ИМО МИФИ П-3 2008 г.1 1 Патентные исследования Патентные...

ИМО МИФИ П-3 2008 г.ИМО МИФИ П-3 2008 г. 11ИМО МИФИ П-3 2008 г.ИМО МИФИ П-3 2008 г. 11

Патентные исследованияПатентные исследования Патентные исследованияПатентные исследования являются являются

обязательной, неотъемлемой и составной обязательной, неотъемлемой и составной частью при выполнении научно-частью при выполнении научно-исследовательских, опытно-конструкторских, исследовательских, опытно-конструкторских, проектно-конструкторских работ и маркетинга проектно-конструкторских работ и маркетинга товаров. товаров. ГОСТ 15.011–96 «Патентные ГОСТ 15.011–96 «Патентные исследования. Содержание и порядок исследования. Содержание и порядок проведения»проведения» устанавливает единые устанавливает единые требования к организации, проведению и требования к организации, проведению и оформлению результатов патентных оформлению результатов патентных исследований.исследований.


Патентные исследованияПатентные исследования Патентные исследования могут проводится во Патентные исследования могут проводится во

Всероссийской патентно-технической библиотеке Всероссийской патентно-технической библиотеке (ВПТБ) в г. Москве, в некоторых региональных (ВПТБ) в г. Москве, в некоторых региональных научно-технических библиотеках и в Интернете. научно-технических библиотеках и в Интернете. В настоящее время нет возможности для В настоящее время нет возможности для проведения патентных исследований по проведения патентных исследований по иностранным патентам в региональных иностранным патентам в региональных библиотеках, так как библиотеках, так как Роспатент не издаёт Роспатент не издаёт официальных бюллетеней рефератов описаний официальных бюллетеней рефератов описаний иностранных изобретенийиностранных изобретений. Однако Роспатент . Однако Роспатент разместил на своём сервере всю российскую разместил на своём сервере всю российскую патентную информацию и ссылки на сайты патентную информацию и ссылки на сайты иностранных патентных фондов иностранных патентных фондов


Патентные исследованияПатентные исследования Патентные исследования позволяютПатентные исследования позволяют:: определить патентоспособностьопределить патентоспособность объектов объектов

промышленной собственности, создаваемых в промышленной собственности, создаваемых в процессе разработки новой продукции, и решить процессе разработки новой продукции, и решить вопрос о целесообразности патентования; вопрос о целесообразности патентования;

определить (патентную чистоту)определить (патентную чистоту) условия условия беспрепятственной реализации промышленной беспрепятственной реализации промышленной продукции на рынке конкретной страны или стран и продукции на рынке конкретной страны или стран и исключить нарушение прав третьих лиц, владеющих исключить нарушение прав третьих лиц, владеющих патентами, действующими на территории этих стран;патентами, действующими на территории этих стран;

выявить потенциальных конкурентоввыявить потенциальных конкурентов, определить , определить направления их деятельности и выбрать свою направления их деятельности и выбрать свою рыночную нишу.рыночную нишу.


Патентные исследованияПатентные исследования Процесс проведения патентных Процесс проведения патентных

исследований включает следующие этапы:исследований включает следующие этапы: разработку задания на проведение патентных разработку задания на проведение патентных

исследований;исследований; разработку регламента поиска информации;разработку регламента поиска информации; поиск и отбор патентной и другой научно-поиск и отбор патентной и другой научно-

технической информации;технической информации; анализ отобранной информации.анализ отобранной информации.


Патентные исследованияПатентные исследования Глубина (ретроспективность) поиска информации, с Глубина (ретроспективность) поиска информации, с

учетом сокращения сроков обновления технических учетом сокращения сроков обновления технических решений, составляет решений, составляет от 5 до 15 лет. от 5 до 15 лет.

На первом этапе поиска следует На первом этапе поиска следует определить определить классификационный индекс по объекту поискаклассификационный индекс по объекту поиска. . Для этого необходимо обратиться к алфавитно-Для этого необходимо обратиться к алфавитно-предметному указателю для отыскания рубрик предметному указателю для отыскания рубрик Международной патентной классификации Международной патентной классификации (МПК).(МПК).

Для большей широты поиска, сразу по нескольким Для большей широты поиска, сразу по нескольким странам, следует проводить поиск по фондам странам, следует проводить поиск по фондам европейского патентного ведомства и фондам европейского патентного ведомства и фондам национальных патентных ведомств, где можно национальных патентных ведомств, где можно получить библиографические данные и полное получить библиографические данные и полное описание патента на иностранном языке.описание патента на иностранном языке.


Патентные исследованияПатентные исследования

Сервер РоспатентаСервер Роспатента http://www.fips.ruhttp://www.fips.ru даёт возможность даёт возможность доступа к всемирной базе патентной доступа к всемирной базе патентной информации и к патентным фондам информации и к патентным фондам различных стран и международных различных стран и международных организаций. Ссылка на сайт организаций. Ссылка на сайт европейского патентного ведомства европейского патентного ведомства http://ru.espacenet.com/ содержится в содержится в разделе «Информационные ресурсы». разделе «Информационные ресурсы».


Патентные исследованияПатентные исследования На договорной основе с РоспатентомНа договорной основе с Роспатентом возможен возможен

доступ к следующим платным полнотекстовым базам доступ к следующим платным полнотекстовым базам данных БД:данных БД:

БД БД RUPAT содержит полные тексты Российских патентов на изобретения (включая графические материалы) с 1994 года.

БД БД RUPAT_OLD содержит полные тексты Российских патентных документов до 1994 года в факсимильном виде.

