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PRE-CONTROL Es una técnica que se utiliza para detectar cambios en el proceso que pueden dar por resultado la producción de artículos disconformes. Es una herramienta simple para controlar un proceso en base a las especificaciones. Con el Pre-Control se busca el control de la capacidad: Si el proceso es capaz de elaborar el producto dentro de las especificaciones.

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Page 1: Spc corregido

PRE-CONTROL

Es una técnica que se utiliza para detectar cambios enel proceso que pueden dar por resultado la producciónde artículos disconformes.

Es una herramienta simple para controlar un procesoen base a las especificaciones.

Con el Pre-Control se busca el control de la capacidad:

Si el proceso es capaz de elaborar el producto dentrode las especificaciones.

Page 2: Spc corregido

METODOLOGÍA

Suposiciones:

La característica a controlar tiene

distribución Normal.

La capacidad del proceso es ≥ 1 ( Cp ≥ 1).

Se divide el intervalo (LSE-LIE) en 4 partes

iguales.

Page 3: Spc corregido
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Page 5: Spc corregido

FUNCIONAMIENTO DE LA TÉCNICA:

Calificar el proceso:

5 unidades consecutivas en zona verde

Control del proceso:

muestras periódicas de 2 unidades (pares A,B)

Page 6: Spc corregido

RESUMEN:

2 en zona verde, o verde y amarilla

CONTINUAR el proceso

2 en zona amarilla REAJUSTAR el proceso

Una unidad en zona roja PARAR el proceso

Page 7: Spc corregido

ARRANQUE

Dentro de las

líneas de PC

Continuar hasta

lograr 5 consecutivas

Pasar a la inspección de

frecuencia seis pares entre

ajustes

Entre las líneas de

PC y las

especificaciones

Dos seguidas

REESTABLECER

Fuera de

especificaciones

REESTABLECER

PROCEDIMIENTO PARA EL PRECONTROL

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Zona de color

ProbabilidadDecisión Rojo Amarrillo Verde Amarrillo Rojo

Parar,

arrancarA A Uno

Uno

Parar, Pedir

ayuda

A

B

B

A

1/14*1/14=1/196

1/14*1/14=1/196

Ajustar,

arrancar

A, B A, B 1/4 *1/14=1/196

1/4*1/14=1/196

Continuar

A

B

A, B

B

A

A

B

12/14*12/14=144/1

96

1/14*12/14=12/196

1/14*12/14=12/196

12/14*1/14=12/196

12/14*1/14=12/196B

A

LEI LES

Page 9: Spc corregido

ANALISIS DE PRE-CONTROL

Por ejemplo

• Si la especificación es 3.15 0.10mm, los cálculos

serán:

1. Divida la toleracia entre 4: 0.20/4 = 0.05

2. Se suma este valor al de la especificación inferior, 3.05

PC = 3.05 + 0.05 = 3.10

Las dos líneas de PC se encuentran en 3.10 y

3.20mm

Page 10: Spc corregido

CONTROL ESTADISTICO DEL PROCESO

El control estadístico del proceso (CEP), es una metodología en la que

se usan gráficas de control para ayudar a los operadores, supervisores

y administradores a vigilar la producción de un proceso, para identificar

y eliminar las causas especiales de variación.

El CEP se define como la aplicación de los métodos estadísticos a la

medición y análisis de la variación en cualquier proceso.

El instrumento clave del CEP es la gráfica de control inventada por

Walter Shewahart en la década de los años 1920

Page 11: Spc corregido

GRAFICO DE CONTROL O CARTA DE CONTROL

Es un gráfico en el cual se representan los valores de algún tipo de

medición realizada durante el funcionamiento de un proceso continuo, y

que sirve para controlar dicho proceso.

LCI

LCS

X

Page 12: Spc corregido

VARIACIONES COMUNES DEL PROCESO

PROCESO

Maquinaria

Materia

prima

Mano de

obra

Medio

ambiente

Medición Métodos

Todo proceso de fabricación funciona bajo ciertas condiciones o

variables que son establecidas por las personas que lo manejan

Page 13: Spc corregido

VARIACIONES DEL PROCESO

Existen dos tipos de variaciones en el proceso:

Causas Asignables. Son causas que pueden ser

identificadas y que conviene descubrir y eliminar, por

ejemplo, una falla de la máquina por desgaste de una pieza

Causa No Asignables: son una multitud de causas no

identificadas, ya por falta de medios técnicos o porque no es

económico hacerlo, cada una de las causas ejerce un

pequeño efecto en la variación total. Son inherentes al

proceso y no pueden ser eliminadas

Page 14: Spc corregido

CAUSAS DE VARIACIÓN ALEATORIAS Y ASIGNABLES

LIE LSEm0

s0

s0

m1 > m0

s1 > s0

m2 < m0

t1

t2

t3s1 > s0

Característica de calidad

del proceso

Tiempo

Page 15: Spc corregido

DEFINICIÓN DEL ESTADO DE CONTROL

Un proceso se dice que se encuentra bajo

control estadístico si sólo se ve afectado por

un conjunto de causas aleatorias de

variación.

Si el proceso se encuentra afectado por

causas asignables de variación, se dice que

está fuera de control.

Page 16: Spc corregido

CONTROL ESTADISTICO DEL PROCESO

Existen dos razones básicas para aplicar el CPE:

Es que el CEP nos permite determinar cuando emprender

acciones para ajustar un proceso que ha salido de control.

El CEP señala cuando dejar solo un proceso.

Page 17: Spc corregido

CONTROL ESTADÍSTICO….COMO PONERLO EN MARCHA?

La puesta en marcha del CEP implica dos etapas:

Control

Estadístico

1ª Etapa: Ajuste del

proceso

2ª Etapa: Control

del Proceso

Page 18: Spc corregido

Gráfica de control

1 2 3 4 5 6 7 8

LIC

LSC

LC

Número de subgrupo o muestra

Característica

de calidad

ELEMENTOS Y PRINCIPIOS BASICOS DE UNA GRAFICA DE CONTROL

Page 19: Spc corregido

GRÁFICAS DE CONTROL Y PRUEBAS DE HIPÓTESIS

Suponga que en la gráfica de control el eje vertical representa el

estadístico muestral x

Si el valor de cae dentro de los límites de control, concluimos

que la media del proceso está bajo control.

x

0mm

Por otra parte, si excede cualquiera de los límites de control,

concluimos que la media del proceso está fuera de control.

x

0mmLa prueba de hipótesis

quedaría de la siguiente

manera:

LSCx ó LICx

rechazo de Región

:

:

01

00

mm

mm

H

H

Gráfica de control del diámetro interno de anillos para pistón

73.97

73.975

73.98

73.985

73.99

73.995

74

74.005

74.01

74.015

74.02

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15

Subgrupo

x

Page 20: Spc corregido

ERROR TIPO I Y ERROR TIPO II EN UNA GRÁFICA

DE CONTROL

verdaderaes H HRechazar P

I Error tipoP

00

falsa es H Hrechazar alFallar P

II Error tipoP

00

Riesgo del proveedor

Riesgo del cliente

falsa es H HRechazar P100

Potencia de la prueba

2

2

0mm

0mm

Page 21: Spc corregido

MODELO GENERAL PARA UNA GRÁFICA DE CONTROL

LSC = mw + L sw

LC = mw

LIC = mw - L sw

Sea w un estadístico muestral que mide cierta característica de

calidad y sean mw y sw la media y la desviación estándar de w,

respectivamente. Entonces, LC, LSC y LIC son:

Page 22: Spc corregido

SELECCIÓN DE LÍMITES DE CONTROL

Se recomienda manejar dos conjuntos de

límites de control:

Límites de control deacción (a 3 sigma)

Límites de advertencia (a 2 sigma)

LIC

LSC

LIC

LSC

LC

LIA

LSA

Page 23: Spc corregido

TAMAÑO DE LA MUESTRA Y FRECUENCIA DE

MUESTREO

Al diseñar una gráfica de control se debe

especificar tanto el tamaño de la muestra

como la frecuencia de muestreo.

n= tamaño de la muestra

h= intervalo de tiempo entre muestras

Page 24: Spc corregido

TAMAÑO DE LA MUESTRA

La capacidad de la gráfica de control

para detectar cierto tipo de cambios en

el proceso depende del tamaño de la

muestra.

Si deseamos detectar cambios

pequeños se deben utilizar muestras

grandes.

Si deseamos detectar cambios grandes

es mejor utilizar muestras pequeñas.

Page 25: Spc corregido

FRECUENCIA DE MUESTREO

La situación más deseable para detectar los cambios es tomar muestras grandes de manera frecuente.

Se presenta el problema económico.

