EMUM 20 81 Analiz Ücretleri
ANALİZ ADI BİRİM BİRİM FİYATI XPS Analizi Adet 250.00 TL
XRD (Toz ve katı malzemeler için) pattern çekimi Adet 60.00 TL
XRD (İnce film malzemeler için) Adet 200.00 TL
XRD pattern çekimi sonrası faz analizi (Search match) Adet 150.00 TL
XRD (Tekstür analizi) Adet 600.00 TL
SEM-Numune hazırlama* Adet 75.00 TL
SEM İncelemesi Saat 250.00 TL
Yanmazlık (Alev geciktirme) testi, (UL 94 standardı) Adet 250.00 TL
ICP-OES numune hazırlama* Adet 50.00 TL
ICP-OES (Her bir element için) Element 60.00 TL
Nano partikül boyut ölçüm (Numune Hazırlama)* Adet 50.00 TL
Nano partikül boyut ölçümü (0.5 nm-10mikron arası) Adet 150.00 TL
Zeta potansiyeli (Numune Hazırlama)* Adet 50.00 TL
Zeta potansiyeli ölçümü Adet 150.00 TL
Nano öğütücü kullanım hizmeti Saat 250.00 TL
Nano indentasyon (Sertlik, Elestisite Modülü) 5 iz/numune 250.00 TL
AFM Saat 300.00 TL
DTA-TGA (Hava/Azot ortamında, max. 1000 oC) Adet 150.00 TL
FT-IR Adet 100.00 TL
Spektrofotometre (absorbans, kırılma ve geçirgenlik) Adet 100.00 TL
Fotoluminesans (PL) (Emission, Excitation) ölçümü Adet 100.00 TL
Floresans Decay zaman ölçümü (piko, nano ve mikro saniye aralıklarında) (Nano and microsecond flash lamp)
Adet 100.00 TL
VSM (Manyetik özellikler için) Adet 200.00 TL
HIP (1000-15000 psi arası) Saat 400.00 TL
HIP (15000-30000 psi arası) Saat 500.00 TL
CIP (Max. 60000 psi) Saat 200.00 TL
Üniversitelere, Tübitak, San-Tez, vb. projelere % 50 indirim uygulanır.
(*) işareti bulunan analizlere indirim uygulanmaz.
Fiyatlara KDV (%18) dahil değildir.
Analizlerin Türkçe ve İngilizce cihaz sorumlusu tarafından yorumlanması ekstra ücrete tabidir.
Analiz sonrası 90 gün içerisinde geri alınmayan numunelerin sorumluluğu merkezimize ait değildir.
Numune Kabul ve başvuru:
Cesim Narmanoğlu
Tel: +90 (232) 301 90 10 Sekreterlik Tel: +90 (232) 301 90 01
E-posta: [email protected] [email protected]
X-ışını Fotoelektron Spektroskopisi (XPS)
Cihazın Durumu: Çalışıyor
Cihazın Adı: Thermo Scientific Al K-Alpha
Cihaz hakkında: X-ışını fotoelektron spektroskopisi (XPS) malzemenin yüzeyi ile ilgili olarak
atomik ve moleküler bilgi sağlanması amacıyla kullanılan sayısal bir analiz tekniğidir. Çekirdek
seviyelerinin incelenmesi ve bunu takiben yayılan çekirdek fotoelektronların analiz edilmesiyle
numune yüzeyinin bileşimi ve elektrostatik seviyesi hakkında bilgi verir. XPS tüm katı
yüzeylerin elementel (H ve He hariç) ve kimyasal hal bilgisinin analizi için kullanılabilir.
Yüzeyden 10 nm’ lik bir derinlikte veri alarak elementel ve kimyasal analiz gerçekleştirir.
Aşağıdaki soruların cevabını bize sağlar;
Numune yüzeyinde hangi elementler bulunuyor?
Bu elementlerin hangi seviyeleri mevcut?
Farklı seviyelerde bulunan farklı elementlerden ne kadar mevcut?
Malzemelerin üç boyuttaki dağılımı nedir?
Malzeme yüzeyde ince bir tabaka halinde mevcut ise, derinliğe bağlı her katmandaki
elementel durum nedir?
Film kalınlığı düzenli mi? Filmin kimyasal bileşimi düzenli mi?
Uygulama Alanları:
XPS saf ve uygulamalı tüm bilim dallarında- bunun yanı sıra sorun giderme ve kalite güvence
amaçlı- yaygın olarak kullanılmaktadır. En çok kullanılan uygulama alanları bazı ana
başlıklar altında toplanabilir.