БД БД RUABU1 содержит информацию о Российских полезных моделях с 1996 года (пункты формулы и основной чертеж).

БД БД IMPIN содержит полные тексты Российских патентов на изобретение, признанных Федеральным институтом промышленной собственности перспективными


Патентные исследованияПатентные исследования Для начала работы с БД ФИПС необходимо осуществить Для начала работы с БД ФИПС необходимо осуществить

доступ к странице регистрации: доступ к странице регистрации: http://www.fips.ru/russite/default.htm. На появившейся странице расположено три . На появившейся странице расположено три группы окошек для ввода имени пользователя и пароля и группы окошек для ввода имени пользователя и пароля и переключатели выбора рабочего интерфейса системы переключатели выбора рабочего интерфейса системы "графический интерфейс" и "текстовый интерфейс". Одна "графический интерфейс" и "текстовый интерфейс". Одна из групп позволяет осуществить доступ к: БД по из групп позволяет осуществить доступ к: БД по изобретениям: полнотекстовым изобретениям: полнотекстовым (RUPAT, , RUPAT_NEW, , IMPIN) и реферативным () и реферативным (RUABRU, RUABEN). Группа баз , RUABEN). Группа баз данных, доступных для пользователя, определяется его данных, доступных для пользователя, определяется его паролем. Для доступа к платным БД необходимо ввести в паролем. Для доступа к платным БД необходимо ввести в окошко имя пользователя и окошко имя пользователя и пароль, полученные по пароль, полученные по электронной почте из Роспатента по договоруэлектронной почте из Роспатента по договору. .


Патентные исследованияПатентные исследования Доступ к бесплатным БД Роспатента по изобретениямДоступ к бесплатным БД Роспатента по изобретениям

осуществляется путём введения в окошко имя пользователя "guest" осуществляется путём введения в окошко имя пользователя "guest" и пароль "guest". Если имя пользователя и пароль введены и пароль "guest". Если имя пользователя и пароль введены правильно, то следующей страницей, доступной пользователю (по правильно, то следующей страницей, доступной пользователю (по нажатию кнопки "Войти"), будет форма, позволяющая осуществить нажатию кнопки "Войти"), будет форма, позволяющая осуществить выбор БД. Можно выбрать для поиска одну или несколько БД. В выбор БД. Можно выбрать для поиска одну или несколько БД. В левой части экрана расположено основное меню системы: левой части экрана расположено основное меню системы:

"Выбор баз данных" Переход на страницу (форму) выбора БД "Выбор баз данных" Переход на страницу (форму) выбора БД "Параметры поиска" Переход на страницу (форму) установки "Параметры поиска" Переход на страницу (форму) установки

характеристик поиска и выбора поисковых форматных характеристик поиска и выбора поисковых форматных (библиографических) полей. (библиографических) полей.

"Формулировка запроса" Переход на страницу (форму) для "Формулировка запроса" Переход на страницу (форму) для подготовки запроса подготовки запроса

"Уточненный запрос" Переход на страницу (форму) с "Уточненный запрос" Переход на страницу (форму) с расширенными характеристиками запроса. расширенными характеристиками запроса.

"Найденные документы" Переход на страницу (форму) просмотра "Найденные документы" Переход на страницу (форму) просмотра результатов поиска результатов поиска


Патентные исследованияПатентные исследования Поиск начинается с нажатия кнопки Поиск начинается с нажатия кнопки

"Формулировка запроса". Информационно-"Формулировка запроса". Информационно-поисковая система позволяет осуществлять три поисковая система позволяет осуществлять три вида (различных по принципам) поиска вида (различных по принципам) поиска (логический, словарный и нечеткий). Перед (логический, словарный и нечеткий). Перед проведением поиска необходимо четко определить проведением поиска необходимо четко определить какой из видов поиска может дать наилучший какой из видов поиска может дать наилучший результат по запросу. результат по запросу.

Кликнув по названию документа в списке Кликнув по названию документа в списке найденных, можно просмотреть текст документа в найденных, можно просмотреть текст документа в том же окне. Первый показываемый том же окне. Первый показываемый информационно поисковой системой экран будет информационно поисковой системой экран будет содержать библиографическое описание содержать библиографическое описание документадокумента


Патентные исследованияПатентные исследования Используя данные гиперссылки, можно просмотреть Используя данные гиперссылки, можно просмотреть

текст классификатора МПК, относящийся к указанной текст классификатора МПК, относящийся к указанной рубрике (классу). В тексты классификатора МПК включены рубрике (классу). В тексты классификатора МПК включены гиперссылки на рубрики (классы), упоминаемые в тексте гиперссылки на рубрики (классы), упоминаемые в тексте (отсылки). При нажатии на ссылку информационно (отсылки). При нажатии на ссылку информационно поисковая система перейдет к странице с описанием поисковая система перейдет к странице с описанием упомянутой рубрики (класса). упомянутой рубрики (класса).

Используя гиперссылки "Автор", "Заявитель", Используя гиперссылки "Автор", "Заявитель", "Патентообладатель", можно: "Патентообладатель", можно:

перейти на сайт фирмы (организации), указанной в перейти на сайт фирмы (организации), указанной в документе, документе,

получить контактную информацию о фирме (организации) получить контактную информацию о фирме (организации) или конкретном лице.или конкретном лице.