Opciones:

Muestras pequeñas en intervalos cortos de tiempo

Muestras grandes en intervalos largos de tiempo.

Page 26: Spc corregido

TAMAÑO Y FRECUNCIA DE MUESTREO

En la practica se ha encontrado que las muestras de unos 5 artículos a

intervalos cortos funcionan bien para descubrir cambios o

desplazamientos del proceso de dos desviaciones estándar o mayores,

con número de subgrupos de 20 a 25

Numero de

subgrupo

Tamaño de la muestra Promedio de

la muestra

1 X1 X2 X3 X4 X5 X1

2 X1 X2 X3 X4 X5 X2

3… X1 X2 X3 X4 X5 X3

mnXn Xn Xn Xn Xn Xn

Page 27: Spc corregido

ANÁLISIS DE PATRONES EN LAS GRÁFICAS

DE CONTROL

Puntos fuera de los límites de control

Corridas

Ciclos

LIC

LSC

LC

Page 28: Spc corregido

LIC

LSC

LC

REGLAS DE SENSIBILIZACIÓN PARA LAS

GRÁFICAS DE CONTROL1. Uno o más puntos fuera de los límites de control

2. Dos de tres puntos consecutivos fuera de los límites de advertencia 2-sigma pero dentro de los límites de control

3. Cuatro de cinco puntos consecutivos más allá de los límites 1-sigma

4. Una corrida de ocho puntos consecutivos sobre un lado de la línea central

5. Seis puntos en una corrida estable creciente o decreciente

6. Quince puntos en una corrida en la zona “C” (por arriba y por abajo de la línea central)

7. Catorce puntos en una corrida que se alterna arriba y abajo

8. Ocho puntos en una corrida en ambos lados de la línea central sin niguno en la zona “C”

9. Un patron inusual o no aleatorio en los datos

10. Uno o más puntos cerca de un límite de control o de advertencia

Page 29: Spc corregido

29

GRÁFICOS DE CONTROL

Diagramas para control de variables: seutiliza cuando la característica de calidadpuede expresarse como una medidanumérica (diámetro de un cojinete, longitudde un eje, etc.)

Diagramas para control de atributos: seutiliza cuando la característica de calidadcorresponde a una variable binaria(presencia o no de defectos, etc.)

Page 30: Spc corregido

EL METODO DE LA GRAFICA DE CONTROL

Hora 8:30am 9:30am 10:40am 11:50am 1:30am MEDIA RANGO

Subgpo 1 2 3 4 5

1 55 51 48 45 53 50.4 10

2 52 52 49 43 50 49.2 9

3 51 57 50 45 48 50.2 12

4 50 50 49 43 50 48.4 7

49.55 9.5

Centro de trabajo número: 314

Característica de calidad: Durómetro Fecha 04/10

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Page 32: Spc corregido

PARA DETERMINAR LA LINEA CENTRAL PARA EL GRAFICO X Y R SE OBTIENE DE LA SIGUIENTE MANERA

X = ∑Xi

g

y R = ∑Ri

g

X = Promedio de promedios de subgrupo

Xi = Promedio del i-ésimo subgrupo

g = Cantidad de subgrupos

R = Promedio de rangos de subgrupo

Ri = Rango del i-ésimo subgrupo

Page 33: Spc corregido

PARA DETERMINAR LOS LIMITES DE CONTROL SE USAN LAS SIGUIENTES FORMULAS

LCX = X A2R PARA EL GRAFICO X

LCSR = D4R

LCIR = D3RPARA EL GRAFICO R

Donde A2 es un factor para remplazar las 3σ (A2R = 3σX) para el grafico X.

En el gráfico de R, se usa el rango R para estimar la σ del rango donde σR

= (1 3d3/d2)R para los limites de control. Por lo anterior, se igualan D4 y

D3 a los coeficientes de R, donde el valor de los factores A2, D3 y D4 varían

con el tamaño del subgrupo

Page 34: Spc corregido

PROCEDIMIENTO PARA ESTABLECER EL GRAFICO DE CONTROL X,R, σ

1. Seleccionar la característica de calidad

2. Escoger el subgrupo racional

3. Reunir los datos

4. Determinar en forma tentativa la línea central y los límites de control

5. Establecer la línea central y los límites de control revisados

6. Alcanzar el objetivo

Page 35: Spc corregido

GRAFICOS POR ATRIBUTOS

Los gráficos de control por atributos son:

1.- Uno de ellos es para las unidades no conformes y se basa en la distribución

Binomial. Para este análisis se utilizan:

A. Gráfica de proporción p, que muestra la proporción de no conformidad de una

muestra o de un subgrupo, se aplica cuando el tamaño del subgrupo n, es

variable

n

npp

donde

P = Proporción o fracción de no conformidad de la muestra o del subgrupo

n = Cantidad de elementos de la muestra o el subgrupo

np= Numero de artículos no conformes o defectuosos de la muestra o del

subgrupo

Page 36: Spc corregido

GRAFICOS DE CONTROL POR ATRIBUTOS

Hay varios tipos de gráficos de control que pueden utilizarse

1.- El gráfico p, el gráfico para la fracción rechazada que no se ajusta a las

especificaciones

2.- El gráfico np, el gráfico de control para número de artículos fuera de

especificaciones

3.- El gráfico c, el gráfico de control para el número de defectos

4.- El gráfico u, el gráfico de control para el número de defectos por unidad

Page 37: Spc corregido

n

pppLCp

13

= proporción promedio de no conformesp

n = número inspeccionado en un subgrupo

donde

n

npp

LIMITES DE CONTROL PARA EL GRAFICO P

Page 38: Spc corregido

B. La gráfica np en la que representa la cantidad de no conformidades, esta

gráfica resulta mas fácil de comprender por el personal de operaciones, y cuando

el tamaño del subgrupo o muestra es constante es conveniente utilizar el gráfico

np. Los límites de control para este gráfico se obtienen de la siguiente manera

ppnpnLCnp 13

Donde

pn =∑ Total de art. rechazados

∑ Total de subgrupos

Page 39: Spc corregido

Grafico c y u para defectos

Al inspeccionar una unidad (unidad representa un artículo, un lote de artículos,

una medida lineal, metros o volumen ) se cuente el número de defectos que

tiene, en lugar de concluir que es defectuoso o no.

Por ejemplo la cantidad de defectos encontrados en la inspección de un avión,

en determinados metros de tela, en un zapato etc.

Cada una de estas unidades puede tener más de un defecto, suceso o atributo

y no necesariamente catalogarse como unidad o artículo defectuoso.

Este gráfico es útil para analizar el número de errores por trabajador, cantidad

de accidentes, número de quejas por mal servicio y para otros sucesos mas.

Page 40: Spc corregido

Las variables de este tipo se pueden ver como el número de eventos que

ocurren por unidad, se comportan de acuerdo a la distribución de poisson

La que tiene dos características esenciales:

1. Que el número de oportunidades o situaciones potenciales para encontrar

defectos es grande

2. Que la probabilidad de encontrar un defecto en una situación particular es

pequeña.

El objetivo del gráfico c es analizar la variabilidad del número de defectos por

subgrupo.

Page 41: Spc corregido

Los límites no representan ni deben representar dónde queremos que estén

los datos, únicamente representan la realidad.

Como la cantidad de defectos son relativamente altos, se requiere un plan

de acción que reduzca esta problemática y una forma natural de empezar

sería estratificar el problema, para localizar el tipo de defecto con mayor

frecuencia y el área donde se presenta.

Page 42: Spc corregido

Los límites de control del gráfico c se obtienen suponiendo que el estadístico

ci sigue una distribución de poisson, por tanto la estimación de la media y la

desviación estándar de este estadístico están dadas por:

sdesubgrupo

defectosccim

cclc 3

Por lo que los límites de control se obtienen de la siguiente manera

Page 43: Spc corregido
Page 44: Spc corregido

INDICES DE CAPACIDAD DEL PROCESO

La capacidad de un proceso consiste en conocer la amplitud de la variación

natural del proceso para una característica de calidad dada, ya que esto

permitirá saber en que medida tal característica de calidad es satisfactoria

Page 45: Spc corregido

CALIDAD TRES SIGMA

Tener un proceso tres sigma significa que el índice Z correspondiente es igual a

tres, esto significaría que el 99.73% de nuestro producto este bajo la curva de la

distribución normal y solo el 0.27% no, lo cual corresponde a 2700 ppm fuera de

especificaciones.

Lo cual esperaríamos que 2700 errores por millón en los medicamentos de una

industria farmacéutica, o en una línea aérea.

Calidad tres sigma para las exigencias, en un mundo donde las cifras de

consumo anual para muchos productos es de varios millones, esa cantidad de

defectos es demasiado.

