realizacija elektronskih sklopov

46
REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV Vplivi okolja na zanesljivost M. Jankovec 24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost 1

Upload: others

Post on 29-Nov-2021

2 views

Category:

Documents


0 download

TRANSCRIPT

Page 1: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV Vplivi okolja na zanesljivost

M. Jankovec 24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

1

Page 2: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 2

Vpliv okolja na zanesljivost

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

temperatura 55% vlaga

25%

vibracije 15%

ostalo 5%

Page 3: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 3

Napetostne preobremenitve

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

Page 4: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 4

ESD – Elektrostatične izpraznitve

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

Page 5: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 5

Preboj tranzistorja

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

Page 6: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V

Dolgotrajna tokovna preobremenitev

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

6

Page 7: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V

Napaka pri sestavljanju

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

7

Page 8: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 8

Mehanska preobremenitev

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

Page 9: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 9

Vibracije

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

Page 10: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 10

Vlaga

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

Page 11: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 11

Agresivne snovi

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

© by Žiga Četrtič

Page 12: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 12

Ekstremni pogoji

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

Page 13: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 13

Faktor okolja

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

• Opisuje vpliv vseh parametrov določenega okolja, ki vplivajo na zanesljivost

• Predstavimo jih s multiplikacijsko konstanto 𝜋𝐸, s katero se množi pogostost odpovedi 𝜆

• Primer: Tabela faktorja okolja za mikroelektronske elemente

Okolje Opis 𝝅𝑬

Fiksno na tleh Brez obremenitev, milo okolje, dobro vzdrževanje 1

Mobilna oprema

Mehanski pretresi, slabše hlajenje, nepravilna uporaba 4

Ladje Stalni udarci in vibracije, vlaga 5

Letalo Visoki pospeški, vibracije, tlak 7

Rakete Ekstremni pospeški, vibracije 10

Page 14: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 14

Vlaga, voda in prah • IP oznake

▫ Prva številka pomeni zaščito proti trdnim delcem

▫ Druga številka pomeni zaščito proti vlagi in vodi

Prva številka (Trdni predmeti) Druga številka (Voda, vlaga)

0 Brez zaščite Brez zaščite

1 Zaščita pred večjimi predmeti Zaščita pred vertikalno kapljajočo vodo

2 Zaščita pred srednjimi predmeti Zaščita pred rahlo nagnjeno kapljajočo vodo (15 ° od vertikale)

3 Zaščita pred majhnimi predmeti (>2.5 mm)

Zaščita pred razpršeno vodo do 60 ° od vertikale.

4 Zaščita pred granulati (>1 mm) Zaščita pred razpršeno vodo z vseh strani.

5 Delna zaščita pred prahom Zaščita pred usmerjenim špricanjem.

6 Popolna zaščita pred prahom Zaščita pri poplavljanju.

7 Zaščita pri potapljanju do 1m.

8 Zaščita pri potapljanju v ekstremnih pogojih.

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

Page 15: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 15

Integrirano vezje

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

Page 16: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 16

Difuzija

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

• Kirkendallov efekt je difuzija atomov čez stik dveh kovin, ki formirajo na sredi zlitino obeh kovin, za sabo pa puščajo praznine

Glavni vzrok odpovedi priključkov (bonds) na integriranih vezjih.

Page 17: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 17

Difuzija kovine v polprevodnik

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

• Električne povezave na integriranih vezjih (Al, Ag)

• Atomi kovine lahko difundirajo v polprevodnik in povzročijo povečane rekombinacije ali kratke stike v aktivnih delih elementov

Page 18: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V

Elektromigracija

• Transport kovinskih ionov v prevodniku zaradi električnega toka

• Izražen tam, kjer so prisotne visoke gostote električnega toka

• Največji vzrok za odpovedi v mikroelektroniki

• Vpliva tudi na življenjski čas spajkanih kontaktov, če tokovne gostote presežejo 104 𝐴/𝑐𝑚2

