダブルブランクです。

Solvents

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合否基準

合否基準を使用して認定行を定義します。認定行は以下のフィルターの選択した基準と一致

します:

• Pass:処理メソッドで定義された基準を満たす列を表示します。

• Fail:処理メソッドで定義された基準を満たさない列を表示します。

• Any:すべての列を表示します。

表 6-17 合否基準

説明ラベル

結果表の品質列、非対称係数列、全幅列、および保持時間エラー列 (%エラー列または絶対デルタ列のいずれか) の値を使用して積分品質のためのユーザー定義の基準を表示します。

Integrationacceptance

標準および品質管理サンプルの許容範囲の精度を表示します。Accuracy

下限または上限、あるいはその両方を編集して取得された未知のサンプ

ルのための計算による濃度範囲を表示します。

Calculatedconcentration

積分、精度、および計算による濃度のフィルターに一致する行を表示し

ます (Pass/Fail/Any)。Show rows that:Qualify; Do notqualify

信頼信号灯

信号灯は各行の信頼状態を表示します。イオン比と定量ルールの情報についてはヘルプを参

照してください。

表 6-18 信頼信号灯

説明信号灯アイコ

どのコンポーネントが、処理メソッドで定義されている信頼レベルを満た

すかを表示します。

どのコンポーネントが、処理メソッドで定義されている限界的パーセント

差レベルを満たすかを表示します。

どのコンポーネントが、処理メソッドで定義されている許容できないパー

セント差レベルを表示します。

どの信頼パラメータが、コンポーネントに適用できないかを表示します。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E164 / 252

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Results Tableのための列を選択

数値フォーマットと結果表で表示される列を選択します。列設定は、プロジェトにある結果

表のすべてに適用できます。

注: Sample Name、Sample ID、Barcodeなどの重要な列は、結果表の列設定をカスタマイズしたときに非表示にならないようにしてください。

ヒント!カラム名が切り捨てられた場合、フィールドの上でカーソルを移動させて、ツー

ルチップにカラム名を表示させます。

1. Results Tableが開いた状態で、More > Table display settingsをクリックします。

Results Table Display Settingsダイアログが開きます。

図 6-53 Column Settings ダイアログ

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド165 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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説明ラベル項目

Export ボタンを使用して以前に保存した列設定ファイルを選択できます。ダイアログの各フィールドは、

選択したファイルの情報を使用するために更新され

ます。

Import1

クリックすると、現在の列設定をファイルに保存で

きます。このような設定は、Import ボタンを使用してインポートおよび使用します。このオプションを

使用することで、異なる列レイアウトを切り替えら

れます。

Export2

列の名前がアルファベット順に表示されます。Column Name3

チェックマークは、列が表示されることを示します。Visible4

数値フィールドでは、科学的ではない通知について

はフォーマット0.00が使用され、科学的な通知についてはフォーマット0.00e0が使用されます。少数点を変更して、表示される数の精度を示します。ピリオド

「.」だけが小数点の記号として使用できます。

注:数字のグルーピングには、対応していません。

Number Format5

LIS Supported 行の選択はLISによって事前定義されており、列選択は変更できません。

LIS Supported6

列設定を今後の結果表で使用できます。Save as project defaultsettings

7

変更を適用して、ダイアログを閉じます。OK8

変更を破棄して、ダイアログを閉じます。Cancel9

結果表の列のカテゴリを選択します。結果表に表示

される列は、選択内容に基づいてフィルタリングで

きます。カテゴリを選択しておくことで、結果表の

列を容易に見つけることができます。

All Columns10

2. 必要に応じて、Visible列のチェックボックスを選択またはクリアします。

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表 6-19 Results Table 列

LIS サポート説明ラベル

Y標準および品質管理サンプルの精度を表示します。

その他のサンプルの種類では、この値をN/Aに設定します。

既知の濃度の標準については、標準サンプルおよび

品質管理サンプルの精度は100% ×(CalculatedConcentration)/(Actual Concentration)という式で導かれます。

Accuracy

N精度の合否状態を表示します。精度 Acceptance

Yサンプルを測定するために使用される測定メソッド

の名前を表示します。

Acq.Method Name

Yサンプルを測定した日付と時刻を表示します。Acquisition Date &Time

Y標準サンプルと品質管理サンプルについて、予期さ

れる既知の濃度を表示します。

ActualConcentration

Y検出されたピークの面積を表示します。ピークが検

出されていない場合、この値はN/Aに設定されます。Area

N検出されたピークの面積を高さで割った値を表示し

ます。ピークが検出されていない場合、この値はN/Aに設定されます。

Area / Height

Y内部標準を使用する分析物については、面積対IS面積の比率を表示します。内部標準、または内部標準を

持たない分析物については、値がN/Aに設定されます。

Area Ratio

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド167 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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表 6-19 Results Table 列 (続き)

LIS サポート説明ラベル

Nサンプル/コントロールサンプルの面積比。定性分析のワークフローだけに適用されます。

• コントロールでピークが検出されない場合、値は

N/Aとなります。

• サンプルでピークが検出されない場合、値は0となります。

• サンプルでArea Ratio Thresholdを超えるピークがない場合、値はN/Aとなります。

• 比較サンプルが使用されていない場合、値は「Nocontrol sample」となります。

• コントロールサンプルについて、検出されたピー

クでの面積比は常に1.000となります。

面積比of Control

Yピークの中心線からバックスロープまでの距離をピー

クの中心線からフロントスロープまでの距離で割っ

た値で示します。すべての測定は、最大ピーク高さ

の10%で行われています。

Asymmetry Factor

Yサンプル固有のIDを表示します。固有のIDは、データを取得するために使用されたバッチで元々指定され

ている値から初期化されたものです。

バーコードに含める文字数は0~20文字でなければならず、次の無効な文字を含めることはできません:\/ : * ? ASCIIの表にある" < > |= または0から31の文字。

Barcode

N実際のピークの高さに対するベースラインの高さの

差(ピークの開始地点と終了地点)の絶対値を表示

します。値がおよそ0.1を超える場合は、ベースラインが正しく解析されていない可能性があるため、ピー

クをレビューする必要があります。

Baseline Delta/Height

Y既知の濃度の標準では、キャリブレーションカーブ

から逆算した濃度の値を示します。回帰式は、様々

な回帰タイプと重み付けについて回帰がどのように

して行われるかを表します。

CalculatedConcentration

N(オプション)相対的な比較を目的として使用でき

る単精度浮動小数点数のスコアを表示します。定性

分析のワークフローだけに適用されます。

Combined Score

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表 6-19 Results Table 列 (続き)

LIS サポート説明ラベル

Nコンポーネントを比較サンプルで表示します。ユー

ザーは、この列を編集できません。

Comparison

N分析物または内部標準に対する任意のコメントを表

示します。このコメントは、すべてのサンプルに適

用されます。

ComponentComment

N分析物または内部標準に関連付けられているグルー

プ名を表示します(存在する場合)。

Component GroupName

Y分析物のインデックスまたは元の処理メソッドの内

部標準を表示します。

Component Index

Y分析物または内部標準の名前を表示します。

この列は、常に結果表に表示されます。そのため、

Column Settingsダイアログでは、チェックボックスが用意されていません。

コンポーネント名は、0~50文字でなければなりません。

注:

• Component Name は処理メソッドでのみ変更でき、Results Table では変更できません。

• この列は、LIMS転送では必須です。

Component Name

Y濃度の単位を表示します。Conc.Units

N計算された濃度の合否状態を表示します。ConcentrationAcceptance

N内部標準を使用する分析物については、ActualConcentration 対 IS Actual Concentration の比率を表示します。内部標準、または内部標準を持たない分析物

については、値がN/Aに設定されます。

Concentration Ratio

Yサンプルを希釈するための係数を表示します。この

係数はキャリブレーションカーブの計算に使用され

ます。

Dilution Factor

Y検出されたピークの分単位の終了保持時間を表示し

ます。

End Time

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表 6-19 Results Table 列 (続き)

LIS サポート説明ラベル

N強度がピーク高さの10%のところでピークの裏側に沿った分単位の時間を表示します。

End Time at 10%

N強度がピーク高さの5%のところでピークの裏側に沿った分単位の時間を表示します。

End Time at 5%

Y未知のサンプル、品質管理サンプル、および標準の

サンプルについて予測されるイオン比を表示します。

Expected Ion Ratio

Y処理メソッドからの元の予期される保持時間を分の

単位で表示します。

Expected RT

Y(オプション)有効な化学式を表示します。化学式

が無効な場合、その式はソフトウェアによって保持

されません。化学式が有効な場合、Mass (Da)列とIsotope列は自動的に入力されます。

Formula

NFormula Finderのスコアの信号灯を表示します。定性分析のワークフローだけに適用されます。

Formula Confidence

N相対的な比較を目的として使用できる単精度浮動小

数点数のスコアを表示します。

この値は、ピークレビューのFormula Finderの結果表のデータを使用して更新できます。定性分析のワーク

フローだけに適用されます。

Formula Finder

N(オプション)一致する可能性が最も高いFormulaFinderの結果を表示します。定性分析のワークフローだけに適用されます。

Formula FinderResults

Y(オプション)相対的な比較を目的として使用でき

る単精度浮動小数点数のスコアを表示します。

Formula FinderScore

Y(オプション)一致したスペクトルが検出された最

高の要求Fragment Mass(Da)。定性分析のワークフローだけに適用されます。

Found at Fragment

Y(オプション)一致したスペクトルが検出された最

高の要求Extraction Mass(Da)。定性分析のワークフローだけに適用されます。

Found at Mass

Y(オプション)メソッドで指定されたように、フラ

グメントの質量を表示します。フラグメントの前駆

体は、Extraction Mass (Da)列のMS/MSから抽出されます。入力する場合、この値は数値でなければなりま

せん。

Fragment Mass

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表 6-19 Results Table 列 (続き)

LIS サポート説明ラベル

Y(オプション)Found at FragmentとFragment Massの間の差をppmで表示します。

Fragment MassError (ppm)

Y(オプション)Found at FragmentとFragment Massの間の差をmDaで表示します。

Fragment MassError (mDa)

Y検出されたピークの高さを表示します。ピークが検

出されていない場合、この値はN/Aに設定されます。Height

Y内部標準を使用する分析物については、高さ対IS高さの比率を表示します。内部標準、または内部標準を

持たない分析物については、値がN/Aに設定されます。

Height Ratio

N元のソートされていない順序で行のインデックスを

表示します。表が別の列に基づいてソーティングさ

れた場合、表はこの列をソーティングして元の順序

に戻すことができます。

この列は、常に結果表に表示されます。そのため、

Column Settingsダイアログでは、チェックボックスが用意されていません。

Index

Yメソッドに保存され、オートサンプラーにより注入

されたサンプルの量を表示します。

Injection Volume

N積分の外れ値を表示します。IntegrationAcceptance

Y積分の種類を表示します。

• Baseline:通常の方法で積分された単独のピーク。

• Valley:2つの隣接したピークがあり、信号がそれらの間にあるベースラインに戻らなかったことを

示します。

• N/A:ピークが検出されなかったことを示します。

• Manual:ピークが手動で積分されたことを示します。

Integration Type

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表 6-19 Results Table 列 (続き)

LIS サポート説明ラベル

Yイオン比を表示します。

• イオン比は、1つの分析物から少なくとも2つのMRM遷移がグループに収集されたときに特定されます。

• サブグループにある最初のコンポーネントは、ク

オンティファイアイオンとして使用されます。残

りのコンポーネントは、クオリファイアイオンと

して使用されます。

• イオン比 = (クオリファイアのピーク面積または高さ) / (クオンティファイアのピーク面積または高さ)

• サブグループ

• グループのすべての分析物が、分析物サブグ

ループを構成します。

• グループのすべての内部標準が、ISサブグループを構成します。

• コンポーネントがグループのメンバーではない場

合、Ion Ratio の値はN/Aに設定されます。

• ピークが見つからない場合、Ion Ratio の値はN/Aに設定されます。

• 分析物サブグループとISサブグループの両方にあるすべてのコンポーネントに適用されます。クオ

リファイアは、それ自体がクオンティファイアに

対応しています。

• クオンティファイアまたはクオリファイアのピー

クのどちらかで積分値が変化すると、イオン比は

再度計算されます。

• ピーク面積またはピーク高さのどちらかについて

計算できます。結果表にある最初のコンポーネン

ト(コンポーネントのインデックスが1)について.qmethodの回帰部分で面積が使用されている場合、結果表全体のイオン比の計算ではピーク面積

が使用されます。最初のコンポーネントの回帰で

Height が使用されている場合は、ピーク高さが計算で使用されます。

Ion Ratio

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表 6-19 Results Table 列 (続き)

LIS サポート説明ラベル

Nイオン比での信頼性のレベルを表示します。定性分

析のワークフローだけに適用されます。

イオン比Confidence

Nその行が内部標準かどうかを示します。チェックボッ

クスが選択されている場合は、行のコンポーネント

が分析物ではなく標準であることを示します。

IS

N現在の分析物に関連付けられている内部標準の実際

の濃度を表示します。内部標準、または内部標準を

持たない分析物については、値がN/Aに設定されます。

IS ActualConcentration

N現在の分析物に関連付けられている内部標準の面積

を表示します。内部標準、または内部標準を持たな

い分析物については、値がN/Aに設定されます。

IS Area

N現在の分析物に関連付けられている内部標準の面積

対高さの比を表示します。内部標準、または内部標

準を持たない分析物については、値がN/Aに設定されます。

IS Area / Height

N現在の分析物に関連付けられている内部標準の任意

のコメントを表示します。内部標準、または内部標

準を持たない分析物については、値がN/Aに設定されます。

IS Comment

N現在の分析物に関連付けられている内部標準の測定

が終了する時間を表示します。内部標準、または内

部標準を持たない分析物については、値がN/Aに設定されます。

IS End Time

N現在の分析物に関連付けられている内部標準の予測

される保持時間を表示します。内部標準、または内

部標準を持たない分析物については、値がN/Aに設定されます。

IS Expected RT

N現在の分析物に関連付けられている内部標準の高さ

を表示します。内部標準、または内部標準を持たな

い分析物については、値がN/Aに設定されます。

IS Height

N現在の分析物に関連付けられている内部標準の積分

の種類を表示します。内部標準、または内部標準を

持たない分析物については、値がN/Aに設定されます。

IS Integration Type

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表 6-19 Results Table 列 (続き)

