keysight world 2018 東京...
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Keysight World 2018 東京のセミナーをオンラインで配信2018年7月に開催されたKeysight World 2018 東京は、5G、自動車、高速デジタル、光通信、SI/PI、材料など17のトラックで、約70のセミナーをお届けしました。「当日予定があり参加できなかった」「他に参加したいセミナーがあったがスケジュールが重なっていた」などの声にお応えして、この度人気の高かったセミナーから厳選してオンラインでお届けすることになりました。この機会に改めてご予定いただけますと幸いです。皆様のご参加をお待ちしております。
Keysight World 2018 東京 アンコール
日程
第一週 11月27日火～11月30日金 計測の基礎
第二週 12月 4日火～12月 7日金 光通信｜高速デジタル｜SI・PI
第三週 12月11日火～12月14日金 5G｜自動車｜材料｜その他
Keysight World 2018 東京 アンコール 開催概要
－ 第一週、第二週、第三週の週ごとで、ご希望のセミナーにお申し込み頂けます。
－ 各週のページにお進みください。
－ ログイン後、ご希望のセミナーを選択してください。
セミナー終了後のアンケートにご回答いただいた方から抽選でタイガー ステンレスミニボトル 500mL（または相当品）をプレゼント
＊ ログイン IDをお持ちの方（これまでにKeysight Worldにご参加いただいたお客様）は、セミナー ご登録時のログイン ID（Eメールアドレス）とパスワードでログインください。
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第一週 （11月27日㊋～11月30日㊎） ： 計測の基礎
第二週 （12月 4日㊋～12月 7日㊎） ： 光通信｜高速デジタル｜SI・PI
第三週 （12月11日㊋～12月14日㊎） ： 5G｜自動車｜材料｜その他
こちらよりご登録ください http://www.keysight.co.jp/find/kwt_encore（受講無料：事前登録制）
お申し込み方法
タイトル 開催日 開催時間 内 容
事例にみる資産・運用コストおよび効率改善ソリューション
2018年12月12日
13:30
～
14:30
最新の技術へすばやく効率よく投資し、維持運用コストおよびダウンタイムを低減する機会は機器のライフサイクルのあらゆる場面に存在します。日々の取り扱いを含むキーサイトの様々なサービス全容が理解できます。すべての管理者、ユーザーにとっての“効率”改善のヒントが得られます。
実戦的なEW評価用電波環境の構築とその勘所
14:45
～
15:45
EW装置を実戦的な観点で評価するには、リアルな電波環境を模擬する必要があり、これにはアジャイル信号源や任意波形発生器が推奨されます。本セミナーでは電波環境に対する要求と信号源の機能・性能がどう対応するのか、どのようにインテグレートして高度な評価環境を構築するのか等の勘所を説明します。
eパワートレイン統合テストの信頼性を高めるヒント
2018年12月13日
10:30
～
11:30
設計不良を早期に発見し、開発コストを抑えると同時に品質を向上させたいとお考えですか? Scienlabは、バッテリー、インバーター、モーター等のサブシステムを電気的にエミュレート。ダイナモや実車を用いたメカベースの評価負担を低減し、より早い段階でサブシステムに高い信頼性を与えます。
デバイス計測に基づく次世代パワエレ回路統合設計環境
13:30
～
14:30
WBGデバイスを用いたパワエレ回路設計には、デバイスの高速性や回路の高周波化、寄生成分等に起因するリンギング、サージ、誤動作などの課題があります。WBGパワエレ回路シミュレーションを正確に行う手法と、デバイス計測からモデリング、回路シミュレーションまでを統合的に行う設計環境を紹介します。
Sパラと波形分離が鍵！車載Ethernet計測技術全体像
14:45
～
15:50
Sパラ測定と波形分離技術のポイントを理解すれば、車載Ethernetの信号波形の複雑な形状に慌てることはありません。車載Ethernetに特徴的なSパラ測定と波形分離技術を解説するとともに、100Base-T1および1000Base-T1の物理層から上位層まで規格試験の全体像および計測技術を概観します。