Патентные исследованияПатентные исследования Отчет о патентных исследованияхОтчет о патентных исследованиях должен должен

содержать: содержать: титульный лист; титульный лист; список исполнителей; список исполнителей; содержание;содержание; перечень сокращений, условных обозначений, перечень сокращений, условных обозначений,

символов, единиц, терминов; символов, единиц, терминов; общие данные об объекте исследований; общие данные об объекте исследований; основную (аналитическую) часть; основную (аналитическую) часть; заключение; заключение; приложения.приложения.



Предмет Предмет поиска поиска (объект (объект исследования, исследования, его составные его составные

части)части)

Страна Страна выдачи, вид и выдачи, вид и номер номер охранного охранного документа. документа. КлассификациКлассификаци

онный индекс*онный индекс*

Заявитель Заявитель (патентооблад(патентообладатель), атель), страна. Номер страна. Номер заявки, дата заявки, дата приоритета, приоритета, конвенционныконвенционный приоритет, й приоритет, дата дата публикации* публикации*

Название Название изобретения изобретения (полной (полной модели, модели,

образцаобразца) )

Сведения о Сведения о действии действии охранного охранного документа или документа или причина его причина его аннулированианнулирования (только для я (только для анализа анализа патентной патентной

чистоты)чистоты)

11 22 33 44 55

Патентная документация



Объект техники и его Объект техники и его составные части составные части

Страна Страна Количество Количество патентов, патентов, опубликованных опубликованных заявок по годам заявок по годам подачи заявки подачи заявки (исключая патенты-(исключая патенты-аналоги) аналоги)

11 22 3 4 5 6 7 8 9 103 4 5 6 7 8 9 10

Количество опубликованных охранных документов по годам (изобретательская активность)



ПРИМЕР №1ПРИМЕР №1

(Проект №142)(Проект №142)

Разработка лазерной технологии Разработка лазерной технологии экологического контроля атмосферы в экологического контроля атмосферы в районах прохождения магистральных районах прохождения магистральных газо- и продуктопроводов и газо- и продуктопроводов и энергосбережения газо- и энергосбережения газо- и нефтепродуктовнефтепродуктов



Диагностика утечек из газо- и нефтепроводов – Диагностика утечек из газо- и нефтепроводов – ключевая проблема эксплуатации сырьевых ключевая проблема эксплуатации сырьевых продуктопроводов во всем мире по двум причинам:продуктопроводов во всем мире по двум причинам:

Утечки транспортируемых продуктов ведут к их Утечки транспортируемых продуктов ведут к их потерям при доставке потребителю, что снимает потерям при доставке потребителю, что снимает коммерческий эффект от такой транспортировки.коммерческий эффект от такой транспортировки.

Утечки являются причиной загрязнения окружающей Утечки являются причиной загрязнения окружающей среды, а в ряде случаев могут привести к аварийным среды, а в ряде случаев могут привести к аварийным ситуациям (пожар, взрыв) и, соответственно, к ситуациям (пожар, взрыв) и, соответственно, к серьезным катастрофам экологического характера.серьезным катастрофам экологического характера.


Патентные исследованияПатентные исследования Таким образом, эффективная, доступная и Таким образом, эффективная, доступная и

простая в применении технология контроля простая в применении технология контроля утечек является важным фактором утечек является важным фактором безаварийной эксплуатации газо- безаварийной эксплуатации газо- нефтепроводов. Это важно особенно в нефтепроводов. Это важно особенно в настоящее время, когда транспортируемое настоящее время, когда транспортируемое сырье является, с одной стороны, источником сырье является, с одной стороны, источником национального благосостояния, а с другой – национального благосостояния, а с другой – потенциальным источником национальных потенциальным источником национальных экологических катастроф.экологических катастроф.


Патентные исследованияПатентные исследования Предварительный патентный поиск проведен в Предварительный патентный поиск проведен в

информационно-справочной системе Questel -Orbit. по информационно-справочной системе Questel -Orbit. по патентным базам данных.патентным базам данных.

Предметный поиск по теме «анализ утечек природного Предметный поиск по теме «анализ утечек природного газа с помощью лазеров» проводился по ключевым газа с помощью лазеров» проводился по ключевым словам – DF-laser, lidar, differential adsorption, monitoring, словам – DF-laser, lidar, differential adsorption, monitoring, leakage, propane identification.leakage, propane identification.

Использовался следующий скрипт для поиска: Использовался следующий скрипт для поиска: ((DF-laser) or lidar or (differential (3d) absorption?) or ((DF-laser) or lidar or (differential (3d) absorption?) or

(monitoring (d) leakage?) or (propane (d) identification)).(monitoring (d) leakage?) or (propane (d) identification)).

По результатам применения скрипта был проведен По результатам применения скрипта был проведен статистический анализ.статистический анализ.


Патентные исследованияПатентные исследования Результаты поисков анализировались в патентной базе Результаты поисков анализировались в патентной базе

Dervent (WPIL). Статистический анализ проводился по 577 Dervent (WPIL). Статистический анализ проводился по 577 документам по результатам предметного поиска и по 962 документам по результатам предметного поиска и по 962 документам по результатам поиска по рубрикам МПК по документам по результатам поиска по рубрикам МПК по годам приоритета (Priority year - PY) представленных годам приоритета (Priority year - PY) представленных документов и по фирме-заявителю (Раtent Assignee – PA).документов и по фирме-заявителю (Раtent Assignee – PA).

Выявлялись 20 наиболее активно патентующих фирм. Выявлялись 20 наиболее активно патентующих фирм. Результаты статистического анализа, проведенного по Результаты статистического анализа, проведенного по году приоритета – РY поданных патентов, показали, что году приоритета – РY поданных патентов, показали, что начиная с 1993 года идет стабильное, приблизительно начиная с 1993 года идет стабильное, приблизительно равное по годам патентование по указанному равное по годам патентование по указанному направлению. направлению.