LIS サポート説明ラベル

N現在の分析物に関連付けられている内部標準の質量

情報を表示します。内部標準、または内部標準を持

たない分析物については、値がN/Aに設定されます。

IS Mass Info

N現在の分析物に関連付けられている内部標準の名前

を表示します。内部標準、または内部標準を持たな

い分析物については、値がN/Aに設定されます。

IS Name

N現在の分析物に関連付けられている内部標準のピー

クコメントを表示します。内部標準、または内部標

準を持たない分析物については、値がN/Aに設定されます。

IS Peak Comment

N現在の分析物に関連付けられている内部標準の保持

時間を表示します。内部標準、または内部標準を持

たない分析物については、値がN/Aに設定されます。

IS Retention Time

N現在の分析物に関連付けられている内部標準の信号

対ノイズ比を表示します。内部標準、または内部標

準を持たない分析物については、値がN/Aに設定されます。

IS Signal / Noise

N現在の分析物に関連付けられている内部標準の開始

時間を表示します。内部標準、または内部標準を持

たない分析物については、値がN/Aに設定されます。

IS Start Time

N現在の分析物に関連付けられている内部標準の全幅

を表示します。内部標準、または内部標準を持たな

い分析物については、値がN/Aに設定されます。

IS Total Width

N現在の分析物に関連付けられている内部標準の50%での幅を表示します。内部標準、または内部標準を

持たない分析物については、値がN/Aに設定されます。

IS Width at 50%

N同位体比での信頼性のレベルを表示します。定性分

析のワークフローだけに適用されます。

Isotope Confidence

N理論的な同位体パターン(式に基づく)と取得した

スペクトルの同位体パターンとの差を示します。

定性分析のワークフローだけに適用されます。

Isotope RatioDifference

Nライブラリヒットでの信頼性のレベルを表示します。

これは、そのヒットのライブラリのスコアに基づい

ています。定性分析のワークフローだけに適用され

ます。

Library Confidence

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E174 / 252

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表 6-19 Results Table 列 (続き)

LIS サポート説明ラベル

N最も高いライブラリ一致の化合物名、つまり最も高

い純度スコアと要求された式と一致する式を持つ化

合物の名前を表示します。

この値は、ピークレビューのライブラリ検索の結果

グリッドのデータを使用して更新できます。定性分

析のワークフローだけに適用されます。

Library Hit

N検出された質量と抽出質量の差をPPM(百万分率)単位の誤差で表現して表示します。定性分析のワーク

フローだけに適用されます。

Mass Error (ppm)

N質量誤差の信頼性のレベルを表示します。定性分析

のワークフローだけに適用されます。

Mass ErrorConfidence

Yコンポーネントに関連付けられている質量情報を表

示します。MRM実験ではQ1/Q3であり、プロファイル(フルスキャン)実験では開始-停止です。

UV、ADC、DADの各実験では、波長(DAD)またはチャネル情報(UV/ADC)です。

フラグメント質量が存在する場合は、XIC抽出で使用されます。

フラグメント質量が存在しない場合は、前駆体質量

をXIC抽出で使用する必要があります。

Mass Info

Yピーク検出パラメータが修正されたかどうかを表示

します。選択したチェックボックスは、Peak Reviewペインを使用して、処理メソッドで示されたピーク

検出パラメータが修正されたことを示します。

Modified

Nチェックマークは、Enhanced Peak Finderによってピークが検出されていることを示します。定性分析のワー

クフローだけに適用されます。

Non-Targeted Peak

Yサンプルを測定した機器のオペレータの名前を表示

します。

Operator Name

Yファイルの名前を表示します。Original Filename

N行の任意のコメントを表示します。Peak Comment

Yデータの取得に使用されたオートサンプラーのプレー

ト番号を表示します。これは、Batch Editor で示されている番号です。

Plate Number

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド175 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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表 6-19 Results Table 列 (続き)

LIS サポート説明ラベル

Nピークの開始から終了までのスキャンの数を表示し

ます。

Points AcrossBaseline

N高さの約50%でピークを横切るスキャンの数を表示します。

Points Across HalfHeight

N処理メソッドから取得された処理入力パラメータで

す。

この列は、常に結果表に表示されます。そのため、

Column Settingsダイアログでは、チェックボックスが用意されていません。

Precursor mass

N最も高いライブラリ一致の純度スコアを表示します。

この値は、ピークレビューのライブラリ検索の結果

グリッドのデータを使用して更新できます。定性分

析のワークフローだけに適用されます。

この値は、対話式のデータレビューから更新できま

す。この値は、Peak Review Library Search Resultsグリッドから更新できます。

Purity score

Yデータの取得に使用されたオートサンプラーのラッ

ク番号を表示します。これは、Batch Editor で指定されている番号です。

Rack Number

Y内部標準を使用する分析物については、Retention Time対IS Retention Timeの比率を表示します。内部標準、または内部標準を持たない分析物については、値がN/Aに設定されます。

Relative RT

Y検出されたピークの分単位の実際の保持時間を表示

します。

Retention Time

N「Found at RT」と「Expected RT」との間に見られる誤差をパーセント単位で表示します。定性分析のワー

クフローだけに適用されます。

保持時間 Error(%)

N保持時間での信頼性を表示します。定性分析のワー

クフローだけに適用されます。

RT Confidence

Yサンプルに対してユーザーが指定したコメントを表

示します。

Sample Comment

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E176 / 252

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表 6-19 Results Table 列 (続き)

LIS サポート説明ラベル

Yサンプルに対してユーザーが指定した識別子を表示

します。Sample ID は、測定を目的としたサンプル提出の前に Batch Editor で指定します。

サンプルIDに含める文字数は0~50文字でなければならず、次の無効な文字を含めることはできません:\/ : * ? ASCIIの表にある" < > |= または0から31の文字。

Sample ID

Y現在のサンプルのインデックスを表示します。Sample Index

Yサンプルに対してユーザーが指定した名前を表示し

ます。Sample ID は、測定を目的としたサンプル提出の前に Batch Editor で指定します。

サンプル名に含める文字数は1~50文字でなければならず、次の無効な文字を含めることはできません:\/ : * ? ASCIIの表にある" < > |= または0から31の文字。

Sample Name

Yサンプルのタイプを表示します。異なるフィルター

の種類の説明については、サンプルの種類フィルター

該当ページ 163を参照してください。

Sample Type

Y注入の前にスキャンされたバーコードを表示します。Scanned Barcode

Nピークのモデリングに使用されたサンプル名とコン

ポーネント名を表示します。モデリングに使用され

るコンポーネントの名前が積分されるコンポーネン

トの名前と同じでない場合、ユーザーはモデルが適

切かレビューする必要があります。

SFモデルのソース

Nアルゴリズムで検出された隣接する(入り組んだ)

ピークの数を表示します。

SF Num Peaks

Y検出されたピークのピーク高さ対クロマトグラムに

存在するノイズの推定される比率を表示します。

AutoPeak積分アルゴリズムを使用する場合、ノイズは計算による相対ノイズおよびピークの頂点位置での

ベースラインを使用して推定されます。MQ4アルゴリズムでも同様のアプローチが使用されますが、ベー

スラインはクロマトグラム全体を使用して推定され

ます。

Signal / Noise

Y検出されたピークの分単位の開始保持時間を表示し

ます。

Start Time

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド177 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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表 6-19 Results Table 列 (続き)

LIS サポート説明ラベル

N強度がピーク高さの10%のところでピークの表側に沿った分単位の時間を表示します。

Start Time at 10%

N強度がピーク高さの5%のところでピークの表側に沿った分単位の時間を表示します。

Start Time at 5%

Nピークのフロントスロープからバックスロープまで

の距離をピークの中心線からフロントスロープまで

の距離の2倍で割った値で示します。すべての測定は、最大ピーク高さの5%で行われています。

Tailing Factor

Yベースラインでのクロマトグラフの分単位のピーク

幅を表示します。

Total Width

Y分析物がキャリブレーションカーブの構築で使用さ

れているかどうかを示します。標準サンプルの場合、

チェックマークが選択されている場合は、対応する

分析物がキャリブレーションカーブの構築に現在使

用されていることを示します。品質管理サンプルの

場合は、分析物がQC統計の計算に使用されていることを示します。その他のサンプルの種類では、この

フィールドは情報目的のみに使用されます。

Used

Yデータの取得に使用されたオートサンプラーのバイ

アル番号を表示します。これは、バッチで指定され

ている番号です。

Vial Number

Nピーク高さの10%で測定されたピークの幅を表示します。

Width at 10%

Nピーク高さの5%で測定されたピークの幅を表示します。

Width at 5%

Y頂点の強度の半分で測定された検出ピークのクロマ

トグラフの分単位のピーク幅を表示します。

Width at 50%

3. (オプション)Number Format列で、フォーマットを整数または科学的通知に変更します。

4. (オプション)Number Format列で、表示する小数点以下の桁数を変更します。

5. 列設定をプロジェクトのすべてのResults Tablesに適用するには、Save as project defaultsettingsチェックボックスを選択します。

6. OKをクリックします。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E178 / 252

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新しい設定が、結果表に適用されます。このような設定は、新しい結果表を作成する場合

だけでなく、以前に保存した結果表を再度開いた場合にも適用されます。

注:列の幅と列の順序は、結果表のヘッダー行を使用して調整します。幅を変更するに

は、ヘッダーの境界線をドラッグします。列の順序を変更するには、列のヘッダーを結

果表の別の位置にドラッグします。この列の幅と順序の情報は、Exportボタンを使用した場合にエクスポートされるファイルにも保存されます。

レポートの作成

1. 結果表が開いている状態で、Reporting (レポーティング) > Create Report and SaveResults Table (レポートを作成して結果表を保存)をクリックします。

「Create Report(レポートの作成)」ダイアログが開きます。

2. Template name (テンプレート名)リストからテンプレートを選択します。

3. レポートフォーマットを選択します。

4. デフォルトのレポートタイトルを使用するか、Browse (ブラウズ)をクリックして別のタイトルを選択します。

5. 必要に応じて、Create an individual report for each sample (各サンプル用に個別のレポートを作成)チェックボックスを選択します。

6. (オプション) Replace Logo (ロゴの交換)をクリックして、レポート用に別のロゴを選択します。

ヒント!必要に応じて、Replace Logo (ロゴの交換)ダイアログにあるオプションを使用して、ロゴを修正します。

7. View Pages (ページを見る)をクリックして、レポートを見ます。

8. Create (作成)をクリックします。

ヒント!たとえば、選択した結果のレポートをPer Sample Quant、Per Sample Qual、PerSample Visible Rows Using Visible Analytes、Positive Hits Qualのいずれかのテンプレートを使用して作成する場合は、フィルタを使用するか、結果表で不要な行を非表示にする必要が

あります。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド179 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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注:レポートテンプレートのレイアウトは、「Create Report(レポートの作成)」ダイアログで「Template(テンプレート)」表示をクリックして確認できます。特定のテンプレートを表示するには、テンプレートと同じ名前で[Snapshot_X]という添え字(Xは配列内のスナップショット番号)を持つ*.jpgファイルを用意する必要があります。ファイル名と添え字の間にはスペースを入れないでください。

たとえば、All Peaks Qual.docxテンプレートの場合、ファイル名はAll Peaks Qual[Snapshot_1].jpgAll Peaks Qual[Snapshot_2].JPG All Peaks Qual[Snapshot_3].jpgのようになります。

結果表をエクスポートして保存

1. 結果表が開いている状態で、Reporting > Export results > Export and save Results Tableをクリックします。

Exportダイアログが開きます。

2. 必要に応じて、フォーマット、列、行を選択します。

3. OKをクリックします。

結果表のエクスポート – メトリック

注:メーカーは、データが Analyticsワークスペースからエクポートされた後の間接的または派生的な損害を含む偶発賠償責任に対して一切の責任を負いません。

「Exporting Results Tables(結果表のエクスポート)」は、「Analytics(分析物)」ワークスペースでのデータ出力用に制御されたメソッドの1つです。

この機能は、有効な結果表の情報を含むタブ区切りのテキストファイルを作成するために使

用されます。情報は、すべてのサンプルおよびすべてのコンポーネントまたは1つの選択したメトリックやフィールド用の見ることができるコンポーネントだけのいずれかのためにエク

スポートされます。

1. 結果表が開いている状態で、Reporting (レポーティング) > Export results (結果のエクスポート) > Results Table - Metric (結果表 - メトリック)をクリックします。

「エクスポート」ダイアログが開きます。

2. 必要に応じて、フォーマット、列、行を選択します。

3. OKをクリックします。

コンポーネントとグループのリスト

結果表が開くと、現在のコンポーネントとグループのリストがメインウィンドウの左側に表

示されます。このリストを使用して、どのコンポーネントが結果およびリンクされたピーク

レビューまたはキャリブレーションカーブウィンドウで見えるようにするかの変更を行いま

す。すべての情報が、処理メソッドで定義されたとおりに表示されます。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E180 / 252

取扱説明書 – ソフトウェア

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リストにある個別の項目をクリックして、その項目のためのコンポーネントのみを表示され

ます。Shift+clickまた Ctrl+clickを使用して、例えば2つの特定の分析物などの複数の項目を選択します。

ヒント!ペインの右端を左右にドラッグして、リストの幅を変更します。

結果表の列の順序は、フィルタリングには影響されません。表は、処理メソッドに示された

順序で、最初にサンプル順、次にコンポーネント順になるようにプリセットされています。

表 6-20 オプション

説明ラベル

クリックすると、現在選択されている分析物と対応する内部標準物質の両

方について、結果表にある行を示します。これは CTRL を押しながら分析物をクリックし、内部標準物質をクリックする動作と同じです。(この方

法でも両方を選択することができます)

ISを表示

クリックすると、指定されたテキストと一致するリストにある項目を見つ

けます。

見つける

ピークのレビュー

Peak Reviewペインを以下のために使用します:

• ピーク検出プロセスの品質を決定できるように、生のクロマトグラムを目視で検査しま

す。

• ピーク検出パラメータを調整するか、積分の開始ポイントと終了ポイントを手動で選択す

るかのいずれかにより、正しく積分されていないクロマトグラムを訂正します。クロマト

グラムが再積分された後、Results Tableが新しいピーク面積とその他のパラメータを用いて自動的に更新されます。

• 積分したXICについて、MSおよびMS/MSスペクトルを目視で検査します。

• 式検出の結果およびライブラリ検索の結果をレビューし、必要に応じて結果表の結果を手

動で更新します。

ピークレビューペインの右クリック機能についての情報については、ピークレビューオプショ

ン該当ページ 183を参照してください。ピークレビューペインオプションについての詳細な情報については、ピークレビューオプション該当ページ 183を参照してください。

1. Analyticsワークスペースを開きます。

2. Results > Openを選択します。

Open Results Table sessionダイアログが開きます。

3. ファイルを選択します。

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4. Openをクリックします。

5. Displays the peak reviewアイコンをクリックします。

6. 左側のペインのComponents and Groupリストで、コンポーネントをクリックします。

7. (オプション) Options > Peak review display settings をクリックして、Peak Reviewペインの外観を変更します。

8. クロマトグラムに複数のピークが含まれ、不適切なピークが積分された場合は、正しいピークの上をドラッグして、新しい予測される保持時間を設定します。必要に応じて、

ピーク検出パラメータと積分パラメータを調整します。

9. 新しいパラメータをその他すべてのサンプルに適用するには、同じコンポーネントについては、クロマトグラムの中を右クリックしてからUpdate Quantitation Method forComponentをクリックします。