食品/建築/生体等の非電気素材の誘電率を用いた
評価事例紹介
2018年12月14日
10:30
～
11:30
農業、食品、生体医療、建築などの非電気系の分野でも、誘電率・透磁率を用いた低コストで非破壊の材料評価手法として、電気的な測定のニーズが増えてきています。本セミナーでは、主に非電気系のエンジニア向けに、誘電率・透磁率の測定事例と適切な測定ソリューションを紹介します。
5G/レーダー素材評価 ：高周波帯誘電率測定法の
選択と実際
13:30
～
14:30
次世代通信5Gや自動車レーダー対応のニーズの増加により高周波領域で誘電率評価を行う必要が出ています。高周波の誘電率評価には様々な誘電率測定手法がありますが、どのような視点で手法を選択すればよいのかを紹介します。また超広帯域誘電率測定法の実際について解説します。
ネットアナの正しい使い方14:45
～
15:45
高性能のネットワーク・アナライザでも使い方が間違っていると壊してしまったり、効率の悪い設定にしたり、正確な測定ができなかったりします。本セミナーでは、測定前の準備から、校正、測定までの各ステップにおける注意点を説明します。また、意外に知られていない便利な使い方も紹介します。
第三週 （12月11日㊋～12月14日㊎） 5G｜自動車｜材料｜その他 （続き）
詳細、お申し込みはこちら http://www.keysight.co.jp/find/kwt_encore
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詳細情報：www.keysight.co.jpキーサイト・テクノロジー株式会社本社 〒192-8550 東京都八王子市高倉町9-1計測お客様窓口受付時間 9：00-12：00 / 13：00-18：00 （土・日・祭日を除く） TEL：0120-421-345（042-656-7832）｜ Email：[email protected]
本書の情報は、予告なし変更されることがあります。 © Keysight Technologies, 2018. Published in Japan, October 12, 2018. 0000-08cS
詳細情報：www.keysight.co.jpキーサイト・テクノロジー株式会社本社 〒192-8550 東京都八王子市高倉町9-1
計測お客様窓口受付時間 9：00-12：00 / 13：00-18：00 （土・日・祭日を除く）
TEL：0120-421-345（042-656-7832）Email：[email protected]
PCI-SIG®, PCIe® and the PCI Express® are registered trademarks and/or service marks of PCI-SIG.
こちらよりご登録ください http://www.keysight.co.jp/find/kwt_encore-sb（受講無料：事前登録制）
第二週 12月4日㊋～12月7日㊎ 光通信｜高速デジタル｜SI・PI
第一週 11月27日㊋～11月30日㊎ 計測の基礎
タイトル 開催日 開催時間 内 容
Ixia 400Gイーサネット・テストソリューション
2018年12月4日
10:30
～
11:30
400GbEでは、これまでにない技術や設計コンセプトが採用され、物理層と論理層の統合された試験が必要となります。本セミナーでは、400GbE製品の符号誤り訂正（FEC）など、L1からL3までの試験を中心に紹介します。
デジタルコヒーレント測定は400G＋へ
13:30
～
14:30
400Gオーバーのデジタルコヒーレント信号や光コンポーネントを効率的に評価するための最新測定技術、測定器を用いた特性補償技術などの最新トピックを紹介します。
光デバイスプローバー・テスト・ソリューション
14:45
～
15:45
光デバイスをプローバーで評価する上での問題点、基本的な評価手法及び、最新の光プローバー・テスト・ソリューションについて紹介します。
タイトル 開催日 開催時間 内 容
スペクトラム・アナライザの基礎
2018年11月27日
10:30
～
11:30
RF製品を扱う上でオシロスコープと同様な必須基礎ツールとしてスペクトラム・アナライザの基礎を説明します。また、最新のモデルでの効率的な使用法についてもふれます。
ネットワーク・アナライザの基礎
13:30
～
14:30
ネットワーク・アナライザの概念とその使用方法にふれ、ネットワーク・アナライザを確かに使える基礎を身につけていただく第1歩となります。