Результаты поиска по фирмамРезультаты поиска по фирмам

Предметный поиск проводился по ключевым Предметный поиск проводился по ключевым словам: словам: laser, DF-laser, differential absorbtion, gas laser, DF-laser, differential absorbtion, gas leakage, monitoring leakage, metane, propane, leakage, monitoring leakage, metane, propane, butane, etane.butane, etane.

Классы Международной патентной классификации, Классы Международной патентной классификации, по которым проводился поиск: G01N 21/00-61, по которым проводился поиск: G01N 21/00-61,

Классы Национальной патентной классификации Классы Национальной патентной классификации США – 250-205,338,339,343,345. США – 250-205,338,339,343,345.



Результаты поиска по предмету патентованияРезультаты поиска по предмету патентования

Ближайшие аналогиБлижайшие аналоги

1. Патент РФ № 2086959 пр. 07.06.95 публ.10.08.97 «Авиационный 1. Патент РФ № 2086959 пр. 07.06.95 публ.10.08.97 «Авиационный лазерный газоанализатор для обнаружения утечек из лазерный газоанализатор для обнаружения утечек из трубопроводов» кл.G01N 21/39,21/61, Жученко И.А., Емохонов трубопроводов» кл.G01N 21/39,21/61, Жученко И.А., Емохонов В.Н., Филиппов П.Г., Моисеев В.Н., Пихтелев Р.Н.В.Н., Филиппов П.Г., Моисеев В.Н., Пихтелев Р.Н.

2. Патент РФ № 2091759 пр.07.06.95 публ. 27.09.97 кл. G01N 21/39 2. Патент РФ № 2091759 пр.07.06.95 публ. 27.09.97 кл. G01N 21/39 “Авиационное устройство для обнаружения утечек газа из “Авиационное устройство для обнаружения утечек газа из трубопроводов”,Жученко И.А., Дедешко В.Н., Филиппов П.Г., трубопроводов”,Жученко И.А., Дедешко В.Н., Филиппов П.Г., Моисеев В.Н., Пихтелев Р.Н.Моисеев В.Н., Пихтелев Р.Н.

3. Патент США № 5130544 пр.09.09.88 публ.14.07.92 кл.250/343, 3. Патент США № 5130544 пр.09.09.88 публ.14.07.92 кл.250/343, G01N21/61 «Оptical gas analyzer» G01N21/61 «Оptical gas analyzer» Gambro Engstrom ABGambro Engstrom AB ( (SESE))

Оптический газоанализатор для анализа СООптический газоанализатор для анализа СО22 и NO и NO22 – работает – работает

на двух длинах волн: 3,90 мкм и 4, 26 мкм на двух длинах волн: 3,90 мкм и 4, 26 мкм


Патентные исследованияПатентные исследования4. Патент США № 5015099 пр. 23.03.89 публ 14.05.91 кл.250/205 4. Патент США № 5015099 пр. 23.03.89 публ 14.05.91 кл.250/205

G01N 21/00 «Differential absorption laser radar gas detection G01N 21/00 «Differential absorption laser radar gas detection apparatus having tunable wavelength single mode semiconductor apparatus having tunable wavelength single mode semiconductor laser source» – излучатели на разных длинах волн работают laser source» – излучатели на разных длинах волн работают поочередно, Не-Ne лазер. поочередно, Не-Ne лазер. Anritsu CorpAnritsu Corp, , TokyoTokyo ( (JPJP))

5. Патент США № 5430293 пр. 08.10.91 публ. 5. Патент США № 5430293 пр. 08.10.91 публ. 04.07.95 04.07.95 клкл. 250/338 . 250/338 G01N 21/35 «Gas visualizing apparatus and method for detecting G01N 21/35 «Gas visualizing apparatus and method for detecting gas leakage from tanks or piping»gas leakage from tanks or piping» G01N G01NOsaka Gas CompOsaka Gas Comp. (JP). (JP)

Близок по назначению, по принципу действия- Не-Nе лазер Близок по назначению, по принципу действия- Не-Nе лазер излучает на одной длине волны – 3.39 мкм.излучает на одной длине волны – 3.39 мкм.

6. Патент США № 5001346 пр.26.02.90 публ. 19.03.91 кл. 250-338 6. Патент США № 5001346 пр.26.02.90 публ. 19.03.91 кл. 250-338 21/35 «Leak detection system with background compensation» 21/35 «Leak detection system with background compensation» Получают изображение объекта, имеющего утечки, на разных Получают изображение объекта, имеющего утечки, на разных длинах волн, сравнивают изображения, источник излучения – длинах волн, сравнивают изображения, источник излучения – СОСО22-лазер. -лазер. Rockwell InternationalRockwell International ( (USUS))


Патентные исследованияПатентные исследования Экспертное заключениеЭкспертное заключение Сравнение с патентами РФ (наиболее близки по назначению и по Сравнение с патентами РФ (наиболее близки по назначению и по

принципу действия): диапазон регистрируемых концентраций 1-6х10принципу действия): диапазон регистрируемых концентраций 1-6х1055 ррm (метан). Нижний предел определяется природной ррm (метан). Нижний предел определяется природной концентрацией метана в атмосфере 1,6-2,0 ррm, а верхний – концентрацией метана в атмосфере 1,6-2,0 ррm, а верхний – взрывоопасной концентрацией метана в смеси с воздухом от 3 до взрывоопасной концентрацией метана в смеси с воздухом от 3 до 60%. Используется Nd:YAG импульсный лазер, дополненный для 60%. Используется Nd:YAG импульсный лазер, дополненный для реализации перестройки параметрическим генератором на основе реализации перестройки параметрическим генератором на основе нелинейного кристалла LiNbOнелинейного кристалла LiNbO33. Используемый диапазон длин волн – . Используемый диапазон длин волн –