• Metaller ve alaşımların yüzeylerinin mikroanalizi
• Mineral yüzey çalışmaları
• Polimer çalışmaları
• Tıbbi amaçlı kullanılan malzemelerinin analizi
• Çimento ve beton yüzeyleri çalışmaları
• Temel atomik fizik çalışmaları
Cihaz Bilgileri:
Analyzer: 180° double focusing hemispherical analyzer with 128-channel detector
X-ray source: Al-Ka micro-focused monochromator with variable spot size (30-400µm in
5µm steps)
Ion Gun: Energy Ranges (100-4000eV)
Charge Compensation: Dual beam source
Vacuum System: 2x 260L/s turbo molecular pumps for entry and analysis chambers
Analyze modes: Point Analysis (General + Partial), Linear Analysis, Mapping and Depth
Profiling
Örnek Teslim Şartları:
• Numune Tutucu: 4-eksenli örnek tutucu, 60x60mm örnek alanı, 20mm maksimum
numune kalınlığı
• Numunelere asla el değmemeli ve temiz olmalıdır. Aksi takdirde cihazda kirlilik tespit
edilebilir. Bu da sonuçlarınızı değiştirebilir.
• Toz numunelerin miktarı minimum 5 mm çapındaki bir alanı dolduracak seviyede
olmalıdır.
*Numuneler kesinlikle nem içermemelidir !!!
Fiyat Listesi için Tıklayınız.
X-ışını Difraktometresi (XRD)
Cihazın Durumu: Çalışıyor
Cihazın Adı: Thermo Scientific ARL K-Alpha
Cihaz hakkında: X-Işını Kırınım yöntemi (XRD), her bir kristalin fazın kendine özgü atomik
dizilimlerine bağlı olarak, X-ışınlarını karakteristik bir düzen içerisinde kırması esasına
dayanır. Her bir kristalin faz için bu kırınım profilleri nicel olarak o kristali tanımlar. X-Işını
Kırınım analiz metodu, analiz sırasında numuneyi tahrip etmez ve çok az miktardaki
numunelerin dahi analizlerinin yapılmasını sağlar. XRD cihazıyla numunelerin kırınım
profilleri ile birlikte faz analizi (search match) ve tekstür analizleri de yapılabilmektedir.
Uygulama Alanları:
• Toz, bulk ve ince film kaplamaların kırınım profillerinin çıkarılmasında,
• Minerallerin ve kayaçların tanımlanmasında,
• Metal ve alaşım analizlerinde,
• Polimerlerin analizinde,
• Kırınım profili çıkarılan numune için fazların belirlenmesinde,
• Polikristal katı malzemelerde tekstür analizi ile kristallerin tercihli yönlenmelerinin
belirlenmesinde kullanılır.
Cihaz Bilgileri:
Angular resolution: <0.04o FWHM
X-ray source: Cu-Kα
Normal scan speed: (0.1° 2θ/s)
Örnek Teslim Şartları:
• Toz numunelerin miktarı minimum 5 mm çapındaki bir alanı dolduracak seviyede ince
öğütülmüş şekilde (min. 100-150 mg) olmalıdır.
• İnce film ve katı malzeme örnekleri, min 0.5x0.5 cm - max. 2x2 cm boyutlarında
olmalı, maksimum numune kalınlığı 7 mm olmalıdır.
Fiyat Listesi için Tıklayınız.
Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM)
Cihazın Durumu: Çalışıyor
Cihazın Adı: COXEM EM-30 Plus Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM)
Cihaz hakkında: SEM görüntüsü, yüksek voltaj ile hızlandırılmış elektronların, yüksek vakum
ortamında, numune üzerine odaklanması, bu elektron demetinin numune yüzeyinde taratılması
sırasında elektron ve numune atomları arasında oluşan çeşitli etkileşimler sonucunda oluşan
ürünlerin uygun algılayıcılarda toplanması ve sonuç olarak ekrana aktarılmasıyla elde edilir.
SEM analizlerinde temel olarak algılanan ürünler ikincil elektronlar (secondary electrons, SE)
olarak tanımlanır. İkincil elektronlar numune yüzeyinin 10 nm veya daha düşük derinlikten
geldiği için numunenin yüksek çözünürlüğe sahip topografik görüntüsünün elde edilmesinde
kullanılır. İkincil elektronların yanında geri saçılan elektronlar (BSE), karakteristik X-ışınları,
ışık (katot ışını) (CL), numune akımı ve aktarılan elektronlarla da numuneden çeşitli sinyaller
elde edilerek amaca uygun topografi ve kompozisyon analizleri yapılır. Ayrıca cihazda bulunan
düşük vakum moduyla kaplama yapılmamış yalıtkan örnekler, polimerler, cam örneklerin
analizi yapılabilmektedir.
