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雷サージ 試験法ガイドブック IEC 規格版 2014 IEC 61000-4-5 Ed.3 に準じる

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雷サージ試験法ガイドブック

IEC規格版 2014

IEC 61000-4-5 Ed.3に準じる

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IEC 61000-4-5 ― 目次 -

1

1. 目的編.............................................................................................................................................................. 3

1.1. IEC 61000-4-5 の位置づけと意義............................................................................................... 4

1.2. 手順書の読み方・注意点..................................................................................................................... 4

1.3. 各編の内容とフローチャート............................................................................................................ 4

1.3.1. 各編の内容について .................................................................................................................... 4

1.3.2. 手順書の読み進めフローチャート........................................................................................... 5

2. 試験室の準備編............................................................................................................................................. 7

2.1. 試験室の準備編のフローチャート ................................................................................................... 8

2.2. 試験室の準備.......................................................................................................................................... 8

2.2.1. 試験室に必要な条件 .................................................................................................................... 8

2.2.2. 気象条件等の環境......................................................................................................................... 9

2.3. 試験前の準備....................................................................................................................................... 10

2.3.1. 試験前に用意するもの............................................................................................................. 10

2.3.2. 試験機器の配置と配線............................................................................................................. 15

2.4. 屋外からの非シールド対称通信線のサージ試験....................................................................... 16

2.4.1. 試験前に用意するもの............................................................................................................. 16

3. 試験方法編................................................................................................................................................... 17

3.1. 試験方法編のフローチャート......................................................................................................... 18

3.2. 共通準備事項(配置・配線等)..................................................................................................... 19

3.2.1. 供試装置の配置と配線............................................................................................................. 19

3.2.2. 供試装置の状態.......................................................................................................................... 23

3.3. 試験方法 ............................................................................................................................................... 24

3.3.1. 電源線に対して試験を行う場合............................................................................................ 24

3.3.2. 相互接続線に対して試験を行う場合 ................................................................................... 25

3.3.3. 屋外からの非シールド対称信号線に対して試験を行う場合......................................... 29

4. 試験結果のまとめ編 ................................................................................................................................. 31

4.1. 試験報告書に必要な情報.................................................................................................................. 32

4.1.1. 試験報告書の管理...................................................................................................................... 32

4.1.2. 試験環境....................................................................................................................................... 32

4.1.3. 供試装置・試験装置 ................................................................................................................. 32

4.1.4. 試験方法・試験結果 ................................................................................................................. 33

4.1.5. その他........................................................................................................................................... 34

5. 規格参考資料編.......................................................................................................................................... 35

5.1. 判定基準 ............................................................................................................................................... 38

5.1.1. EN61000-6 ............................................................................................................................. 38

5.1.2. CISPR24.................................................................................................................................... 39

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IEC 61000-4-5 ― 目次 -

2

5.2. 記述例.................................................................................................................................................... 40

5.3. 規格制定の経緯................................................................................................................................... 47

5.4. IEC 以外の試験法 .............................................................................................................................. 47

5.4.1. JEC 規格 ..................................................................................................................................... 47

5.4.2. ITU-T 規格.................................................................................................................................. 47

5.5. 雷現象に関する各種情報.................................................................................................................. 48

5.5.1. 雷発生の原理.............................................................................................................................. 48

5.5.2. 雷サージの被害.......................................................................................................................... 48

5.6. 参考文献 ............................................................................................................................................... 49

5.7. ノイズ研究所対応製品型式一覧..................................................................................................... 50

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1. 目的編

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4

11.1. IEC 61000-4-5 の位置づけと意義

本ガイドブックには、誘導によりサージが電源線・通信線等に侵入して電子機器が誤動作を

起こす模擬試験を IEC 61000-4-5 Ed3.0:2014 に基づいて行う際の具体的な方法が詳細

に記述されています。

ここで規定するサージとは、主に落雷により発生する誘導雷サージとなります。直撃雷はこ

の規格の範囲外です。

IEC 61000-4-5 は、この現象による誤動作を模擬するためのイミュニティ試験の基本規格

であり、ヨーロッパのみならず世界各国はこの基本規格を国内規格に取り入れて規制してい

ます。

1.2. 手順書の読み方・注意点

この手順書は、“3. 試験方法編”までは、基本的にフローチャート形式となっています。(本

手順書では、読み進めやすいように各編、目次と共にフローチャートを記載してあります。)

関係ある場所を探して読み進めて下さい。例えば、試験室又は試験サイトが既に準備されて

いる場合は、“2 編 試験室の準備編”を飛ばして“3 編 試験方法編”へというように、

目的に応じて読み進めてください。

1.3. 各編の内容とフローチャート

この手順書は以下の 5 編から構成されています。必要に応じて、この編の最後のフローチ

ャートを参考にして読み進めてください。

1.3.1. 各編の内容について

第1編 目的編

現在お読み頂いているこの編になります。試験の目的、読み進め方、各編の概要を記載し

ています。

第2編 試験室の準備編

試験をする上で必要となる環境や備品等について解説しています。

第3編 試験方法編

実際に試験を行う場合、どのように試験を行うのか等の試験方法について記載しています。

第4編 試験結果のまとめ編

試験を行った結果のまとめ方や、試験報告書の書き方について記載しています。

第5編 規格参考資料編

規格の参考資料などを記載しています。

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1.3.2. 手順書の読み進めフローチャート

このガイドブックの構成は以下のフローチャートのようになっています。

本サージイミュニティ試験を行う段階ごとに細分化してあります。

必要に応じて読み進めてください。

目的編 P.3

試験室の準備 P.8

試験前の準備 P.10

(供試装置をのぞく)

試験室の準備編へ

P.7

共通準備(配置・配線等)P.19

(供試装置の準備)

