stildirector のご紹介資料言語のeラーニング（2003／上～） starc...

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2008.09

STILDirectorSTILDirectorTMTMのご紹介資料のご紹介資料

東芝マイクロエレクトロニクス

テスト環境技術開発部


2008.09

1．STILとは

標準化状況、STIL利用のメリット、

STILベースのテスト開発環境

2．STILDirectorTMの構成、機能

3．STILDirectorTMの利用環境

付録：東芝におけるSTILへの移行事例

STILDirectorTM（補足説明）

STILBuilderTMのご紹介

STILPlannerTM 及びテスタI/Fのご紹介

STIL習得システムのご紹介（STIL eラーニング）

故障解析インターフェースのご紹介

目次


2008.09

1. STILとは


2008.09

STILとは?Standard Test Interface Language

STILは半導体テストのための、設計，シミュレーション，ATEテスト，

故障解析の全ての環境において共通なテストデータの記述言語として利用可能

1999年にIEEE でStd 1450.0 として標準化されたテストデータ

の記述言語で名称は「スタイル」（現在も機能拡張中）

1450.0 TestPattern Specification (99/3に標準化）

1450.1 Semiconductor Design Environment (05/6に標準化）

1450.2 DC Level Specification (02/12に標準化）

1450.3 Target Tester Specification (07/9に標準化)P.4 Test Flow Specification 2008年投票予定

P.5 Test Method Specification P.4 標準化後活動予定

1450.6 Core Test Language Support (05/11に標準化)P.7 Analog and Mixed signal Specification 活動開始

P.8 Design Information 活動準備中

IEEE STIL標準化委員会の活動状況


2008.09

1450.0-1999 (テストパターン)：ＴｅｓｔＰａｔｔｅｒｎＳｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎ

信号記述、タイミング記述、パターン記述、スキャン情報記述など

1450.1-2005 (設計環境)：ＳｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒＤｅｓｉｇｎＥｎｖｉｒｏｎｍｅｎｔより高度なDFT設計に対応した記述。BIST設計、組み込みコアのためのループおよびベクタ内の整数式、およびパターンステートメントでのIf/While記述、Scan構成の拡張として階層スキャンチェーンの定義など

1450.2-2002 (DCレベル)：ＤＣＬｅｖｅｌＳｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎ

電圧値および電流値の設定、パワーシーケンスを指定するための記述

1450.3-2007(テスター制約)：ＴａｒｇｅｔＴｅｓｔｅｒＳｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎテスターの制約記述（テスターの精度や、大信号数、ベクタメモリなど)

P1450.4(テストフロー)：ＴｅｓｔＦｌｏｗＳｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎ

テストシーケンス個々のテストに対するパラメータ、テスト手法定義のためのフレーム等の記述

P1450.5(テストメソッド)：ＴｅｓｔＭｅｔｈｏｄＳｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎテスト実行記述(測定アルゴリズム、デバッグオプション、スループット適化オプション、データログオプション等の定義記述など)