インピーダンス測定の基礎14:45
～
15:45
低周波における回路素子の抵抗率は複素数のインピーダンスで記載され、その正確な測定は、回路シミュレーションで必要とされます。本セミナーでは、インピーダンスの基礎から話をはじめ適切な測定方法を紹介します。
正しい波形をみるためのオシロ基礎講座オシロ本体編
2018年11月28日
10:30～
11:30
オシロスコープの仕様や使い方などの基礎的な知識をおさえておけば、問題発生時に正しく対処できるようになります。本セミナーでは、オシロスコープの基本的な知識を振り返り、正しい波形をとらえるためのポイントを説明します。
正しい波形をみるためのオシロ基礎講座プローブ編
13:30
～
14:30
プローブの選択や使い方を間違ってしまうと正しい波形は測れません。本セミナーではプローブの種類や使い方、気をつけるべきポイントを基礎から振り返ります。
IV測定の基礎、微小電流測定、
4端子測定のテクニック
14:45
～
15:45
簡単な測定原理、測定手法を取得していないと安定した IV測定をおこなうことはできません。本セミナーでは、IV測定の評価装置、微小電流測定のテクニック、4端子抵抗測定のテクニックについて解説します。
デジタルエンジニア向けSパラメータ入門
2018年11月29日
10:30
～
11:30
Sパラメータの意味するところ、それが波形にどう影響するのか? アイパターンがどのように変わるか? どれくらいの周波数からクロストークを気にしないといけないか? など、適切な伝送路デザインをイメージできるよう解説します。
これでわかる！アイパターン・ジッタ評価の基礎
13:30
～
14:30
高速シリアル伝送ではアイパターンでの評価、ジッタ測定は基礎的で重要な評価項目で、デバッグにおいて足がかりとなるものです。本セミナーではアイパターンの正しい評価方法とその意味するところを解説し、さらにジッタの基礎とその解析手法について詳しく説明します。
材料の誘電率測定 基礎14:45
～
15:45
誘電率を正確に測定し知ることが材料を用いた実際の製品を正確に設計することを可能にします。本セミナーではしっかりとした材料に対する誘電率測定のアプローチを身につけていただけます。
新Wifi規格802.11axの基礎とRF測定
2018年11月30日
10:30
～
11:30
無線LANは、より高速な通信速度の実現とユーザー過密エリアでのスループット低減の解消が求められています。802.11ax は802.11acと比べ4倍のスループットを目指した規格です。規格の基礎とRF測定方法を紹介します。
基礎からわかるUSB2.0規格とコンプライアンス試験
13:30
～
14:30
USB2.0規格について基礎から振り返り、おさえておくべき評価手法としてコンプライアンス試験の概要と試験方法について説明します。
プログラミング不要自動測定で効率アップ
14:45
～
15:45
煩わしい日々の繰り返し測定を自動化しましょう！オシロや電源などの制御やテストシーケンス作成が簡単にできるソフトBenchVueを使って、簡単に計測を自動化する方法を紹介します。
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第三週 12月11日㊋～12月14日㊎ 5G｜自動車｜材料｜その他
第二週 12月4日㊋～12月7日㊎ 光通信｜高速デジタル｜SI・PI （続き）
タイトル 開催日 開催時間 内 容
5Gの基礎とソリューション
2018年12月11日
10:30
～
11:30
5G（第五世代携帯電話）の標準化も進み、これから3GPP規格準拠の無線特性評価を始める方も多いと思います。本セミナーは5Gの基本的な用語や概念を説明すると共にキーサイトの製品群を紹介します。
5Gミリ波で必須となるOTA（Over the Air）の基礎
13:30
～
14:30
5Gで使用される周波数は従来のサブ6GHzからミリ波帯28GHzまたはそれ以上に推移していきます。それに伴い、ケーブルを用いて測定する方式から、コネクタレスであるOTAでの測定がコンポーネントレベルから製造、設置、保守の各ライフサイクル分野で必須となります。本セミナーでは従来手法と比較しながら、5Gミリ波測定で必須となるOTA手法について紹介します。
LTE/5Gプロトコルの総合テストソリューション
14:45
～
15:45
