vol.43. noieieimages.ieieweb.org/journal/ebook/ieek_magazine/... · 2016-11-29 · 제 제 호 권...

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회

제43권 11호

2016년 11월호

www.theieie.org

The Magazine of the IEIE

vol.43. no.11

머신 러닝 기반 머신 비젼 최신 기술 동향•딥러닝 기법을 이용한 머신 비젼 기술 최근 응용 동향

•특징점 기반의 머신러닝 기술을 이용한 OLED결함 분류 기술

•카메라 모튤 검사 장비의 자동화를 위한 기계 학습의 활용

•공장 자동화를 위한 광학 방식 삼차원 측정 기술 연구

•머신비젼 카메라의 특성과 동향

ISSN 1016-9288

전자공학회지.11월호_레이아웃 1 16. 11. 22 오전 10:47 페이지 2

머신

러닝

기반

머신

비젼

최신

기술

동향

채용분야 응시자격

Display Analog설계

▷ Analog설계 회로 경력자(2년이상)▷ Display Driver IC 개발 경력자(2년이상)▷ RF IC개발 신입(관련 전공자)/경력자▷ 전문연구요원

Display Digital 설계 ▷ Display IC(T-con)개발 신입/경력자(2년이상)

신호처리 개발▷ 신호처리관련/생체신호 처리 석사 이상▷ 관련 경력 1년 이상자 우대

디바이스 FW 개발▷ 전자/전산/컴퓨터 계열 학사 이상▷ 관련 경력 2년 이상자 우대

배움에는 경계가 없습니다.

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Contents 제43권 11호 (2016년 11월)

■ 위원장 황인철(강원대학교교수)

■ 위 원 김동규(한양대학교교수) 김문철(한국과학기술원교수) 김수찬(한경대학교교수) 김시호(연세대학교교수) 김영진(한국항공대학교교수) 김재현(아주대학교교수) 김정태(이화여자대학교교수) 김현(부천대학교교수) 남기창(동국대학교교수) 박승영(강원대학교교수) 백동현(중앙대학교교수) 송민규(동국대학교교수) 신종원(광주과학기술원교수) 유명식(숭실대학교교수) 이병근(광주과학기술원교수) 이승호(한밭대학교교수) 이용구(한림성심대학교교수) 이희덕(충남대학교교수) 인치호(세명대학교교수) 전병태(한경대학교교수) 조제광(LG전자책임연구원) 진훈(경기대학교교수) 채관엽(삼성전자수석연구원) 한완옥(여주대학교교수)

■ 사무국 편집담당 변은정과장(내선3) TEL:(02)553-0255(대) FAX:(02)552-6093

■ 학회 홈페이지 http://www.theieie.org

회지편집위원회

학회소식

12 학회소식/편집부

16 학회일지

17 특집편집기/김정태

특집 : 머신 러닝 기반 머신 비젼 최신 기술 동향

18 딥러닝기법을이용한머신비젼기술최근응용동향/김정태,조희연,최은정

27 특징점기반의머신러닝기술을이용한OLED결함분류기술/최학남,김학일

33 카메라모듈검사장비의자동화를위한기계학습의활용/박순영,김상목

39 공장자동화를위한광학방식삼차원측정기술연구/장효영,노영준

46 머신비젼카메라의특성과동향/황준현

53 논문지논문목차

56 신간안내

정보교차로

57 국내외학술행사안내/편집부

65 특별회원사,단체회원

※학회지11월호표지(vol43.No11)


회 장 구 용 서 (단국대학교 교수) - 총괄

수석부회장 홍 대 식 (연세대학교 교수) - 총괄

고 문 구 원 모 (전자신문사 대표이사) 김 기 남 (삼성전자(주) 사장)

박 청 원 (전자부품연구원 원장) 백 만 기 (김&장법률사무소 변리사)

양 웅 철 (현대자동차㈜ 부회장) 이 상 훈 (한국전자통신연구원 원장)

이 재 욱 (노키아티엠씨 명예회장) 이 희 국 (㈜LG 상근고문)

천 경 준 (㈜씨젠 회장)

감 사 이 필 중 (포항공과대학교 교수) 정 교 일 (한국전자통신연구원 책임연구원)

부 회 장 박 홍 준 (포항공과대학교 교수) - 회원, 지부, 표준화 백 준 기 (중앙대학교 교수) - 하계, 영문논문편집, 회지편집, 국제협력

안 승 권 (LG전자㈜ 사장) - 산학연 임 혜 숙 (이화여자대학교 교수) - 사업, 추계, 재무

최 천 원 (단국대학교 교수) - 기획, 국문논문편집, 교육/홍보

소사이어티 회장 안 현 식 (동명대학교 교수) - 컴퓨터소사이어티 오 승 록 (단국대학교 교수) - 시스템 및 제어소사이어티

원 영 진 (부천대학교 교수) - 산업전자소사이어티 이 재 진 (숭실대학교 교수) - 통신소사이어티

전 영 현 (삼성전자㈜ 사장) - 반도체소사이어티 조 남 익 (서울대학교 교수) - 신호처리소사이어티

산업체부회장 김 창 용 (삼성전자㈜ DMC연구소장) 박 성 욱 (SK하이닉스㈜ 대표이사)

협동부회장 김 기 호 (삼성전자㈜ 부사장) 김 달 수 (㈜티엘아이 대표이사)

김 부 균 (숭실대학교 교수) 김 상 태 (한국산업기술평가관리원 단장)

김 수 원 (고려대학교 교수) 김 종 대 (한국전자통신연구원 소장)

김 철 동 (㈜세원텔레텍 대표이사) 남 상 엽 (국제대학교 교수)

박 찬 구 (인피니언테크놀로지스파워세미텍 대표이사) 박 형 무 (동국대학교 교수)

서 승 우 (서울대학교 교수) - 사업 성 하 경 (전자부품연구원 선임연구본부장)

송 문 섭 ((유)엠세븐시스템 대표이사) 유 현 규 (한국전자통신연구원 박사)

유 회 준 (한국과학기술원 교수) 윤 기 방 (인천대학교 교수)

이 상 홍 (정보통신기술진흥센터 센터장) 이 상 회 (동서울대학교 교수)

이 승 훈 (서강대학교 교수) 이 윤 종 (㈜동부하이텍 부사장)

이 재 훈 (유정시스템㈜ 사장) 장 태 규 (중앙대학교 교수)

전 성 호 (㈜솔루엠 대표이사) 정 준 (㈜쏠리드 대표이사)

정 은 승 (삼성전자㈜ 부사장) 정 진 용 (인하대학교 교수)

정 항 근 (전북대학교 교수) 조 상 복 (울산대학교 교수)

최 승 원 (한양대학교 교수) 한 대 근 (㈜실리콘웍스 대표이사)

허 염 (㈜실리콘마이터스 대표이사) 허 영 (한국전기연구원 본부장)

호 요 성 (광주과학기술원 교수)

상 임 이 사 공 준 진 (삼성전자㈜ 마스터) - 국제협력 김 선 욱 (고려대학교 교수) - 학술(하계)

김 종 옥 (고려대학교 교수) - 회원/정보화 박 종 일 (한양대학교 교수) - 사업

백 광 현 (중앙대학교 교수) - 총무 범 진 욱 (서강대학교 교수) - 사업

심 동 규 (광운대학교 교수) - SPC 엄 낙 웅 (한국전자통신연구원 소장) - 산학연

유 창 동 (한국과학기술원 교수) - 사업 윤 일 구 (연세대학교 교수) - 교육/홍보

이 충 용 (연세대학교 교수) - 재무 이 혁 재 (서울대학교 교수) - 논문편집

이 흥 노 (광주과학기술원 교수) - 기획 최 중 호 (서울시립대학교 교수) - 학술(추계)

홍 용 택 (서울대학교 교수) - 표준화 황 인 철 (강원대학교 교수) - 회지편집

산업체이사 고 요 환 (㈜매그나칩반도체 전무) 김 보 은 (㈜라온텍 사장)

김 진 선 (SK이노베이션 전무) 김 태 진 (㈜더즈텍 사장)

김 현 수 (삼성전자㈜ 상무) 민 경 오 (LG전자㈜ 부사장)

박 동 일 (현대자동차㈜ 전무) 손 광 준 (산업통상자원부 PD)

송 창 현 (네이버 CTO) 오 의 열 (LG디스플레이㈜ 연구위원)

윤 영 권 (삼성전자㈜ 마스터) 정 원 영 (인제대학교 교수)

정 한 욱 (㈜MOS 강남 대표이사) 조 영 민 (㈜스카이크로스코리아 사장)

조 재 문 (삼성전자㈜ 전무) 차 종 범 (구미전자정보기술원 원장)

최 승 종 (LG전자㈜ 전무) 최 정 아 (삼성전자㈜ 전무)

최 진 성 (Sk텔레콤 전무) 함 철 희 (삼성전자㈜ 마스터)

홍 국 태 (LG전자㈜ 연구위원)

이 사 강 문 식 (강릉원주대학교 교수) - 학술(하계) 공 배 선 (성균관대학교 교수) - ICCE

권 기 원 (성균관대학교 교수) - 국제협력 권 종 기 (한국전자통신연구원 책임연구원) - 사업

권 혁 인 (중앙대학교 교수) - 총무 김 대 환 (국민대학교 교수) - 표준화

김 동 규 (한양대학교 교수) - 회지편집 김 동 식 (인하공업전문대학 교수) - 사업

2016년도 임원 및 각 위원회 위원

김 문 철 (한국과학기술원 교수) - 회지편집 김 성 호 (한국산업기술평가관리원 실장) - 학술(하계)

김 승 천 (한성대학교 교수) - 기획 김 용 석 (성균관대학교 교수) - 학술(추계)

김 용 신 (고려대학교 교수) - 총무 김 원 종 (한국전자통신연구원 책임연구원) - 표준화

김 창 익 (한국과학기술원 교수) - 사업 노 원 우 (연세대학교 교수) - 논문편집

노 태 문 (한국전자통신연구원 책임연구원) - 학술(하계) 동 성 수 (용인송담대학교 교수) - 회원/정보화

문 용 (숭실대학교 교수) - 논문편집 민 경 식 (국민대학교 교수) - 학술(추계)

박 현 창 (동국대학교 교수) - 사업 변 영 재 (울산과학기술대학교 교수) - 학술(추계)

성 해 경 (한양여자대학교 교수) - 교육/홍보 송 민 규 (동국대학교 교수) - 회지편집

송 상 헌 (중앙대학교 교수) - 기획 송 용 호 (한양대학교 교수) - 학술(추계)

심 정 연 (강남대학교 교수) - 총무 예 종 철 (한국과학기술원 교수) - 논문편집

유 윤 섭 (한경대학교 교수) - 회원/정보화 윤 석 현 (단국대학교 교수) - 기획

이 광 엽 (서경대학교 교수) - 산학연/학술(추계) 이 병 근 (광주과학기술원 교수) - 회지편집

이 병 선 (김포대학교 교수) - 교육/홍보 이 상 근 (중앙대학교 교수) - SPC

이 성 수 (숭실대학교 교수) - 기획 이 승 호 (한밭대학교 교수) - 회지편집

이 용 식 (연세대학교 교수) - 교육/홍보 이 윤 식 (울산과학기술대학교 교수) - 교육/홍보

이 찬 호 (숭실대학교 교수) - 산학연 이 한 호 (인하대학교 교수) - 국제협력

이 호 진 (숭실대학교 교수) - 표준화 인 치 호 (세명대학교 교수) - 논문편집

임 기 택 (전자부품연구원 센터장) - 사업 정 영 모 (한성대학교 교수) - 논문편집

정 의 영 (연세대학교 교수) - ICCE 조 성 현 (한양대학교 교수) - 국제협력

조 성 환 (한국과학기술원 교수) - ICCE 최 강 선 (한국기술교육대학교 교수) - 학술(하계)/ SPC

최 병 호 (전자부품연구원 센터장) - 산학연 최 수 용 (연세대학교 교수) - 재무

최 용 수 (성결대학교 교수) - 논문편집 한 재 호 (고려대학교 교수) - 회원/정보화

한 종 기 (세종대학교 교수) - 학술(추계) 한 태 희 (성균관대학교 교수) - 교육/홍보

허 재 두 (한국전자통신연구원 실장) - ICCE 현 경 숙 (세종대학교 교수) - 논문편집

협 동 이 사 강 석 형 (울산과학기술대학교 교수) - 교육/홍보 고 윤 호 (충남대학교 교수) - 산학연

권 호 열 (강원대학교 교수) - 학술(하계) 김 짐 (한국산업기술평가관리원 선임연구원) - 사업

김 현 (부천대학교 교수) - 회지 김 남 용 (강원대학교 교수) - 회원

김 동 순 (전자부품연구원 박사) - 학술(하계) 김 소 영 (성균관대학교 교수) - 학술(추계)

김 승 구 (충북대학교 교수) - 회원/정보화 김 영 진 (한국항공대학교 교수) - 회지

김 영 희 (창원대학교 교수) - 회원 김 윤 희 (경희대학교 교수) - 재무

김 준 모 (한국과학기술원 교수) - 사업 김 지 훈 (서울과학기술대학교 교수) - 학술(추계)

김 창 수 (고려대학교 교수) - SPC 김 태 원 (상지영서대학교 교수) - 기획

남 대 경 (전자부품연구원 선임연구원) - 사업 노 정 진 (한양대학교 교수) - 회원/정보화

류 수 정 (삼성전자(주) 상무) - 국제협력 박 기 찬 (건국대학교 교수) - 표준화

박 승 영 (강원대학교 교수) - 회지 박 재 형 (전남대학교 교수) - 회원

박 주 현 (픽셀플러스 실장) - 산학연 박 준 희 (이화여자대학교 교수) - 기획

박 천 수 (세종대학교 교수) - 회원/정보화 변 대 석 (삼성전자(주) 마스터) - 국제협력

변 철 우 (원광대학교 교수) - 회원 서 진 수 (강릉원주대학교 교수) - 사업

서 춘 원 (김포대학교 교수) - 사업 선 우 경 (이화여자대학교 교수) - 교육/홍보

송 병 철 (인하대학교 교수) - 학술(하계) 신 종 원 (광주과학기술원 교수) - 기획

안 길 초 (서강대학교 교수) - 사업 연 규 봉 (자동차부품연구원 팀장) - 표준화

유 경 식 (한국과학기술원 교수) - 학술(하계) 이 가 원 (충남대학교 교수) - 논문

이 강 윤 (성균관대학교 교수) - 학술(추계) 이 기 성 (고려대학교 교수) - ICEIC

이 문 구 (김포대학교 교수) - 회원/정보화 이 민 영 (반도체산업협회 본부장) - 산학연

이 석 필 (상명대학교 교수) - 교육/홍보 이 용 구 (한림성심대학교 교수) - 논문

이 창 우 (가톨릭대학교 교수) - 기획 이 채 은 (인하대학교 교수) - 논문

장 길 진 (경북대학교 교수) - 사업 장 익 준 (경희대학교 교수) - 논문

전 문 구 (광주과학기술원 교수) - 기획 전 병 태 (한경대학교 교수) - 회지

전 준 표 (한국산업기술평가관리원 책임연구원) - 학술(추계) 정 용 규 (을지대학교 교수) - 기획

정 윤 호 (한국항공대학교 교수) - 논문 조 명 진 (네이버 박사) - 학술(하계)

조 수 현 (홍익대학교 교수) - 총무 최 병 덕 (한양대학교 교수) - 표준화

최 윤 경 (삼성전자(주) 마스터) - 총무 한 영 선 (경일대학교 교수) - 학술(하계)

한 완 옥 (여주대학교 교수) - 회지

지부장 명단

강 원 지 부 임 해 진 (강원대학교 교수) 광주·전남지부 이 배 호 (전남대학교 교수)

대구·경북지부 박 정 일 (영남대학교 교수) 대전·충남지부 이 희 덕 (충남대학교 교수)

부산·경남·울산지부 이 장 명 (부산대학교 교수) 전 북 지 부 조 경 주 (원광대학교 교수)

제 주 지 부 강 민 제 (제주대학교 교수) 충 북 지 부 최 영 규 (한국교통대학교 교수)

호 서 지 부 장 은 영 (공주대학교 교수) 일 본 지 부 백 인 천 (AIZU대학교 교수)

미 국 지 부 최 명 준 (텔레다인 박사)


위원회 명단

자문위원회위 원 장 박 진 옥 (명예회장)

부 위 원 장 김 영 권 (명예회장)

위 원 고 성 제 (고려대학교 교수) 김 덕 진 (명예회장) 김 도 현 (명예회장)

김 성 대 (한국과학기술원 교수) 김 수 중 (명예회장) 김 재 희 (연세대학교 교수)

김 정 식 (대덕전자 회장) 나 정 웅 (명예회장) 문 영 식 (한양대학교 교수)

박 규 태 (명예회장) 박 병 국 (서울대학교 교수) 박 성 한 (명예회장)

박 항 구 (소암시스텔 회장) 변 증 남 (명예회장) 서 정 욱 (명예회장)

성 굉 모 (서울대학교 명예교수) 윤 종 용 (삼성전자 비상임고문) 이 문 기 (명예회장)

이 상 설 (명예회장) 이 재 홍 (서울대학교 교수) 이 진 구 (동국대학교 석좌교수)

이 충 웅 (명예회장) 이 태 원 (명예회장) 임 제 탁 (명예회장)

전 국 진 (서울대학교 교수) 전 홍 태 (중앙대학교 교수) 정 정 화 (한양대학교 석좌교수)

홍 승 홍 (명예회장)

기획위원회위 원 장 이 흥 노 (광주과학기술원 교수)

위 원 김 승 천 (한성대학교 교수) 김 태 원 (상지영서대학교 교수) 박 인 규 (인하대학교 교수)

박 준 희 (이화여자대학교 교수) 박 현 창 (동국대학교 교수) 송 상 헌 (중앙대학교 교수)

신 종 원 (광주과학기술원 교수) 윤 석 현 (단국대학교 교수) 이 병 선 (김포대학교 교수)

이 성 수 (숭실대학교 교수) 이 창 우 (가톨릭대학교 교수) 정 용 규 (을지대학교 교수)

최 준 원 (한양대학교 교수)

학술연구위원회위 원 장 김 선 욱 (고려대학교 교수) - 하계 최 중 호 (서울시립대학교 교수) - 추계

위 원 강 문 식 (강릉원주대학교 교수) 구 형 일 (아주대학교 교수) 권 호 열 (강원대학교 교수)

김 경 연 (제주대학교 교수) 김 동 순 (전자부품연구원 박사) 김 성 호 (한국산업기술평가관리원 실장)

김 영 로 (명지전문대학 교수) 김 용 권 (건양대학교 교수) 김 용 신 (고려대학교 교수)

김 종 옥 (고려대학교 교수) 김 철 우 (고려대학교 교수) 노 원 우 (연세대학교 교수)

노 태 문 (한국전자통신연구원 실장) 박 상 윤 (명지대학교 교수) 박 재 홍 (서울대학교 교수)

변 영 재 (울산과학기술대학교 교수) 서 성 규 (고려대학교 교수) 송 병 철 (인하대학교 교수)

유 경 식 (한국과학기술원 교수) 윤 일 구 (연세대학교 교수) 이 병 근 (광주과학기술원 교수)

이 용 구 (한림성심대학교 교수) 이 채 은 (인하대학교 교수) 이 흥 노 (광주과학기술원 교수)

정 승 원 (동국대학교 교수) 제 민 규 (한국과학기술원 교수) 조 명 진 (네이버 박사)

최 강 선 (한국기술교육대학교 교수) 한 영 선 (경일대학교 교수) 한 영 선 (경일대학교 교수)

한 완 옥 (여주대학교 교수) 황 인 철 (강원대학교 교수)

논문편집위원회위 원 장 이 혁 재 (서울대학교 교수)

위 원 김 경 기 (대구대학교 교수) 김 지 훈 (서울과학기술대학교 교수) 김 진 성 (선문대학교 교수)

노 원 우 (연세대학교 교수) 노 태 문 (한국전자통신연구원 책임연구원) 성 해 경 (한양여자대학교 교수)

유 명 식 (숭실대학교 교수) 윤 석 현 (단국대학교 교수) 이 상 근 (중앙대학교 교수)

이 수 열 (경희대학교 교수) 이 용 구 (한림성심대학교 교수) 이 재 성 (교통대학교 교수)

이 채 은 (인하대학교 교수) 장 익 준 (경희대학교 교수) 정 윤 호 (한국항공대학교 교수)

최 용 수 (성결대학교 교수) 한 태 희 (성균관대학교 교수) 홍 민 철 (숭실대학교 교수)

국제협력위원회위 원 장 공 준 진 (삼성전자 마스터)

위 원 권 기 원 (성균관대학교 교수) 김 훈 (Synopsys Korea 이사) 김 준 모 (한국과학기술원 교수)

남 병 규 (충남대학교 교수) 류 수 정 (삼성전자 상무) 류 현 석 (삼성전자 마스터)

박 성 정 (건국대학교 교수) 변 대 석 (삼성전자 마스터) 신 원 용 (단국대학교 교수)

유 경 동 (SK하이닉스 상무) 이 영 주 (광운대학교 교수) 이 한 호 (인하대학교 교수)

장 익 준 (경희대학교 교수) 정 재 웅 (Atto Research CEO) 정 진 섭 (Innowireless SVP)

조 상 연 (삼성전자 상무) 조 성 현 (한양대학교 교수) 최 우 영 (연세대학교 교수)

산학연협동위원회위 원 장 엄 낙 웅 (한국전자통신연구원 소장)

위 원 고 윤 호 (충남대학교 교수) 김 현 (부천대학교 교수) 김 수 환 (서울대학교 교수)

남 병 규 (충남대학교 교수) 박 주 현 (픽셀플러스 실장) 방 극 준 (인덕대학교 교수)

이 광 엽 (서경대학교 교수) 이 민 영 (한국반도체산업협회 본부장) 이 정 석 (인하공업전문대학 교수)

이 창 석 (한밭대학교 교수) 이 한 호 (인하대학교 교수) 제 민 규 (한국과학기술원 교수)

차 철 웅 (전자부품연구원 책임연구원) 최 병 호 (전자부품연구원 센터장) 한 태 희 (성균관대학교 교수)

회원관리위원회위 원 장 김 종 옥 (고려대학교 교수)

위 원 권 구 락 (조선대학교 교수) 김 승 구 (충북대학교 교수) 김 용 신 (고려대학교 교수)

김 창 수 (고려대학교 교수) 박 천 수 (세종대학교 교수) 유 윤 섭 (한경대학교 교수)

최 강 선 (한국기술교육대학교 교수) 한 재 호 (고려대학교 교수)

회지편집위원회위 원 장 황 인 철 (강원대학교 교수)

위 원 김 동 규 (한양대학교 교수) 김 문 철 (한국과학기술원 교수) 김 수 찬 (한경대학교 교수)

김 시 호 (연세대학교 교수) 김 영 진 (한국항공대학교 교수) 김 재 현 (아주대학교 교수)

김 정 태 (이화여자대학교 교수) 김 현 (부천대학교 교수) 남 기 창 (동국대학교 교수)

박 승 영 (강원대학교 교수) 백 동 현 (중앙대학교 교수) 송 민 규 (동국대학교 교수)

신 종 원 (광주과학기술원 교수) 유 명 식 (숭실대학교 교수) 이 병 근 (광주과학기술원 교수)

이 승 호 (한밭대학교 교수) 이 용 구 (한림성심대학교 교수) 이 희 덕 (충남대학교 교수)

인 치 호 (세명대학교 교수) 전 병 태 (한경대학교 교수) 조 제 광 (LG전자 책임연구원)

진 훈 (경기대학교 교수) 채 관 엽 (삼성전자 수석연구원) 한 완 옥 (여주대학교 교수)

사업위원회 위 원 장 박 종 일 (한양대학교 교수) 범 진 욱 (서강대학교 교수) 유 창 동 (한국과학기술원 교수)

위 원 고 균 병 (한국교통대학교 교수) 고 중 혁 (중앙대학교 교수) 권 종 기 (한국전자통신연구원 책임연구원)

권 혁 인 (중앙대학교 교수) 김 짐 (한국산업기술평가관리원 선임연구원) 김 동 식 (인하공업전문대학 교수)

김 용 신 (고려대학교 교수) 김 종 선 (홍익대학교 교수) 김 종 옥 (고려대학교 교수)

김 준 모 (한국과학기술원 교수) 김 창 익 (한국과학기술원 교수) 김 형 탁 (홍익대학교 교수)

남 대 경 (전자부품연구원 팀장) 노 원 우 (연세대학교 교수) 노 정 진 (한양대학교 교수)

노 태 문 (한국전자통신연구원 책임연구원) 문 현 욱 (동원대학교 교수) 민 경 식 (국민대학교 교수)

박 강 령 (동국대학교 교수) 박 정 욱 (연세대학교 교수) 박 현 창 (동국대학교 교수)

서 인 식 (라이트웍스 대표이사) 서 진 수 (강릉원주대학교 교수) 서 춘 원 (김포대학교 교수)

송 용 호 (한양대학교 교수) 신 현 출 (숭실대학교 교수) 심 동 규 (광운대학교 교수)

안 길 초 (서강대학교 교수) 윤 일 구 (연세대학교 교수) 윤 재 철 (삼성전자 수석)

이 용 식 (연세대학교 교수) 임 기 택 (전자부품연구원 센터장) 장 길 진 (경북대학교 교수)

조 면 균 (세명대학교 교수) 조 제 광 (LG전자 박사) 최 병 호 (전자부품연구원 센터장)

최 수 용 (연세대학교 교수) 최 윤 경 (삼성전자 마스터) 최 중 호 (서울시립대학교 교수)

최 진 호 (LG전자 수석연구원) 홍 민 철 (숭실대학교 교수)

교육홍보위원회 위 원 장 윤 일 구 (연세대학교 교수)

부 위 원 장 이 석 필 (상명대학교 교수)

위 원 김 정 구 (부산대학교 교수) 김 준 태 (건국대학교 교수) 류 시 복 (자동차부품연구원 책임연구원)

이 동 훈 (삼성전자 수석연구원) 이 용 식 (연세대학교 교수) 이 종 호 (서울대학교 교수)

임 기 택 (전자부품연구원 센터장) 장 길 진 (경북대학교 교수) 장 준 혁 (한양대학교 교수)

허 준 (고려대학교 교수)

표준화위원회위 원 장 홍 용 택 (서울대학교 교수)

위 원 김 원 종 (한국전자통신연구원 책임연구원) 구 정 래 (한국심사자격인증원 팀장) 권 기 원 (성균관대학교 교수)

김 대 환 (국민대학교 교수) 김 동 규 (한양대학교 교수) 김 병 철 (한양대학교 교수)

김 시 호 (연세대학교 교수) 김 옥 수 (인피니언코리아 이사) 김 종 훈 (한국과학기술원 교수)

박 기 찬 (건국대학교 교수) 박 주 현 (픽셀플러스 실장) 신 성 호 (우석대학교 교수)

연 규 봉 (자동차부품연구원 팀장) 윤 대 원 (법무법인 다래 이사) 이 민 영 (한국반도체산업협회 본부장)

이 상 근 (성균관대학교 교수) 이 상 미 (IITP 팀장) 이 상 준 (수원과학대학 교수)

이 서 호 (한국기계전기전자시험연구원 과장) 이 종 묵 (SOL 대표) 이 호 진 (숭실대학교 교수)

장 미 혜 (연세대학교 교수) 정 교 일 (한국전자통신연구원 책임연구원) 좌 성 훈 (서울과학기술대학교 교수)

차 철 웅 (전자부품연구원 책임연구원) 최 병 덕 (한양대학교 교수) 한 태 수 (국가기술표준원/표준협회 표준코디)

정보화위원회위 원 장 김 종 옥 (고려대학교 교수)

위 원 권 구 락 (조선대학교 교수) 김 승 구 (충북대학교 교수) 김 용 신 (고려대학교 교수)

김 창 수 (고려대학교 교수) 박 천 수 (세종대학교 교수) 유 윤 섭 (한경대학교 교수)

최 강 선 (한국기술교육대학교 교수) 한 재 호 (고려대학교 교수)


지부담당위원회 위 원 장 박 홍 준 (포항공과대학교 교수)

위 원 강 민 제 (제주대학교 교수) 박 정 일 (영남대학교 교수) 백 인 천 (AIZU대학교 교수)

이 장 명 (부산대학교 교수) 이 희 덕 (충남대학교 교수) 임 해 진 (강원대학교 교수)

장 은 영 (공주대학교 교수) 조 경 주 (원광대학교 교수) 최 명 준 (텔레다인 박사)

최 영 규 (한국교통대학교 교수) 최 조 천 (목포해양대학교 교수)

선거관리위원회위 원 장 이 진 구 (동국대학교 석좌교수)

위 원 김 선 욱 (고려대학교 교수) 김 종 옥 (고려대학교 교수) 백 광 현 (중앙대학교 교수)

심 정 연 (강남대학교 교수) 이 충 용 (연세대학교 교수) 이 흥 노 (광주과학기술원 교수)

포상위원회 위 원 장 전 국 진 (서울대학교 교수)

위 원 김 선 욱 (고려대학교 교수) 백 광 현 (중앙대학교 교수) 유 창 동 (한국과학기술원 교수)

이 충 용 (연세대학교 교수) 이 혁 재 (서울대학교 교수) 홍 대 식 (연세대학교 교수)

재정위원회위 원 장 구 용 서 (단국대학교 교수)

위 원 고 성 제 (고려대학교 교수) 백 준 기 (중앙대학교 교수) 이 충 용 (연세대학교 교수)

이 필 중 (포항공과대학교 교수) 전 국 진 (서울대학교 교수) 정 준 (쏠리드 대표이사)

한 대 근 (실리콘웍스 대표이사) 홍 대 식 (연세대학교 교수)

인사위원회 위 원 장 구 용 서 (단국대학교 교수)

위 원 박 종 일 (한양대학교 교수) 백 광 현 (중앙대학교 교수) 이 충 용 (연세대학교 교수)

임 혜 숙 (이화여자대학교 교수) 홍 대 식 (연세대학교 교수)

SPC위원회위 원 장 심 동 규 (광운대학교 교수)

자 문 위 원 구 용 서 (단국대학교 교수) 김 선 욱 (고려대학교 교수) 박 종 일 (한양대학교 교수)

백 준 기 (중앙대학교 교수) 이 혁 재 (서울대학교 교수) 전 병 우 (성균관대학교 교수)

조 남 익 (서울대학교 교수) 조 민 호 (고려대학교 교수) 홍 대 식 (연세대학교 교수)

위 원 김 창 수 (고려대학교 교수) 박 철 수 (광운대학교 교수) 이 기 성 (고려대학교 교수)

이 상 근 (중앙대학교 교수) 이 채 은 (인하대학교 교수) 정 승 원 (동국대학교 교수)

최 강 선 (한국기술교육대학교 교수) 한 영 선 (경일대학교 교수) 황 인 철 (강원대학교 교수)

JSTS위원회위 원 장 Hoi-Jun Yoo (KAIST)

부 위 원 장 Dim-Lee Kwong (Institute of Microelectronics)

위 원 Akira Matsuzawa (Tokyo Institute of Technology) Byeong-Gyu Nam (Chungnam National Univ.)

Byung-Gook Park (Seoul National Univ.) Cary Y. Yang (Santa Clara Univ.)

Chang sik Yoo (Hanyang Univ.) Chennupati Jagadish (Australian National Univ.)

Deog-Kyoon Jeong (Seoul National Univ.) Dong S. Ha (Virginia Tech)

Eun Sok Kim (USC) Gianaurelio Cuniberti (Dresden Univ. of Technology)

Hi-Deok Lee (Chungnam Univ.) Hong June Park (POSTECH)

Hyoung sub Kim (Sungkyunkwan Univ.) Hyun-Kyu Yu (ETRI)

Jamal Deen (McMaster University, Canada) Jin wook Burm (Sogang Univ.)

Jong-Uk Bu (Sen Plus) Jun young Park (UX Factory)

Kofi Makinwa (Delft Univ. of Technology) Meyya Meyyappan (NASA Ames Research Center)

Min-kyu Song (Dongguk Univ.) Moon-Ho Jo (POSTECH)

Nobby Kobayashi (UC Santa Cruz) Paul D. Franzon (North Carolina State Univ.)

Rino Choi (Inha Univ.) Sang-Hun Song (Chung-Ang Univ.)

Sang-Sik Park (Sejong Iniv.) Seung-Hoon Lee (Sogang Univ.)

Shen-Iuan Liu (National Taiwan Univ.) Shi ho Kim (Yonsei Univ.)