試験方法編へ

P.17

試験方法 P.24

試験結果のまとめ編 P.31

規格参考資料編 P.35

図 1 手順書の読み進めフローチャート

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2. 試験室の準備編

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供試品

絶縁トランス

ACPE

雷サージ試験器

IEC 61000-4-5 - 2. 試験室の準備編 -

8

22.1. 試験室の準備編のフローチャート

IEC 61000-4-5 に準じた試験を行うために必要な環境や装置等を、以下のフローチャート

に沿って準備して下さい。

2.2. 試験室の準備

IEC 61000-4-5 に準じた試験を行うために必要な試験室の広さ、気温等の環境条件を以下

に示します。

2.2.1. 試験室に必要な条件

IEC 61000-4-5 に準じた試験を行うために特に必要な試験室の広さの規定はありません。

ただし、試験を行うにあたり、試験機器からは高電圧が発生するので、安全なスペースを

確保して下さい。

※ シールド接続線の試験以外ではグランドプレーンは不要です。

図 3 試験時のイメージ

試験室の準備編 スタート

試験室の準備 P.8

(試験室に必要な条件) P.8

(気象条件などの環境) P.9

試験前の準備 P. 10

(試験前に用意するもの) P.10

(接地ケーブルの接続) P. 15

試験室の準備編

終了

図 2 試験室の準備のフローチャート

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2.2.2. 気象条件等の環境

気象環境の異なる場所より持ち込まれた機器は試験環境に十分になじませてから試験を行

う必要があります。又、試験結果を定量的に安定させるために、まず試験室の気象条件を

整える必要があります。

IEC 61000-4-5 では、下記の表1に示す条件を記載しています。その条件を満たせないよ

うな場合は、以下の(1)~(3)を参考にして、エアコン等の利用により条件を満たすよう環境

を調整して下さい。

(1) 温度の調整

周囲温度

相対湿度

気圧

共通規格、製品群規格、製品規格に従う

特別な規定がなければ、供試装置の製品仕様に従う

電磁環境 試験結果に影響を与えないレベル

表 1

温度については比較的簡単に調整できると思われます(空調機その他を利用して温度が高

ければ冷房し、低ければ暖房するというように)。しかし、試験中は温度の要求範囲を外れ

ないように監視する必要があります。通常、試験作業者に快適であればおおむね要求範囲

内の温度となっていると考えられます。

(2) 湿度の調整

湿度の調整管理については少々厄介です。低ければ加湿し、高ければ除湿するのですが、

冷暖房のように短時間でコントロールできません。場合により一日中加湿器・除湿器を運

転しなければならない状況になる事もあります。

(3) 気圧の調整

気圧の調整は、大掛かりで特別な装置を用いれば可能ですが、一般的には不可能です。

しかし、日本の記録で最も低い気圧は、1934 年の室戸台風の 91.16 kPa となっており、

この値をもってしても一般的な要求範囲を外れる事はないと考えられます。

但し、気象条件は記録する必要があるので、計測器を準備します。

なお、計測器なしで気象台からの情報を利用する事もできますが、気象台は 0 m 気圧で発

表している為、高度補正が必要となります。(100 m 高くなる毎に 1.2 kPa マイナス補正

します)

kPa は規格文章に書かれた単位系で、101.3 kPa=1013 hPa(mbar)となります。

海抜1000 m高地の気圧は標準気圧101.3 kPa(0 m)のときに89.3 kPaとなります。

解説

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22.3. 試験前の準備

IEC 61000-4-5 に準じたサージイミュニティ試験を行う場合に必要な試験器等の準備を

します。以下を用意して下さい。

2.3.1. 試験前に用意するもの

(1) 雷サージイミュニティ試験器

サージイミュニティ試験を行う場合、以下の表 2の仕様を満たす発生器を使用して下さい。

1.2/50 μsコンビネーション波形発生器(電圧波形:1.2/50 μs、電流波形:8/20 μs)

開放回路出力電圧 0.5~4.0 kV(注)

サージ電圧の波形 規格資料の付図 1を参照

開放回路出力電圧の許容差 ±10 %

短絡回路出力電流 0.25 kA~2.0 kA

サージ電流の波形 規格資料の付図 2を参照

短絡回路出力電流の許容差 ±10 %

実効出力インピーダンス 2 Ω

負/正 性極

位相シフト ACラインの位相角に対して0°~360°±10°

繰り返し率 最低1回/min

表 2

各波形における電圧レベルは、開放回路出力電圧で規定されています。よって供試装置

に試験レベルで要求されている電圧がかかるわけではありません。実際にかかる電圧は

供試装置のインピーダンス、絶縁破壊保護回路が動作する場合の電流値によって変わっ

てきます。

1.2/50 μs の電圧サージ(開回路条件)及び 8/20 μs の電流サージ(短絡回路条件)を発生

する回路。便宜上、サージ発生器の実効出力インピーダンスは開回路でのピーク出力電圧

と短絡時のピーク電流の比を計算して 2 Ωとなります。

このような 1.2/50μs 開回路電圧波形と 8/20 μs 短絡回路電流波形をひとつの回路で発

生する発生器を、コンビネーション波形発生器といいます。

コンビネーション波形とは

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IEC 61000-4-5 - 2. 試験室の準備編 -

11

当社製品についてはお問い合わせください。

お薦め

IEC61000-4-5 で規定されている実効出力インピーダンス条件は以下の様になっています。

出力 波形 制限

抵抗

カップリング 実効出力インピーダンス

サージ出力 1.2/50

コンビネーション- 18 μF 2 Ω

- 10 Ω+9 μF 12 Ω AC/DC

1.2/50

コンビネーション - 18 μF 2 Ω

表 3

実効出力インピーダンス条件

通常、出力インピーダンスは、瞬時の出力電圧を出力電流で割った値ですが、高電圧サー

ジはその測定が困難なことから、別々に測定した開放出力電圧を短絡出力電流で割ったイ

ンピーダンスの値と定義しています。

実効出力インピーダンスとは

図 2 LSS-F03 series

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IEC 61000-4-5 - 2. 試験室の準備編 -

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(2) 結合/減結合回路(CDN)

サージイミュニティ試験を行う場合、以下のような結合/減結合回路を使用します。

本手順書では、雷サージイミュニティ試験器にこの機能が内蔵されているものとして詳細

な説明は割愛します。詳細については、規格や専門書を参照して下さい。

(a) 交流/直流電源供給回路の結合/減結合回路網

電源回路の容量結合時に使用します。結合コンデンサに 9 μF+10 Ω又は 18 μF

を使用し、減結合回路に最大 1.5 mH のインダクタンスのコイルを使用します。

(b) 相互接続線の結合/減結合回路網

相互接続線(シールド線以外)には対称接続線および非対称接続線用があり、どれを選択

するかは製品規格または製品仕様に従います。結合には以下のような方法があります。

1)コンデンサ結合

2)アレスタによる結合

3)クランプ(ダイオード等)による結合

(3) 絶縁トランス

• AC 電源を供給する場合、必ず絶縁トランスを AC 供給電源と雷サージイミュニティ試験

器の間に接続する必要があります。(配電盤などから直接 AC 電源を供給すると試験機

器の漏洩電流の影響により AC ライン供給電源に設置されている漏電遮断器が動作する

事があります。)

• 絶縁トランスの耐圧は、印加するサージ電圧の漏洩電圧により決定します。

(IEC 61000-4-5 では印加サージ電圧の 15%以下に規定しています。)