Page 46: Spc corregido

CALIDAD SEIS SIGMA

Tener esta calidad significa diseñar productos y procesos que logren que la

variación de las características de calidad sea tan pequeña que el índice Zc =6σ

lo cual implica que la campana de la distribución quepa dos veces dentro de las

especificaciones

Por ejemplo, en el caso de un proceso tener calidad 6σ significa que en

lugar de que la σ = 0.2, se requiere que σ = 0.1

Es decir, implica reducir la variación un 50% con respecto a la calidad 3σ

Page 47: Spc corregido

INDICES DE CAPACIDAD DEL PROCESO

Page 48: Spc corregido

s6

EIESC p

El índice de capacidad potencial del proceso, Cp, se define de la siguiente

manera:

donde

σ representa la desviación estándar del proceso

ES y EI son la especificaciones superior e inferior para la

característica de calidad

Cp compara el ancho de las especificaciones o la variación

tolerada para el proceso con la amplitud de la variación real de

este

ealVariacionr

oleradaVariacióntC p

Page 49: Spc corregido

VALOR DE

INDICE Cp

CATEGORIA O

CLASE DEL

PROCESO

DECISION (SI EL PROCESO ESTA

CENTRADO)

Cp≥2 Clase mundial Se tiene calidad seis sigma

Cp>1.33 1 Adecuado

1<Cp<1.33 2 Parcialmente adecuado,

requiere de un control

estricto

0.67<Cp<1 3 No adecuado para el trabajo.

Es necesario un análisis del

proceso

Cp<0.67 4 No adecuado para el

proceso. Requiere

modificaciones muy serias

VALORES DEL Cp Y SU INTERPRETACIÓN

Page 50: Spc corregido

INDICES Cpi, Cps y Cpk

El Cp nos determina la capacidad del proceso, pero no el centrado, por lo

tanto se deberán de evaluar por separado el cumplimiento de la

especificación inferior y superior a través de los índices siguientes:

s

m

3

EICpi

Y

s

m

3

ESC ps

Estos índices sí toman en cuenta μ, al calcular la distancia de la

media del proceso a una de las especificaciones. Esta distancia

representa la variación tolerada para el proceso de un solo lado de

la media

Por eso se divide entre 3σ porque sólo esta tomando en cuenta la

mitad de la variación natural del proceso

Page 51: Spc corregido

Para determinar que el proceso es adecuado en cuanto a su centrado, el

valor de Cpi y Cps deberá ser mayor que 1.25 en lugar de 1.33

Por ejemplo al calcular los valores de los índices vemos que el Cps es el mas

pequeño y es menor que uno, esto indica que se tienen problemas por la

parte superior, y el proceso se esta desplazando a la parte superior

Page 52: Spc corregido

INDICE DE CAPACIDAD REAL DE PROCESO Cpk

El C pk nos determina el centrado de nuestro proceso, al tomar en cuenta la

media. Una de las formas equivalentes para calcularlo es la siguiente.

Cpk = Mínimo [ μ-EI / 3σ , ES-μ / 3σ] ,

El índice Cpk es igual al valor más pequeño de entre Cpi y Cps , es decir, es igual

al índice unilateral más pequeño, por lo que si el valor del índice Cpk es

satisfactorio (mayor que 1.25), eso indica que el proceso en realidad es capaz.

Si Cpk<1 entonces el proceso no cumple por lo menos con una de las

especificaciones.

Page 53: Spc corregido

Si el índice Cpk es igual al ínice Cp idica que la media del proceso coincide con

el punto medio de las especificaciones.

Si el valor del Cpk es mas pequeño que el Cp, significa que la media del

proceso está alejada del centro de las espesificaciones

Cuando el valor del índice Cpk >1.25 en un proceso ya existente, se

considerara que se tiene un proceso con capacidad satisfactoria.

Para un proceso nuevo se pide un Cpk >1.45

Si se tienen valores del índice Cpk iguales a cero o negativo, indican que la

media del proceso está fuera de las especificaciones.

Page 54: Spc corregido

INDICE K

Es un indicador de que tan centrado está la distribución de un proceso con

respecto a las especificaciones de una característica de calidad dada. Se

calcula de la siguiente manera

100

2

1x

EIES

NK

m

Si el signo del valor de K es positivo significa que la media del proceso es

mayor al valor nominal y será negativo cuando μ<N

Si K<20% en términos aabsolutos se considera aceptable, pero a medida que

sea mas grande que 20% indica un proceso muy decentrado

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