分光グループ: 吉川正志
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分光グループ: 吉川正志. 目的: 分光測定により、プラズマパラメーターを導出し、閉じ込めとの関連を調べる。特に、電位閉じ込めと粒子輸送に注目して研究を進める。 ペレット入射により、プラズマの粒子補給を制御する。. 研究方針. ソースターム の測定精度を上げる。ガンマ10各セルにおけるH α 線径方向計測を押し進め、各セルのソースタームを押さえ、 ガンマ10の粒子閉じ込め時間について詳細な議論ができるように準備する。 CR-model の精度を向上させ、中性粒子密度、不純物イオン密度測定 の精度を上げ、電子密度、温度の空間分布測定に適用する。 - PowerPoint PPT PresentationTRANSCRIPT
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分光グループ:分光グループ:吉川正志吉川正志目的:
分光測定により、プラズマパラメーターを導出し、閉じ込めとの関連を調べる。特に、電位閉じ込めと粒子輸送に注目して研究を進める。ペレット入射により、プラズマの粒子補給を制御する。
1000
0
Wavelength [ Å ]200
20
Z [ c
m ]
不純物イオンスペクトル
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研究方針•ソースタームソースタームの測定精度を上げる。ガンマ10各セルにおけるH α 線
径方向計測を押し進め、各セルのソースタームを押さえ、ガンマ10の粒子閉じ込め時間について詳細な議論ができるように準備する。
• CR-modelCR-model の精度を向上させ、中性粒子密度、不純物イオン密度測定の精度を向上させ、中性粒子密度、不純物イオン密度測定の精度を上げ、電子密度、温度の空間分布測定に適用する。
•電位閉じ込め時のプラズマの振る舞い電位閉じ込め時のプラズマの振る舞いを調べる。 ECH モードにおいてプラズマ回転測定による電場形状の測定が可能であることが確認できたので、各部における電場形状の測定各部における電場形状の測定を通して、電位形状のプラズマ電位形状のプラズマ閉じ込め性能の向上閉じ込め性能の向上について調べる。このとき、エンドプレートバイアスにより電位構造を変化させ、その時のプラズマ閉じ込めと粒子輸送の関係についても調べる。プラズマ回転測定、電位測定、不純物測定等、すべての空間分布計測を使用して電位構造とプラズマ閉じ込めとの関連についての物理を解明する。
•不純物の発生機構、輸送不純物の発生機構、輸送について、ガンマ10のどの領域で発生するのかの知見を得るため、ガンマ10の各セルに於ける不純物イオンの絶対量を見積もる。
•電位構造とプラズマ閉じ込め性能の向上電位構造とプラズマ閉じ込め性能の向上について、マイクロ波画像計測、多チャンネルマイクロ波干渉計、電位測定等を用いて調べ、 H-mode へつなげる物理機構の解明を行う。
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研究内容1.プラズマの分光診断プラズマの分光診断
紫外可視分光( D4 小林、 D1 真珠)Hα 線計測( D5 久保田)真空紫外分光(産総研)軟 X 線分光(産総研)偏光測定(京大)
2.ペレットとプラズマの相互作用の研究ペレットとプラズマの相互作用の研究ペレット入射器( D5 久保田)
3.その他(プラズマモニター用その他(プラズマモニター用))不純物のモニター、プラズマ画像( D4 小林)Hα 線のモニター
高エネ研での較正実験、産総研の RFP プラズマでの分光実験
放射損失、不純物イオン密度、温度、中性粒子数 等
NIFS との共同研究
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G10 spectroscopic diagnostic systems
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Hα 線計測器
Hα 線 (6563 Å)
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Hα 線計測• 2次元計測2次元計測(久保田)(久保田):セントラル部でのプラズマ2次元断面計
測、中性水素密度計測、電離量、閉じ込め、ガンマ10全体のソース量とプラズマ閉じ込めの評価
• アンカー部計測(小林、アンカー部計測(小林、 NBINBI グループ)グループ):径方向、軸方向分布計測。可視分光計測により、アンカー部中央部の径方向、軸方向分布計測。 NBI グループによるトランジション部の計測。
• 可視・紫外分光器による中性粒子計測(小林可視・紫外分光器による中性粒子計測(小林、真珠、真珠)):Hα 、 β 、 γ 測定による水素原子、分子密度の測定
• バリアー部計測バリアー部計測:バリア部の径方向 Hα 線計測を通して、軸方向のHα 線計測による総ソース量の評価
• 可視分光と併せて Zeff の測定• スロート部計測スロート部計測:セントラルスロートの Hα 径方向、軸方向計測• ソース量の評価(久保田)ソース量の評価(久保田): NBI グループとの共同研究
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不純物分光測定
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不純物イオンスペクトル
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不純物分光•可視・紫外分光測定(小林可視・紫外分光測定(小林、真珠、真珠)) : セントラル、ア
ンカー部での不純物イオン、密度、温度、電場測定。セントラル部、アンカー部での電位構造の同時測定を行い電位構造と閉じ込めについて調べる。
•真空紫外・軟X線分光測定真空紫外・軟X線分光測定:アンカー、バリアー部での不純物イオン、密度、電子温度、電子密度測定、 Zeff 測定( NIFS, AIST との共同研究、韓国 KBSI とは共同研究)
•分光装置の絶対波長感度較正分光装置の絶対波長感度較正: KEK での較正実験•CR-modelCR-model の構築(小林)の構築(小林): NIFS との共同研究
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ペレット入射実験
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ペレット実験( LHD 計画共同研究)
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ペレット実験•ペレットのガイドチューブ内での蒸発の研究ペレットのガイドチューブ内での蒸発の研究: NIFS と
の共同研究。 NIFS の LHD ペレット入射装置の最終段計測部として、ガンマ10で開発したライトゲートシステムと質量測定器を設置して計測し、ペレットの蒸発過程についての研究を押し進める。
•ペレット入射実験ペレット入射実験:高密度、高閉じ込め時のペレット入射: c-ECH 印加+ c-NBI 中に入射、高電位モードでのペレット入射は行っていないので、高電位閉じ込め時のペレット入射による粒子補給の最適化について研究を行いたい。今後の高密度化に向けて粒子補給法の確立とシーケンスの最適化が必要になる。
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プラズマモニターアンカー部プラズマ形状測定: CCDカメラによるプラズマモニ
→ター セントラル部にも増設準備中
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終わりに
H α 線、不純物モニター、プラズマモニターは常時測定
新人: Hα 線計測( CT 部メイン)、真空紫外・軟X線分光測定等の予定