1450.6-2005 (コアテスト)：ＣｏｒｅＴｅｓｔＬａｎｇｕａｇｅＳｕｐｐｏｒｔ

コアインスタンス記述、信号記述、スキャン記述、パターン記述、故障検出情報記述など

テストプログラムのパターン情報

テスト設計へのパターン記述の拡張情報

IPテストパター

ンの制御および利用情報

テストプログラムのテスター制御情報

‘08年投票

予定

※ 1450.6.1/.6.2/.7/.8の標準化WGの組織化など活動開始

P.4標準化後活動予定

ＳＴＩＬに含まれるテスト情報ＳＴＩＬに含まれるテスト情報標準化状況


2008.09

STILを用いることのメリット

STILの利用によるメリットSTILの利用によるメリット

共通言語としての会話が可能

テスト環境の共通利用が可能

SoCユーザーのテストI/Fの負担が軽減

独自言語利用における問題点独自言語利用における問題点

EDAベンダー，ATEベンダー，ｾﾐｺﾝﾒｰｶー及びお客様とのｲﾝﾀーﾌｪｰｽ(I/F)には言語の習得が必要

EDAベンダー，ATEベンダー，ｾﾐｺﾝﾒｰｶー及びお客様とのｲﾝﾀーﾌｪｰｽ(I/F)には言語の習得が必要

利用の限界があり、十分なテスター機能の利用には常に言語拡張と機能の拡充が必要

利用の限界があり、十分なテスター機能の利用には常に言語拡張と機能の拡充が必要


2008.09

設計ツール、装置間でのデータ変換作業を無くす。

共通テスト言語の利用により開発TATを短縮する。

故障解析ツール

故障解析

テスタ

テスト

テストパターン生成

テストプログラム生成

101010

111111

010000

テスト生成

シミュレータ

011

L

設計検証

スキャン設計

テスト設計

STILSTIL

STILインターフェースのテスト環境

STILインターフェースのテスト環境構築の目的

各社/各工程間でSTILをインターフェースとして共通利用。


2008.09


故障解析

テスタ

テスト



101010

111111

010000

テスト生成

シミュレータ

0

11

L

設計検証

スキャン設計

ＢＩＳＴ設計

テスト設計

ＳＴＩＬ

システム設計＞検証＞レイアウト＞マスク作成＞試作＞評価＞量産

（STILをベースとしたテスト環境構築により）

・テスト関係のデータを全てＳＴＩＬでハンドリング。

⇒ 各フェーズでのデータ変換／修正作業が不要となる。

・TRC（Tester Restriction Checker）により、問題データは流さないし、受け取らない仕組み。

⇒イタレーションを防止。

・テスト情報（テストプログラム／パターン）をSTILで持つことにより、テスト資産の再利用が容易。

・STILをサポートする適なツール／テスト装置の導入が可能。

⇒コストパフォーマンスの高いツール／装置の速やかな利用。

開発TAT １／２

ＳＴＩＬインターフェースのテスト開発環境

＊当社モチーフ製品による


2008.09

STILインターフェースのテスト開発フロー

NET

STILSTIL

ATPG

STIL

設計検証

テスター変換(メイン、パターン）

テストプログラム

テスターパターン STIL

従来型テスター or 新規STIL Drivenテスター

故障診断 STIL

STIL

ボード結線情報

ピン情報

テストスペック

テストフロー

From Design

テストメソッドなど

STIL P1450.4

STIL1450.2

テスター制御情報

STIL1450.1(フェイル情報)

STIL1450.3(TRC)

テストパターン

テストパターン(手作成STIL、IPとしてのSTIL)



STIL P1450.5STIL1450.3/.4/.5標準化前 STIL1450

.3/.4/.5標準化後

テスタ－制御情報ファイル(STIL記述へ拡張中)その他のファイル

ツール/装置(最適なものを選択可能)

STIL

STILSTIL1450.3(TRC)

※STARC資料より抜粋


2008.09

STILインターフェースのテスト環境の構築０９上０９下 1０上 1０下

◆ＳＴＩＬ標準化状況1450.0　テストパターン記述標準化済み（1999年）1450.1　設計環境記述標準化済み(2005年）1450.2　ＤＣレベル記述標準化済み（2002年）1450.3　テスタ－制約記述標準化済み（2007年）

1450.4　テストフロー記述（推定）

1450.5　テストメソッド記述（想定）

1450.6　コアテスト記述（ＣＴＬ）標準化済み(2005年）1450.7　ｱﾅﾛｸﾞﾐｯｸｽﾄﾞｼｸﾞﾅﾙ記述1450.8　設計情報記述（DelayTestなど）

◆東芝の動き　　ＳＴＩＬＤｉｒｅｃｔｏｒの販売開始（２００２／下～）

　　ＳＴＩＬ言語のｅラーニング（２００３／上～）

◆ＳＴＡＲＣ　　ＳＴＩＬテスト推進委員会の活動状況　　(２００５年度より活動開始)

