中高エネルギー原子核実験 におけるx線検出器sdd...

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中高エネルギー原子核実験 中高エネルギー原子核実験 における における X X 線検出器 線検出器 SDD SDD の開発 の開発 岩崎先端中間子研究室 岩崎先端中間子研究室 岡田 岡田 信二 信二 for KEK for KEK - - PS E570 collaboration PS E570 collaboration 2005/5/11 workshop@RIKEN 「放射線検出器と電子回路の課題と展望 --光子検出器を中心に」 K中間子原子のX線測定実験 KEK-PS E570

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中高エネルギー原子核実験中高エネルギー原子核実験におけるにおけるXX線検出器線検出器SDDSDDの開発の開発

岩崎先端中間子研究室岩崎先端中間子研究室岡田岡田 信二信二

for KEKfor KEK--PS E570 collaborationPS E570 collaboration

2005/5/11 workshop@RIKEN「放射線検出器と電子回路の課題と展望

--光子検出器を中心に」

K中間子原子のX線測定実験KEK-PS E570

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ContentsContents

エキゾチックアトムエキゾチックアトム -- KK中間子原子とは?中間子原子とは?

KEKKEK--PS E570PS E570実験について実験について

SDD(SDD(シリコン・ドリフト・ディテクターシリコン・ドリフト・ディテクター))の特徴の特徴

SDD SDD テスト結果テスト結果

まとめ・これからの課題まとめ・これからの課題

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エキゾチックアトムエキゾチックアトム

原子を構成してる一つの電子を、負電荷のハドロンに置き換原子を構成してる一つの電子を、負電荷のハドロンに置き換えた原子えた原子 (アトミック状態)(アトミック状態)

脱励起し脱励起しXX線を放出しながら、基底状態に近づき、原子核と線を放出しながら、基底状態に近づき、原子核と

強い相互作用をする強い相互作用をする

このこのXX線を観測することにより、電磁相互作用のみによるエ線を観測することにより、電磁相互作用のみによるエ

ネルギー値のずれから、ネルギー値のずれから、低エネルギー極限でのハドロンと核低エネルギー極限でのハドロンと核子(子(oror原子核)の強い相互作用の研究原子核)の強い相互作用の研究が可能が可能

ππ中間子原子中間子原子

KK中間子原子中間子原子 ……

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KK中間子ヘリウム原子中間子ヘリウム原子(K(K----44He); He); 過去の3つの実験過去の3つの実験

Exp.

repulsive shift

理論計算によると shift ~数eV(repulsive)

過去の実験no calibration peak (in beam)large background

3d 2p

実験結果 shift ~40eV(repulsive)

KEK-PS E549実験

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KEKKEK--PS E570PS E570

measure the shift (and width) of Kmeasure the shift (and width) of K-- 44He 3dHe 3d--2p X2p X--rays (6.5 keV) rays (6.5 keV) with a sufficient resolution (~ eV)with a sufficient resolution (~ eV); ;

required performancehigh resolutionlower background

(Calibration peak : Ti …)

SDD

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X線検出器X線検出器

Si(Li)検出器Si(Li)検出器 (@(@KpXKpX) ) リチウムドリフト型シリコン検出器リチウムドリフト型シリコン検出器

エネルギー分解能:~エネルギー分解能:~300eV(FWHM)@6keV300eV(FWHM)@6keV時間分解能:~時間分解能:~<<μμsecsec窒素温度窒素温度

CCDCCD ((Charge Coupled DeviceCharge Coupled Device)検出器)検出器 (@DEAR)(@DEAR)エネルギー分解能:~エネルギー分解能:~170eV(FWHM)@6keV170eV(FWHM)@6keV時間分解能:~時間分解能:~30sec30sec窒素温度(窒素温度(??))