(4) 基準グラウンド面シールド線に対する試験を行う場合にのみ必要となります。

規格には、材質や厚さ等の規定はありませんが、他の IEC 61000-4 シリーズの規格と同

じ物を使用するのが効率的です。以下に IEC 61000-4 シリーズで使用される基準グラウ

ンド面の仕様を記載します。

• 基準グラウンド面とは、厚さ 0.25 mm 以上の板で、材質が銅、又はアルミニウムの

ものです。

• 上記以外の金属の場合は、板の厚さを最低 0.65 mm にする必要があります。

• 基準グラウンド面は保護接地システム参照に接続する必要があります。

図 3 基準グラウンドの設置例

電気機器の故障や絶縁低下等を原因とし

た、漏電による感電を防止するために電

力供給ケーブルとは分離して設けられて

いる接地ケーブルの事をいいます。

保護接地システムについて

供試装置

基準グラウンド面

保護設置システムに接続

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IEC 61000-4-5 - 2. 試験室の準備編 -

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(5) 絶縁支持台、又は非導電性の机

シールドケーブルに試験を行う場合のみ、絶縁支持台を用意します。

供試装置の筐体が絶縁キャスターなどで 20 mm 以上接地面から絶縁されている場合、絶

縁支持台は不要です。(規格書の規定にはありません。)

卓上型の装置は、設置の都合上において非導電性の机を用意したほうが良いと判断できる

場合には、非導電性の机の使用ができます。(以下のチャートを参照)

① 絶縁支持台への配置例

図 5 絶縁支持台への配置例

シールドケーブルに対して試験を行う

卓上型の供試装置

①絶縁支持台+

基準グラウンドプレーン

②非導電性の机

床に供試装置を配置します

yes

no

yes

no

図 4 シールドケーブルへの試験チャート

絶縁支持台 絶縁支持台

供試装置1

供試装置2

基準グラウンド面

シールドケーブル

絶縁トランス

絶縁トランス

製品仕様または最長20m以下

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IEC 61000-4-5 - 2. 試験室の準備編 -

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• シールドケーブルに試験を行う場合のみ、絶縁支持台を用意します。

• 基準グラウンド面上に配置します。供試装置の筐体が基準グラウンド面に直接触れて、

意図した回路以外の回路が形成されなければ、厚さ、大きさや材質等の規定はありませ

ん。(印加電圧に耐える必要があります。)

② 非導電性のテーブルへの配置例

• 卓上型の装置のような場合、設置の都合上において机を用意したほうが良いと判断でき

る場合は、非導電性の机の使用ができます。(規格書の規定にはありません。)

図 6 非導電性のテーブルへの配置例

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PE端子

供試品用電源線CDN

供試品L

N

PE

EUT用電源

絶縁トランス

試験器

試験器本体用電源

ININ PE端子OUT

IEC 61000-4-5 - 2. 試験室の準備編 -

15

2.3.2. 試験機器の配置と配線

(1) 接地ケーブルの接続

• 供試装置に保護接地がある場合は、保護接地システムに確実に接続します。

• 製造業者の設置仕様に従い、接地システムに接続します。追加の接地接続は使用しては

いけません。

• 基準グラウンド面は、保護接地システムに接続します。

(2) 商用電源の接続方法について

日本では、AC100 V/200 V が接地線なしの 2 線で供給されていて、しかも供試装置に

FG 端子がある場合と無い場合があります。この場合には、製品をどのような電源環境で使

用するかを想定し、その想定される FG のとり方の全てについて試験を行うのが最良です。

IEC 61000-4-5 Ed.3 より、供試装置に PE または FG 端子が無い場合、電源線のライン

-PE 線間に印加する試験は行なわないことが明記されました。

(3) 試験器の配置

図 7 試験器の接続例

• 絶縁トランス、試験器とも確実にアースに接続する。

• 絶縁トランスを通して、供試装置用電源を接続する。

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減結合回路網

L

AEポート(補助器側)

EUTポート(供試品側)

結合回路網

一時保護装置

コンビネーション波形発生装置

CD CD

IEC 61000-4-5 - 2. 試験室の準備編 -

16

2.4. 屋外からの非シールド対称通信線のサージ試験

通信線専用のサージ試験波形である10/700 μsコンビネーション波形は、第3版の改訂よ

り、Annex A(Normative)に独立させたため、目的と試験内容が明確になりました。

このサージ波形は、屋外から室内に入り込む通信線を対象にしているため、冒頭に「300 m

以上屋外を通っている電話回線」であることが明記されました。通常の電話回線は、建物

の入口で一次保護がされており、試験においても、一次保護を含んだ状態で試験を実施し

ます。

以下に前述の1.2/50 μsコンビネーション波形と異なる点に関して記載をいたします。

2.4.1. 試験前に用意するもの

(1) 雷サージイミュニティ試験器

サージイミュニティ試験を行う場合、以下の表 24 の仕様を満たす発生器を使用して

下さい。

10/700 μs コンビネーション波形発生器(電圧波形:10/700μs、電流波形:5/320μs)

開放回路出力電圧 0.5~4.0 kV(注)

サージ電圧の波形 規格資料の付図 3 を参照

開放回路出力電圧の許容差 ±10 %

短絡回路出力電流 12.5 A~100 A

サージ電流の波形 規格資料の付図 4を参照

短絡回路出力電流の許容差 ±10 %

負/正 性極

nim/回1低最 率し返り繰

実効出力インピーダンス 40 Ω

表 4

(2) 非シールド、対称通信線用結合/減結合回路(CDN)

図 10 に示す、一時保護を含む専用 CDN を用意します。

屋外からの通信線の場合、通常は2線(一対)となります。

図 8 非シールド、対称通信線用結合/減結合回路(CDN)

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IEC 61000-4-5 - 3. 試験方法編 -

17

3. 試験方法編

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IEC 61000-4-5 - 3. 試験方法編 -

18

33.1. 試験方法編のフローチャート

IEC 61000-4-5 の試験は、電源に対して試験を行うか相互接続線(通信線等)に対して試

験を行うか、更に相互接続線の場合は、ケーブルの種類によって試験方法が異なります。

以下のフローチャートに従って試験を行って下さい。

試験を行うにあたり、試験の目的に応じて、その内容が異なります。

下記のフローチャートに従って、目的に合った試験を行って下さい。

試験方法編

スタート

共通準備事項 P19

電源線に対して試験を行う場合 P.19

相互接続線に対して試験を行う場合 非シールド 非対称 P.21

対称 P.21

シールド付 P.23

屋外からの非シールド対称信号 P.29

300 m 以上の非シールド対称相互接続線(電話回線)

供試装置の状態 P.23

試験方法 P.24

試験方法編

終了

供試装置の配置と配線 P.19

図 9 試験方法のフローチャート

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EUTポート(供試品側)

減結合回路網C=9μF

R=10Ω

結合回路網

AC/DC電源回路網

L

N

PE

1.2/50μsコンビネーション波形発生装置

減結合回路網C=18μF

結合回路網

AC/DC電源回路網

EUTポート(供試品側)

L

N

PE

1.2/50μsコンビネーション波形発生装置

IEC 61000-4-5 - 3. 試験方法編 -

19

3.2. 共通準備事項(配置・配線等)