ヒント!積分したピークは、Starts ‘slide show’ peak review modeアイコンをクリックして表示することもできます。Displays the peak reviewアイコンをクリックしてから、Starts 'slide show' peak reviewアイコンをクリックします。

ヒント! Set Peak to ‘Not found’をクリックして、積分をクリアします。ユーザーは、ピークを手動で積分する前に生データを見ることができます。

10. Peak ReviewペインのEnable Manual Integration Modeアイコンをクリックして、手動積分モードを使用します。

11.興味のあるピークの一方のベースからもう一方のベースまでカーソルをドラッグします。

これでピークは手動で積分され、前回使用した積分パラメータは利用できなくなります。

ヒント!ピークが修正されたばかりである場合、ピークを右クリックして元のメソッド

に回復させ、次にRevert Peak to Original Methodをクリックします。

View オプション

開いているPeak Reviewペインで、Viewをクリックします。

表 6-21 View オプション

説明ラベル

クロマトグラムだけを表示します。XIC

異なるサンプルから生成したクロマトグラムを並べて表示します。最大

で6つのサンプルを選択し、サンプル間のピークレスポンスを比較することができます。

XIC side by side

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表 6-21 View オプション (続き)

説明ラベル

クロマトグラムとMSスペクトルに加え、利用できる場合はFormula Finderの結果を表示します。処理メソッドで式が定義されている場合は、理論

的なMSスペクトルも表示することができます。

XIC + MS

クロマトグラムとMS/MSスペクトル(取得されている場合)に加え、利用できる場合はライブラリ検索の結果を表示します。ライブラリヒット

が存在する場合は、ライブラリMS/MSスペクトルも表示することができます。

XIC + MS/MS

クロマトグラム、MSスペクトル(およびFormula Finderの結果)、MS/MSスペクトル(およびライブラリ検索の結果)を表示します。利用できる

場合は、理論的なMSスペクトルとライブラリMS/MSスペクトルも表示することができます。

XIC + MS + MS/MS

ヒント! Formula Finderの結果は、MSスペクトルの下に表示されます。また、ライブラリ検索の結果は、MS/MSスペクトルの下に表示されます。Formula Finderの結果やライブラリ検索の結果は、ペインを拡大することでさらに多く表示できます。

ピークレビューオプション

Peak Review ペインで、Optionsをクリックします。

表 6-22 ピークレビューオプション

説明ラベル

Peak Review Optionsダイアログを開きます。タブにあるオプションをクリックして、Peak Review ペインの外観を変更します。ヘルプを参照してください。

ピークレビュー

表示設定

Y軸のスケールを%から絶対値に切り替えます。%Y軸 (スペクトルのみ)

XICおよびスペクトルを青色のドットで塗りつぶします。ピークの塗りつ

ぶし (XICおよびスペクトル)

選択した2つのMSスペクトルの比較をお互いの鏡映として表示します。MSスペクトルのミラーリング

選択した2つのMS/MSスペクトルの比較をお互いの鏡映として表示します。MS/MSスペクトルのミラーリング

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表 6-22 ピークレビューオプション (続き)

説明ラベル

Peak Review ペインの左側で積分パラメータを表示または非表示にします。積分パラメータ

ナビゲーションボタンを表示します。ボタンをクリックして、コンポー

ネント間を移動、サンプル間を移動、またはスライドショーを開始しま

す。ピークのレビュー該当ページ 181を参照してください。

Show navigationcontrols

Integration (積分)パラメータをコピー

ピークレビューペインを右クリックして、このコマンドにアクセスします。このコマンドを

Paste Integration Parameters (積分パラメータを貼り付け)と併せて使用して、ピーク検出パラメータを1つのクロマトグラムから別のクロマトグラムにコピーします。このコマンドは、パラメータへの同じ調整をいくつかのクロマトグラムに行う必要がある場合に使用できます。

1. 有効なクロマトグラムが開いたグラフを右クリックし、次にCopy Integration Parameters(積分パラメータをコピー)をクリックします。

2. Update Processing Method for Component (コンポーネントのために処理メソッドを更新)コマンドを使用して、変更をコンポーネントのためのクロマトグラムに適用します。

Integration (積分)パラメータを貼り付け

1. 有効なクロマトグラムが開いたグラフを右クリックし、次にCopy Integration Parameters(積分パタメータをコピー) をクリックします。

2. 別のクロマトグラムを右クリックし、次に Paste Integration Parameters (積分パラメータを貼り付け)をクリックします。

前回コピーしたパラメータが、新しいクロマトグラムに適用されます。

コンポーネントの処理メソッドの更新

特定のクロマトグラムに合わせてピーク検出パラメータを調整した後は、この機能を選択し

て、結果表で保存した処理メソッドのコピーを修正し、そのようなパラメータをコンポーネ

ントに対して使用します。

• ピーク検出パラメータを調整し、右クリックして「Update Processing Method forComponent(コンポーネントのために処理メソッドを更新)」を選択します。

特定のコンポーネントについては、すべてのサンプルが新しいパラメータを使用するよう

に自動的に積分され、「Peak Review(ピークレビュー)」ペインと結果表が更新されま

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す。手動で積分したピークが存在する場合は、再積分をすべてのピークに適用するか、手

動で積分されていないピークだけに適用するかを尋ねられます。

グループの処理メソッドの更新

Update Processing Method for Componentコマンドと同様に、積分は、現在アクティブなクロマトグラムのコンポーネントと同じグループに属するすべてのコンポーネントに適用さ

れることが望まれます。ユーザーが各種コンポーネントをグループに割り当てていて、特定

のグループに割り当てられたコンポーネントが同じ保持時間を持つことが望まれる場合は、

この機能が有用です。これは、予測保持時間などのパラメータを、すべてのグループのすべ

てのコンポーネントについて一度にリセットできるためです。そのため、グループのコンポー

ネントの保持時間が異なる場合は、有用とはいえません。

• ピーク検出パラメータを調整し、右クリックして「Update Processing Method for Group(グループの処理メソッドの更新)」を選択します。

積分パラメータをグループ内のサンプルに適用

この機能を使用すれば、特定のクロマトグラムに合わせてピーク検出パラメータを調整した

後に、結果表で保存した処理メソッドのコピーから元のパラメータをクロマトグラムに適用

できます。

• 特定のクロマトグラムのためにピーク検出パラメータを調整した後、右クリックして、次

にApply integration parameters to sample within a group (積分パラメータをグループ内のサンプルに適用)をクリックします。

ピークを元のメソッドに戻す

この機能を使用すれば、特定のクロマトグラムに合わせてピーク検出パラメータを調整した

後に、結果表で保存した処理メソッドのコピーから元のパラメータをクロマトグラムに適用

できます。

• アクティブなクロマトグラムが開かれているグラフで右クリックし、「Revert Peak toOriginal Method(ピークを元のメソッドに回復)」を選択します。

化合物のすべてのピークを元に戻す

何らかのクロマトグラムに合わせてピーク検出パラメータを調整した後は、この機能を使用

すると、結果表で保存した処理メソッドのコピーから、アクティブなクロマトグラムと同じ

コンポーネントのすべてのクロマトグラムに元のパラメータを適用できます。手動で積分し

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たピークが存在する場合は、再積分をすべてのピークに適用するか、手動で積分されていな

いピークだけに適用するかを尋ねられます。

• アクティブなクロマトグラムが開かれているグラフで右クリックし、「Revert All Peaksfor Component(化合物のすべてのピークを元に戻す)」を選択します。

ライブラリ検索またはFormula Finderの結果を使用したピークの分析

ヒント!「Options(オプション)」 > 「Peak review display settings(ピークレビュー表示設定)」をクリックして、ペインに表示される行数を変更します。ペインの上部を上

にドラッグして、「Peak Review(ピークレビュー)」ペインのサイズを大きくすることもできます。

1. 「Peak Review(ピークレビュー)」ペインで「View(表示)」をクリックして、「XIC +MS」、「XIC + MS/MS」、「XIC + MS + MS/MS」のいずれかをクリックします。

グラフの下に検索結果が表示されます。

図 6-54 ライブラリ検索の結果

2. ライブラリヒットをさらに表示するには、青い矢印をクリックしてライブラリ検索の結果を展開します。

この表には、選択したライブラリヒットの化学構造も表示されます。

3. 矢印をもう一度クリックすると、表が折り畳まれます。

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折り畳まれた表の結果は、結果表にも表示されます。

4. (オプション)表で行を選択し、表の アイコンをクリックして結果表の結果を更新し

てから、そのライブラリヒットを分析で使用します。

5. (オプション) アイコンをクリックし、選択した化合物の情報で処理方法を更新しま

す。

6. 青い矢印をクリックしてFormula Finderの結果を展開し、その他の結果を表示します。

図 6-55 Formula Finderの結果

ChemSpiderから化合物を更新している場合は、選択したFormula Finderの結果の化学構造が表にも表示されます。

7. 矢印をもう一度クリックすると、表が折り畳まれます。

折り畳まれた表の結果は、結果表にも表示されます。

8. をクリックし、結果表のFormula Finderの結果列を選択した化合物で更新します。

9. をクリックし、選択した化合物の情報で処理方法を更新します。

ヒント!「Options(オプション)」 > 「Get Chemspider hit count(ChemSpiderヒットカウントを取得)」をクリックして、グラフの下の表に「ChemSpider Hit Count(ChemSpiderヒットカウント)」列を表示します。

10. をクリックして、ChemSpiderアプリケーションを開きます。

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ChemSpider 該当ページ 188を参照してください。

ChemSpider

注: ChemSpiderデータベースにアクセスするには、有効なライセンスファイルがワークステーションに登録されている必要があります。

注:下図の情報は、例示のみを目的として提供されています。

図 6-56 ChemSpiderセッション

説明項目

結果ペイン:選択した式に一致する推奨される化合物のリストが表示さ

れます。結果は、40種類の化合物をグループとして表示されます。リスト内の次のグループに進むには、右矢印を使用します。リスト内の前の

グループに戻るには、左矢印を使用します。

1

スペクトルペイン:取得したスペクトル(赤)および一致するフラグメ

ント(青)が表示されます。青いフラグメントが多いほど良好な一致を

示します。

2

構造ペイン:結果ペインで選択された化合物の化学構造が表示されます。3

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説明項目

フラグメント表ペイン、Fragmentsタブ:選択した化合物に対して一致するフラグメントの合計数が表示されます。

4

フラグメント表ペイン、Peaksタブ:選択した化合物について、ピークの合計数、一致するピーク数、合計強度の割合が表示されます。一致する

ピークは、Assigned列のチェックボックスが自動的に選択されます。

4

表 6-23 ChemSpiderの機能

発生する動作実行する操作

結果ペインが更新され、入力した基準に一致する

結果だけが表示されます。

Filter XIC List(XICリストのフィルター)アイコンの横にあるフィールドに

情報を入力する

残りのペインが更新され、選択内容に関連付けら

れた情報が表示されます。

結果ペインの各エントリをクリックする

残りのペインが更新されます。スペクトルペイン

では、一致するフラグメント(青)の上下に赤い

矢印が表示されます。構造ペインでは、フラグメ

ントに一致する化学構造のコンポーネントが強調

表示されます(太字)。

フラグメント表ペインのFragmentsタブで、各エントリをクリックする

残りのペインが更新されます。スペクトルペイン

では、一致するフラグメント(青)の上下に赤い

矢印が表示されます。構造ペインでは、フラグメ

ントに一致する化学構造のコンポーネントが強調

表示されます(太字)。

フラグメント表ペインのPeaksタブで、Assignedの各エントリをクリックする

ChemSpiderのウェブサイト(www.chemspider.com)がブラウザウィンドウで開きます。情報へのアク

セス方法については、ChemSpiderのヘルプを参照してください。

ChemSpider results forフィールドの右側にある下矢印をクリックして、

ChemSpider web siteオプションを選択する

すべての変更が破棄され、セッションが元の検索

結果に戻ります。

ChemSpider results forフィールドの右側にある下矢印をクリックして、Refreshオプションを選択する

ChemSpiderセッションで選択した情報が、ソフトウェアセッションのFormula Finder Resultsペインにコピーされます。また、ChemSpiderセッションが終了します。

Selectをクリックする

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統計ペインについて

このダイアログにアクセスするには、Analyticsワークスペースで結果表を開き、Views >Statistics paneをクリックします。

Statistics ペインを使用すると、分析物の再現性に関連する情報を表示できます。表内の各行には、関連するピークグループの平均と標準偏差などの情報(同じ反応を持つものと予期さ

れる同じ分析物からの情報)がまとめられています。

説明ラベル

行番号。Row

分析物の名前。Component Name

サンプルが実際の濃度を基準としてグループ化されている場合、この

列には濃度が表示されます。サンプルがサンプル名を基準としてグ

ループ化されている場合、この列にはサンプル名が表示されます。

Sample Name/ActualConcentration

m of nの形式で表示され、nは特定の実際の濃度を持つサンプルの合計数(または同じサンプル名を持つサンプルの合計数)を表します。mは、そのようなサンプルの中で計算に使用されているサンプルの数を

表します。対応するピークを積分できなかった場合、または Usedフィールドが手動でクリアされている場合、サンプルは使用されませ

ん。

Num.Values

使用されているサンプルの平均。Mean

使用されているサンプルの標準偏差。Standard Deviation

パーセントで表した変動係数:100 *(標準偏差)/平均。Percent CV

平均値を実際の濃度で除算し、パーセントで表した値:100 *平均/(実際の濃度)。このフィールドは、実際の濃度を基準としてグループ化

している場合のみ表示され、サンプル名を基準としてグループ化して

いる場合は表示されません。

Accuracy

サンプルの個別の値は、追加列に表示されます。対応するサンプルを

積分できなかった場合は、N/Aと表示されます。Used フィールドが手動でクリアされている場合、値は取り消し線付きで表示されます。

Values

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説明ラベル

このリストの項目では、統計の計算で(特定の分析物について)サン

プルをどのようにグループ化するのかを指定します。以下の選択肢が

用意されています。

• Group by Concentration for Standards:Standard のサンプルを実際の濃度別にグループ化します。

• Group by Concentration for QCs:Quality Control のサンプルを実際の濃度別にグループ化します。

• Group by Sample Name for Standards:Standard の複製サンプルを Sample Name フィールドを基準としてグループ化します。

• Group by Sample Name for QCs:Quality Control の複製サンプルを Quality Control フィールドを基準としてグループ化します。

• Group by Sample Name for All Samples:すべての複製サンプルを Sample Name フィールドを基準としてグループ化します。

Group by Concentrationfor ...

