Репрограммируемые полупроводниковые запоминающие...

РЕПРОГРАММИРУЕМЫЕ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ЗАПОМИНАЮЩИЕ УСТРОЙСТВА НА ОСНОВЕ МДП-ТРАНЗИСТОРОВ.

Ячейка памяти на основе МДП-транзистора

Типы МДП-транзисторов для репрограммируемых элементов памяти

ox

B

ox

B

ox

ss

ox

oxmsT C

Q

q

kT

C

C

C

qN

C

QV

*

00 22 Пороговое напряжение МДП транзистора

Для изменения величины порогового напряжения необходимо:

а) Изменить легирование подложки NА

б) изменить плотность поверхностнх состояний Nss

в) изменить встроенный в диэлектрик заряд Qox

г) изменить напряжение смещения канал-подложка Vss

Типы МДП-транзисторов для репрограммируемых элементов памяти

МНОП-транзистор

МОП ПТ с плавающим затвором

Характеристики флэш-памяти

Туннельная инжекция Фаулера-Нордгейма.

Инжекция горячих электронов из области канала вблизи стока, обусловленная разогревом электронного газа в сильном электрическом поле в этой области

Инжекция горячих электронов и дырок при межзонном туннелировании.

Режимы записи/стирания в МДП – транзисторах флэш – элементов памяти

Запись за счет ижекции горячих электронов вблизи стока; стирание за счет туннелирования Фаулера – Нордгейма в область истока.

Режимы записи/стирания в МДП – транзисторах флэш – элементов памяти

Запись за счет туннелирования Фаулера – Нордгейма из области канала; Стирание за счет туннелирования в область стока.

Режимы записи/стирания в МДП – транзисторах флэш – элементов памяти

Запись и стирание за счет туннелирования Фаулера – Нордгейма из/в область канала.

Источники.

В.А. Гуртов «Твердотельная электроника»

Спасибо за внимание !