Uygulama Alanları:
• Doğal kaynakların morfolojisini araştırma uygulamaları,
• Malzemelerin sahip olduğu kusurların ve aşınma özelliklerinin saptanması,
• Malzemelerin yüzey özellikleri, kaplama kalınlığı, partikül boyutu, morfolojisi gibi
özelliklerin belirlenmesinde kullanılır,
• İmal edilen bileşenlerin rutin analizler sonucunda kalite standartlarına ve dayanıklılık
gereksinimlerine uyup uymadığının araştırılması,
Cihaz Bilgileri:
Magnification: x20 ~ x150,000 (Effective :~ x80,000)
Accelerating Voltage: 1kV to 30kV
Electron Gun: Tungsten Filament(w)
Detector: SE Detector, BSE Detector
Maxium Sample Size: 45mm (H), 60mm (Diameter)
Vacuum System:· Turbo molecular pump (less than 3min), low vacuum mode
Örnek Teslim Şartları:
• Toz numuneler minimum 30 mg olmalıdır.
• Numunelerin iletken yada yalıtkan olduğu belirtilmelidir.
• Numuneler nem içermemelidir.
• Katı numune ve ince film numune boyutları max 3x3 cm, yüksekliği de max 2 cm
olmalıdır.
Fiyat Listesi için Tıklayınız.
Diferansiyel Termal Analiz – Termogravimetrik Analiz Sistemi
(DTA-TGA)
Cihazın Durumu: Çalışıyor
Cihazın Adı: Perkin Elmer STA 6000 Diferansiyel Termal Analiz – Termogravimetrik
Analiz Cihazı
Cihaz hakkında: Termal Analiz yöntemi, malzemelerin fiziksel özelliklerinin sıcaklığa bağlı
olarak değişiminin incelendiği bir yöntemdir. Termal Analiz, malzemelerin kontrollü bir
şekilde ısıtılarak, malzemelerin fiziksel özelliklerinde (ağırlık, absorplanan ya da açığa çıkan
ısı vs.) meydana gelen değişimin sıcaklığın bir fonksiyonu olarak ölçüldüğü yöntemleri içerir.
DTA-TGA sisteminde numune ve referans arasındaki sıcaklık farkını ve ağırlık değişimini eş
zamanlı olarak ölçmeye yarayan bir sistemdir. Sıcaklık farklılıkları, numunedeki sıcaklığın
değişimiyle meydana gelen endotermik ve/veya ekzotermik reaksiyonlar sonucunda
oluşmaktadır. TGA-DTA cihazı ile değişik malzemelerin erime, camsı geçiş sıcaklığı,
süblimleşme sıcaklıkları, kütle kaybı/kazancı, faz değişimi ve oksitlenme gibi özellikleri
belirlenebilir.
Uygulama Alanları:
• Toz ve katı malzemelerdeki ağırlık kaybı,
• Bozulma sıcaklığı tayini,
• Ekzotermik/endotermik reaksiyonların belirlenmesi,
• Reaksiyonlarda meydana gelen entalpi değişimi,
• Polimerlerde camsı geçiş sıcaklığının belirlenmesi,
• Diferansiyel termogravimetrik analiz eğrisinin çıkarılması.
Cihaz Bilgileri:
Sensor: Pure platinum pan holder and reference ring
Balance resolution: 0.1 µg
Temperature range: Room temperature to 1000 oC
Heating rate: 0.1 to 100 oC/min
Sample pans: Alumina 180 µl
Örnek Teslim Şartları:
• Toz numunelerin miktarı minimum 5-15 mg arasında olmalıdır.
• Katı malzeme örnekleri, max 3x3 mm boyutlarında olmalı, maksimum numune
kalınlığı 3 mm olmalıdır (toz halinde olmaları tercih edilir).
• Analizin gerçekleştirileceği atmosfer ortamı (Azot/Hava) ve sıcaklık belirtilmelidir.
Fiyat Listesi için Tıklayınız.
FOURİER DÖNÜŞÜMLÜ KIZILÖTESİ SPEKTROSKOPİSİ (FT-IR)
Cihazın Durumu: Çalışıyor
Cihazın Adı: Thermo scientific NICOLET iS10
Cihaz hakkında: Infrared (IR) spektroskopisi; moleküllerdeki çeşitli bağların titreşim frekanslarını ölçer ve moleküldeki fonksiyonel gruplar hakkında bilgi verir. İnfrared spektroskopisinin en çok kullanıldığı alan organik bileşiklerin tanımlanmasıdır; bu maddelerin spektrumlarında çok sayıda maksimum ve minimumların olduğu absorbsiyon bantları bulunur ve bunlar maddelerin birbirleriyle kıyaslanmasına olanak verir.
Aşağıdaki soruların cevabını bize sağlar;
1) Organik bileşiklerin yapısındaki fonksiyonel gruplar nelerdir?2) Yapısı bilinmeyen iki organik bileşik aynı mıdır?