Stephen A. Campbell (Univ. of Minnesota) Sung Woo Hwang (Korea Univ.)

Tadahiro Kuroda (Keio Univ.) Tae-Song Kim (KIST)

Tsu-Jae King Liu (UC Berkeley) Vojin G. Oklobdzija (Univ. of Texas at Dallas)

Weileun Fang (National Tsing Hua Univ.) Woo geun Rhee (Tsinghua Univ.)

Yang-Kyu Choi (KAIST) Yogesh B. Gianchandani (Univ. of Michigan, Ann Arbor)

Yong-Bin Kim (Northeastern Univ.) Yuhua Cheng (Peking Univ.)

Society 명단

통신소사이어티회 장 이 재 진 (숭실대학교 교수)부 회 장 김 재 현 (아주대학교 교수) - 사업 이 흥 노 (광주과기원 교수) - 학술 유 명 식 (숭실대학교 교수) - 재무/편집감 사 방 성 일 (단국대학교 교수) 이 호 경 (홍익대학교 교수)협동부회장 김 병 남 (에이스테크놀로지 연구소장) 김 연 은 (㈜브르던 대표이사) 김 영 한 (숭실대학교 교수) 김 용 석 (㈜답스 대표이사) 김 인 경 (LG전자 상무) 류 승 문 (㈜카서 대표이사) 박 용 석 (㈜LICT 대표이사) 방 승 찬 (한국전자통신연구원 부장) 연 철 흠 (LGT 상무) 오 정 근 (㈜ATNS 대표이사) 이 승 호 (㈜하이게인 부사장) 정 진 섭 (이노와이어리스 부사장) 이 재 훈 (유정시스템㈜ 대표이사) 정 현 규 (한국전자통신연구원 부장)이 사 김 선 용 (건국대학교 교수) 김 성 훈 (한국전자통신연구원 박사) 김 정 호 (이화여자대학교 교수) 김 진 영 (광운대학교 교수) 노 윤 섭 (한국전자통신연구원 박사) 서 철 헌 (숭실대학교 교수) 성 원 진 (서강대학교 교수) 신 요 안 (숭실대학교 교수) 윤 석 현 (단국대학교 교수) 윤 종 호 (한국항공대학교 교수) 이 인 규 (고려대학교 교수) 이 재 훈 (동국대학교 교수) 이 종 창 (홍익대학교 교수) 임 종 태 (홍익대학교 교수) 장 병 수 (KT 상무) 조 인 호 (에이스테크놀로지 박사) 최 진 식 (한양대학교 교수) 허 준 (고려대학교 교수) 허 서 원 (홍익대학교 교수)연구회위원장 윤 석 현 (단국대학교 교수) - 통신연구회 유 태 환 (한국전자통신연구원 박사) - 스위칭 및 라우팅연구회 조 춘 식 (한국항공대학교 교수) - 마이크로파 및 전파전파연구회 이 철 기 (아주대학교 교수) - ITS연구회 정 교 일 (한국전자통신연구원 책임연구원) - 정보보안시스템연구회 김 강 욱 (경북대학교 교수) - 군사전자연구회

- 방송ㆍ통신융합기술연구회 박 광 로 (한국전자통신연구원 부장) - 무선 PAN/BAN연구회 김 봉 태 (한국전자통신연구원 소장) - 미래네트워크연구회간 사 신 오 순 (숭실대학교 교수) 윤 지 훈 (서울과학기술대학교 교수)

반도체소사이어티회 장 전 영 현 (삼성전자 사장)자 문 위 원 권 오 경 (한양대학교 교수) 선우명훈 (아주대학교 교수) 신 윤 승 (삼성전자 고문) 신 현 철 (한양대학교 교수) 우 남 성 (삼성전자 사장) 임 형 규 (SK하이닉스 부회장)감 사 정 진 균 (전북대학교 교수) 최 준 림 (경북대학교 교수)수석부회장 조 중 휘 (인천대학교 교수)연구담당부회장 조 경 순 (한국외국어대학교 교수)사업담당부회장 김 진 상 (경희대학교 교수)학술담당부회장 범 진 욱 (서강대학교 교수)총 무 이 사 공 준 진 (삼성전자 마스터) 김 동 규 (한양대학교 교수) 박 종 선 (고려대학교 교수) 이 한 호 (인하대학교 교수)편 집 이 사 이 희 덕 (충남대학교 교수) 인 치 호 (세명대학교 교수) 한 태 희 (성균관대학교 교수)학 술 이 사 강 진 구 (인하대학교 교수) 김 영 환 (포항공과대학교 교수) 김 재 석 (연세대학교 교수) 노 정 진 (한양대학교 교수) 박 성 정 (건국대학교 교수) 박 홍 준 (포항공과대학교 교수) 송 민 규 (동국대학교 교수) 이 혁 재 (서울대학교 교수) 정 연 모 (경희대학교 교수) 정 진 용 (인하대학교 교수) 정 항 근 (전북대학교 교수) 최 우 영 (연세대학교 교수)사 업 이 사 강 성 호 (연세대학교 교수) 강 태 원 (넥셀 사장) 공 배 선 (성균관대학교 교수) 권 기 원 (성균관대학교 교수) 김 경 기 (대구대학교 교수) 김 달 수 (TLI 대표이사) 김 동 현 (ICTK 사장) 김 보 은 (라온텍 사장) 김 소 영 (성균관대학교 교수) 김 시 호 (연세대학교 교수) 김 준 석 (ADT 사장) 김 철 우 (고려대학교 교수) 김 한 기 (코아로직 사장) 손 보 익 (LG전자 전무) 송 태 훈 (휴인스 사장) 신 용 석 (케이던스코리아 사장) 안 흥 식 (Xilinx Korea 지사장) 양 영 인 (멘토 사장) 유 경 동 (SK하이닉스 상무) 윤 광 섭 (인하대학교 교수) 이 도 영 (옵토레인 대표) 이 윤 종 (동부하이텍 상무) 이 종 열 (FCI 부사장) 정 해 수 (Synopsys 사장) 정 희 범 (한국전자통신연구원 본부장) 조 대 형 (스위스로잔연방공대 총장수석보좌관) 조 상 복 (울산대학교 교수) 조 태 제 (삼성전자 마스터) 최 승 종 (LG전자 전무) 최 윤 경 (삼성전자 마스터) 최 종 찬 (전자부품연구원 본부장) 황 규 철 (삼성전자 상무)재 무 이 사 김 희 석 (청주대학교 교수) 임 신 일 (서경대학교 교수)회 원 이 사 이 광 엽 (서경대학교 교수) 최 기 영 (서울대학교 교수)연구회위원장 차 호 영 (홍익대학교 교수) - 반도체.재료부품연구회 오 민 철 (부산대학교 교수) - 광파및양자전자공학 연구회 이 찬 호 (숭실대학교 교수) - SoC설계연구회 신 현 철 (광운대학교 교수) - RF집적회로연구회 정 원 영 (인제대학교 교수) - PCB&Package연구회간 사 김 형 탁 (홍익대학교 교수) 문 용 (숭실대학교 교수) 전 경 구 (인천대학교 교수) 어 영 선 (한양대학교 교수) 이 성 수 (숭실대학교 교수) 백 광 현 (중앙대학교 교수) 차 호 영 (홍익대학교 교수)


컴퓨터소사이어티회 장 안 현 식 (동명대학교 교수)명 예 회 장 김 형 중 (고려대학교 교수) 박 인 정 (단국대학교 교수) 박 춘 명 (한국교통대학교 교수) 신 인 철 (단국대학교 교수) 안 병 구 (홍익대학교 교수) 이 규 대 (공주대학교 교수) 임 기 욱 (선문대학교 교수) 허 영 (한국전기연구원 본부장) 홍 유 식 (상지대학교 교수)자 문 위 원 이 강 현 (조선대학교 교수) 정 교 일 (한국전자통신연구원 책임연구원)감 사 남 상 엽 (국제대학교 교수) 심 정 연 (강남대학교 교수)부 회 장 강 문 식 (강릉원주대학교 교수) 김 도 현 (제주대학교 교수) 김 승 천 (한성대학교 교수) 조 민 호 (고려대학교 교수)협동부회장 권 호 열 (강원대학교 교수) 김 영 학 (한국산업기술평가관리원 본부장) 김 천 식 (세종대학교 교수) 임 병 민 (㈜Agerigna Co.,Ltd 회장) 정 용 규 (을지대학교 교수) 조 병 순 (㈜시엔시 인스트루먼트 사장)총 무 이 사 박 수 현 (국민대학교 교수) 최 용 수 (성결대학교 교수)재 무 이 사 김 진 홍 (한성대학교 교수) 이 기 영 (을지대학교 교수)홍 보 이 사 황 인 정 (명지병원 책임)편 집 이 사 강 병 권 (순천향대학교 교수) 기 장 근 (공주대학교 교수) 변 영 재 (울산과학기술대학교 교수) 윤 은 준 (경일대학교 교수) 이 석 환 (동명대학교 교수) 진 성 아 (성결대학교 교수) 진 훈 (경기대학교 교수)학 술 이 사 강 상 욱 (상명대학교 교수) 김 선 욱 (고려대학교 교수) 성 해 경 (한양여자대학교 교수) 손 경 락 (한국해양대학교 교수) 우 운 택 (한국과학기술원 교수) 이 문 구 (김포대학교 교수) 이 민 호 (경북대학교 교수) 이 성 로 (목포대학교 교수) 이 찬 수 (영남대학교 교수) 허 준 (경민대학교 교수)사 업 이 사 김 종 윤 (경동대학교 교수) 김 홍 균 (이화여자대학교 교수) 박 세 환 (한국과학기술정보연구원 전문연구위원) 박 승 창 (㈜유오씨 사장) 전 병 태 (한경대학교 교수)산 학 이 사 김 대 휘 (㈜경봉 대표이사) 김 성 길 (㈜K4M 이사) 김 종 국 (㈜이로젠 대표) 노 소 영 (월송출판 대표이사) 서 봉 상 (㈜올포랜드 이사) 송 치 봉 (웨이버스 이사) 오 승 훈 (LG C&S 과장) 유 성 철 (LG히다찌 산학협력팀장) 논문편집위원장 최 용 수 (성결대학교 교수)연구회위원장 윤 은 준 (경일대학교 교수) - 융합컴퓨팅연구회 이 민 호 (경북대학교 교수) - 인공지능/신경망/퍼지 연구회 강 문 식 (강릉원주대학교 교수) - 멀티미디어연구회 진 훈 (경기대학교 교수) - 유비쿼터스시스템연구회 김 도 현 (제주대학교 교수) - M2M/IoT 연구회

신호처리소사이어티회 장 조 남 익 (서울대학교 교수)자 문 위 원 김 홍 국 (광주과학기술원 교수) 이 영 렬 (세종대학교 교수) 홍 민 철 (숭실대학교 교수) 전 병 우 (성균관대학교 교수)감 사 김 원 하 (경희대학교 교수) 최 해 철 (한밭대학교 교수)부 회 장 김 문 철 (한국과학기술원 교수) 김 창 익 (한국과학기술원 교수) 박 종 일 (한양대학교 교수) 심 동 규 (광운대학교 교수)협동부회장 강 동 욱 (정보통신기술진흥센터 CP) 김 진 웅 (한국전자통신연구원 그룹장) 백 준 기 (중앙대학교 교수) 변 혜 란 (연세대학교 교수) 신 원 호 (LG전자 상무) 양 인 환 (TI Korea 이사) 오 은 미 (삼성전자 마스터) 이 병 욱 (이화여자대학교 교수) 지 인 호 (홍익대학교 교수) 최 병 호 (전자부품연구원 센터장)이 사 강 현 수 (충북대학교 교수) 권 기 룡 (부경대학교 교수) 김 남 수 (서울대학교 교수) 김 정 태 (이화여자대학교 교수) 김 해 광 (세종대학교 교수) 박 구 만 (서울과학기술대학교 교수) 박 인 규 (인하대학교 교수) 서 정 일 (한국전자통신연구원 선임연구원) 신 지 태 (성균관대학교 교수) 엄 일 규 (부산대학교 교수) 유 양 모 (서강대학교 교수) 이 상 근 (중앙대학교 교수) 이 상 윤 (연세대학교 교수) 임 재 열 (한국기술교육대학교 교수) 장 길 진 (울산과학기술대학교 교수) 장 준 혁 (한양대학교 교수) 한 종 기 (세종대학교 교수)협 동 이 사 강 상 원 (한양대학교 교수) 강 제 원 (이화여자대학교 교수) 구 형 일 (아주대학교 교수) 권 구 락 (조선대학교 교수) 김 기 백 (숭실대학교 교수) 김 상 효 (성균관대학교 교수) 김 용 환 (전자부품연구원 선임연구원) 김 응 규 (한밭대학교 교수) 김 재 곤 (한국항공대학교 교수) 김 창 수 (고려대학교 교수) 박 상 윤 (명지대학교 교수) 박 현 진 (성균관대학교 교수) 박 호 종 (광운대학교 교수) 서 영 호 (광운대학교 교수) 신 재 섭 (㈜픽스트리 대표이사) 신 종 원 (광주과학기술원 교수) 양 현 종 (울산과학기술대학교 교수) 이 기 승 (건국대학교 교수) 이 종 설 (전자부품연구원 책임연구원) 이 창 우 (카톨릭대학교 교수) 임 재 윤 (제주대학교 교수) 장 세 진 (전자부품연구원 센터장) 최 강 선 (한국기술교육대학교 교수) 최 승 호 (서울과학기술대학교 교수) 최 준 원 (한양대학교 교수) 홍 성 훈 (전남대학교 교수)연구회위원장 김 무 영 (세종대학교 교수) - 음향및신호처리연구회 송 병 철 (인하대학교 교수) - 영상신호처리연구회 이 찬 수 (영남대학교 교수) - 영상이해연구회 예 종 철 (한국과학기술원 교수) - 바이오영상신호처리연구회총 무 간 사 허 용 석 (아주대학교 교수)

시스템 및 제어소사이어티회 장 오 승 록 (단국대학교 교수)부 회 장 정 길 도 (전북대학교 교수) 김 영 철 (군산대학교 교수) 이 경 중 (연세대학교 교수) 유 정 봉 (공주대학교 교수) 주 영 복 (한국기술교육대학교 교수)자 문 위 원 박 종 국 (경희대학교 교수) 서 일 홍 (한양대학교 교수) 김 덕 원 (연세대학교 교수) 김 희 식 (서울시립대학교 교수) 허 경 무 (단국대학교 교수) 오 창 현 (고려대학교 교수) 오 상 록 (한국과학기술연구원 분원장)

감 사 김 영 진 (생산기술연구원 박사) 남 기 창 (연세대학교 교수)총 무 이 사 권 종 원 (한국산업기술시험원 박사) 김 용 태 (한경대학교 교수)재 무 이 사 최 영 진 (한양대학교 교수) 김 준 식 (KIST 박사)학 술 이 사 서 성 규 (고려대학교 교수) 김 용 권 (건양대학교 교수) 박 재 흥 (서울대학교 교수)편 집 이 사 남 기 창 (연세대학교 교수) 이 수 열 (경희대학교 교수) 김 시 호 (연세대학교 교수)기 획 이 사 최 현 택 (한국해양과학기술원 박사) 이 덕 진 (군산대학교 교수) 김 수 찬 (한경대학교 교수)사 업 이 사 이 석 재 (대구보건대학교 교수) 고 낙 용 (조선대학교 교수) 양 연 모 (금오공과대학교 교수)산학연이사 조 영 조 (한국전자통신연구원 박사) 강 대 희 (유도㈜ 박사)홍 보 이 사 김 호 철 (을지대학교 교수) 박 재 병 (전북대학교 교수) 여 희 주 (대진대학교 교수)회 원 이 사 이 학 성 (세종대학교 교수) 변 영 재 (울산과학기술대학교 교수) 문 정 호 (강릉원주대학교 교수)연구회위원장 한 수 희 (POSTECH 교수) - 제어계측연구회 이 성 준 (한양대학교 교수) - 회로및시스템연구회 남 기 창 (동국대학교 교수) - 의용전자 및 생체공학연구회 김 규 식 (서울시립대학교 교수) - 전력전자연구회 조 영 조 (한국전자통신연구원 박사) - 지능로봇연구회 전 순 용 (동양대학교 교수) - 국방정보및제어연구회

- 자동차전자연구회 오 창 현 (고려대학교 교수) - 의료영상시스템연구회 권 종 원 (한국산업기술시험원 선임연구원) - 스마트팩토리연구회

산업전자소사이어티회 장 원 영 진 (부천대학교 교수) 명 예 회 장 강 창 수 (유한대학교 교수) 남 상 엽 (국제대학교 교수) 윤 기 방 (인천대학교 교수) 이 상 회 (동서울대학교 교수) 이 원 석 (동양미래대학교 교수) 자 문 위 원 김 용 민 (충청대학교 교수) 김 종 부 (인덕대학교 교수) 윤 한 오 (동국대학교 교수) 이 상 준 (수원과학대학교 교수) 최 영 일 (조선이공대학교 총장) 부 회 장 김 동 식 (인하공업전문대학 교수) 김 태 원 (상지영서대학교 교수) 동 성 수 (용인송담대학교 교수) 서 춘 원 (김포대학교 교수) 이 병 선 (김포대학교 교수) 이 용 구 (한림성심대학교 교수) 한 완 옥 (여주대학교 교수) 감 사 김 영 선 (대림대학교 교수) 조 도 현 (인하공업전문대학 교수) 협동부회장 강 현 웅 (핸즈온테크놀로지 대표) 곽 은 식 (경봉 부사장) 김 대 휘 (한국정보기술 대표) 김 영 주 (훼스텍 상무) 김 응 연 (인터그래택 대표) 김 정 석 (ODA테크롤로지 대표) 김 종 인 (LG엔시스 본부장) 김 진 선 (청파이엠티 대표) 김 창 일 (아이지 대표) 김 태 형 (하이버스 대표) 남 승 우 (상학당 대표) 박 용 후 (이디 대표) 박 현 찬 (나인플러스EDA 대표) 성 재 용 (오픈링크시스템 대표) 송 광 헌 (복두전자 대표) 이 영 준 (비츠로시스 본부장) 장 철 (LG히타찌 본부장) 진 수 춘 (한백전자 대표) 한 성 준 (아이티센 부사장) 이 사 강 민 구 (경기과학기술대학교 교수) 강 희 훈 (여주대학교 교수) 고 정 환 (인하공업전문대학 교수) 곽 칠 성 (재능대학교 교수) 구 자 일 (인하공업전문대학 교수) 권 오 복 (국제대학교 교수) 권 오 상 (경기과학기술대학교 교수) 김 현 (부천대학교 교수) 김 남 섭 (서일대학교 교수) 김 덕 수 (동양미래대학교 교수) 김 덕 영 (부천대학교 교수) 김 상 범 (폴리텍인천 교수) 김 영 로 (명지전문대학 교수) 김 영 우 (두원공과대학교 교수) 김 영 준 (인하공업전문대학 교수) 김 윤 석 (상지영서대학교 교수) 김 은 원 (대림대학교 교수) 김 태 용 (구미대학교 교수) 문 현 욱 (동원대학교 교수) 박 성 욱 (인하공업전문대학 교수) 박 종 우 (재능대학교 교수) 박 진 홍 (혜전대학교 교수) 반 기 종 (부천대학교 교수) 방 경 호 (명지전문대학 교수) 방 극 준 (인덕대학교 교수) 배 효 관 (동원대학교 교수) 백 승 철 (우송정보대학교 교수) 변 상 준 (대덕대학교 교수) 서 병 석 (상지영서대학교 교수) 성 해 경 (한양여자대학교 교수) 성 홍 석 (부천대학교 교수) 손 병 희 (인하공업전문대학 교수) 송 도 선 (우송정보대학교 교수) 송 정 태 (동서울대학교 교수) 신 진 섭 (경민대학교 교수) 신 철 기 (부천대학교 교수) 심 완 보 (충청대학교 교수) 안 성 수 (명지전문대학 교수) 안 태 원 (동양미래대학교 교수) 엄 우 용 (인하공업전문대학 교수) 오 태 명 (명지전문대학 교수) 용 승 림 (인하공업전문대학 교수) 우 찬 일 (서일대학교 교수) 윤 중 현 (조선이공대학교 교수) 이 철 (인하공업전문대학 교수) 이 규 희 (상지영서대학교 교수) 이 동 영 (명지전문대학 교수) 이 명 문 (수원과학대학교 교수) 이 상 철 (재능대학교 교수) 이 승 우 (동원대학교 교수) 이 시 현 (동서울대학교 교수) 이 정 석 (인하공업전문대학 교수) 이 종 근 (부천대학교 교수) 이 종 성 (부천대학교 교수) 이 종 용 (광운대학교 교수) 이 종 하 (전주비전대학교 교수) 이 태 동 (국제대학교 교수) 장 기 동 (동양미래대학교 교수) 장 성 석 (영진전문대학 교수) 전 종 원 (상지영서대학교 교수) 정 환 익 (경복대학교 교수) 조 경 식 (국제대학교 교수) 주 진 화 (오산대학교 교수) 최 선 정 (국제대학교 교수) 최 의 선 (폴리텍아산 교수) 최 현 식 (충북보건과학대학교 교수) 허 윤 석 (충청대학교 교수) 황 수 철 (인하공업전문대학 교수) 협 동 이 사 강 현 석 (로보웰코리아 대표) 고 강 일 (핸즈온테크놀로지 부장) 김 민 준 (베리타스 부장) 김 세 종 (SJ정보통신 부사장) 김 순 식 (청파이엠티 이사) 김 연 길 (대보정보통신 본부장) 김 태 웅 (윕스 부장) 박 정 민 (오므론 과장) 서 봉 상 (올포랜드 이사) 송 치 봉 (웨이버스 이사) 신 우 현 (경봉 상무) 양 영 규 (아이지 상무) 오 승 훈 (LG-CNS 과장) 오 재 곤 (세인 부사장) 원 우 연 (이디 부장) 유 성 철 (LG히다찌 산학팀장) 유 제 욱 (한빛아카데미 부장) 이 성 대 (비츠로시스 이사) 이 요 한 (유성SDS 대표) 이 재 준 (한백전자 부장) 이 진 우 (글로벌이링크 대표) 이 현 성 (한국마케팅 대표) 장 대 현 (지에스비텍 상무) 조 규 남 (로봇신문사 대표) 조 병 영 (태진인포텍 전무) 조 한 일 (투데이게이트 이사) 한 상 우 (인터그래택 팀장)


제21대 평의원 명단

강 문 식 (강릉원주대학교 교수) 강 민 제 (제주대학교 교수) 강 석 형 (울산과학기술대학교 교수)

강 성 호 (연세대학교 교수) 강 의 성 (순천대학교 교수) 강 진 구 (인하대학교 교수)

강 창 수 (유한대학교 교수) 고 성 제 (고려대학교 교수) 고 요 환 (㈜매그나칩반도체 전무)

고 윤 호 (충남대학교 교수) 고 현 석 (한국전자통신연구원 선임연구원) 공 배 선 (성균관대학교 교수)

공 준 진 (삼성전자 마스터) 구 용 서 (단국대학교 교수) 구 자 일 (인하공업전문대학 교수)

권 기 룡 (부경대학교 교수) 권 기 원 (성균관대학교 교수) 권 오 경 (한양대학교 교수)

권 종 기 (한국전자통신연구원 책임연구원) 권 종 원 (한국산업기술시험원 선임연구원) 권 혁 인 (중앙대학교 교수)

권 호 열 (강원대학교 교수) 김 강 욱 (경북대학교 교수) 김 경 기 (대구대학교 교수)

김 규 식 (서울시립대학교 교수) 김 기 남 (삼성전자 사장) 김 기 호 (삼성전자 부사장)

김 남 용 (강원대학교 교수) 김 달 수 (㈜티엘아이 대표이사) 김 대 환 (국민대학교 교수)

김 덕 진 (명예회장) 김 도 현 (명예회장) 김 도 현 (제주대학교 교수)

김 동 규 (한양대학교 교수) 김 동 순 (전자부품연구원 박사) 김 동 식 (인하공업전문대학 교수)

김 동 식 (한국외국어대학교 교수) 김 무 영 (세종대학교 교수) 김 문 철 (KAIST 교수)

김 보 은 (㈜라온텍 사장) 김 봉 태 (한국전자통신연구원 소장) 김 부 균 (숭실대학교 교수)

김 상 태 (한국산업기술평가관리원 실장) 김 선 용 (건국대학교 교수) 김 선 욱 (고려대학교 교수)

김 선 일 (한양대학교 교수) 김 성 대 (KAIST 교수) 김 성 호 (한국산업기술평가관리원 책임연구원)

김 소 영 (성균관대학교 교수) 김 수 원 (고려대학교 교수) 김 수 중 (명예회장)

김 수 찬 (한경대학교 교수) 김 수 환 (서울대학교 교수) 김 승 천 (한성대학교 교수)

김 시 호 (연세대학교 교수) 김 영 권 (명예회장) 김 영 선 (대림대학교 교수)

김 영 철 (군산대학교 교수) 김 영 환 (포항공과대학교 교수) 김 영 희 (창원대학교 교수)

김 용 민 (충청대학교 교수) 김 용 석 (성균관대학교 교수) 김 용 신 (고려대학교 교수)

김 원 종 (한국전자통신연구원 팀장) 김 원 하 (경희대학교 교수) 김 윤 희 (경희대학교 교수)

김 재 석 (연세대학교 교수) 김 재 하 (서울대학교 교수) 김 재 현 (아주대학교 교수)

김 재 희 (연세대학교 교수) 김 정 식 (대덕전자 회장) 김 정 호 (이화여자대학교 교수)

김 종 대 (한국전자통신연구원 연구위원) 김 종 선 (홍익대학교 교수) 김 종 옥 (고려대학교 교수)

김 준 모 (KAIST 교수) 김 지 훈 (서울과학기술대학교 교수) 김 진 상 (경희대학교 교수)

김 진 선 (SK이노베이션 전무) 김 진 영 (광운대학교 교수) 김 짐 (한국산업기술평가관리원 선임연구원)

김 창 수 (고려대학교 교수) 김 창 용 (삼성전자 DMC 연구소장) 김 창 익 (KAIST 교수)

김 철 동 (㈜세원텔레텍 대표이사) 김 철 우 (고려대학교 교수) 김 태 원 (상지영서대학교 교수)

김 현 (부천대학교 교수) 김 현 수 (삼성전자 상무) 김 현 철 (울산대학교 교수)

김 형 탁 (홍익대학교 교수) 김 홍 국 (광주과학기술원 교수) 김 훈 (인천대학교 교수)

김 희 석 (청주대학교 교수) 김 희 식 (서울시립대학교 교수) 나 정 웅 (명예회장)

남 기 창 (동국대학교 교수) 남 상 엽 (국제대학교 교수) 남 상 욱 (서울대학교 교수)

남 일 구 (부산대학교 교수) 노 원 우 (연세대학교 교수) 노 정 진 (한양대학교 교수)

노 태 문 (한국전자통신연구원 책임연구원) 도 양 회 (제주대학교 교수) 동 성 수 (용인송담대학교 교수)

류 수 정 (삼성전자 상무) 문 영 식 (한양대학교 교수) 문 용 (숭실대학교 교수)

민 경 식 (국민대학교 교수) 민 경 오 (LG전자 부사장) 박 광 로 (한국전자통신연구원 부장)

박 광 석 (서울대학교 교수) 박 규 태 (연세대학교 명예교수) 박 동 일 (현대자동차㈜ 전무)

박 래 홍 (서강대학교 교수) 박 병 국 (서울대학교 교수) 박 성 욱 (SK하이닉스㈜ 대표이사)

박 성 한 (명예회장) 박 수 현 (국민대학교 교수) 박 인 규 (인하대학교 교수)

박 정 일 (영남대학교 교수) 박 종 일 (한양대학교 교수) 박 주 현 (영남대학교 교수)

박 진 옥 (명예회장) 박 찬 구 (인피니언테크놀로지스파워세미텍 대표이사) 박 항 구 (명예회장)

박 현 욱 (KAIST 교수) 박 현 창 (동국대학교 교수) 박 형 무 (동국대학교 교수)

박 홍 준 (포항공과대학교 교수) 방 성 일 (단국대학교 교수) 백 광 현 (중앙대학교 교수)

백 만 기 (김&장법률사무소 변리사) 백 준 기 (중앙대학교 교수) 백 흥 기 (전북대학교 교수)

범 진 욱 (서강대학교 교수) 변 대 석 (삼성전자 마스터) 변 영 재 (울산과학기술대학교 교수)

변 증 남 (명예회장) 서 승 우 (서울대학교 교수) 서 정 욱 (명예회장)

서 진 수 (강릉원주대학교 교수) 서 철 헌 (숭실대학교 교수) 서 춘 원 (김포대학교 교수)

선 우 경 (이화여자대학교 교수) 선우명훈 (아주대학교 교수) 성 굉 모 (명예회장)

성 하 경 (전자부품연구원 선임연구본부장) 성 해 경 (한양여자대학교 교수) 손 광 준 (한국산업기술평가관리원 PD)

손 광 훈 (연세대학교 교수) 송 문 섭 ((유)엠세븐시스템 대표이사) 송 민 규 (동국대학교 교수)

송 병 철 (인하대학교 교수) 송 상 헌 (중앙대학교 교수) 송 용 호 (한양대학교 교수)

송 창 현 (네이버 CTO) 신 오 순 (숭실대학교 교수) 신 요 안 (숭실대학교 교수)

신 현 동 (경희대학교 교수) 신 현 철 (광운대학교 교수) 신 현 철 (한양대학교 교수)

심 동 규 (광운대학교 교수) 심 정 연 (강남대학교 교수) 안 길 초 (서강대학교 교수)

안 병 구 (홍익대학교 교수) 안 승 권 (LG전자 사장) 안 태 원 (동양미래대학교 교수)

안 현 식 (동명대학교 교수) 양 일 석 (한국전자통신연구원 부장) 엄 낙 웅 (한국전자통신연구원 소장)

엄 일 규 (부산대학교 교수) 연 규 봉 (자동차부품연구원 팀장) 예 종 철 (KAIST 교수)

오 민 철 (부산대학교 교수) 오 상 록 (한국과학기술연구원 분원장) 오 승 록 (단국대학교 교수)

오 의 열 (LG디스플레이㈜ 연구위원) 오 창 현 (고려대학교 교수) 우 남 성 (삼성전자 사장)

원 영 진 (부천대학교 교수) 유 경 식 (KAIST 교수) 유 명 식 (숭실대학교 교수)

유 윤 섭 (한경대학교 교수) 유 정 봉 (공주대학교 교수) 유 창 동 (KAIST 교수)

유 태 환 (한국전자통신연구원 책임연구원) 유 현 규 (한국전자통신연구원 책임연구원) 유 회 준 (KAIST 교수)

윤 기 방 (인천대학교 교수) 윤 석 현 (단국대학교 교수) 윤 성 로 (서울대학교 교수)

윤 영 권 (삼성전자 마스터) 윤 은 준 (경일대학교 교수) 윤 일 구 (연세대학교 교수)

윤 일 동 (한국외국어대학교 교수) 윤 종 용 (삼성전자 비상임고문) 윤 지 훈 (서울과학기술대학교 교수)

이 가 원 (충남대학교 교수) 이 강 윤 (성균관대학교 교수) 이 경 중 (연세대학교 교수)

이 광 만 (제주대학교 교수) 이 광 엽 (서경대학교 교수) 이 규 대 (공주대학교 교수)

이 문 구 (김포대학교 교수) 이 문 기 (명예회장) 이 민 영 (반도체산업협회 본부장)

이 민 호 (경북대학교 교수) 이 배 호 (전남대학교 교수) 이 병 선 (김포대학교 교수)

이 병 욱 (이화여자대학교 교수) 이 상 근 (중앙대학교 교수) 이 상 설 (명예회장)

이 상 윤 (연세대학교 교수) 이 상 홍 (정보통신기술진흥센터 센터장) 이 상 회 (동서울대학교 교수)

이 성 수 (숭실대학교 교수) 이 승 호 (한밭대학교 교수) 이 승 훈 (서강대학교 교수)

이 신 섭 (프라임에어웨이브 대표이사) 이 영 렬 (세종대학교 교수) 이 용 구 (한림성심대학교 교수)

이 원 석 (동양미래대학교 교수) 이 윤 식 (울산과학기술대학교 교수) 이 윤 종 (㈜동부하이텍 부사장)

이 인 규 (고려대학교 교수) 이 장 명 (부산대학교 교수) 이 재 진 (숭실대학교 교수)