3,1-3,6 мкм. Суть изобретения - аппаратурные решения, связанные с 3,1-3,6 мкм. Суть изобретения - аппаратурные решения, связанные с управлением лазером и регистрацией излучения. По сравнению с управлением лазером и регистрацией излучения. По сравнению с патентом № 2086959 в патенте № 2091759 добавлен блок патентом № 2086959 в патенте № 2091759 добавлен блок формирования видимого изображения и блок пространственного формирования видимого изображения и блок пространственного сканирования лазерного луча.сканирования лазерного луча.



Результаты поиска по фирмамРезультаты поиска по фирмам

В общем случае в статистические данные по В общем случае в статистические данные по каждой фирме включены следующие сведения :каждой фирме включены следующие сведения :

- общее количество патентов, - общее количество патентов,

- годы, за которые эти патенты получены, - годы, за которые эти патенты получены,

- год, на который приходится максимальное - год, на который приходится максимальное количество поданных патентов, количество поданных патентов,

- общее направление, в котором фирма ведет - общее направление, в котором фирма ведет патентование, патентование,

- страны, в которых фирма имеет основное число - страны, в которых фирма имеет основное число патентовпатентов. .


Патентные исследованияПатентные исследования*1. *1. Gambro Engstrom AB (SE)Gambro Engstrom AB (SE) (с.7) - 152 патента, годы подачи –80-94 (табл.1, (с.7) - 152 патента, годы подачи –80-94 (табл.1,

с.8), мах – 84 год – 21 патент, 93 и 94 годы – по 3 патента; основной вид с.8), мах – 84 год – 21 патент, 93 и 94 годы – по 3 патента; основной вид деятельности – медицина (анестезия), кроме этого –анализ материалов с деятельности – медицина (анестезия), кроме этого –анализ материалов с помощью оптических, ультразвуковых и иных методов (табл.2, с.8). Патент-помощью оптических, ультразвуковых и иных методов (табл.2, с.8). Патент-аналог подан в США в1988 году.аналог подан в США в1988 году.

*2. *2. Anritsu Corp, Tokyo (JP) Anritsu Corp, Tokyo (JP) (с.96) – 16054 патента, пересечение с ключевым (с.96) – 16054 патента, пересечение с ключевым словом «laser” – 745 патентов, годы подачи – 78-98 (табл.1, с.96), мах – 92 год словом «laser” – 745 патентов, годы подачи – 78-98 (табл.1, с.96), мах – 92 год – 26 патентов, 97 –13 патентов, 98 – 15 патентов; занимаются лазерами, в т.ч. – 26 патентов, 97 –13 патентов, 98 – 15 патентов; занимаются лазерами, в т.ч. для исследования и анализа материалов (табл.2, с.97). Патентуют в основном для исследования и анализа материалов (табл.2, с.97). Патентуют в основном в Японии –140 патентов, США, евр. патенты, Германия (15-6 патентов, т.3, в Японии –140 патентов, США, евр. патенты, Германия (15-6 патентов, т.3, с.97). Патент аналог подан в США в 1989 г.с.97). Патент аналог подан в США в 1989 г.

*3.*3.Osaka Gas Comp (JP)Osaka Gas Comp (JP) (с.85) - 31703 патента, пересечение с ключевым словом (с.85) - 31703 патента, пересечение с ключевым словом «laser» - 225, годы подачи – 87-98 (т.1, с.86), мах – 91 – 12 патентов, 97 – 1 «laser» - 225, годы подачи – 87-98 (т.1, с.86), мах – 91 – 12 патентов, 97 – 1 патент, 98 – 3 патента; занимаются обработкой поверхности лазерным лучом, патент, 98 – 3 патента; занимаются обработкой поверхности лазерным лучом, анализ материалов с помощью оптических средств – мало(т.2, с.86-87), анализ материалов с помощью оптических средств – мало(т.2, с.86-87), Патенты в Японии – 44, США, Евр. патенты, Германия (8-4 патента) (т.3, с.87). Патенты в Японии – 44, США, Евр. патенты, Германия (8-4 патента) (т.3, с.87). Патент-аналог подан в США в 1991 г. Патент-аналог подан в США в 1991 г.

ИМО МИФИ П-3 2008 г.ИМО МИФИ П-3 2008 г. 2626






1 - HITACHI LTD ( 37 - 3.85% )

2 - SONY CORP ( 31 - 3.22% )

3 - TOSHIBA KK ( 25 - 2.60% )

4 - MITSUBISHI MATERIALS CORP ( 23 - 2.39% )

5 - HITACHI METALS LTD ( 21 - 2.18% )

6 - MATSUSHITA ELEC IND CO LTD ( 21 - 2.18% )

7 - NEC CORP ( 21 - 2.18% )

8 - NICHIDEN ANELVA KK ( 21 - 2.18% )

9 - APPLIED MATERIALS INC ( 18 - 1.87% )

10 - FUJITSU LTD ( 17 - 1.77% )

11 - ULVAC CORP ( 16 - 1.66% )

12 - KOBE STEEL LTD ( 13 - 1.35% )

13 - SUMITOMO ELECTRIC IND CO ( 13 - 1.35% )

14 - ASAHI GLASS CO LTD ( 12 - 1.25% )

15 - CANON KK ( 12 - 1.25% )

16 - LEYBOLD AG ( 12 - 1.25% )

17 - NIPPON STEEL CORP ( 12 - 1.25% )

18 - SUMITOMO METAL MINING CO ( 12 - 1.25% )

19 - MATSUSHITA DENKI SANGYO KK ( 11 - 1.14% )

20 - SUMITOMO METAL IND LTD ( 11 - 1.14% )

% documentsPatent AssigneeFrq.