◆ＳＴＣ　STIL WG Japanの活動状況

０８下０６０７上０７下０８上

組織化など活動開始

標準化

標準化

▼標準化承認（見込含む）▲標準化公表（見込含む）

ＳＴＩＬﾃｽﾄ開発ﾌﾛｰの構築、整備

テスター制御情報の整理 1450.4 1450.5 1450.7&8①ＳＴＩＬ活用ガイドの作成②ＳＴＩＬテストプログラム化の推進③ＳＴＩＬデータの互換性の確保

ＳＴＩＬ活用枠組みの整備

①STC ＳＴＩＬ WG をリスタート②ＳＴＩＬ活用のコンセンサス形成③ＳＴＩＬ標準化とSTILサポートの促進

STIL活用ガイドRev1.0(日英)発行

STIL活用ガイドRev2.0(日英)発

あすか２　ΦⅠあすか２　ΦⅡ

STC STIL WG Japan 活動


2008.09

２. STILDirectorTM

の構成、機能


2008.09

STILDirectorTMとは？

STILDirectorTMSTIL

テスター

シミュレーター

東芝デザインキット

東芝デザインキットの一部を切り出した汎用のSTIL対応のプラグインシステムです

STILSTILベースのテスト環境がベースのテスト環境が

早く安く確実に構築できます早く安く確実に構築できます


2008.09

東芝設計環境用

インターフェースSＴＩＬＤｉｒｅｃｔｏｒTM＋

東芝STIL DK

お客様の設計環境用

インターフェース＋

お客様STIL DK

SＴＩＬＤｉｒｅｃｔｏｒTM

STILDirectorTMのプラグイン例


2008.09

STILDirectorTMのプラグイン

●用途に合わせたプラグインが可能。

●プログラム毎に実行コマンドを準備し、組み込み可能。

●STILデータベースのアクセスインターフェースを用い

て、お客様の環境に合わせたカスタマイズが可能。

お客様システム

STILDirectorTM


お客様システムテスターインターフェースとして

シミュレーターインターフェースとして

STILインターフェースとして

STILDirectorTM

STILDirectorTMSTILDirectorTM

ＳＴＩＬインターフェースのテスト環境の構築にSTILDirectorTMを標準プラグインシステムとして利用可能

ＳＴＩＬ環境を早く、安く、確実

に構築！


2008.09


故障解析

テスタ

テスト



101010

111111

010000

テスト生成

シミュレータ

011

L

設計検証

S T I L を共通言語とした環境構築により設計～テスト、解析までの開発 T A T を短縮！

テスト設計


STIL（ｽﾀｲﾙ）ﾃﾞｰﾀテストデータ記述

システムソリューション STILインターフェースのテスト環境

シミュレータ入力データ作成

DC測定アドレス抽出

テスタルールチェック

テスタ/逆テスタインターフェース

結果解析・サイクライズ

STILパーサー

STILジェネレーター

アクセスインターフェース

故障Sim/故障解析インターフェース

パターンビット並び替え

テストパターン展開

ピンマルチ/パターンマルチ変換

マスク編集


STILDirectorSTILDirectorTMTMインクルードファイ

ル抽出


2008.09

STILDirectorTMの構成

お客様の

システム

テスタ／逆テスタ

インタフェース

ＬＳＩ

STILデータとのI/F

入力データシミュレータ

入力データ作成

シミュレータとのＩ／Ｆ

テスタとのＩ／Ｆ

アクセス


お客様のシステムとのＩ／Ｆ

STIL

ジェネレータ結果解析・

サイクライズシミュレータ

出力結果DC測定

アドレス抽出テスタ

ルールチェック

テスタの制約検査

（オプション）（オプション）

故障シミュレータとのＩ／Ｆ

（オプション）

故障シミュレータ

入力データ

故障シミュレータ


お客様のデータ・テスト生成ツール・ファンクションベクタ・ＩＰテストベクタ

STIL

パーサー

STILSTIL

テスタ

基本パッケージ

拡張パッケージ

STILDataBase

STILDirectorSTILDirectorTMTM

STILデータの編集

STIL対応モデル

STILデータのご利用に!

STIL対応のオープンプラグインシステム!

テストプログラムと設計データとの情物一致が実現



ピンマルチ／パターンマルチ変換

マスク編集インクルードファイル抽出


2008.09

STILDirectorTMの特長１．STILデータとのインターフェース

■STILデータの読み込み及び出力ができます■STILの言語仕様上の違反をチェックできます

２．シミュレーターとのインターフェース

■各種シミュレーターの入力を生成できます■各種シミュレーターの結果ファイルを入力できます■シミュレーション結果を解析することができます■シミュレーション結果から期待値を自動抽出しSTILファイルを作成できます■DC測定アドレスを自動的に抽出します

３．テスターとのインターフェース■テスターで使用できるパターン記述であるかを、テスター実行前にチェックできます■シミュレーション結果をサイクライズできます

４．お客様システムとのインターフェース

■利用者の環境へプラグインできるオープンシステム構成となっています■データベースのアクセスインターフェースにより、カスタマイズサービスを提供で

きます。

５．その他

■STILDirectorTMはエンジニアリングワークステーション、PC上で動作します


2008.09

◆プラットフォームEWS(SPARC/UltraSPARC) Sun Solaris 8、9、10（32bit/64bit)PC（Intel x86） Windows2000、XP （32bit）PC（AMD Opteron） RedHat Enterprise Linux v.3（32bit/64bit）

RedHat Enterprise Linux v.4（64bit）SuSELinux Enterprise 10 （64bit）

＊下記のプラットフォームは、2007.08までのサポートです。2008Aからはサポート致しておりま

せん。

EWS(SPARC/UltraSPARC) Sun Solaris 7（32bit/64bit)

STILDirectorTMの利用環境

◆サポートシミュレーターVerilog-XL V5.6, V5.7, V5.83NC-Verilog V5.7, V5.83, V6.1ModelSim V6.1, V6.2a, V6.3VCS V7.2，V2005.06、V2006.06NC-VHDL V5.5, V5.6, V5.7NC-SIM V5.5, V5.6, V5.7

※各ベンダーのシミュレーターとプラットフォームの組み合わせについては基本的に各ベンダーが公開しているサポート情報に準じます。


2008.09

次のATPGツールで出力したSTILを扱えます

ATPGとのインターフェース

Synopsys社TetraMAX

Mentor社FastScan

Cadence社EncounterTest STIL

STIL

STIL

STILDirectorTM

STILパーサー（S2T)