이 재 홍 (서울대학교 교수) 이 재 훈 (유정시스템㈜ 사장) 이 종 호 (서울대학교 교수)

이 진 구 (명예회장) 이 찬 수 (영남대학교 교수) 이 찬 호 (숭실대학교 교수)

이 창 우 (가톨릭대학교 교수) 이 채 은 (인하대학교 교수) 이 천 희 ((전)청주대학교 교수)

이 충 용 (연세대학교 교수) 이 충 웅 (명예회장) 이 태 원 (명예회장)

이 필 중 (포항공과대학교 교수) 이 한 호 (인하대학교 교수) 이 혁 재 (서울대학교 교수)

이 호 경 (홍익대학교 교수) 이 호 진 (숭실대학교 교수) 이 흥 노 (광주과학기술원 교수)

이 희 국 (㈜LG 상근고문) 이 희 덕 (충남대학교 교수) 인 치 호 (세명대학교 교수)

임 기 택 (전자부품연구원 센터장) 임 신 일 (서경대학교 교수) 임 재 열 (한국기술교육대학교 교수)

임 제 탁 (명예회장) 임 해 진 (강원대학교 교수) 임 혜 숙 (이화여자대학교 교수)

장 길 진 (경북대학교 교수) 장 영 찬 (금오공과대학교 교수) 장 은 영 (공주대학교 교수)

장 익 준 (경희대학교 교수) 장 태 규 (중앙대학교 교수) 전 국 진 (서울대학교 교수)

전 병 우 (성균관대학교 교수) 전 순 용 (동양대학교 교수) 전 영 현 (삼성전자 사장)

전 준 표 (한국산업기술평가관리원 책임연구원) 전 창 율 (서울시립대학교 교수) 전 홍 태 (중앙대학교 교수)

정 교 일 (한국전자통신연구원 책임연구원) 정 길 도 (전북대학교 교수) 정 승 원 (동국대학교 교수)

정 영 모 (한성대학교 교수) 정 원 영 (인제대학교 교수) 정 윤 호 (한국항공대학교 교수)

정 은 승 (삼성전자 부사장) 정 의 영 (연세대학교 교수) 정 정 화 (명예회장)

정 종 문 (연세대학교 교수) 정 준 (쏠리드 대표이사) 정 진 균 (전북대학교 교수)

정 진 용 (인하대학교 교수) 정 한 유 (부산대학교 교수) 정 항 근 (전북대학교 교수)

조 경 순 (한국외국어대학교 교수) 조 경 주 (원광대학교 교수) 조 남 익 (서울대학교 교수)

조 도 현 (인하공업전문대학 교수) 조 명 진 (네이버 연구원) 조 민 호 (고려대학교 교수)

조 상 복 (울산대학교 교수) 조 성 현 (한양대학교 교수) 조 성 환 (KAIST 교수)

조 영 조 (한국전자통신연구원 책임연구원) 조 재 문 (삼성전자 전무) 조 중 휘 (인천대학교 교수)

주 영 복 (한국기술교육대학교 교수) 진 훈 (경기대학교 교수) 차 종 범 (구미전자정보기술원 원장)

차 형 우 (청주대학교 교수) 차 호 영 (홍익대학교 교수) 천 경 준 (㈜씨젠 회장)

최 강 선 (한국기술교육대학교 교수) 최 기 영 (서울대학교 교수) 최 병 덕 (한양대학교 교수)

최 병 호 (전자부품연구원 센터장) 최 승 원 (한양대학교 교수) 최 승 종 (LG전자 전무)

최 영 규 (한국교통대학교 교수) 최 용 수 (성결대학교 교수) 최 우 영 (서강대학교 교수)

최 윤 경 (삼성전자 마스터) 최 윤 식 (연세대학교 교수) 최 정 아 (삼성전자 전무)

최 준 림 (경북대학교 교수) 최 중 호 (서울시립대학교 교수) 최 진 성 (SK텔레콤 전무)

최 천 원 (단국대학교 교수) 한 대 근 (㈜실리콘웍스 대표이사) 한 동 석 (경북대학교 교수)

한 수 희 (포항공과대학교 교수) 한 완 옥 (여주대학교 교수) 한 종 기 (세종대학교 교수)

한 태 희 (성균관대학교 교수) 함 철 희 (삼성전자 마스터) 허 염 (실리콘마이터스 대표이사)

허 영 (한국전기연구원 본부장) 허 재 두 (한국전자통신연구원 실장) 허 준 (고려대학교 교수)

호 요 성 (광주과학기술원 교수) 홍 국 태 (LG전자 연구위원) 홍 규 식 (삼성전자 상무)

홍 대 식 (연세대학교 교수) 홍 민 철 (숭실대학교 교수) 홍 승 홍 (명예회장)

홍 용 택 (서울대학교 교수) 홍 유 식 (가톨릭상지대학교 교수) 황 승 구 (한국전자통신연구원 소장)

황 인 철 (강원대학교 교수)

사무국 직원 명단

송기원 국장 - 업무총괄, 기획, 자문, 산학연, 선거

이안순 부장 - 국내학술대회, 총무, 포상, 임원관련, 컴퓨터(소)

배지영 차장 - 국문논문, JSTS, 시스템및제어(소)

배기동 차장 - 사업, 표준화, 용역, 반도체(소)

변은정 과장 - 재무(본회/소사이어티/연구회), 학회지, 산업전자(소)

김천일 과장 - 정보화, 교육/홍보, 회원, 홈페이지, 통신(소)

장다희 서기 - 국제학술대회, SPC, 국제협력, 신호처리(소)

872 _ The Magazine of the IEIE 12

제2차 평의원회 개최

11월 11일(금) 엘타워에서 제2차 평의원회가 평의원 122명이 참석

한 가운데 개최되었다. 이번 회의에서는 연간 사업추진 보고와 함께

2017년도 사업계획 및 예산안 등이 상정되어 의결되었다. 또한 선

거관리위원회 주관으로 2017년도 임원을 선출하였으며, 차기 회장

으로는 홍대식 회원(연세대), 차기 수석부회장은 백준기 회원(중앙

대), 선출직 부회장으로는 서승우 회원(서울대), 임혜숙 회원(이화여

대), 최천원 회원(단국대)이, 신임 감사로는 백흥기 회원(전북대)이 선

출되었다.

2016 정보 및 제어 학술대회 개최

시스템 및 제어소사이어티(오승록 회장, 단국대학교)와 대한전기학

회가 공동 주최로 10월 20(목) ~ 22(토), 대명리조트(충북단양)에서

“정보 및 제어 학술대회”를 개최하였다. 이번 학술대회에는 약 200

명이 참석하였다.

ISOCC 2016 국제학술대회

SoC설계연구회(학술대회 대회장 : 이윤식 교수(울산과학기술대학

교))에서는 10월 23일(일)~26일(수) 4일간 제주 라마다호텔에서

“ISOCC 2016 국제학술대회”를 개최하였다.

본 학술대회에서는 Keynote 8편, 튜토리얼 6편, Special Session 8

개, 일반세션 14개, 포스터발표 , CDC 3개 세션, CDC 포스터발표

등이 발표되었다. 총 14개국에서 논문이 발표되었으며, 총 447명이

참석하였다.

부회장 선출을 위한 투표

정보 및 제어 학술대회 기념촬영

차기 회장단 인사

News

전자공학회지 2016. 11 _ 87313

ICCE-Asia 2016 개최

ICCE-Asia는 대한전자공학회와 IEEE Consumer Electronics Society

가 공동으로 개최하는 국제학술대회로서, 최근 우리나라가 세계를

선도하고 있는 스마트폰, HDTV, 자동차 등에서 소비자 전자공학 기

술의 국제화를 목표로 2016년 10월 26일부터 28일까지 서울 코엑

스에서 한국전자전(KES)과 동시에 개최되었다.

IEEE Consumer Electronics Society는 세계에서 가장 큰 규모의 ICT

분야 기술 전문가 모임으로써 전 세계 28개 지부(Chapter)에 5,000명

이상의 회원이 기술지 발간, 학술대회 개최 등 다양한 활동을 전개하

고 있다. 동시에 첨단 소비자 가전 분야를 중심으로 8개의 국제학술

대회를 개최하고 있으며, 이들 중 아시아 지역을 대표하는 학술대회

를 대한전자공학회와 공동으로 서울에서 최초로 개최하게 되었다.

동 학술대회는 소비자 가전 분야의 최신 기술 및 연구동향을 공유하

고 토론하는 것을 목적으로 하고 있으며, 한국 ICT 분야의 학문과 기

술을 홍보하고 새로운 사업기회 등을 모색하는 계기가 되었다.

ISOCC 2016 국제학술대회 구용서 학회장 인사말 Welcome Reception 전경

개회식 - 백준기 General Chair 인사말

개회식 - 구용서 학회장 축사

ISOCC 2016 국제학술대회 조직위원 기념촬영


러시아지부 회원, 학회 방문

11월 9일(수) 학회 러시아 지부장으로 위촉된 Edis B. TEN 교수

(National University of Science and Technology “MISIS”), 러시아 지

부 회원 Che En Un 교수(Pacific National University), 연세대 한러과

학기술협력센터 관계자 등이 학회를 방문하여 상호 기관을 소개하고

위촉장을 수여하였다.

개회식 - Sharon Pang, General Co-Chair 인사말 주요참가자 기념촬영-초청인사, 조직위원

Plenary Talk 2 - LG전자 최승종 전무

러시아 지부 회원의 학회방문(오른쪽에서 네 번째가 지부장)

Tutorial Talk 1 - Prof. Daniel Cremers, Technical University of

Munich, Germany

ICCE-Asia Conference Banquet 전경

News

전자공학회지 2016. 11 _ 875

신규회원 가입현황

(2016년 10월 13일 - 2016년 11월 8일)

정회원

강수원(포항공과대학교), 김종성(국방과학연구소), 노연진(한양

대학교), 박남형(한화탈레스), 원달수(배화여자대학교), 유상현

(한국외국어대학교), 유승우(한국통신), 이훈기(제넥스엔지니어링),

장남주(한화시스템), 정일형(한국항공우주연구원), 차재아(동부

하이텍), 최효기(한화시스템), 추우성(부산대학교)

이상 13명

평생회원

한규필(금오공과대학교), 한진우(NASA)

이상 2명

학생회원

고태영(국립한밭대학교), 곽동훈(국립한밭대학교), 구승회(성균관

대학교) , 기노천(성균관대학교) , 김도균(충남대학교) , 김동규

(성균관대학교) , 김민수(서울대학교) , 김성록(한양대학교) ,

김성문(부산대학교) , 김성민(국립한경대학교) , 김송란(충북

대학교) , 김신근(서울대학교) , 김정호(서울대학교) , 김제연

(한양대학교), 김찬란(한양대학교), 김찬미(전북대학교), 김태환

(서울대학교), 김희경(동아대학교), 김희경(성균관대학교), 노연진

(한양대학교), 명일호(서울대학교), 박송희(가천대학교), 박수빈

(홍익대학교), 박중원(서울대학교), 박진수(성균관대학교), 박찬식

(성균관대학교), 서주환(서울대학교), 안현식(홍익대학교), 양나영

(가천대학교), 양지수(성균관대학교), 오상진(을지대학교), 오장훈

(한양대학교), 우예나(서울여자대학교), 우창범(서울대학교), 이연재

(홍익대학교), 이영식(성균관대학교), 이태범(충북대학교), 이홍준

(한양대학교), 이훈희(서울과학기술대학교), 전부일(성균관대학교),

정동균(성균관대학교), 정동현(서울대학교), 정민창(충북대학교), 조범근

(아주대학교), 최성열(충북대학교), 최우영(성균관대학교), 한성현

(서경대학교), 홍유성(고려대학교)

이상 48명

15

The InsTITuTe of

elecTronIcs and InformaTIon

engIneers

학회일지www.theieie.org

2016년 10월 18일 ~ 2016년 11월 16일


1. 회의 개최

2. 행사 개최

회의 명칭 일시 장소 주요 안건

제2차 추계학술대회 조직위원회의10.19 (7:30)

JW메리어트호텔 2층 The Cafe

- 학술대회 논문모집 및 프로그램 논의 등

제 2차 ICEIC 2017 조직위원회의11.01 (12:00)

연세대학교 - 학술대회 세부사항 논의 외

행사 명칭 일시 장소 주관

2016 정보 및 제어학술대회 10.20~22대명리조트(충북 단양)

시스템및제어소사이어티

ISOCC 2016 국제학술대회 10.23~26 제주 라마다호텔 SoC설계연구회

ICCE-Asia 2016 10.26~28 서울 COEX 본회

2016 Wearable/ IoT Enabler 기술 워크샵

11.11판교 스타트업 캠퍼스

컨퍼런스홀반도체소사이어티

전자공학회지 2016. 11 _ 87717

특 · 집 · 편 · 집 · 기

머신 러닝 기반 머신 비젼 최신 기술 동향

김정태 편집위원

(이화여자대학교)

머신 비젼 기술은 제품의 불량 검사, 자동 분류, 품질 검사, 인식 등의 다양한 분야에 널리 사

용되어온 기술로 그간 공장 자동화 및 제품 품질 향상 등에 크게 기여해 온 기술이다. 머신 비

젼 기술은 오랫동안 연구되어온 분야이나, 최근 주목 받고 있는 머신 러닝 기법이 머신 비젼에

적용되어 머신 비젼의 성능이 급격히 향상되는, 새로운 발전의 계기를 맞이하고 있는 분야이다.

머신러닝 기법을 적용함으로써 과거의 머신 비젼 기술로는 해결하기 어려워 수동 검사자의 개

입이 필요했던 검사 분야가 전자동으로 검사기 가능해져서 품질 향상 및 생산성 향상이 가능해

지고 있다. 또한, 구조물의 영상 기반 안전 진단, 의료 영상 기반의 자동 질병 진단 등의 여러

분야에도 머신러닝 기반 머신 비젼 기술이 널리 적용되기 시작하고 있다. 본 특집호는 이러한

머신 러닝 기반 머신 비젼 기술에 관한 학계 및 산업계 전문가들의 논문 5편으로 구성되었다.

첫째, “딥러닝 기법을 이용한 머신 비젼 기술 최근 응용 동향(김정태 외)”에서는 딥러닝 기반

의 머신 비젼 관련 논문의 총괄적 조사를 통하여 최신 머신 러닝 기반 머신 비젼 연구동향을 소

개한다. 둘째, “특징점 기반의 머신러닝 기술을 이용한 OLED 결함 분류 기술(김학일 외)”은 특

징 벡터를 추출하고 이를 학습하여 OLED 의 결함을 고성능으로 검출하는 연구를 소개하고 있

다. 셋째, “카메라 모듈 검사 장비의 자동화를 위한 기계 학습의 활용(박순영 외)”에서는 촬영한

영상을 기반으로 카메라의 불량을 검출하는 머신러 닝 기반 머신 비젼 기술의 최신 연구 동향

및 연구 결과를 설명 한다. 넷째, “공장 자동화를 위한 광학 방식 삼차원 측정 기술 연구(장효영

외)”에서는 정밀 자동 검사 장치에 필수적으로 사용되는 3차원 측정 기술을 설명하고 이를 이용

한 정밀 자동 검사 장치에 관한 최신 연구 결과를 발표한다. 다섯째, “머신비젼 카메라의 특성

과 동향(황준현)”에서는 머신 비젼 시스템 설계를 위한 가장 중요한 하드웨어인 머신 비젼용 카

메라의 최신 연구 동향 및 발전 방향에 관하여 소개한다.

바쁜 일정 중에서도 본 특집호를 위하여 옥고를 보내주신 필자 여러분께 편집위원으로써 특

별한 감사를 드리며, 본 특집호가 머신 러닝 및 머신 비젼 분야에서 국내 유수 산학 연구자들의

융합 연구를 더욱 촉진하는 계기가 되고 그러한 융합 연구가 우리나라의 관련 산업 경쟁력 강

화에 도움이 될 수 있기를 마음을 모아 기원하는 바이다.

878 _ The Magazine of the IEIE

딥러닝 기법을 이용한 머신

비젼 기술 최근 응용 동향

특집 딥러닝 기법을 이용한 머신 비젼 기술 최근 응용 동향

최 은 정이화여자대학교 전자공학과

조 희 연이화여자대학교 전자공학과

김 정 태이화여자대학교 전자공학과

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Ⅰ. 서 론

머신 비젼 시스템은 결함 검사, 분류, 인식 등의 응용 분야에서 수동

검사자를 대치하여 반복적으로 고정도의 검사를 수행할 수 있어서 널리

연구되고 적용 되어 왔다[1]. 그간의 많은 연구의 결과로 머신 비젼 기술

은 획기적으로 발전되어 왔으나, 그럼에도 불구하고 아직 많은 응용 분

야에 있어서는 머신 비젼 시스템이 전적으로 수동검사자를 대신하지 못

하여 수동 검사가 이루어 지고 있다[1]. 머신 비젼 기술을 자동 검사가

적용되지 못하고 있는 경우들은 대부분 수동 검사자가 관찰하는 품질

평가를 수학적으로 모델링하여 알고리즘을 설계하기가 어려운 경우들

이다[2]. 예를 들면, 머신 비젼을 통한 과일의 품질 평가의 경우 수동 검

사자는 무의식적으로 매우 다양한 속성들을 고려하여 평가하지만 이를

적절히 계량적으로 설명하는 것은 쉽지 않은 일이다[2].

최근 주목 받고 있는 머신 러닝 기술은 수동 검사자의 판단 형태를 학

습할 수 있어서 기존 머신 비젼 기술이 적용되기 어려웠던 응용 분야에

서, 적용이 활발히 연구되고 있다[3-4]. 뿐만 아니라, 머신 비젼의 주요

응용 분야인 결함 검출, 분류, 인식등의 분야는 주관적인 검사자의 검

사 성능과 유사한 결과를 생성하는 자동 검사 장비의 필요성이 크기 때

문에, 이러한 응용 분야에서 인간의 학습 과정을 모사하는 머신 러닝

기법의 적용은 기존 기법보다 좋은 성능을 발휘할 가능성이 커서 널리

연구되고 있다[5-7].

본고에서는 최근의 머신러닝 기법을 적용한 머신 비젼 기술의 연구

동향을 소개한다. 이를 위하여, 제품 결함 검사, 시설 안전검사 등의 품

질 검사에의 응용 사례들을 조사하였다. 이에 더불어서 전통적인 머신

비젼의 영역과는 약간 벗어 나지만 의료 영상을 이용한 진단에의 연구

결과들을 조사한 결과도 추가한다. 의료 영상을 이용한 질병 진단은 그

전자공학회지 2016. 11 _ 879

▶ ▶ ▶ 딥러닝 기법을 이용한 머신 비젼 기술 최근 응용 동향

19

주요한 기술적 문제가 영상을 이용한 결함 검출과 유사한

부분이 많고 머신러닝 기술을 효과적으로 적용할 수 있는

분야로 판단된다.

Ⅱ. 관련연구

1. 품질 검사

기존의 제조 공정상에서 발생하는 결함 검출 방법은 대

부분 작업자가 직접 관찰 수행하는 수동적 방법이었다.

이러한 방법은 작업자의 상태 및 판단 능력에 따라 정확

도가 크게 변하고 많은 시간이 소요되므로 자동적으로 결

함을 검출할 수 있는 방법이 필요하다. 그러나 이러한 결

함들은 크기와 형태가 다양하여 자동화 하기 어려운데,

이를 해결하기 위하여 최근에는 머신러닝과 딥러닝 기술

을 응용한 방법들이 다양한 분야에서 활발하게 연구되고

있다.

1.1 제품 검사

Organic Light Emitting Diode (OLED) 는 유기 화

합물 층으로 이루어진 LED 반도체 소자 중 하나로 최근

LCD 를 대체할 차세대 디스플레이로 각광받고 있으며 많

은 기업들이 연구 중에 있다. 그러나 OLED 패널은 복잡

한 제조과정을 거치기 때문에 다양한 종류의 결함들이 생

길 수 있는데, 이러한 결함은 크기가 크고 높은 대비를 가

지는 macro 결함과 크기가 작고 검출하기 어려운 micro

결함으로 나누어진다. 이는 local inlier-outlier ratio 와

modified Local Binary Patterns (LBP) 기법을 사용하

여 특징을 추출하고, 추출된 특징을 이용하여 Support

Vector Machine (SVM) 을 학습시켜 검출 및 분류할 수

있다[3].

제조 공정상에서 발생하는 결함을 검출하고 분류하는

것은 제품의 신뢰성을 확보하고 공정의 문제점을 파악하

여 품질을 향상시키는데 중요한 역할을 한다. 필름 결함

은 사람의 눈으로도 비교적 쉽게 검출될 수 있으나, 결함

의 종류를 파악하는 것은 어려운 일이므로 이를 분류하기

위한 방법들이 연구되고 있다. 필름 결함을 분류하기 위

한 방법에는 결함의 종류를 크게 5가지로 나누고 이를 분

류하기 위하여 adaptive 한 특징을 추출할 수 있는 Deep

Convolutional Neural Networks (DCNN) 를 학습시킨

후 랜덤 포레스트를 분류기로 사용하는 방법이 있다. 이

는 DCNN 과 랜덤 포레스트를 각각 적용했을 때 보다 더

높은 정확도를 보였으며 영상처리와 학습 과정에서 소요

되는 연산 시간을 단축시키기 위하여 GPU 를 사용하였

다[4].

직물 (fabric) 생산 공정에서의 결함을 검출하고 분류

하는 작업은 품질 관리에 있어서 중요하다. 이러한 결

함을 검출 및 분류하는 것에 관한 연구에는 정형화 하

기 어려운 직물 결함을 분류하기 위하여 먼저 영상을 같

은 크기로 나누고 결함이 있는 샘플과 결함이 없는 샘플

로 나누어 트레이닝 데이터 셋을 획득한 후 딥러닝 기술

중 하나인 Fisher Criterion based Stacked Denoising

Autoencoder (FCSDA) 를 적용시키는 방법이 있다[5].

또 다른 방법으로는 결함을 종류별로 나누고 웨이블릿 변

환에 기반한 thresholding 방법과 Back-Propagation

Neural Network (BPNN) 를 결합하여 분류하는 방법이

있다[6].

<그림 1> OLED 패널 검사 플로우 차트

<그림 2> OLED 필름 결함 검출 플로우 차트

▶ ▶ ▶ 김 정 태, 조 희 연, 최 은 정


1.2 사회기반시설 검사

사회기반시설은 다수의 사회 구성원에게 편의와 복

지 및 공익을 제공하는 시설물로 인명의 안위에 직결

되는 점에서 안전성 확보가 필수적이다. 사회기반시설

은 다양한 요인에 의해 부식되기도 하는데 특히 터널

에서 흔히 발생한다. 터널 검사에 관한 연구에는 먼저

single monocular 카메라를 이용하여 획득한 영상을 통

해 Edge, Entropy, HOG 와 같은 low-level 특징을 추

출한 후, 추출된 특징을 사용하여 Convolutional Neural

Networks (CNN) 을 학습시켜 더 복잡한 high level 특

징을 추출하고 그 후 다층 신경망을 적용하여 최종적으로

결함을 검출하는 방법이 있다[7].

금속 표면 (metal surface) 결함 검출에 관한 연구들

중에는 모바일 플랫폼으로부터 레일 결함을 검출하는 것

이 있는데, 영상을 획득하는 상황이나 결함의 형태 변화

에 따라 정확도가 달라진다. 레일 결함은 탈선 사고로 이

어질 위험이 있으므로 조기에 발견되어야 하는데 이는

photometric 스테레오 영상을 사용하여 다양한 특징들

을 추출할 수 있는 CNN 과 Unsupervised Layer-wise

Pre-training 과 같은 정규화 기법을 결합한 방법을 적

용하여 검출할 수 있다[8].

1.3 기타

용접 (weld) 은 금속, 유리, 플라스틱 등을 열과 압력으

로 접합하는 기술로써 두 물질 사이의 원자간 결합을 이

루어 접합한다. 용접 검사는 선박업, 항공기 공업 등 많

은 분야에서 신뢰성과 안정성을 확보하는데 중요한 역할

을 하므로 정확하게 결함을 검출하는 기술이 필요하다.

용접 결함의 종류는 용접부에 작은 구멍이 산재되어 있는

형태, 실모양의 균열이 형성되어 있는 형태 등 다양한데

이러한 결함을 검출 및 분류하는 방법에는 용접 방사선

<그림 3> 직물 결함 검출 플로우 차트

<그림 4> 터널 검사 플로우 차트 <그림 5> 용접 결함 검출 플로우 차트

전자공학회지 2016. 11 _ 881


21

사진들을 사용하여 세그먼트 된 물체의 기하학적인 특징

을 추출한 후, 추출된 특징들에 SVM, Neural Network,

K-Nearest Neighbor (K-NN) 분류기를 적용하는 것이

있다[9].

목재의 옹이 (knots) 는 나무가 자라는 동안 자연의 영

향이나 생물의 피해를 받아 생기는 결함으로 목재가 갈라

지거나 뒤틀리는 현상의 원인이 될 수 있다. 이러한 옹이

는 목재 강도에 영향을 미치며 구조적인 약점으로 작용

하므로 조기에 검출 되어야 한다. 옹이는 RGB 영상에서

SURF 기법으로 특징을 추출하고, 추출된 특징을 이용하

여 Bag of Words (BoW) 기법을 적용한 후 SVM 을 학

습시키는 방법[10], small non-overlapping 영역에 대해

텍스쳐와 색상 단서들이 포함된 다차원의 특징들을 이용

하여 비지도학습 기법 중 하나인 군집화를 이용하는 방법

등을 통해 검출 및 분류할 수 있다[11].

앞에서 언급한 것 외에도 최근에는 과일의 결함을 검출

및 분류하기 위하여 머신러닝을 적용하기도 한다. 과일은

수확, 운송, 판매 과정을 거치면서 결함이 생기거나 곰팡

이에 의해서 결함이 생기는데, 곰팡이에 의해 생긴 감귤

류의 결함을 검출하기 위해 기존에는 자외선을 이용하여

작업자가 직접 관찰 수행하였다. 그러나 자외선이 작업자

에게 해롭기도 하고 결함의 종류를 파악하는데 어려움이

있어 최근에는 하이퍼스펙트럴 비젼 시스템을 이용하여

특징을 추출하고, 추출된 특징에 Neural Networks 와

Decision Trees 를 적용하여 결함을 검출 및 분류하는 방

법이 있다[12]. 망고는 외부환경에 민감하여 쉽게 brown

spot 이 생기는데 이를 검출하기 위해서 하이퍼스펙트

럴 비젼 시스템을 이용하여 얻은 영상에 특징을 추출 후

K-NN 을 적용하는 방법이 있다[13].

2. 영상 기반 진단

영상 기반 진단은 Computer-Aided Diagnosis (CAD)

의 분야 중 하나로 의료 영상을 바탕으로 진단 수행을 돕

는 것을 일컬으며, 이 중 머신러닝을 적용한 분야에는 안

저 영상, 뇌 자기공명영상, 흉부 컴퓨터 단층 촬영, 유방

조영술 등이 있다.

안저 영상은 안저의 사진을 촬영한 영상으로 당뇨병성

황반 부종, 노인황반변성 등의 진단에 활용된다.

당뇨병성 황반 부종은 당뇨병의 합병증이 망막에 나타

나는 당뇨병성 망막병증의 징후로 안저 영상에서 황반에

생긴 부종을 검출하여 진단에 활용할 수 있다. 머신러닝

을 사용한 방법으로는 황반 영역의 패치에 대해 CNN 을

적용하여 황반의 부종을 검출한 흑백 패치 영상을 생성한

뒤, 안저 영상과 함께 CNN 의 입력 으로 주어 어떤 패턴

<그림 6> 목재 옹이 검출 플로우 차트

<그림 8> 안저 영상 예시[15]

[출처 : 대한 전자공학회 논문지 오지은, et al. 안저영상을 이용한 망막신경

섬유층 결손의 자동 검출. 2014.]

<그림 7> 하이퍼스펙트럴 영상 예시[14]

[출처 : 대한 전자공학회 논문지 Intaek Kim, Se Myung Hwang, HeSong

Lian Band selection for Hyperspectral Images Analysis 2004]

▶ ▶ ▶ 김 정 태, 조 희 연, 최 은 정


을 찾아야하는지에 대한 정보를 주는 방식으로 진행한 방

법이 있다[16]. 또 안저 영상을 통해 황반의 변성된 정도에

따라 영상을 분류하여 노인 황반 변성 진단에 활용하는

경우도 있는데, 노인 황반 변성 진단에 머신 러닝을 활용

한 방법은 pre-trained deep neural network model 을

사용한 방법이 있다[17].

뇌 자기공명영상은 자기공명영상 기기를 이용하여 뇌

의 질환을 진단하기 위해 찍은 영상으로 머신러닝을 활

용하여 알츠하이머 진단에 응용한 연구가 있다. 알츠

하이머 진단에 머신러닝을 활용한 방법에는 건강한 뇌

와 알츠하이머 병을 가진 뇌의 차이점에 대한 특징을 갖

는 eigen brain set 을 생성한 뒤, SVM 을 이용하여 진

단하는 방식과[18], stacked auto-encoders 와 softmax

ouput layer 를 포함한 딥러닝 아키텍쳐로 자기공명영

상 데이터를 이용한 사전 학습을 통해 특징을 추출해 진

단하는 방식이 있다[19]. 또한, 자기공명영상에서 추출한

패치를 함께 Deep Boltzmann Machine (DBM) 의 입

력으로 이용하여 진단하는 방식[20], Deep Polynomial

Network (DPN), Stacked DPN (S-DPN), Multi-

Modality S-DPN (MM-S-DPN) 의 알고리즘을 적

용한 결과를 비교한 방법[21], 위치 변화에 강인한 Hu

Moment Invariants (HMI) 특징을 추출한 뒤, non-

parallel hyperplane 을 얻을 수 있는 Twin Support

Vector Machine (TSVM) 과 Generalised Eigenvalue

Proximal SVM (GEPSVM) 를 적용하여 분류 결과의 정

확도를 비교한 방법도 있다[22].

유방 조영 사진은 유방 조영술을 통해 얻는 사진으로

유방 전용 X 선 영상이다. 유방 조영 사진에서 미세석회

를 검출하여 유방암을 진단하는 방식에 머신러닝이 응

용되기도 하는데, 이 분야에는 미세석회 후보군을 판별

하는 classification network 부분과 미세석회 후보군에

서 미세석회의 위치를 찾는 localization network 부분으

로 나누어 진단하는 방식[23], 그리고 stacked denoising

autoencoder model 을 이용하여 진단하는 방식이 있다[24].

이 외에도 흉부 컴퓨터 단층 촬영이나 X 선 영상을 이

용하여 흉부 질환을 검출하거나, 폐결절을 진단하는 데

응용되기도 한다. pre-trained CNN model 에서 추출

<그림 9> 당뇨병성 황반 부종 검출 플로우 차트

<그림 10> 뇌 자기공명영상을 이용한 알츠하이머 진단 플로우차트 <그림 12> 유방암 진단 플로우차트

<그림 11> 유방암 조영 사진의 미세석회 검출 영상[25]

[출처 : 대한 전자공학회 논문지 천민수, 박준영, and 김원하, 치밀 유방영상

에서 mass형 유방암 자동 검출. 2006.]

전자공학회지 2016. 11 _ 883


23

하는 특징, Generalized Search Tree (GiST), Bag of

Visual Words (BoVW) 특징을 추출한 후 결합하여 SVM

으로 분류하는 방법으로 흉부 x 선 영상에서 흉부 질환을

검출하기도 하고[26], 결절이 발생할 확률이 높은 위치에

대해 Volumes Of Interest (VOI) 를 생성하여 결절이 존

재하는 VOI 인지 결절이 존재하지 않는 양성의 VOI 인지

검출하여 폐결절을 진단하기도 한다[27].

3. 문자 및 교통 표지판 인식

숫자 인식은 우편번호 인식, 금융기관의 수표분류,

분류 자동화 등 여러 분야에서 응용되고 있으며 최근

에는 CNN 모델을 적용한 방법들이 많이 연구되고 있

다. 그 중에는 Discriminative Cascade CNN 을 이용

한 방법[28], CNN 과 SVM 을 결합하여 사용한 방법[29],

Multi-Column Deep Neural Networks (MCDNN)

를 이용한 방법[30], DCNN 을 이용한 방법[31-33] 등

이 있다. 문자 인식 분야에서는 DCNN 을 이용한 방

법[34], Chinese character 대상으로 하여 Modified

Quadratic Discriminant Function – Convolutional

Neural Networks (MQDF-CNN) 를 이용한 방법[35],

MCDNN 을 이용한 방법[30], 차량 번호판 인식을 위해

Reinforcement Learning (RL) 을 사용한 방법[36] 등이

있다.