Uygulama Alanları:
Fourier Dönüşümlü Kızılötesi Spektroskopisi (FT-IR) çeşitli alanlarda daha çok nitel analiz ve karakterizasyon çalışmaları için kullanılmakla beraber nicel analiz için de kullanılan bir yöntemdir.
• Organik bileşiklerin yapısının aydınlatılmasında• Karbohidrat, fosfolipit, aminoasit ve proteinlerin yapı analizlerinde• Polimerler ve Plastiklerin karakterizasyonunda• Farmasötik bileşiklerin yapılarının aydınlatılmasında
Cihaz Bilgileri:
Spektrum Aralığı: 7800-350 cm-1 optimized, mid-infrared KBr beamsplitter
11000-375 cm-1 XT KBr extended range mid-infrared optics
Derinlik: 550 mm
ATR Aparatı
Cihaza ait dayanıklı, yüksek performanslı elmas ATR yüksek kalite spektral veri alınmasını sağlar Ayrıca uçucu sıvıların analizine de olanak sağlar.
Örnek Teslim Şartları:
1) Örnekler sıvı veya katı formda olabilir.
Fiyat Listesi için Tıklayınız.
Nano İndentasyon Test Cihazı
Cihazın Durumu: Çalışıyor
Cihazın Adı: The IBIS nanoindentation System
Cihaz hakkında:
- Nano indentasyon test cihazı değişik malzemelerden oluşturulan ince filmlerin mekanik
özelliklerini (sertlik, elastisite modülü) belirlemekte kullanılır. Uygun bir indenter kullanılarak
örnek yüzeyine dik olacak şekilde belirlenen bir maksimum değere kadar yük uygulanır ve bu
maximum yük değerine ulaştıktan sonra tekrar dereceli olarak geri yükleme yapılır. Yükleme
ve geri yükleme sonucunda elde edilen Yük (N) - Derinlik (nm) eğrileri analiz edilerek
numunenin mekanik özellikleri belirlenir.
- Scratch test cihazı ince film ve kaplamaların yüzeylerinin kırılma, deformasyon ve yapışma
gibi mekanik özelliklerini belirlemek için kullanılır. Aynı zamanda altlık ve film sisteminin
sürtünme ve yapışma kuvvetini karakterize etmede kullanılır.
Uygulama Alanları:
• Değişik türdeki malzemelerin (yarıiletkenler, camlar, seramikler, kompozitler ve
biyomalzemeler) sertlik ve elastisite modülü ölçümleri,
• İnce film ve kaplamaların yüzeylerinin kırılma, deformasyon ve yapışma gibi mekanik
özelliklerini belirlenmesi,
• İnce film kaplamaların yüzey incelemeleri,
• Organik ve inorganik malzemelerin yüzey incelemeleri.
Cihaz Bilgileri:
Nanoindentasyon Test Cihazı:
Load range: 0‐500 mN
Digital resolution: 0.01 µN
Normal scan speed: (0.1° 2θ/s)
Scratch Test Cihazı:
Lateral force range: ±20 mN/ ±200 mN dual range. Higher ranges available to order to ±1 N
Theoretical resolution: 0.0006 mN/ 0.006 mN
Actual noise floor: 0.005 mN/ 0.01 mN
Maximum scratch length: 66 mm
Maximum scratch speed: 2000 µm/sec
Örnek Teslim Şartları:
• Bütün örnekler düz ve parlatılmış olmalıdır.
• Örnekler maksimum 15 milimetrelik bir çap içerisine yerleştirilebilmelidir.
• İncelenecek yüzey yerleştirme yüzeyine paralel ve 8 milimetreden küçük olmalıdır.
Fiyat Listesi için Tıklayınız.
Atomik Kuvvet Mikroskobu (Atomic Force Microscope-AFM)
Cihazın Durumu: Çalışıyor
Cihazın Adı: DME Tools DS 95-50
Cihaz hakkında: Atomik boyutlara kadar sivriltilmiş bir iğne ucu yardımıyla, yüzeyin yüksek
çözünürlükte, üç boyutlu görüntülenmesini sağlar. Görüntüleme, iğne ucunun yüzey ile
etkileşiminin incelenmesi sonucunda gerçekleştirilir. Değişik amaçlar için farklı iğne uçları
kullanılır. Atomik kuvvet mikroskopu üç farklı teknik ile kullanabilmektedir. Bunlar; iğnenin
yüzeye temas ettirilerek uygulandığı temas yöntemi, iğnenin yüzeye temas etmediği temassız
yöntem ve iğnenin yüzeye vurularak uygulandığı vurma yöntemidir.
Uygulama Alanları:
• İnce film kaplamaların yüzey incelemeleri.
• Organik ve inorganik malzemelerin yüzey incelemeleri.
• Yüzey incelemeleri yüzey düzgünlüğü konularında yapılabilmektedir.