アクセス（eNB/gNB）、コア（EPC/5GC, NFV/vEPC）、Cellular IOT、Diameter、VoLTE等、LTE/5Gのプロトコル・シミュレーション機能を総合的にカバーする、イクシアのLTE/5G テストソリューションの概要を説明します。
最新ツールで戦略的な資産投資
ー 計測資産と真の稼働状況の 見える化
2018年12月12日
10:30
～
11:30
計測器資産を“見える”管理し、ツールを通して真の稼動状態が“わかる”ことで、投資戦略や再配置による効率化、稼動状態の向上を実現することができます。この計測器資産最適化サービスの新しいツールによりどのように最適化の判断材料を得ることができるか実ソフトを交えて紹介します。
タイトル 開催日 開催時間 内 容
DDR4/LPDDR4メモリ高速化に向けた
実践的波形品質測定
2018年12月5日
10:30
～
11:30
DDR4/LPDDR4メモリを中心に、高速化した際の動作確認のために、 考慮すべき設計のポイントと観測点移動等の最新の測定技術を紹介します。
時代は8K!HDMI2.1最新規格情報と測定評価のポイント
13:30
～
14:30
8K映像伝送インタフェースでは、設計段階での不具合対応に、測定器のデバッグ解析機能が非常に重要となります。本セミナーではHDMI2.1を中心に映像伝送インタフェースの最新動向、ならびに測定評価のポイントについて事例を交えて紹介します。
PCI Express® Gen5仕様の検討状況とGen4試験の
最新情報
14:45
～
16:00
PCI-SIGで仕様策定に携わるRick Eadsから仕様の最新動向についてGen5を中心に紹介します。後半は、Gen4試験の準備状況について最新の情報を基に具体的に紹介します。
既存の方法からの脱却！電源回路評価の新提案
2018年12月6日
10:30～
11:30
電源回路どう測定していますか? 電源ノイズ、微小電流、位相利得余裕、効率、ライン /ロードレギュレーション、これらの測定項目は従来と変わりませんが、測定技術は進化しており、より低コスト、短時間、高信頼性を実現できます。本セミナーでは事例を交えながら電源評価に対する新しい提案を紹介します。
今から始めるDDR3メモリ設計と評価の勘所
13:30
～
14:30
DDRメモリは高速化が進み、いきなりDDR3を採用というケースが増えてきています。本セミナーではDDR3の基礎をわかりやすく解説します。また評価手法やデバッグ事例についても、必要となる測定機器とともに紹介します。
今から始めるEthernet設計と評価の勘所
14:45
～
15:45
10BASE-T/100BASE-TX/1000BASE-Tの基礎をわかりやすく解説します。また製品評価に役立つコンプライアンステストの評価手法や測定結果の見方、勘所、必要な測定機器についても紹介します。
世界一正確な110GHz UXRオシロスコープ開発における
Signal integrityの課題
2018年12月7日
10:30
～
11:30
110GHz UXR 広帯域オシロスコープの製品化に向けた開発の裏側を話します。低ノイズでフラットな周波数応答のDC～110GHzアンプの設計検証、カップリングを最小限に抑えるための数百もの高速SERDES伝送路設計と低ジッタクロック配線など、数々の挑戦についてSIの観点からお話します。
高速LSIの挙動が安定！電源回路網の最新測定
解析手法
13:30
～
14:30
回路基板の電源問題（電源ノイズ、電源インピーダンス）の最新測定手法、およびシミュレーションによるパスコンの最適化、熱・電気練成解析による高精度な設計手法を紹介します。
そのEye正しい? 実測&Simulationノウハウ
教えます
14:45
～
15:45
前半では測定誤差要因を取得し正しく測定する手法を説明します。治具特性除去手法De-embedをより正確に行うノウハウ、多重反射の影響を与えるHot-TDR特性取得方法を紹介します。後半ではDe-embedのシミュレーション手法を紹介し、実測結果とシミュレーション結果の比較を行います。
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タイトル 開催日 開催時間 内 容
事例にみる資産・運用コストおよび効率改善ソリューション
2018年12月12日
13:30
～
14:30