교통 표지판은 도로의 위험사항이나 규제사항에 관하

여 운전자에게 안내 해줌으로써 사고 위험을 줄이는 역

할을 한다. 교통 표지판 인식 분야에서는 MCDNN 을 이

용한 방법[30], DCNN 을 이용한 방법[38-39], feed forward

CNN 과 다층 신경망을 사용한 방법[40] 등이 있다.

Ⅲ. 기 타

앞서 설명한 분야 외에도 머신 러닝 기법을 적용한

vision 분야들이 있다. 사회적 상호작용 중 하나인 표정

을 인식하거나 인간과 컴퓨터 간의 상호작용에 관한 연

구인 Human Computer Interaction (HCI) 의 일환으로

게임이나 로봇 컨트롤을 위한 손 제스쳐 인식 분야에 활

용되기도 한다[41-44]. 또한 생체 인식 기술로 활용되기도

하는데 얼굴 인식을 위해 얼굴 영상의 특징을 추출할 때

머신 러닝을 활용하기도 한다[45]. 또 영상내의 각 물체 혹

은 대상을 인식하고 영상에서 나타나는 대상 간의 관계를

인지하는 영상 묘사 분야에 머신 러닝이 활용되어 태그와

같이 짧은 단어로 주석을 출력하기도 하고[46], 한 문장으

로 이루어진 간단한 설명을 출력하기도 하고[47-48], 여러

문장으로 이루어진 긴 설명을 출력하기도 한다[49-50].

이 외에도 생물학 분야에 머신 러닝을 활용하여 세포의

형질을 인식하여 분류하거나[51], 유채와 같은 씨앗의 형질

을 인식하여 분류하는 연구가 있다[52].

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조 희 연

•2016년 2월 이화여자대학교 전자공학과 학사

•2016년 3월~현재 이화여자대학교 전자공학과 석사 재학중

<관심분야>

디지털 신호처리, 머신러닝, 머신비전

김 정 태

•1985년 서울대학교 제어계측공학 학사

•1989년 서울대학교 제어계측공학 석사

•2004년 The University of Michigan, Ann Arbor, Electrical

Engineering and Computer Science, Ph.D

•2004년~현재 이화여자대학교 전자공학과 교수

<관심분야>


최 은 정

•2016년 2월 이화여자대학교 전자공학과 학사

•2016년 3월~현재 이화여자대학교 전자공학과 석사 재학중

<관심분야>


전자공학회지 2016. 11 _ 887

특징점 기반의 머신러닝

기술을 이용한 OLED 결함

분류 기술

특집 특징점 기반의 머신러닝 기술을 이용한 OLED 결함 분류 기술

김학일인하대학교 정보통신공학과

최학남인하대학교 정보통신공학과

27

Ⅰ. 서 론

머신비젼 기술은 자동화 검사장비에서 영상을 이용하여 결함을 검출

하고 분류하는 기술을 말한다. 현재 대부분의 머신비젼 검사장비는 결

함검출에 초점이 맞춰져 있으며 결함분류는 필요한 기능이긴 하지만 우

선순위에서 밀리는 경향이 있다. 머신비젼에서 결함을 분류하여 분석

하면 전반적인 공정에서 문제되는 부분을 파악하여 개선할 수 있는 장

점이 있다. 머신비젼을 이용한 검사장비는 다양한 제품에 따라 장비

구성이 달라지고 검사하는 품목에 따라서도 달라지기 때문에 단일 분

류기로 모든 것을 해결하기는 어렵고 여러 가지 분류기들을 복합적으

로 결합하여야만 좋은 결과를 도출할 수 있다. 기존의 연구들을 살펴보

면, 대부분의 논문들은 support vector machine (SVM), k nearest

neighborhood (KNN)을 이용하여 다양한 형태의 특징들을 구성하

여 분류하는 구조를 가지고 있다[1-4]. 본 연구에서는 Organic Light

Emitting Diode (OLED) 검사장비에서 다중구조 분류기를 이용하여

결함을 분류하는 기술을 제안한다. 실험결과로부터 제안한 특징선택기

술과 다중 분류기는 1차분류기에서 93%이상 2차분류기에서 85%이상

의 결과를 나타내는 것을 확인하였다. 본 논문의 구성은 다음과 같다.

2장에서는 OLED 결함분류 기술에 대해 설명하고 3장에서는 실제 데이

터를 이용하여 분류한 결과에 대해 분석하고, 4장에서 결론 및 향후연

구에 대해 서술한다.

Ⅱ. OLED 결함 분류 기술

1. OLED 결함 종류 및 조명환경

OLED 디스플레이는 <그림 1>과 같이 다중구조로 구성된다. 최상단

▶ ▶ ▶ 최 학 남, 김 학 일


에 글래스가 있고 그 아래로 다양한 레이어들이 있는데

이중 하나라도 불량이 생기면 전체 불량이 되기 때문에

표면검사 장비에서는 다양한 불량들을 효과적으로 검출

할 수 있도록 조명과 카메라를 구성하여야 한다.

OLED 디스플레이의 결함은 크게 두 그룹으로 나뉘게

되는데 하나는 글라스 결함(glass defect) 이고 다른 하나

는 셀 결함(cell defect)이다. 결함들은 긁힘, 오염, 머리

카락, 먼지, 액넘침과 같은 형태로 나타나게 되는데 긁힘

과 같은 결함은 실제결함(Genuine defect)라고 하고, 머

리카락, 먼지 등과 같이 에어로 불어내면 사라지는 불량

들은 거짓결함(Fake defect)라고 한다. 글래스 결함은 긁

힘을 제외한 대부분 결함들은 거짓결함이고, 셀 결함은

대부분 내부결함으로 실제결함이다. <표 1>은 결함종류

와 대응되는 코드 및 결함별 특성을 정리한 표이다. 표에

서 G(Genuine)는 실제 결함을 나타내고 F(Fake)는 거짓

결함을 나타낸다.

다양한 결함들을 효과적으로 영상화하기 위하여 제품

특성 혹은 결함특성을 고려하여 조명과 카메라를 설계해

야 하는데, 본 연구에서는 <그림 2>와 같이 여섯 가지 조

명 및 카메라 조건(S0~S5)에서 획득된 영상을 사용한다.

2. 특징점 기반의 분류기술

본 연구에서는 OLED 디스플레이 결함의 특성에 따라

<그림 4>와 같이 다중 분류기를 설계한다. FG 분류기(1

차 분류기)를 이용하여 거짓결함과 실제결함을 분류하

고, Fake 분류기와 Genuine 분류기로 구성된 2차 분류

기를 이용하여 세부 결함들을 분류하는 구조이다. FG,

<그림 1> Layer structure of OLED display

<그림 2> Camera and illumination setups for defect imaging

<그림 3> Defect samples and corresponding mask of each defect type

Type Description Code

Crackthe defects appear as breaks on the hidden layers

G00

Flakingthe defects caused by the non-fit between two layers

G01

Spacer broken

the defects caused by the breaks on the spacer inserted between layers

G02

Liquid overflow

the defects exist due to the liquid over-flowing on the layer surfaces. The liquid is unable to clean

G03

Liquid dropSimilar to G03 whereas the liquid is gathered as drops on the layer surfaces

G04

Surface scratch

the defects represent the scratches on the layer surfaces

G05

Back pitthe holes and scratches on the below surface of the glass substrate, that can be imaged by only S2 illumination

G06

Pollutionthe defects caused by easily cleanable pollution such as water on the layer surfaces

F00

Dust the dust drops between the layers F01

Artifact some other solid artifacts such as hair, worsted. F02

<표 1> defect type and corresponding codes

전자공학회지 2016. 11 _ 889

▶ ▶ ▶ 특징점 기반의 머신러닝 기술을 이용한 OLED 결함 분류 기술

29

Fake, Genuine 분류기에는 KNN , SVM, RF(Random

Forest)와 같은 다양한 분류기들이 적용될 수 있는 구조

이다.

본 연구에서는 결함 분류에 초점을 맞추었기 때문에 결

함검출은 되었다고 가정한다. 사용된 데이터는 <그림 3>

과 같이 결함영역이 검출된 영상이다. <그림 3>은 <표 1>

에서 설명된 G00~G06, F00~F02 불량에 대한 샘플영

상을 나타내고, 이진 영상은 분할된 결함영역을 나타낸

다. 결함영역 분할은 Otsu 이진화 기법을 이용하여 검출

하였다.

결함영역 영상과 이진화 된 마스크 영상을 이용하여 결

함의 특징들을 추출한다. 사용된 특징들은 <표 2>와 같

다. 특징들은 관심영역내의 평균, 분산, 엔트로피, 컨트라

스트 등과 같은 텍스쳐 기반의 특징점과, 관심영역의 높

이와 너비의 비를 나타내는 aspect ratio, 원형인지 사각

형진지를 판단할 수 있는 roundness, 블럽의 개수, 관심

영역 내에서의 결함의 면적들이 차지하는 비율을 확인할

수 있는 compactness 특징 등과 같은 기하학적 특징이

있다. 텍스쳐 특징은 영상의 밝기정보를 이용한 특징이

고, 기하학적특징은 모양이나 면적으로부터 얻어지는 특

징이다.

본 연구에서는 위에서 언급된 특징들 외에도

방향특성을 가지는 다섯 개의 Gabor

특징과 일곱 개의 Hu moment[5] 특징들을 포함하여 총

24개의 특징들로 특징벡터를 구성하였다.

위에서 정의한 24개의 특징들은 서로의 장단점을 가

지고 있지만 본 연구에서 분류하고자 하는 결함에 대해

서 어떻게 작용될지 알 수 없다. 따라서 본 연구에서는

특징선택 기술을 적용하여 유효하고 효과적인 특징들을

선택하여 사용하였다. 특징선택 방법은 흔히 Principle

Component Analysis (PCA)[6-7]를 이용한 차원 축소방

식과 Random forest[8]를 이용한 두 가지 방식이 있는데

본 연구에서는 주성분 분석을 이용하여 특징을 선택하였

고, Random forest를 이용하여 분류계수(variable)를 선

택하는 방식을 취하였다. Random forest를 이용한 분류

계수 선택방식은 <그림 5>와 같이 샘플데이터를 랜덤하

게 두 그룹으로 나누어서 특징점들의 중요도를 판단하여

최종적으로 중요한 트리노드에 있는 파라미터들을 선정

하는 방식이다.

선택된 특징들을 이용하여 최종적으로 분류기를 적용

하여야 하는데, 본 연구에서는 위에서 설명한 것과 같이

분류기는 KNN, SVM, RF 방법을 적용하였는데 그 외의

분류기를 사용하여도 무방하다.

KNN방식[9]은 가장 간단한 방식인데 학습데이터를 이

용한 학습공간을 구성하고 새로운 데이터가 입력되면 특

징벡터공간상에서 자기와 특정거리 내에 어떤 클래스의

데이터가 많은지를 판단하여 해당 클래스로 새로 입력된

데이터를 분류한다. KNN은 주변영역을 정하는 반지름의

크기의 영향을 많이 받는데 본 연구에서는 특징공간상에

서의 반지름을 1로 설정하였다.

SVM[3-4]은 <그림 6>과 같이 특징벡터공간상의

<그림 4> hierarchical structure of the classifiers

<표 2> texture and shape features

▶ ▶ ▶ 최 학 남, 김 학 일


support vector들에 의하여 두 집단을 최대한 잘 분류

할 수 있도록 설계되었다. SVM 분류기는 선형, 비선형방

식이 있지만 본 연구에서는 선형 방식을 취하였고, SVM

에서 사용되는 C값은 다양하게 설정하여 테스트하였다.

SVM에서 C 값을 크게 설정하면 <그림 6>의 ρ값에 해당

하는 마진 값이 줄어들고, 작게 설정하면 마진 값이 증가

하게 된다. 본 연구에서는 C값을 5로 설정하였다.

RF분류기는 트리구조의 분류기이다[8]. <그림 7>과 같

이 많은 트리들을 구성하여 통계학적으로 어떤 트리의 어

느 루트에서의 분류결과가 좋은지를 판단하여 최종 분류

기를 선택하는 방식이다. RF 분류기 사용 시 중요한 변

수는 트리의 개수와 각각 트리의 깊이로 본 연구에서는

200, 15를 사용하였다. RF분류기는 학습시간이 상대적

으로 빠르고 레이블 노이즈에 강인하고 멀티 클래스 분류

에 효과적이며 고차원의 특징데이터에서 좋은 성능을 내

는 장점이 있다.

Ⅲ. 실험결과

1. 실험환경

본 연구에서는 OLED 디스플레이 검사장비에서 획득

한 3,502장의 결함영상을 이용하였다. 결함의 종류는 총

10가지이고 그 중 7가지는 실제결함이고 나머지 3가지

는 거짓 결함이다. 각 결함별 데이터 개수는 <표 3>과 같

다. 본 연구에서는 Window 10 환경에서 Visual Studio

2010 (OpenCV2.4.9) 기준으로 알고리즘을 개발하고 테

스트 하였다.

2. 평가방법 및 실험결과

본 연구에서 제안한 다중구조 분류기에 대한 성능

을 평가하기 위하여 분류율을 평균분류율(Average

classification rate)과 전체 분류율(Total classification

rate) 두 가지 방식을 사용하였다. 이 두 방식은 각 클래

스별 데이터 개수가 같으면 결과도 같게 나오게 되는데

클래스별 데이터 개수가 틀릴 때에는 두 가지 결과를 다

볼 필요가 있다. 전체 분류율은 클래스와 상관없이 전체

데이터 중 정확하게 분류된 영상개수와 전체 데이터의

비를 나타내고, 평균분류율은 각 클래스별 분류율에 가

중치를 주어 계산하는 방식으로 아래의 식 1과 같이 표

현된다.

(1)

<그림 5> Random forest를 이용한 분류계수 선택 개념도

<그림 6> Support vector machine concept

<그림 7> Random forest 분류기의 개념도

Defect type Total samples Training Testing

3,502 1,748 1,754

G00 132 66 66

G01 105 52 53

G02 73 36 37

G03 371 185 186

G04 67 33 34

G05 594 297 297

G06 160 80 80

F00 313 156 157

F01 955 477 478

F02 732 366 366

<표 3> 결함별 데이터 샘플

전자공학회지 2016. 11 _ 891

▶ ▶ ▶ 특징점 기반의 머신러닝 기술을 이용한 OLED 결함 분류 기술

31

여기서 CR은 classification rate를 의미하고, N은 클

래스의 개수, 는 번째 클래스 데이터 개수와 전체 데이

터 개수의 비율을 나타내고, 는 번째 클래스에서 정확

하게 검출한 데이터 개수를 나타내며, 는 번째 클래스

의 전체 데이터 개수를 나타낸다.

<표 4>는 제안한 다중구조 분류기의 다양한 파라미

터 세팅에 따른 결과들을 포함하고 있다. 1차 분류기

는 FG분류기를 나타내고, 2차 분류기는 Fake 분류기

와 Genuine 분류기를 나타내고, 특징선택은 사용된 특

징선택 알고리즘을 나타낸다. 또한 G2G는 Genuine에

서 Genuine으로 정확하게 분류된 결과를 나나태고, F2F

는 Fake를 Fake로 정확하게 분류한 결과를 나타내고, G

intra는 2차 분류기의 Genuine 분류기에서 정확하게 분

류된 결과를 나타내고, F intra는 2차 분류기의 Fake 분

류기에서 분류된 결과를 나타내고, Average는 평균 분

류율을 나타내며 total은 전체 분류율을 나타낸다. 각 분

류기의 괄호안의 수치들은 해당 분류기에서 사용된 파라

미터를 나타내며 D는 Default 세팅을 말하는데 SVM 분

류기의 C 값은 5이고, KNN의 k값은 1이며, RF의 Max

Depth(MD)는 9, Min Sample Count(MSC) 는 35, 트리

의 개수는 200으로 세팅하였다.

<표 4>에서 보시다시피 1차 분류기의 분류율은 94%,

92%의 좋은 성능을 보였고, 2차분류기의 분류율은 83%,

87%의 만족할 만 한 성능을 보였다. 이는 본 연구에서 디

자인한 다중구조 분류기가 충분히 OLED 디스플레이 검

사장비에 적용하여 OLED 디스플레이의 생산 공정과정

에서 발생하는 다양한 문제점들을 파악할 수 있는 유의미

한 데이터를 제공해줌으로써 생산성 향상에 기여할 수 있

음을 보여준다.

Ⅵ. 향후 연구 및 결론

본 연구에서는 OLED 디스플레이의 검사장비에 사용

가능한 다중구조 결함분류 기술에 대해 제안하였다. 다중

구조 분류기는 기존의 다양한 분류기들을 쉽게 조합하여

사용가능하게 해주는 장점이 있다. 따라서 다양한 제품에

따른 서로 다른 불량들의 특성에 맞게 분류기들을 선택하

여 비교적 빠르게 기존의 시스템을 수정하여 실제 현장에

적용가능하다. 또한 특징선택기술을 적용하여 많은 특징

들을 사용하더라도 유효하고 효과적인 특징들만 선택하

여 사용가능한 장점이 있다.

본 연구에서 제안하는 방식은 기본적으로 특징들을 정

의하고 적용하는 작업이 필요하다. 최근에 딥러닝 기술

이 빠르게 다양한 분야에 적용되는데 Convolutional

Neural Network(CNN) 기술은 특징추출 및 분류를 동시

에 처리해준다. 즉 특징들을 사용자가 디자인 할 필요가

없는 구조이다. CNN은 대용량 영상이 있으면 아주 좋은

성능을 보장해주지만 특정제품의 불량영상들을 다량 보

유하기는 현실적으로 어렵다. 하지만 적은 데이터로 학습

할 수 있는 다양한 Data Augmentation 방법들이 개발

되고 있어 향후 이러한 기술을 불량 검사장비에 적용해볼

필요가 있다.

1차분류기

SVM(C=5)

KNN(K=1)

RF(MD=15)

RF(MSC=20)

RF(D)

RF(D)

RF(D)

KNN(K=1)

RF(MD=15)

RF-20

RF(D)

RF(D)

특징선택

PCA-20

RF-20

RF-20

RF-20

RF-22

RF-22

ALLRF-20

RF-20

RF-20

RF-22

ALL

2차분류기

KNN(K=1)

KNN(K=1)

KNN(K=1)

KNN(K=1)

KNN(K=1)

KNN(K=1)

KNN(K=1)

RF-18

RF-18

RF-18

RF-18

RF-18

G2G 82.2 79.1 94.5 94.1 95.7 93.7 96 78.3 94.1 92.5 94.9 95.7

F2F 92.8 96.6 93.5 91.9 91.1 91.2 91.6 96.1 92.8 92.9 90.1 91

G intra 73.5 71.1 83 82.2 84.2 81.8 83.8 72.3 83 82.2 83.8 84.2

F intra 86.5 89.6 87 85.7 85.1 85.1 85.5 90.8 87.8 88.2 85.5 86.7

Average 80 80.35 85 83.95 84.65 83.45 84.65 81.55 85.4 85.2 84.65 85.45

Total 84.6 87 86.4 85.2 85 84.7 85.3 88.2 87 87.3 85.2 86.3

<표 4> 최종 분류결과

▶ ▶ ▶ 최 학 남, 김 학 일


참고문헌

[1] Lim, D., D.-G. Seo, and D. Jeong. Defect classification for the

inspection of TFT LCD glass. 2005.

[2] Kang, S., et al. Automatic defect classification of TFT-LCD

panels using machine learning. in Industrial Electronics, 2009.

ISIE 2009. IEEE International Symposium on. 2009. IEEE.

[3] Mitchell, T.M., Machine learning. 1997. Burr Ridge, IL: McGraw

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[4] Burges, C.J., A tutorial on support vector machines for pattern

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p. 121-167.

[5] Hu, M.-K., Visual pattern recognition by moment invariants.

Information Theory, IRE Transactions on, 1962. 8(2): p. 179-187.

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feature selection. The Journal of Machine Learning Research,

2003. 3: p. 1157-1182.

[7] Jolliffe, I., Principal component analysis. 2002: Wiley Online

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[8] Genuer, R., J.-M. Poggi, and C. Tuleau-Malot, Variable

selection using random forests. Pattern Recognition Letters,

2010. 31(14): p. 2225-2236.

[9] Altman, N.S., An introduction to kernel and nearest-neighbor

nonparametric regression. The American Statistician, 1992.

46(3): p. 175-185.

최 학 남

•2000년 8월 연변대학교 응용수학 학사

•2007년 2월 상명대학교 컴퓨터과학과 석사

•2011년 8월 인하대학교 정보공학과 박사

•2012년 3월~현재 인하대학교 정보통신공학과 조교수

<관심분야>

머신비젼, 병렬영상처리, 컴퓨터비젼

김 학 일

•1983년 서울대학교 제어계측공학과 학사

•1985년 퍼듀대학교 전기컴퓨터공학과 석사

•1990년 퍼듀대학교 전기컴퓨터공학과 박사

•1990년~2001 인하대학교 자동화공학과 전임강사,

조교수, 부교수

•2001년~현재 인하대학교 정보통신공학과 교수

•2012년~현재 한국바이오인식협의회 의장

•2002년~현재 ISO/IEC JTC1-SC37 전문위원

<관심분야>

영상처리, 컴퓨터비젼, 딥러닝

전자공학회지 2016. 11 _ 893

카메라 모듈 검사 장비의

자동화를 위한 기계 학습의

활용

특집 카메라 모듈 검사 장비의 자동화를 위한 기계 학습의 활용

김 상 목㈜탑엔지니어링

박 순 영㈜탑엔지니어링

33

Ⅰ. 서 론

2008년 픽사가 제작한 애니메이션 “월-E”는 미래의 로봇을 중심으

로 한 이야기로, 영화에는 지구인들이 쓰레기 더미로 변한 지구를 떠나

면서 남겨둔 청소 로봇 “월-E”와 지구인들이 우주선에서 생활하며 지

구로 보낸 생명체 탐사 로봇 “이브”가 등장한다. 영화에서 월-E가 이브

의 관심을 끌기 위해 지구에서 수집한 물건들을 보여주며 소개시켜 주

는 장면이 나온다. 월-E가 이브에게 새싹을 보여주자, 이브는 새싹을

스캔하고 식물이라 판단하여 우주선으로 임무 성공 메시지를 보낸다.

로봇인 이브는 새싹을 보고 어떻게 식물이라 판단한 것일까?

머신 비전(Machine Vision)은 기계에 시각 능력과 판단 능력을 부여

하여 인간이 보고 판단하는 기능을 하드웨어와 소프트웨어의 시스템이

처리하도록 하는 기술이다. 용어가 낯설지라도 우리는 이미 일상 생활

에서 머신 비전을 적용한 다양한 어플리케이션들을 사용하고 있다. 지

문 인식, 얼굴 인식, 주차장의 자동차 번호판 인식 등이 그 예이다. 머

신 비전은 각종 산업 분야가 자동화로 전환되면서 제조업 분야에서 여

러 가지 검사를 수행하는데 활발히 사용되고 있다[1-3]. 일반적으로 시각

적 검사와 품질 관리는 전문적인 목시 검사자들이 수행 해 왔다. 사람

이 직접 목시 검사를 수행할 경우, 사람이 원하는 검사 결과를 얻을 수

는 있지만 검사자의 주관적인 기준이 개입되거나 검사자의 기분 및 컨

디션에 따라 검사 품질의 일관성이 떨어질 수 있다. 또한 오랜 시간 동

안 검사를 진행 하다 보면, 집중력이 저하되어 검사의 정확도가 떨어지

며 목시 검사를 위한 인건비가 투입되어 검사 비용이 증가하게 된다.

이러한 점을 개선하기 위해 산업체에서는 머신 비전을 활용한 자동 결

함 검출 시스템을 도입하고 있다[3-4].

카메라 모듈은 스마트폰과 같은 모바일 기기에 장착된 카메라이

▶ ▶ ▶ 박 순 영, 김 상 목


다. 최근에는 휴대폰 외에도 <그림 1>과 같이 자동차,

CCTV, 의료기기, 로봇, 웨어러블 등 다양한 어플리케이

션에 카메라 모듈이 적용되면서 카메라 모듈 시장이 점차

확대되고 있다. 또한 성능도 고화소화, 고기능화, 다양화

되면서 카메라 제조 공정이 더 정밀해지며, 그에 따라 검

사 장비도 더 높은 정밀도가 요구되고 있다[5]. 본 고에서

는 카메라 모듈 검사 장비에서의 머신 비전 응용에 대해

서 살펴보고, 카메라 모듈 검사 장비 자동화의 당면 과제

와 기계학습에 기반한 머신 비전을 응용한 해결 방안에

대해서 살펴본다.

Ⅱ. 카메라 모듈 구조 및 제조 공정

카메라 모듈(Compact Camera Module)이란, 렌즈

를 통해 들어온 이미지를 디지털 신호로 변환시키는 부

품으로 <그림 2(a)>에 보인다. 카메라 모듈은 내부적으

로 <그림 2(b)>와 같이 여러 부품들로 구성된다. 일반적

으로 외부로부터 빛을 받아들이는 렌즈 모듈, 이미지 센

서에 최적의 초점이 맺도록 렌즈 모듈을 상하로 움직이

면서 자동으로 조절하는 AF 액츄에이터(Auto Focus

Actuator), 외부 광원 중 적외선부의 빛을 차단하고 가

시광선 영역만 통과시키는 IR/블루 필터, 받아들인 빛을

전기적 영상 신호로 변환시키는 이미지 센서, 이미지 센

서에서 변환된 전기적 신호를 영상 신호로 변환하는 ISP

등으로 구성된다.

카메라 모듈은 <그림 3>에 보이는 여러 공정들을 거쳐

서 제품으로 완성된다. 이러한 공정들은 유기적으로 연결

되어 있으므로, 각 공정에서의 신뢰도가 중요하다[6-7]. 제

조 공정의 신뢰도 측면에서 여러 테스트를 수행하게 되는

데, 특히 조립 후 수행하는 최종 검사기 혹은 제조 검사기

는 제품의 품질과 직결되므로 매우 중요하다.

Ⅲ. 카메라 모듈 검사 장비의 자동화

1. 카메라 모듈 검사 장비

카메라 모듈 제조 업체는 모듈 제작 완료 후, 제작 과

정에 문제가 없었는지 결함을 검사하여 이상이 없는 양품

모듈을 납품한다. 검사 항목은 카메라 모듈 및 제조사에

따라 다르지만, 일반적으로 불량 화소 검사, Auto Focus

검사, Vignetting 검사, 얼룩 검사 등을 수행한다. 이는

머신 비전을 기반으로 한 자동 결함 검사 시스템을 활용

한다. 자동 결함 검사 시스템은 <그림 4>와 같은 검사 장

<그림 1> 카메라 모듈의 활용 분야

<그림 3> 카메라 모듈 제작 공정

<그림 2> 카메라 모듈 (a) 카메라 모듈 사진 (b) 카메라 모듈 분해도

(출처 : 삼성전기)

(a) (b)

<그림 4> 카메라 모듈 검사 장비의 예 (출처 : 탑엔지니어링)

전자공학회지 2016. 11 _ 895

▶ ▶ ▶ 카메라 모듈 검사 장비의 자동화를 위한 기계 학습의 활용

35

비에 카메라 모듈을 장착하고, 모듈을 사용하여 획득한

이미지를 분석함으로써 결함 유무를 판별한다.

2. 카메라 모듈 결함 검사

본 고에서는 결함 검사 항목들 중 얼룩 결함을 중심으

로 살펴본다. 얼룩(stain 또는 mura)이란, 같은 밝기의

이미지를 촬영하였을 때 특정 영역의 밝기가 불균일하게

나타나는 결함이다. 얼룩은 배경 영역과의 밝기 대비가

크지 않고, 경계 영역에서의 밝기 대비가 매우 낮기 때문

에 검출하는데 어려움이 있다. 얼룩이 발생할 수 있는 원

인은 다양하지만, 대부분 부품들을 조립하는 과정에서 제

조 환경 및 사용자 부주의에 의해 발생하게 된다[5]. <그림

5>는 이미지에 보인 다양한 형태의 얼룩을 보인다.

카메라 모듈로 촬영한 이미지는 렌즈를 통해 받은 빛을

영상 신호로 변환한 출력 결과이다. 카메라 모듈로 아무

것도 없는 광원만을 촬영한다면 이미지의 밝기는 <그림

6(a)>와 같이 중심부는 밝고 가장자리로 갈수록 어두워진

다. 이는 렌즈의 특성상 광원의 불균일성에 의한 영상의

불균일 조명이 발생하기 때문이다. 즉, 이미지 센서의 중

심 부분으로 빛이 모여 중심부의 밝기 값은 높고, 가장자

리로 갈수록 빛을 적게 받아 가장자리 부분의 밝기 값은

낮아지는 lens shading이 발생한다. 만약 이미지에 얼룩

이 존재할 경우에는 <그림 6(b)>와 같이 얼룩 부분의 밝

기 값이 낮아진다.

얼룩 검출 알고리즘 설계 시에는 얼룩의 특징과 렌즈의

특징을 함께 고려 해야 한다. 얼룩의 낮은 밝기 대비와 이

미지상에 나타나는 렌즈 특징 때문에, 이미지의 모든 영

역에 대해 같은 기준으로 얼룩을 검출하면 오검이 발생

할 확률이 높아진다. 지금까지 여러 업체와 연구 분야에

서 다양한 얼룩 검출 알고리즘을 개발하고 사용 중이다.

가장 보편적인 방법은 크게 두 가지로 입력 이미지로부터

양품 이미지를 추정하여 두 이미지의 밝기 차이가 큰 영

역을 얼룩으로 검출하는 방법과 입력 이미지에서 주변과

밝기 차이가 많이 나는 영역을 얼룩으로 검출하는 방법이

있다. 첫 번째 방법은 입력 이미지로부터 이물이 없는 양

품 이미지의 밝기를 추정하여 추정한 이미지와 입력 이미

지의 밝기 차에 의한 얼룩을 검출한다[1]. 입력 이미지의

밝기는 <그림 6(a)(b)>처럼 조명 성분이 균등하게 표현될

수 있다. 하지만 실제로는 <그림 6(c)>와 같이 픽셀 별 밝

기 차가 발생하게 되게 된다. 알고리즘은 입력 이미지로

부터 <그림 6(a)>와 같이 균등한 조명 성분을 가진 양품

이미지의 밝기 곡선을 추정하고, 추정한 조명 성분과 입

력 이미지와 밝기 차를 계산하여, 미리 정해 놓은 문턱치

(threshold)값과 비교함으로써 결함 판정을 하게 된다.

이 방법은 양품 이미지를 정확하게 추정하는 것이 검출

성능에 영향을 미친다. 그러나 입력 이미지에 얼룩이 있

을 경우에는 양품 이미지의 밝기 곡선을 정확하게 추정하

지 못하는 경우가 발생하며 이미지의 lens shading의 정

도, 즉 이미지 중심부와 가장 자리의 밝기가 어느 정도 차

이가 나는지에 영향을 받을 수 있다. 특히 이미지의 네 꼭

지점 부근은 다른 부분에 비해서 더 어둡기 때문에 이 부

분의 얼룩은 검출하기 더 어려운 경향이 있다.

<그림 5> 얼룩의 유형

(a)원형 (b)도넛형 (c)겹친 도넛형

(d)직선형 (e)사슬형 (f)막대형

(g)큰 멍 (h)밝고 큰 멍 (i)비정형

<그림 6> Lens Shading (왼쪽) 카메라 모듈을 사용하여 촬영한 이미지,

박스 안에 원형 얼룩 존재, (오른쪽) 이미지의 X축 방향으로 밝

기 그래프 (a)얼룩이 없을 경우 밝기 그래프 형태 (b)얼룩이 있

을 경우 밝기 그래프 형태 (c)얼룩이 존재하는 지점의 실제 밝

기 그래프

▶ ▶ ▶ 박 순 영, 김 상 목


두 번째 방법은 특정 크기의 윈도우를 사용하여 입력

이미지 안에서 윈도우를 이동시키며 주변 윈도우 안의 밝

기 평균과 현재 윈도우 안의 밝기 평균의 차이를 비교하

여 얼룩을 검출한다[8]. 이 방법은 얼룩이 없는 곳은 주변

과 밝기 차가 크지 않지만, 얼룩이 있는 곳은 주변과 밝

기 차가 크다는 특징을 이용한 것이다. 그러나 이 방법은

윈도우의 크기에 영향을 많이 받아, 사용하는 윈도우보다

아주 크거나 작은 얼룩은 검출하기 어려우며 <그림 3(b)>

에 보이는 도넛 형태처럼 얼룩 내에서 밝기 변화가 있는

경우에는 밝기 값이 평준화되어 얼룩을 정확하게 검출하

지 못하는 문제가 발생한다.