このリストの項目では、統計の計算に使用する実際のメトリックを指

定します。以下の選択肢が用意されています。

• Calculated Concentration:結果表の Calculated Concentration フィールドが使用されます。

• Area:結果表の Area フィールドが使用されます。

• Height:結果表の Height フィールドが使用されます。

• Calibration Y-Value:分析物に対して指定されている回帰パラメータが使用されます。対応する内部標準を持たない分析物の場合は

Area または Height のいずれかとなり、内部標準を使用する分析物の場合は Area Ratio または Height Ratio のいずれかになります。

CalculatedConcentration

統計を使用したデータの分析

「Statistics(統計)」ペインを使用すると、分析物の再現性に関連する情報を表示できます。表内の各行には、関連するピークグループの平均と標準偏差などの情報(理想的には同じ反

応を持つものと予期される同じ分析物からの情報)がまとめられています。

反復プロセスを使用して、ピーク積分、キャリブレーションカーブ、サンプル統計を確認し

ます。結果表の「Actual Concentration(実際の濃度)」フィールドで設定された精度は、統計表でも使用されます。

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注: %CVや精度など、統計で許容される値の情報については、ラボの標準業務手順書を参照してください。

• 結果表を開き、「Views(表示)」 > 「Statistics pane(統計ペイン)」をクリックします。

統計ペインについて該当ページ 190を参照してください。

キャリブレーションカーブ:オプション

キャリブレーションカーブを開くペインにあるOptionsをクリックして、以下の機能を使用します:

表 6-24 キャリブレーションカーブのオプション

説明ラベル

このオプションを選択すると、除外された標準のデータポイント (ある場合) が白丸で描かれます。このオプションをクリアすると、除外された標準は表示されなくなります。

Show excludedstandards

このオプションを選択すると、品質管理 (QC) サンプルのデータポイントが白ダイアモンドで描かれます。このオプションをクリアすると、QCサンプルは表示されなくなります。

Show qualitycontrols

このオプションを選択すると、凡例が様々なサンプル種類 (標準サンプル用の黒丸、除外された標準用の白丸、およびQCサンプル用の白ダイアモンド) のためのポイントのシンボルを表示するプロットの右側に描かれます。

注:ユーザーが特定のサンプル種類を見ることができない場合、例え

ば、Show quality controlsオプションが選択されていない場合、これらのサンプル種類の入力内容は存在しません。QCサンプルと除外された標準サンプルのどちらも表示されない場合、このオプションは利用で

きず、凡例は描かれません。

Show legend

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E192 / 252

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表 6-24 キャリブレーションカーブのオプション (続き)

説明ラベル

このオプションを選択すると、Y軸が各分析物ごとの最大のY値が付いたデータポイントのパーセント値として独立して表されます。このオプショ

ンをクリアすると、プロットのY軸は絶対ピーク面積または絶対高さの単位 (または内部標準が使用されている場合はピーク面積または高さの比率)で表されます。

2つ以上の分析物が重ねて表示され、それらの絶対レスポンスが異なる場合に、パーセント軸の使用は便利です。なぜならそれにより、スケール

化される各トレースが、利用可能な全垂直領域を使用できるためです。

そうしない場合、低いレスポンスの分析物はX軸の近くに位置して、プロットは詳細を見るために拡大しなければなりません。

Use percent Y-axis

このオプションを選択すると、面積対濃度のプロットのビューととLog(面積) 対 Log (濃度) のプロットのビューとが切り替わります。

Log-log plot

このオプションを選択すると、前回エクスポートしたキャリブレーショ

ンが、有効な結果表に適用されます。

Assign externalcalibration

このオプションを選択すると、前回適用されたキャリブレーションが、

有効な結果表から削除されます。

Remove externalcalibration

このオプションを選択すると、有効な結果表に関連付けられているすべ

ての分析物のキャリブレーション方程式のコピーが、外部ファイル (*.mqcal)に保存されます。これにより、1セットの標準サンプルでのキャリブレーションが、同じ結果表の一部ではないその他のサンプルに適用できるよ

うになります。

Export calibration(and save results)

キャリブレーションのエクスポート

キャリブレーションのエクスポートを使用して、有効な結果表に関連付けられているすべて

の分析物のキャリブレーション方程式のコピーを、外部ファイル (*.mqcal) に保存します。これによりユーザーは、1セットの標準サンプルでのキャリブレーションを、同じ結果表の一部ではないその他のサンプルに適用できるようになります。

典型的なワークフロー:

1. 標準のみを含むResults Table (結果表)を作成します。

2. Peak Review (ピークレビュー)ペインを使用して、積分が成功したことを確認します。

3. Export Calibration (キャリブレーションのエクスポート)コマンドを使用して、キャリブレーションのコピーを保存します。

4. 未知の濃度のサンプルを含む新しいResults Table (結果表)を作成します。

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5. Import External Calibration (外部キャリブレーションのインポート)クリックして、エクスポートしたキャリブレーション方程式を新しい結果表に適用します。

注:ユーザーは、キャリブレーションファイル (*.mqcal) を指定して、新しい結果表に適用することもできます。

6. 必要に応じて、ステップ4と5を繰り返します。

元の結果表 (標準サンプル付き) に変更が行われた場合、更新したキャリブレーション方程式を保存するために、結果表を再度エクスポートしなければなりません。前回エクスポートし

た結果表は自動的には更新されません。

回帰種類

キャリブレーションカーブ標準の分析試料ピークの面積は、既知の濃度に対してプロットさ

れます。それに続き、線がポイントにフィッティングされます。この回帰線は未知サンプル

の濃度を計算するために使用されます。

Analyticsワークスペースで、次の種類の回帰がキャリブレーションカーブのために利用できます:

• 直線 (y = mx + b)

• 0を通る直線 (y = mx)

• 平均レスポンスファクター

• 二次式 (y = a2 + bx + c)

• Power

• Wagner

• Hill

同様に、以下を含む異なる種類の重み付けが回帰のために利用できます:

• なし

• 1/x

• 1/x2

• 1/y

• 1/y2

• ln(x)

• ln(y)

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E194 / 252

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メトリックプロットを使用してデータを分析する

メトリックプロットを使用して、列番号または別の列のいずれかに対して、Results Tableの列に値をプロットします。これらのプロットは、視覚的なデータレビューに非常に役立ちます。

1つの列が選択された場合、結果のプロットは表の列番号の関数として列の値を表示します。2つの列が選択された場合、それらの列の値はお互いに対してプロットされます。選択される2つの列の最初の列はx値を含み、2番目の列はy値を含みます。

1. Analyticsワークスペースを開きます。

2. 結果表を開きます。

3. 1つまたは2つの列を選択します。

4. More > Create Metric Plot with new settingsをクリックします。

5. メトリックプロットでLinkをクリックして、Link to results table columnsまたはLink toresults table rowsをクリックし、結果表でのスクロールをメトリックプロットにリンクします。

6. 必要に応じてOptionsをクリックし、以下の機能を使用します。

表 6-25 メトリックプロットの右クリックメニューオプション

説明メニューオプ

ション

ダイアログを使用して、回帰モデルを選択します。詳細については、

ヘルプシステムを参照してください。

Regression

このオプションを選択すると、数値ではない値のy値としてゼロを使用してプロットします。選択していない場合、このようなポイントはプ

ロットから省略されます。たとえば、解析できなかったピークについ

ては、Retention TimeがN/Aと報告されます。この機能を使用すると、そのようなピークにもポイントが存在することになるため、ユーザー

は問題の可能性があるサンプルを見つけ、ポイントをクリックしてPeakReviewペインにリンクすることができます。

Display “N/A” as0.0

結果表のSample Nameフィールドのテキストを使用して、データポイントにラベル付けするかどうかを切り替えます。重なっているトレー

スが複数存在する場合は、現在アクティブなトレースだけがラベル付

けされます。

Show samplenames

各種サンプルに対して使用されているポイント記号に注釈を付ける凡

例の表示を切り替えます。

Show legend

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表 6-25 メトリックプロットの右クリックメニューオプション (続き)

説明メニューオプ

ション

Y軸で絶対単位を使用するのか、最大Y値に対するパーセントを使用するのかを切り替えます。パーセントを使用する場合、パーセント値は

重なっているトレースごとに独立して計算されます。この機能は複数

の化合物について重なっているトレースをプロットする目的で使用で

きるため、コンポーネントのメトリックに対する反応は大幅に異なり

ます。

Use percent Y-axis

Y軸をy=0で開始するか、プロットに必要な最小Y値で開始するかを切り替えます。

Start Y-Axis at zero

データポイントを線で接続するかどうかを切り替えます。Connect with lines

現在プロットが設定に関連付けられている場合、この機能を使用する

と現在の設定が保存されます。関連付けられていない場合、この機能

はSave Setting As機能と同じように動作します。

Save setting

同じ列を頻繁にプロットする場合は、プロットのオプションを設定と

して保存することができます。これにより、必要な列が現在はResultsTableに表示されていない場合でも、迅速にプロットを生成することができます。列だけでなく、さまざまなプロットオプションも保存され

ます。設定を保存すると、その名前はMetric Plotメニューに表示されます。

Save setting as

現在のプロットが設定に関連付けられている場合、この機能を使用す

ると設定が削除されます。

Delete setting

Metric Plot Tips

• データポイントを左クリックすると、Results Tableの対応する行が自動的に選択され、ビューまでスクロールします。また、Peak Reviewペインが開いている場合は、対応するクロマトグラムを表示するように更新されます。これは、外れ値のピークレビューを実行する場合

に便利です。

• タイトル領域には、常にアクティブなトレースの名前が表示されます。複数のコンポーネ

ントのトレースが重なっている場合は、タイトルを切り替えると、すべてのトレースにつ

いて情報が表示されます。また、タイトル領域の任意の場所をダブルクリックして、アク

ティブなトレースの情報だけを表示することもできます。特定のトレースをアクティブに

するには、対応するタイトルの左側にあるカラースポットをクリックします。

監査証跡

ユーザーは、各結果表の監査証跡の記録を見ることができます。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E196 / 252

取扱説明書 – ソフトウェア

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監査証跡ビューアで監査証跡の記録を表示する

1. Analyticsワークスペースを開きます。

2. Views > Audit trail viewerをクリックします。

3. セッションファイルを開きます。

注:「Project(プロジェクト)」リストをクリックし、別のプロジェクトを選択して、結果表で監査証跡を表示するプロジェクトを変更します。

4. 他の結果表の記録を表示するには、「Sessions(セッション)」リストをクリックして別のファイルを選択します。

ヒント!プロジェクトのすべての結果表を同時に表示することもできます。

キーワード検索を使用した監査済みイベントのフィルタリング

監査済みのイベントは、監査証跡でキーワード検索を使用してフィルタリングできます。キー

ワード検索では、テキスト内で一致するすべての単語が強調表示されます。

1. Analyticsワークスペースを開きます。

2. Views > Audit trail viewerをクリックします。

3. セッションファイルを開きます。

4. 検索対象の単語を「Find(検索)」フィールドに入力します。

5. 「Go(実行)」をクリックします。

一致が見つかると「Find(検索)」フィールドが緑色に変化し、一致数が表示されます。また、一致する単語が黄色で強調表示されます。一致が見つからない場合は、「Find(検索)」フィールドがピンク色に変化します。

6. 各一致を移動するには、「Next(次へ)」ボタンと「Prev(前へ)」ボタンを使用します。

指定された基準を使用する監査済みのイベントのフィルタリング

ユーザーは、指定された基準のセットに基づいて、監査証跡にある監査済みのイベントをフィ

ルタリングできます。

1. Analyticsワークスペースを開きます。

2. Views > Audit trail viewerをクリックします。

3. セッションファイルを開きます。

4. Filterをクリックします。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド197 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

取扱説明書 – ソフトウェア

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Filter Audit Trail Eventsダイアログが開きます。

5. リストを使用して、必要なフィルター基準を選択します。

図 6-57 Filter Audit Trail Events ダイアログ

説明ラベル項目

使用すると、特定の単語またはフレーズでフィルタ

リングできます。

is1

使用すると、部分的な単語またはフレーズでフィル

タリングできます。

contains2

結果表 (.session) ファイルの名前ユーザーは、有効なプロジェクトのための1つのファイルまたはすべてのファイルをフィルタリングできます。

N/A3

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E198 / 252

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説明ラベル項目

リストから選択し、必要に応じて以下を入力します:

• イベントの種類の一部または全体を入力します。

• サンプル名の一部または全体を入力します。

• ユーザーの名前の一部または全体を入力します。

• YesまたはNoを選択します。

• 理由を入力します。

And where• 説明

• Sample Name

• Full User Name

• Notification

• Reason

4

特定の日付と時刻の間に発生したイベントをフィル

タリングします。

And where time and dateare

5

注: Results Tableフィールドは編集できません。

6. Clearをクリックして、すべてのフィルター基準をNo filterにリセットします。

7. OKをクリックして、イベントをフィルタリングします。

ヒント! Audit Trail ViewerダイアログにあるRemove Filterをクリックして、フィルターを削除します。

監査証跡ビューアの印刷

1. Analyticsワークスペースを開きます。

2. Views > Audit trail viewerをクリックします。

3. セッションファイルを開きます。

4. 「Print(印刷)」をクリックします。

5. プリンターを選択します。

注:「Audit Trail Viewer(監査証跡ビューア)」ダイアログの保存済みイベントの部分だけが印刷されます。

監査証跡ビューアにある列設定の変更

1. Analyticsワークスペースを開きます。

2. Views > Audit trail viewerをクリックします。

3. セッションファイルを開きます。

4. Column Settingsをクリックします

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド199 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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5. 必要に応じて、Column Settingsダイアログの列を選択または削除します。Results Tableのための列を選択該当ページ 165を参照してください。

Integration Algorithm Parameters

MQ4 Integration Algorithm Parameters

以下の各パラメータは、目的のピークを同定および報告するために使用します。使用可能な

パラメータの全リストについては、Integration Algorithm Parameters 該当ページ 200を参照してください。

Noise Percentage

このパラメータは、クロマトログラムのノイズレベルを推定する目的で使用します。最小の

強度を持つ指定した割合のデータポイントがノイズとみなされます。

通常は、20%~60%の値を指定します。大きなピークが存在する状況で小さなピークが検出されていない場合は、ノイズ率を下げる必要があります。図 6-58は、極端に大きなピークが存在する状況における小さなピークの例を示したものです。ノイズ率を90%に設定している場合、このピークは検出されませんが、ノイズ率を40%に設定すると検出されます。

図 6-58 対象のピーク

図 6-59の左側は、ノイズ率が40%のグラフです、また、右側は90%に設定した場合です。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E200 / 252

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図 6-59 Noise Levels

ベースライン補正ウィンドウ

スムージング後であっても、その他の処理の実行前は、突出データを排除するためにクロマ

トグラムがベースライン補正されます。各データポイントについて、ベースラインは、最小

の強度(補正ウィンドウの範囲内)を持つ現在のポイントの左右両側にあるデータポイント

を使用して計算されます。

予期されるピーク幅より少なくとも数倍大きく設定されている場合、このパラメータの正確

な値は重要ではありません。

図 6-60の左側のグラフは「Baseline Sub.Window(ベースライン補正ウィンドウ)」を0.1秒に設定した場合、右側のグラフは「Baseline Sub.Window(ベースライン補正ウィンドウ)」を1秒に設定した場合を示しています。

図 6-60 @ベースライン補正ウィンドウ

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド201 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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ピークスプリット

