t型量子細線の光学利得測定 z目的 z問題・課題 z試料、測定...

41
2008.2.5 研究室打合せ T型量子細線の光学利得測定 目的 問題・課題 試料、測定系、測定方法 これまでの結果 計算結果 実験結果 物理学会、軽井沢研究会、それ以降 今後

Upload: others

Post on 09-Feb-2021

0 views

Category:

Documents


0 download

TRANSCRIPT

  • 2008.2.5 研究室打合せ

    T型量子細線の光学利得測定

    目的

    問題・課題

    試料、測定系、測定方法

    これまでの結果

    計算結果

    実験結果 物理学会、軽井沢研究会、それ以降

    今後

  • 目的:

    T型量子細線中の擬1次元電子正孔系の光学利得の解明

    実験:

    光学利得のキャリア密度依存性、温度依存性利得スペクトル(形状)、ピーク利得値、利得幅、(微分利得)、(透明キャリア密度)利得温度特性

    実験と理論の比較:

    理論計算(多体、自由)との比較Coulomb増強・抑制効果

  • 問題・課題点

    1. キャリア密度の見積もり精度?

    2. キャリア温度 ・・・・ Carrier heatingの影響

  • 問題・課題点

    1.キャリア密度の見積もり1) 自然放出光(PL)強度からの算出 ・・・ ”キャリア密度∝PL強度”

    利点: 実験のみ

    欠点: 利得と自然放出光の両測定が必要wire発光とarm発光の分離に難あり(高励起時)再現性? (測定日による差がある)

    問題点:”キャリア密度∝PL強度”の妥当性

    2) 化学ポテンシャルエネルギー位置(µ)からの算出利点: 利得スペクトル測定のみ

    利得スペクトルからµの位置は正確に求まるスペクトルのµ依存性の再現性は良い

    欠点: 理論計算で求まるµに対応させてキャリア密度を算出実験からはBGR(バンド端)不明のため

    問題点:理論と比較を行いたいのに、理論計算結果を使用

  • 問題・課題点

    電子正孔系が準熱平衡を仮定し、KMS関係式から導出2.キャリア温度見積もり

    ( ) ( ) ( ){ }[ ]eBTkgCPL /exp/ µ−ω−ω×ω×=ω hhh 12

    µ : quasi-chemical potential Te : quasi-equilibrium carrier temperature

    (/cm)(photons)C:比例係数

    温度精度: 自然放出光スペクトル測定に課題?位置依存性arm発光の寄与励起光の散乱(励起波長依存性測定時に問題)

    温度算出精度フィッティング範囲の任意性

    自然放出光スペクトルへの励起光散乱影響励起波長(エネルギー)依存性:arm共鳴近傍から以下の励起エネルギーにおいて問題

    散乱光の除去: 偏光フィルター(+ローパス) stem励起OK+ ノッチフィルター arm共鳴はいけそう!?+ 試料傾ける? wire共鳴?

  • 試料、測定方法

    ノンドープ3周期T細線構レーザー8-6-04.1 #6E 端面 as cleaved

    Γ = 1.3 x10-3L = 500 µm

    光励起による利得・吸収測定

    導波路放出光:

    励起光:

    • 再成長表面側反射配置• 検出偏光は細線に垂直(励起光に直交)• 試料上のおよそ50µm領域をバンドルファイバー

    にて集光検出

    励起光の強度分布(非常に状態良の場合)

    slit width: ~70µmscan step: 20µm

    500µm

    • 再成長表面側よりストライプ励起• 偏光は細線に平行

    • 検出偏光は arm井戸に平行(励起光に直交)• コア領域中央(3~5pixels)をCassidy解析

    自然放出光(PL):

  • 理論計算のまとめγ=0.8meVme=0.0665

    mh=0.105Huai san program: ver. 07-10-19 n1d=0matrix diagonalization

    pole1 energy (Eb) at n1d=0 for lx - ly wire with infinite barriers

    6x14 T wireEb=14meV

    8x19 T wireinfinite barrier

  • 計算結果

  • -20

    -15

    -10

    -5

    0

    50 0.5 1 1.5 2 2.5 3

    53060100300

    6nm x 14nm Eb = 17.14 meVM

    ater

    ial G

    ain

    (x10

    ^3 c

    m-1

    )

    n1d (x10^6 cm-1)

    色線:自分で計算

  • -20

    -15

    -10

    -5

    0

    50 0.5 1 1.5 2 2.5 3

    53060100300

    6nm x 14nm Eb = 17.14 meVM

    ater

    ial G

    ain

    (x10

    ^3 c

    m-1

    ) 色線:自分で計算

    黒線:以前にHuaiさん計算

    n1d (x10^6 cm-1)

  • 8nm x 19nm Eb = 13.90 meV

    -20

    -15

    -10

    -5

    0

    50 0.5 1 1.5 2 2.5 3

    53060100300

    n1d (x10^6 cm-1)

    Mat

    eria

    l Gai

    n (x

    10^3

    cm

    -1)