3. 기존 검사 방법의 한계

얼룩은 여러 가지 이유로 다른 결함보다 검출하기가 까

다롭다. 얼룩은 이미지에서 선명하게 보이는 경우보다

희미하게 보이는 경우가 많으며, 얼룩의 유형도 다양하

다. 또한 점처럼 보이는 작은 얼룩부터 이미지 크기의 약

20%까지 차지할 정도로 큰 얼룩까지 발생하는 등, 얼룩

의 크기를 예측할 수 없다. 뿐만 아니라 얼룩 영역은 밝기

대비가 약하기 때문에 이미지에 노이즈가 발생하게 되면,

얼룩 영역과 노이즈 영역의 경계가 모호해져 오검이 많이

발생한다. 얼룩 검출이 노이즈에 취약하다는 점은 생각보

다 큰 단점이다. 최근 들어 카메라 모듈 제작의 원가 절

감을 위하여 구성 부품을 글라스에서 플라스틱으로 교체

하는 추세인데 플라스틱이 글라스에 비해서 노이즈가 많

이 발생하는 경향이 있다. 또한 인건비 절감을 위하여 모

듈 제작 공장을 옮기는 경우에도 공장 환경에 영향을 받

아 노이즈가 많이 발생한다. 따라서 부품 소재, 제조 공정

등에 따른 검사 조건 및 문턱치 값 조절이 필요하게 되어

자동 검사기 측면에서 관리의 어려움이 있다. 이러한 취

약점 때문에 얼룩 검출은 검출 결과를 사람이 재검사하는

목시 검사를 전수 검사로 수행하는 실정이다[6].

알고리즘 검출 결과를 목시 검사로 재검사 하다 보면,

얼룩 모델링의 한계를 확인하게 된다. 알고리즘으로 얼룩

을 최대한 명확하게 정의하더라도 노이즈에 영향을 받아

얼룩을 정확하게 검출하는 게 어렵다. <그림 7>의 얼룩 이

미지를 보면, 육안으로 보기에는 사각형 안의 원 영역만

얼룩으로 보인다. 그러나 오른쪽에 표현한 이미지 밝기 값

을 보면, 이미지 양측 및 상단 가장자리 부분의 노이즈 영

역이 얼룩 영역과 비슷한 값을 가진다. 따라서 알고리즘은

두 영역을 같은 영역으로 판단하여 모두 얼룩으로 검출하

거나 모두 노이즈로 판단하여 얼룩으로 검출하지 않는다.

이를 개선하기 위해 결함의 모델링 및 개선된 결함 수준

측정 기법을 통한 알고리즘을 적용할 수 있다[9]. 특히 사

람의 목시 검사와 유사한 판단을 할 수 있는 기계 학습 기

반의 얼룩 결함 검출 방법을 적용할 수 있을 것이다.

4. 기계 학습을 활용한 해결 방안

앞 절은 얼룩 검출 알고리즘의 목표가 ‘사람이 얼룩으

로 판단하는 영역을 컴퓨터도 얼룩으로 판단하라’임을 보

여준다. 알고리즘이 최대한 정교하게 얼룩을 정의하고 정

확하게 검출하더라도, 결국은 사람이 보기에 얼룩으로 보

이는 영역을 검출해야 하기 때문이다. 다시 말해서, 우리

의 목표는 컴퓨터가 사람과 같은 판단을 하기를 바라는

것이다. 사람은 지금까지 봐온 얼룩 이미지들을 바탕으로

얼룩 모델(얼룩의 형태와 크기, 밝기 대비 정도)을 무의식

중에 정의하고, 입력 이미지에 그와 비슷한 영역이 보이

면 얼룩으로 검출한다. 기계 학습(machine learning)은

이와 비슷한 방식으로 문제를 해결하는 기법이다.

기계 학습으로 문제를 해결하기 위해서는 <그림 8>와

<그림 7> 얼룩과 노이즈의 밝기 값이 비슷한 예 (왼쪽) 얼룩과 노이즈가

존재하는 이미지 (오른쪽) 이미지의 밝기 값을 3차원으로 표시

<그림 8> 기계 학습을 활용한 얼룩 검출 과정

전자공학회지 2016. 11 _ 897

▶ ▶ ▶ 카메라 모듈 검사 장비의 자동화를 위한 기계 학습의 활용

37

같이 학습(training) 과정과 테스트(test) 과정이 필요하

다. 학습 과정은 사람이 얼룩 이미지들을 보면서 얼룩에

대해서 이해하는 것과 유사한 과정으로, 얼룩 이미지들을

입력하고 컴퓨터가 얼룩에 대해 모델링을 하는 과정이다.

이는 검사 장비로 얼룩을 검출하기 전의 오프라인 환경에

서 수행한다. 이 때, 얼룩 이미지가 많으면 많을수록 얼룩

을 더 정확하게 모델링 할 수 있다. 테스트 과정은 학습을

완료한 후에 실제 검사 장비에서 얼룩을 검출하는 과정으

로, 학습된 얼룩 영역이 입력 이미지에 발견되면 얼룩을

검출한다.

학습 과정에서 얼룩의 유형을 함께 학습 시킬 경우, 테

스트 과정에서 얼룩 검출과 동시에 얼룩의 유형도 함께

구분(classification)할 수 있다. 얼룩의 유형과 제조 공

정상의 문제점 사이의 관계를 파악한다면, 검출된 얼룩의

유형을 통해 공정상에 문제가 발생하는 부분을 파악 및

개선이 가능하며 최종적으로는 수율(yield)을 높일 수 있

다. 기계 학습을 기반으로 한 얼룩 검출 알고리즘은 검사

를 진행할수록 장비의 성능이 더 좋아질 수 있다는 강점

이 있다. 학습 데이터(얼룩 이미지)의 양이 많을수록 모델

을 더 정확하게 정의할 수 있기 때문에 장비로 검출한 얼

룩 이미지를 폐기하지 않고 다시 학습 데이터로 사용하면

장비(알고리즘)의 성능을 더 향상시킬 수 있다.

일반적인 얼룩 검출 알고리즘은 새로운 형태의 얼룩이

발견되면 그에 맞도록 알고리즘을 업데이트 해야 한다.

이에 비하여 기계 학습을 사용한 알고리즘은 새로운 형태

나 크기의 얼룩에 대해서 학습만 시키면 해결이 가능하

다. 작업 공정의 작은 변화에도 새로운 유형의 얼룩이 발

생할 수 있다. 예를 들어 제조 공정상의 청결 상태 변화에

도 얼룩의 형태나 노이즈가 바뀐다. 이런 경우에 기존 알

고리즘들은 새로운 유형의 얼룩 검출을 위해 파라미터를

수정하거나 알고리즘을 업데이트하기 위하여 엔지니어가

현장에 투입될 필요가 있었다. 그러나 기계 학습을 기반

으로 한 알고리즘은 학습을 통해서 새로운 유형의 얼룩을

검출할 수 있기 때문에 엔지니어가 매번 대응할 필요가

없어 비용을 절감할 수 있다.

최근 들어 결함 검출 장비 개발 업계에서는 결함 검사

자동화 시스템이 사용하는 일반적인 알고리즘의 한계를

깨닫고 기계 학습을 기반으로 한 알고리즘을 시도하는 업

체가 늘고 있다. 이런 장비의 성능은 알고리즘 자체뿐 아

니라, 장비를 개발하는 업체가 확보할 수 있는 학습 데이

터의 양에도 영향을 받는다. 즉, 얼룩 검사 장비는 얼룩

이미지를 많이 확보한 업체의 장비가 얼룩 모델을 더 정

교하게 정의할 수 있으며, 그에 따라 장비의 성능이 더 좋

아져 경쟁력을 확보할 수 있을 것이다.

Ⅳ. 결론 및 기대 효과

본 고에서는 카메라 모듈 검사 장비 자동화의 문제점과

기계 학습을 기반으로 한 해결 방안에 대해서 살펴보았

다. 사람과 다른 접근 방식을 사용하는 알고리즘을 통해

사람과 같은 결과를 출력하기를 기대한 기존 검사 장비의

취약점과 그에 비해 기계 학습을 기반으로 한 접근 방식

의 타당성을 보였다. 사실 기계 학습 기반 알고리즘은 오

래 전부터 연구하고 시도해왔다. 하지만 알고리즘에서 사

용하는 복잡한 연산 처리를 위한 CPU의 성능, 학습 데이

터를 저장하기 위한 하드웨어의 용량 및 데이터 관리 문

제 때문에 알고리즘을 개발하고 이를 산업 현장에 적용하

는 게 쉽지 않았다. 최근들어 하드웨어의 성능 향상 및 그

에 비해 저렴한 가격, 빅데이터의 발전 등을 배경으로 기

계 학습의 연구가 활기를 띠기 시작했고, 이를 실제 산업

현장에 적용하는 게 가능해졌다. 카메라 모듈 검사 장비

외에도 의료용 진단 장비, PCB 검사 장비 등 다양한 검사

장비에 기계 학습을 접목시키면 여러 분야에서 검사 자동

화를 실현할 수 있을 것이라 기대된다.

참고문헌

[1] Jae Y. Lee and Suk I. Yoo, “Automatic Detection of Region-

Mura Defect in TFT-LCD”, IEICE Transactions on Information

and Systems, E87-D, 2004.

[2] 문경수, “Robust Regression을 이용한 TFT LCD의 MURA 검출에

관한 연구”, 아주대학교, 2008.

[3] Robert Sablatnig, “A Flexible Concept for Automatic Visual

Inspection”, Proceeding of Czech Pattern Recognition

Workshop’97, 1997.

▶ ▶ ▶ 박 순 영, 김 상 목


[4] 주영복, 허경무, “영상기반 자동결함 검사시스템에서 재현성

향상을 위한 결함 모델링 및 측정 기법”, Journal of Institute of

Control, Robotics and Systems, 2013.

[5] 적용 분야가 확대되는 카메라(모듈)과 영상 기반 응용 시장의

신사업 전략 모색을 위한 종합 분석, IRS 글로벌, 2015.

[6] 송청호, 정연욱, 송준엽, 김영규, “휴대폰 카메라용 렌즈단품 이물

자동검사장비”, 한국정밀공학회 추계학술대회 논문요약집, 2005.

[7] 유성진, 강부식, 홍한국, “휴대용 카메라 모듈(CCM) 제조 라인에

대한 데이터마이닝 기반 품질관리시스템 구축”, Journal of

intelligence and information systems, 2008.

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mobile phone camera modules”, Proceeding SPIE 9024,

Image Processing: Machine Vision Applications VII, 2014.

[9] Mitesh Popat and S. V. Barai, “Defect Detection and

Classification using Machine Learning Classifier”, World

Conference on NDT, 2004.

박 순 영

•2007년 2월 경북대학교 컴퓨터공학과 석사

•2011년 8월 경북대학교 전자전기컴퓨터학부 박사

•2011년 9월~2013년 2월 경북대학교 박사후연수(Post-

Doc.)연구원

•2013년 4월~2014년 1월 ㈜ 일렉스 연구원

•2014년 1월~현재 ㈜ 탑엔지니어링 선임연구원

<관심분야>

신호처리, 컴퓨터비전, 패턴인식, 인공지능

김 상 목

•2003년 2월 경북대학교 전자전기공학부 학사

•2005년 8월 경북대학교 전자전기공학부 석사

•2005년 8월~2008년 6월 ㈜ 일렉스 선임연구원

•2008년 7월~2010년 2월 티맥스코어 책임연구원

•2010년 11월~2014년 3월 ㈜ 삼성전자 메모리사업부

SW 개발팀 책임연구원

•2014년 4월~현재 ㈜ 탑엔지니어링 수석연구원

<관심분야>

임베디드 시스템, Soc 설계

전자공학회지 2016. 11 _ 899

공장 자동화를 위한 광학 방식

삼차원 측정 기술 연구

특집 공장 자동화를 위한 광학 방식 삼차원 측정 기술 연구

노 영 준LG전자 소재/생산기술원

장 효 영LG전자 소재/생산기술원

39

Ⅰ. 서 론

산업 분야의 제조 및 검사 공정에서 다모델 제품의 대응과 이에 따른

소재/부품의 변동성을 대응하는 유연한 생산 시스템이 요구되고 있다.

시각 정보를 기반으로 하는 머신 비젼 기술은 형상, 색상, 위치 등 단

일 센서에 비해 많은 정보로 가공이 가능하므로 유연한 시스템을 적용

하는데 매우 중요한 수단이 된다. 특히 사람의 육안 판단에 의존하였던

제품의 수량/종류/위치 확인 및 추적, 결점 존재 확인/측정, 형상 측정,

문자 판독 등의 세부 단계가 빠르게 머신 비전 기반의 시스템으로 대체

또는 보완되고 있다.

머신 비전의 도입은 육안에 의한 시각 검사에 비해, 작업 및 측정의 반

복성뿐 아니라 품질에 대한 정량적인 관리 및 정밀성과 경제성을 확보할

수 있는 수단이 되므로, 원자재, 반도체, 자동차, 전자제품, 식약품 생산

등의 산업 전반에 걸쳐 단순한 측정에서부터 획득한 영상의 처리, 판단

프로세스까지 광범위하게 머신 비전의 적용이 이루어지고 있다.

대개의 공장에서의 머신 비전 적용 사례는 2차원 검사가 대다수를 차

지하고 있으나, 삼차원 이미징 기술이 보편화됨에 따라 검사 및 측정

응용 사례들도 빠르게 늘어나고 있다. 특히 많은 자동차 제조사들의 경

우, 자동차 문, 보닛, 엔지, 계기판 및 LED의 조립을 삼차원 비전이 장

착된 로봇이 처리하는 경우가 늘고 있으며, 일례로 BMW는 2015년부

터 완전 자동화된 외관 측정 셀(cell) 구축에 삼차원 광학 기술을 도입

하였다[1]. 이 시스템은 로봇에 부착된 센서를 이용해 전체 차량에 대한

3D 이미지를 만들고 100um 이하의 정밀도로 3D 데이터 모델을 생성

한다. 그 외에도 잠재적인 애플리케이션 수는 빠르게 성장하고 있다.

현재 생산 현장에서는 광학식 삼차원 측정 방법으로 광삼각법을 필

두로 하여 모아레(Moire) 측정법, 광위상 간섭법(Phase-shifting

▶ ▶ ▶ 장 효 영, 노 영 준


interferometry), 백색광 주사 간섭법(White-light

scanning interferometry), 공초점 측정법(Confocal

microscopy), 피조 간섭계(Fizeau Interferometry) 등

을 포함한 수십 가지의 광학식 형상 측정 기술이 적용되

고 있다. 이들은 삼차원 위치 계산의 방법에 따라 크게 광

학적 삼각 측량 방식과 시간 지연 측정 방식으로 나뉘게

되며, 여기서는 삼각측량을 활용하는 대표적인 방법인 레

이저 광삼각 측정 및 구조광(Structured light)에 대해 다

루도록 한다.

먼저 2장에서는 레이저 광삼각 및 구조 조명 이용 삼차

원 측정 방법에 대한 기술적인 소개를, 3장에서는 실제

적용에 대한 사례를 든 후 4장에서 결론으로 글을 마치도

록 하겠다.

Ⅱ. 관련 기술 소개

1. 광삼각 측정 방식

광삼각법은 거리 또는 변위, 형상의 측정에 다양하게

이용된다. 광원으로는 레이저 빔을 이용하는 것이 일반

적이며, 시스템은 점(또는 선) 형 광원 및 컨트롤러와 이

미징 광학계, 데이터 처리장치로 구성된다. 기본 원리

는 <그림 2>와 같다. 물체 면에 조사된 레이저 광점(A)

은 입사 레이저 빔 축과 특정 각도로 기울어져 설치된 이

미징 광학계에 의해 위치 측정 센서(Position Sensing

Detector, PSD) 또는 이미지 센서 - Charge Coupled

Device(CCD) 또는 Complementary Metal Oxide

Semiconductor(CMOS) - 면에 상(a)을 맺는다. 만약 조

사 레이저 위치가 변경되면(B), 이는 다시 이미지 센서에

맺히는 상의 위치에 변화를 준다(b). 이와 같은 레이저 조

사 위치 변화(H)와 이미징 위치 변화(h) 간의 관계식을

유도하기 위해 먼저 대상체 거리( )와 이미징 거리( )를

아래와 같은 수식으로 기술한다.

(식 1)

(식 2)

또한 영상 포커싱과 관련한 식 3의 수식으로부터 식 4

와 5가 유도된다.

(식 3)

(식 4)

(식 5)

마지막으로 식 6의 관계식에 식 1부터 5까지의 수식을

적용하면, 식 7과 식 8이 도출된다.

(식 6)

(식 7)

(식 8)

이와 같은 수식을 통해 광삼각법 시스템 구현 시 , ,

, , 등의 변수를 설계할 수 있다[2].

<그림 1> BMW 광학 측정 셀 시스템[1]

<그림 2> 광삼각 측정 방식의 원리:

(a) 센서의 구성도, (b) 고려 대상 센서 파라미터

(a)

(a)

전자공학회지 2016. 11 _ 901

▶ ▶ ▶ 공장 자동화를 위한 광학 방식 삼차원 측정 기술 연구

41

레이저 광삼각법은 광학계의 구성과 정렬이 매우 간단

한 장점이 있다. 그러나 조사되는 광원이 대상체의 표면

에 투영되어야 측정이 가능하므로 반사도가 높은 경면의

대상체 측정에 있어 측정오류가 나기 쉽다. 또한 광축을

따라 측정하는 것이 아니라 패턴을 조사하는 발광부의 축

과 그 패턴을 기록하는 수광부의 축이 특정 각도로 틀어

져 있어 카메라 시야에서 광원이 가려지는 측정 사각지대

가 존재하는 한계를 갖는다. 이러한 단점들을 극복하기

위하여 대상체의 표면에 따라 반사율을 적절하게 통제하

기 위한 다파장 광원을 사용하거나 두 개 이상의 광원 혹

은 카메라를 사용하여 사각지대를 개선하는 방식이 사용

된다.

최근의 레이저 광삼각 측정 장치는 기존 접촉식 측정

장치에 비견하거나 그 이상의 공간 및 높이 분해능을 가

지고 있는 것으로 알려져 있다. 그러나 시스템의 성공적

인 도입을 위해서는 아래와 같은 한계 및 오차 요인에 대

해 검토가 이루어져야 한다.

광삼각 측정 장치의 분해능은 주로 레이저 광점의 크기

와 센서 화소 크기에 따른 분해능에 의해 결정된다. 또한

광점의 위치가 기준 면에서 벗어날수록 광학적 분해능이

떨어지게 된다. 대표적인 레이저 광삼각법의 오차는 고스

트(ghost) 효과로 인한 것이다. 물체의 주변 반사나 다중

반사 등으로 실제 레이저 광점이 아닌 위치에 레이저 광

점이 형성될 경우 이를 고스트라 한다. 고스트가 발생할

경우 중심점의 위치 측정이 어려워지고 결국 오차가 유발

된다. 레이저빔이 입사하는 광축과 영상을 맺는 광학계의

광축이 많이 기울어져 있을 경우에도 이로 인한 입사 광

점의 상 변형이 오차를 야기하게 된다. 이 효과는 사이 각

이 클 경우 발생하게 되며, 고스트와 중첩되어 나타나기

도 한다. 마지막으로 측정 대상의 국부적인 표면반사율의

변화가 심할 때 측정 오차가 발생한다.

2. 구조 조명 형상 측정 방식

구조 조명 형상 측정 방식이란 라인이나 격자 구조 등

특정 패턴의 빛을 활용하여 물체의 기하학적 높이와 깊이

를 측정하는 방법론을 의미한다. 기본적인 원리는 광삼각

법과 같이 조명이 되는 패턴 조명이 삼차원 대상체에 투

영되어 변형이 되는 양을 카메라로 읽는 것으로, 일반적

인 광삼각법의 경우 한 점, 혹은 한 개의 라인에 대한 측

정이 된다면, 구조 조명을 사용하는 경우 2차원 면에 대

한 전체의 삼차원 정보를 얻어내는 방법이라 할 수 있다.

대표적인 구조 조명 형상 측정 방식으로 모아레(Moire)

측정법이 있다. 2개의 격자무늬가 겹쳐지게 되면 간섭 현

상이 일어나게 된다. <그림 3>에 이에 대한 예시를 들었

다. 그림에서와 같이 서로 다른 무늬 a와 b를 겹치게 되

면 새로운 무늬 c가 생기게 되며, 이 간섭무늬를 모아레

패턴이라 한다. 만약 패턴 b에 대한 정보를 사전에 알고

있다면 c를 관측함으로써 a 패턴의 정보를 역으로 산출해

낼 수 있다.

구조광을 이용한 삼차원 측정 방식은 광학 시스템

의 구축이 간단하며, 주된 반사 요소가 난반사(diffuse

reflectance)인지, 정반사(specular reflectance)인지

에 따라 구조광의 조사 방식 등의 구현에 차이가 존재할

수 있으나 일반적으로 카메라 광학계를 사용하므로 수십

mm 영역까지의 넓은 측정 영역 적용이 가능하다. 단, 사

용하는 격자에 다른 측정 제한 높이가 존재하게 된다.

<그림 5>에 구조 조명을 이용한 삼차원 측정 시 사용되

는 다양한 패턴의 예시를 보였다[4-5]. 적용되는 패턴의 수

<그림 4> 구조 조명 형상 측정 시스템

<그림 3> 서로 다른 패턴(a)와 (b)를 겹치면 새로운 무늬 (c)가 생긴다[3]

▶ ▶ ▶ 장 효 영, 노 영 준


는 코드화 기법과 컬러 유무에 따라 설계하도록 한다. 여

러 장의 이진 패턴 사용 시 구현이 단순하고 고해상도의

깊이 맵(depth map)을 얻을 수 있다는 장점이 있으나,

하나의 장면(scene)에 대하여 여러 장의 패턴 영상을 연

속적으로 투영하여야 하므로 움직이는 물체가 있는 경우

에는 적용이 적절하지 않다. 이에 대한 보완 방법으로 그

레이 또는 컬러 패턴을 이용하여 패턴 영상의 종 수를 줄

일 수 있으나, 컬러 대상체에 대한 오류 발생 가능성이 있

으며 깊이 맵의 해상도 한계 문제가 발생하게 된다.

Ⅲ. 공장 자동화 적용 사례

최근 삼차원 측정 방식에 대한 공장 자동화 관점에서의

요구가 증대됨에 따라, 여러 가지 솔루션들의 적용 사례

가 업계에 보고되고 있다. 특히 자동차 업계는 이에 대해

활발한 투자 또는 검토가 이루어지고 있는 시장으로, 로

봇에 의한 자동화와 함께 고급화에 따른 외관의 품질 관

리의 관점에서 삼차원 측정 기술이 다양한 분야에서 적용

되고 있다.

<그림 6>은 2파장 레이저를 활용하여 간격(Gap)을 측정

하는 시스템이다. 2개의 레이저 조사 각도를 조정하여 좁

은 간격 측정에서 발생하는 측정의 사각지대를 해소하고

좀 더 깊은 위치까지의 간격 측정이 가능하도록 하였다.

<그림 7>은 자동차 차체의 표면 깊이(depth) 측정 예시

이다. 시분할 방식의 구조광 조사를 통해 차량 표면과 같

은 유광 표면의 형태적인 변형을 검출할 수 있다. 광학계

를 로봇에 부착하여 전체를 스캔하는 방식으로 전체 차체

의 표면 측정도 가능하다(<그림 8>).

유광체에 대한 표면 형상 왜곡 검출 기술의 이해를 돕

기 위하여 <그림 9>에 직선형의 패턴을 유광 재질 대상

에 조사하였을 경우의 이미지를 제시하였다. 등 간격의

직선형 패턴을 대상에 조사하였으므로, 직선 간 간격이

주변과 비교하여 급격하게 변화하는 부분은 표면 형상에

있어 급격한 깊이(depth) 변화가 있는 것으로 판단할 수

있다. 각 직선 간 간격의 편차량을 이용하여 표면 형태

변형 위치를 극대화하여 도시하는 방법으로는 여러 수식

적 접근이 가능하다. 일례로 직선 패턴에 대한 수직 방향

으로의 높이 변화를 산출하기 위해서는 (식 9)와 같은 간

단한 수식의 이용이 가능하며 그에 따른 <그림 9>에서의

표면 왜곡 부위에 대한 높이 프로파일을 <그림 10>에 제

시하였다.

<그림 6> 2파장 레이저 Gap 측정 장비

<그림 7> 차량 표면 깊이 맵(Depth map)[6]

<그림 5> 구조 조명 적용 패턴 예시

(d) Color pattern

(a) Stripe pattern

(b) Grid pattern (c) Circle pattern

전자공학회지 2016. 11 _ 903


43

(식 9)

또 한 구 조 광 방 식 은 유 광 체 의 표 면 거 칠 기

(Roughness) 검사에도 활용된다[9]. <그림 10>에 구조광

흑백 경계부에서의 조사 이미지를 도시하였다. 경계부에

서 표면 거칠기가 표현됨을 확인할 수 있다. 따라서 제품

전 영역에 걸친 거칠기 검사를 위해 <그림 11>과 같은 검

사 시스템을 구축하였다. 시스템은 제품을 거치하기 위한

3축 스테이지와 구조광 출력을 위한 LCD 모니터, 광을

측정하기 위한 광학계 및 측정 데이터 처리를 위한 연산

부로 구성된다. 조사 광은 위상 천이 방식의 직선형 구조

광을 이용하였다.

반복성 및 신뢰성 있는 깊이 편차 데이터 취득을 위한

환경과 대상체에 적절한 광학계 구축과는 별개로 측정된

데이터로부터 목적에 부합하는 특징치(대표치)를 정의하

는 것 또한 중요하다. 위의 표면 거칠기 검사 시스템에서

는 식 10과 같이 표면 품질을 정의하였다.

(식 10)

<그림 13>는 식 10의 특징치를 기준으로 작업자에 의

한 점수화와 비교를 통해 평가한 결과로, 특징치에 의한

평가 및 사람에 의한 평가가 유사한 경향성을 보임을 확

인할 수 있다.

이와 같은 삼차원 측정 방식들은 기술적 특성에 따라

상호 보완적인 복합 형태로 적용되기도 한다.

일례로 패키지 범프(Package bump) 형상 측정에

있어서 경사 백색광 주사 간섭계(Tilted white light

scanning interferometry, TSI)와 레이저 라인 프로파

일러 삼차원 측정 기술을 상호 보완적으로 적용하여 표

면 재질에 강인한 측정 결과를 얻는 등의 시도가 그것이

다[13]. 정밀미세부품의 삼차원 표면 형상 측정 및 박막 두

<그림 8> 차량 표면 형상 검사[7]

<그림 10> 높이 프로파일 예시

<그림 11> 유광체 표면 거칠기 이미징

<그림 12> 유광체 표면 거칠기 검사 시스템

<그림 9> 가전제품 표면 검사를 위한 조명 조사 예시[8]

▶ ▶ ▶ 장 효 영, 노 영 준


께 측정 등에 광범위하게 쓰이고 있는 백색광 주사 간섭

계(Scanning White Light Interferometry)의 경우, 백

색광원의 결맞음 길이(coherence length)보다 낮은 단차

를 측정할 경우 수직 분해능이 상대적으로 떨어지거나,

측정 물체의 국부 기울기가 심할 경우 심각한 측정오차가

유발되는 등의 문제점이 있다[10]. 이러한 문제점을 해결하

기 위해 측정 광학계 자체의 개선이나 측정 데이터의 처

리 개선 시도가 이루어지고 있으나[11-12], 개선의 또 다른

방향성으로 대상체의 형상 특징에 기반을 두고 측정 방식

을 복합적으로 설계하여 보다 나은 성능을 얻기도 한다.

Ⅳ. 결 론

이상과 같이 현재 업계에서 사용되는 다양한 광학식 삼

차원 측정 기술 중 레이저 삼각법 및 구조광 방식 삼차원

측정의 원리와 적용 예를 살펴보았다. 이러한 측정기는

최근의 공장 자동화 추세의 영향으로 실제 생산 및 물류

공정에서의 수요가 급격히 증가하고 있다. 초기에는 현미

경 또는 투영장비를 이용하거나 별도의 측정실에서 측정

관리되던 항목들이 비접촉 삼차원 측정 기술의 발전에 힘

입어 생산 공정에 도입되고 있다. 공장에서의 삼차원 솔

루션 적용은 일부에서는 여전히 혁신적인 트렌드로 회자

되지만, 많은 경우 보편화의 단계에 접어들고 있다. 성공

적인 삼차원 솔루션의 적용을 위해서는 전문적인 지식과

경험에 기반을 두고 기능성, 융통성, 신뢰성, 처리량 등

전반에 걸친 기술 도입 검토를 통하여 효용성 극대화가

전제되어야 할 것이다.

참고문헌

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<그림 13> 표면 거칠기 측성치 평가 결과

<그림 14> 패키지 범프 삼차원 측정 이미지

전자공학회지 2016. 11 _ 905


45

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24, pp. 5925-5931, 2013.

장 효 영

•2001년 2월 이화여자대학교 정보통신학과 학사

•2004년 2월 한국과학기술원 전자전산학과 석사

•2012년 9월 한국과학기술원 전자전산학과 박사과정 수료

•2013년 1월~현재 LG전자 소재/생산기술원 선임연구원

<관심분야>

머신비젼, 계측광학, 비파괴검사

노 영 준

•1995년 2월 연세대학교 기계공학과 학사

•1997년 2월 한국과학기술원 정밀공학과 석사

•2003년 2월 한국과학기술원 기계공학과 박사

•2006년 7월~현재 LG전자 소재/생산기술원 수석연구원

<관심분야>

머신비젼, 계측광학, 머신러닝


머신비젼 카메라의 특성과

동향

특집 머신비젼 카메라의 특성과 동향

황 준 현크래비스 대표/연구소장

46

Ⅰ. 서 론

영상처리를 통해 특정한 결론을 얻어내는 비전(Vision)이 어려운 이

유 중 하나는 기술의 융합성으로 제대로 수행하려면 조명 및 렌즈의 광

학과 물리, 카메라의 전기전자, 케이블 임피던스 매칭과 같은 재료 및

전자파, 모터 및 주변 장치 연계와 같은 제어 및 전력전자, 화상처리 알

고리즘과 PC 소프트웨어와 같은 다 방면의 기술을 필요로 한다. 실제

현장에서는 문제가 생겼을 때 어느 부분이 원인인지 밝혀내는 것에 상

당한 시간을 소모한다.

본 기고에서 살펴보고자 하는 카메라는 영상을 취득 및 생성시키는 역

할을 하는 것으로, 영상처리를 통해 특정 작업을 수행하기 위해 반드시

필요한 기본 단계이다. 학교나 연구소에서 행해지는 많은 연구들이 “레

나 이미지”와 같이 이미 얻어진 영상 또는 표준 영상을 대상으로 알고리

즘의 효용성을 검증 및 비교하고 있지만, 실제 현장에서는 이런 알고리

즘 성능의 우수성보다, 일정한 영상이나 영상처리에 적합(가능)한 영상

을 잘 획득하는 것이 목적하는 작업의 성패에 더 중요한 경우가 많다.

전자공학회지 2016. 11 _ 907

▶ ▶ ▶ 머신비젼 카메라의 특성과 동향

47

예를 들어, 하나의 대상물을 1,000번 정도 촬영하면 동

일한 영상을 얻을 수 있을까? 시간의 변화에 따라 광원의

밝기나 주변 조건이 달라지는데?, 대상물의 표면이 금속

같이 전반사가 일어나는 대상물일 때는 조명 조건을 어떻

게 해야 하나? 영상의 중심부와 주변부의 왜곡이나 밝기

균일도를 맞추기 위해 어떤 사양과 성능의 렌즈를 선택

해야 하나? 대상물이 아주 빠른 속도로 움직일 때도 같은

위치에 올 수 있도록 촬영할 수 있을까?

본 기고에서는 산업 현장에서 이런 영상 취득을 수행하

는 머신비전 카메라가 다른 일반 카메라와 다른 특성, 머

신 비전 카메라의 발전 과정 및 최신 동향에 대한 필자의

견해를 정리하고자 한다.