サージイミュニティ試験を行う場合に、共通して必要となる準備事項を以下に記述します。

3.2.1. 供試装置の配置と配線

(1) 電源に対して試験を行う場合

(a) 機器の配置

• 特に規定はありませんが、写真などを利用して配置を記録しておく必要があります。

(b) 配線

• 供試装置と雷サージイミュニティ試験器間のケーブル長が 2m 以下になるようにします。

• 下図の回路図を参考に、雷サージイミュニティ試験器の設定を行って下さい。

図 10 ライン-ライン間結合の例

図 11 ライン-グラウンド間結合の例

Page 22: 雷サージ 試験法ガイドブックIEC 61000-4-5 ― 1. 目的編 - 4 1.1.IEC 61000-4-5の位置づけと意義 本ガイドブックには、誘導によりサージが電源線・通信線等に侵入して電子機器が誤動作を

IEC 61000-4-5 - 3. 試験方法編 -

20

図 12 ライン L3-ライン L2 間結合の例(三相電源)

EUTポート(供試品側)

S1

1234

S2 1

2 3 4

減結合回路網

C=18μF

結合回路網

AC電源回路網

L1

L2

L3

N

PE

1.2/50μsコンビネーション波形発生装置

図 13 ライン L3-グラウンド間結合の例(三相電源)

EUTポート(供試品側)

R=10Ω

結合回路網

減結合回路網

C=9μF

AC電源回路網

L1

L2

L3

N

PE

S2 1

2 3 4

1.2/50μsコンビネーション波形発生装置

Page 23: 雷サージ 試験法ガイドブックIEC 61000-4-5 ― 1. 目的編 - 4 1.1.IEC 61000-4-5の位置づけと意義 本ガイドブックには、誘導によりサージが電源線・通信線等に侵入して電子機器が誤動作を

S2 1

2 3 4

EUTポート(供試品側)

10

23

4

減結合回路網

L

結合回路網

AEポート(補助器側)

R=40Ω

CD

1.2/50μsコンビネーション波形発生装置

IEC 61000-4-5 - 3. 試験方法編 -

21

(2) 非シールド非対称相互接続線に対して試験を行う場合

(a) 機器の配置

• 特に規定はありませんが、配置を記録しておく必要があります。

(b) 配線

• 供試装置と雷サージイミュニティ試験器間のケーブル長が 2 m 以下になるようにします。

• 下図の回路図を参考に、雷サージイミュニティ試験器の設定を行って下さい。

図 14 ライン‐ライン間/ライン‐グラウンド間結合の例

(3) 非シールド対称相互接続線に対して試験を行う場合

(a) 機器の配置

• 特に規定はありませんが、配置を記録しておく必要があります。

(b) 配線

• 供試装置と雷サージイミュニティ試験器間のケーブル長が 2 m 以下になるようにします。

• LAN などを対象とした 1000 Mbit/s までの高速通信を行う場合は図 16 の高速通信線

用 CDN を用います。

• 次ページの回路図を参考に、雷サージイミュニティ試験器の設定を行って下さい。

V

0 V

出力

基準

非対称相互接続線とは、左図の様に 1 線(0 V)

を基準に、電圧が変動し信号が伝達される方式の

ものです。代表的な例としては、RS-232 等です。

非対称相互接続線

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RD

EUTポート(供試品側)

L1A

L1BL2

L2

L3B

L3A

C1B

C1A

C2B

RA RB

C2A

RC

減結合回路網 結合回路網

1.2/50μsコンビネーション波形発生装置

IEC 61000-4-5 - 3. 試験方法編 -

22

V

-V

出力

図 15 ライン‐グラウンド間結合の例

図 16 高速通信線用 CDN を用いたライン‐グラウンド間結合の例

対称相互接続線について 対称相互接続線とは、左図の様に一線に対して

逆相となる様に、電圧が変動し信号が伝達され

るような方式のものです。代表的な例としては、

電話線,RS-488,LAN などです。

減結合回路網

L

AEポート(補助器側)

EUTポート(供試品側)

結合回路網

CD CD CD CD

1.2/50μsコンビネーション波形発生装置

AEポート(補助器側)

Page 25: 雷サージ 試験法ガイドブックIEC 61000-4-5 ― 1. 目的編 - 4 1.1.IEC 61000-4-5の位置づけと意義 本ガイドブックには、誘導によりサージが電源線・通信線等に侵入して電子機器が誤動作を

保安用絶縁トランス

試験発生器

L

NPE

L

NPE

保安用絶縁トランス

供試品補助器 L=20mが望ましい

絶縁支持台 基準グラウンド

IEC 61000-4-5 - 3. 試験方法編 -

23

(4) シールド付相互接続線の試験を行う場合

(a) 機器の配置

• 供試装置から基準グラウンド面の間で形成される回路は1つになるように供試装置と基

準グラウンド面の間に絶縁支持台を用意します(P.13 絶縁支持台、又は非導電性の机

を参照)。

• 保安用の絶縁トランスを用意します。

• 配置を記録しておく必要があります。

(b) 配線

• 供試装置と雷サージイミュニティ試験器間のケーブル長が 2 m 以下になるようにします。

• 下図の回路図を参考に、雷サージイミュニティ試験器の設定を行って下さい。

• ケーブルの長さは供試装置の仕様が許す最長の長さにします。ただし、長さが 20 m を

超える場合は 20 m とします。また、ケーブルの長さが 20 m を超える場合、非誘導的

に束ねます。

図 17 シールド付相互接続線の結合の例

3.2.2. 供試装置の状態

供試装置は動作している状態にセットアップします。

各動作モードでそれぞれ試験を行う必要があるので、外部機器・補助機器等を接続します。

補助機器の電源も接続します。

(機能上必要なもの、例えばキーボード等はセットした状態にします。)

外部機器・補助機器等の電源は、商用電源を利用可能です。但し、外部機器、補助機器の電

源を通してサージエネルギーが商用電源に廻る可能性がありますので、絶縁トランスを経

由して電源に接続して下さい。

供試装置が有する全ての標準的動作モードを実行するように、テストプログラムやソフト

ウェアを選定する必要があります。供試装置の動作モードが、試験の為により広範囲を実

行している事を証明できる場合には、特別に作成したソフトウェアを利用する事もできま

す。

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IEC 61000-4-5 - 3. 試験方法編 -

24

33.3. 試験方法

実際に試験を実行する場合の設定および機器の設置例を目的ごとに説明します。

3.3.1. 電源線に対して試験を行う場合

• 試験は試験計画に従って実施します。

• 3.2共通準備事項(配置・配線等)を参考に、配置・配線して下さい。

• 波形を設定します。電源に対しての試験の場合は 1.2/50 μs コンビネーションウェー

ブです。

• 試験電圧を設定します。

試験電圧は、まず試験レベル 1 を実施して、レベル 2、レベル 3 という順序で

目的とする試験レベルまで行います。

• 以下、①~⑤の操作を繰り返し、試験を行います。

①� カップリングの方法を確認します。コモンモード(ライン-グラウンド間)の場合

は 10 Ω+9 μF、ノーマルモード(ライン-ライン間)の場合は 18 μF です。

②� 注入相とリターン相の設定をします。L,N,PE すべての組合せを実施します。

(PE の無い EUT は PE 線に対する試験は行いません)