ATPGWork-Around

＊注）ATPGツールのバージョン、オプションによっては、出力したSTILを扱えない場合もございます。


2008.09

次の故障シミュレーターとのインタフェースが可能です

-Cadence VeriFault-Syntest TurboFault-Synopsys TetraMAX IDDq

故障シミュレータとのインターフェース

テスターとのインターフェース

次のテスター用テストパターンが出力できます

-ADVANTEST（T33xx、T6xxx）※2009AバージョンよりT2000をサポート予定。

STILDirectorTMでサポートしていないテスターについては、

アクセスインターフェースを用いて容易に開発ができます。


2008.09

３. STILDirectorTM

の利用環境


2008.09

■ STILDirectorTMタイムライセンス販売 (１年間、メンテナンス付）

● 基本パッケージ（プラットフォームフリー）STILパーサー／STILジェネレーター／シミュレーター入力作成

結果解析・サイクライズ／DCアドレス抽出／テスタールールチェック／STILデータ編集

● 拡張パッケージ

１．STILデータベースアクセスインターフェース（プラットフォームフリー）

２．テスターインターフェース（プラットフォーム限定）

３．故障シミュレーターインターフェース（プラットフォーム限定）

● STIL対応モデルパッケージ（プラットフォーム限定）

● STILPlannerTM 基本パッケージ（プラットフォーム限定）

● テストジュネレータ（テストプログラム生成）（プラットフォーム限定）

■ カスタマイズサービス

● コンサルテーション～インプリメンテーション、運用

■ その他サービス

● トレーニング

● e-ラーニング

STILDirectorTMの販売形態


2008.09

お客様の

システム


入力データシミュレータ

入力データ作成


アクセス

インターフェース

STIL

ジェネレータ結果解析・

サイクライズシミュレータ


アドレス抽出テスタ

ルールチェック


（オプション）（オプション）

故障シミュレータ/故障解析ツール

入力データ

故障Sim/故障解析


お客様のデータ・テスト生成ツール・ファンクションベクター・ＩＰテストベクター

STIL

パーサー

STILSTIL

テスター

STILDataBase

パターンビット

並び替え


展開


故障シミュレータ/故障解析

ツールとのＩ／Ｆお客様のシステムとのＩ／Ｆ

テスタ制御情報API生成

④④ Test Test GeneratorGenerator

テスター/逆テスター


テスターとのＩ／Ｆ

（オプション）

テスタ制御情報生成

（各社テスター情報出力）

③③ STIL Planner STIL Planner 基基本本PkgPkg

ピンマルチ/パターンマ

ルチ変換

マスク編集

①① STILDirector STILDirector TM TM

基本基本PkgPkg

⑤⑤ STILDirectorSTILDirectorTMTM

STIL STIL 対応対応モデルモデル PkgPkg

STILDirectorTMの販売パッケージ構成

②② Tester I/FTester I/FSTILDirector STILDirector 拡張拡張PkgPkg

インクルードファイル抽出


2008.09

①STILDirector TM

基本Pkg

STIL

②Tester I/F

③STILPlannerTM

基本Pkg

・STILデータからシミュレーション入力データを生成

・シミュレーション出力結果からSTILデータを生成

・DC測定アドレスの抽出

・パターン編集機能

・テスタ用テストパターンを生成

（１）テストパターン生成パッケージ

（２）テストプログラム生成基本部

・APIでテストプログラム生成システムへインターフェース

（３）テストプログラム生成パッケージ

・テストプログラム or テストメーカーのテストプログラム

生成システムへの入力データ作成

API④Test

Generator横河TS6000

ADVANT6XXX

ADVANT33XX

TS6000 T6XXX T33XX

AGEX Siteseer Test Program

Test PatternSim BenchSTIL

SIF

Test ProgramTest Program

XTF Template

Template

Tester

STILDirectorTM テストプログラム生成用セットモデル

STILからテストプログラム生成まで行い

たいお客様に！


2008.09

タイプⅠ～Ⅳ

ソフトウェア構成コメント

タイプ　ＩＳＴＩＬパーサーアクセスインターフェーステスタのＳＴＩＬ対応等で利用。テスタルールチェック（Ｒｅａｄ）ＳＴＩＬデータを顧客システム用データ

に変換する場合に利用。※　ＳＴＩＬデータから読み込むアプリケーションの開発／運用　専用です。

タイプ　ＩＩＳＴＩＬジェネレータアクセスインターフェーステスタでのチューニング結果をＳＴＩＬテスタルールチェック（Ｗｒｉｔｅ）データに変換する場合に利用。

顧客システム内のデータをＳＴＩＬに※　ＳＴＩＬデータへ書き出すアプリケーションの開発／運用　専用です。変換する場合に利用。

タイプ　ＩＩＩＳＴＩＬパーサーアクセスインターフェースタイプＩとタイプＩＩを合わせたモデルテスタルールチェック（Ｒｅａｄ）アクセスインターフェースのＲｅａｄと

Ｗｒｉｔｅのそれぞれで作成したアプリケーションは同時実行できるが、

ＳＴＩＬジェネレータアクセスインターフェース１つのアプリケーションでＲｅａｄとテスタルールチェック（Ｗｒｉｔｅ）Ｗｒｉｔｅの両動作をさせる事はでき

ない。※　アクセスＩ／ＦのＲｅａｄとＷｒｉｔｅを同時に使用する事はできません。

タイプ　ＩV ＳＴＩＬパーサーアクセスインターフェースｱｸｾｽｲﾝﾀｰﾌｪｰｽは拡張ﾊﾟｯｹｰｼﾞのテスタルールチェック（Ｒｅａｄ／Ｗｒｉｔｅ）ものと同じ。ＳＴＩＬジェネレータ顧客システムのＳＴＩＬ対応等で

利用。

※　アクセスＩ／ＦはＲｅａｄとＷｒｉｔｅを同時に行う事ができます。

STILDirectorTM STIL対応モデル STILデータの読み込み、書き込みが容

易に行えます。


2008.09

■アップデートバージョン提供（ライセンス期間内無償）- メジャーリリース 2回/年

- マイナーリリース適宜

■カスタマイズサービスの請負（有償）

- お客様の環境へSTILDirectorをプラグインするための開発を請け負います。

・アクセスインターフェースを使用した個別のアプリケーションの開発を請け負い

ます。

■カスタマイズサービスご提供例

・STILデータから各社専用テストデータへの変換アプリケーション開発

・STILデータから各社テスタ環境のテストプログラムへの変換アプリケーション開発

STILDirectorTMの提供サービス


2008.09


■弊社販売代理店：販売は代理店経由にて行っております。

１、緑屋電気株式会社（技術サポートは当社が実施）

○連絡先

TEL：03-3561-4556

E-Mail：[email protected]