Ⅱ. 머신비전 카메라의 특성과 동향

머신비전 카메라는 맨 처음에는 일반 CCTV카메라에도

있는 다양한 외부동기 기능 중에서 트리거(Trigger) 동기

기능을 채용하면서 발전해 왔는데, 초기에는 현재와 같은

순차(Progressive) 방식보다 비월주사(Interlace Scan)

을 채용했는데 아직도 일부 사용되고 있다.

이러한 머신비전 카메라의 주요 특성을 살펴보면서 최

근 동향을 정리하면 다음과 같다.

- 사람이 아닌 컴퓨터를 위한 영상

- 트리거 및 전자셔터

- 택타임과 고속 프레임

- 고해상도 및 탭 구조

- 인터페이스에 따른 분류

- 처리 기능에 따른 분류

- 센서 종류에 따른 분류

1. 촬영의 목적 (사람과 컴퓨터)

영상을 취득하기 위한 카메라는, 모든 사람들의 손에

들려진 휴대폰에도 들어가 있고, 엘리베이터나 은행에 설

치된 CCTV(폐쇄회로) 카메라와 같이 우리 주변에 일상화

되어 있다. 흔히 영상을 촬영하는 카메라는 모두 같은 것

으로 오해하기 쉽지만, 일반적인 카메라와 머신비전 카메

라의 가장 큰 차이점은, 일반 카메라가 촬영한 것을 사람

의 시각으로 보는 목적이라면 머신비전 카메라는 컴퓨터

를 통한 계측 및 판단의 목적이다.

이 차이점이 사소하게 느껴질 수 있지만 실제로는 이를

구현하기 위한 구성과 노력은 많은 차이점을 가지고 있

다. 사람이 보고 좋은 느낌을 가지게 하는 영상처리와 컴

퓨터가 무언가를 인식하고 결정하게 하는 영상처리의 차

이 보다, 이를 실현하기 위한 카메라의 역할과 구성은 훨

씬 큰 차이를 가지고 있다.

일반 카메라는 사람의 시각적 특성을 고려한 Auto

White Balance와 같은 광원 보정이나 Gamma 및 Knee

와 같은 휘도 보정과 색보정과 같은 일반 카메라에 필수

적인 기능과, 화면 밝기를 일정하게 하기 위해 Gain 및

Shutter등을 통한 노출 보정과 밝은 부분의 정보를 얻

기 위한 Wide Dynamic Range와 같은 역광보정 기능,

어두운 곳을 더 잘 보기 위한 저조도 강화 등의 보조 기

능과 같이, Sensor 및 렌즈의 제약을 극복하여 인간의

시각적 특성에 맞추기 위한 다양하고 오랜 연구와 성과

가 ISP(Image Signal Processor)라는 신호처리 부품과

Micom을 이용한 알고리즘에 반영되어 있다.

머신비전 카메라는 인간의 시각으로 판단하는 것이 아

니라 컴퓨터에게 제공하여 처리 및 가공을 통해 자동 판

단하게 하는 것으로 있는 그대로를 전달하는 기본 속성을

구현하기 위해, 카메라의 내부구성이 더 단순하지만, “속

도”나 “감도” 및 머신(장비나 설비)이나 컴퓨터와 연계하

는 기능을 필요로 한다.

그래서 요즘은 컬러(Color)를 기본으로 하는 일반 카메

라와 달리 머신비전 카메라는 여전히 흑백이 주류를 이루

고 있으며, 많은 정보를 담기 위한 Dynamic Range 성

능보다는 구별하기 위한 Contrast 강화 및 Gamma 1

(Linear) 을 주로 채택한다.

▶ ▶ ▶ 황 준 현


2. 트리거(Trigger) 및 전자셔터

우리가 원하는 순간에 사진을 찍을 수 있는 휴대폰처럼

머신비전 카메라는 원하는 순간에 사진을 찍을 수 있는

외부 동기인 트리거를 전기적으로 구현하여 사람의 손보

다는 훨씬 더 정밀하게 고속으로 촬영하여 아주 빠른 속

도로 움직이는 물체도 잡아 낼 수 있는 기능을 가진다. 외

부의 모터 엔코더나 주변 IO와 연계하여 특정 순간을 포

착하는 이러한 트리거 기능은 머신비전 카메라의 필수 기

능이라 할 수 있다.

이와 같이 트리거가 들어오는 순간부터 노광을 시작하

여 원하는 시간(Shutter Time) 또는 외부 트리거 펄스의

Active 구간(Pulse Width)동안 노광을 하여 영상을 획

득한다. 노광시간을 결정하는 인자는 전자 셔터의 시간

(Shutter Time)이라 할 수 있는데, 머신 비전 카메라의

경우 대개 1/10,000 ~ 1/100,000 sec 또는 그 이상의

성능을 구현한다.

1) 글로벌 셔터 ( Global Shutter )

가장 일반적인 전자 셔터로 이동 중인 물체를 순간 정

지시킨 듯한 영상을 얻을 수 있는 기능이다. 거의 모든 머

신비전 영역에서 반드시 필요한 기능으로, 센서(Sensor)

인 촬상 소자는 크게 CCD 및 CMOS 두 종류가 있는데,

예전에는 CCD만 구현하는 기능으로, CCD가 CMOS를

제치고 머신비전 영역에 주로 사용하게 된 주요 원인이

되었다.

이 후에 CMOS는 쉬운 제조공정을 무기로 끊임없는 연

구개발을 통해 5T(Transistor가 5개) 구조에서 이를 구

현하여, 최근에는 오히려 CMOS가 고속성을 강점으로 하

여 CCD를 제치고 머신비전 영역에서 더 많이 사용되는

실정이다.

2) Rolling Shutter

4T 이하의 CMOS Sensor에서 볼 수 있는 기능으로 물

체의 이동 상태가 Data를 읽어내는 순간에도 반영된다.

주로 일반 카메라에서 사용되는 소자로서 머신비전 영역

에서는 고정된 대상물의 검사에만 사용 가능하지만 상대

적으로 감도가 좋은 편이다.

3. 택타임(Tack Time)과 고속 프레임

장비나 설비에서 가장 중요한 경쟁력은 바로 처리속도

이다. 흔히 “택타임”이라는 이 수치는 부품 1개당 전체

처리시간을 말하는 것으로 이것이 작을수록 단위시간 당

더 많은 수량의 품목을 검사 또는 생산할 수 있어, 공간

제약성이 심한 머신비전 분야에서 제일 중요한 “성능지표”

이다.

쉽게 예측할 수 있듯이 2배 빠른 택타임을 가지는 장비

는 2배의 생산력으로 공간 비용을 고려하면 2배 이상의

값어치를 해 내는데, 다른 여러 수단을 통해 이러한 택타

임을 줄일 수 있지만, 카메라가 영상 1장을 읽어내는데

걸리는 시간의 역수인 초당 프레임(Frame)수가 그 한계

치를 결정한다.

그래서 예전부터 머신비전 카메라는 일반 카메라보다

2배 이상의 프레임수를 구현하였다. 재미난 사실은, 초기

머신비전 카메라가 일반 카메라에 사용되는 센서를 그대

로 사용하면서도, 센서로 부터 데이터를 읽어내는 구동회

로(Timming Generator)를 별도로 설계하여 읽어 내는

속도를 2배 이상으로 구현했는데 이는 센서 제조업체가

보증하지 않는 사용 조건이었다. 최근에는 일반 카메라의

2배 정도가 아니라 거의 100배에 가까운 고속성을 구현

해 낸다.

4. 고해상도 및 탭 구조

일반 카메라 중에서 80만 화소의 CCTV와 같은 비교적

저해상도나 TV의 2Mega 급과 같은 중해상도, 그리고 비

교적 최근 휴대폰에 사용되는 10Mega급의 고해상도로

나눌 수 있지만, 머신비전용 카메라는 오래전부터 일반

카메라와 대비하여 고해상도를 추구해 왔다.

5Mega급 정도를 중해상도라 할 수 있고, 세로 x 가

로가 5K x 5K의 25Mega 급의 고해상도에서 최근에는

<그림 1> 회전 물체의 글로벌 셔터(좌)와 Rolling Shutter(우)

전자공학회지 2016. 11 _ 909


49

100Mega급 가까이 출시되고 있다.

일반 카메라에 비해 머신비전 카메라는 이러한 고해상

도에도 불구하고 고속성을 유지하여 25Mega급에서도

60프레임 가까운 성능을 가지므로 한 화소 당 시간은 일

반 카메라와 비교가 불가능할 정도로 고속이다. 이러한

고속의 구현이 가능한 이유는 멀티 탭(Tap) 구조 때문인

데, 센서로부터 한 순간에 하나의 데이터만 읽어 내는 것

이 아니라 2개를 동시에 읽어 내면 2탭 구조로, 16개 이

상을 읽어 내는 멀티 탭 센서도 있다.

대체적으로 1.3Mega 이하의 저해상도에서 5Mega 이

상의 중, 고 해상도로 시장이 옮겨가고 있다.

다음은 4개의 출구(X,Y,Z,W)에서 동시에 데이터를 읽

어 내는 4탭 구조의 센서이다.

5. 인터페이스에 따른 분류

머신비전 카메라의 궁극적인 목표는 영상처리를 위해

데이터를 컴퓨터로 전달하는 것인데, 앞서 살펴본 고속

및 고해상도로 인하여 오래전부터 다양한 고성능의 인터

페이스를 가지고 있다

1) 아날로그 ( Analog )

일반적인 CCTV 카메라와 같은 방식으로 영상신호

0.7V 및 동기신호 0.3V로 전체 1V의 아날로그 신호로

전송하는 방식으로 아직도 상당히 많이 사용되고 있는 방

식이다. 작은 크기와 전송 비용의 경제성이 뛰어나지만

외부 노이즈의 영향이 영상에 그대로 나타나고 컴퓨터에

프레임그래버(Framen Grabber)를 필요로 하는 단점이

있지만, 저 해상도에 여러 대의 카메라를 사용해야 하는

경우에는 여전히 가장 적합하고 경제적인 방식이다.

아날로그 카메라가 노이즈를 많이 발생시키는 게 아니

라 주변 노이즈에 대한 내성이 약한 편이고, 사실 장비를

잘 만들 경우 문제가 되지 않는다. 케이블 및 전송에 의해

화면에 표시했을 때 윤곽이 약해져 보이는데 안정적인 영

상처리를 위해 Low Pass Filtering을 하는 것을 생각하

면 뚜렷해 보이는 디지털 방식이 꼭 좋은 면만 있다고 생

각되지는 않는다.

2) 디지털 카메라

아날로그 신호가 아닌 디지털 신호로 전송하는 방식으

로 노이즈에 강한 특성이 있지만 가격이 비싸지는 단점이

있다.

가) CL (Camera Link) 방식

아주 예전에는 병렬방식의 EIA-644(LVDS 방식) 제

품이 있었지만 거의 단종 되고, 현재는 시리얼 (Serial)

방식의 CL이 있다. 350mV 정도의 LVDS(Low Voltage

Differential Signal)신호 규격으로 북미 캐나다 소재의

기업인 DALSA와 같은 여러 기업 주도로 설립된 규정으

로, 아날로그 신호의 단점을 극복하고자 다수의 카메라

및 프레임그래버 회사가 이를 지원하여 산업계의 디지털

표준으로 튼튼히 자리를 잡았다. 2개의 커낵터를 사용하

여 6GHz 정도의 속도로 고속과 저노이즈 및 신뢰성을 중

시하는 장비에 아주 널리 사용되고 있으며, 디지털 방식

이지만 컴퓨터에 프레임그래버를 필요로 한다.

나) IEEE1394 (Firewire)

경우에 따라 별도의 프레임그래버를 사용하지 않아도

되는 첫 제품으로 한 때는 시장의 큰 주류였으나, 애플 등

의 로열티 문제로 인텔 ChipSet 및 Windows의 기본 지

원 모드에서 빠지면서 부터인가 세력이 약해졌다. 신뢰

성 및 실시간성을 무기로 a 규격은 400Mbps, b 규격은

800Mbps까지 지원하여 초기에는 고성능으로 급속히 시

장을 넓혀 갔지만, 이후 Windows 지원 문제와 카메라의

급격한 고속 및 고해상도를 제대로 따라가지 못한 면이

있다.<그림 2> 4탭 구조의 센서

▶ ▶ ▶ 황 준 현


다) USB

IEEE1394와 같은 디지털 방식으로, 사실 IEEE1394대

비 단점이 많은 편이지만 프레임그래버를 필요로 없다는

낮은 가격의 장점과 Windows의 지원으로 비 산업계 만

큼은 아니지만 시장을 넓혀 왔다. 하지만 5M 미만의 적

은 전송거리와 낮은 내 노이즈성으로 움직임이 있는 장비

에서는 사용이 제한적이였지만, 480Mbps의 USB2.0에

서 최근에는 5Gbps의 USB3.0과 10Gbps의 USB3.1의

현저히 낮은 가격과 및 속도를 강점으로 산업용 시장에도

지속적인 제품을 출시하고 있다. 거리와 내 노이즈의 단

점으로 기동성 장비에는 제약이 있지만 안정적 환경의 장

비에서는 선호될 것으로 보인다.

라) GigE (GigaBit Ethernet)

1Gbps의 고속 성능도 장점이지만, 1V 신호의 강한 내

노이즈성과 낮은 케이블 가격 및 100Meter 장거리 전송

능력으로 인해, 높은 가격의 프레임그래버를 사용하지 않

고자 하는 산업용 시장에서 GigVision 및 GeniCam등의

소프트웨어 프로토콜과 함께 사실상의 표준으로 자리 잡

았다. 특히 아직 간헐적인 링크 끊김의 이슈가 남아 있지

만 저화소의 아날로그 카메라를 급속히 대체하고 있다.

GigE 카메라는 마이크로프로세스를 활용한 일반

Gigabit Ethernet 통신과는 다르게 FPGA 기반으로 실

시간성을 구현하고 GeniCam등의 통신 규약을 준수하면

서 유효 영상데이터 800Mbps이상의 고성능을 구현한다.

속도와 안정성 및 여러 대의 카메라를 지원하기 위해

내장 GigE Port가 아닌 별도의 카드를 사용하기도 하고,

전원과 함께 전송하는 PoE (Power of Ethernet)을 사용

하기 하지만, 앞서 말한 링크 끊김이나 전송 프레임 손실

을 줄이거나 없애기 위한 컴퓨터와 네트워크 카드의 선정

및 소프트웨어 안정성이 매우 중요하다.

마) CoaXpress

1개의 커낵터로 커낵터를 2개 가진 CL과 비슷한 속도

이지만, 작은 커넥터 사이즈로 확장이 용이하고 (4개 사

용시 24GHbps) 낮은 케이블 비용으로 일본을 중심으로

표준화를 추진하고 있지만 아직 카메라나 지원하는 업체

가 많지는 않은 편이다.

이밖에도 라인카메라에 사용되는 DALSA사의 HSLink

같은 방식등도 있지만 폭넓은 표준으로 자리 잡지는 못한

실정이다.

6. 처리 기능에 따른 분류

가) 일반 카메라

앞서 소개한 인터페이스 방식의 카메라 대부분이 영상

을 생성하여 이를 컴퓨터에 전달하기만 하고, 영상처리는

컴퓨터에서 이루어지는 방식의 카메라이다.

나) 스마트(Smart) 카메라

내부에 처리기능을 내장한 카메라로 임베디드 및 DSP

기반과 Windows 및 Linux가 내장되는 사실상 PC급으

로 나눌 수 있다.

전자는 낮은 가격과 작은 사이즈를 장점으로 하지만 범

용성이 낮아 바코드 인식 같은 특수 목적으로 주로 사용

되고, 후자는 고가이거나 부피가 크지만 프로그램이 편하

고 범용성이 뛰어나다.

스마트 카메라는 렌즈나 조명을 일체화 하기도 하고

Cognex나 Matrox Imaging 등은 자사의 프로그래밍 패

키지를 내장하기도 하는데, 사실 이 제품은 가격이 높은

편이지만 종래의 비전 수요자가 문제 발생 시 어느 부분

이 잘못 되었는지? 누구를 불러야 하는지? 에 대한 고민

을 들어주고 공급자도 하나의 제품을 고가에 판매할 수

있는 장점을 가지고 있어, 세계 시장에서는 일반 카메라

를 다 합친 것과 비슷한 규모를 가지고 있지만 한 장비에

여러 대의 카메라를 사용하거나 고속, 고해상도의 디스플

레이 및 반도체 중심의 국내 시장에는 높은 대당 가격으

로 시장이 다소 제한적인 면이 있다.

다) 비전 (Vision) 센서

일반 카메라와 스마트 카메라를 절충한 형태로 범용적

영상처리 보다는 카메라 내부의 FPGA 로직을 활용해 간

단하거나 특정한 영상처리를 실시간으로 수행하는 특정

영상 처리 내장형 카메라라 할 수 있다. 시장 규모는 그다

전자공학회지 2016. 11 _ 911


51

지 크지 않지만 작은 크기와 실시간 처리 성능을 무기로

다양한 응용처에 적용되고 있다.

7. 센서 종류에 따른 분류

센서에는 CCD와 CMOS가 있는데, 모두 빛을 전기로

바꾸는 광전변환 소자로 기본 셀은 Photo Diode로 동일

하다.

가) CCD 센서

앞서 언급했듯이 글로벌 셔터와 고감도 및 저노이즈

를 무기로 오랜 동안 머신비전 카메라용 센서의 주류를

이루어 왔다. CCD는 광전 변환으로 발생된 전하를 이동

(Move)시키는 구조로 제조공정은 복잡하고 어렵지만 효

율이 좋은 편이다. 화질에 가장 큰 영향을 미치는 요소가

센서의 감도인데 CCD의 고감도 특성으로 인해 화질이 낮

은 CMOS에 대비해 고가의 고급 기종에 사용되었다.

또한 출력 구조가 단일 구조라 고정된 패턴 노이즈가

적지만, 이동 중에 발생하는 과 포화된 빛의 끌림 자국인

스미어(Smear) 현상으로 전구나 밝은 금속을 보는 교통

용 카메라에는 적합하지 않다.

전하를 이동시키는 기본구조로 이동 중에 손실이 발생

하기 쉬워 속도의 제약이 있어 최근 머신비전 카메라에서

주류 자리를 잃어 가고 있다.

나) CMOS 센서

실상은 CMOS 센서가 먼저 발명 되었지만 노이즈가 심

해 오랫동안 CCD에 주류의 자리를 빼앗겼다.

CMOS 센서는 광전 변환된 전하를 읽어내는(Read)하

는 구조로 마치 메모리를 읽어 내는 것과 같아 고속 구현

이 용이하다.

제조공정도 메모리와 유사하게 쉽고 저렴하여 활발한

연구가 가능해져 비교적 최근에 글로벌 셔터를 구현했고,

다양한 기술의 발달로 노이즈를 줄이면서 고속을 무기로

시장의 주류로 부상했다.

한때 CCD 제조사로 유명한 일본의 소니(SONY)사는

저급한 화질의 CMOS는 만들지 않고 CCD에만 전념하겠

다고 했었으나 몇 년 전부터 오히려 CMOS에 주력하면서

이제는 더 이상 CCD는 개발하지 않고 점차 단종 시키려

하고 있는 실정이다. 소니사는 이전의 CMOSIS사 등이

선점하고 있던 머신비전 분야의 센서 시장에서, 작은 화

소 크기에 비하여 높은 감도와 렌즈 선정의 유리함을 장

점으로 추격 중이다.

이 밖에도 한 줄을 고속으로 읽어 내는 라인(Line)카메

라와 2차원의 영역을 읽어 내는 Area 카메라도 있지만,

라인 카메라는 특수한 영역에만 제한적으로 시용되어 자

세한 언급과 비교는 생략하지만, 일반적인 예측과 달리 2

차원의 Area 카메라보다 1차원의 라인카메라가 훨씬 더

고가이며 고감도 및 고속성능을 자랑한다.

참고문헌

[1] CIS(CMOS Image Sensor) 설계, 김동수(연세대), 2007년,

한양대학교 반도체 설계 교육 지역센터

[2] CCD카메라와 영상처리회로설계, 박선호, 2002년,

국제테크노정보연구소<그림 4> CMOS의 구조

<그림 3> 전하의 이동(MOVE)

▶ ▶ ▶ 황 준 현


[3] 머신비전응용, 변종은 외, 2001년, 넥스트아이/삼성전자

[4] Digital Image Processing, Rafael C. Gonzalez, Prentice Hall

황 준 현

•1991년 2월 서울대학원 제어계측 공학과 석사

•1989년 2월 서울대학교 제어계측 공학과 학사

•2009년 9월~현재 (주)크래비스 대표이사/연구소장

•2000년 6월~2009년 9월 (주)크래비스 연구소장

•1991년 1월~2000년 6월 (주)삼성테크윈 개발 과장

•1985년~1989년 제어계측공학 학사에서 전기전자 학부

전공

•1989년~1991년 의공학교실에서 의료용 영상처리 전공

•1991년~1993년 삼성테크윈에서 머신비전시스템 개발 및

적용

•1993년~2000년 삼성테크윈에서 디지털 CCTV 카메라

상품화 개발

•2000년~2009년 (주)크래비스에서 영상기기 및

머신비전카메라 개발

•2009년~현재 (주)크래비스에서 산업용 특수카메라 및

비전시스템 개발

<관심분야>

카메라, 머신비전, 딥러닝, 산업용 제어

전자공학회지 2016. 11 _ 913

논문지 논문목차

전자공학회 논문지 제 53권 11호 발행

The InsTITuTe of elecTronIcs and

InformaTIon engIneers

53

통신 분야

[통신]•MultiCarrierGenerationModule을이용한10GbE광전송시스템설계

김형환, 강은균

•홀로그래픽데이터저장장치를위한저밀도ON픽셀2차원4-레벨4/6균형변조부호

박근환, 이재진

•위성통신에서에러복구방법과TCPHybla를결합한HybridTCPPEP기법

이승용, 김종무, 오지훈, 김재현

반도체 분야

[반도체 재료 및 부품]•LNA설계를통한FinFET의RC기생압축모델정확도검증

정승익, 김소영

[SoC 설계]•IoTNetwork에서위치인식을위한가중치방식의최대우도방법을이용한하드웨어위치인식엔진개발연구

김동순, 박현문, 황태호, 원광호

•움직임벡터에의한관심영역기반의HEVC고속부호화유닛결정방법

황인서, 선우 명 훈

•저전력휴대용디스플레이를위한패널일체형광센서시스템

우두형

•다중피연산자십진CSA와개선된십진CLA를이용한부분곱누산기설계

이 양, 박태신, 김강희, 최상방

[RF 집적회로기술]•심장박동측정레이더를위한24GHzI/QLO발생기

양희성, 이옥구, 남일구


논문지논문목차

54

신호처리 분야

[영상 신호처리]•적외선영상선명도개선을위한ADRC기반초고해상도기법및가시광영상과의융합기법

김용준, 송병철

[음향 및 신호처리]•스펙트럼성형기법을이용한멀티미디어콘텐츠의명료도향상

지유나, 박영철, 황영수

•추적개시확률산출을통한적응빔형성성능분석

하창읍, 김영신, 이상혁

시스템 및 제어 분야

[제어계측]•핀포토다이오드를이용한보급형라돈검출기의구현

윤성하, 김재학, 김규식

[회로 및 시스템]•FET문턱전압특징을이용한전원입력단용단일전원이상전원검출회로

원주호, 고형호

[의용전자 및 생체공학]•EIS기반전압신호분석을통한당뇨병진단가능성평가

배장한, 김수찬, 카니티카 케오칸네트, 전민호, 김재욱

[정보 및 제어 심포지엄 우수논문]•외란관측기설계를위한Q필터시정수영향분석:외바퀴로봇의균형제어응용

이상덕, 정 슬

[국방정보 및 제어]•무기체계오류검증을위한실시간시스템병렬시험기법

김동준

•사격통제장치시스템시험의신뢰성향상을위한생산시험장비에관한연구

최경진

전자공학회지 2016. 11 _ 915

논문지논문목차

55

산업전자 분야

[신호처리 및 시스템]•세라믹발열체기반비저장식순간전기온수기개발및검증

안성수, 김우현

[통신 및 초고주파]•HopperlenstypeWDM설계및제작연구

김경복

[컴퓨터 응용]•혼합정수선형계획법을이용한수송계획모델설계

박용국, 이민구, 정경권, 원영진


T h e I n s T I T u T e o f e l e c T r o n I c s a n d I n f o r m a T I o n e n g I n e e r s

서 평

제 목 : AI가 인간 대신에 일하고, IoT가 4차산업혁명을 이끈다 - 인공지능 & IoT 비즈니스

저 자 : 일본 빅데이터

펴낸곳 : 日経BP社출판일 : 2016년 7월 15일

크기, 페이지 수 : 28cm, 130p.

서평 작성자 : 이원규, 해동일본정보기술센터 총괄처장

56

사람의 업무의 약 반 정도를 인공지능으로 대체된다.

이러한 충격적인 내용의 논문을, 영국의 옥스포드대학 마이클 오스본 교수가

발표한 것은 2013년의 일이었다. 당시에는 먼 미래의 예측으로 받아들인 사람

이 많았을 것이지만, 최근에는 현실감이 더해가고 있다.

2016년 3월, 미 구글사가 개발한 바둑 AI「Alpha GO」가 세계 정상급의 기사

이세돌 9단에게 4승 1패로 완승했다. AI가 프로기사를 이기는 것은 10년 후가

될 것이라고 보았지만, Alpha GO는 인간의 3,000만개의 수를 배우고, AI끼리

의 대전을 거듭하여 급속하게 실력을 연마하여 왔다는 것이다.

종래, AI는 구글 등 빅데이터가 모여지는 네트워크기업에서 활용이 추진되어

왔다. 그러나 작년부터 그 이외의 기업에서도 연구, 투자의욕이 높아지고 있다.

AI자신의 진화와 더불어, 여러 가지 기기에 센서가 장착되어 인터넷에 연결되는

IoT (Internet of Things)가 보급. 제조업, 인프라산업 등에서도 빅데이터가 모

여지기 쉬워지고, AI가 힘을 발휘할 길이 보이기 시작했다.

도요타자동차는 2016년 1월, 미 실리콘밸리에 AI연구소를 설립. 5년간 10억

달러의 예산을 확보하고 있다. 글로벌기업에서는 AI와 IoT연구에 1,000억엔 규

모를 투자하는 것이 당연하게 여겨지게 되었다. 디지털기술로, 업계의 경쟁환경

이 격변한다고 보고 있기 때문이다.

자동차업계의「자율주행」, 제조업에서는「인더스트리 4.0」과「Industrial

Internet」구상, 유통업에서의「Omni Channel」, 금융업에서의 「FinTech」등. 어

떠한 업계에도 이러한「Digital Transformation」이 일어나고 있고, AI와 IoT를

무기로 한 이업종과 네트워크 기업이 새로운 경쟁상대로 부상하고 있다.

본서는 이러한 변혁의 지금을 알기 쉽게 전달하고자 하는 것이 목적이다. 2

장에서는 주목 키워드를, 각 업계의 전문가가 구체적인 사례도 포함하여 해설한

다. 3장에서는 AI, 4장에서는 IoT의 Case Study와 전문가의 컬럼으로 구성한

다. 일하는 방법, 비즈니스 모델이 급변하는 세상 속에서 살아 남기 위한 비즈니

스 Person, 기업이 되기 위해서 어떻게 하면 좋을 것인지. 5장에서는 이노베이

션 연구의 대가, 간사이대학원의 다마다 교수가 파괴적인 이노베이션을 일으키

는 노하우를 해설한다.

서 평

전자공학회지 2016. 11 _ 917


정 보 교 차 로

국•내외에서 개최되는 각종 학술대회/전시회를 소개합니다.게재를 희망하시는 분은 간략한 학술대회 정보를 이메일로 보내주시면 게재하겠습니다.연락처: [email protected]

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일 자 학술대회명 개최장소 홈페이지/연락처

12. 01.-12. 04. 2016 Seventh International Conference on Intelligent Control and Information Processing (ICICIP) Angkor, Cambodia auto.hust.edu.cn/icicip2016

12. 01.-12. 03. 2016 2nd International Conference on Open Source Software Computing (OSSCOM)

Lebanese Univers i ty, Cent ra l Administration Building, Mathaf, Beirut, Lebanon

osscom2016.osscom.org/

12. 01.-12. 03. 2016 National Conference on Electrical, Electronics and Biomedical Engineering (ELECO)

BAOB-Campus o f (Un ion o f Academic Chambers of Bursa), Bursa, Turkey

www.eleco.org.tr/

12. 03.-12. 04. 2016 11th International Conference on Industrial and Information Systems (ICIIS)

Department of Electronics and Commun ica t i on Eng inee r i ng , Roorkee, India

www.iciis2016.org

12. 03.-12. 05. 2016 International Conference of Optics & Photonics Taiwan (OPTIC)

National Taiwan Univeristy of Science and Technology, Taipei, Taiwan www.tl.ntu.edu.tw/2016/optic2016/

12. 03.-12. 07. 2016 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Hilton San Francisco Union Square, San Francisco, CA, USA www.ieee-iedm.org

12. 04.-12. 08. 2016 IEEE Globecom Workshops (GC Wkshps) Washington Hilton, Washington, DC, USA globecom2016.ieee-globecom.org

12. 04.-12. 09. GLOBECOM 2016 - 2016 IEEE Global Communications Conference

Washington Hilton Hotel, Washington DC, USA www.ieee-globecom.org

12. 04.-12. 08. 2016 17th World Renewable Energy Congress (WREC) Crown Plaza Hotel, Bahrain www.WREC2016-Bahrain.com

12. 05.-12. 08. 2016 IEEE 2nd Annual Southern Power Electronics Conference (SPEC)

The University of Auckland, Auckland, New Zealand www.ieee-spec.org

12. 05.-12. 06. 2016 19th International Multi-Topic Conference (INMIC) Air University, Islamabad, Pakistan portals.au.edu.pk/inmic

12. 05.-12. 08. 2016 IEEE International Conference on Big Data (Big Data) Hyatt Regency Bethesda, Bethesda, MD, USA cci.drexel.edu/bigdata/bigdata2016

12. 05.-12. 09. 2016 IEEE MTT-S International Microwave and RF Conference (IMaRC) Hotel Pullman, New Delhi, India imarc-ieee.org

12. 05.-12. 07. 2016 IEEE International Conference on Industrial Engineering and Engineering Management (IEEM)

Bali Nusa Dua Convention Centre, Bali, Indonesia www.ieem.org

12. 05.-12. 07. 2016 11th International Conference for Internet Technology and Secured Transactions (ICITST)

Catalonia Barcelona Plaza Hotel, Barcelona, Spain www.icitst.org

12. 05.-12. 09. 2016 Asia-Pacific Microwave Conference (APMC) Hotel Pullman, New Delhi, India www.apmc2016.org

12. 05.-12. 07. 2016 IEEE EMBS Conference on Biomedical Engineering and Sciences (IECBES) TBD, Malaysia http://www.iecbes.org/

12. 06.-12. 09. 2016 IEEE Symposium Series on Computational Intelligence (SSCI) Royal Olympic Hotel, Athens, Greece ssci2016.cs.surrey.ac.uk/

12. 06.-12. 07. 2016 Future Technologies Conference (FTC) Hyatt Fisherman's Whar f, San Francisco, CA, USA saiconference.com/FTC2016

12. 07.-12. 08. 2016 TRON Symposium (TRONSHOW) Tokyo Midtown, Tokyo, Japan www.tronshow.org/index-e.html

〉〉2016년 12월

정 보 교 차 로

국•내외에서개최되는각종학술대회/전시회를소개합니다.게재를희망하시는분은간략한학술대회정보를이메일로보내주시면게재하겠습니다.연락처:[email protected]



12. 07.-12. 09. 2016 IEEE Global Conference on Signal and Information Processing (GlobalSIP)

Crystal Gateway Marriott Hotel, Arlington, VA, USA http://www.ieeeglobalsip.org/

12. 08.-12. 09. 2016 Fifth International Conference on Eco-friendly Computing and Communication Systems (ICECCS)

Maulana Azad National Institute of Technology, Bhopal, India iceccs.in/

12. 09.-12. 10. 2016 IEEE 4th International Conference on MOOCs, Innovation and Technology in Education (MITE)

Thiagarajar College Of Engineering, Madurai, India mite2016.com

12. 11.-12. 14. 2016 IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS) Grimaldi Forum, Monte Carlo, Monaco [email protected]

12. 12.-12. 14. 2016 World Congress on Sustainable Technologies (WCST) Heathrow Windsor Marriott Hotel, London, United Kingdom www.wcst.org/

12. 12.-12. 14. 2016 World Congress on Industrial Control Systems Security (WCICSS)