SDDSDD (Silicon Drift Detector)(Silicon Drift Detector)検出器検出器 (@E570)(@E570)エネルギー分解能:エネルギー分解能:~~175eV(FWHM)@6keV175eV(FWHM)@6keV時間分解能:時間分解能:~~<<μμsecsec (time jitter : (time jitter : ~~800ns)800ns)~常温でも~常温でもOKOK((冷却するとさらに分解能が向上冷却するとさらに分解能が向上))

Q =Q = CV = (CV = (εε00SS / d ) V/ d ) V

Q =Q = CV = (CV = (εε00S / d ) VS / d ) V

Q =Q = CV = (CV = (εε00SS // dd ) V) V

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small capacitance small capacitance good energy resolution good energy resolution nearly independent of the detector areanearly independent of the detector areathin active layerthin active layer ((0.3mm0.3mm << 4mm in previous << 4mm in previous experiments) experiments) good S/Ngood S/N

SDD featuresSDD features Q =Q = CV CV = (= (εε00S / d ) VS / d ) V

Simulated potential energy distribution in a SDD

Schematic drawing of a SDD

ソフトコンプトンによるバックグラウンドを低減ソフトコンプトンによるバックグラウンドを低減

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The filtered detector voltages

Power sourcesPreamplifier

Hexagonal SDD mounted on a 20-pin-ceramic

Our SDD (Our SDD (100mm100mm22))

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According to a manual, the signal of the According to a manual, the signal of the preamplifier should be a ramppreamplifier should be a ramp

The ramp period is dependent on the chip temperature

If the voltages are properly set, the ramp should look like in this figure

Temperature control is important

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According to a manual, typical According to a manual, typical irradiated SDD signals look like...irradiated SDD signals look like...

Signal rise time

Incoming photon energy is 5.892 keV

Shaped signalSignals were generated at the center of the detector

@-20℃

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SDD (−120 degrees)

Shaping amp

First test setup First test setup (at SMI (Vienna))(at SMI (Vienna))

Preamplifier(room temperature)

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Conditions of the SDD testConditions of the SDD test

Conditions- Cable inside vacuum : 25 cm (flat cable)- Cable outside vacuum : 15 cm (shielded cable) … total 30 cm- Temperature of SDD : -120 degrees (153K)- Shaping amp : gain factor 200, shaping time 2μsec

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Scale : 4 μs

Scale : 100 ms

Shaping ampShaping amp

Substrate

Reset

Preamplifier(room temperature)Preamplifier(room temperature)

Signal of preamplifier

Signal of shaping amp

Our first signalsOur first signals

SDD at -120 ℃SDD at -120 ℃

20 μs

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5555FeFe source calibration for our SDD source calibration for our SDD

S/N : #8-5.3

Resolution for Mn(Kα)

~160eV (FWHM)

Channel

Log

coun

ts

Good resolution!

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Sigma

Mean

±0.15eV

±0.1 eV

Daily plot of Mn Kα (30 March 2005)Daily plot of Mn Kα (30 March 2005)

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SummarySummaryK中間子原子のX線測定実験に初めてK中間子原子のX線測定実験に初めてSDDSDDを用いるを用いる KEKKEK--PS E570 PS E570 SDD SDD …… High energy resolution High energy resolution ~~160eV(FWHM), Thin (good S/N)160eV(FWHM), Thin (good S/N)LongLong--term stability can be maintainedterm stability can be maintainedDaily plot errors : mean Daily plot errors : mean ±±0.15 eV & sigma 0.15 eV & sigma ±±0.1 0.1 eVeV(but this requires good temperature control)(but this requires good temperature control)

high ratehigh rate pionpion background(background(数数kHz)kHz)ビームを用いたテスト実験ビームを用いたテスト実験 (@KEK(@KEK--PS E549)PS E549)

TiTi--foilfoilを用いたキャリブレーションピークの中・長期のを用いたキャリブレーションピークの中・長期のstabilitystabilityのチェックのチェック

ノイズ対策ノイズ対策 …… FETFETからプリアンプまでのケーブルからプリアンプまでのケーブル etcetc……

これからの課題これからの課題