gem/ μpic を用いた真空紫外 イメージング検出器 iii 日本物理学会 第 65...

28
関関関関 2010 関 3 関 23 関 関関関関関関 関 65 関関関関関 ( 関関関関 ) GEM/μPIC 関関関関関関関関 関関関関関関関関関 III 日日日日日日 日 65 日日日日日 2010 日 3 日 23 日 日日日日 関関関関 日日日日日日日日日日 関関関 , 関関関関 , 関関関関関 , 関関関 日日日日日日日日日 関関関関 , 関関関関 , 関関関 日日日日日日日日日日日 関関関関関 , 関関関関 , 関関関関 , 関関関関 日日日日日日日日

Upload: miles

Post on 04-Feb-2016

114 views

Category:

Documents


0 download

DESCRIPTION

GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 . 関谷洋之 東京大学宇宙線研究所 窪秀利 , 黒澤俊介 , 谷上幸次郎 , 谷森達 京都大学理学研究科 柳田健之 , 横田有為 , 吉川彰 東北大学多元物質研究所 福田健太郎 , 石津澄人 , 河口範明 , 須山敏尚 株式会社トクヤマ. Review UV シンチ+CsI+MPGD=硬X線イメージャー. VUV シンチレーター. ガスイメージング装置. LaF 3 (Nd 3+ 8%mol) - PowerPoint PPT Presentation

TRANSCRIPT

Page 1: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

GEM/μPIC を用いた真空紫外イメージング検出器 III

日本物理学会 第 65 回年次大会2010 年 3 月 23 日 岡山大学 

関谷洋之東京大学宇宙線研究所

窪秀利 , 黒澤俊介 , 谷上幸次郎 , 谷森達京都大学理学研究科

柳田健之 , 横田有為 , 吉川彰東北大学多元物質研究所

福田健太郎 , 石津澄人 , 河口範明 , 須山敏尚株式会社トクヤマ

Page 2: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

Review UV シンチ+CsI+MPGD=硬X線イメージャー

LaF3(Nd3+ 8%mol) λ=172nm,τ= 6ns 発光量 

100Photons /5.5MeV   α

ガスイメージング装置

透過型 / 反射型の CsI光電面を組み合わせると

VUV シンチレーター

10cm   μPIC   400μ ピッチ strip 10cm   GEM 70φ   140μ ピッチ Readout : Atlas   ASD,FPGD

241Am2.6MBq 照射

Page 3: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

透過型 CsI 光電面によるセットアップ

透過型光電面◦5t   MgF2 窓◦Al 電極 エッジ+ 10mm ヒゲ◦CsI 蒸着 50mm o(10nm)

QE

Page 4: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

反射型 CsI 光電面によるセットアップ反射型光電面

◦10cm   100μm   LCP  GEM

◦2μmNi 、 0.2μmAu メッキ◦CsI 蒸着  o(100nm)

?

Page 5: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

光検出器としての位置分解能評価スリットによるイメージング

0.1t PVC slit

LaF3

241Am X projection

2mm

15m

m

10mm

Gain :~ 7×105 Gain :~ 1×105

透過型 反射型

共にスリット幅 1.6 倍になっている

Page 6: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

ピクセルシンチレーター放射線検出器として位置感度を向上させる手法like…

GSO3mm×3mm×10mm16×16 array

Multi Anode PMTH8500

16ch strip 読み出し

Page 7: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

LaF3 ( Nd ) ピクセルの製作3mm×3mm×10mm反射材 : テフロンテープ

(90%?)

光量は巻き方依存が大きい◦ 241Am 5.5MeV の α ピークを

PMT   R8778 で測定しながらquality control

1pixel につき 3 回測定

Page 8: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

3×3pixel array の製作

9 pixel の分散より各pixel での分散の方が小さいので発光量に差があるだろう。

1 2 3 4 5 6 7 8 9

9 結晶で 3 回ずつ測定

全体平均: 8070分散( 1σ ): 662

10.3 mm

123

46

78

5

9

Page 9: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

セットアップ

今回の測定条件:Gain 6.0 x 105

109Cd 照射、銅特性 X 線( 8keV )によるゲイン測定

GEM 間 HV

180 200 220 240 260 280 300 320

106

105

透過型

Gas gain

Page 10: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

マウントカソード側 ア

ノー

ド側 3 2 1

6 5 49 8 7

Pixel 毎のイメージングの方法

下半分の感度が悪いことが分かっていたので上部にマウント

狙ったピクセルに照射できるようにテフロンのマスクをおき、その上に線源を乗せて測定した。

241Am α 線源(8 kBq)

3,5,7 に照射

Page 11: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

3 への照射

Count (a. u.)

3.2mm 分

黄緑枠:アレイ部分

銅リング特性 X 線?by 59.5keV

X 軸への projection

はピクセルの位置

Page 12: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

5 への照射はピクセルの位置

Count (a. u.)

3.2mm 分

黄緑枠:アレイ部分

X 軸への projection

Page 13: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

7 への照射はピクセルの位置

Count (a. u.)

3.2mm 分

黄緑枠:アレイ部分

X 軸への projection

銅リング特性 X 線?