Heathrow Windsor Marriott Hotel, London, United Kingdom wcicss.org/

12. 12.-12. 15. 2016 IEEE International Conference on Data Mining (ICDM) World Trade Center Barcelona, Barcelona, Spain icdm2016.eurecat.org/

12. 12.-12. 13. 2016 International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM) KFC Hall, Tokyo, Japan www.semiconportal.com/issm/

12. 12.-12. 14. 2016 International Symposium on Integrated Circuits (ISIC) Singapore http://www.isic-ieee.org/

12. 12.-12. 15. 2016 IEEE International Conference on Cloud Computing Technology and Science (CloudCom) Alvisse Parc Hotel, Luxembourg 2016.cloudcom.org

12. 12.-12. 14. 2016 IEEE 3rd World Forum on Internet of Things (WF-IoT) Hyatt Reston, VA, USA www.ieee-wf-iot.org

12. 12.-12. 16. 2016 IEEE Micro- and Nanoengineering in Medicine Conference (MNMC) Hilton Waikoloa Village, HI, USA http://mnm.embs.org/2016/

12. 12.-12. 16. 2016 IEEE 55th Conference on Decision and Control (CDC) TBD, CA, USA cdc2016.ieeecss.org/

12. 13.-12. 15. 2016 IEEE/SICE International Symposium on System Integration (SII)

Sapporo Convention Center, Sapporo, Japan http://www.si-sice.org/SII2016

12. 13.-12. 16. 2016 IEEE 22nd International Conference on Parallel and Distributed Systems (ICPADS) Wuhan Hetian Hotel, WUHAN, China grid.hust.edu.cn/icpads2016/

12. 13.-12. 16. 2016 Asia-Pacific Signal and Information Processing Association Annual Summit and Conference (APSIPA)

Ramada Plaza Hotel, Jeju, Korea (South) www.apsipa2016.org/main.do

12. 14.-12. 16. 2016 IEEE Electrical Design of Advanced Packaging and Systems (EDAPS) HI, USA http://edaps2016.org/

12. 14.-12. 17. 2016 IEEE International Conference on Power Electronics, Drives and Energy Systems (PEDES)

Mar Baselios College of Engineering, Trivandrum, India www.pedes2016.org

12. 14.-12. 17. 2016 2nd International Conference on Contemporary Computing and Informatics (IC3I) Amity University, Greater Noida, India ic3i.org/2015/index.html

12. 14.-12. 16. 2016 International Conference on Electrical Power and Energy Systems (ICEPES)

Maulana Azad National Institute Of Technology, Bhopal, India www.icepes-manit.org/

12. 15.-12. 17. 2016 International Conference on Open Source Systems & Technologies (ICOSST)

Al-Khawarizmi Institute of Computer Science (KICS), Lahore, Pakistan icosst.kics.edu.pk

12. 15.-12. 17. 2016 International Symposium on Antennas and Propagation (APSYM)

Seminar Complex, CUSAT, Cochin, India apsym.cusat.ac.in

12. 15.-12. 17. 2016 International Computer Symposium (ICS) National Chung Cheng University, Chiayi, Taiwan http://ics2016.cs.ccu.edu.tw

12. 15.-12. 17. 2016 Sixth International Symposium on Embedded Computing and System Design (ISED)

Indian Institute of Technology, Patna, Patna, India ised2016.org/

12. 15.-12. 17. 2016 IEEE International Conference on Computational Intelligence and Computing Research (ICCIC)

Agni College of Technology, Chennai, India itfrindia.org/2016ICCIC/

12. 15.-12. 18. 2016 IEEE International Conference on Bioinformatics and Biomedicine (BIBM) Kylin Villa, Shenzhen, China cci.drexel.edu/ieeebibm/bibm2016

12. 16.-12. 18. 2016 17th International Conference on Parallel and Distributed Computing, Applications and Technologies (PDCAT) Zijin Yuan, Guangzhou, China sist.sysu.edu.cn/pdcat2016/

12. 16.-12. 17. 2016 International Conference on Engineering and Technology (ICET)

karpagam college of Engineering, India www.oicget.com

12. 16.-12. 17. 2016 International Conference on Control, Instrumentation, Communication and Computational Technologies (ICCICCT)

A/C Auditorium, Kanyakumari District, India www.niueie.com/iccicct2016

전자공학회지 2016. 11 _ 91959


12. 16.-12. 18. 2016 IEEE Annual India Conference (INDICON) J N Tata Auditorium, Bangalore, India www.indicon2016.in

12. 16.-12. 17. 2016 International Conference on Design and Manufacturing (IConDM)

Indian Inst i tute of Information Technology, Chennai, India www.iiitdm.ac.in/icondm16/callforpapers

12. 17.-12. 18. 2016 International Conference on Medical Engineering, Health Informatics and Technology (MediTec)

United International University, Dhaka, Bangladesh meditec.uiu.ac.bd/

12. 18.-12. 20. 2016 15th IEEE International Conference On Machine Learning And Applications (ICMLA) Los Ageles, CA, USA www.icmla-conference.org/icmla16/

12. 18.-12. 20. 2016 International Conference on Robotics and Automation for Humanitarian Applications (RAHA)

Amrita School of Engineering, Kollam, India raha2016.org/

12. 18.- 12. 20. 2016 7th International Conference on Sciences of Electronics, Technologies of Information and Telecommunications (SETIT) Hotel in Hammamet, Tunisia www.setit.rnu.tn/

12. 18.-12. 20. 2016 19th International Conference on Computer and Information Technology (ICCIT)

North South University, Dhaka, Bangladesh iccit.org.bd/2016

12. 19.-12. 20. 2016 International Conference on Robotics:Current Trends and Future Challenges (RCTFC)

SASTRA Un ive rs i t y Campus , Thanjavur, India www.sastra.edu/rctfc2016

12. 19.-12. 22. 2016 IEEE 23rd International Conference on High Performance Computing (HiPC)

Hyderabad International Convention Center, Hyderabad, India www.hipc.org

12. 19.-12. 21. 2016 19th National Power Systems Conference (NPSC) IIT Bhubaneswar, Bhubaneswar, India www.iitbbs.ac.in/conference/npsc201

12. 19.-12. 21. 2016 Conference on Computing, Analytics and Security Trends (CAST) College of Engineering, Pune, India cast2016.coep.org.in/

12. 19.-12. 21. 2016 International Conference on Frontiers of Information Technology (FIT) Serena Hotel, Islamabad, Pakistan www.fit.edu.pk

12. 20.-12. 21. 2016 11th International Conference on Computer Engineering & Systems (ICCES) Ain Shams Univeristy, Cairo, Egypt www.icces.org.eg

12. 20.-12. 22. 2016 9th International Conference on Electrical and Computer Engineering (ICECE)

Depar tment of E lectr ical and Electronic Engineering, Dhaka, Bangladesh

www.buet.ac.bd/eee/icece

12. 21.-12. 23. 2016 IEEE Region 10 Humanitarian Technology Conference (R10-HTC)

Dayalbagh Educational Institute, Agra, India www.ieeehtc2016.com

12. 21.-12. 22. 2016 IEEE Bombay Section Symposium (IBSS) Vidya Pratishthan's College of Engineering, India ibss2016.ieeebombay.org/

12. 22.-12. 24. 2016 Fourth International Conference on Parallel, Distributed and Grid Computing (PDGC)

Jaypee University of Information Technology, Solan, India www.juit.ac.in/pdgc-2016/

12. 22.-12. 24. 2016 International Conference on Information Technology (ICIT) International Institute of Information Technology, Bhubaneswar, India www.oits-icit.org/, icit.github.io/

12. 22.-12. 24.2016 International Conference on Global Trends in Signal Processing, Information Computing and Communication (ICGTSPICC)

SSBT's College of Engineering & Technology, Jalgoan, India icspicc.sscoetjalgaon.ac.in

12. 23.-12. 25. 2016 International Conference on Recent Advances and Innovations in Engineering (ICRAIE)

Poornima College of Engineering, JAIPUR, India www.icraie.poornima.org

12. 23.-12. 25. 2016 8th International Conference on Computational Intelligence and Communication Networks (CICN)

MIR Labs Chapter, Jabalpur, Dehradun, India cicn.in

12. 26.-12. 28. 2016 International Conference on Signal Processing and Communication (ICSC)

Jaypee Institute of Information Technology, Noida, India www.jiit.ac.in/jiit/icsc/

12. 27.-12. 29. 2016 Eighteenth International Middle East Power Systems Conference (MEPCON) Al-Masah Hotel, Cairo, Egypt www.mepcon.org

12. 28.-12. 29. 2016 12th International Computer Engineering Conference (ICENCO)

Four Seasons Hotel First Residence Giza, Egypt ICENCO.eng.cu.edu.eg

〉〉2017년 1월

01. 04.-01. 08. 2017 9th International Conference on Communication Systems and Networks (COMSNETS)

Chancery Pavilion Hotel, Bangalore (Bengaluru), India www.comsnets.org

01. 05.-01. 07. 2017 International Conference on Quality, Productivity Reliability, Optimization and Modelling (ICQPROM)

Manav Rachna In te r na t i ona l University, Faridabad, India www.icqprom2017.org

01.05.-01. 06. 2017 11th International Conference on Intelligent Systems and Control (ISCO)

Karpagam College of Engineering, Coimbatore, India www.kceisco.com



01. 05.-01. 07. 2017 IEEE 7th International Advance Computing Conference VNR VJIET, Hyderabad, India iacc2017.com

01. 08.-01. 11. 2017 14th IEEE Annual Consumer Communications & Networking Conference (CCNC) Flamingo Las Vegas, NV, USA ccnc2017.ieee-ccnc.org

01. 09.-01. 11. 2017 IEEE 7th Annual Computing and Communication Workshop and Conference (CCWC)

Hotel Stratosphere, Las Vegas, NV, USA ieee-ccwc.org

01. 10.-01. 14. 2017 14th International Bhurban Conference on Applied Sciences and Technology (IBCAST)

National Centre for Physics Quaid-i-Azam University, Islamabad, Pakistan www.ibcast.org.pk

01. 10.-01. 11. 2017 International Conference on Computer, Communication and Signal Processing (ICCCSP)

Sri Sivasubramaniya Nadar College of Engineering, Chennai, India icccsp.com

01. 12.-01. 13. 2017 7th International Conference on Cloud Computing, Data Science & Engineering- Confluence (Confluence)

Department of Computer Science & Engineering, Noida, India www.amity.edu/aset/confluence2017

01. 15.-01. 18. 2017 IEEE Radio and Wireless Symposium (RWS) Hyatt Regency Phoenix Downtown, Phoenix, AZ, USA www.radiowirelessweek.org

01. 16.-01. 18. 2017 International Conference on Communication, Control, Computing and Electronics Engineering (ICCCCEE) Karary University, Omdurman Sudan iccccee17.iccneee15.org

01. 16.-01. 19. 2017 22nd Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC) Makuhari Messe, Chiba, Japan www.aspdac.com

01. 18.-01. 20. 2017 Third Asian Conference on Defence Technology (ACDT) TBD, Phuket, Thailand www.acdt2017.com

01. 22.-01. 26. 2017 IEEE 30th International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS)

Rio Las Vegas Hotel and Casino, Las Vegas, NV, USA www.mems2017.org

01. 23.-01. 26. 2017 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS) Rosen Plaza Hotel, Orlando, FL, USA www.RAMS.org

01. 26.-01. 29. 2017 International Conference on Computing, Networking and Communications (ICNC)

Santa Clara Marriott, Santa Clara, CA, USA www.conf-icnc.org/2017

01. 27.-01. 28. 2017 International Conference on Nascent Technologies in Engineering (ICNTE) Fr. CRIT, Vashi, Navi Mumbai, India www.fcrit.ac.in/icnte2017

01. 28.-02. 03. 2017 IEEE IAS Electrical Safety Workshop (ESW) Peppermill Resort Spa Casino, Reno, NV, USA www.ewh.ieee.org/cmte/ias-esw

〉〉2017년 2월

02. 02.-02. 03. 2017 4th International Conference on Signal Processing and Integrated Networks (SPIN)

Dept. of ECE, ASET, Amity University, India amity.edu/spin2017/index.html

02. 03.-02. 04. 2017 International Conference on Innovations in Electrical, Electronics, Instrumentation and Media Technology (ICEEIMT)

Karunya University, Karunya Nagar, Coimbatore, India www.karunya.edu/ece/icieeimt17

02. 03.-02. 05. 2017 International Conference on Emerging Trends & Innovation in ICT (ICEI)

Pune I ns t i t u t e o f Compu te r Technology, Pune, India www.icei.in

02. 04.-02. 08. 2017 IEEE International Symposium on High Performance Computer Architecture (HPCA) Hilton, Austin, TX, USA http://www.hpcaconf.org/

02. 05.-02. 09. 2017 IEEE International Solid- State Circuits Conference - (ISSCC) San Francisco Marriott, CA, USA www.isscc.org

02. 10.-02. 11. 2017 3rd International Conference on Computational Intelligence & Communication Technology (CICT)

ABES Engg College, Ghaziabad, India www.cict.abes.ac.in

02. 11.-02. 17. 2017 Information Theory and Applications Workshop (ITA) Catamaran Resort, San Diego, CA, USA http://ita.ucsd.edu/

02. 15.-02. 18. 2017 IEEE EMBS International Conference on Biomedical & Health Informatics (BHI) Double Tree Hotel, Orlando, FL, USA bhi.embs.org/2017/

02. 16.-02. 18.2017 7th International Conference on Information Systems and Economic Intelligence / IEEE International Technology Management Conference (SIIE/ITMC)

TBD, Marrakech, Morocco www.ciems.ma/siie2017

02. 16.-02. 18. 2017 International Conference on Algorithms, Methodology, Models and Applications in Emerging Technologies (ICAMMAET)

Bharath Institute of Higher Education and Research, CHENNAI, India [email protected]

02. 16.-02. 18. 2017 International Conference on Electrical, Computer and Communication Engineering (ECCE)

Best Western Plus Heritage, Cox's Bazar, Bangladesh www.cuet.ac.bd/ecce/

02. 19.-02. 22. 2017 19th Internat ional Conference on Advanced Communication Technology (ICACT)

Pheonix Park Hotel, PyeongChang, Korea (South) WWW.ICACT.ORG

전자공학회지 2016. 11 _ 92161


02. 20.-02. 23. 2017 IEEE 8th Latin American Symposium on Circuits & Systems (LASCAS) TBD, Bariloche, Argentina www.ieee-lascas.org

02. 20.-02. 22. 2017 Seminar on Detection Systems Architectures and Technologies (DAT)

Cercle National de l’Armée CNA (Hotel), Algeria

www.seminaires-dat.dz/contenu_Eng/Accueil.php

02. 21.-02. 23. 2017 International Conference on Informatics, Health & Technology (ICIHT)

King Saud bin Abdulaziz University for Health Sciences ,Riyadh, Saudi Arabia

iciht.org/

02. 22.-02. 24. 2017 International Conference on Electronics, Communications and Computers (CONIELECOMP)

Universidad de las Américas Puebla, Cholula, Mexico ict.udlap.mx/conielecomp/2017/

02. 22.-02. 24. 2017 Second International Conference on Electrical, Computer and Communication Technologies (ICECCT)

SVS Col lege of Engineer ing, Coimbatore, India www.icecct.com

02. 23.-02. 24. 2017 IEEE Power and Energy Conference at Illinois (PECI) I Hotel and Conference Center, Champaign, IL, USA peci.ece.illinois.edu/

02. 23.-02. 24. 2017 National Conference on Parallel Computing Technologies (PARCOMPTECH)

National Institute of Advanced Studies (NIAS), Bangalore, India parcomptech.garudaindia.in/2017

02. 23.-02. 24. 2017 2nd International Conference on Computing and Communications Technologies (ICCCT)

SRI SAI RAM ENGINEERING COLLEGE, Chennai, India www.sairam.edu.in/iccct17

02. 24.-02. 25. 2017 4th International Conference on Electronics and Communication Systems (ICECS)

Karpagam College of Engineering, Coimbatore, India www.icecs.in

02. 24.-02. 26. 2017 International Conference on Data Management, Analytics and Innovation (ICDMAI) Zeal Education Society, Pune, India www.icdmai.com

02. 27.-03. 04. 2017 22nd International Scientific-Professional Conference on Information Technology (IT) Hotel Zabljak, Zabljak, Montenegro www.it.ac.me/eng/index.php

02. 28.-03. 02. 2017 IEEE Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM)

Toyama International Conference Center, Toyama, Japan http://ewh.ieee.org/conf/edtm/2017

〉〉2017년 3월

03. 01.-03. 03. 2017 4th International Conference on Computing for Sustainable Global Development (INDIACom)

Bharat i Vidyapeeth’s Inst i tu te of Computer Applications and Management (BVICAM), New Delhi, India

bvicam.ac.in/indiacom/

03. 01.-03. 04. 2017 3rd URSI Regional Conference on Radio Science (URSI-RCRS)

Fortune Select Grand Ridge Hotel, TIRUPATI, India ursircrs2017.narl.gov.in

03. 02.-03. 04. 2017 Twenty-third National Conference on Communications (NCC)

Center for Industrial Consultancy & Sponsored Research, Chennai, India ncc2017.org/

03. 02.-03. 04. 2017 International Conference on Electrical Engineering (ICEE) University of Eng. & Tech. Lahore, Pakistan

www.uet.edu.pk/faculties/facultiesinfo/ee/icee2017/index.html

03. 03.-03. 04. 2017 Conference on Emerging Devices and Smart Systems (ICEDSS)

M A H E N D R A E N G I N E E R I N G COLLEGE, India www.mahendra.info/icedss2017

03. 04.-03. 11. 2017 IEEE Aerospace Conference Yellowstone Conference Center, MT, USA www.aeroconf.org

03. 05.-03. 09. ICASSP 2017 - 2017 IEEE International Conference on Acoustics, Speech and Signal Processing (ICASSP)

Hilton New Orleans Riverside, New Orleans, LA, USA http://www.ieee-icassp2017.org/

03. 06.-03. 09. 2017 IEEE International Symposium on Dynamic Spectrum Access Networks (DySPAN)

Hyatt Regency Baltimore Inner Harbor, Baltimore, MD, USA www.ieee-dyspan.org/2017

03. 06.-03. 09. 2017 SICE International Symposium on Control Systems (SICE ISCS) Okayama University, Okayama, Japan [email protected]

03. 09.-03. 11. 2017 4th International Conference on Power, Control & Embedded Systems (ICPCES)

Department of Electrical Engineering, Allahabad, India [email protected]

03. 10.-03. 11. 2017 International Conference on Inventive Communication and Computational Technologies (ICICCT)

Ranganathan Engineering College, India icct2017.com/index.html

03. 11.-03. 11. 2017 IEEE Integrated STEM Education Conference (ISEC) Princeton University, Princeton, NJ, USA ewh.ieee.org/conf/stem/index.html

03. 13.-03. 17. 2017 IEEE International Conference on Pervasive Computing and Communications (PerCom)

Sheraton Kona Resort & Spa at Keauhou Bay, Kailua-Kona, HI, USA www.percom.org

03. 13.-03. 17. 2017 IEEE International Conference on Software Testing, Verification and Validation (ICST)

Waseda-university Nishiwaseda campus, Tokyo, Japan aster.or.jp/conference/icst2017



03. 13.-03. 15. 2017 18th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)

Santa Clara Convention Center, 5001 Great America Pkwy, CA, USA www.ISQED.org

03. 16.-03. 18. 2017 International Conference on Medical and Biological Engineering (CMBEBIH)

International Burch University, Sarajevo, Bosnia and Herzegovina www.cmbebih.com

03. 16.-03. 18. 2017 International Conference on Power and Embedded Drive Control (ICPEDC)

Sri Sivasubramaniya Nadar College of Engineering, ]Chennai, India icpedc2017.org/

03. 16.-03. 18. 2017 Four th In te rna t iona l Conference on S igna l Processing,Communication and Networking (ICSCN) Anna University, Chennai, India www.icscn.org

03. 17.-03. 18. 2017 4th International Conference on Innovations in Information, Embedded and Communication Systems

karpagam college of Engineering, Coimbatore, India http://iciiecs.in

03. 18.-03. 22. 2017 IEEE Virtual Reality (VR) Manhattan Beach Marriott, CA, USA ieeevr.org

03. 19.-03. 24. 2017 11th European Conference on Antennas and Propagation (EUCAP) Palais des Congrès, Paris, France www.eucap2017.org

03. 19.-03.22. 2017 IEEE Wireless Communications and Networking Conference (WCNC)

HYATT REGENCY SAN FRANCISCO, CA, USA http://wcnc2017.ieee-wcnc.org/

03. 19.-03.22. 2017 IEEE World Engineering Education Conference (EDUNINE) TBD, Santos, Brazil www.edunine.eu/

03. 22.-03.24. 2017 International Conference on Wireless Communications, Signal Processing and Networking (WiSPNET)

Sri Sivasubramaniya Nadar College of Engineering, Chennai, India www.wispnet2017.org

03. 22.-03.23. 2017 International Conference on Computation of Power, Energy Information and Commuincation (ICCPEIC)

Adhiparasakthi Engineering College, India iccpeic.weebly.com

03. 22.-03.25. 2017 IEEE International Conference on Industrial Technology (ICIT) Hilton Toronto, ON, Canada http://www.icit2017.org

03. 22.-03.24. 2017 51st Annual Conference on Information Sciences and Systems (CISS)

The Johns Hopkins University, MD, USA ciss.jhu.edu

03. 23.-03.25. 2017 IEEE International Conference on Intelligent Techniques in Control, Optimization and Signal Processing (INCOS)

Kalasalingam University, Srivilliputhur, India drdevaraj.in/incos17

03. 24.-03.31. 2017 IEEE Winter Conference on Applications of Computer Vision (WACV)

Hyatt Vineyard Creek Hotel, Santa Rosa, CA, USA [email protected]

03. 26.-03.30. 2017 International Applied Computational Electromagnetics Society Symposium - Italy (ACES)

Grand Hotel Mediterraneo, Firenze, Italy www.aces-society.org

03. 26.-03.30. 2017 IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC)

Tampa Convention Center, Tampa, FL, USA www.apec-conf.org

03. 30.-04.02. SoutheastCon 2017 Embassy Suites Charlotte, NC, USA sites.ieee.org/southeastcon2017

03. 31.-04.02. 2017 IEEE Region 5 Meeting Denver Marriott Tech Center, Denver, CO, USA [email protected]

〉〉2017년 4월

04. 02.-04. 07. 2017 12th IEEE International Conference on Automatic Face & Gesture Recognition (FG 2017)

DoubleTree by Hilton Washington DC, Arlington, VA, USA fg2017.org

04. 02.-04. 06. 2017 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Hyatt Regency Monterey, CA, USA www.irps.org

04. 04.-04. 06. 2017 7th International Conference on Modeling, Simulation, and Applied Optimization (ICMSAO)

American University of Sharjah, United Arab Emirates www.aus.edu/icmsao2017

04. 04.-04. 06. 2017 8th International Conference on Information and Communication Systems (ICICS)

Jordan University of Science and Technology, Irbid, Jordan www.icics.info/icics2017/

04. 05.-04. 07. 2017 IEEE International Conference on Technological Innovations in Communication, Control and Automation (TICCA)

EASWARI ENGINEERING COLLEGE, CHENNAI, India eie.srmeaswari.ac.in/ticca/

04. 05.-04. 07. 2017 International Conference on Innovations in Electrical Engineering and Computational Technologies (ICIEECT)

Pro f . Sa l imuzzaman S idd iqu i Auditorium, Karachi, Pakistan indus.edu.pk/icieect2017/

04. 05.-04. 07. 2017 IEEE International Conference on Software Architecture Workshops (ICSAW)

L i n d h o l m e n S c i e n c e P a r k , Gothenburg, Sweden www.icsa2017.org/

04. 06.-04. 08. 2017 International Conference on Communication and Signal Processing (ICCSP)

Digital Library Conference Hall. Chennai, India www.iccsp-apec.com/

04. 06.-04. 08. 2017 International Conference on Telecommunication, Power Analysis and Computing Techniques (ICTPACT)

Bharath Institute of Higher Education and Research. CHENNAI, India [email protected]

전자공학회지 2016. 11 _ 92363


04. 06.-04. 07. 2017 International Conference on Innovations in Electronics, Signal Processing and Communication (IESC)

National Institute of Technology Meghalaya, Shillong, India iescnitm.org

04. 07.-04. 08. 2017 2nd International Conference on Communication Systems, Computing and IT Applications (CSCITA)

Hotel Kohinoor Continental, Mumbai, India http://www.cscita.sfitengg.org/index.html

04. 07.-04. 08. 2017 26th Wireless and Optical Communication Conference (WOCC)

NJIT Campus Center, Newark, NJ, USA www.wocc.org

04. 07.-04. 08. 2017 IEEE Technological Innovations in ICT for Agriculture and Rural Development (TIAR)

EASWARI ENGINEERING COLLEGE, CHENNAI, India www.ieeetiar.com/

04. 07.-04. 09. 2017 IEEE Region 2 Student Activities Conference (SAC) Rowan University, Glassboro, NJ, USA [email protected]

04. 08.-04. 09. 2017 2nd International Conference for Convergence in Technology (I2CT)

Courtyard by marriot Pune City Centre, India www.i2ct.in

04. 09.-04. 12. 2017 IEEE 35th VLSI Test Symposium (VTS) Caesars Palace, Las Vegas, NV, USA www.tttc-vts.org

04. 10.-04. 17. 2017 IEEE Power & Energy Society Innovative Smart Grid Technologies Conference (ISGT) Washington DC Hilton, DC, USA [email protected]

04. 16.-04. 19. 2017 Seventh International Conference on Information Science and Technology (ICIST) Da Nang, Vietnam conference.cs.cityu.edu.hk/icist/

04. 17.-04. 19. 2017 Intelligent Systems and Computer Vision (ISCV) TBD, Fez, Morocco www.fsdmfes.ac.ma/ISCV2017/

04. 17.-04. 21. 2017 IEEE International Conference on Energy Internet (ICEI) TBD, Beijing, China www.energyinter.net.추

04. 18.-04. 20. 2017 Integrated Communications, Navigation and Surveillance Conference (ICNS)

Westin Washington Dulles, Herndon, VA, USA www.i-cns.org

04. 18.-04. 21. 2017 IEEE 14th International Symposium on Biomedical Imaging (ISBI 2017)

Melbourne Convention and Exhibition Center, Melbourne, Australia biomedicalimaging.org/2017

04. 18.-04. 21. 2017 IEEE Pacific Visualization Symposium (PacificVis) Hoam Faculty House, Seoul, Korea (South) www.pvis.org/

04. 19.-04. 22. 2017 IEEE 33rd International Conference on Data Engineering (ICDE)

Hilton San Diego - Mission Bay, San Diego, CA, USA icde2017.sdsc.edu

04. 19.-04. 21. 2017 International Conference on Communication Technologies (ComTech) ComTech-2017, Rawalpindi, Pakistan icct2017.mcs.edu.pk/

04. 19.-04. 20. 2017 International Conference on Wireless Technologies, Embedded and Intelligent Systems (WITS)

National School of Applied Sciences of Fez, Morocco www.wits2017.science-conferences.net/

04. 19.-04. 22. 2017 International Conference on Electronics Packaging (ICEP) Takinoyu Hotel, Yamagata, Japan www.jiep.or.jp/icep/

04. 19.-04. 21. 2017 5th International Istanbul Smart Grid and Cities Congress and Fair (ICSG)

Istanbul Congress Center, Istanbul, Turkey www.icsgistanbul.com/en/

04. 20.-04. 22. 2017 International conference of Electronics, Communication and Aerospace Technology (ICECA)

R V S Te c h n i c a l C a m p u s , COIMBATORE, India icoeca.com/index.html

04. 21.-04. 22. 2017 Innovations in Power and Advanced Computing Technologies (i-PACT)

Vellore Institute of Technology University, Vellore, India www.ipact2017.com

04. 23.-04. 26. 2017 IEEE Rural Electric Power Conference (REPC) Hyatt Regency Columbus, OH, USA www.ieeerepc.org

04. 24.-04. 28. 2017 IEEE International Magnetics Conference (INTERMAG) Convention Centre Dublin, Ireland http://intermag2017.com/

04. 24.-04. 27. 2017 Annual IEEE International Systems Conference (SysCon) Marr io t t Chateau Champla in , Montreal, QC, Canada [email protected]

04. 24.-04. 26. 2017 Eighteenth International Vacuum Electronics Conference (IVEC)

99 City Road Conference Centre, London, United Kingdom www.ivec2017.org

04. 24.-04. 27. 2017 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Application (VLSI-TSA) Ambassador Hotel Hsinchu,Taiwan expo.itri.org.tw/2017vlsitsa

04. 24.-04. 28. 2017 25th Optical Fiber Sensors Conference (OFS) Maison Glad Hotel, Jeju-Do, Korea (South) www.ofs-25.org

04. 24.-04. 27. 2017 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Application (VLSI-TSA) Ambassador Hotel Hsinchu, Taiwan expo.itri.org.tw/2017vlsitsa

04. 25.-04. 28. 2017 IEEE Global Engineering Education Conference (EDUCON) Hotel Titania, Athens, Greece educon-conference.org/



04. 25.-04. 26. 2017 IEEE International Symposium on Technologies for Homeland Security (HST) Westin Hotel, Waltham, MA, USA www.ieee-hst.org

04. 26.-04. 28. 2017 IEEE European Symposium on Security and Privacy (EuroS&P) UPMC Campus Jussieu, Paris, France www.ieee-security.org/TC/EuroSP2017/

04. 26.-04. 28. 2017 12th International Conference on Live Maintenance (ICOLIM)

Palais des congrès de Strasbourg, STRASBOURG, France www.icolim2017.org

04. 26.-04. 28. 2017 5th International Symposium on Digital Forensic and Security (ISDFS)

Petru Maior University of Tirgu Mures, Tirgu Mures, Romania isdfs2017.upm.ro/

04. 30.-05. 03. 2017 IEEE 30th Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE) Caesars Windsor, ON, Canada www.ccece2017.ieee.ca

04. 30.-05. 03. 2017 IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC) Hotel Van Zandt, Austin, TX, USA www.ieee-cicc.org

전자공학회지 2016. 11 _ 925


특별회원사 및 후원사 명단

회원명 대표자 주소 전화 홈페이지

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AP 위성통신㈜ 류장수 서울시 금천구 가산디지털2로 98 2동 9층 02-2026-7700 http://apsi.co.kr

FCI 한상우 경기도 성남시 분당구 판교로 255번길 35(삼평동) 실리콘파크 B동 7층 031-782-3700 http://www.fci.co.kr

I&C테크놀로지 박창일 경기도 성남시 분당구 판교로 255번길 24 아이앤씨빌딩 031-696-3300 http://www.inctech.co.kr

KT 황창규 경기도 성남시 분당구 정자동 206 031-727-0114 http://www.kt.co.kr

LDT 정재천 충남 천안시 서북구 한들1로 126-33 WE빌딩 041-520-7300 http://www.ldt.co.kr

LG전자 구본준 서울시 영등포구 여의도동 30 02-3777-1114 http://www.lge.co.kr

LIG 넥스원 이효구 서울시 서초구 강남대로 369(서초동, 나라빌딩) 1644-2005 http://www.lignex1.com

RadioPulse 권태휘 경기도 성남시 분당구 대왕판교로 660 유스페이스1A 1106호(삼평동) 070-7113-0975 http://www.radiopulse.co.kr

SK Telecom 장동현 서울특별시 중구 을지로65(을지로2가) SK T-타워 02-2121-2114 http://www.sktelecom.com

SK 하이닉스 박성욱 경기도 이천시 부발읍 아미리 산 136-1 031-630-4114 http://www.skhynix.com

국제종합측기 박재욱 서울특별시 강남구 강남대로 354 (역삼동 831, 혜천빌딩 10F, 12F) 02-553-0901 http://www.msinter.co.kr

나노종합기술원 이재영 대전광역시 유성구 대학로 291 (구성동, 한국과학기술원) 042-366-1500 http://www.nnfc.re.kr

네이버(주) 김상헌 경기도 성남시 분당구 불정로 6 (정자동 그린팩토리) 031-784-2560 http://www.nhncorp.com

넥서스칩스 Douglas M. Lee 서울시 강남구 역삼동 725-57 02-6959-7161 http://www.nexuschips.com

넥스트칩 김경수 경기도 성남시 분당구 판교로 323 벤처포럼빌딩 02-3460-4700 http://www.nextchip.com

(주)넥스파시스템 이상준 서울특별시 성동구 자동차시장1길 18 02-2243-4011 http://www.nexpa.co.kr

누리미디어 최순일 서울시 영등포구 선유로 63, 4층(문래동 6가) 02-710-5300 http://www.nurimedia.co.kr

다우인큐브 이예구 경기도 용인시 수지구 디지털벨리로 81 (죽전동 디지털스퀘어 2층) 070-8707-2500 http://www.daouincube.com