担当：中村

○会社概要

社名緑屋電気株式会社

本社所在地〒104-8307 東京都中央区京橋2-7-19（守随ビル）

取締役社長黒羽誠

設立昭和21年11月1日（1946年）

資本金3億2,100万円＊会社概要は緑屋電気殿Webサイトより抜粋（2008年6月現在）


2008.09


■弊社販売代理店：販売は代理店経由にて行っております。

２、ATEサービス株式会社（技術サポートはATEサービス殿が実施）

○連絡先

TEL：044-850-8714

E-Mail：[email protected]

担当：加藤

○会社概要

社名 ATEサービス株式会社

所在地川崎市高津区久本3-5-7 新溝ノ口ビル3F

代表取締役社長佐々裕一

設立昭和58年2月1日

資本金 4,700万円＊会社概要はATEサービス殿Webサイトより抜粋（2008年6月現在）


2008.09


■製品サポートサービス

Webサポートシステムにより、STILDirectorTM について以下のサービスを

提供致します。

- 問い合わせとその回答 (＊)- 製品情報のアップデート- ダウンロード機能（アップデート情報、各種マニュアル） (＊)- 利用ノウハウなど

★ 迅速なサービスの提供- お客様から連絡を頂いた後、ワーキングデーで24h以内に一時回答および

回避策／暫定策を連絡致します (＊)- お客様から連絡を頂いた後、ワーキングデーで2週間以内に抜本的な

Solutionの提供を目指しています(＊)

（＊）付き項目のサービスは、販売代理店が緑屋電気殿の場合、当社が行います。


2008.09


■サポート窓口

Web：

E-mail：[email protected]

TEL：東芝マイクロエレクトロニクス株式会社テスト環境技術開発部 044-220-1052STILDirectorサポート窓口 044-220-1052受付時間 10：00～17：00 土・日・祝日・弊社休業日を除く

※弊社休業日についてはWebサイトをご確認下さい。

FAX: 044-220-1039

STILDirector Webサイト

http://www.tosmec-web.toshiba.co.jp/stildirector/


2008.09

付録


2008.09

東芝における東芝におけるSTILSTIL移行事例移行事例


2008.09

TSTL2 STIL

STILD.K.

TSTL2D.K.

STIL Director

TSTL2STIL

テスター


東芝におけるSTILへの移行事例

旧言語からのSTILへの変換ツールを準備


2008.09

Oct Nov Dec Jan Feb Mar Apr May Jun Jul Aug Sep Oct Nov Dec Jan Feb Mar Apr May Jun Jul Aug Sep Oct Nov Dec

ＶＳＯ/VITALSO

STILV1.0 βRelease

（VSO1.11ベース）

STIL βReleaseV1.1 （VSO1.12ベース）

STIL βReleaseV1.2 (VSO113ベース）

STILV2.0 βRelease

(VSO1.14ベース）

STILV2.1

1.12 1.141.13

’０１ ’０２ ’０３

1.XX1.11xx

TSTL2 D.K.

STIL D.K.

TSTL2STILSTIL D.K.

TSTL2STIL

STIL D.K.

TSTL2STILSTIL D.K.

TSTL2STIL

STILへの移行状況をみてSTIL D.K.とTSTL2STILのみのD.K.への切替えを実施

初はTSTL2 D.K.とSTIL D.K.、およびTSTL2からSTILへの変換ツール(TSTL2STIL)を一式としてD.K.を提供

2.3

東芝におけるSTILへの移行事例

2002年1月からSTILへ切り替え実施


2008.09

STILSTILDirectorDirectorTMTM （補足説明）（補足説明）


2008.09

ｼｽﾃﾑｼﾐｭﾚｰｼｮﾝ

ﾃｽﾄﾃﾞｰﾀ作成

論理検証用入力ﾊﾟﾀｰﾝ作成

論理検証

ｼﾐｭﾚｰｼｮﾝ結果解析

ｼﾐｭﾚｰｼｮﾝ期待値抽出

ﾃｽﾀｰ用ﾊﾟﾀｰﾝ変換

SIM２STIL

STIL2SIM

SIM2STIL

ｼﾐｭﾚｰｼｮﾝ実行

ｼﾐｭﾚｰｼｮﾝ結果

ﾀｲﾐﾝｸﾞ情報接続情報

STIL

RTLｼﾐｭﾚｰｼｮﾝ結果等から観測ﾎﾟｲﾝﾄに対してのﾃｽﾄﾊﾟﾀｰﾝ抽出→STILﾃｽﾄﾃﾞｰﾀ

STILﾃｽﾄﾃﾞｰﾀから各種ｼﾐｭﾚｰﾀｰ（論理検証）用の入力ﾃﾞｰﾀ作成

論理検証のためのｼﾐｭﾚｰｼｮﾝ結果からSTILﾃｽﾄﾃﾞｰﾀの作成

STILDirectorTMを使用した全体フロー

STILDirectorTM


2008.09

STILﾊﾟｰｻｰ(S2T)


