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Transistores de Efeito de Campo, Tiristores, relés e conectores: falhas e métodos de verificação de defeitos

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Page 1: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Transistores de Efeito de Campo,

Tiristores, relés e conectores: falhas

e métodos de verificação de

defeitos

Page 2: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Transistores de Efeito de Campo

Page 3: Teste em SCR’s_fet-thyristores

FET

Page 4: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Tipos

• Gate por Junção (JFET)

• Gate Isolado (MOSFET de Depleção)

• Gate Isolado (MOSFET de Intensificação)

Page 5: Teste em SCR’s_fet-thyristores

J-FET – Característica CC

Page 6: Teste em SCR’s_fet-thyristores

J-FET – Características CA

Page 7: Teste em SCR’s_fet-thyristores

J-FET – Teste de Resistência

Page 8: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Identificação de terminais

• Encontre dois terminais em que se consegue passar corrente em ambas as direções. Eles serão o dreno e a fonte

• Uma corrente deve passar através de um terceiro terminal (gate) para um dos 2 terminais encontrados anteriormente, se a condução ocorrer qdo o gate for negativo o tipo é N senão é tipo P.

• Não é possível diferenciar qual terminal é o dreno e qual é a fonte, mas eletricamente eles são intercambiáveis.

Page 9: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Cuidados nos teste

• Alguns fluxos de solda misturados com

umidade entre terminais de FET’s podem dar

a impressão de um componente com fuga

(defeituoso), por isso quando for retirado um

componente suspeito de estar danificado o

espaço entre suas ilhas na placa deve ser bem

limpo para evitar que esse problema volte a

ocorrer.

Page 10: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Precauções no manuseio

• J-FET e MOSFET protegidos não necessitam de nenhum cuidado especial

• MOSFET sem proteção:

– Os terminais devem estar sempre curto-circuitados antes de serem inseridos na placa

– O usuário que for manipular deve estar aterrado

– O ferro de solda deve estar aterrado

– O MOSFET nunca deve ser inserido no circuito com a alimentação ligada

Page 11: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Teste de MOSFET

• Resistência porta-fonte deve ser medida na

escala mais alta do multímetro. Leitura de

resistência infinita deve ser obtida em ambas

as tensões de polarizações.

• Resistência de dreno para fonte apresentam

baixos valores independente da polaridade

das pontas de prova

Page 12: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Falha Típica em MOSFET

• Curto-circuito entre porta e fonte e dreno e

fonte, ou seja, tudo em curto-circuito.

Page 13: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Tiristores

• Tipos:

– SCR – Silicon controlled rectifier

– TRIAC - bidirection triode thyristor

– DIAC

Page 14: Teste em SCR’s_fet-thyristores

SCR – Símbolo e Encapsulamentos

Page 15: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Causas de Falhas

• Aquecimento excessivo

• Variações de temperaturas repetidas

Page 16: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Falhas típicas

• Curto-circuito

• Circuito aberto

Page 17: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Teste em SCR’s

• Terminais porta-catodo devem se comportar

como um diodo

• Terminal anodo-catodo deve se comportar

como circuito aberto

• Terminal porta-catodo deve ser comportar

como circuito aberto

Page 18: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Teste em TRIAC’s

• A porta para o T2 deve se comportar como um

diodo

• T1 para T2 deve se comportar como circuito

aberto

• T1 para porta deve se comporta como circuito

aberto

Page 19: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Teste em DIAC

• Não tem terminal porta, apenas dois

terminais

• Os dois terminais se comportam como um

circuito aberto

• Portanto só possível testar curto-circuito

Page 20: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Falhas parciais em SCR

• Normalmente se manifesta por disparos falsos

• Para verificar essa falha deve-se:

– Disparar o SCR pela porta

– Medir a tensão entre anodo e catodo (=1V)

– Medir a tensão entre porta e catodo (=0,7V)

Page 21: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Fusíveis

Page 22: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Chaves

• Toggle-switch

• Push-button

• Micro-switch

Page 23: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Toggle switch - tipos

Page 24: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Defeitos em chaves

• Contato(s) partido(s)

• Contato(s) queimados(s)

• Contatos em curto-circuito

• Mola com defeito

• Encapsulamento queimado

Page 25: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Testes em chave

Page 26: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Precauções na substituição

• Desligar a alimentação antes de trocar uma

chave

• Utilizar a mesma ligação de fios que estava

feita na chave anterior

• Testar o funcionamento depois da

substituição

Page 27: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Conectores

Page 28: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Conectores - Características

• Resistência de contato: < 0,001Ω

• Tensão de Ruptura: depende do espaçamento entre terminais, geometria, material, etc

• Resistência de isolação: corrente de fuga da superfície e pelo material

• Método de encaixe: polarizado, com trava, etc...

• Material dos contatos:alta condutividade e resistência a corrosão

• Revestimento dos contatos : ouro, prata, etc

Page 29: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Problemas comuns em conectores

• Pinos soltos ou mal encaixados

– Devido a escolha incorreta do conector

– Montagem incorreta

– Causa mau contato ou curto-circuito

• Pino retraídos

– Montagem incorreta

– Causa mau contato

Page 30: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Transformadores - tipos

• Baixa tensão

• Alta tensão

• Isolação

• Variáveis

Page 31: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Teste de Transformadores

• Procure por sinais de aquecimento ou queima

• Ligue-o e meça as tensões de saída elas devem ser iguais ou um pouco maiores que o especificado

• Deixe-o ligado por tempo, ele pode esquentar mas não tanto que não seja possível tocá-lo

• Encontre uma carga que ele suporte e conecte na sua saída, ele deve suportar a carga sem esquentar e sem que a tensão caia muito abaixo do nível nominal

Page 32: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Teste com VOM

• Enrolamentos: Devem ter leituras de 0 a 100

ohms

• Quanto maior a resistência maior o número

de voltas

• Aplique um tensão baixa AC na entrada e

meça a tensão na saída para descobrir a

relação de transformação

Page 33: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Falhas comuns em transformadores

• Enrolamento primário aberto: resultado de

um surto de tensão ou corrente na entrada ou

de um curto na saída que causou

sobreaquecimento

• Curto no primário ou secundário: pode

ocorrer por sobreaquecimento ou por

fabricação inadequada

Page 34: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Refazendo enrolamentos

• Desenrole cada um dos enrolamento com defeitos e conte o número de voltas ( secundário + exterior, primário + próximo do núcleo)

• Se um enrolamento estiver fundido, conte o número de voltas de outro enrolamento e divida por sua tensão nominal, assim consegue-se descobrir o número de voltas do enrolamento fundido se tiver a informação da sua tensão nominal.

• Use fio de mesma bitola

• Se possível teste a isolação do mesmo aplicando altas tensões antes de soldá-lo no equipamento

Page 35: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Rele a bobina

Page 36: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Reles de Estado sólido

Page 37: Teste em SCR’s_fet-thyristores

Falhas em Reles

• Contatos que estão sempre abertos

• Contatos que estão sempre em curto

• Bobina com defeito( pode ser verificado

medindo a resistência)

• Transistor driver com defeito