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unterstützt egweisendw
LokalTechnisch
Fortschrittliche XRF-Technik zur präzisen Schichtdickenmessung
Schichtdickenmessung Elementanalyse Badanalyse
Automotive• Cr/Ni/Cu/ABS• Zn/Fe
Leiterplatten
•
• Au/ENi/CuPCB (ENIG,
ENEPIG)
Ag oder Leiterbahnen
aufSn
Leiterplatten Stecker und
• Au/Pd/Ni/Cu Alloys• Au/Ni/NiFe
• ZnFe/Fe• ZnNi/Fe
erkzeugeW • TiCN/WCo• TiAlN/WC
Installation Armaturen
und
• Ni/Cu• Cr/Ni/Cu/Zn
elekommunikationT Datenspeicherung
• NiP/Al
• 10, 14, 18, 22Kt
Elementa enalys• etallsortierungM• Schadstoffe ID
Badanalyse • Galvanikbad
chraubenS
chmuckS
Bowman XRF kiTechneingesetzt gesamten der in iIndustr e
Automotive
erkzeugeW
chraubenS
PCBs, aferW , eiterplattenL
Elementbereich Weiter
Schich dt ickenmessung sBowman XRF T ikechn bietet
Uran Aluminium ndu zwischenBereich präzise Analysen im
104 105 106
72
Po
Mt109
Ds110
Rg111
Cn112
Nh113
Fl114
Mc115
Lv116
H1
Li3
Na11
K19
Rb37
Cs55
Fr87
Be4
Mg12
Ca20
Sr38
Ba56
Ra88
Sc21
Y39
Ti22
Zr40
Hf
Rf
V23
Nb41
Ta73
Db
Cr24
Mo42
W74
Sg
Mn25
Tc43
Re75
Bh107
Fe26
Ru44
Os76
108
Co27
Rh45
Ir77
Ni28
Pd46
Pt78
Cu29
Ag47
Au79
Zn30
Cd48
Hg80
B5
Al 13
Ga31
In49
Tl81
C6
Si14
Ge32
Sn50
Pb82
N7
P15
As33
Sb51
Bi83
O8
S16
Se34
Te52
84
F9
Cl17
Br35
I53
At85
Ts117
He2
Ne10
Ar18
Kr36
Xe54
Rn86
Og118
La57
Ac89
Ce58
Th90
Pr59
Pa91
Nd60
U92
Pm61
Np93
Sm62
Pu94
Eu63
Am95
Gd64
Cm96
Tb65
Bk97
Dy66
Cf98
Ho67
Es99
Er68
Fm100
Tm69
Md101
Yb70
No102
Lu71
Lr103
Hs
,0 02 - 20 Mikrometer -,0 01 30 Mikrometer ,0 0 - 40~60 Mikrometer ,0 01 - 70 Mikrometer
,0 005 - 110 Mikrometer ,0 02 - 10 Mikrometer ,0 005 - 10 Mikrometer Auf Anfrage
Al13
U92
Armaturen
mechanischeHoch temp./präzise
Teile ,Speicherbausteine
Mechanische Verbinder, Stecker,
Beschläge
Schmuck
PCBs, tecker,S Wafer
, etc.
Hochauflösender Detektor Durch klare Linientrennung keine Sekundärfilter notwendig. Hohe Linienstabilität garantiert geringen Versatz über lange Zeiträume. Regelmäßige Rekalibrierung ist nicht notwendig
G Serie L Serie
ptimierteO Geometrie
Sehr kleiner Arbeitsabstand fürbessere Messergebnisse und beste Primärenergieausbeute
P Serie
Bowman bietet unterschiedliche Kammergrößen für nahezu jede Anwendung
State Art the of
Intuitive enutzeroberflächeB • Übersichtliche Darstellung für die Tagesroutine• Erweiterte Funktionalität für Vielnutzer
• Passwortschutz für alle Nutzerebenen• Keine Limitierungen für weitere Kalibrierungen
• Alle Messungen werden automatisch gespeichert• Verschiedene Suchfunktionen (Los #, ANr #, etc.)• Anpassbarer 1-Click Berichtsgenerator• Datenexport als PDF, CSV, etc.• Standardmäßig komplette Software
Wartungsfreundliche Konstruktion Modularer Aufbau für schnelle
Verfügbarkeit maximaler beiWartung und Reparatur
Reparatur und Wartung bei
maximaleVerfügbarkeit
Ergonomischer Arbeitsplatz • Fronttasten für Grundfunktionen
• Geringer Platzbedarf• iedrigesN• Nur ein USB Anschluß notwendig
reiFfür den schnellen Applikations- wechsel
Funktionstasten belegbare
Applikationserstellung über Assistenten
Symbolgestützte Funktionsauswahl
Ergebnisdarstellung farbig & übersichtlich
erichtB
Bildern aufgenommenen und
Statistik mit
Gewicht
XRF Design
Zukunftsweisende Dünnfilmmessung mit µ-Spot Polykapillaroptik
Kurze Messzeiten und hohe Messgüte durch innovative Röntgenfluoreszenz mit Kapillaroptik für einen kleinen Messfleck mit hoher Intensität in Verbindung mit einem hochauflösenden Silikondriftdetektor
• Polykapillaroptiken
gegenüber kollimierten Systemen erreichen etwa die 100-fache Intensität
• Kleine Bereiche können mit hoher Genauigkeit schnellwerden gemessen
• Speziell für ENIG, ENEPIG und elektroloses Nickel inkl. BestimmungP-Gehaltes des
Röntgenoptik der Vorteile
µm Au µm Pd µm Ni µm NiP %P
MiW ,0 0427 ,0 08 ,3 71 ,10 2015 ,10 17
AbwStd ,0 00045 ,0 0009 ,0 00985 ,0 1089 ,0 29
Bereich 0,0015 ,0 003 ,0 0395 ,0 3863 ,0 99
%RSD ,1 053% ,1 121% ,0 265% ,1 067% ,2 85%
