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GTL 「ファブレス向けテスト・ソリューション とインターネット・サービス」 ~ファブレス化する日本のテストにおける課題と解決策~

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「ファブレス向けテスト・ソリューションとインターネット・サービス」

~ファブレス化する日本のテストにおける課題と解決策~

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目次■ はじめに■ 半導体概況■ 日本でのファブレスベンチャーの問題点■ テスト・ソリューション説明■ デモおよびダウンロード版の照会■ 補足

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ファブレス向けテスト・ソリューション(計画) ■ ファブレスはテスタを決めない■ テスト作業全体を任せたい

テスト・サービス

Hi-end テスタ

主流テスタ

旧テスタ

テスト・ハウスファンダリィ

ウェハ

試験済ウェハ

冶工具メーカ

テスト・プログラム

インターネット

テスタ・データベース

テスタ・スケジュール

(テスト・コスト)

テスタ選定サービスVirtual Tester

VirtualFactory

顧客データ

投資プラン

ファブレス

テスタ構造表現言語公開

最適テスタ照会テスト・コスト提示

インタタクティブ・エディテイング

テスタ指定ファインアンス

GTLLanguage

■ はじめに

インターネットを使った最適テスタとそのテスト・コストの照会

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GTL

仮想 テスタ

Pass

インターラクティブ・エデイタ

テスタ・ナビゲーション

ファイナンス

パターン変換

仮想テスタ

ダウンロード版テスト・ソリューション画面

テスタ照会

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半導体業界

ファンダリィ

強いコアを持ったIDM

IPを公開して外部設力活用

0.13μm:200Φの従来ファブ

90nm:300Φ以降の最新ファブ

STARCASPLA

ファブレス化の要請 設計者不足

システムからの要請

ファブレスの参入

0 1000 2000 3000 4000

初期投資/年関係費(億円)

テスト

組立

ファブ

設計

工程

90nm/300Φ製品の投資/経費

年間経費(億)

初期投資(億)

工程の属性設計: ノウハウの関係で経費は一定組立: アウトソーシングが現状ファブ,テスト:装置産業で経費が年次に低減する

ファブ ≫ テスト

■半導体メーカはファブに特化■テストはアウトソーシングされる■設計はファブレス化されて、自己責任ビジネスの方向、

■ 半導体概況

日本半導体業界のビジネス・モデルの多様化→ ファブレス化の機運は醸成されつつある。

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資金はどうしよう?銀行は成果主義だし、

国も民活と言っているしな!。

とは言っても日本には

エンジェル・キャピタルは居ないし

自前にお金では危険だし!

家内も「危ない橋は渡らないでね」

と言うし!

誰に売るのお客は誰がなって

くれるの?人脈がないな…

どこで半導体が流せるのだう?ファブレス支援ベンチャーは多いがお金が先だし!

設計ツールを使えば実現できるな!FPGAで実証ができるし!

設計ツールを使えば実現できるな!FPGAで実証ができるし!

アイデアが

浮かんだ

やめようか

■ 日本でのファブレスベンチャーの問題点

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アイデア 仕様設計 アーキテクチャ設計 回路設計 レイアウト 試作 評価 テスト 量産 量産テスト 信頼性

半導体ファブレスの工程

ファブレスの負担(コスト含む)

ファブレスの意欲

ファブレスの意欲曲線

ファブレスの負担曲線

負担の落とし穴

でもやってみよう

ファブレスの意欲曲線と負担曲線

アイデアが浮かんだ

FPGAで検証した。楽だ。いけるぞ

試作しよう。ターンキー・サービスにお金を出さなくては?

評価しなければ?何に! 手作業だって?

徹夜仕事だ!

なんとか試作は出来た。

量産だ。え!

億のお金?

信頼性だって。不良が出た。再ロット投入!え!また、億の

お金?