Cihaz Bilgileri:
Scanner Modes: Contact mode (DC), intermittent mode (AC)
Scan range: 50 µm x 50 µm x 5 µm
Accuracy and noise: Hardware linearized scan motion in z direction
Noise Level < 0.05 nm rms in vertical direction (Z)
Scan Speed: up to 100 µm/s (DS 95 50)
Detection: Self adjusting laser / cantilever deflection system
Min. amplitude setting in AC mode < 1 nm
Örnek Teslim Şartları:
Örnekler maksimum 20 milimetrelik bir çap içerisine yerleştirilebilmelidir.
İncelenecek yüzey yerleştirme yüzeyine paralel ve pürüzlülüğü max. 500 nm olmalıdır.
Fiyat Listesi için Tıklayınız.
Partikül Boyut Analizi ve Zeta Potansiyeli Ölçüm Sistemi
Cihazın Durumu: Çalışıyor
Cihazın Adı: Malvern Zetasizer Nano ZS Partikül Boyut ve Zeta Potansiyel Ölçüm Cihazı
Cihaz hakkında: 90 derecelik açıda bulunan dedektörü ve dinamik ışık saçılımı metodu ile,
giriş seviyesinde partikül ve moleküler boyut ölçümü yapan bir cihazdır. Ayrıca, Laser Doppler
Microelectrophoresis metodu ile zeta potansiyel ve elektroforetik mobilite; Statik Işık Saçılımı
metodu ile de moleküler ağırlık ölçümüne olanak sağlar. Zeta potansiyel, taneler arasındaki
itme veya çekme değeri ölçümüdür. Zeta potansiyel ölçümü dağılma mekanizmaları ile ilgili
ayrıntılı bilgi verir. Belli bir yükteki tane, süspansiyon içerisindeki karşı yükteki iyonları çeker,
sonuç olarak, yüklü tanenin yüzeyinde güçlü bir bağ yüzeyi oluşur ve daha sonra da yüklü
tanenin yüzeyinden dışa doğru yayılmış bir yüzey oluşur. Yayılmış bu yüzey içersinde "kayma
yüzeyi" diye adlandırılan bir sınır bulunur. Yüklü tane ve onun etrafında bulunan iyonların
kayma yüzey sınırına kadar olan kısım tek bir parça olarak hareket eder. Bu kayma yüzeyindeki
potansiyel zeta potansiyeli olarak isimlendirilir.
Uygulama Alanları:
• Toz metalürjisi,
• Pigmentler,
• Nanopartiküller,
• Partikül boyut dağılımının belirlenmesi,
• Zeta potansiyeli ölçümü,
• Isoelektrik.noktanın belirlenmesi.
Cihaz Bilgileri:
Particle size measurement:
Measurement range: 0.3nm – 10.0 microns (diameter)
Measurement principle: Dynamic Light Scattering
Minimum sample volume: 12µL
Zeta potential measurement:
Measurement range: 3.8nm – 100 microns (diameter)
Measurement principle: Electrophoretic Light Scattering
Minimum sample volume: 150µL (20µL using diffusion barrier method)
General:
Temperature control range: Room temperature - 90°C,
Light source: He-Ne laser 633nm, Max 4mW.
Örnek Teslim Şartları:
• Sıvı içerisinde % 2’den az katı içeren min. 5 cm3 sıvı hazırlanmalıdır.
• Sıvı içerisindeki katının ultrasonik banyo içerisinde tutularak homojen dağılımı
sağlanmalıdır.
Fiyat Listesi için Tıklayınız.
UV-VIS SPEKTROFOTOMETRESİ
Cihazın Durumu: Çalışıyor
Cihazın Adı: SHIMADZU UVmini-1240
Cihaz hakkında: Ultraviyole ve görünür ışık (UV-Vis) absorpsiyon spektroskopi bir ışın demetinin bir örnekten geçtikten veya bir örnek yüzeyinden yansıtıldıktan sonraki azalmasının ölçülmesidir. Işığın şiddetinin azalması absorplamanın arttığını gösterir. Örneğin derişimi belirli bir dalgaboyundaki absorpsiyonunu ölçerek bulunur. UV-Vis spektroskopi genellikle çözeltideki moleküller veya inorganik iyon ve komplekslerin ölçümünde kullanılır. Birçok molekül UV veya Vis dalgaboylarını absorplar ve farklı moleküller farklı dalga boylarını absorplarlar. Bir absorpsiyon spektrumu molekülün yapısını gösteren birçok absorplama bantlarından oluşmaktadır.