Page 14: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

再構成位置の評価Gaussian fit で求めた位置 Pixel 3

◦ Peak 48.81mm◦ s=3.02mm

Pixel 5◦ Peak 52.93mm◦ s=2.91mm

Pixel 7◦ Peak 56.92mm◦ s=3.06 mm

4mm

4mm

57

3

実際のピッチ 3.4mmPixel size 3mm

1.2 倍程度に拡がっている

X 軸への projection

Page 15: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

まとめ真空紫外シンチレーターとMPGDを組み合わせた硬

X線イメージング検出器の開発を行っている。位置分解能向上を目指し、 3mm のLaF 3 ( Nd )結

晶ピクセル 9 本使ったアレイを試作し、検出器と組み合わせた。

各ピクセルごとに α粒子を照射し、各ピクセルの分解に成功した。

イメージ拡大の理解、応用Photon detection efficiency の向上

QE, geometry, ion feedback…より発光量の多い結晶との組み合わせ

今後

Page 16: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

Extra slides

Page 17: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

目的MPGD を使った真空紫外光検出器と、真空紫外フッ化

物結晶シンチレーターと組み合わせ、ガスの検出効率を克服し、硬 X 線イメージング検出器を完成させる。

組織

CsI 光電面(協力:浜松)MPGD との組み合わせ    (協力:サイエナ

ジー、 DNP )

高速応答の VUV 発光シンチレータ

μPIC 読み出し回路

Page 18: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

光検出器としての評価シンチレーター結晶の形の撮像

透過型

実際の受光面は 30φ18x21x20mm3 LaF3(Nd) + 2.6MBq 241Amテフロンを反射材として使用

Page 19: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

透過型光検出器セットアップ

2 mm

GEM(LCP 50厚 )

GEM( カプトン 50厚 )

-PIC

LaF3 窓 開口部 30mm ( 5mm厚)

10 cm

アルミ電極 ( 蒸着 )

ドリフト電極銅リング(内径 50mm 、外径 74mm) CsI

( 蒸着 )

2 mm

10 cm

- PIC:400V

1st GEM 上 : -1050V 下 : -750V

Drift -1250V 印加電圧

2nd GEM 上 : -500V 下 : -200V

2.5 mm0.8kV/cm

1.25kV/cm

3 kV/cm

電場

Page 20: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

GEM::SMASHΦ70μm  ピッチ 140μm     10cm×10cm   100μm   LCP

×150 倍対物レンズ(カラー+レーザー)

×20対物レンズ(レーザー)

KEYENCE   VK9700 カラー3 D  レーザー顕微鏡

Page 21: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

μPIC::μPIC-SE 400μm ピッチ、 10cm×10cm 16ch+16ch 読み出しの μPIC-SE さらに 4ch+4ch 読み出しで使用

×20 倍対物レンズ(カラー)

×20 倍対物レンズ( 3D レーザー)

Page 22: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

MgF2Al

GEM

Al vessel

Electric Fields

GeometryVessel(GND)MgF2 WindowCsI PhotocathodeAl electrode 1um   -1300V)1st GEM -910V)

Al 0 度(Al 電極の伸びてる方向 )

25 度(Al 電極のない方向 )

Page 23: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

Feedback Problems in photon detection

Ion and photon feedbacks

Limit the stable high gain operation Many activities to overcome   the feedbacks.

◦ Gating◦ Ion defocusing by MHSP/COBRA

A.Breskin TIPP09@Tsukuba

◦ Blind reflection

A. Breskin et al.,T. Sumiyoshiet al.,

Page 24: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

Photon Signal Readout: μPIC   64 strips summed   Amplified with CP581 preamp (1V/pC) Clearpluse co., ltd.

The gas gain 2.6×105

Detected number of photoelectrons    120mV/1V×1pC/(1.602×10-19)/ 2.6×105=2.9 p.e.

120mV

Page 25: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

Spectrum

∫ × dλ

Source intensity 100 photon →   QE  ~  1-2 %  

=

Sensitive to 1p.e. !

Agrees with QE curve and the luminescence spectrum

Page 26: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之   2010 年 3 月 23 日 日本物理学会 第 65 回年次大会 ( 岡山大学 )  

金メッキ GEM両面 Au メッキ

100μmLCP-GEM/SMASH Au メッキ後

窒素中 耐圧 ~ 700V 窒素中 耐圧 ~ 650V 放電頻発

Page 27: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之 2008 年 8 月 19 日 京都大学 GCOE 面接 

1 硬 X 線イメージング検出器

• 既存 X 線 CT の問題被爆量が大きい> 10mmSv造影剤の負担(単色 CT )分解能~1mm( MRI より一桁落)増幅なし、低 S/N  → 高コスト回路

 

27

• 次世代 X 線 CT としての応用

• X-VUV-electron CT高速応答による高効率化 < 10ns →1mSvカラー CT による高コントラスト化(造影剤不要)分解能~ 100μm高ゲイン( >105 )、高 S/N  → 低コスト化

 

被爆量 1/10解像度 10 倍

(発見率向上)コスト 1/10

Page 28: GEM/ μPIC を用いた真空紫外 イメージング検出器 III 日本物理学会 第 65 回年次大会 2010 年 3 月 23 日  岡山 大学 

関谷洋之 2008 年 8 月 19 日 京都大学 GCOE 面接 

    既存放射光施設• 大強度だが、十分な測定時間が確保できない。• 材料、新薬等の開発に必要な繰り返し測定ができない

コンパクトな放射光施設→真空紫外光– 先端学術研究を主目的としない、産業への展開を重視した施設の計画(産総研、広島大、中部)

– 自由電子レーザーの開発

真空紫外光の得意分野– 表面状態、分子吸着等– タンパク質(アミノ酸の吸収波長)

2 . 真空紫外光検出器

28

• 構造解析による材料、新薬等の開発真空紫外光技術は非常に有望なプローブ→ 展開