  • -20

    -15

    -10

    -5

    0

    50 0.5 1 1.5 2 2.5 3

    53060100300

    g(cal) x (8x19)/(6x14) Γの違いを補正

  • -20

    -15

    -10

    -5

    0

    50 0.5 1 1.5 2 2.5 3

    53060100300

    g(cal) x (8x19)/(6x14) Γの違いを補正

    “8x19と6x14でモード利得に直してみるとほぼ同じ”という結果

  • 理論計算(19nm x 8nm wire)

    利得スペクトル比較

    SHFFE with BGR

    mh = 0.105m0, γ = 0.8meV

    • 14x6, 19x8 wire• 30,60,100,300)• SHF, FE

    で計算済み

  • 理論計算(14nm x 6nm wire)

    利得スペクトル比較

    SHFFE with BGR

  • 理論計算 (19nmx8nm)

    縦軸:Γ で補正後吸収を正に採る

    Abs, GainPL

  • 実験結果

  • 利得吸収スペクトルの算出E

    mis

    sion

    Inte

    nsity

    g mod

    Γ・G

    pk

    αin

    t

    Chemical potential (µ)

    WaveguideEmission

    フリンジ解析

    gmod = Γ·G - α int

    Gα int

    : Material gain

    : Internal loss

    gmod : Modal gain

    Γ : Opticalconfinement factor

    Cassidy法を用いて、Fabry-Perotフリンジ解析

    B. W. Hakki and T. L. Paoli, JAP 46 1299 (1975).

    D. T. Cassidy, JAP 56 3096 (1984).

  • 利得吸収スペクトル(3-prd T細線)M

    odal

    Gai

    n

    Γ・G

    (10

    cm-1

    /div

    .)

    Γ・Gpk

    細線利得ピーク値の飽和

    利得ピーク(1.574eV)の出現→ ピーク値の増加

    幅の増加

    励起子吸収ピーク消失

    (→ 近接量子井戸での利得)

    µ

    励起

    強度

    励起子吸収 (1.580eV)no gain

    急峻な 利得ピーク (L2)の出現

  • ピーク利得の励起強度依存性

    透明励起強度 ~3 mWで利得が発生し、励起強度に対して急激に増加。

    3 wire laserΓ = 1.3 x 10-3

    利得出現:

    励起強度の増加に伴い、ピーク利得は最大値をとり、以降、減少傾向。

    高温でピーク利得の最大値が低下。

    ピーク利得の変化:

    Eex = 1.661 eV

    キャリア密度 n1D理論計算との比較には、 の決定が必要。

    キャリア温度 Te

  • PL励起強度依存性からのキャリア密度見積もり

    3 x105 cm-1

    PL強度 ∝ キャリア密度として、

    各励起強度でのn1D算出M. Yoshita et al., PRB 74, 165332 (2006).

  • KMS relation よるキャリア温度見積もり

    準熱平衡系

    ( ) ( ){ }[ ] ( )ε×µ−ε−×=ε PLTkAg eB/exp1

    KMS関係式によりフィッティング。

    n1D~9x105 cm-1

    Carrier heatingµ

    Pex=11.3 mW

    利得

    Te ~ 60 ± 6 K

    cf.測定温度=4 K

    KMS 関係式µ : quasi-chemical potential Te : quasi-equilibrium carrier temperature

    H. Haug and S. Schmitt-RinkProg. Quant. Electr. 9, 3 (1984).

  • Abs. and PL spectra

  • KMS フィッティング 1

    ( ) ( ) ( ){ }[ ]eBTkgCPL /exp/ µ−ω−ω×ω×=ω hhh 12( ) ( ) ( ){ }[ ]]/exp[/ eBTkPLgC µ−ω−×ωω×ω×= hhh 11 2

    実験値µ

    fittingパラメーターC, Te

  • KMS フィッティング 2

    ( ) ( ) ( ){ }[ ]eBTkgCPL /exp/ µ−ω−ω×ω×=ω hhh 12

    ( ){ } ( ) ( )ωω×ω×−=µ−ω hhh PLgCTk eB //exp 21

    µ

    実験値µ

    fittingパラメーターC, Te

    問題点:

    フィッティング範囲の設定

    arm発光・吸収の寄与

  • KMS フィッティング 2

    ( ) ( ) ( ){ }[ ]eBTkgCPL /exp/ µ−ω−ω×ω×=ω hhh 12

    ( ){ } ( ) ( )ωω×ω×−=µ−ω hhh PLgCTk eB //exp 21

    実験値µ

    fittingパラメーターC, Te

  • Screened Hartree-Fockwith static screening

    Free-particle model

    GaAs14x6nm 矩形細線infinite barrier

    γ = 0.8 meV (broadening)

    Γ = 1.3 x 10-3

    me=0.0665 m0mh=0.105 m0

    ((110)QW)

    Free-particle

    SHF

    T = 30K60K

    100K300K

    理論計算

    Gpk

    実験

    理論

    光学利得の理論計算との比較

  • Free-particle

    SHF

    T = 30K60K

    100K300K

    Gpk

    実験

    理論

    •透明キャリア密度~ 3 x 10 5 cm-1

    • ピーク利得値多体理論と同程度。

    •高密度での利得減少多体理論と同じ傾向を示す。

    (?)