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

18

Page 19: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 19

Korozija kovin

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

Vpliv žveplovih spojin v atmosferni na plasti iz zlitin, ki vsebujejo srebro

Page 20: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V

Elektrolitska migracija kovinskih ionov

• Najbolj občutljive kovine • Zlato • Srebro • Baker • Paladij • Svinec

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

20

Page 21: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 21

Galvanska korozija

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

• Stik dveh različnih kovin z različnima eletrokemičnima potencialoma v prisotnosti elektrolita formira galvanski člen

• Problem ostankov fluksa na tiskanih vezjih

Page 22: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 22

Arrheniusov zakon

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

Temperatura -> hitrost kemičnih reakcij

Kinetična konstanta: 𝑘 = 𝐴𝑒−𝐸𝑎𝑘𝑇 reakcij/s

Čas

Ener

gija

Reaktanti

Produkti 𝑬𝒂

Čas

Ener

gija

Reaktanti

Produkti

𝑬𝒂

Eksotermna reakcija Endotermna reakcija

Page 23: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 23

Maxwell-Boltzmannova porazdelitev

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

Ea

v / m/s

Page 24: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 24

Arrheniousov graf

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

𝑘 = 𝐴𝑒−𝐸𝑎𝑘𝑇 reakcij/s

Page 25: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 25

Določitev parametrov

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

• y-os prikazuje logaritem kinetične konstante 𝑘, x-os pa inverzno temperaturo 𝑇 v Kelvinih.

▫ 𝑘 = 𝐴𝑒−𝐸𝑎𝑘𝑇 → ln 𝑘 = ln 𝐴 −

𝐸𝑎

𝑘

1

𝑇

Page 26: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 26

Pogostost odpovedi 𝜆

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

• Pogostosti odpovedi pri dveh temperaturah

𝜆𝑇0= 𝐴𝑒

−𝐸𝑎

𝑘𝑇0 in 𝜆𝑇1= 𝐴𝑒

−𝐸𝑎

𝑘𝑇1

• Njuno razmerje pa je enako 𝜆𝑇1

𝜆𝑇0

= 𝑒𝐸𝑎𝑘

1𝑇0

−1𝑇1

• 𝑇0 predstavlja referenčno temperaturo, pri kateri je

podana nazivna pogostost odpovedi 𝜆𝑇0

Page 27: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 27

Srednji čas do odpovedi 𝑀𝑇𝑇𝐹

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

• Če predpostavimo eksponento porazdelitev

zanesljivosti, velja 𝑀𝑇𝑇𝐹 =1

𝜆

• Zato velja 𝑀𝑇𝑇𝐹𝑇1

𝑀𝑇𝑇𝐹𝑇0

= 𝑒−

𝐸𝑎𝑘

1𝑇0

−1𝑇1

Page 28: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V

Določitev aktivacijske energije 𝐸𝑎

Mehanizem 𝑬𝒂

preboj oksida 0,3 0,5 eV

korozija 0,3 0,6 eV

migracija

elektronov 0,45 1,0 eV

migracija

ionov 0,6 1,4 eV

napake

sestavljanja 0,5 0,7 eV

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

28

1

𝑇0−

1

𝑇1

ln (𝑀

𝑇𝑇

𝐹)

𝜶

𝐸𝑎 = 𝑘 ∙ tan 𝛼

Page 29: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 29

Vlaga

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

• Z vlago pogojeni mehanizmi okvar ▫ korozija ▫ elektrolitska korozija ▫ migracija kovin