대구테크노파크 송인섭 대구시 달서구 대천동 891-5 053-602-1803 http://www.mtcc.or.kr

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대덕전자 김영재 경기도 시흥시 소망공원로 335 (정왕동) 031-599-8800 http://www.daeduck.com

대성전기 이철우 경기도 안산시 단원구 산단로 31 (원시동, 8-27블럭) 031-494-1141 http://www.dsec.co.kr

(재)대전테크노파크 권선택 대전시 유성구 테크노9로 35 대전테크노파크 042-930-2880 http://www.daejeontp.or.kr

(주)더즈텍 김태진 경기도 안양시 동안구 학의로 292 금강펜테리움IT타워 A동 1061호 031-450-6300 http://www.doestek.co.kr

덴소풍성전자 김경섭 경남 창원시 성산구 외동 853-11 055-600-9227 http://www.dnpe.co.kr

동부하이텍 최창식 경기도 부천시 원미구 수도로 90 032-680-4700 http://www.dongbuhitek.co.kr

동아일렉콤 손성호 경기도 용인시 처인구 양지면 남곡로 16 031-330-5500 http://www.dongahelecomm.co.kr

동운아나텍 김동철 서울시 서초구 서초동 1467-80 아리랑타워 9층 02-3465-8765 http://www.dwanatech.com

㈜디엠티 김홍주 대전광역시 유성구 테크노11로 41-2 042-930-3700 http://www.dmtpcb.co.kr

라온텍 김보은 경기도 성남시 분당구 황새울로360번길 42, 18층 (서현동 AK플라자) 031-786-4600 http://www.raon-tech.com

라이트웍스㈜ 서인식 서울 강남구 테헤란로88길 14, 4층 (신도리코빌딩) 031-702-6171 http://www.lightworks.co.kr/

만도 성일모 경기도 성남시 분당구 판교로 255번길 21 02-6244-2114 http://www.mando.com

문화방송 안광한 서울시 마포구 성암로 267 02-789-0011 http://www.imbc.com

삼성전자 권오현 서울시 서초구 서초2동 1320-10 삼성전자빌딩 1588-3366 http://samsungelectronics.com/kr

삼화콘덴서 황호진 경기도 용인시 처인구 남사면 경기동로 227 (남사면 북리 124) 031-332-6441 http://www.samwha.co.kr

㈜서연전자 조명수 경기도 안산시 단원구 신원로424 031-493-3000 http://www.dae-dong.biz

세미솔루션 이정원 경기도 용인시 기흥구 영덕동 1029 흥덕U타워 지식산업센터 20층 2005호 031-627-5300 http://www.semisolution.com

세원텔레텍 김철동 경기도 안양시 만안구 전파로44번길 53 031-422-0031 http://www.sewon-teletech.co.kr

(주)스카이크로스코리아 조영민 경기 수원시 영통구 영통동 980-3 디지털엠파이어빌딩 C동 801호 031-267-1662 http://www.skycross.co.kr

(주)시솔 이우규 서울시 강서구 공항대로 61길 29 서울신기술센터 A동 202호 02-508-5656 http://www.sisoul.co.kr


회원명 대표자 주 소 전 화 홈페이지 회원명 대표자 주 소 전 화 홈페이지

실리콘마이터스 허 염 경기도 성남시 분당구 대왕판교로 660 유스페이스-1 A동 8층 1670-7665 http://www.siliconmitus.com

실리콘웍스 한대근 대전시 유성구 탑립동 707 042-712-7700 http://www.siliconworks.co.kr

(주)쏠리드 정준, 이승희 경기도 성남시 분당구 판교역로 220 쏠리드스페이스 031-627-6000 http://www.st.co.kr

㈜씨자인 김정표 경기 성남시 분당구 구미동 185-4 보명프라자 070-4353-5852 http://www.cesign.co.kr

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아이닉스 황정현 수원시 영동구 덕영대로 1556번길 16, C동 1004호 (영통동, 디지털엠파이어) 031-204-7333 http://www.eyenix.com

아이디어㈜ 황진벽 서울 마포구 연남동 487-366번지 대원빌딩 5층 02-334-3309 http://www.eyedea.co.kr

(주)아이에이 김동진 서울 송파구 송파대로 22길 5-23 (문정동) 02-3015-1300 http://www.ia-inc.kr

안리쓰코퍼레이션(주) 토루와키나가 경기도 성남시 분당구 삼평동 681번지 H스퀘어 N동 5층 502호 031-696-7750 http://www.anritsu.com

(주)알파스캔 디스플레이 류영렬 서울특별시 강서구 허준로 217 가양테크노타운 202호 http://www.alphascan.co.kr

에디텍 정영교 경기도 성남시 분당구 삼평동 621번지 판교이노벨리 B동 1003호 031-8018-8778 http://www.aditec.co.kr

에스넷시스템㈜ 박효대 서울특별시 강남구 선릉로 514 (삼성동) 성원빌딩 10층 02-3469-2994 http://www.snetsystems.co.kr

에스엘 이충곤 경북 경산시 진량읍 신상리 1208-6 053-856-8511 http://www.slworld.com

에이치앤티테크 강임성 대전광역시 유성구 용산동 042-933-7228 http://www.hnt-tech.co.kr

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㈜오픈링크시스템 성재용 광주광역시 서구 치평로 112 정연하이빌 402호 070-5025-0689 http://openlink.kr

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유라코퍼레이션 엄병윤 경기도 성남시 분당구 삼평동 686-1 070-7878-1000 http://www.yuracorp.co.kr

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㈜자람테크놀로지 백준현 경기도 성남시 분당구 야탑동 345-1 파인벤처빌딩 2층 031-779-6700,6701 http://www.zaram.com/

전자부품연구원 박청원 경기도 성남시 분당구 새나리로 25 (야탑동) 031-789-7000 http://www.keti.re.kr

주식회사 제이엔티이엔지 최승훈 경기도 성남시 중원구 사기막골로 148, 701호(상대원동, 중앙이노테크) 031-723-0855 http://www.jandt.co.kr

(주)제퍼로직 정종척 서울 강남구 역삼1동 679-5 아주빌딩 1801호 070-7010-7790 http://www.zephylogic.com

(주)지에스인스트루먼트 고재목 인천시 남구 길파로71번길 70 (주안동) 032-870-5641 http://www.gsinstrument.com

지엠테스트 고상현 충남 천안시 서북구 직산읍 군서1길 19(군서리 134) 041-410-2600 http://www.gmtest.com

충북테크노파크 남창현 충북 청주시 청원구 오창읍 연구단지로 40 043-270-2000 http://www.cbtp.or.kr

케이던스 코리아(유) 제임스 해댓 경기도 성남시 분당구 판교로 344 엠텍IT타워 9층(main office)/2층 031-728-3114 http://www.cadence.com

(주)코아리버 배종홍 서울시 송파구 가락본동 78번지 IT벤처타워 서관 11층 02-2142-3400 http://www.coreriver.com

콘티넨탈 오토모티브 시스템 선우 현 경기도 성남시 분당구 판교역로 220 솔리드스페이스빌딩 031-697-3800 http://www.conti-automotive.co.kr

클레어픽셀㈜ 정헌준 경기도 성남시 분당구 판교로 242 판교디지털센터 A동 301호 031-8060-1440 http://www.clairpixel.com

키움인베스트먼트㈜ 박상조 서울특별시 영등포구 여의나루로4길 18 키움파이낸스스퀘어빌딩 16층 02-3430-4800 http://www.kiwoominvest.com/

텔레칩스 이장규 서울특별시 송파구 올림픽로35다길 42 (신천동, 루터빌딩 19층~23층) 02-3443-6792 http://www.telechips.com

(주)티에이치엔 채 석 대구시 달서구 갈산동 973-3 053-583-3001 http://www.th-net.co.kr

티엘아이 김달수 경기도 성남시 중원구 양현로 405번길 12 티엘아이 빌딩 031-784-6800 http://www.tli.co.kr

파워큐브세미㈜ 강태영 경기도 부천시 오정구 석천로397(부천테크노파크쌍용3차) 103동 901호 032-624-3700 http://www.powercubesemi.com/

페어차일드코리아반도체 김귀남 경기도 부천시 원미구 도당동 82-3 032-671-3842 http://www.fairchildsemi.com

㈜하이브론 이홍섭 인천광역시 부평구 청천동 안남로402번길 25 3층 070-4369-3973 http://www.hivron.com/

한국멘토그래픽스(유) 양영인 경기도 성남시 분당구 판교역로 192번길 12 (삼평동) 판교 미래에셋센터 7층 031-8061-0790 http://www.mentorkr.com

한국애질런트테크놀로지스 김승렬 서울 강남구 역삼로 542, 신사SNG빌딩2층 080-004-5090 http://www.agilent.co.kr

한국인터넷진흥원 백기승 서울시 송파구 중대로 135 (가락동) IT벤처타워 02-405-5118 http://www.kisa.or.kr

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전자공학회지 2016. 11 _ 92767

한국전기연구원 박경엽 경상남도 창원시 성산구 불모산로10번길 12 (성주동) 055-280-1114 http://www.keri.re.kr

한국전자통신연구원 이상훈 대전광역시 유성구 가정로 218 042-860-6114 http://www.etri.re.kr

한국정보통신기술협회 임차식 경기도 성남시 분당구 분당로 47 031-724-0114 http://www.tta.or.kr

한라비스테온공조 박용환 대전시 대덕구 신일동 1689-1 042-930-6114 http://www.hvccglobal.com

한백전자 진수춘 대전광역시 유성구 대학로 76번안길 35 042-610-1114 http://www.hanback.co.kr

한화탈레스 장시권 서울시 중구 청계천로 86 (장교동) 한화비딩 (19,20층) 02-729-3030 http://www.hanwhathales.com

㈜핸즈온테크놀러지 강현웅 서울특별시 강서구 양천로 583, 에이동 1901-1902호 (염창동, 우림블루나인) 02-2608-2633 http://www.ezlab.com

현대로템 김승탁 경기도 의왕시 철도박물관로 37 031-596-9114 http://www.hyundai-rotem.co.kr

현대모비스 정명철 서울시 강남구 역삼1동 679-4 서울인터내셔널타워 02-2018-5114 http://www.mobis.co.kr

현대엠엔소프트 차인규 서울시 용산구 원효로74 현대차사옥 9층 1577-4767 http://www.hyundai-mnsoft.com

현대오트론 김재범 경기도 성남시 분당구 판교로 344 엠텍 IT 타워 031-627-0990 http://www.hyundai-autron.com

현대자동차그룹 양웅철 경기도 화성시 장덕동 772-1 02-3464-1114 http://www.hyundai-motor.com

현대케피코 박정국 경기도 군포시 고산로 102 031-450-9015 http://www.hyundai-kefico.com

휴먼칩스 손민희 서울시 송파구 가락본동 10 신도빌딩 070-8671-4700 http://www.humanchips.co.kr

휴인스 송태훈 경기도 성남시 분당구 대왕판교로 670 비-605 031-719-8200 http://www.huins.com

히로세 코리아㈜ 이상엽 경기 시흥시 정왕동 희망공원로 250 031-496-7000 http://www.hirose.co.kr

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가톨릭대중앙도서관 경기부천시원미구역곡2동산43-1 032-340-3607

가톨릭상지대학도서관 경북안동시율세동393 032-340-3607 http://www.csangji.ac.kr/~library/

강릉대도서관 강원강릉시지변동산1 http://211.114.218.253/

강원관광대도서관 강원태백시황지동439 033-552-9005 http://www.kt.ac.kr

강원대도서관 강원춘천시효자2동192-1 033-250-9000 http://library.kangwon.ac.kr

경동대도서관 강원고성군토성면봉포리산91-1 033-639-0371 http://www.kyungdong.ac.kr

경주대도서관 경북경주시효현동산42-1 054-770-5051 http://www.kyongju.ac.kr

건국대도서관 서울성동구모진동93-1 02-450-3852 http://www.konkuk.ac.kr

건양대중앙도서관 충남논산시내동산30 041-730-5154 http://lib.konyang.ac.kr

경기대중앙도서관 경기수원시팔달구이의동산94-6 031-240-7135 http://203.249.26.247/

경기공업대도서관 경기시흥시정왕동시화공단3가102 031-496-4571 http://210.181.136.6/

경남대중앙도서관 경남마산시월영동449 055-249-2906 http://library.kyungnam.ac.kr

경도대도서관 경북예천군예천읍청복리947-1 054-650-0143 http://libweb.kyongdo.ac.kr

경북대도서관 대구북구산격동1370 053-955-500 1 http://kudos.knu.ac.kr

경북대전자공학과 대구북구산격동1370 053-950-5506 http://palgong.knu.ac.kr

경운대벽강중앙도서관 경북구미시산동면인덕리55 054-479-1083 http://www.kyungwoon.ac.kr

경일대도서관 경북경산군하양읍부호리33 053-950-7790 http://cham.kyungil.ac.kr

경산대도서관 경북경산시점촌동산75 http://library.ksucc.ac.kr

경상대도서관 경남진주시가좌동900 055-751-5098 http://library.gsnu.ac.kr

경성대도서관 부산남구대연동110-1 051-620-4394 http://kulis1.kyungsung.ac.kr

경희대학교 중앙도서관 경기용인시기흥구서천동1번지 031-201-3219 http://library.khu.ac.kr

고려대과학도서관 서울성북구안암동5가1번지 02-920-1709 http://kulib.korea.ac.kr

고려대서창캠퍼스도서관 충남연기군조치원읍서창동208 http://kuslib.korea.ac.kr

고속도로정보통신공단 경기용인기흥읍공세리260-1 031-280-4230

공군사관학교도서관 충북청원군남일면쌍수리사서함335-1 043-229-6085 http://www.afa.ac.kr

공군전투발전단무기체계실 충남논산군두마면부남리사서함501-317호 041-506-5260, 5281

공주대도서관 충남공주시신관동182 041-850-8691 http://knulib.kongju.ac.kr

광명하안도서관 경기광명시하안2동683 031-680-6376 http://www.kmlib.or.kr

광운대도서관 서울노원구월계동447-1 02-918-1021~2 http://kupis.kwangwoon.ac.kr

국민대성곡도서관 서울성북구정릉동861-1 02-910-4200 http://kmulmf.kookmin.ac.kr

김포대학도서관 경기김포시월곶면포내리산14-1 031-999-4126 http://lbr.kimpo.ac.kr

국방대학교도서관 서울은평구수색동205 02-300-2415

국방제9125부대 서울중앙우체국사서함932호

국방품질관리연구소정보관리실 서울청량리우체국사서함 276호 http://dqaa.go.kr

국방과학연구소서울자료실 서울송파구송파우체국사서함132호 02-3400-2541 http://www.add.re.kr

방위사업청 서울용산구용산2가동7번지 02-2079-5213

극동대학교도서관 충북음성군감곡면왕장리산5-14 043-879-3568 http://lib.kdu.ac.kr

금강대학교도서관 충남논산시 상월면 대명리 14-9 041-731-3322 http://lib.ggu.ac.kr

LG정밀(주)제2공장자료실 경기오산시가수동379 031-772-1171(318) http://www.lginnotek.com

LG정보통신(주)자료실 경북구미시공단동299 054-460-5311 http://www.lge.co.kr

금오공대도서관 경북구미시신평동188-1 054-461-0131~4 http://ran.kumoh.ac.kr

남서울대도서관 충남천안시성환읍매주리21 041-580-2076 http://ness.nsu.ac.kr

단국대도서관 경기도용인시수지구죽전로 152 1899-3700 http://www.dankook.ac.kr

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단국대율곡기념도서관 충남천안시동남구단대로 119 (안서동 산29) 041-550-1621 http://dulis.anseo.dankook.ac.kr

대구대도서관 대구남구대명동2288 053-850-2081~6 http://love.taegu.ac.kr

대원공과대학도서관 충북제천시신월동산22-8 043-649-3202 http://lib.daewon.ac.kr

동서울대학도서관 경기성남시수정구복정동423 031-720-2191 http://dlibrary.dsc.ac.kr

대전대도서관 대전동구용운동96-3 042-280-2673 http://libweb.taejon.ac.kr

대전한밭대도서관 대전동구삼성2동305-3 042-630-0616 http://tjdigital.tnut.ac.kr

대전한밭도서관 대전중구문화동145-3 042-580-4255 http://hanbat.metro.taejon.kr

대진대중앙도서관 경기포천군포천읍선단리산11-1 031-535-8201~5 http://library.daejin.ac.kr

대천대도서관 충남보령시주포면관산리산6-7 041-939-3026 http://www.dcc.ac.kr

동강대도서관 광주시 북구 두암동771 062-520-2114 http://dongkang.ac.kr

동국대도서관 서울중구필동3가26 02-260-3452 http://lib.dgu.ac.kr

동서대도서관 부산사상구주례동산69-1 051-320-1640 http://libcenter.dongseo.ac.kr

동아대도서관 부산서구동대신동3가1 051-204-0171 http://av3600.donga.ac.kr

동양대도서관 경북영주시풍기읍교촌동1번지 054-630-1053 http://dyucl.dyu.ac.kr

동양공업전문대학도서관 서울구로구고척동62-160 02-610-1731 http://www.dongyang.ac.kr

동원대학술정보센터 경기광주군실촌면신촌리산1-1 031-763-8541(140) http://www.tongwon.ac.kr

두원공과대학도서관 경기안성군죽산면장원리678 http://www.doowon.ac.kr

만도기계중앙연구소 경기남양주군와부읍덕소리95 031-768-6211 http://www.mando.com

목원대도서관 대전중구목동24 042-252-9941~50 http://lib.mokwon.ac.kr

목포대도서관 전남무안군청계면도림리61 http://203.234.22.46/

목포해양대도서관 전남목포시죽교동572 061-240-7114 http://lib.miryang.ac.kr

배재대도서관 대전서구도마2동439-6 042-520-5252 http://lib.mmu.ac.kr

부경대도서관 부산남구대연3동599-1 051-622-3960 http://libweb.pknu.ac.kr

부산대도서관 부산금정구장전동산30 051-510-1814 http://pulip.pusan.ac.kr

부산외국어대도서관 부산남구우암동산55-1 http://www.pufs.ac.kr

부천대도서관 경기부천시원미구심곡동454-3 032-610-3272 http://www.bucheon.ac.kr

한국과학기술정보연구원정보자료실 서울동대문구청량리동206-9 http://www.kiniti.re.kr

삼지전자(주) 서울금천구가산동459-21 02-850-8167

삼척산업대도서관 강원삼척시교동산253 033-570-6278 http://lib.samchok.ac.kr

상명대학교컴퓨터시스템공학전공 충남천안시안서동산98-20 041-550-5356

상주대도서관 경북상주시가장동386 054-530-5641 http://san.sangju.ac.kr

상지대중앙도서관 강원원주시우산동산41 033-730-0366 http://lib.sangji.ac.kr

생산기술연구원정보자료실 서울금천구가산동371-36 02-850-9142~3 http://www.kitech.re.kr

산업기술시험평가연구소자료실 서울구로구구로동222-13 02-860-1292 http://www.ktl.re.kr

삼성SDI 경기용인시기흥구공세동 031-288-4121 http://www.samsungSDI.co.kr

서강대도서관 서울마포구신수동1-1 02-751-0141 http://loyola1.sogang.ac.kr

서경대도서관 서울성북구정릉동16 02-940-7036 http://lib.seokyeong.ac.kr

서울대도서관 서울관악구신림동산56-1 02-880-5114 http://solarsnet.snu.ac.kr

서울대전기공학부해동학술정보실 서울관악구신림동산56-1 02-880-7278

서울산업대도서관 서울도봉구공릉동172 02-972-1432 http://cdserver.snut.ac.kr

서울시립대도서관 서울동대문구전농동8-3 02-2245-8111 http://plus.uos.ac.kr

서울여자대도서관 서울노원구공릉2동126 02-970-5305 http://lib.swu.ac.kr

서울통신기술(주)통신연구소 서울강동구성내3동448-11 02-2225-6613 http://www.scommtech.co.kr

선문대도서관 충남아산시탕정면갈산리100 041-530-2525 http://delta.sunmoon.ac.kr

성결대도서관 경기안양시안양8동147-2 http://211.221.247.5

성균관대과학도서관 경기수원시장안구천천동287-1 031-290-5114 http://skksl.skku.ac.kr

성남산업진흥재단(재) 경기성남시수정구수진1동587 031-758-9901 http://www.ked.or.kr

성신여대도서관 서울성북구동선동3가249-1 02-920-7275 http://lib.sungshin.ac.kr


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세종대도서관 서울광진구군자동98 02-3408-3098 http://sjulib.sejong.ac.kr

수원대중앙도서관 경기화성군봉담면와우리산2-2 031-232-2101(378) http://lib.suwon.ac.kr

수원과학대도서관 경기화성군정남면보통리산9-10 031-252-8980 http://www.suwon-sc.ac.kr

순천대도서관 전남순천시매곡동315 061-752-8131 http://203.246.106.33/

숭실대도서관 서울동작구상도1동1-1 02-820-0114 http://oasis.soongsil.ac.kr

안동대도서관 경북안동시송천동388 054-850-5238 http://library.ajou.ac.kr

안산1대학 경기도 안산시 상록구 일동 752 031-400-6900 http://www.ansan.ac.kr

안양대도서관 경기안양시만안구안양5동708-113 031-670-7557 http://www.anyang.ac.kr

안양과학대학도서관 경기안양시만안구안양3동산39-1 031-441-1058~9 http://www.anyang-c.ac.kr

에스씨지코리아(주) 서울강남구대치3동942해성B/D17층 02-528-2700 http://www.onsemi.com

에이치텔레콤(주) 경기도성남시중원구상대원동513-15 031-777-1331 http://www.htel.co.kr

여수대도서관 전남여수시둔덕동산96-1 061-659-2602 http://www.yosu.ac.kr

연세대도서관 서울서대문구신촌동134 02-361-2114 http://library.yonsei.ac.kr

영남대중앙도서관 경북경산시대동214-1 053-882-4134 http://libs.yeungnam.ac.kr

영동공과대학도서관 충북영동군영동읍설계리산12-1 043-740-1071~2 http://210.125.191.101/

오산전문대학도서관 경기오산시청학동17 031-372-1181 http://osanlib.osan-c.ac.kr

(주)오피콤 서울강남구수서동724(로스데일B/D5층) 02-3413-2500 http://www.opicom.co.kr

충북과학대학도서관 충북옥천군옥천읍금구리40 043-730-6251 http://www.ctech.ac.kr

용인대도서관 경기용인시삼가동470 031-30-5444 http://www.yongin.ac.kr

우리기술투자(주) 서울강남구대치동946-14(동원B/D14층) 02-508-7744 http://www.wooricapital.co.kr

우송대중앙도서관 대전동구자양동산7-6 042-630-9668~9 http://pinetree.woosongtech.ac.kr

울산대중앙도서관 울산광역시남구무거동산29 052-278-2472 http://library.ulsan.ac.kr

원광대중앙도서관 전북이리시신룡동344-2 063-850-5444 http://library.wonkwang.ac.kr

(주)원이앤씨 성남구 중원구 상대원동 190-1 031-776-0377

위덕대학교도서관 경북경주시강동면유금리산50 054-760-1051 http://lib.uiduk.ac.kr

유한대학도서관 경기부천시소사구괴안동185-34 http://ic.yuhan.ac.kr

육군제1266부대연구개발처자료실 부산남구대연동우체국사서함1-19

육군사관학교도서관 서울노원구공릉동사서함77호 02-975-0064 http://www.kma.ac.kr

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익산대학도서관 전북익산시마동194-5 063-840-6518 http://library.iksan.ac.kr

이화여대중앙도서관 서울서대문구대현동11-1 02-3277-3137 http://ewhabk.ewha.ac.kr

인제대도서관 경남김해시어방동607번지 055-320-3413 http://ilis1.inje.ac.kr

인천대도서관 인천남구도화동177 032-774-5021~5 http://wlib.incheon.ac.kr

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(주)인텍웨이브 서울구로구구로3동197-17(에이스테크노타워501) 02-3282-1185 http://www.intechwave.com

인하대도서관 인천남구용현동253 032-862-0077 http://library.inha.ac.kr

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전남과학대학도서관 전남곡성군옥과면옥과리산85 061-360-5050 http://www.chunnam-c.ac.kr

전남대도서관 광주북구용봉동300 062-550-8315 http://168.131.53.95/

호원대도서관 전북군산시임피면월하리727 063-450-7106 http://indang.howon.ac.kr

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제주대도서관 제주제주시아라1동1 064-755-6141 http://chulic.cheju.ac.kr

중부대도서관 충남금산군추부면마전리산2-25 041-750-6571 http://www.joongbu.ac.kr

중앙대도서관 서울동작구흑석동221 02-815-9231 http://www.lib.cau.ac.kr

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창원대학도서관 경남창원시퇴촌동234 055-283-2151 http://lib.changwon.ac.kr

창원시립도서관 창원시반송동산51-5 055-281-6921~2 http://city.changwon.kyongnam.kr

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청양대도서관 충남청양군청양읍벽천리90 http://www.cheongyang.ac.kr

청주대도서관 충북청주시상당구내덕동36 043-229-8648 http://wuam.chongju.ac.kr

천안대도서관 충남천안시안서동산85-1 http://moon.chonan.ac.kr

천안공업대자료실 충남천안시부래동275 http://www.cntc.ac.kr

한국철도대학도서관 경기의왕시월암동산1-4 031-454-4019 http://library.krc.ac.kr

초당대도서관 전남무안군무안읍성남리419 061-450-1901~3 http://library.chodang.ac.kr

충북대도서관 충북청주시개신동산48 043-261-3114~9 http://cbnul.chungbuk.ac.kr

충주대도서관 충북중원군이류면검단리123 043-842-7331~5 http://chains.chungju.ac.kr

탐라대도서관 제주서귀포시하원동산70 064-735-2000 http://www.tamna.ac.kr

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한경대도서관 경기안성시석정동67 031-670-5041 http://www.hankyong.ac.kr

하남시립도서관 경기하남시신장동520-2 031-790-6597 http://hanamlib.go.kr

한국정보통신기능대학원 경기광주시 역동 181-3 031-764-3301 http://www.icpc.ac.kr

한국과학기술원과학도서관 대전유성구구성동373-1 042-861-1234 http://darwin.kaist.ac.kr

한국과학기술연구원도서관 서울성북구하월곡동39-1 02-962-8801(2418) http://161.122.13.12/

한국기술교육대학도서관 충남천안군병천면가전리산37 041-560-1253~4 http://dasan.kut.ac.kr

한국방송통신대학도서관 서울종로구동숭동169 02-7404-381 http://knoulib.knou.ac.kr

한국산업기술대도서관 경기시흥시정왕동사화공단3가101 031-496-8002 http://www.kpu.ac.kr

한국산업기술평가원 서울강남역삼동701-7(한국기술센타11층) 02-6009-8034 http://www.itep.re.kr

한국외국어대용인캠퍼스도서관 경기용인군왕산리산89 031-309-4130 http://weblib.hufs.ac.kr

한국전력기술(주) 경기도용인시구성읍마북리 360-9 031-289-4015 http://www.kopec.co.kr

한전전력연구원기술정보센터 대전유성구문지동103-16 042-865-5875 http://www.kepri.re.kr

한국전자통신연구원도서실 대전유성구가정동161 042-860-5807 http://www.etri.re.kr

한국조폐공사기술연구소기술정보실 대전유성구가정동90 042-823-5201(592) http://www.komsep.com

한국철도기술연구원자료실 경기의왕시월암동374-1 031-461-8531 http://www.krri.re.kr

한국항공대도서관 경기고양시화전동200-1 031-309-1862 http://210.119.25.2/

한국항공우주연구소기술정보실 대전유성구어은동52 042-868-7811 http://www.kari.re.kr

한국해양대도서관 부산영도구동삼동1 051-414-0031 http://kmulib.kmaritime.ac.kr

한동대도서관 경북포항시북구홍해읍남송리3 http://salt.handong.edu

한세대도서관 경기군포시당정동604-5 031-450-5165 http://lib.hansei.ac.kr

한양대도서관 서울성동구행당동17 02-209-2114 http://library.hanyang.ac.kr

한양대안산도서관 경기안산시대학동396 031-869-2111 http://information.hanyang.ac.kr

해군제9135부대군수발전부표준규격과 경남진해시현동사서함2호

해군사관학교도서관 경남진해시앵곡동사서함1-1 http://www.navy.ac.kr

해군정비창기술연구소 경남진해시현동사서함602-3호 055-549-3602

현대자동차기술관리부 정보자료실 경남울산시중구양정동700 http://www.hyundai-motor.com

SK 하이닉스 메모리연구소정보자료실 경기이천군부발읍아미리산136-1 031-630-4514

협성대학술정보관 경기화성군봉담읍상리8-1 031-299-0658 http://hulins.hyupsung.ac.kr

혜전대도서관 충남홍성군홍성읍남장리산16 041-630-5167 http://www.hyejeon.ac.kr

한라대학 강원원주시흥업면흥업리산66 031-760-1184 http://lib.halla.ac.kr

한서대도서관 충남서산군해미면대곡리360 041-660-1114 http://library.hanseo.ac.kr

호남대도서관 광주광산구서봉동59-1 062-940-5183 http://library.honam.ac.kr

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박사학위 논문초록 게재 안내

본 학회에서는 전자공학회지에 국내외에서 박사학위를 취득한 회원의 학위 논문초록을 게재하고 있으니

해당 회원 여러분의 적극적인 참여를 바랍니다.(단, 박사학위 취득후 1년 이내에 제출해 주시는 것에 한함.)

전자공학회지 <월간> 제43권 제11호(통권 제390호) The Magazine of the IEIE

2016년 11월 20일 인쇄 발행및 (사) 대한전자공학회 회장 구 용 서

2016년 11월 25일 발행 편집인

인쇄인 한림원(주) 대표 김 흥 중

발행인 사 단 법 인 대 한 전 자 공 학 회

(우)06130 서울 강남구 테헤란로 7길 22(역삼동, 과학기술회관 신관 907호)

TEL.(02)553-0255~7 FAX.(02)552-6093

E-mail : [email protected]

Homepage : http://www.theieie.org

씨티은행 102-53125-258

지로번호 7510904

이 학술지는 정부재원으로 한국과학기술단체총연합회의 지원을 받아 출판되었음.

국문초록(요약):1000자이내

보내실 곳 _ 06130

서울특별시 강남구 테헤란로 7길 22(역삼동, 과학기술회관 신관 907호)

사무국 회지담당자앞

E-mail : [email protected]

TEL : (02)553-0255(내선 3) FAX : (02)552-6093

성명 (국문)(한문)(영문)

학위취득학교명대학교학과 생년월일 년월일

취득년월년월 지도교수

현근무처

(또는연락처)

주소(우편번호:)

전화번호 FAX번호

학위논문제목국문

영문

KEYWORD

채용분야 응시자격

Display Analog설계

▷ Analog설계 회로 경력자(2년이상)▷ Display Driver IC 개발 경력자(2년이상)▷ RF IC개발 신입(관련 전공자)/경력자▷ 전문연구요원

Display Digital 설계 ▷ Display IC(T-con)개발 신입/경력자(2년이상)

신호처리 개발▷ 신호처리관련/생체신호 처리 석사 이상▷ 관련 경력 1년 이상자 우대

디바이스 FW 개발▷ 전자/전산/컴퓨터 계열 학사 이상▷ 관련 경력 2년 이상자 우대

제

제

호

권

11

43

년

월11

2016

()

대

한

전

자

공

학

회

제43권 11호

2016년 11월호

www.theieie.org


vol.43. no.11

머신 러닝 기반 머신 비젼 최신 기술 동향•딥러닝 기법을 이용한 머신 비젼 기술 최근 응용 동향

•특징점 기반의 머신러닝 기술을 이용한 OLED결함 분류 기술

•카메라 모튤 검사 장비의 자동화를 위한 기계 학습의 활용

•공장 자동화를 위한 광학 방식 삼차원 측정 기술 연구

•머신비젼 카메라의 특성과 동향

ISSN 1016-9288

전자공학회지.11월호_레이아웃 1 16. 11. 22 오전 10:47 페이지 2

머신

러닝

기반

머신

비젼

최신

기술

동향

vol.43. noieieimages.ieieweb.org/journal/ebook/ieek_magazine/... · 2016-11-29 · 제 제 호 권...

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