D3 Rastern kontinuierlichem auf basierend Konturkarte
x2Vergrößerung mittels Dualkamera Umschaltung per Mausklick
250x auf ikrobildM akrobildM
Konfigurationen für unterschiedlichste
Applikationen G SERIE old-G Schmuckanalyse und
B SERIE Galvanischer Korrosionsschutz für Schrauben und Befestigungsmaterial P SERIE eschichtungenB Schmuckbeschichtungen und Gold- Metall-, Halbleiter, Bauteile, elektronischer
O SERIE ,albleiterH Bauteile elektronische und rWafe
M SERIE Halbleiter, Wafer und elektronische Bauteile mit kleinen Strukturen L SERIE Galvansicher Korrosionsschutz auf großen Teilen, Schrauben und Armaturen
WnterhalbU
W W/Mo/RhberhalbO
Mo/RhberhalbO
Mo/Rh berhalbO berhalbO
W/Mo/RhRöntgenröhreMikrofokusanode Röhrenposition berhalbO
kDete tor Standard Standard Standard N/A N/A StandardSi PIN Detektor
Si Drift Detektor Optional Optional Optional Standard Standard Optional
Primärstrahl inzelkollimatorEulitikollimatorM
Standard Standard N/A N/A N/A N/A
apillaroptikK N/A Optional Standard N/A N/A N/A
FWHM N/A N/A N/A µ80 m µ15 m Optional
Standard Standard Standard Standard Standard StandardStandard Standard N/A Standard Standard N/A
Fokusabstand Fokuslaser Fester Fokus Mulitivariabler Fokus N/A Optional Standard N/A N/A Standard
Standard Standard Standard N/A N/A StandardN/A Optional Optional Standard N/A Optional
Video Vergrößerung 20x 50x 250x Dualkamera N/A N/A N/A Optional Standard Optional
anuellM otorischM321
otorischM321
otorischM321
otorischM321
N/A N/A estF .rogramm P Programm. Programm. Programm. N/A N/A 27x1521
127x152
254x254 165x165
N/A N/A 54x2542 N/A N/AN/A N/A 10µm 10µm 2,54µm 10µm
Tisch- & Probenkammergröße Z Bewegung Z Hub mm Fester Tisch Programmierbarer XY Tisch Programmierbarer XY Tisch erweitert Positioniergenauigkeit Größe Probenkammer HBT mm 27x381x3051 40x305x3301 140x305x330 140x305x330 37x304x3301 280x550x600
ewichtG
G Serie B Serie P Serie O Serie M Serie L Serie
25Kg 34kg 52-70kg 52-70kg 70kg 110kg
otorischM542
254x254
Alle Weiterentwicklung der unterliegen Spezifikationen genannten
Technisch wegweisend Lokal unterstützt
XRF Systeme • kaleLo Unterstützung , eltweitW • Standards • ISO/IEC 17025 akredit iertes orLab
Bowman ist ein weltweit agierender Hersteller präziser XRF Beschichtungsmesssysteme mit einem großen lokalen Servicenetz, das die Kunden nahezu überall betreut.
nsereU Ihres Lebenszyklus des Phase jeder in Sie es, ist Mission Systems zu unterstützen - von der Systemauswahl, Inbetriebnahme und Wartung bis zur Modernisierung.
Bowmans Service Partner bieten einen umfassenden Service an. Sie unterstützen bei der Applikationsentwicklung und Rationalisierung von Messprozessen, um die benötigten qualitativen und quantitativen Ergebnisse schnellstmöglich zu erhalten.
1985 1987 1988 1990 1993 1995 2002 2009 2012 2014 2017
erbesserteV
WiderstandssondenMikro patentierten mit
Im-Loch-Messungen ntwickelteE
XRF Messgerät mit geschlitzter Kammer mit einem Proportionalzählrohr als Detektor
eerst das Erstmalige Einführung des Laserfokussystems
erbesserungV
nduder Stabilität
Röntgenröhren Mikrofokus der Lebenszeit der
Erweiterung RFX
Produktes: neuen eines orstellungV
Bowman
Detektor Drift Silikon mit Polykapillaroptik
International CMI der
Gründung
arbeitet Wirbelstrom mit das
sIm-Loch-Messystem handgehaltenen
ersten des inführungE Erstes Instrument mit Stand-Alone-Desktop- Computer
Parameter undamentalF
(FP)asiertesb
messsystemSchichtdicken-
roduktvorstellung:P Bowman XRF itm Si PIN etektorD
NPI Award: Bowman
olykapillaroptikP XRF
Messfleckenfür kleinere
jedes einzelnen unserer Kunden individuell zugeschnitten sind. Unser Ehrgeiz: wir liefern Lösungen, die auf die Qualitätsanforderungen
© Copyright 2017 Bowman
asD Bowman Team: 30 ahreJ Geschichte, Innovation und
Anerkennung bei den Kunden
ANABCertificate #L2213
Tel.: 0049 9323 8768 460 www.schichtdickenmessung.de
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