（論理検証）

ﾃｽﾀｰ I/F

STIL基本ﾊﾟｯｹｰｼﾞ

拡張ﾊﾟｯｹｰｼﾞ

ｱｸｾｽｲﾝﾀｰﾌｪｰｽ

ﾙｰﾙ記述

STIL DK

Simulator I/F

(T2SIM,SIM2T) STILDB

STILｼﾞｪﾈﾚｰﾀｰ(T2S)

①STIL2SIM

②SIM2STIL

故障ｼﾐｭﾚｰﾀｰI/F

STILDirectorTMの全体構成およびフロー

① ②

ﾊﾟﾀｰﾝﾋﾞｯﾄ並び替え

(SCNV)ﾃｽﾄﾊﾟﾀｰﾝ展開

(PATEXP）

ﾋﾟﾝﾏﾙﾁ/ﾊﾟﾀｰﾝﾏﾙﾁ変換

(STILMUX)ﾏｽｸ編集

(PATCHG）

インクルードファイル抽出(STILDIV）ﾙｰﾙﾁｪｯｶｰ

(TRC)


2008.09

①STIL2SIMS2T,TRC,T2SIMの３コマンドで構成されます。STILテストデータファイルの記述をチェックし、シミュレーション中に印加する入力信号に変換します。また、テスター制約チェックを行います。

②SIM2STILT2S,TRC,SIM2Tの３コマンドで構成されます。シミュレーション中のI/Oピンの値の変化を期待値付きのSTILテストデータファイルに変換します。結果解析・サイクライズおよびＤＣ測定アドレスを抽出します。また、テスター制約チェックを行います。

主要コマンド

STILDirectorTMのコマンド

ＳＴＩＬデータとのＩ／Ｆ

◆S2T STILテストデータファイルの記述をチェックし、STILデータベースファイルに変換します。◆T2S STILデータベースファイルをSTIL形式のSTILテストデータファイルに変換します。


◆T2SIM STILデータベースファイルからシミュレーター入力データファイルを作成します。◆SIM2T シミュレーション結果ファイルをSTILデータベースファイルに変換します。

また、結果解析・サイクライズおよびＤＣ測定アドレスを抽出します。

テスタ制約の検査

◆TＲＣテスター制約チェックを行います。


2008.09

（ａ）Delay付きNRZ波形の初期値指定（論理検証用入力ﾊﾟﾀｰﾝ作成時）

テストパターンのロード順により初期状態が変わる。

テスト時の初期状態を考慮した初期値をオプションで指定可能。

init=[X|0|1]

（ｂ）I/Oピン出力→入力切替直後のNRZ波形状態値指定（論理検証用入力ﾊﾟﾀｰﾝ作成時）

テスター機種により、状態値が異なる。

テスター機種に併せて切り替え直後の状態値を指定可能。

setoi=prev_in …出力状態直前の入力

ﾊﾟﾀｰﾝ値により値を決定

prev_out …出力期待値により値を決定

X …Delay区間をXとして実行

出力ﾓｰﾄﾞ入力ﾓｰﾄﾞ

実動作により近い形でシミュレーション検証が可能になる

テスター対応を考慮した論理検証


2008.09

（ｃ）ストローブマージンチェック（シミュレーション結果解析時）

（ｄ）コンフリクト／フローティングチェック（シミュレーション結果解析時）

PIN_NAME:IO10----**********************************************

STB_TIME = 30, 1022.000 + 60.000

LEFT:8.000 RIGHT:100.000(CYCLE_START_TIME:0.000) (CYCLE_START_TIME:0.000)

PIN_NAME:IO11XXXXX---------------------------------------------

+LEFT:0.000 RIGHT:10.000(CYCLE_START_TIME:0.000) (CYCLE_START_TIME:0.000)