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20

10

20

30

40




% documents

1 - Hitachi LTD (37 - 3.85%)

2 - SONY Corp. (31 - 3.22%)

3 - Toshiba KK (25 - 2.60%)

4 - Mitsubishi Materials Corp. (23 - 2.39%)

5 - Hitachi Metals LTD (21 - 2.18%)

6 - Matsushita Elec. Ind. Co. LTD (21 - 2.18%)

7 - NEC Corp. (21 - 2.18%)

8 - Nichiden Anelva KK (21 - 2.18%)

9 - Applied Materials Inc. (18 - 1.87%)

10 - Fujitsu LTD (17 - 1.77%)




1 - HITACHI LTD ( 37 - 3.85% )

2 - SONY CORP ( 31 - 3.22% ) 3 - TOSHIBA KK ( 25 - 2.60% )

4 - MITSUBISHI MATERIALS CORP ( 23 - 2.39% ) 5 - HITACHI METALS LTD ( 21 - 2.18% )

6 - MATSUSHITA ELEC IND CO LTD ( 21 - 2.18% ) 7 - NEC CORP ( 21 - 2.18% )

8 - NICHIDEN ANELVA KK ( 21 - 2.18% ) 9 - APPLIED MATERIALS INC ( 18 - 1.87% )

10 - FUJITSU LTD ( 17 - 1.77% ) 11 - ULVAC CORP ( 16 - 1.66% )

12 - KOBE STEEL LTD ( 13 - 1.35% ) 13 - SUMITOMO ELECTRIC IND CO ( 13 - 1.35% )

14 - ASAHI GLASS CO LTD ( 12 - 1.25% ) 15 - CANON KK ( 12 - 1.25% )

16 - LEYBOLD AG ( 12 - 1.25% ) 17 - NIPPON STEEL CORP ( 12 - 1.25% )

18 - SUMITOMO METAL MINING CO ( 12 - 1.25% ) 19 - MATSUSHITA DENKI SANGYO KK ( 11 - 1.14% )

20 - SUMITOMO METAL IND LTD ( 11 - 1.14% )


1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20

10

20

30

40


Патентные исследованияПатентные исследования Выводы: Поиск выявил довольно большое количество патентов по

методам и устройствам, сходных с разрабатываемыми в данном проекте.

Было выявлено, что ряд фирм имеет такие патенты в собственных странах и в странах потенциальных потребителей продуктов патентования.

Предварительный поиск патентов показал, что патентование в данной области достигло пика в 1985-1990 гг, в то время как близкие патенты были поданы в 1988-1991гг. Однако, патенты для газоанализаторов самолета появились только в 1988-1991гг (и российский, и принадлежащий фирме LaSen).

Фирмами, представляющими интерес, являются «газовые» фирмы, которые могут быть заинтересованы в контроле утечек, такие как Osaka Gas Comp, CONOCO,Tokyo gas, а также фирмы стабильно работающие в данной области, например, Anritsu Corp.


Патентные исследованияПатентные исследованияПРИМЕР №2ПРИМЕР №2(Проект №470)(Проект №470)Разработка: установки для ускорения микрочастиц

порошковых материалов, а именно, ускоритель с двумя разрядными промежутками

технологии нанесения порошковых покрытий на различные поверхности

Охранных документов, на указанные виды объектов, в результате анкетирования разработчиков проекта и проведенного предварительного патентного поиска не выявлено


Патентные исследованияПатентные исследования По данному проекту проведен предметный поиск

«импульсные электротермические источники для распыления порошковых материалов» по ключевым словам - launcher, accelerator, atomizer, pulsed thermal/electrothermal launcher, microparticle, powder, coating. Для поиска использовался скрипт

((launcher? or accelerator? or spray???) and (+thermal)).

По результатам скрипта проводился статистический анализ.

Также проведен поиск по рубрикам Международной патентной классификации (МПК) С23С 4/06, С23С 4/08, С23 14/34 – нанесение покрытия распылением материала.


Патентные исследованияПатентные исследования Результаты поисков анализировались в патентной базе

Dervent (WPIL). Статистический анализ проводился по 3433 документам по результатам предметного поиска и по 9146 документам по результатам поиска по рубрикам МПК по годам приоритета (Priority year - PY) представленных документов и по фирме-заявителю (Раtent Assignee – PA).Выявлялись 20 наиболее активно патентующих фирм. Поиск позволил выявить. Результаты статистического анализа, проведенного по году приоритета – РY поданных патентов, показали, что максимальное число патентов в первом случае приходится на 1991 и 1998, во втором случае – на 1993 год, что позволяет сказать, что на фоне некоторого спада интереса к патентованию в общем направлении – нанесение покрытия распылением материалов, интерес к импульсному электротермическому распылению порошковых материалов сохранился.


Патентные исследованияПатентные исследования Результаты поиска по фирмам

Предметный поиск проводился по ключевым словам: launcher, accelerator, atomizer, sprayer, pulsed thermal/electrothermal launcher, microparticle, powder, coating в соответствии с разработанной стратегией поиска (примеры проведения конкретных поисков см. в рабочих материалах).