Uygulama Alanları:
• Su ve çevre analizleri • İlaç uygulamaları • Biyokimyasal uygulamalar
Cihaz Bilgileri:
Spektrum Bant Genişliği: 5nm
Dalga Boyu Aralığı: 190.0~1100.0nm
Dalga Boyu Kesinliği: ± 1.0nm
Dalga Boyu Tekrarlanabilirliği: ± 0.3nm
Tarama Hızı: Dalga Boyu Değişimi: Yaklaşık olarak 3800nm/min Tarama: 24~1400nm/min
Işık Kaynağı: 20W Halojen Lamba
Döteryum Lambası (socket type)
Maksimum Duyarlılık için otoayarlama mevcuttur.
Monokromatör: Incorporates aberration-correcting concave blazed holographic grating
Detektör: Silikon Fotodiyot
Örnek Teslim Şartları:
Örnek çözelti halindeyse, çözücü ve kullanılan örnek hazırlama prosedürü ayrıntılı olarak
belirtilmelidir. Örnek çözeltisi berrak olmalı ve kör ölçümleri için yeterli miktarda çözücüde
getirilmelidir.
Fiyat Listesi için Tıklayınız.
UV-VIS SPEKTROFOTOMETRESİ
Cihazın Durumu: Çalışıyor
Cihazın Adı: Thermoscientific Evolution 600
Cihaz hakkında: Ultraviyole ve görünür ışık (UV-Vis) absorpsiyon spektroskopi bir ışın demetinin bir örnekten geçtikten veya bir örnek yüzeyinden yansıtıldıktan sonraki azalmasının ölçülmesidir. Işığın şiddetinin azalması absorplamanın arttığını gösterir. Örneğin derişimi belirli bir dalgaboyundaki absorpsiyonunu ölçerek bulunur. UV-Vis spektroskopi genellikle çözeltideki moleküller veya inorganik iyon ve komplekslerin ölçümünde kullanılır. Birçok molekül UV veya Vis dalgaboylarını absorplar ve farklı moleküller farklı dalga boylarını absorplarlar. Bir absorpsiyon spektrumu molekülün yapısını gösteren birçok absorplama bantlarından oluşmaktadır.
Uygulama Alanları:
• Yaşam Bilimleri
• Malzeme Bilimi
• Farmasötik
Cihaz Bilgileri:
Lamba: Xenon Flash Lamp
Detektör: Dual Matched Silicon Photodiodes
Kesinlik: ±0.004A at 1A, ±0.004A at 2A, ±0.006A at 3AÅ
Tarama hızı: 1 - 3,800 nm/min
Dalga boyu aralığı: 190 to 1100nm
Dalga boyu kesinliği: ±0.20 nm (546.11 nm Hg emission line); ±0.3 nm for 190 - 900 nm
Örnek Teslim Şartları:
1) Örnek katı formda olmalıdır.
2) İnce film ölçümleri için kaplamanın kuvartz cam üzerine yapılmış olması gereklidir.
Fiyat Listesi için Tıklayınız.
Titreşen Örnek Magnetometresi (Vibrating Sample
Magnetometer-VSM)
Cihazın Durumu: Çalışıyor
Cihazın Adı: VSM550-100, Dexing Magnet Tech. Co.
Cihaz hakkında: Malzemelerin Histeresis döngüleri, Manyetizasyon eğrisi, Isıtma eğrisi,
Isıtma/Soğutma eğrisi, Soğutma eğrisi ve benzeri gibi manyetik materyallerin temel
özelliklerinin ölçümü için VSM kullanılabilir. Zaman değiştikçe sıcaklığın değişimi,
manyetizasyonun doymuş manyetik alan kuvveti, geride kalması, zorlayıcı kuvveti, maks.
Enerji ürünü, curie sıcaklığı ve manyetik iletkenlik (ilk manyetik iletkenlik dâhil edilir) gibi
değerleri elde edebiliriz.
Uygulama Alanları:
• Diamagnetic, Paramagnetic, Ferromagnetic, Ferrimagnetic, Antiiferromanyetik
malzemeler ve Anizotropik malzemeler
• Partikül ve sürekli manyetik kayıt malzemeleri ve GMR, CMR, değişimli ve spinvalve
malzemeleri
• Manyetik-optik malzemeler
• Bulk malzemeler, tozlar, ince filmler, tek kristaller ve sıvılar kolayca yerleştirilir
Cihaz Bilgileri:
Measure the scope of the magnetic moment: 10-2emu—300emu(Sensitivity:5×10-
5emu).
Relative accuracy (30emu): Better than ±1%
Repeatability (30emu): Better than ±1%.
Stability (30emu): Preheating 24 hours, 24 hours of continuous work superior ±1%.
Temperature range: From -196℃ to 900℃.
The magnetic Pole pitch for a fixed spacing is 40 mm, the pole face diameter is 60 mm.
Magnetic field: Supplied by the electromagnet, from 0 to 3.5T.
Örnek Teslim Şartları:
VSM ölçümleri için toz numuneler en az 300 mg olmalıdır.
Katı numuneler max. 4 mm çapında ve 10 mm uzunluğunda olmalıdır.