出力波形のストローブ前後の安定領域をマップ表示する。

双方向ピンに対するコンフリクト／フローティングの発生領域をマップ表示する。


2008.09

STILPlannerSTILPlannerTMTM及びテスタ及びテスタI/FI/Fのご紹介のご紹介


2008.09

お客様のシステム

テスター/逆テスターインターフェース

ＬＳＩ


入力データシミュレータ入力データ作成


アクセスインターフェース

STILジェネレータ結果解析・

サイクライズ

シミュレータ


アドレス抽出テスタルールチェック


（オプション）（オプション）（オプション）

故障シミュレータ/故障解析ツール

入力データ故障Sim/故障解析


お客様のデータ・テスト生成ツール・ファンクションベクター・ＩＰテストベクター

STILパーサー

STILSTIL

テスター

拡張パッケージ

STILDataBase

STILDirectorSTILDirectorTMTM




故障シミュレータ/故障解析ツールとのＩ／Ｆ

テスターとのＩ／Ｆお客様のシステムとのＩ／Ｆ

テンポラリデータテスタとのＩ／Ｆテストプログラム

生成

テストパターンテストプログラムSTILPlannerSTILPlannerTMTM

ﾃｽﾄﾊﾟﾀｰﾝ

作成に利用（ﾃﾞｻﾞｲﾝｷｯﾄとして利用中）

ﾃｽﾄﾌﾟﾛｸﾞﾗﾑ

作成に利用

STILDirectorTM/STILPlannerTM 構成

ﾋﾟﾝﾏﾙﾁ/ﾊﾟﾀｰﾝﾏﾙﾁ変換

マスク編集

基本パッケージ

インクルードファイル抽出


2008.09

テスタ I/F 拡張パッケージとテストプログラム生成ツールSTILDirectorで作成されたSTILデータを入力としてLSIテスタ用テストパターン，テスト

プログラムを生成するツールです。

◇ テスタI/F拡張パッケージ

テスタ用テストパターンソースを生成します。対象テスタ：（株）アドバンテスト社製 T6500/6600シリーズ

T33xxシリーズ＊TS6000シリーズに関しては、横河電機殿がテストパターン生成ツール

(STIL-Converter/STIL-WRITE)を提供されております。

◇ 対象プラットフォーム：Solaris 8/9、RedHat Enterprise Linux 3.0

◇ STILPlannerTM

テスタI/Fで生成したテストパターン情報等を利用して、テスタ用テストプログラムソースを生成します。（注意： T6500/6600シリーズはSIF、 TS6000シリーズはXTFを生成します。)

対象テスタ：（株）アドバンテスト社製 T6500/6600シリーズT33xxシリーズ

横河電機（株）社製 TS6000シリーズ

◇ 対象プラットフォーム：Solaris 8/9


2008.09

STIL

STILDａｔａＢａｓｅピン情報

ファイルｽﾍﾟｯｸ情報ファイル

パターン情報

テスタ制御情報生成処理


テスタ用パターン，テストプログラム生成の処理フロー

テスタ用パターン出力処理

STILパーサー処理

ﾃﾝﾌﾟﾚｰﾄ

テスタＩ／Ｆ

テスタ


STILPlannerTM

ﾃｽﾄｵｰﾀﾞｰファイル

テストプログラム生成処理

SIF

拡張SDB

Siteseer@ ADVANTEST


2008.09

STILBuilderSTILBuilderTMTMのご紹介のご紹介


2008.09

ＳＴＩＬＢｕｉｌｄｅｒTM

・STILを新規作成、編集、情報検索、記述チェックなどが出来るWindowsで動作するSTIL専用のエディタツール。 STIL1450.0、1450.2、1450.1（一部）に対応。