    多体理論計算との類似点

    相違点

    透明領域近傍での微分利得

    利得最大となるキャリア密度

    実験と比して、理論計算が

    相対的に高温

    光学利得の理論計算との比較

  • 理論計算との比較・・吸収スペクトル諸量のエネルギー位置

    GaAs19nmx8nm 矩形細線infinite barrier

    γ = 0.8 meV(broadening)

    Γ = 1.3 x 10-3

    me=0.0665 m0mh=0.105 m0

    ((110)QW)

    Eb (@ n1d=0) = 13.9 meV

    Eb = 14 meV14nmx6nm T wire

    bandedge@ n1d=0

    実験

    理論計算での細線構造パラメーターを励起子束縛エネルギーEbが同等となるように選ぶ。

    理論計算

  • SHF

    T = 30K60K

    100K300K

    実験 理論

    T=4KT=60K

    Gpk

    2.0

    1.5

    1.0

    0.5

    0.0

    Pea

    k m

    ater

    ial g

    ain

    (cm

    -1)

    x104

    0.0 0.5 1.0 1.5 2.0 2.5x106Carrier density (cm-1)

    細線キャリア密度は、T=60Kでの計算結果との比較から算出。

    光学利得の理論計算との比較 (2)

    mを用いた場合とPLからの場合とで横軸の値が異なる

  • ピーク利得値の励起光子エネルギー依存性

    -10 0 10 20 30

    arm QW

    wireexciton

    previous results

    低エネルギー励起により、ピーク利得の増加

    高密度領域での利得の減少ほとんど無し(arm-QW励起時)

    excess energy=81 meV

    ...現在考察中Chemical potential (meV)横軸原点 = 細線励起子ピーク位置

  • 光学利得の理論計算との比較 (3)

    実験Eexc.=1.661 eV

    1.602 eV

    Gpk

    2.0

    1.5

    1.0

    0.5

    0.0Pea

    k m

    ater

    ial g

    ain

    (cm

    -1)

    x104

    SHF

    T = 30K60K

    100K300K

    理論

    Free-particle

    0.0 0.5 1.0 1.5 2.0 2.5x106Carrier density (cm-1)

    SHF計算値に比べ高いピーク値

    低エネルギー励起では、高密度領域における利得減少が小さい。

  • Energy

    @ T

    µBGRgpk

    HW位置

    n1D

    Teff

    gpk @ Teff gpk

    n1Dn1D

  • 今後

    2.キャリア温度見積もり

    自然放出光スペクトルへの励起光散乱影響励起波長(エネルギー)依存性:arm共鳴近傍から以下の励起エネルギーにおいて問題

    散乱光の除去: 偏光フィルター(+ローパス) stem励起OK+ ノッチフィルター arm共鳴はいけそう!?+ 試料傾ける? wire共鳴?

    再度実験

    温度見積もり精度位置依存性励起光の散乱温度算出精度 フィッティング範囲の設定?

    重み付けフィッティング?

  • 今後

    1.キャリア密度の見積もり

    a) 化学ポテンシャルエネルギー位置(µ)からの算出スペクトル形状ピーク値、幅 を実験と理論で比較し妥当かどうか見る。

    この手法でまとめられるのか検討する。実験まとめ実験と理論との比較まとめ

    実験と理論とに比較を横軸 µ として行ってみる

    b) 自然放出光(PL)強度からの算出この方法から求められるn1d値の再現性を再確認する。

    ただ、温度依存性の際、各温度でどのようにn1d算出するか?

    取り扱える領域を適切に判断する

    高密度領域 µを用いて、多体理論計算と比較低密度領域 PL強度によるn1d算出

  • 計算の問題点 (ver. 07-10-19)

    FEの計算

    muがSHFとまったく同じ?飽和値付近での挙動がおかしい?わずかに減少している?

    以前のHuaiさんの計算結果では一定値に近づくが

    PLの計算が、KMSを使用している。 非平衡グリーン関数へ

    FEでPLを計算する。

    FE χ0を計算SHF µについてはループを

    1回しかまわしていないχ0と同じ

    課題

    SHF計算モデルの妥当性

    キャリア密度温度

    理論近似の妥当性

    無限バリア vs T細線(近接したQWの存在、そのキャリア充填効果)

  • -10

    -8

    -6

    -4

    -2

    0

    Pea

    k M

    ater

    ial G

    ain

    (x10

    3 cm

    -1)

    2.52.01.51.00.50.0

    Carrier Density (x106 cm

    -1)

    8x19γ=0.8 meVv.071019

    5K 30K 60K 100K 300K

    SHF FE

    FE:ピーク値が高密度で減少

    χ0を計算しているからだろう。(確認要)