Fiyat Listesi için Tıklayınız.
Sıcak İzostatik Presleme (Hot Isostatic Press-HIP)
Cihazın Durumu: Çalışıyor
Cihazın Adı: American Isostatic Presses (Hot Isostatic Press-HIP)
Cihaz hakkında: Sıcak izostatik presleme yöntemi (HIP), malzeme özelliklerini geliştirmek
veya toz metalürjiden net parça üretmek için yüksek basınç ile sıcaklığın es zamanlı
uygulandığı imalat ve ısıl işlem yöntemidir.
Basınç, genellikle argon veya benzeri asal gazlar tarafından uygulanırken sıcaklık grafit gibi
ısıtma elemanları tarafından sağlanmaktadır. Basınç 1035 - 3100 bar (15,000 - 45,000 psi) ve
Sıcaklık 500 - 2200°C (900-3990 F) değerlerindedir. Sıcak izostatik Preslerde tavsiye edilen
basınçlı kap kablo sarımlı ve ön-stres uygulanmış tasarımdır. (Wire Wound and Pre-stressed
Pressure Vessels).
Yüksek sıcaklık ve basınç değerleri malzemelerin özelliklerine göre değişkenlik gösterip
ergime sıcaklığının altında tutulmaktadır. Üretimde oluşan iç boşlukları ve gözenekliliği
ortadan kaldırmak için kritik uygulamalara yönelik üretilen parçaların HIP işlemine tabi
tutularak hatalarının giderilip mekanik özelliklerinin iyileştirilmesi sağlanmış olur. Sıcak
izostatik Presleme yöntemi, aynı zamanda iki veya daha fazla malzemenin bir arada katı veya
toz formunda bağlanmasına veya kaplanmasına imkân verir.
Sıcak Izostatik Presleme yöntemi, toz metalürjisinde tozu tam yoğun parçalara dönüştürmekte
de kullanılır. Bu şekilde, geleneksel eritme, presleme ve sinterleme üretim teknolojileriyle elde
edilenden daha ustun mekanik özellikler elde edilir. Toz, şekillendirilmiş sac metal içine
hapsedilir ve net şekle çok yakın parçalar üretmek için HIP işlemine tabi tutulabilir.
Uygulama Alanları:
-Seramik malzemeler,
-Döküm,
-İlaç sanayi
Cihaz Bilgileri:
HIP Specifications
Equipment Specifications:
Pressure vessel Forged body, shell, and end closures.
End closures Fully threaded.
Code Stamping ASME code stamped
Maximum Pressure 30,000 PSI
Vessel cooling Water cooled
Pressure Controls Automatic and manual
Temperature Controls Automatic and manual
Ambient temperature limits 15 ˚C to 40 ˚C
Ambient relative humidity 10% to 90%
Pressure Ramping Ramping from low pressure to 30,000 PSI
Graphite Furnace Specifications:
Furnace Configuration Modular, blind plug in.
Heating Element Carbon-Carbon composite
Element Support Self Supporting
Thermal Barrier Graphite composite structure
Thermocouples Type “C”
Working Hot Zone 3.25” Diameter x 5.0” Long
Temperature uniformity Better than + 15 ˚C at 1800 ˚C Steady State
Maximum air exposure temperature 200 ˚C
Heating / Cooling rate Up to 40 ˚C per minute depending on pressure.
Heating zones Single heating zone.
Steady State Power Consumption 8.5 kW @ 1800 ˚C and 30,000 PSI
Furnace Weight 20 pounds
Maximum Workload Weight 20 pounds
Maximum Working Temperatures 1700 ˚C under vacuum
1800 ˚C below 500PSI
2200 ˚C 500 PSI to 30,000 PSI
Environment Argon or Nitrogen
Expected Furnace Life:
Thermal barrier 200+ cycles
Plug in components 500 cycles, dependant on handling
Hot Zone 150+ to 1800 ˚C with periodic maintenance
Thermal barrier Graphite composite structure
Thermocouples Dependent on temperature and handling
Örnek Teslim Şartları:
Numune çapı (max): 40 mm
Numune yüksekliği (max): 80mm
Numunelere ön şekil verilmiş olmalıdır. !!!
Fiyat Listesi için Tıklayınız.