STILBuilderTMSTILBuilderSTILBuilderTMTM

ＳＴＩＬ文法チェックＳＴＩＬ文法チェックＳＴＩＬ文法チェック

テスター制約チェックテスター制約チェックテスター制約チェック

波形表示・編集波形表示・編集波形表示・編集

シミュレータ入力ファイル作成シミュレータ入力ファイル作成シミュレータ入力ファイル作成

シミュレーション結果解析シミュレーション結果解析シミュレーション結果解析

パターン編集パターン編集パターン編集

ﾀﾋﾞｭﾗｰ表示・編集ﾀﾋﾞｭﾗｰ表示・編集ﾀﾋﾞｭﾗｰ表示・編集

STILDirectorとの

連動により可能


2008.09

"STILBuilderTM"の特徴""STILBuilderSTILBuilderTMTM""の特徴の特徴

STILBuilderTMは下記に示す様々な便利な機能を持っている。

波形表示・タビュラー形式でのパターン表示機能

指定時刻に対応するパターン検索、スキャンF/Fに対応するパターン検索

GZIPファイルのサポート機能

UNIX上のSTILファイル編集のためのFTP機能

パターンのマスク機能

タブ切替えによる複数のSTILファイルの編集機能

STIL1450.0およびSTIL1450.2に準拠したSTIL作成

インクルードファイルへの出力、インクルードファイルからの容易な展開

STILを構成する各ブロックへの移動、指定行への容易な移動

専用のステートメントツリービューからの簡単な挿入

ファイルビュー画面からのSTILファイルの簡単なオープン

キーワードなどの着色、改行コードの自動認識

STILDirectorTMの各機能を外部コマンドとして利用が可能

STILBuilderSTILBuilderTMTMは下記に示す様々な便利な機能を持っている。は下記に示す様々な便利な機能を持っている。

波形表示・タビュラー形式でのパターン表示機能波形表示・タビュラー形式でのパターン表示機能

指定時刻に対応するパターン検索、スキャン指定時刻に対応するパターン検索、スキャンF/FF/Fに対応するパターン検索に対応するパターン検索

GZIPGZIPファイルのサポート機能ファイルのサポート機能

UNIXUNIX上の上のSTILSTILファイル編集のためのファイル編集のためのFTPFTP機能機能

パターンのマスク機能パターンのマスク機能

タブ切替えによる複数のタブ切替えによる複数のSTILSTILファイルの編集機能ファイルの編集機能

STIL1450.0STIL1450.0およびおよびSTIL1450.2STIL1450.2に準拠したに準拠したSTILSTIL作成作成

インクルードファイルへの出力、インクルードファイルからの容易な展開インクルードファイルへの出力、インクルードファイルからの容易な展開

STILSTILを構成する各ブロックへの移動、指定行への容易な移動を構成する各ブロックへの移動、指定行への容易な移動

専用のステートメントツリービューからの簡単な挿入専用のステートメントツリービューからの簡単な挿入

ファイルビュー画面からのファイルビュー画面からのSTILSTILファイルの簡単なオープンファイルの簡単なオープン

キーワードなどの着色、改行コードの自動認識キーワードなどの着色、改行コードの自動認識

STILDirectorSTILDirectorTMTMの各機能を外部コマンドとして利用が可能の各機能を外部コマンドとして利用が可能


2008.09

波形表示・タビュラー形式でのパターン波形表示・タビュラー形式でのパターン表示機能表示機能

タビュラー形式のタビュラー形式のパターン表示パターン表示

波形イメージでの波形イメージでのパターン表示パターン表示

波形イメージで編集したパターンはSTIL記述で出力可能

波形イメージで編集したパターンはSTIL記述で出力可能

STIL記述からは分かり難いパターン情報を、タビュラー形式で分かり易く

表示し、編集も可能

STIL記述からは分かり難いパターン情報を、タビュラー形式で分かり易く

表示し、編集も可能


2008.09

指定時刻に対応するパターン検索、スキャン指定時刻に対応するパターン検索、スキャンF/FF/Fに対応するパターン検索に対応するパターン検索

指定時刻(例えばシミュレーションの期待値不一致の時刻など)を基にして対応するSTILパターンを検索する機能

シフトパターンのうち、選択したスキャンF/Fに対応するSTILパターン

を検索する機能


2008.09

STILSTIL言語学習言語学習システムのシステムのごご紹介紹介（（STIL eSTIL eラーニング）ラーニング）


2008.09

「「STILSTIL言語学習言語学習システムシステム」」（（STIL STIL ｅラーニング）ｅラーニング）※STIL言語のｅラーニング提供開始（‘03/4/7～）

章毎のトップページ

解説

演習問題

・ユーザー管理

・進捗管理

・理解度管理

・ユーザー管理

・進捗管理

・理解度管理

利用者


2008.09

ＳＴＩＬＳＴＩＬｅラーニングのｅラーニングの利用方法利用方法http://www.tosmec-web.toshiba.co.jp/stildirector/

購入申請

サイトID発行

ユーザー登録申請

登録完了

利用開始

TOSHIBA

TOSHIBA

「eラーニング」トップページ

利用開始

利用者

ユーザー登録なしで

体験可能

体験コースSTIL学習

システム体験コースはeラーニングの操作方法と

STILとは何かを学習できる

ＳＴＩＬ eラーニングトップページhttps://www.tosmec-web.toshiba.co.jp:8443/stildirector/training/e-learn/index.html


2008.09

ＳＴＩＬＳＴＩＬ eeラーニングのユーザーサポートラーニングのユーザーサポート

受講履歴理解度テストの

結果参照

パーソナル情報ユーザー登録情報の参照

終了ページ保存学習済みページ

の保存機能

お問い合わせ講師への質問と

問い合わせ

進捗状況表示色で受講箇所の確認「受講済み」「受講中」「受講未」

ライセンス期間利用期間の表示残り日数の表示


2008.09

開講講座・「STIL1450.0基礎講座」開講中STIL言語の基本仕様にあたる、信号、タイミング、スキャンなどのテストパターン記述に関す

る基礎知識を理解する・「STIL1450.0応用講座」開講中「STIL1450.0基礎講座」では学ばなかった、変数によるタイミング定義、パターンのイベン

ト記述やHex値表記、定義情報の継承や部分定義の再利用による柔軟なタイミング定義など、高度な記述方法を理解する・「STIL1450.1基礎講座」開講中ATPGツールで出力されるスキャンパターンの記述機能、ブール式などの演算子を使って、ア

ルゴリズミックなテストパターンの記述を理解する・「STIL1450.２講座」開講中電圧値や電流値などテストプログラムのテスト制御情報としてDCレベルに対するSTIL記述方

法について理解する

拡張仕様に対するeラーニングの講座

・STIL1450.1応用講座準備中

・STIL1450.3講座準備中

・STIL1450.4講座

・STIL1450.5講座

・STIL1450.6講座準備中

STIL ｅラーニング講座の開講状況


2008.09

故障解析インターフェースのご紹介故障解析インターフェースのご紹介


2008.09

STIL用故障解析インターフェースの構築

TetraMAXFastScanTestBench

STIL

テスター

故障解析インターフェース共通フェイル情報作成部パターン情報作成部各種故障情報作成部

テスターフェイル

ログ

各故障解析ツール用ファイル

ATPG

故障診断故障候補

ノード

新規開発

故障診断装置へ

接続データ

故障解析作業フロー


2008.09

故障解析インターフェース

テスターフェイルログ STIL

共通故障ファイル

パターン情報ファイル

各故障解析ツール用ファイル

パターン情報作成部

共通フェイル情報作成部

各種故障情報作成部

パターン名サンプルNoDUT Noフェイルアドレスフェイルピン名期待値実測値

全プライマリパターンに対するATPGパターンア

ドレスと先頭からの展開アドレスの対応

各スキャンパターンの先頭パターンに対するATPGパターンアドレス

と先頭からの展開アドレスの対応

フェイルしたパターンアドレスフェイルピン名フェイルしたFF位置

実測値など

STIL用故障解析インターフェースの構築(続き)


2008.09

●本資料に掲載してある技術情報は，製品の代表的動作・応用を説明するためのもので，その使用に際して当社及び第三者の知的財産権その他の権利に対する保証または実施権の許諾を行うものではありません。また、本資料の掲載内容は、技術の進歩などにより予告なしに変更されることがあります。

stildirector のご紹介資料 言語のeラーニング （2003／上～） starc...

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