• Vlaga na mestu učinka običajno ni enaka zračni vlagi • Vlaga prodira v material skozi mikrorazpoke, poroznost

ipd. s pomočjo difuzije • Faktor pospešitve staranja zaradi povišane vlage opišemo

s Hallberg-Peckovo empirično enačbo

𝐴𝐹𝑅𝐻 =𝑅𝐻𝑡

𝑅𝐻𝑢

3

𝑒𝐸𝑎𝑘

1𝑇𝑢

−1𝑇𝑡

▫ 𝑅𝐻𝑡-vlaga okolice med testiranjem ▫ 𝑅𝐻𝑢– vlaga okolice pri delovanju

Page 30: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 30

Napajalna napetost

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

• Vpliv napajalne napetosti na pogostost odpovedi lahko opišemo z empirično enačbo

𝜆𝑈 = 𝜆𝑈𝑚𝑎𝑥𝑒𝑧 𝑈−𝑈𝑚𝑎𝑥

▫ 𝑈𝑚𝑎𝑥 – najvišja dopustna napetost

▫ 𝑈 – obratovalna napetost

▫ 𝑧 – eksponent s tipično vrednostjo med 3 in 5

▫ 𝜆𝑈 - pogostost okvar pri obratovalni napetosti

▫ 𝜆𝑈𝑚𝑎𝑥 - pogostost okvar pri maksimalni dopustni

napetosti

Page 31: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 31

Napajalni tok

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

• Vpliv povečanega toka na srednji čas do odpovedi je podan z naslednjo empirično enačbo (Black eq.)

𝑀𝑇𝑇𝐹 = 𝐴𝐽−𝑛𝑒𝐸𝑎𝑘𝑇

• Kjer je: ▫ 𝐴 konstanta, odvisna od vrste materiala

▫ 𝑛 eksponent, odvisen od tokove gostote (n = 1 ~ 3),

▫ 𝐽 gostota toka.

▫ 𝐸𝑎 aktivacijska energija (0,5 – 1,2 eV)

• Formula izhaja iz efekta elektromigracije

Page 32: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 32

Termični cikli

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

• Termični cikli povzročajo termo-mehanske učinke in se obravnavajo skupaj s temperaturnim šokom.

• Mehanizmi, ki privedejo do okvare: ▫ utrujenost materiala, ▫ različni raztezki materialov, ▫ stiki zaradi migracij in kondenza, ▫ deformacije in lomi, ▫ odstopanje lameliranih površin.

• Srednji čas do odpovedi določenega materiala opisuje Coffin-Mansonova formula:

𝑀𝑇𝑇𝐹 =C

Δ𝑇𝛾

• Nadgrajena C-M formula za modeliranje napak spajke zaradi termičnega ciklanja

𝑀𝑇𝑇𝐹 =𝐶𝑓𝛼

Δ𝑇𝛽𝐴𝑒

𝐸𝑎𝑘𝑇

Page 33: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 33

Merjenje zanesljivosti • Beleženje izpadov v okviru N naprav. • 𝑡𝑖 je trenutek, ko odpove 𝑖-ta naprava. • Zanesljivost v tem trenutku je približno enaka razmerju

med delujočimi in vsemi testiranimi napravami.

𝑅 𝑡𝑖 =𝑁 + 1 − 𝑖

𝑁 + 1

• Metoda da dobre rezultate, če se obdeluje dovolj veliko število vzorcev.

• Težave: ▫ Že na začetku meritev je treba imeti veliko število naprav. ▫ Delovanje velike skupine ni poceni. ▫ Testi so dolgotrajni. ▫ V daljšem obdobju je težko zagotavljati enake pogoje

delovanja.

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

Page 34: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 34

Ekstrapolacija

• Če je poznana oblika časovnega poteka zanesljivosti, je dovolj, da se poišče samo nekaj začetnih vrednosti krivulje.

• Iz dobljenih točk in poznane oblike se lahko določi vse parametre.

• V tem primeru že razmeroma malo vzorcev in kratkotrajne meritve dajo zadovoljive rezultate.

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

Page 35: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 35

Skrajšava časa testiranja

• Dolgotrajne meritve se skrajša na več načinov. ▫ Ekstrapolacija

▫ Pospešeno staranje

• Ekstrapolacija ▫ Če je poznana oblika časovnega poteka zanesljivosti, je

dovolj, da se poišče samo nekaj začetnih vrednosti krivulje.