このパラメータでは、ノイズが発生する可能性のあるピークを単一のピークとして検出する

か、2つ(またはそれ以上)の個別のピークとして検出するのかを制御します。2つの電位ピーク間の下落が指定した値未満の場合は、単一のピークとして検出されます。そうでない場合

は2つのピークとして検出されます。

このパラメータを大きな値に設定すると、ノイズの多いピークがスプリットされず、2つの独立したピークとして検出されなくなります。ただし、2つの溶出する(重複する)明確なピークが近接して存在する場合は、小さな値を使用する必要があります。

図 6-61の左側のグラフでは、2つのポイントにピークスプリットが設定されています。また右側のグラフでは、3つのポイントにピークスプリットが設定されています。

図 6-61 ピークスプリット

AutoPeak積分アルゴリズムのパラメータ

以下の各パラメータは、目的物のピークを同定および報告する目的で使用します。

詳細は、ヘルプシステムを参照してください。

• Local peak baseline:クロマトグラム全体を基準としたベースラインを計算するのではなく、ピークを中心とした局所的なベースラインに対する変化が評価されます。

• Linear peak baseline:ピークの特定のグループの始点と終点にあるポイント間にラインを適合させ、ベースラインがピークを下回り、非線形となる可能性を排除します。

Saturation correction:アルゴリズムによってピークの飽和が検出されると、検出器が飽和しなかった場合はピークがどのようになっていたのかを予測するモデルを使用します。これ

によりプロファイルがピークの最上部を超えて拡大され、検出器が飽和しなかった場合に得

られるおおよその反応が見積もられます。また、キャリブレーションカーブの線形動的範囲

が拡大される場合があります。このオプションを使用できるのは、全体的なアルゴリズムの

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E202 / 252

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デフォルト値を設定している場合で、処理メソッドの作成時または個別のピークレビュー時

ではない場合だけです。これは、一部のピークだけに対応した設定では、この設定は有用で

はないためです。

レポートテンプレートの編集

注意: データ損失の発生要因。ユーザーによるテンプレートの変更を防ぐため、レポート

テンプレートは、システム管理者が書き込みのためだけにアクセスできる、安全な読み取

り専用フォルダに必ず保管してください。

カスタムテンプレートを作成する場合は、ユーザーの責任において、そのテンプレートを検

証する必要があります。

1. .docxテンプレートを開きます。

右側にReporterテンプレートエディタが開きます。テンプレートエディタには、自動的にタグ情報が入力されています。

図 6-62 Reporterテンプレートエディタ

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド203 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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説明項目

現在のタグを表示するレポートテンプレートです。1

アイコン:

• 新しいタグを追加します。

• 画像タグを追加します。

• 内容エリアを表示します。

• 文書変更ログを表示します。

2

タグ提供ソフトウェア:タグ情報を提供するソフトウェア名が表示さ

れます。

3

フィールドタイプ:ソフトウェアに適切なフィールドタイプが表示さ

れます。

4

選択されたフィールドタイプに基づく利用可能な属性リストが表示さ

れます。たとえば、タグ名や数値のフォーマットです。

5

Save Tag Parameters:変更を保存します。変更が保存されていない場合、変更の保存を促すメッセージが表示されます。

6

2. 表 6-26の手順を使用します。

3. 変更した後は、Save Tag Parametersをクリックしてください。

ヒント!必須情報は、フィールド左側の点滅している赤いエクスクラメーションマーク

で示されます。

表 6-26 Reporter 機能

実施する作業目的の作業

タグ内部をクリックして、新しいフィールドタイプを選択

してから、属性を選択します。

フィールドタイプを変更しま

す。

タブの内側をクリックして、必要に応じて属性を変更しま

す。

フィールドタイプの属性を変

更します。

新しいタグの追加アイコンをクリックし、フィールドタイ

プを選択して、属性を選択します。

タグを追加します。

画像タグの追加アイコンをクリックし、属性を選択しま

す。

画像を追加します。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E204 / 252

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表 6-26 Reporter 機能 (続き)

実施する作業目的の作業

内容エリアの表示アイコンをクリックします。タグの開始・終了を表示しま

す。

文書変更ログの表示アイコンをクリックします。文書監査ログを表示します。

新しい場所に選択したタグを貼り付け、フィールドタイプ

の属性を更新します。

属性はコピーされないため、選択しなければなりません。

タグをコピーします。

左右の矢印キーを使って、タグ間を移動します。タグ間で移動します。

次のいずれかを実行します。

• カーソルがタグの左側にある場合は、Deleteを押します。

• カーソルがタグの右側にある場合は、Backspaceを押します。

タグを消去します。

Reporterテンプレート

カスタムのレポートテンプレートは、ユーザーの責任において検証してください。

レポートテンプレートにはクエリを使用するものもあります。レポートのResults Tableのデータを評価、操作、および提示するために、Microsoft Excelベースの式を使用してクエリを作成することができます。レポートテンプレートのMetafieldタグは、使用すべきクエリファイルの名前をレポートに示します。クエリを使用するには、クエリファイルの名前がレポートテ

ンプレートのMetafieldタグで指定される必要があります。クエリには、クエリとして認識されるために.queryの拡張子が付いている必要もあります。クエリは、レポートテンプレートが保存されているReporterフォルダに保存される必要があります。

Reporterテンプレートが使用された際、特にクエリがテンプレートで使用された際に、生成された結果をユーザーが検証することを推奨します。検証後にレポートテンプレートに修正が

行われた場合、レポートテンプレートは再検証される必要があります。レポートテンプレー

トへの修正には、レポータータグまたはクエリへの修正も含まれます。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド205 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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表 6-27 Reporterテンプレートの説明

説明テンプレート

各サンプルについて、ファイル情報、サンプル情報、分析物結果表、お

よび全分析物と内部標準が重なったクロマトログラムで構成されたセク

ションが表示されます。分析物結果表は、結果表で表示されているよう

に印刷されます。定性分析の信頼信号灯は、すべて表の先頭に示されま

す。

All Peaks Qual

各分析物についてのファイル情報および各空白、各標準、各QC、および未知のサンプルの20%についてのXIC表を示すレポート。未知のサンプルは、レポートクエリにあるユーザー定義の基準ごとに選択されます。

Analyte 20 percent

各分析物について、サンプル要約表のセクションが表示されるレポート

です。

Analyte Summary

ファイル情報、統計表 (標準)、分析物のキャリブレーションカーブが表示されるレポートで、分析物ごとに1ページで構成されています。

Calibration Curves

各分析物について、ファイル情報と分析物のピーク面積のメトリックプ

ロットで構成されたセクションが表示される安定したレポートです。

Metric Plot

選択した各サンプルについて、ファイル情報、サンプル情報、および選

択した分析物の分析物結果表で構成されたセクションが表示されます。

分析物結果表は、結果表で表示されているように印刷されます。定性分

析の信頼信号灯は、すべて表の先頭に示されます。

Per SampleQuant-Qual

選択した各サンプルについて、ファイル情報、サンプル情報、および選

択した分析物の分析物結果表で構成されたセクションが表示されます。

分析物結果表は、結果表で表示されているように印刷されます。定性分

析の信頼信号灯は、すべて表の先頭に示されます。

Per SampleQuant-Qual VisibleRows Using VisibleAnalyte

各分析物について、ファイル情報、結果表、キャリブレーションカーブ、

および内部標準と各分析物のクロマトグラムで構成されたセクションが

表示されます。このテンプレートは、グループが定義された結果表に適

しています。

Per AnalyteQuant-Qual

各サンプルについて、ファイル情報、サンプル情報、分析物結果表、各

分析物のキャリブレーションカーブ、および内部標準と各分析物のクロ

マトグラムで構成されたセクションが表示されます。このテンプレート

は、グループが定義された結果表に適しています。

Per Sample Report

選択した各サンプルについて、ファイル情報、サンプル情報、選択した

分析物の分析物結果表、すべての分析物、内部標準、XICが重なったクロマトログラム、取得/理論的MSスペクトル、選択した各分析物の取得/ライブラリMS/MSスペクトルで構成されたセクションが表示されます。分析物結果表は、結果表で表示されているように印刷されます。定性分析の信

頼信号灯は、すべて表の先頭に示されます。

Positive Hits Qual

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E206 / 252

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表 6-27 Reporterテンプレートの説明 (続き)

説明テンプレート

各サンプルについて、ファイル情報、サンプル情報、および分析物結果

表で構成されたセクションが表示される.csvフォーマットのレポートです。

Qual CSV Report

各サンプルについて、分析物要約表のセクションが表示されるレポート

です。このレポートテンプレートは、グループを持つ結果表に適してい

ます。

Sample Summary

MS Tune (MSチューン).datファイルは、機器データが保存される際にソフトウェアによって作成されます。このファイルを使用して、以前のパラメータ状態を復元します。.datバックアップファイルは、ファイルがバックアップされた時刻ではなく、ファイルが作成された時刻を使用して名前が付けら

れます。

注:機器の最適化は、ESIプローブのみ。

MSチューン手順をロードするたびに、質量分析装置のパラメータがバックアップされます。

クイック状態チェックの実行

この手順を使用して、システムのキャリブレーションを行い、TOF MSおよびMS/MSモードの解像度を素早く確認します。チャネルアラインメント質量精度が仕様を満たさない場合、ス

テップを繰り返してシステムのキャリブレーションを行うことができます。解像度が仕様を

満たしていない場合は、TOFチューニング手順を実行してシステムを最適化できます。

ヒント!この手順は、Status パネルでMS Checkをクリックして評価できます。

1. MS Tuneワークスペースを開きます。

2. Tuning ProceduresリストからPositive Quick Status CheckまたはNegative Quick StatusCheckを選択します。

3. Status パネルのCDS電源アイコン( )をダブルクリックして、CDSの動作をオンにします。

4. 適切なチャネル(1または2)を選択してStartをクリックし、ウィンドウを閉じます。

5. CDSが平衡化するように、少なくとも1分間待機します。

6. Nextをクリックします。

7. 各ステップについて、画面に表示される指示に従います。

8. (オプション)レポートをレビューして、各ステップの結果を確認します。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド207 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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9. (オプション)レポートを保存します。

10.結果に問題がなければ、Save Tuning Settingsをクリックします。結果に問題がある場合は、以下のいずれかの操作を行います。

• 各ステップを繰り返します。

• TOF MSのチューニング手順を実行します。TOF MSのチューニング該当ページ209を参照してください。

• MS Tuneワークスペースを閉じて結果を破棄します。

• Restore Instrument Dataメニューから該当するバックアップファイルを選択して、以前の設定を復元します。

検出器の最適化

システム感度が低い場合は、この手順に従って検出器の電圧が最適化されていることを確認

します。手順の実行中はソフトウェアが検出器の電圧を調整し、最適な感度を提供します。

最適化が完了したら、最適化された値を保存したり変更を破棄したりできます。

検出器は6ヶ月ごと、または清掃後に信号が弱くなる、あるいは失われる場合に最適化することをお勧めします。

1. MS Tuneワークスペースを開きます。

2. 「Tuning Procedures(チューニング手順)」リストから「Detector Optimization(検出器の最適化)」を選択します。

3. 噴射が安定していることを確認します。

4. Nextをクリックします。

5. 画面に表示される指示に従います。

6. 「Next(次へ)」をクリックします。

最適化レポートが表示されます。

7. (オプション)レポートを保存します。

8. 「Next(次へ)」をクリックします。

9. 「Save Settings(設定の保存)」をクリックします。

注:検出器が2650 V以上で最適化される場合は、sciex.com/request-supportでサポートに問い合わせて検出器を交換してください。

Q1のチューニング

MS/MS実験では、フラグメンテーション用の前駆体イオンを選択する目的でQ1領域が使用されます。Q1 Unitのチューニングによりピーク幅が最適化され、Q1質量がキャリブレーション

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E208 / 252

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されます。Q1 Unitは、ユニット分解能での前駆体イオン選択ウィンドウの幅を表します。Q1LowまたはOpenは、低分解能(広いウィンドウ)またはオープン分解能(オープンウィンドウ)での前駆体イオン選択ウィンドウの幅を表します。Q1 Unitをチューニングすると、Q1Unitの値に基づいてQ1 LowおよびOpenの設定が計算されます。

1. MS Tuneワークスペースを開きます。

2. 「Tuning Procedures(チューニング手順)」リストから「Positive Q1 Tuning(ポジティブQ1チューニング)」または「Negative Q1 Tuning(ネガティブQ1チューニング)」を選択します。

3. Status パネルのCDS電源アイコン( )をダブルクリックして、CDSの動作をオンにします。

4. 適切なチャネル(1または2)を選択してStartをクリックし、ウィンドウを閉じます。

5. CDSが平衡化するように、少なくとも1分間待機します。

6. 噴射が安定していることを確認します。

7. Nextをクリックします。

8. 各ステップについて、画面に表示される指示に従います。

9. (オプション)「Edit Method(メソッドの編集)」をクリックして、パラメータを調整します。

10.キャリブレーションを実行した場合は、「Confirm(確認)」をクリックして確認目的の測定を実行します。

11. Nextをクリックします。

12.(オプション)レポートを保存します。

13. Nextをクリックします。

14.「Save Settings(設定の保存)」をクリックします。

TOF MSのチューニング

TOF MSチューニング手順では、TOF MSおよびMS/MSモードでの分解能と感度に対応するパラメータを最適化します。最適化はチューニング前のシステム性能の確認から始まり、強度と

分解能を最大限に高めるための各種パラメータのランピングへと続きます。チャネルのアラ

イメントが完了するとシステムがキャリブレーションされ、システムの性能が特定されます。

性能が十分な場合は、システムにチューニング設定を保存することができます。また、設定

を破棄することもできます。

TOF MSのチューニングは、自動または手動モードで実行できます。手動モードでは、最適化されたパラメータ値を選択したり、チューニングステップの最後で一時停止したりできます。

1. MS Tuneワークスペースを開きます。

2. 「Tuning Procedures(チューニング手順)」リストから「Positive TOF MS Tuning(ポジティブTOF MSチューニング)」または「Negative TOF MS Tuning(ネガティブTOFMSチューニング)」を選択します。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド209 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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3. Status パネルのCDS電源アイコン( )をダブルクリックして、CDSの動作をオンにします。

4. 適切なチャネル(1または2)を選択して「Start(開始)」をクリックし、ウィンドウを閉じます。

5. CDSが平衡化するように、少なくとも1分間待機します。

6. 噴射が安定していることを確認します。

7. Nextをクリックします。

8. 各ステップについて、画面に表示される指示に従います。

9. Nextをクリックします。

10.(オプション)レポートを保存します。

11.結果に問題がなければ、「Save Settings(設定の保存)」をクリックします。結果に問題がある場合は、以下のいずれかの操作を行います。

• 各ステップを繰り返します。

• 「MS Tune(MSチューン)」ワークスペースを閉じて結果を破棄します。

• 「Restore Instrument Data(装置データの復元)」メニューから該当するバックアップファイルを選択して、以前の設定を復元します。

• sciex.com/request-supportに問い合わせます。

Q1 Highのチューニング

MS/MS実験では、フラグメンテーション用の前駆体イオンを選択する目的でQ1領域が使用されます。Q1 Highのチューニングによりピーク幅が最適化され、Q1質量がキャリブレーションされます。Q1 Highは、高分解能での前駆体イオン選択ウィンドウの幅を表します。