③� +極性と-極性をそれぞれ 5 回ずつ行います。

④� 位相角の設定をします。印加するラインの電源位相に応じて、0°、90°、180°、

270°で重畳します。

⑤� 繰り返し間隔は、1 分間に 1 回またはそれより短い間隔で繰り返しサージを印加

します。

図 18 電源線に対する試験の試験設置の例

木製テーブル

供試品サージ出力

ラインアウト

絶縁トランス

ACPE

雷サージ試験器

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PE端子

供試品用電源

供試品用電源

絶縁トランス

電源用重畳部

供試品

試験器

試験器本体用電源

ININ PE端子OUT

IEC 61000-4-5 - 3. 試験方法編 -

25

図 19 電源線に対しての試験の試験の接続例

3.3.2. 相互接続線に対して試験を行う場合

(1) 非シールド非対称相互接続線に対して試験を行う場合

• 試験は試験計画に従って実施します。

• 対称相互接続線に用いる CDN は非シールド対称相互接続線用 CDN を用いてください。

• 3.2共通準備事項(配置・配線等)を参考に、配置・配線して下さい。

• 波形を設定します。相互接続線に対しての試験の場合は 1.2/50 μs コンビネーション

ウェーブです。

• 試験電圧を設定します。

試験電圧は、まず試験レベル 1 を実施して、レベル 2、レベル 3 という順序で

目的とする試験レベルまで行います。

• 以下、①~④の操作を繰り返し、試験を行います。

① カップリングの方法(コモンモードまたはノーマルモード)を確認します。

② 注入相とリターン相の設定をします。

③ +極性と-極性をそれぞれ 5 回ずつ行います。

④ 繰り返し間隔は、1 分間に 1 回またはそれより短い間隔で繰り返しサージを印加し

ます。

供試装置に装着している保護素子は発熱するため、繰

り返しの速いサージは仕様を確認することが必要で

す。

繰り返し回数について

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PE

PE端子

供試品用電源

絶縁トランス

サージ発生部

相互接続線用重畳部

相互接続線用DC電源

供試品

補助器

試験器

試験器本体用電源

OUT PE端子IN

サージ出力

ラインアウト

木製テーブル

雷サージ試験器

テレコムラインアウト

供試品用電源へ

供試品

補助器

信号線用CDN

供試品との通信ケーブル(例:RS-232Cなど)

供試体との通信ケーブル(例:RS-232Cなど)

絶縁トランス

IEC 61000-4-5 - 3. 試験方法編 -

26

図 20 非シールド非対象相互接続線の試験設置の例

図 21 非シールド非対象相互接続線の試験の接続例

(2) 非シールド対称相互接続線に対して試験を行う場合

• 試験は試験計画に従って実施します。

• 対称相互接続線に用いる CDN は試験器本体に内蔵されているテレコムインジェクショ

ン部、または高速通信線用 CDN を用いてください。

• 3.2共通準備事項(配置・配線等)を参考に、配置・配線して下さい。

• 波形を設定します。相互接続線に対しての試験の場合は 1.2/50 μs コンビネーション

ウェーブです。

• 試験電圧を設定します。

試験電圧は、まず試験レベル 1 を実施して、レベル 2、レベル 3 という順序で

目的とする試験レベルまで行います。

• 以下、①~②の操作を繰り返し、試験を行います。

① +極性と-極性をそれぞれ 5 回ずつ行います。

② 繰り返し間隔は、1 分間に 1 回またはそれより短い間隔で繰り返しサージを印加し

ます。

Page 29: 雷サージ 試験法ガイドブックIEC 61000-4-5 ― 1. 目的編 - 4 1.1.IEC 61000-4-5の位置づけと意義 本ガイドブックには、誘導によりサージが電源線・通信線等に侵入して電子機器が誤動作を

電話交換機シミュレータ

サージ出力

高速通信線用CDN

絶縁トランス

木製テーブル

PEケーブル

雷サージ試験器

供試品

供試品用電源

木製テーブル

PEケーブル

サージ出力

絶縁トランス

雷サージ試験器

テレコムラインアウト

供試品

供試品用電源

電話交換機シミュレータ

IEC 61000-4-5 - 3. 試験方法編 -

27

図 22 非シールド対称相互接続線の試験配置の例

図 23 非シールド対称高速相互接続線の試験配置の例

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絶縁トランス

絶縁トランス

グラウンドプレーン

絶縁支持台

試験器サージ出力のCOM側をグラウンドに接続し、試験器の FGとグランドプレーンを接続する。

試験器サージ出力のHOT側を信号線のシールドと導通する筐体に接続する。

補助器の FGはグランドプレーンに接続する。

サージ出力雷サージ試験器

供試品用電源へ

補助機器

供試品

補助器信号線(20mが望ましい)

(無誘導となるように束ねる)

信号線(20mが望ましい)

(無誘導となるように束ねる)

信号線(20mが望ましい)

(無誘導となるように束ねる)

IEC 61000-4-5 - 3. 試験方法編 -

28

図 24 非シールド対象相互接続線の試験の接続例

(3) シールド接続線に対して試験を行う場合

• 試験は試験計画に従って実施します。

• 3.2共通準備事項(配置・配線等)を参考に、配置・配線して下さい。

• 試験電圧を設定します。

• 試験電圧は、まず試験レベル 1 を実施して、レベル 2、レベル 3 という順序で目的とす

る試験レベルまで行います。

• 波形を確認します。シールド相互接続線に対しての試験の場合は 1.2/50 μs コンビネ

ーションウェーブです。

• 以下、①~②の操作を繰り返し、試験を行います。

① +極性と-極性をそれぞれ 5 回ずつ行います。

② 繰り返し間隔は、1 分間に 1 回またはそれより短い間隔で繰り返しサージを印

加します。

図 25 シールド接続線に対しての試験設置の例

PE端子

PE

供試品用電源

絶縁トランス

相互接続線用重畳部

相互接続線用DC電源

電話交換機シミュレータ等

供試品

試験器

試験器本体用電源

IN OUT PE端子IN

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ループになるように巻くとケーブルがインダクタンスとなる。

互い違いに折るように束ねることで、無誘導となる。(ジグザグに束ねる)

