光計測センシング特論 - gpi.ac.jp · 18 分 類 Ⅱ類 必修・選択 選択 期 間...
Post on 31-Oct-2019
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18
分 類 Ⅱ類 必修・選択 選択 期 間 後期 単 位 数 2
コ ー ス ☑ 起業実践コース ☑ 新事業開発コース
科 目 名 光計測センシング特論 担 当 者 石井勝弘、花山良平
遠 隔 授 業 対応可能
ねらい・
到達目標
さまざまな光計測センシング技術の原理について理解し、光計測システム、装置の設
計・製作ができるようになる。光のさまざまな性質、現象を理解する。
概 要
さまざまな光計測センシング技術について、その背景となっている光の性質、物理量測
定のための解析モデル、測定原理、測定システム・装置の概要、物理量測定の応用例を
について講義する。
内 容
第 1 回 光計測入門 光計測の基礎 石井
第 2 回 幾何光学計測(三角法、光切断) 石井
第 3 回 幾何光学計測(モアレ、TOF) 石井
第 4 回 フーリエ光学と空間周波数フィルター、情報処理 石井
第 5 回 光干渉計測(マイケルソン、フィゾー、ヘテロダイン) 花山
第 6 回 光干渉計測(白色干渉、OCT) 石井
第 7 回 ホログラフィー計測 花山
第 8 回 スペックル計測(スペックル干渉) 石井
第 9 回 分光計測(分光器、波長走査、FTIR、ラマン分光) 石井
第 10回 偏光計測(エリプソメトリ、ポラリメトリ) 石井
第 11回 散乱計測(SLD、DLS、DOT) 石井
第 12回 非線形光学計測(蛍光、SHG、ラマン、) 石井
第 13回 光ファイバー計測(OTDR、ブリルアン、FBG) 石井
第 14回 超高速光計測 石井
第 15回 量子光学とその性質を用いた光計測、情報処理 石井
成績評価
方法・基準
毎回課す小レポートにより評価する。
成績評価基準:成績は以下の基準により評価し、60点(C評価)以上を合格とします。
・A:100~80点:到達目標を十分に達成できている優れた成績:合格
・B:79~70点:到達目標を達成できている成績:合格
・C:69~60点:到達目標を最低限達成できている成績:合格
・D:59 点以下:到達目標を達成できていない成績:不合格
教科書・
参考文献
毎回資料を配布する
その他
谷田貝豊彦:応用光学-光計測入門(丸善)
光計測のニーズとシーズ(コロナ社)
履修上の
必要要件
準備学修等
内容・時間
担当教員
メッセージ
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