▫ Iz dobljenih točk in poznane oblike se lahko določi vse parametre.

▫ V tem primeru že razmeroma malo vzorcev in kratkotrajne meritve dajo zadovoljive rezultate.

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

Page 36: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 36

Pospešeno testiranje

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

• Pospešeno testiranje je namerno staranje proizvoda, zaradi česar pride do večjega števila normalnih napak pri poslabšanih pogojih delovanja, kot ga pričakujemo pri normalni uporabi.

• Učinek: Čas testiranja je skrajšan in uspešni rezultati so doseženi mnogo hitreje, kot pri normalnih obratovalnih pogojih.

• Namen: ▫ ugotavljanje šibkih elementov načrtovanja (Accelerated Stress Testing – AST), ▫ ocena parametrov zanesljivosti (Accelerated Life Testing – ALT).

• Dve tehniki pospeševanja: ▫ povečanje aktivnosti naprav, ▫ poslabšanje pogojev obratovanja.

• Faktorji pospešitve: ▫ povečanje frekvence obremenjenega delovanja, ▫ povečane vibracije, ▫ povišana vlaga, ▫ ostrejši in povečani temperaturni cikli, ▫ višje temperature delovanja. Pospeševalni faktor

𝐴𝐹 = 𝑒𝐸𝑎𝑘

1𝑇0

−1𝑇1

Page 37: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 37

Testiranje vpliva temperature in vlage

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

Page 38: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 38

Termično ciklanje

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

Page 39: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 39

Zamrznitveni test

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

Page 40: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 40

Odstopanje

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

Page 41: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 41

Vdor vlage in umazanije

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

Page 42: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 42

Degradacija materialov

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

Page 43: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 43

Burn-in & Screening

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

• Testno delovanje pod težjimi pogoji za hitro prebroditev otroške dobe.

• Dobre izdelke pripelje do dobe uporabe, slabe pa izloči, še preden jih dobijo uporabniki

• Posebna oblika proizvodnega testiranja, običajno del kontrole kvalitete na koncu proizvodnega procesa

Screening

Čas

𝜆

Page 44: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 44

Podatkovne baze

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

• MIL-HDBK-217X ▫ 217A (1965 – podatki iz terena) ▫ 217B (1970 – podatki iz terena) ▫ 217C (1979 – iz pospešenih testov ▫ 217D (1982 – iz pospešenih testov) ▫ 217E (1986 – iz pospešenih testov) ▫ 217F (1991 – iz pospešenih testov)

• Handbook of reliability data for electronic components used in telecomunication systems (British Telecom)

• Reliability prediction Procedure for Electronic Equipement ▫ Temelji na MIL-HDBK-217 – leta 1985 se osamosvoji ▫ Vključeni tudi modeli padajoče 𝜆(𝑡)

• SM 19 5000 (Siemens) ▫ Interni standardi za lastne komponente

Page 45: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V

Primer za elektrolitski aluminijev kondenzator

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

45

Page 46: REALIZACIJA ELEKTRONSKIH SKLOPOV

R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V R E A L I Z A C I J A E L E K T R O N S K I H S K L O P O V 46

Primer za integrirana vezja

24.10.2012 Vpliv okolja na zanesljivost

𝜆 = 𝜋𝑄 𝐶1𝜋𝑇𝜋𝑉 + 𝐶2 + 𝐶3 𝜋𝐸 𝜋𝐿

▫ 𝜋𝑄- faktor temperature

▫ 𝜋𝑉- faktor napajalne napetosti

▫ 𝜋𝐸- faktor učenja

▫ 𝜋𝐿- faktor okolja

▫ 𝐶1, 𝐶2 - pogostost odpovedi zaradi kompleksnosti vezja

▫ 𝐶3 - pogostost odpovedi zaradi kompleksnosti ohišja