最新の技術へすばやく効率よく投資し、維持運用コストおよびダウンタイムを低減する機会は機器のライフサイクルのあらゆる場面に存在します。日々の取り扱いを含むキーサイトの様々なサービス全容が理解できます。すべての管理者、ユーザーにとっての“効率”改善のヒントが得られます。
実戦的なEW評価用電波環境の構築とその勘所
14:45
～
15:45
EW装置を実戦的な観点で評価するには、リアルな電波環境を模擬する必要があり、これにはアジャイル信号源や任意波形発生器が推奨されます。本セミナーでは電波環境に対する要求と信号源の機能・性能がどう対応するのか、どのようにインテグレートして高度な評価環境を構築するのか等の勘所を説明します。
eパワートレイン統合テストの信頼性を高めるヒント
2018年12月13日
10:30～
11:30
設計不良を早期に発見し、開発コストを抑えると同時に品質を向上させたいとお考えですか? Scienlabは、バッテリー、インバーター、モーター等のサブシステムを電気的にエミュレート。ダイナモや実車を用いたメカベースの評価負担を低減し、より早い段階でサブシステムに高い信頼性を与えます。
デバイス計測に基づく次世代パワエレ回路統合設計環境
13:30
～
14:30
WBGデバイスを用いたパワエレ回路設計には、デバイスの高速性や回路の高周波化、寄生成分等に起因するリンギング、サージ、誤動作などの課題があります。WBGパワエレ回路シミュレーションを正確に行う手法と、デバイス計測からモデリング、回路シミュレーションまでを統合的に行う設計環境を紹介します。
Sパラと波形分離が鍵！車載Ethernet計測技術全体像
14:45
～
15:50
Sパラ測定と波形分離技術のポイントを理解すれば、車載Ethernetの信号波形の複雑な形状に慌てることはありません。車載Ethernetに特徴的なSパラ測定と波形分離技術を解説するとともに、100Base-T1および1000Base-T1の物理層から上位層まで規格試験の全体像および計測技術を概観します。
食品/建築/生体等の非電気素材の誘電率を用いた
評価事例紹介
2018年12月14日
10:30
～
11:30
農業、食品、生体医療、建築などの非電気系の分野でも、誘電率・透磁率を用いた低コストで非破壊の材料評価手法として、電気的な測定のニーズが増えてきています。本セミナーでは、主に非電気系のエンジニア向けに、誘電率・透磁率の測定事例と適切な測定ソリューションを紹介します。
5G/レーダー素材評価 ：高周波帯誘電率測定法の
選択と実際
13:30
～
14:30
次世代通信5Gや自動車レーダー対応のニーズの増加により高周波領域で誘電率評価を行う必要が出ています。高周波の誘電率評価には様々な誘電率測定手法がありますが、どのような視点で手法を選択すればよいのかを紹介します。また超広帯域誘電率測定法の実際について解説します。
ネットアナの正しい使い方14:45
～
15:45
高性能のネットワーク・アナライザでも使い方が間違っていると壊してしまったり、効率の悪い設定にしたり、正確な測定ができなかったりします。本セミナーでは、測定前の準備から、校正、測定までの各ステップにおける注意点を説明します。また、意外に知られていない便利な使い方も紹介します。
第三週 （12月11日㊋～12月14日㊎） 5G｜自動車｜材料｜その他 （続き）
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詳細情報：www.keysight.co.jpキーサイト・テクノロジー株式会社本社 〒192-8550 東京都八王子市高倉町9-1計測お客様窓口受付時間 9：00-12：00 / 13：00-18：00 （土・日・祭日を除く） TEL：0120-421-345（042-656-7832）｜ Email：[email protected]
本書の情報は、予告なし変更されることがあります。 © Keysight Technologies, 2018. Published in Japan, October 12, 2018. 0000-08cS
詳細情報：www.keysight.co.jpキーサイト・テクノロジー株式会社本社 〒192-8550 東京都八王子市高倉町9-1
計測お客様窓口受付時間 9：00-12：00 / 13：00-18：00 （土・日・祭日を除く）
TEL：0120-421-345（042-656-7832）Email：[email protected]
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