Soğuk İzostatik Presleme (Cold Isostatic Press-CIP)
Cihazın Durumu: Çalışıyor
Cihazın Adı: American Isostatic Presses (Cold Isostatic Press)
Cihaz hakkında: Soğuk izostatik presleme basıncın sürekli ve her yönden eşit olarak
uygulandığı bir sıkıştırma yöntemidir. Bu yöntemde toz malzemeler kalıp olarak hizmet eden
esnek bir elastik kap içerisine yerleştirilir. Kalıp basınç kabının içindeki bir sıvı ortamına
daldırılır ve böylece sıvıya uygulanan yüksek basınç sıvı yardımıyla sıkıştırılacak tozlara
iletilerek, tozlar üzerinde bir hidrostatik basınç oluşturulur. Daha sonra kalıp basınç kabından
çıkarılarak her bir parçanın kalıptan boşaltılması sağlanır. Sıvı ortam olarak su, yağ veya gaz
kullanılabilir. Sıkıştırma işlemi bir izostatik ortamda gerçekleştiği için basınç homojen bir
şekilde dağılmakta ve böylece uniform bir yoğunluk elde edilmektedir. Tek eksenli preslerin
aksine kalıp duvarı ile pres arasında sürtünmeden doğan kalıcı gerilmeler oluşmamaktadır.
Ayrıca sürtünme olmadığından herhangi bir bağlayıcı veya yağlayıcı ilavesine de gerek
kalmamaktadır. Karmaşık şekillerin son şekle çok yakın oranlarda ve çok küçük hata
toleransları ile üretimi mümkündür.
Uygulama Alanları:
-Seramik malzemeler,
-Döküm,
-İlaç sanayi
Cihaz Bilgileri:
Specifications
Vessel Type AIP, VCN060-03-12, monolithic forging, fully threaded
top closure.
Vessel Size 3” inside diameter x 12” inside length.
Max Operating Pressure 60,000 PSI
Pump Haskel, Model DXHF-002, air driven pump, 60,000 PSI.
Pressure Fittings Coned and threaded high pressure style, 60,000 PSI rated.
Valve “V” style with replaceable Stellite tipped stem and seat,
60,000 PSI.
Controls Astra, Bourdon tube type gauge, with adjustable contact,
Omron timer.
Safety Relief Rupture disk with 65,000 PSI burst rating.
Recommended Fluid Houghton International Co., Hydrolubric water soluble oil
#2A, or similar. Water based glycol solution is also
acceptable.(fluid must inhibit rust)
Temperature Limits 15 ˚C to 40 ˚C
Electrical 120V, 60Hz, 10 Amps, 3 wire grounded.
Weight 550 pounds
Dimensions 24” x 24” x 39” high
Örnek Teslim Şartları:
Numune çapı (max): 80 mm
Numune yüksekliği (max): 200 mm
Numunelere ön şekil verilmiş olmalıdır. !!!
Fiyat Listesi için Tıklayınız.
Zaman Çözümlemeli Optik Spektroskopi
Cihazın Durumu: Çalışıyor
Cihazın Adı: Edinburgh Instruments FLSP920 Fluorescence Spectrometer (Steady State,
Lifetime, Phospherescence)
Cihaz hakkında: Floresans veya fosforesans özellik gösteren organik ya da inorganik
maddelerin eksitasyon, emisyon spektrumlarını ölçmede kullanılır. Ölçümler çözelti içerisinde
ya da katı fazda gerçekleştirilebilir. Bu yolla maddenin absorpsiyon ve emisyon yaptığı dalga
boyları belirlenebilir. Standart ölçümlerde 200 - 900 nm arasında çalışır. Belli dalga boylarında
(görünür bölge ve IR) pulslu lazer ışık kaynakları ile uyarma yapılarak nano saniye düzeyindeki
“decay time” ölçümleri (floresans ömrü) gerçekleştirilir. Mikro second flash lamb ile uyarılarak
mikro saniye düzeyindeki floresans ömrü ölçümleri alınabilir.
Uygulama Alanları: Fotofizik, fotokimya, biyofizik ve yarı iletken araştırmalarının geniş
alanlarında uygulamalar mevcuttur. Tek ve Çoklu Üssel Bozukluklar, Zamana Bağlı Emisyon
Spektroskopisi (TRES), Monomer Eksimer Kinetiği, Zamana Bağlı Floresans Anizotropisi,
Çözücü Gevşeme Dinamiği
• Biyomedikal,
• Malzeme fiziği,
• İlaç sektörü
• Sensör uygulamaları.
Cihaz Bilgileri:
Işık Kaynakları: Xe900 sürekli xenon lamba (200-900 nm), μF920 microsecond
flashlamp, nF920 nanosecond flashlamp
Detektörler: Single Photon Counting PMT, NIR dedektör (900-1500 nm)
Veri toplama Teknikleri: Single Photon Counting, MCS and TCSPC (spectral scanning,
kinetic measurements, fluorescence and phosphorescence decay
acquisitions)
Sistem Geometrisi: Optik Konfigürasyon Sağ açı geometrisi (standart)
Örnek Teslim Şartları:
Toz malzemeler (min. 1 gr ve homojen)
Katı malzemeler (min. 10 mm çapında ve min. 3 mm kalınlığında)
Sıvı malzemeler (min 10 ml)
Fiyat Listesi için Tıklayınız.