IEC 61000-4-5 - 3. 試験方法編 -

29

図 26 ケーブルの束ね方

図 27 シールド接続線に対しての試験の接続例

3.3.3. 屋外からの非シールド対称信号線に対して試験を行う場合

(1) 非シールド対称接続線に対して試験を行う場合

• 試験は試験計画に従って実施します。

• 対称相互接続線に用いる CDN は試験器本体に内蔵されているテレコムインジェクショ

ンの非シールド、対称通信線用 CDN を用いてください。

• 3.2共通準備事項(配置・配線等)を参考に、配置・配線して下さい。

• 波形を確認します。屋外からの非シールド対称接続線に対しての試験の場合は 10/700

μs コンビネーションウェーブです

• 試験電圧を設定します。

試験電圧は、まず試験レベル 1 を実施して、レベル 2、レベル 3 という順序で

目的とする試験レベルまで行います。

• 以下、①~②の操作を繰り返し、試験を行います。

① +極性と-極性をそれぞれ 5 回ずつ行います。

② 繰り返し間隔は、1 分間に 1 回またはそれより短い間隔で繰り返しサージを印加し

ます。

基準グラウンド

PE端子

試験器

絶縁トランス絶縁トランス

シールド接続線

絶縁支持台 絶縁支持台

供試品1 供試品2

試験器本体用電源

サージ出力部

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IEC 61000-4-5 - 3. 試験方法編 -

30

図 28 屋外からの非シールド対称接続線に対しての試験配置の例

図 29 屋外からの非シールド対称接続線に対しての試験の接続例

サージ出力

絶縁トランス

木製テーブル

雷サージ試験器

テレコムラインアウト

供試品

供試品用電源

電話交換機シミュレータ

PE端子

PE

供試品用電源

絶縁トランス

相互接続線用重畳部

相互接続線用DC電源

電話交換機シミュレータ等

供試品

試験器

試験器本体用電源

IN OUT PE端子IN

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IEC 61000-4-5 - 4. 試験結果のまとめ編 -

31

4. 試験結果の

まとめ編

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IEC 61000-4-5 - 4. 試験結果のまとめ編 -

32

44.1. 試験報告書に必要な情報

試験した結果をまとめる上で基本となるのは、実施した試験を同じ条件で再び試験できる

事です。これは、その試験を実施した人以外の人が、次に同じ条件で試験を行う事ができ

る、即ち、試験に定量性を持たせると言う事です。そのために、必要となる情報は記載し

なければなりません。

認証機関により規格認定を受ける場合には最低限、以下の情報が必要です。(以下の項は、

ISO 17025 を参考にして記述してあります。)

そのため、製品の独自の評価を行う場合には、不用であると考えられるものもあります。

又 P.40に記述例として、株式会社ノイズ研究所のフォーマットを添付しますので参考

にして下さい。

4.1.1. 試験報告書の管理

(1) 報告書の管理と種類

試験結果を纏めた報告書には管理番号を付け管理します。管理手法は、各自のフォーマ

ットに基づいて下さい。

報告書のフォーマットは種々あると思いますが、報告書全体の総ページ数、及び各ペー

ジに番号を付けるようにして下さい。

(P.40の記述例を参考にして下さい。)

(2) 顧客の名称及び住所

試験サイトのように、自社以外の試験を請け負うような場合には必要です。

(3) 試験に対する責任の明確化

試験報告書に対する技術責任を負う者の署名及び役職、あるいは同等の記号(サイン又は

印)、及び発効日を明確に記載する必要があります。

4.1.2. 試験環境

(1) 試験の実施日

IEC 61000-4-5 に準じた試験を実施した日を記載します。

(2) 試験場所の記載

公共の試験サイトやその他の試験サイト等を利用した場合、その試験サイトの名称及び所

在地を記載する必要があります。試験を行った建物や部屋も記載します。

社内環境で試験を実施した場合も同様に、試験を実施した部屋等の場所を記録しておきま

す。

(3) 温度や湿度等の環境

試験実施の際の気温、湿度、気圧、電磁環境等の試験室内の状態を記載します。

4.1.3. 供試装置・試験装置

(1) 供試装置の名称及び特定

供試装置の一般的な名称及び装置名を記載します。ここでいう一般的な名称とは“ラジ

オ”“テレビ”“洗濯機”のように、供試装置がどのような機能を有する装置なのかを判

断できる名称を意味します。又、装置名は供試装置の型式や名前、即ち“PCA-**1”

のような型式名や“ダイナブック”“ヴァイオ”のように供試装置についた名前や愛称

を意味します。

抜き取りにより試験を行っている場合等は、試験に使った供試装置を特定するために製

試験サイト運営に関する一般基準です。

ISO 17025

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IEC 61000-4-5 - 4. 試験結果のまとめ編 -

33

造番号等の記載も必要です。又、供試装置を選定した理由や方法も記載します。

(2) 試験機器の識別記号

試験機器の装置名や製造番号等を記録します。(校正期限の記入)

4.1.4. 試験方法・試験結果

(1) 試験方法

規格認定のための試験では特に記載する必要はありませんが、供試装置の評価のために

特殊な試験を行った場合等、IEC 61000-4-5 に準じていない試験を実施したときは、

その理由と方法を具体的に記載します。

(2) 試験結果の記載

試験報告書には、評価レベルによる判定結果を記載しなければなりません。

又、軽度の品質の低下が生じた場合は、試験による影響を記載する必要があります。

以下に、評価レベルによる判定について記載します。

(a) 試験評価レベルの記載

IEC 61000-4-5 に準じたサージイミュニティ試験を行い、レベルによる判定をす

るには、IEC 61000-4-5 による評価レベル判定と、共通規格・製品群規格による

評価レベル判定の 2 つがあります。

下記の評価レベルに対して、供試機器独自の具体的な動作条件と、機能的仕様の劣化

や損失を予め定義しておきます。

①IEC 61000-4-5 による評価レベル

IEC 61000-4-5 では、適応する規格や製品の仕様で判定基準が示されていない

限り、供試装置の動作条件と機能的仕様によって試験結果の判定基準は 4 段階

に分類されます。以下の 4 段階を参考にして、独自に基準を設定して下さい。

A) 仕様の許容値内の正常な動作

B) 自己回復可能な機能、又は動作の一時的な低下、又は損失の発生

C) 人間の操作又はシステムをリセットする必要が起こる機能、又は動作の一時

的な低下若しくは損失の発生

D) 装置(部品)、又はソフトウェアの損傷、又はデータの消失による回復不可能

な機能の低下、又は損失の発生

②共通規格・製品群規格による評価レベル

参考として共通規格であるEN61000-6と製品群規格であるCISPR24の一般判

定基準を規格解説・資料編の P38,P39 に記載しておきます。

(b) 試験による影響の記載・逸脱事項

軽度の品質の低下が生じた場合はどのような現象が生じたのかを記載しなければな

りません。(再試験を行う場合、トラブルが生じないようにするため、記載しておい

たほうが良いでしょう。)