Классы Международной патентной классификации, по которым проводился поиск: B05D 1/40, C23C4/00 - 08, B23K 9/00-06

Классы Национальной патентной классификации США – 219/121


Патентные исследованияПатентные исследования Ближайшие аналоги1. Патент США № 6124563 пр.24.03.98 публ.26.09.00 кл.219/121.47

В23К 9/00 «Pulsed electrothermal powder spray» Utron Inc. (US)Экспертное заключение1.Скорость частиц –2-4 км/сек2.Дуговой разряд поджигается в первой капиллярной камере, а затем -

во 2-й капиллярной камере посредством первого и второго электродов. Вторая капиллярная камера помещается в ствол устройства.

3.Полость ствола имеет внутренний диаметр ~2 см. длина ствола 20-30 см,, капиллярная камера ~10-20 см.

4.Основа изобретения- импульсный капиллярный дуговой разряд в ограниченном пространстве.

5.Скорость газовой струи – до 20 км/сек. Скорость частиц порошка – до нескольких км/сек (детонационные

устройства-1.2 км/сек).6.Температура газа – до 120000К Время разогрева 100-200 мксек



2. Патент США № 5695826 пр.25.06.93 публ.09.12.97 кл.427/477 В05D1/40 «Electrostatic powder coating apparatus and method»

Terronics Development Corp.(US) Частицы для нанесения порошкового покрытия заряжаются и

ускоряются постоянным электрическим полем. 3. Патент США № 4142089 пр.22.03.77 публ.27.02.79 кл. 219/121.47

В23К 9/06 «Pulsed coaxial thermal plasma sprayer» Canadian Patents and Development Ltd (CA)

Назначение импульсного распылителя: выбрасывать струю распыленного расплавленного материала с большими скоростями - скорость газа 3 км /сек, температура в установке 200000К.

4. Патент РФ № 2082823 пр.17.06.91 публ.27.06.97 кл.С23С24/04 «Способ получения покрытий» – Частицы материала покрытия разгоняют газовым потоком с температурой 300-6000К и осаждают на подложку. Приведены параметры покрытий. МАИ


Патентные исследованияПатентные исследованияРезультаты поиска по фирмам 1. Commissariate Energie Atomique (FR) (с.132) – 51153 патента,

пересечение с ключевыми словами (coat??? and +thermal) – 62 патента, годы подачи – 71- 98, мах – 94 год – 6 патентов, 97 и 98 год – по 4 патента (т.2, с.133). Есть патенты на “осаждение на металлические поверхности” (т.3, с.134). Патенты во Франции –46, Евр. патенты, США, Япония, Германия (28-18, т.1, с.132)

2. Mitsubishi materials (JP) (с.68) – 47275 патентов, пересечение с ключевыми словами (coat??? and +thermal) - 260, годы подачи – 90-99 (т.1,2,3, с.68,70,71), патентует последние годы активно, патенты в Японии – 61, в США., Германии, Корее (4-1 патента, т.4, с.70), направления- напыление, порошковая металлургия (т.5, с.70-71).

*3. Utron Inc. (US) (с.2) – патентов 19, годы подачи - 96-98 (т.1, с.3), по годам – 3, 4 и 1 соответственно. Основное направление - плазменные методы обработки


Патентные исследованияПатентные исследования Выводы: Поиск выявил большое число патентов, которые защищают

методы и аппаратные средства, сходные с данным проектом. Имеется множество фирм, которые имеют патенты и в своей

стране, и в экономически развитых странах, также как в странах быстро растущей экономикой.

Хотя предварительный поиск показал, что пик патентовой деятельности в этой области прошел и что близкие патенты подавались в 1977, 1993 и 1998 гг, ряд фирм снова проявляет интерес в этой области, начиная с 1998.

Наибольший интерес представляет фирма Utron Inc., запатентовавшая аналогичную установку в 1998 году, и фирмы Mitsubishi materials и Nippon steel начавшие активное патентование в данной области в последние годы.



1 - NIPPON STEEL CORP ( 103 - 3.00% )

2 - TOSHIBA KK ( 49 - 1.43% ) 3 - HITACHI LTD ( 37 - 1.08% )

4 - MITSUBISHI JUKOGYO KK ( 37 - 1.08% ) 5 - CASTOLIN SA ( 36 - 1.05% )

6 - GENERAL ELECTRIC CO ( 35 - 1.02% ) 7 - SUMITOMO METAL IND LTD ( 35 - 1.02% )

8 - TOYOTA JIDOSHA KK ( 34 - 0.99% ) 9 - PERKIN-ELMER CORP ( 33 - 0.96% )

10 - SIEMENS AG ( 30 - 0.87% ) 11 - HITACHI CHEM CO LTD ( 28 - 0.82% )

12 - UNITED TECHNOLOGIES CORP ( 27 - 0.79% ) 13 - MITSUBISHI HEAVY IND CO LTD ( 26 - 0.76% )

14 - MATSUSHITA ELEC IND CO LTD ( 24 - 0.70% ) 15 - PRAXAIR ST TECHNOLOGY INC ( 24 - 0.70% )

16 - SUMITOMO BAKELITE CO ( 24 - 0.70% ) 17 - HOECHST AG ( 23 - 0.67% )

18 - NAT AERO & SPACE ADMIN ( 22 - 0.64% ) 19 - FORD MOTOR CO ( 20 - 0.58% )

20 - KUBOTA CORP ( 20 - 0.58% )


