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分 類 Ⅱ類 必修・選択 選択 期 間 後期 単 位 数 2

コ ー ス ☑ 起業実践コース ☑ 新事業開発コース

科 目 名 光計測センシング特論 担 当 者 石井勝弘、花山良平

遠 隔 授 業 対応可能

ねらい・

到達目標

さまざまな光計測センシング技術の原理について理解し、光計測システム、装置の設

計・製作ができるようになる。光のさまざまな性質、現象を理解する。

概 要

さまざまな光計測センシング技術について、その背景となっている光の性質、物理量測

定のための解析モデル、測定原理、測定システム・装置の概要、物理量測定の応用例を

について講義する。

内 容

第 １ 回 光計測入門 光計測の基礎 石井

第 ２ 回 幾何光学計測（三角法、光切断） 石井

第 ３ 回 幾何光学計測（モアレ、ＴＯＦ） 石井

第 ４ 回 フーリエ光学と空間周波数フィルター、情報処理 石井

第 ５ 回 光干渉計測（マイケルソン、フィゾー、ヘテロダイン） 花山

第 ６ 回 光干渉計測（白色干渉、ＯＣＴ） 石井

第 ７ 回 ホログラフィー計測 花山

第 ８ 回 スペックル計測（スペックル干渉） 石井

第 ９ 回 分光計測（分光器、波長走査、ＦＴＩＲ、ラマン分光） 石井

第 10回 偏光計測（エリプソメトリ、ポラリメトリ） 石井

第 11回 散乱計測（ＳＬＤ、ＤＬＳ、ＤＯＴ） 石井

第 12回 非線形光学計測（蛍光、ＳＨＧ、ラマン、） 石井

第 13回 光ファイバー計測（ＯＴＤＲ、ブリルアン、ＦＢＧ） 石井

第 14回 超高速光計測 石井

第 15回 量子光学とその性質を用いた光計測、情報処理 石井

成績評価

方法・基準

毎回課す小レポートにより評価する。

成績評価基準：成績は以下の基準により評価し、60点（Ｃ評価）以上を合格とします。

・Ａ：100～80点：到達目標を十分に達成できている優れた成績：合格

・Ｂ：79～70点：到達目標を達成できている成績：合格

・Ｃ：69～60点：到達目標を最低限達成できている成績：合格

・Ｄ：59 点以下：到達目標を達成できていない成績：不合格

教科書・

参考文献

毎回資料を配布する

その他

谷田貝豊彦：応用光学－光計測入門（丸善）

光計測のニーズとシーズ（コロナ社）

履修上の

必要要件

準備学修等

内容・時間

担当教員

メッセージ