spc process

Statistical Process Control

การควบคุมกระบวนการดวยวิธีการทางสถิติ

หลักสูตรเนื้อหา

ตอนที่ 1 ความเปนมาและวัตถุประสงคการทํา SPCตอนที่ 2 SPC คืออะไรตอนที่ 3 แผนภูมิควบคุม

ตอนที่ 4 แผนภูมิ X-Rตอนที่ 5 การตีความหมายของแผนภูมิควบคุม

ตอนที่ 6 CPK,PPK คืออะไร

ตอนที่1

ความเปนมาและวัตถุประสงคการทํา SPC

ความเปนมา

สมัยกอนการผลิตกําหนดหนาที่การตรวจสอบและการผลิตใหฝาย

ผลิตและฝาย QC,QA เทานั้น เพราะสาเหตุนี้จึงมีการรวมมือกันเพื่อลดการเกิดของเสียเทานั้น แตในความเปนจริงไมเพียงแตพบวาของเสียไมลดลงและพบวาตนทุนของสินคากลับเพิ่มมากขึ้น ดังนั้นจึงเกิดคําถามวา“ทําอยางไรใหจํานวนของเสียและตนทุนต่ําลง” ในป ค.ศ. 1924 Showhart ไดคนพบแผนภูมิควบคุมและไดคนพบวิธีการควบคุมคุณภาพสินคาตนทุนต่ําแตมีประสิทธิภาพสูง นั่นคือ SPC

วัตถุประสงคการทํา SPC

เพื่อเพิ่มความรูความเขาใจในการปรับปรุงคุณภาพและลดตนทุนของ

สินคาดวยการทํา SPC ใหแกพนักงานเพื่อปองกันปญหา กอนที่ปญหาจะเกิดขึ้นเพื่อปฏิบัติใหเปนไปตามขอกําหนดของระบบบริหารคุณภาพ TS 16949

ตอนที่ 2

SPC คืออะไร

SPC คืออะไร

SPC (Statistical Process Control) เปนวิธีการควบคุมการผลิตวิธีหนึ่งที่อาศัยสถิติที่รวบรวมจากการวัดคุณลักษณะ

พิเศษของสินคานําเสนอออกมาในรูปแบบแผนภูมิควบคุม และนํามาวิเคราะหความสามารถของกระบวนการเพื่อคนพบความผิดปกติใน

ระหวางการผลิต และรีบดําเนินการปรับปรุงแกไขจนทําใหการผลิตกลบัสูสภาพปกติ

หลักเกณฑสําคัญในการทํา SPC คือ กระบวนการตองมีการควบคุมความผันแปรใหมีความปกติอยางสม่ําเสมอ

ตอนที่ 3

แผนภูมิควบคุม (Control chart)

แผนภูมิควบคุม

แผนภูมิควบคุมเปนเครื่องมือทางสถิติอยางหนึ่ง สวนใหญนํามาใชควบคุมกระบวนการผลิตซ้ํา ๆ กัน แผนภูมิควบคุมจะมีลักษณะเปนกราฟเสนซึ่งชวยควบคุมและขจัด

ความผันแปรจากปจจัยตาง ๆ ออกจากความผันแปรตามธรรมชาติ ประกอบดวย 3 เสน

- เสนกลาง (Control Limit)- เสนควบคุมบน (Upper Control Limit)- เสนควบคุมลาง (Lower Control Limit)

แผนภูมิควบคุม

CL

LCL

UCL

0

10

20

30

40

50

60

70

ชวงที่ 1 ชวงที่ 2 ชวงที่ 3 ชวงที่ 4 ชวงที่ 5 ชวงที่ 6 ชวงที่ 7 ชวงที่ 8 ชวงที่ 9 ชวงที่ 10

ประเภทของแผนควบคุม

1. ขอมูลวัด (Variable Data) : แผนภูมิควบคุมเชิงผันแปร (Variable Control Chart) เชน แผนภูมิ X-R,X- S,X-MR เปนตน

2. ขอมูลนับ (Attribute Data) : แผนภูมิควบคุมเชิง คุณลักษณะ (Attribute Control Chart) เชน

แผนภูมิ p, แผนภูมิ np, แผนภูมิ c และแผนภูมิ u เปนตน

ตอนที่ 4

แผนภูมิ X-R

แผนภูมิควบคุม

การรวบรวมขอมูลนํามาเปนสถิติตองอยางนอย 100 ขอมูล จาก 25 กลุมยอยขึ้นไปในแตละกลุมควรจะมีขอมูลประมาณ 4-5 คา ที่เปนขอมูลตอเนื่อง ดังตารางที่ 1

การคํานวณในแผนภูมิควบคุม

1. คา X-bar ในแตละวัน คือผลรวมของคาที่วัดไดในแตละวัน ÷ ดวยจํานวนครั้งที่ทําการวัด

ใน 1 วัน สูตรคํานวณ

X-bar = (x1 +x2 +x3 +….+x n )÷N เมือ่ Xn คือ ผลการวัดครั้งสุดทายในวันนัน้ ๆ

N คือ จาํนวนครั้งที่วัดทั้งหมดใน 1 วัน

การคํานวณในแผนภูมิควบคุม

ตัวอยางจากตารางที่ 1 ขอมูลในวันที่ 21 ทําการวัดทั้งหมด 10 ครั้ง ดังนี้ 1.5,1.5,1.5,1.5,1.6,1.0,1.0,1.5,1.5 และ 1.0 ซึ่งสามารถหาคา X-bar ไดดงันี ้