1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20

100

200



1 - 1991 ( 245 - 7.14% )

2 - 1998 ( 245 - 7.14% )

3 - 1992 ( 240 - 6.99% )

4 - 1990 ( 232 - 6.76% )

5 - 1997 ( 231 - 6.73% )

6 - 1993 ( 207 - 6.03% )

7 - 1989 ( 203 - 5.91% )

8 - 1995 ( 184 - 5.36% )

9 - 1987 ( 183 - 5.33% )

10 - 1996 ( 181 - 5.27% )

11 - 1988 ( 176 - 5.13% )

12 - 1994 ( 172 - 5.01% )

13 - 1984 ( 147 - 4.28% )

14 - 1983 ( 144 - 4.19% )

15 - 1985 ( 139 - 4.05% )

16 - 1986 ( 129 - 3.76% )

17 - 1982 ( 101 - 2.94% )

18 - 1981 ( 85 - 2.48% )

19 - 1979 ( 62 - 1.81% )

20 - 1980 ( 61 - 1.78% )

% documentsPriority YearFrq.

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20

100

200

300


Патентные исследованияПатентные исследованияÏ ðî åêò ¹ Â-109. Ï î èñê ï î êëþ ÷åâû ì ñëî âàì

0

20

40

60

80

100

120

140

160

180

US EP WO JP DE SU+RU KR CN FR GB CA AU

Страна

Кол

иче

ств

о п

атен

тов



Совместный российско – европейский проект esp@cenet это:

свободный доступ к более, чем 50 млн. патентных документов со всего мира, представляющим технические достижения с 1836 г. по настоящее время.



Начинаем с адреса http://www.espacenet.comНажимаем на ссылку «Access esp@cenet»Вам будут представлены на выбор адресасерверов: ЕПВ (Европейское ПатентноеВедомство), Европейской Комиссии инациональных ведомств.Вы можете выбрать сервер из перечня на экране.Выбираем ЕПВ внизу страницы там, где надпись EAPO Russian



На новой странице слева предлагается 4 варианта поиска

1. Быстрый поиск (по: ключевым словам, имени автора, названию фирмы)

2. Расширенный поиск ( за определенный год, из определенной страны, определенные слова или сочетания)

3. Нумерационный поиск (по известному номеру документа)

4. По классификации ECLA



Например выбран, «быстрый поиск»После клика этого названия попадаете настраницу , где предлагается выбрать патентную базу данных, пусть это будет ЕР ,область поиска – ключевые слова,а поисковые условия – это те самые ключевые слова, которые Вы извлекаете из имеющихсяУ Вас заданий по результатам выполнения научных проектов.Затем нажимаете ПОИСК и получаете результат в видепатентных документов.



ПРИМЕР.OPTICAL SCHEME FOR A LASER-ROBOTPRA-0108Full TitleDevelopment of an Optical Scheme for aLaser – RobotTech Area/ FieldPHY-OPLMAN-ROB


Патентные исследованияПатентные исследования СПИСОК РЕЗУЛЬТАТОВ 41 документ(ов) найдено в базе данных EP -

esp@cenet для запроса: Laser - robot в названии изобретения или реферате (Результаты отсортированы по дате загрузки в базу данных)

1 Laser welding method and laser welding robot добавить в список выбранных документов Изобретатель: OTSUKA KAZUHISA [JP];FURUYA YOSHITAKE [JP] Заявитель: FANUC LTD [JP] Информация о публикации: EP1710040 (A2) — 2006-10-11 МПК: B23K26/08 ; B23K26/08 ; B23K26/08B23K26/08 ; B23K26/08 (+1)

2 Robot laser processing system добавить в список выбранных документов Изобретатель: TAKAHASHI HIROMITSU [JP];FURUYA YOSHITAKE [JP] Заявитель: FANUC LTD [JP] Информация о публикации: EP1747839 (A1) — 2007-01-31МПК: B23K26/42 ; B23K26/00

3 METHOD OF PREVENTING ERRONEOUS PROJECTION OF LASER BEAM IN A LASER ROBOT. добавить в список выбранных документов Изобретатель: TORII NOBUTOSHI ROOM FUYOHAITS [JP];ITO SUSUMU ROOM - FANUC MANSHO [JP];TERADA AKIHIRO ROOM - FANUC MA [JP] Заявитель: FANUC LTD [JP] Информация о публикации: EP0428748 (A1) — 1991-05-29 МПК: B23K26/08 ; B23K26/10 ; B23K26/42 (+11)



Кликнув по названию патентного

документа Вы можете получить

сведения о нем:


Патентные исследованияПатентные исследованияRobot laser processing system Библиографические данные Описание Формула

изобретения Мозаика Исходный документ Правовой статус (INPADOC)

Номер патента:EP1747839 (A1)Дата публикации:2007-01-31Изобретатель(и):TAKAHASHI HIROMITSU [JP];FURUYA YOSHITAKE [JP]Заявитель(и):FANUC LTD [JP]Индекс(ы) по классификации: - международной (МПК): B23K26/42; B23K26/00; Номер заявки: EP20060015155 20060720 2007-01-31Номера приоритетных документов:JP20050220978 20050729

Информация предоставлена базой данных esp@cenet — EP - esp@cenet



В активных окнах этого документа можно получить более подробную информацию о патентном документе, как правило в формате PDF .

Закладка МОЗАИКА позволяет вывести на экран до 6 чертежей.

Прочие функции служат для повышения пользовательского уровня.

ИМО МИФИ П-3 2008 г.1 1 Патентные исследования Патентные...

Documents