1. MS Tuneワークスペースを開きます。

2. 「Tuning Procedures(チューニング手順)」リストから「Positive Q1 High Tuning(ポジティブQ1 Highチューニング)」または「Negative Q1 High Tuning(ネガティブQ1Highチューニング)」を選択します。

注:ポジティブQ1 Highの手順が一定時間実行されていない場合は「Copy(コピー)」をクリックし、ポジティブQ1 Unitの設定を出発点として使用します。

3. Status パネルのCDS電源アイコン( )をダブルクリックして、CDSの動作をオンにします。

4. 適切なチャネル(1または2)を選択して「Start(開始)」をクリックし、ウィンドウを閉じます。

5. CDSが平衡化するように、少なくとも1分間待機します。

6. 噴射が安定していることを確認します。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E210 / 252

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7. Nextをクリックします。

8. 各ステップについて、画面に表示される指示に従います。

9. (オプション)「Edit Method(メソッドの編集)」をクリックして、パラメータを調整します。

10.キャリブレーションを実行した場合は、「Confirm(確認)」をクリックして確認目的の測定を実行します。

11. Nextをクリックします。

12.(オプション)レポートを保存します。

13. Nextをクリックします。

14.「Save Settings(設定の保存)」をクリックします。

高度なトラブルシューティングの実行

チューニング手順の結果に問題がある場合は、ここで説明する高度なトラブルシューティン

グ手順を使用して、質量分析装置に関連するパラメータを最適化します。また、測定中にTDCチャネルの統計情報とスペクトルを表示することもできます。

ヒント!「Live Method(ライブメソッド)」ウィンドウを使用して、チューニング実行後の最適化されたパラメータを表示することもできます。

1. MS Tuneワークスペースを開きます。

2. 「Tuning Procedures(チューニング手順)」リストから「Advanced Troubleshooting(高度なトラブルシューティング)」を選択します。

3. スキャンの種類を選択します。

4. 必要に応じて「Edit Method(メソッドの編集)」をクリックし、「Live Method(ライブメソッド)」ウィンドウでパラメータを編集します。

5. 「Start/Restart Method(メソッドの開始/再開)」をクリックします。

6. データを確認し、必要に応じてパラメータを調整します。

7. 「Stop(停止)」をクリックし、必要に応じて検出器のパラメータまたはTOF MSのパラメータを保存します。

装置データの復元

各チューニング手順の最後にユーザーがチューニング設定を保存すると、ソフトウェアによ

り装置データファイル(.dat)のコピーが生成され、現在の.datファイルが更新されます。以前に保存した設定は、「Restore Instrument Data(装置データの復元)」機能を使用して復元できます。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド211 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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各チューニング手順を実行すると、最適化された結果を追跡するためにレポートとデータファ

イルが生成されます。.wiff2データファイルおよびレポートは、D:\SCIEX OS Data\Optimizationにあります。

1. 「MS Tune(MSチューン)」ワークスペースを開きます。

2. 「Restore Instrument Data(装置データの復元)」リストから、データファイルを選択します。

図 6-63 「Instrument Tuning and Optimization(装置チューニングおよび最適化)」ダイアログ

3. (オプション)「View Report(レポートの表示)」をクリックします。

4. 「Yes(はい)」をクリックします。

Event Log (イベントログ)ワークスペースEvent Log(イベントログ)ワークスペースには、エラー、警告、メッセージなどのシステムイベントのログが含まれています。この情報は、トラブルシューティングやシステム診断に

役立ちます。

ログを表示

1. イベントログワークスペースを開きます。

2. 左側にパネルから項目をクリックして、ログを表示します。

ログの印刷

1. Event Log (イベントログ)ワークスペースを開きます。

2. (オプション) アーカイブされたログを開きます。

3. Print (印刷)をクリックします。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E212 / 252

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ログをアーカイブ

1. Event Log (イベントログ)ワークスペースを開きます。

2. Archive (アーカイブ) > Archive Log (ログをアーカイブ)をクリックします。

図 6-64 Archive (アーカイブ) > Archive Log (ログをアーカイブ)

アーカイブログダイアログが開きます。

図 6-65 「ログをアーカイブ」ダイアログ

3. 以下以前のイベントログ項目をアーカイブフィールドで、日付アイコンをクリックして日付を選択します。

4. アーカイブをクリックします。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド213 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

取扱説明書 – ソフトウェア

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パフォーマンスを最適化するために、システムの定期クリーニングおよびメンテナンスを行っ

てください。

警告!感電の危険性。カバーを取り外さないでください。カバーを取り外すと、傷

害またはシステムの故障が発生する場合があります。定期的なメンテナンス、点検、

または調整のためにカバーを取り外す必要はありません。カバーを取り外す必要が

ある修理については、SCIEXのフィールドサービス担当者(FSE)にお問い合わせください。

警告! 放射線障害、生物学的危害、化学的危害。クリーニングやメンテナ

ンス前に、汚染除去が必要かどうかを判断します。放射性物質、生物学的病

原体、または有害化学物質が質量分析装置に使用された場合、お客様はクリー

ニングまたはメンテナンス前にシステムに対して汚染除去を行う必要があり

ます。

推奨されるメンテナンススケジュール

表 7-1は、システムのクリーニングとメンテナンスの推奨されるスケジュールを示したものです。

ヒント!定期的にメンテナンス作業を実行し、質量分析装置が最適に機能していることを

確認してください。

イオンソースの維持に関する情報については、イオンソースオペレータガイドを参照してく

ださい。

消耗部品を注文するには、資格のあるメンテナンス技術者(QMP)にお問い合わせください。メンテナンスサービスおよびサポートに関しては、SCIEXフィールドサービス担当者(FSE)にお問い合わせください。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E214 / 252

7サービスおよびメンテナンス情報

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表 7-1 メンテナンスタスク

詳細な情報については…タスク頻度コンポーネント

システム

化学物質に関する注意事項該当

ページ11を参照してください。チューブと継手

を点検し、それ

らがしっかりと

接続され、漏れ

がないことを確

認します。

毎日チューブ

質量分析装置

カーテンプレートのクリーニン

グ該当ページ 221を参照してください。

クリーニング毎日カーテンプレー

オリフィスプレートの前面をク

リーニング該当ページ 223を参照してください。

クリーニング毎日オリフィスプ

レート(フロ

ント)

粗引きポンプのオイルレベルの

点検該当ページ 227を参照してください。

レベルを点検毎週粗引きポンプオ

イル

お近くのメンテナンス技術者ま

たはFSEにお問い合わせください。

交換3年に1回または必要に応じて

粗引きポンプオ

イル

表面のクリーニング該当ページ

217を参照してください。クリーニング必要に応じて機器の表面

イオン源排気ドレインボトルを

空にする該当ページ 223を参照してください。

空必要に応じてイオン源排気ド

レインボトル

お近くのメンテナンス技術者ま

たはFSEにお問い合わせください。

クリーニング必要に応じてオリフィスプ

レート(フロ

ントおよびリ

ア)

お近くのメンテナンス技術者ま

たはFSEにお問い合わせください。

クリーニング必要に応じてQJet®イオンガ

イドおよびIQ0レンズ

お近くのメンテナンス技術者ま

たはFSEにお問い合わせください。

クリーニング必要に応じてQ0ロッドセットおよびIQ1レンズ

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド215 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

サービスおよびメンテナンス情報

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表 7-1 メンテナンスタスク (続き)

詳細な情報については…タスク頻度コンポーネント

お近くのメンテナンス技術者ま

たはFSEにお問い合わせください。

再充填必要に応じて粗引きポンプオ

イル

お近くのメンテナンス技術者ま

たはFSEにお問い合わせください。

交換必要に応じてインタフェース

ヒーター

CDSボトルの交換該当ページ 42を参照してください。

交換または再充

必要に応じてCDSボトル

チェックバルブおよび流量モ

ジュールの交換該当ページ 226を参照してください。

交換必要に応じてフローモジュー

イオン源

『イオン源オペレータガイド』

を参照してください。

点検および交換必要に応じてツインESIまたはツインAPCI電極

『イオン源オペレータガイド』

を参照してください。

交換必要に応じてコロナ放電ニー

ドル

お近くのメンテナンス技術者ま

たはFSEにお問い合わせください。

交換必要に応じてターボヒーター

『イオン源オペレータガイド』

を参照してください。

交換必要に応じてサンプルチュー

「必要に応じて」の作業については、次のガイドラインに従ってください。

• こぼれた後、または汚れた際に、質量分析装置の表面を清掃してください。

• 一杯になる前にドレインボトルを空にします。

• システム感度が低下した場合は、QJet®イオンガイドとQ0領域をクリーニングしてくださ

い。

ヒント!四重極とレンズへの充電の影響(短時間で対象イオン感度が大幅に損失)を最

小限に抑えるために、定期的にQ0領域のクリーニングを行ってください。メンテナンス技術者またはFSEにお問い合わせください。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E216 / 252

サービスおよびメンテナンス情報

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• システム感度が低下した場合はQJet®イオンガイドとQ0領域をクリーニングしてください。

ヒント!四重極とレンズへの充電の影響(短時間で対象イオン感度が大幅に損失)を最

小限に抑えるために、定期的にQ0領域のクリーニングを行ってください。メンテナンス技術者またはFSEにお問い合わせください。

• オイルが最小オイルレベルを下回るときは、粗引きポンプオイルを追加します。

表面のクリーニング

溶液がこぼれたり、または汚れた場合には、質量分析装置の外面をクリーニングします。

注意:ダメージを与える恐れがあります。推奨されているクリーニング方法および材料の

みを使用して、装置を損傷から守ります。

1. 温かい石鹸水で湿らせた柔らかい布で外面を拭きます。

2. 石鹸の残留物を除去するため、水で湿らせた柔らかい布で外面を拭きます。

フロントエンドのクリーニング

次の警告は、本セクションの手順すべてに適用されます。

警告!熱くなった表面の危険性。メンテナンス手順を開始する前に、イオン源を少

なくとも 30 分そのままにして熱を下げます。操作中、イオン源の表面が熱くなります。

定期クリーニングメソッドを使用し、質量分析装置のフロントエンドをクリーニングします。

• システムの予期せぬ故障を軽減します。

• 最適感度を維持するようにしてください。

• サービス人員の訪問が必要となるような大規模クリーニングはできるだけ避けてくださ

い。

汚染が発生した場合は、初期の定期クリーニングを行ってください。オリフィスプレートの

前面も忘れずにクリーニングしてください。定期クリーニングを行っても感度の問題が解決

しない場合は、フルクリーニングが必要です。お近くのメンテナンス技術者またはFSEにお問い合わせください。

このセクションでは、真空部を傷つけない定期クリーニング、。

注:適用される現地規制に従ってください。健康および安全のガイドラインは、化学物質

に関する注意事項該当ページ 11を参照してください。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド217 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

サービスおよびメンテナンス情報

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汚染の兆候

以下のいずれかが観察された場合、システムは汚染されているおそれがあります。

• 感度の著しい低下

• バックグラウンドノイズの増加

• サンプルに属していないピークがフルスキャンまたはサーベイスキャンメソッドに表示さ

れる

こうした問題が観察された場合、質量分析装置のフロントエンド部をクリーニングしてくだ

さい。

必要な材料

注:米国のお客様は、877-740-2129までお電話での資料請求およびお問い合わせが可能です。米国以外のお客様はsciex.com/contact-usをご覧ください。

• パウダーフリーグローブ(ニトリル、あるいはネオプレンが推奨されます)

• 保護メガネ

• 実験用白衣

• 高品質の純水 (最低18 MΩの脱イオン水、または超高純度のHPLC用水)。古い水には不純物が含まれており、質量分析装置の汚染を進行させる可能性があります。

• MS用メタノール、イソプロパノール (2-プロパノール)、アセトニトリル

• 洗浄液以下のうちひとつを使用してください。

• 100%メタノール

• 100%イソプロパノール

• 1:1比のアセトニトリル:水の溶液 (新規調製すること)

• 1:1比のアセトニトリル:水に0.1%酢酸を加えた溶液 (新規調製すること)

• 洗浄液を準備するために、1Lまたは500mLのグラスビーカーを洗浄します。

• 使用済の溶媒を入れるための1Lビーカー

• 有機廃棄物コンテナ

• 糸くずのないふき取り布製造業者から入手可能なツールとサプライ該当ページ 219を参照してください。

• (オプション)ポリエステル製綿棒

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E218 / 252

サービスおよびメンテナンス情報

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製造業者から入手可能なツールとサプライ

部品番号説明

1017396小型ポリ綿棒(熱接着)。クリーニングキットにも同梱されています。

018027糸くずの出ないワイプ(11 cm x 21 cm、4.3 インチx 8.3 インチ)。クリーニングキットにも同梱されています。

クリーニングの最善の方法

警告!熱くなった表面の危険性。メンテナンス手順を開始する前に、イオン源を少

なくとも 30 分そのままにして熱を下げます。操作中、イオン源の表面と真空インターフェースコンポーネントが熱くなります。

警告! 有害化学物質の危険性。化学製品の安全データシートを参照し、化学物質の

取り扱い、保管、処理についての全ての推奨安全手順に従ってください。安全衛生

対策は、『システムユーザガイド』を参照してください。ユーザガイドを参照して

ください。

警告! 放射線障害、生物学的危害、化学的危害。クリーニングやメンテナ

ンス前に、汚染除去が必要かどうかを判断します。放射性物質、生物学的病

原体、または有害化学物質が質量分析装置に使用された場合、お客様はクリー

ニングまたはメンテナンス前にシステムに対して汚染除去を行う必要があり

ます。

警告!環境の危険性。システムコンポーネントを一般廃棄物として処分しないでく

ださい。コンポーネントを処分する際は、地域の規制に従います。

• イオン源は、取り外す前にそのままにして熱を下げます。

• クリーニングを行う際は、常に清潔なパウダーフリーグローブ(ニトリル、あるいはネオ

プレンが推奨されます)を着用してください。

• 質量分析装置部品のクリーニング後、再組立前に新しいグローブを着用してください。

• 本手順書で指定されるもの以外のクリーニング用品を使用しないでください。

• 可能な場合は、クリーニングの直前に洗浄液を準備してください。

• 全ての有機溶剤および有機含有溶剤は、非常に清潔なガラス製品にのみ、準備保管してく

ださい。プラスチックボトルは決して使用しないでください。汚染物質はこれらのボトル

から浸出し、質量分析装置を汚染します。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド219 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

サービスおよびメンテナンス情報

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• 洗浄液の汚染を避けるため、液は布またはモップに浸して使用してください。