又、試験規定からの逸脱事項、例えば、通信線等の試験で実際に通信して試験を行う

と、補助機器が破壊される事が予想されるため、通信を行わずに試験をした場合等は、

その理由を記載します。

LED の短時間の点滅や指針計の針のわずかな振れ等の供試装

置の機能に影響しない現象です。

軽度の品質の低下とは

Page 36: 雷サージ 試験法ガイドブックIEC 61000-4-5 ― 1. 目的編 - 4 1.1.IEC 61000-4-5の位置づけと意義 本ガイドブックには、誘導によりサージが電源線・通信線等に侵入して電子機器が誤動作を

IEC 61000-4-5 - 4. 試験結果のまとめ編 -

34

4.1.5. その他

(1) 補足事項

試験結果を表やグラフを用いて記載する他に、システムの構成や補助機器を使用する場

合の配置図等を記録・記載しておきます。

(2) 判定の不明確さに関する記録

判定の不明確さに関する記録を行います。例として 5 回印加を行った結果が、4 回は

“レベル A”の判定となり 1 回は“レベル B”の判定だった場合にレベルの記載を“レ

ベル A”と記載したとき等は、なぜ“レベル A”としたか、その流れまで記載します。

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IEC 61000-4-5 - 5. 規格参考資料編 -

35

5. 規格参考資料編

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Tw

Tr

Isc normalized

0 ~ -0.3t

1.0

0.9

0.5

0.3

0.1

0.0

Front time: Tf = 1,25 × Tr = 8μs ±20 %Duration: Td = 1,18 × Tw = 20μs ±20 %

Tw

Uoc normalized

T0~ -0.3 t

1.0

0.9

0.5

0.3

0.1

0.0

Front time: Tf = 1,67 × T = 1,2μs ±30%Duration: Td = Tw = 50μs ±20%

IEC 61000-4-5 - 5. 規格参考資料編 -

36

IEC 61000-4-5 の規格

1) 表 5 試験レベル 開回路試験電圧 kV レベル

ライン-ライン ライン-グラウンド

5.0 - 1

1 5.0 2

2 1 3

4 2 4

laicepS laicepS x備考 Xは、Open の規定値であり、製品規格にて規定してよい。

2) 波 形

付図 1 開回路電圧の波形(1.2/50μs)

付図 2 短絡回路電流の波形(8/20μs)

Page 39: 雷サージ 試験法ガイドブックIEC 61000-4-5 ― 1. 目的編 - 4 1.1.IEC 61000-4-5の位置づけと意義 本ガイドブックには、誘導によりサージが電源線・通信線等に侵入して電子機器が誤動作を

Tw

T

Uoc normalized

1.0

0.9

0.5

0.3

0.1

0.0t

Front time: T = 1,67 × T = 10μs ±30%Duration: Td = Tw = 700μs ±20%

Tw

Tr

Isc normalized

t

1.0

0.9

0.5

0.3

0.1

0.0

Front time: Tf = 1,25 × Tr = 5μs ± 20 %Duration: Td = Tw = 320μs ± 20 %

IEC 61000-4-5 - 5. 規格参考資料編 -

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3) 波 形

付図 3 開回路電圧の波形(10/700μs)

付図 4 短絡回路電流の波形(5/320μs)