負担を避ける仕組みが必要

ファブレスが想定するコスト上限

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設計テスティングの難しさと仮想テスタ技術

仮想テスタ技術

製品が正しいか分からない

テストプログラムが正しいか分からない

テスト治具が正しいか分からない

困難の三つ巴

・・・・・

・配線ミス・リレーコントロール指定ミス・GNDノイズ・部品ミス・プローブカード(インダクタンス)・波形反射(インピダンス不整合)

・・・・・

・回路動作認識不十分・テストスペックが決まっていない・タイミング等の条件が複雑 ・・・・・

仮想テストの実施

プログラム記述のデファクト化 テストボード検証技術

・テスタリソース(タイミング,パターン長等)の問題・テスタ制限(クランプ)・測定待ち時間・テスタ機種

出展:1999STRJ報告

テスト・ソリューション説明

プログラム記述のデファクト化

記述言語はよく使われている事がデファクト化の条件

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GTL

回路設計

ウェハ完

組立

製品デバック

特性認定

テスト・スペック作成

テストプログラム作成

ES認定

量産移管

システム設計 改善

テスト設計開始

テスト・プログラム完了

機能設計

P検

ES認定

量産移管

P検テスタ

量産テスタ

仮想テスタ

テスト設計開始

テスト・プログラム完了

システム設計

回路設計

ウェハ完

組立

製品デバック 終検

開発テスタ特性認定

当初の計画

コンカレント・テスティングの実現

コンカレント・テスティング

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GTL

テスタ本体

テストヘッド

製品仕様

アーキテクチャ設計

RTL,Gate設計

設計検証

回路設計,レイアウト設計

ファブ

テスト設計

untimed設計

timed設計

タイムドリブン検証

テスタ=動作レベル・テストテストの目的:製品仕様通りにLSIが出来ているか ウェハ

テスタA テスタB

C言語,UML

VerilogVHDL

サイクル・ベース検証

設計フローとテスト

STILテスタ変換

STIL:Standard Test Inteface Lanuage

STILでは、半導体設計受託してからのテスタ対応で、テスタを決め他のテスタ変換作業が要る。この為に、ファブレス向きではない。

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GTL

テスタ本体

テストヘッド

製品仕様

アーキテクチャ設計

RTL,Gate設計

設計検証

回路設計,レイアウト設計

ファブ

テスト設計

untimed設計

timed設計

タイムドリブン検証

テスタ=動作レベル・テストテストの目的:製品仕様通りにLSIが出来ているか ウェハ

Virtual Tester

テスタA テスタB

課題:仮想テスタの言語GTL(General Tester Language)C言語,UML

VerilogVHDL

サイクル・ベース検証

設計フローと仮想テスタ

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GTL

インターネット

テスタ・データベース

テスタ選定サービスVirtual Tester

ファブレス

GTLLanguage

●GTL( General Tester Language)

のインターネット公開GTL言語公開

●インタラクティブ・エディタの公開と参考テスト・プログラム提供

インタタクティブ・エディテインク

●最適テスタのインターネット照会とテスト・コスト照会

最適テスタ照会テスト・コスト提示

●インタラクティブ・エディタでの修正及びテスタ指定ファイナンス

テスタ指定ファインアンス

ファブレス向けテスト・ソリューション

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GTL

システム開発(プロトタイプ)

テスタ仕様D/B

テスタ工場管理D/B(稼動管理)

実テスタ変換実テスタ変換

バーチャルファクトリィ

バーチャルファクトリィ

仮想テスタ仮想テスタ

テスタナビゲータテスタ

ナビゲータ

顧客Window)

テストプログラム

テスト・パターン

Webインタラクティブ

エディタインタラクティブ

エディタ

顧客Window)

顧客Window)

論理合成論理合成

DFT評価DFT評価

テスタ・リソース評価

テスタ・リソース評価

シャトル選択シャトル選択

シャトルD/B

不良ゲート辞書不良ゲート辞書 テスト結果テスト結果レイアウト対応レイアウト対応 テスト工程

テスタ要求動向D/B

認証認証

顧客D/B

パターン変換パターン変換

プロトタイプ範囲但し、機種限定,言語記述限定

(HL1,TS6000,T33xx)

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GTL

COMP

Test Program

DR

PG TG

CPU

DPS

DUT

OS

DC

COMP

テスタ関数定義

mai n(){Test( 1000);vs(1,5v,8v,100ma,- 100ma,200a);p( 1,3.5v,0.4v,1.5v,NRZ,clk1,Driver,0v,0v,sb1) ;P (2,3,5v,0.4v,1.5v./RZ,cl k2,Dri ver,0v,0v,sb1);

Time(1,5m s,vs ,1,5ms,DC) ;meas(fu nc);s top;}

プログラム手法(Tester On Java like)

メリット:テスト・プログラム変換が不要。他のテスタへの移設が可能。

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GTL

電源及び動作周波数設定

スペック・シート・プログラム生成

初期設定済みスペック・シート表示

GTL生成結果表示

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GTLテスタ照会とインタラクティブ・エディタ

テスタ照会 インタラクティブ・エディタ