• 布の中心部分のみが質量分析装置の表面に触れるようにしてください。切れ端は、繊維を

残留させる可能性があります。

ヒント!熱結合されたポリモップの周りに布を巻きつけてください。

図 7-1 例:布の折り方

• 相互汚染を避けるために、布やモップは表面に一度でも触れたものは、廃棄してくださ

い。

• カーテンプレートなどの真空インタフェースのより大きい部分は、複数の布を使用して数

回のクリーニングが必要なことがあります。

• 水または洗浄液を塗布する場合は、布またはモップをわずかに湿らせる程度にしてくださ

い。有機溶剤より頻繁に使用される水は、質量分析装置の残留物が残り、布を劣化させる

可能性があります。

• 経口部を布でこすらないでください。経口部から拭き取り布が質量分析装置に入らないよ

うに傾向部の周辺を拭いてください。

• カーテンプレートまたはオリフィスプレートの経口部にブラシを挿入しないでください。

質量分析装置の準備

警告!熱くなった表面の危険性。メンテナンス手順を開始する前に、イオン源およ

び真空インターフェースを少なくとも 30 分そのままにして熱を下げます。操作中、イオン源の表面の一部と真空インターフェースが熱くなります。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E220 / 252

サービスおよびメンテナンス情報

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注意:ダメージを与える恐れがあります。イオン源を取り外す際、イオン源排出管に何も

落とさないでください。

図 7-2 真空インターフェースのソースドレイン

1. 装置を無効にします。デバイスを無効にする該当ページ 48を参照してください。

2. イオン源を取り外します。イオン源オペレータガイドを参照してください。

イオン源を使用しない場合には、破損しないよう、ならびに適切な動作が維持されるよう

保管してください。

カーテンプレートのクリーニング

注意:ダメージを与える恐れがあります。カーテンプレートやオリフィスプレートの開口

部先端部を下側にして置かないようにしてください。カーテンプレートの円錐側が上になっ

ているかを確認します。

注意:ダメージを与える恐れがあります。ワイヤやメタルブラシをカーテンプレート、オ

リフィスプレート、またはインターフェースヒーターのアパチャに挿入して、アパチャに

損傷を与えないでください。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド221 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

サービスおよびメンテナンス情報

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1. カーテンプレートを真空インターフェースから引き離し、円すい側を上にして清潔で安定した面に置きます。

図 7-3 カーテンプレートの取り外し

カーテンプレートはオリフィスプレートに配置された3つの球状ラッチで保持されています。

ヒント!カーテンプレートがすぐに取り外せないときには、カーテンプレートを少し回

転させて(90度以下)球状バネラッチを外してください。

2. 糸くずの出ないワイプを純水に浸し、カーテンプレートの両側を拭いてきれいにします。

注:必要に応じてワイプを数枚使います。

3. クリーニング液を使ってステップ 2を繰り返します。

4. クリーニング液に浸したワイプまたは綿棒を使って開口部をクリーニングします。

5. カーテンプレートが乾くのを待ちます。

6. カーテンプレート表面に糸くずや液体の染みが残留していないかを調べます。残留物があればわずかにクリーニング液に浸したワイプできれいにします。

注:しつこい染みやほこりや水などの薄い膜が、溶媒が汚染されているサインとなりま

す。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E222 / 252

サービスおよびメンテナンス情報

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オリフィスプレートの前面をクリーニング

注意:ダメージを与える恐れがあります。オリフィスプレートの表面をクリーニングする

ときに、インターフェースヒーターを取り外さないでください。インターフェースヒーター

を頻繁に取り外すと、損傷の原因となる可能性があります。定期クリーニングの際に、イ

ンターフェースヒーター表面の清掃を行ってください。

注意:ダメージを与える恐れがあります。ワイヤやメタルブラシをカーテンプレート、オ

リフィスプレート、またはインターフェースヒーターのアパチャに挿入して、アパチャに

損傷を与えないでください。

1. やわらかい雑巾を水で湿らせ、インタフェースヒーターを含むオリフィスプレートの前面を拭きます。

2. クリーニング液を使用して、手順 1を繰り返してください。

3. オリフィスプレートが乾燥するまでお待ちください。

4. オリフィスプレートに溶剤や糸くずの付着がないかを確認し、残留物がある場合、清潔で軽く濡らした糸くずの出ないワイプで拭いてください。

注:しつこい染みやほこりや水などの薄い膜が、溶媒が汚染されているサインとなりま

す。

質量分析装置の運転再開

1. 質量分析装置にカーテンプレートを装着してください。

2. イオン源オペレータガイドを参照してください。

イオン源ラッチをロック位置に回してイオン源を締めます。

3. SCIEX OSソフトウェアを使用します。

イオン源排気ドレインボトルを空にする

警告! 放射線障害、生物学的危害、化学的危害。有害物質は、適切にラベ

ルを貼った廃棄物容器に入れて処分し、その際は現地規制に従い処分してく

ださい。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド223 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

サービスおよびメンテナンス情報

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警告!放射線障害、生物学的危害、化学的危害。排気ガスを専用の実験室用

ドラフトチャンバーまたは排気システムで通気するよう注意して、換気チュー

ブがクランプで固定されていることを確認します。検査室は実施される作業

に適切な換気が行われるようにしなければなりません。

イオン源排気ドレインボトルは定期的に確認し、満杯になる前に空にします。また、ボトル

とその継手に漏れがないか点検し、必要に応じて接続部を締め付けるかコンポーネントを交

換します。ボトルを空にするには、この手順のステップに従います。

1. イオン源を除去します。イオン源オペレータガイドを参照してください。

2. ホースをイオン源排気ドレインボトルのキャップに取り付けているクランプをゆるめます。

3. キャップからホースを外します。

4. 必要に応じてドレインボトルをホルダーから取り出します。

5. ドレインボトルからキャップを取り外します。

6. ドレインボトルを空にし、検査室の手順と現地の廃棄規制に従って不用品を廃棄します。

7. ボトルにキャップを取り付け、ホルダーにボトルを取り付けます。

8. ホースをキャップにクランプでしっかりと取り付けます。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E224 / 252

サービスおよびメンテナンス情報

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図 7-4 イオン源排気ドレインボトル

説明項目

換気口への接続1

イオン源排気ドレインチューブ:内径(i.d.)2.5 cm(1.0インチ)2

粗引きポンプ排気ホース:内径(i.d.)3.2 cm(1.25インチ)3

イオン源排気ドレインボトル。こぼれないようにボトルがしっかりと

取り付けられていることを確認します。

4

質量分析装置への接続:i.d. 1.6 cm(0.625インチ)5

粗引きポンプ真空インレットホース6

注:排気ボトル、質量分析装置、検査室通気口の箇所のイオン源排気ホースの接続部

は、ホースクランプで固定されています。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド225 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

サービスおよびメンテナンス情報

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チェックバルブおよび流量モジュールの交換

警告! 有害化学物質の危険性。化学製品の安全性データシートを参照し、化学物質

の取り扱い、保管、処理についての全ての推奨安全手順に従ってください。安全衛

生対策については、化学物質に関する注意事項該当ページ11を参照してください。

チェックバルブには、CDSがオフのときに、キャリブラントがイオン源に流れないようにする役割があります。流量モジュールは長さ10 cmの黒いチューブで、寸法が重要な意味を持ちます。これにより、イオン源へのキャリブラントの流量を制御します。

図 7-5 チェックバルブおよび流量モジュール

説明項目

CDSへ1

チェックバルブ2

流量モジュール3

イオン源へ4

必要な材料

• 1/4インチのレンチ

1. チェックバルブを取り外すには、チェックバルブの両側にある指で締め付けたPEEK接続器をゆるめます。

注:チェックバルブを取り付ける際は、チェックバルブの矢印がイオン源を向いている

ことを確認してください。

2. 流量モジュールを取り外すには、以下のステップを実行します。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E226 / 252

サービスおよびメンテナンス情報

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a. 流量モジュールをチェックバルブに接続している指で締め付けたPEEK接続器をゆるめます。

b. 1/4インチのレンチを使用して、流量モジュールをプローブに接続している継手を取り外します。

粗引きポンプのオイルレベルの点検

• 粗引きポンプのオイルレベル確認窓を点検して、オイルが最低レベルを上回っていること

を確認します。

オイルレベルが最低レベルを下回っている場合、有資格保守要員(QMP)またはSCIEXフィールドサービスエンジニア(FSE)に連絡してください。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド227 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

サービスおよびメンテナンス情報

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図 7-6 オイルレベル確認窓

保管と取り扱いのための環境要件

警告!環境の危険性。システムコンポーネントを一般廃棄物として処分しないでく

ださい。コンポーネントを処分する際は、地域の規制に従います。

質量分析装置の長期保管および出荷準備が必要な場合は、SCIEX FSEに停止・保管情報をお問い合わせください。質量分析装置から電源を外す際は、AC主電源から主電源コネクタを取り外してください。

注:システムは、-30 °C~+60 °C(-22 °F~140 °F)で搬送および保管されなければなりません。システムは、海抜 m(フィート)を超えない場所で保存します。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E228 / 252

サービスおよびメンテナンス情報

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質量分析装置の移動

警告!吊り上げ時の危険性。質量分析装置を吊り上げるには、X500Rでは少なくとも9人、X500Bでは10人で作業するようにします。認定を受けた安全吊り上げ手順に従います。システムコンポーネントの重量については、『設置計画概要書』を参照

してください。

警告!吊り上げ時の危険性。粗引きポンプを吊り上げるためには、少なくとも2人で作業するようにします。認定を受けた安全吊り上げ手順に従います。

警告!熱くなった表面の危険性。やけどに注意してください。操作中、質量分析装

置の表面が熱くなります。

必要条件

• システムをシャットダウンします。システムを大気開放する必要はありません。システ

ムのシャットダウンと大気開放該当ページ 38を参照してください。

• すべてのガスの流れを止め、ガス通路の圧力を下げます。

必要な材料

• リフティングキット

1. 質量分析装置から、真空ホース、ガスチューブ、イオン源排気チューブ、電源ケーブル、イーサネットケーブル、TDCケーブルの接続を外します。

2. 左右のスカートを取り外します。

3. 質量分析装置の右前面で、リフティングバーを固定しているロックピンを引き抜きます。次にバーの穴がチューブの穴と揃うようにバーを引き出し、ロックピンを使ってバーを固

定します。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド229 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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図 7-7 リフティングバーを縮めた状態

図 7-8 リフティングバーを伸ばした状態

4. 質量分析装置の右背面、左前面、左背面についてもステップ 3の作業を行います。

5. 各リフティングバーにショートブロックを取り付け、ロックピンで固定します。

注意:ダメージを与える恐れがあります。移動の際に質量分析装置が落下するのを避け

るために、すべてのロックピンが完全に挿入されていることを確認します。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E230 / 252

サービスおよびメンテナンス情報

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図 7-9 ショートブロックの取り付け

6. 質量分析装置の右側で、各ブロックにロングロッドを通します。

注:ブロックから突き出しているバーの長さが長いほうの端部が、質量分析装置の前面

に来るようにしなければなりません。

7. 質量分析装置の左側についてもステップ 6の作業を行います。

8. ロングロッドにロックピンを取り付けます。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド231 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

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図 7-10 ロングロッドへのロックピンの取り付け

9. ロングロッドの端部にトールブロックを取り付け、2本のロックピンで固定します。

図 7-11 トールブロックの取り付け

10.質量分析装置の前面で、各トールブロックにショートロッドを通します。

11.ショートロッドを2本のロックピンで固定します。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E232 / 252

サービスおよびメンテナンス情報

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図 7-12 ショートロッドへのロックピンの取り付け

図 7-13 リフティングキットを取り付けた状態(X500R System)

12.自分以外の8名(X500Rシステムの場合)または9名(X500Bシステムの場合)のスタッフに協力してもらい、質量分析装置を別の場所に移動します。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド233 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

サービスおよびメンテナンス情報

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図 7-14は、X500Bシステムを持ち上げるために必要な10人の配置を示します。10で指定された人はシステムの前面にいますが、システムを手から離してベンチに置く際に横に移動

する必要があります。X500Rシステムでは、1から9までのみ配置が必要です。

図 7-14 作業者の配置(X500Bシステム)

13.自分以外の1名に協力してもらい、粗引きポンプを別の場所に移動します。

14.左右のスカートを取り付けます。

15.真空ホース、ガスチューブ、イオン源排気チューブ、電源ケーブル、イーサネットケーブル、TDCケーブルを質量分析装置に接続します。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E234 / 252

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注意:ダメージを与える恐れがあります。真空ホースのクランプが、質量分析装置の側

面を超えて突き出さない向きになっていることを確認します。向きが正しくない場合、

質量分析装置の保守のためにドレスパネルを開けたときに、ドレスパネルが破損するお

それがあります。

図 7-15 正しい取り付け方のクランプ

サポートパッケージの生成

1. Configurationワークスペースを開きます。

2. 左側のパネルのAboutをクリックします。

3. Service and Supportで、Generate a Support Packageをクリックします。

圧縮されたレポートがD:\ServicePackagesフォルダに保存されます。

4. 圧縮ファイルをサポートに送信してください。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド235 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

サービスおよびメンテナンス情報

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この章には、システム問題のトラブルシューティングのための情報が含まれています。特定

の作業は、研究所のSCIEXのトレーニングを受講し、認定メンテナンス作業員(QMP)のみが行うことができます。高度なトラブルシューティングについては、SCIEXフィールドサービスエンジニア(FSE)にお問い合わせください。

表 8-1 システムの問題

是正措置原因兆候

Curtain GasTM流量が低すぎま

す。

QJet®イオンガイドが極

度に汚れているか、頻

繁に汚れます。

1. 粗引きポンプのオイルレベルを確認し、オイルを追加する場合は、お近く

のメンテナンス技術者またはFSEにお問い合わせください。

2. 点検して液漏れを修理してください。

3. 正しいオリフィスプレートを設置してください。

1. 粗引きポンプのオイルレベルが低すぎます。

2. 液漏れがあります。

3. 誤ったオリフィスプレートが設置されてい

ます。

真空圧力が高すぎるた

めに、システムエラー

が発生しました。

お近くのメンテナンス技術者またはFSEにお問い合わせください。

1. 室温が高すぎます。QPS励磁機モジュールの温度が高すぎるため

に、システムエラーが

発生しました。

1. デバイス詳細ページのステータスパネルで故障を確認してください。

2. プローブをインストールします。『イオン源オペレータガイド』を参照して

ください。

3. プローブを取り外して交換します。止めリングをしっかりと締めます。『イ

オン源オペレータガイド』を参照して

ください。

1. プローブがインストールされていません。

2. プローブがしっかりと接続されていません。

SCIEX OSソフトウェアが、イオン源のために

質量分析装置が故障状

態であることを報告し

ています。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E236 / 252

8質量分析装置のトラブルシュー

ティング

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表 8-1 システムの問題 (続き)

是正措置原因兆候

FSE にお問い合わせください。F3 ヒューズが飛びました。SCIEX OSソフトウェアが、APCI プローブは使用中であるものの、

TurboIonSpray®プローブ

がインストールされて

いることを示します。

電極をクリーニングまたは交換します。

『イオン源オペレータガイド』を参照し

てください。

電極が塞がれています。スプレー噴射が均一で

はありません。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド237 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

