SIPS 17.12.2008 RNDr. Marian Mihalik, CSc, UEF SAV: PPMS-zariadenie na meranie fyziklnych vlastnost PPMS - Physical Property Measurement SystemQuantum Design

PPMS - zariadenie na meranie fyziklnych vlastnost

Zkladn charakteristiky

Flexibilita, modulrny, automatizovan systmElektro - transport (AC a DC, Hallov jav ...)Tepeln - transport (tepeln vodivos...)Tepeln kapacita Magnetick vlastnosti (extrakn a VSM magnetometer, AC susceptibilita...)Rozsah teplt od 1.9 do 400 KRozrenie do 0.4 K, resp 50 mKMagnetick pole s indukciou od 7 T do 16 TVek homogemita poa pre systmy 7 T a 9 TSIPS 17.12.2008 RNDr. Marian Mihalik, CSc, UEF SAV: PPMS-zariadenie na meranie fyziklnych vlastnost

Ciele prezentcie

Technick popis zariadenia Vybran meraniaSksenosti s pouitm pre SIPSSIPS 17.12.2008 RNDr. Marian Mihalik, CSc, UEF SAV: PPMS-zariadenie na meranie fyziklnych vlastnost

SIPS 17.12.2008 RNDr. Marian Mihalik, CSc, UEF SAV: PPMS-zariadenie na meranie fyziklnych vlastnost

VkuumChladiaci plZariadenie na zasunutie vzorkyDriak vzorkyUtesnen priestor vzorky12-pinov konektorSIPS 17.12.2008 RNDr. Marian Mihalik, CSc , UEF SAV: PPMS-zariadenie na meranie fyziklnych vlastnost Vzorkov priestor

Driaky vzoriek - konektorSIPS 17.12.2008 RNDr. Marian Mihalik, CSc, UEF SAV: PPMS-zariadenie na meranie fyziklnych vlastnost

Meranie elektrickho transportuAC elektrick odpor4 a 5-drtov vyven Hallov javI-V krivkyKritick prd

Citlivos:1 nVRozsah prdu:10 mA to 2 A (500 mA spojito)Rozsah frekvencii:1 Hz to 1 kHzAbsolutn presnos:0.03% (typ), 1 Hz to 1 kHzRelatvna presnos:5 n W (typ) @ I = 1 ASIPS 17.12.2008 RNDr. Marian Mihalik, CSc, UEF SAV: PPMS-zariadenie na meranie fyziklnych vlastnost

Elektrick odporSIPS 17.12.2008 RNDr. Marian Mihalik, CSc, UEF SAV: PPMS-zariadenie na meranie fyziklnych vlastnost

Elektrick odpor PrNiSIPS 17.12.2008 RNDr. Marian Mihalik, CSc, UEF SAV: PPMS-zariadenie na meranie fyziklnych vlastnost

SIPS 17.12.2008 RNDr. Marian Mihalik, CSc, UEF SAV: PPMS-zariadenie na meranie fyziklnych vlastnost Elektrick odpor a magnetorezistencia MR = /H=(0 - H)/H

Tepeln kapacitaRozsah teplt:1.9 to 350 K (

SIPS 17.12.2008 RNDr. Marian Mihalik, CSc, UEF SAV: PPMS-zariadenie na meranie fyziklnych vlastnost

SIPS 17.12.2008 RNDr. Marian Mihalik, CSc, UEF SAV: PPMS-zariadenie na meranie fyziklnych vlastnost

SIPS 17.12.2008 RNDr. Marian Mihalik, CSc , UEF SAV: PPMS-zariadenie na meranie fyziklnych vlastnost Prstup iakov Z tudentov gymnzi na experimentlne zariadenia EF SAV a PF UPJ s cieom vypracova prce SO, prezentcia tchto prc, organizcia tudentskch konferencii, prprava zbornkov. SQUID magnetometer MPMS XL5PPMS 9T

SIPS 17.12.2008 RNDr. Marian Mihalik, CSc , UEF SAV: PPMS-zariadenie na meranie fyziklnych vlastnost Kalibrcia vybranch odporovch termometrov Elektrick odpor Cernox termometra meran na vlastnej aparatre (modra iara) a meran AC metdou na ( + znaky); Meranie odporu La0.67Pb0.33(Mn1xCox)O3, x=0.06 pomocou kalibrovanho Cernox termometra

SIPS 17.12.2008 RNDr. Marian Mihalik, CSc , UEF SAV: PPMS-zariadenie na meranie fyziklnych vlastnost SQUID magnetometer MPMS XL5 vysok citlivos jednoduch obsluha automatizcia merania

SIPS 17.12.2008 RNDr. Marian Mihalik, CSc , UEF SAV: PPMS-zariadenie na meranie fyziklnych vlastnost SQUID magnetometer MPMS XL5 meranie hysterznej sluky urenie Curieho teploty

SIPS 17.12.2008 RNDr. Marian Mihalik, CSc , UEF SAV: PPMS-zariadenie na meranie fyziklnych vlastnost Meranie Curieho teploty indukn metda Faradayov jav potaom riaden zber dt