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55.1. 判定基準

IEC 61000-4-5 に準じて試験を行った場合、試験の結果をレベル判定しなければなりませ

んが、その判定レベルは、取得しようとしている規格により異なります。

例として EN61000-6、CISPR24 及び CISPR24 の記憶装置の場合を掲載します。

5.1.1. EN61000-6

EN 61000-6-1、 EN 61000-6-2

性能判定基準 A

供試装置(EUT)は、試験を開始してから終了後まで、一貫して意図したとおりに

動作しなくてはいけません。供試装置を意図したとおりに使用している状態では、

性能レベルの低下もしくは機能の損失によって製造業者の規定した性能レベルを

下回ってはいけません。性能レベルのかわりに、許容性能損失を規定しても許され

ます。

製造業者が最低性能レベルまたは許容性能損失を設定していない場合、どちらかを

製品説明書や文書から設定してもよく、あるいは意図したとおりに使用している状

態であれば、ユーザーが供試装置に対して期待する妥当性のあるレベルから設定し

てもよい事とします。

性能判定基準 B

試験の終了後も、供試装置は一貫して意図したとおりに動作しなくてはいけません。

供試装置を意図したとおりに使用している状態では、性能レベルの低下もしくは機

能の損失によって製造業者の規定した性能レベルを下回ってはいけません。性能レ

ベルのかわりに、許容性能損失を規定しても許されます。ただし、試験中であれば

性能が低下する事は問題としません。実際の動作状態または保存したデータに変化

が起こる事は許されません。製造業者が最低性能レベルまたは許容性能損失を設定

していない場合、どちらかを製品説明書や文書から設定してもよく、あるいは意図

したとおりに使用している状態であれば、ユーザーが EUT に対して期待する妥当

性のあるレベルから設定してもよい事とします。

性能判定基準 C

一時的な機能の損失があっても許されます。その場合、機能が自己回復できる、も

しくは制御装置の操作によって回復できる事が条件です。

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5.1.2. CISPR24

性能判定基準 A

供試装置(EUT)は、試験を開始してから終了まで、オペレーションを行わない

状態で、一貫して意図したとおりに動作しなくてはいけません。

供試装置を意図したとおりに使用している状態では、性能が劣化したり、機能が

失われたりして、製造業者の規定した最低限の性能レベルを下回ってはいけませ

ん。

性能レベルは、性能の許容損失に置き換えても問題ありません。

製造業者が最低性能レベルまたは許容性能祖運質を設定していない場合、どちら

かを製品説明書や文章から設定してもよく、あるいは意図したとおりに使用して

いる状態ではあれば、ユーザーが供試装置に対して期待する妥当性のあるレベル

から設定してもよい事とします。

性能判定基準 B

試験の終了後、供試装置は一切のオペレーションなしで、一貫して意図したとお

りに動作しなくてはいけません。供試装置を意図したとおりに使用している状態

では、試験を行った後に性能が劣化したり、機能が失われたりして、製造業者の

規定した性能レベルを下回ってはいけません。性能レベルは、性能の許容損失に

置き換えても問題ありません。

試験中の性能の劣化は問題ありませんが、試験後に動作状態または保存したデー

タに変化が起こる事は許されません。

製造業者が最低性能レベル(または許容性能損失)を設定していない場合、どち

らかを製品説明書や文書から設定してもよく、あるいは意図したとおりに使用し

ている状態であれば、ユーザーが供試装置に対して期待する妥当性のあるレベル

から設定してもよい事とします。

性能判定基準 C

自己回復機能がある、もしくはユーザーが製造業者の指示のとおりに制御装置を

操作して機能が回復できれば、または供試装置へ電力を循環させて機能を回復さ

せることができれば、試験中および試験後に、一時的な機能の損失があっても許

されます。

IEC61000-4-5 の試験法を引用している規格はたくさんありますが、各規格により

試験波形及び試験レベルが異なっている場合がありますので注意して下さい。

各規格の試験適用について

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55.2. 記述例

株式会社ノイズ研究所の記述例を以下に示します。

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55.3. 規格制定の経緯

IEC 61000-4-5 は、当初 IEC TC65(工業プロセス制御)で IEC 801-5:として 1990 年

に初版が発行されました。

これを全電子機器に適用する為に 1995 年 2 月に IEC 1000-4-5 が発行されました。

1997 年から ISO と IEC で番号が重ならないよう 60000 を加算し IEC61000-4-5 と呼

称することになりました。

Amendment 1:2000/11 8.1.1 試験環境及び 9 試験報告書を改定

Edition 1.1: 2001/04 上記の Amendment を既刊に含めて発行

Edition 2.0:2005/11 改訂発行

Edition 3.0:2014/04 改訂発行

5.4. IEC 以外の試験法

5.4.1. JEC 規格

日本の雷試験は IEC 規格発行前には JEC(電気学会:Japanese Electrical Committee)

規格しかありませんでした。

例)JEC 210 1981:低圧制御回路絶縁試験法・試験電圧標準 JEC 212 1981:インパルス電圧電流試験一般

JEC 210 は、公称 3.3 ~ 500 kV の三相交流回路に接続される電力機器の、定圧

制御回路の絶縁強度を試験するための方法を記述しています。

JEC 212 は、インパルス電圧・電流の波形を規定しています。

いずれも、発生回路の出力インピーダンス等は規定されていません。

従って、使用する発生器が異なった製造会社だとすると、異なった結果が出る可能性

があります。

加えて IEC 規格試験器と JEC 規格試験器との互換性はありません。

5.4.2. ITU-T 規格

ITU-T ( International Telecommunication Union-Telecommunication stan-

dardization Sector of ITU)は、通信機器に対する規格を担当しているので、10/700

μs の波形を規定しています。

しかし、最新 K.41 等にはコンビネーション波形を通信線にも印加するように記述されて

います。

1 K.17:外部から保護のための配置をチェックするための固体素子を使用した

Powered-Fed Repeter の試験

2 K.20:交換機の過電圧・過電流耐力

3 K.21:加入者端末機器の過電圧・過電流耐力

4 K.22:ISDN T/S バスの過電圧耐力

5 K.41:通信センターの内部インターフェースの過電圧サージへの耐力などが

参照されています。

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55.5. 雷現象に関する各種情報

雷現象に関する情報等を掲載します。参考にして下さい。

5.5.1. 雷発生の原理

上昇気流によって持ち上げられた空気が氷結し、その氷同士がぶつかり合って正の電荷を

帯びた粉のような氷片と負の電荷を帯びた比較的大きな氷片とに分離します。正の電荷を

帯びた氷片は上空に飛散し、負の電荷を帯びた氷片は下層部に形成されます。その結果、

雷雲の上層部は正の電荷が集積し、地上に近いところは負の電荷が集積します。さらに最

下層部にわずかな正極性の電荷が存在し 3 極構造を呈しますが、落雷は殆どが負極性と

なります(約 95%が負極性)。

5.5.2. 雷サージの被害

落雷による被害は大きく 2 つに分けられます。

○ 直撃雷…直接雷サージが落ちる事により発生する被害(避雷針等)

○ 誘導雷…送電線や鉄塔に落雷し、送電線に伝わって発電所や家庭に与える被害

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55.6. 参考文献

• IEC 61000-4-5

Electromagnetic compatibility(EMC)

Part 4: Testing and measurement techniques-

Section 5: surge immunity test

Basic EMC Publication

First edition 1995/02

Amendment 1: 2000/11

Edition 1.1: 2001/04

Edition 2.0: 2005/11

Edition 3.0: 2014/05

• (CISPR 実務解説書‐第 1 巻) CISPR24

-情報技術装置のイミュニティ特性に関する限度値と測定法-

監修 池田哲夫

• IEC1000 シリーズ 1996 年版

発行 社団法人関西電子工業振興センター

編集 電磁波障害分科会

• 理科年表 平成 11 年

著作者 海老原熊雄

発行者 国立天文台

発行所 丸善株式会社

• NOISE TECHNICAL REPORT 1975~1996 総集編

発行 株式会社ノイズ研究所

• ノイズ対策マニュアル

発行 株式会社ノイズ研究所

• 低圧配電線雷サージ防止対策調査研究報告書

発行者 社団法人 電気設備学会

• 雷と高度情報化社会

発行者 社団法人 電気設備学会

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55.7. ノイズ研究所対応製品型式一覧

本書で使用している株式会社 ノイズ研究所のサージ試験関係の製品一覧を以下に示します。

ご用命の際は担当営業、又は以下の営業所までお問い合わせ下さい。

ルデモ 称名

雷サージ試験器 LSS-F03 A1(単相・1.2/50μs CW)

LSS-F03 A3(単三相・1.2/50μs CW)

LSS-F03 C1(単相・1.2/50μs CW 10/700μs CW)

LSS-F03 C3(単三相・1.2/50μs CW 10/700μs CW)

LSS-F03シリーズ用

高速通信線用重畳ユニット

お問い合わせください

LSS-F03シリーズ用相互接

続線用重畳ユニット

お問い合わせください

絶縁トランス TF-2302P(単相)、TF-6503P(単・三相)

A70000-30 ンーレプドンウラグ

A93000-30 ルブーテ験試

重畳出力用端子台 18-00044A(単相3P)、18-00047A(三相5P)

A99000-50 ルブーケ用認確形波

表 6

● 試験器の修理・校正のご用命はカスタマサービスセンターへご連絡ください。

【カスタマサービスセンター】 〒252-0237 神奈川県相模原市中央区千代田1-4-4

フリーコール:0088-25-3939

FAX:042-712-2021

e-Mail: [email protected]

● 外部でEMC試験をお考えのお客さまはテストラボ船橋へご連絡ください。

【EMC受託試験サイト テストラボ船橋】 〒274-0054 千葉県船橋市金堀町 69

TEL:047-457-2496

FAX:047-457-2484

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ご注意ください。

本書の内容については万全を期しておりますが、本書内に疑義がある場合は IEC 規格原文に準拠

してください。(本書に基づき運用した結果については、一切の責任を負いかねます。)

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中部営業所

〒465-0025 愛知県名古屋市名東区上社 3-609 北村第 1 ビル 5F

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