質量分析装置のトラブルシューティング

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表 8-1 システムの問題 (続き)

是正措置原因兆候

1. イオン源パラメータを最適化します。SCIEX OSソフトウェアのHelp systemを参照してください。

2. カーテンプレートのクリーニング該当ページ 221を参照してください。

3. オリフィスプレートの前面をクリーニング該当ページ223を参照するか、お近くのメンテナンス技術者またはFSEにお問い合わせください。

4. Q0領域のクリーニングを行います。QMPまたはFSEにお問い合わせください。

5. 漏れがないかシリンジまたはサンプルラインを点検し、漏れが見つかった場

合はそれを修理します。すべての継手

が正しいタイプとサイズであることを

確認します。

6. サンプル濃度を確認します。新しいサンプルを使用します。

7. 電極を固定するナットを締めます。

8. プローブを取り外して取り付けます。

9. ラッチが正しく固定されていることを確認しながら、イオン源を取り外して

取り付けます。これで問題が解決され

ない場合、代替イオン源を取り付けて

最適化します。

10.イオン源にOリングがある場合、それらを真空インターフェースに取り付け

ます。それらを紛失した場合、FSEに連絡してください。

11. LC システムの問題を解決します。

1. イオン源パラメータが最適化されていませ

ん。

2. 質量分析装置が最適化されていません。

3. カーテンプレートが汚れています。

4. オリフィスプレートが汚れています。

5. QJet®イオンガイドまた

はIQ0レンズが汚れています。

6. Q0領域が汚れています。

7. シリンジまたはサンプル通路に漏れがありま

す。

8. サンプルが劣化、またはサンプル濃度が低い

です。

9. イオン源プローブの電極を固定するナットが

しっかりと締められて

いません。

10.プローブが正しく設置されていません。

11.イオン源が正しく設置されていないか、故障

しています。

12.真空インターフェースの1つ以上のOリングがありません。

13. LC システムまたは接続に問題があります。

感度が低下していま

す。

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E238 / 252

質量分析装置のトラブルシューティング

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表 8-1 システムの問題 (続き)

是正措置原因兆候

1. プローブを最適化してください。『イオン源オペレータガイド』を参照して

ください。

2. サンプルが適切に用意されたかを確認します。

3. 継手が正しいサイズとタイプであることを確認し、それらがしっかりと締め

られていることを確認します。継手を

締め付けすぎないでください。漏れが

続く場合、継手を交換します。

4. 代替イオン源をインストールして最適化します。

5. 問題が解決しない場合は、FSEにお問い合わせください。

1. プローブが最適化されていません。

2. サンプルが正しく用意されなかったか、サン

プルが劣化していま

す。

3. サンプル注入口接続器に漏れがあります。

質量分析装置の性能が

劣化しています。

コロナ放電ニードルをカーテンプレート

に向けて、ヒーターガスの蒸気がかから

ないようにします。イオン源のオペレー

タガイドを参照してください。

コロナ放電ニードルのポジ

ションが正しくありませ

ん。

アーク放電またはス

パーク放電が発生しま

す。

1. CDSの接続を確認します。

2. キャリブラントチューブの詰まりを点検します。

1. CDSが接続されていません。

2. CDSのチューブが詰まっています。

キャリブラントシグナ

ルが低くなっていま

す。

販売、技術サポートまたはサービスについては、FSEにお問い合わせいただくか、SCIEXのホームページ(sciex.com)のお問合せ情報を参照してください。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド239 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

質量分析装置のトラブルシューティング

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以下の表は、SCIEX X500 QTOFシステムのキャリブレーション用にSCIEXが推奨している標準を示しています。

表 A-1 キャリブレーション溶液

数量説明部番

100 mLAPCIポジティブキャリブレーション溶液、SCIEX X500システム用

5042914

5 × 100 mLAPCIポジティブキャリブレーション溶液、SCIEX X500システム用、5パック

5042918

100 mLAPCIネガティブキャリブレーション溶液、SCIEX X500システム用

5042915

5 × 100 mLAPCIネガティブキャリブレーション溶液、SCIEX X500システム用、5パック

5042919

100 mLESIポジティブキャリブレーション溶液、SCIEX X500Rシステム用

5042912

5 × 100 mLESIポジティブキャリブレーション溶液、SCIEX X500Rシステム用、5パック

5042916

100 mLESIポジティブキャリブレーション溶液、SCIEX X500Bシステム用

5049910

5 × 100 mLESIポジティブキャリブレーション溶液、SCIEX X500Bシステム用、5パック

5032735

100 mLESIネガティブキャリブレーション溶液、SCIEX X500システム用

5042913

5 × 100 mLESIネガティブキャリブレーション溶液、SCIEX X500システム用、5パック

5042917

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E240 / 252

A推奨キャリブレーションイオン

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APCIキャリブレーションイオン表 A-2 TOF MSポジティブキャリブレーションイオン

質量

442.2647354.2122315.1623266.1598146.1176

1521.9715922.0098618.3695609.2807

表 A-3 TOF MSネガティブキャリブレーションイオン

質量

792.4598616.3550440.2501403.1122352.1977277.0983264.1453144.1030

表 A-4 TOF MS/MSポジティブプロダクトイオン

609.2807315.1623プレカーサーイオン(m/z)

8080デクラスタリングポテンショ

ナル(V)

4527衝突エネルギー(V)

609.2807315.1623フラグメントイオン1

577.2544270.1044フラグメントイオン2

448.1966242.0731フラグメントイオン3

397.2122235.1356フラグメントイオン4

365.1860227.0496フラグメントイオン5

236.1281220.1121フラグメントイオン6

195.065286.0964フラグメントイオン7

174.091358.0651フラグメントイオン8

表 A-5 TOF MS/MSネガティブプロダクトイオン

403.1122277.0983プレカーサーイオン(m/z)

–80–80デクラスタリングポテンショ

ナル(V)

–30–30衝突エネルギー(V)

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド241 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

推奨キャリブレーションイオン

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表 A-5 TOF MS/MSネガティブプロダクトイオン (続き)

403.1122277.0983プレカーサーイオン(m/z)

403.1122277.0983フラグメントイオン1

277.0983249.1033フラグメントイオン2

158.0611217.0771フラグメントイオン3

125.0067200.0591フラグメントイオン4

93.0344158.0611フラグメントイオン5

N/A130.0662フラグメントイオン6

N/A116.0506フラグメントイオン7

N/A77.0397フラグメントイオン8

ESIキャリブレーションイオン表 A-6 TOF MSポジティブキャリブレーションイオン

質量

829.5393609.2807442.2647354.2122315.1623266.1598132.9049

2253.83082130.24492121.93321643.86911521.97151053.9074922.0098

表 A-7 TOF MSネガティブキャリブレーションイオン

質量

520.9100384.9352248.9604204.9706154.9738112.985668.9958

1472.73371336.75891200.78411064.8092928.8344792.8596656.8848

2233.91152165.92411880.65811633.94981565.96241744.68331608.7085

表 A-8 TOF MS/MSポジティブプロダクトイオン

829.5393609.2807315.1623プレカーサーイオン

(m/z)

808080デクラスタリングポテ

ンショナル(V)

454525衝突エネルギー(V)

829.539609.281315.162フラグメントイオン1

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E242 / 252

推奨キャリブレーションイオン

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表 A-8 TOF MS/MSポジティブプロダクトイオン (続き)

829.5393609.2807315.1623プレカーサーイオン

(m/z)

811.529577.254270.104フラグメントイオン2

724.497448.197242.073フラグメントイオン3

706.486397.212235.136フラグメントイオン4

607.418365.186227.05フラグメントイオン5

532.334236.128220.112フラグメントイオン6

512.344195.06586.0964フラグメントイオン7

494.334174.09158.0651フラグメントイオン8

411.297

399.26

381.25

298.213

268.166

227.175

215.139

185.129

157.134

表 A-9 TOF MS/MSネガティブプロダクトイオン

1200.784792.8520.9384.9248.9プレカーサー

イオン(m/z)

8080808080デクラスタリ

ングポテン

ショナル

(V)

3022201615衝突エネル

ギー(V)

1200.784792.8596520.9100384.9352248.9604フラグメント

イオン1

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド243 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

推奨キャリブレーションイオン

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表 A-9 TOF MS/MSネガティブプロダクトイオン (続き)

1200.784792.8520.9384.9248.9プレカーサー

イオン(m/z)

1064.809656.8848384.9352248.9604204.9706フラグメント

イオン2

928.8344520.9100248.9604204.9706154.9738フラグメント

イオン3

792.8596384.9352204.9706154.9738112.9856フラグメント

イオン4

656.8848248.9604154.9738112.985668.99576フラグメント

イオン5

520.9100204.9706112.9856N/AN/Aフラグメント

イオン6

384.9352154.9738N/AN/AN/Aフラグメント

イオン7

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E244 / 252

推奨キャリブレーションイオン

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表 A-9 TOF MS/MSネガティブプロダクトイオン (続き)

1200.784792.8520.9384.9248.9プレカーサー

イオン(m/z)

248.9604112.9856N/AN/AN/Aフラグメント

イオン8 204.9706N/AN/AN/A

154.9738N/AN/AN/A

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド245 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

推奨キャリブレーションイオン

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レセルピン

表 B-1 レセルピンの正確な質量

レセルピン(C33H40N2O9)

質量説明

609.28066分子イオン C33H41N2O9

448.19659フラグメント C23H30NO8

397.21218フラグメント C23H29N2O4

365.18597フラグメント C22H25N2O3

236.12812フラグメント C13H18NO3

195.06519フラグメント C10H11O4

174.09134フラグメント C11H12NO

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E246 / 252

B正確な質量および化学式

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注:以下の表のすべてのシンボルが、すべての機器に適用されるものではありません。

説明シンボル

交流

アンペア(電流)A

ヨーロッパ共同体の公認代表者

病原体

CE適合マーキング

CSAマーク。US市場での電気安全認証を示します。

カタログ番号

中国RoHS注意ラベル電子情報製品は特定の毒性または有害物質を含んでいます。中央に書かれている数字は、環境保護使用期限(EFUP)の日付であり、製品が操作可能である暦年を数字で示すものです。EFUPの期限が切れた際は、製品は速やかにリサイクルされなければなりません。回

転矢印は、製品がリサイクル可能であることを示します。ラベルまたは

製品にある日付コードは、製造年月日を示します。

中国RoHSロゴ装置は最大濃度値を超える毒性および有害物質または元素を含んでおらず、リサイクルおよびリユース可能な環境に優しい製品で

す。

使用説明書を参照してください。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド247 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

Cシンボルについての用語集

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説明シンボル

ユニークデバイス識別子(UDI)を取得するためにバーコードリーダーでスキャンできるData Matrixシンボル。

イーサネット接続

爆発の危険

火災の危険

壊れ物

ヒューズ

ヘルツHz

高電圧。感電の危険

メインカバーを取り外す必要がある場合は、感電を避けるためにSCIEXの代理店に連絡してください。

高温面の危険

イオン化放射の危険

乾燥状態を保ってください。

雨に曝さないでください。

相対湿度は99%以下でなければなりません。

上部を上にしてください

レーザー放射線障害の危険

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E248 / 252

シンボルについての用語集

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説明シンボル

持ち上げ操作の危険

製造業者

個人レベルの傷害の危険

挟まれの危険

加圧ガスの危険

保護設置(アース)

穿刺災害の危険

シリアル番号

有毒化学品の危険

USB 2.0接続

紫外線放射の危険

ボルトアンペア(皮相電力)VA

ボルト(電圧)V

WEEE。分別されていない一般廃棄物として機器を廃棄しないでください。

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド249 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

シンボルについての用語集

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説明シンボル

ワットW

yyyy-mm-dd製造年月日

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E250 / 252

シンボルについての用語集

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注:コンポーネントの識別に使用されるラベルのいずれかを外す場合は、FSEにご連絡ください。

翻訳(該当する場合)ラベル

研究専用。診断手段としての使用は想定され

ていません。

FOR RESEARCH USE ONLY. NOT FOR USE INDIAGNOSTIC PROCEDURES.

インパクトインジケータ

高感度の製品についての警告

注:インジケータが傾いている場合、この

コンテナは落下したか、乱暴に取り扱われ

ています。船荷証券に注意書きを行い、損

傷を確認してください。衝撃による損傷に

関するあらゆる苦情には通知が必要です。

IMPACT INDICATOR

SENSITIVE PRODUCT WARNING

重要!荷物を受け取る前に、傾いた

「IMPACT-O-GRAPHインジケータ」または「TIP-N-TELLインジケータ」を含む目に見える損傷を貨物運送状に記録してください。

お近くのSCIEXカスタマーサポートエンジニアにすぐに通知してください。

IMPORTANT!

RECORD ANY VISIBLE CRATE DAMAGE, INCLUDINGTRIPPED IMPACT-O-GRAPH OR TIP-N-TELLINDICATORS, ON THE WAYBILL BEFORE ACCEPTINGSHIPMENT.

NOTIFY YOUR LOCAL SCIEX CUSTOMER SUPPORTENGINEER IMMEDIATELY.

チルトインジケータ

注:コンテナが傾斜または誤った取り扱い

をされていないかを示します。船荷証券に

記載し、損傷がないか点検してください。

傾斜に関するあらゆる苦情には、通知が必

要です。

TIP & TELL

SCIEX X500 QTOFシステムシステムユーザガイド251 / 252RUO-IDV-05-2334-JA-E

D警告についての用語集

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翻訳(該当する場合)ラベル

チルトインジケータ

注:コンテナが傾斜または誤った取り扱い

をされていないかを示します。船荷証券に

記載し、損傷がないか点検してください。

傾斜に関するあらゆる苦情には、通知が必

要です。

TiltWatch PLUS

ShockWatch

警告:最初にボトルキャップが確実に固定さ

れていることを確認せずに、操作しないこ

と。

注:この警告は、イオン源排気排出ボトル

に添付されています。

WARNING: DO NOT OPERATE WITHOUT FIRSTENSURING BOTTLE CAP IS SECURED.

X500Rシステム:

警告:持ち上げ操作の危険

この装置を持ち上げるには9人が必要です。

WARNING: Lifting Hazard.

NINE PERSONS REQUIRED TO LIFT THIS EQUIPMENT.

X500Bシステム:

警告:持ち上げ操作の危険

この装置を持ち上げるには10人が必要です。

WARNING: Lifting Hazard.

TEN PERSONS REQUIRED TO LIFT THIS EQUIPMENT.

警告:ユーザーは内部部品の修理を行わない

でください。修理が必要な場合は、資格のあ

るサービス担当者にお問い合わせください。

注:使用説明書を参照してください。

WARNING: NO USER SERVICEABLE PARTS INSIDE.REFER SERVICING TO QUALIFIED PERSONNEL.

システムユーザガイドSCIEX X500 QTOFシステムRUO-IDV-05-2334-JA-E252 / 252

警告についての用語集