สูตรคํานวณ X-bar = (x1 +x2 +x3 +….+x n )÷N

แทนคาX-bar = (1.5+1.5+1.5+1.5+1.6+1.0+1.0+1.5+1.5+1.0)÷10

= 1.36

ดังนัน้คา X-bar ของวันที่ 21 เทากับ 1.36

การคํานวณในแผนภูมิควบคุม

2. คา R ในแตละวัน คือคาวัดที่มากที่สุดในวันนั้นๆ –

คาวัดที่นอยที่สุดในวันนั้นๆ

สูตรคํานวณ R=X max - X min

การคํานวณในแผนภูมิควบคุม

ตัวอยาง จากตารางที่ 1 ขอมูลในวันที่ 21

ทําการวัดมีคาดังตอไปน

ี้1.5,1.5,1.5,1.5,1.6,1.0,1.0,1.5,1.5 และ 1.0 ซึ่งมีตัวเลขเพียง 3 ชุด

คือ 1.0,1.5 และ 1.6 จึงสามารถหาคา R ไดดังนี้ สูตรคํานวณ

R=X max - X min

แทนคาR = 1.6-1.0

= 0.6

ดังนั้นคา R ของวันที่ 21

เทากับ 0.6

การคํานวณในแผนภูมิควบคุม

3. คา X bar-bar คือผลรวมคา X bar ในแตละวัน ÷ ดวยจํานวนวัน ที่ตองการหาคา X bar-barสูตรคํานวณ

X bar-bar = (x bar1 +x bar2 +x bar3 +…x bark )/kเมื่อ

X bark = คา X-bar สุดทายk = จํานวนวัน ที่ตองการหาคา X bar-bar

การคํานวณในแผนภูมิควบคุม

ตัวอยางจากตารางที่ 1 ขอมูลในวันที่ 21

-25 นับเปนเวลา 5 วันมีคา X-bar ดังนี้ 1.36,1.25,1.33,1.53 และ 1.05

ซึ่งสามารถหาคา X bar-bar ไดดังนี้ สูตรคํานวณ

X bar-bar = (x bar1 +x bar2 +x bar3 +…x bark )/kแทนคา

X bar-bar = (1.36+1.25+1.33+1.53+1.05)÷5= 1.30

ดังนั้นคา X bar-bar ของวันที่ 21-25 เทากับ 1.30

การคํานวณในแผนภูมิควบคุม

4. คา R-bar คือผลรวมคา R ในแตละวัน ÷ ดวยจํานวนวัน ที่ตองการหาคา R-barสูตรคํานวณ

R-bar = (R1 +R2 +R3 +…Rk )/k เมื่อ

R bark = คา R สุดทายk = จํานวนวัน ที่ตองการหาคา R-bar

การคํานวณในแผนภูมิควบคุม

ตัวอยางจากตารางที่ 1 ขอมูลในวันที่ 21

-25 นับเปนเวลา 5 วันมีคา R ดังนี้ 0.6,0.5,0.6,0.1 และ 0.5 ซึ่งสามารถหา คา R-bar ไดดังนี้

สูตรคํานวณ R-bar = (R1 +R2 +R3 +…Rk )/kแทนคา

R-bar = (0.6+0.5+0.6+0.1+0.5)÷5= 0.46

ดังนั้นคา X bar-bar ของวันที่ 21-25 เทากับ 0.46

ตอนที่ 5

การตีความหมายของแผนภูมิควบคุม

การตีความหมายของแผนภูมิควบคุม

สิ่งที่สําคัญที่สุดของการควบคมุ

คุณภาพโดยใชแผนภูมิควบคุม คือการตีความหมายของแผนภูมิ

ควบคุม เพื่อโยงเหตุผลไปที่สภาวะของกระบวนการผลิตซึ่งเปน

แหลงขอมูลที่นาํมาเขียนเปน

แผนภูมิควบคุม เมื่อมีความผิดปกติขึ้นในกระบวนการผลิตบนแผนภูมิ

ควบคุมจะปรากฏลักษณะผิดปกติ 5 แบบดังตอไปนี้

0

10

20

30

40

50

60

70

ชวงที่ 1 ชวงที่ 2 ชวงที่ 3 ชวงที่ 4 ชวงที่ 5 ชวงที่ 6 ชวงที่ 7 ชวงที่ 8 ชวงที่ 9 ชวงที่ 10

1. การเกิดจุดอยูนอกเสนควบคุม (Out of Control Line Limits)

พบไดชัดเจน คือมีจุดในแผนภมู

ิ

ปรากฏอยูนอกเสนขอบเขต ควบคุม เรียกวาจุดอยูนอก ควบคุม ซึ่งอาจจะเปนการอยูนอก

เสนทั้งดานบนหรือดานลาง แสดงวา ณ จุด นั้นเกิดความผัน

แปรที่ผิดปกติเกิดขึ้นใน กระบวนการผลิตแลวตองทําการ

แกไขอยางเรงดวน 0

10

20

30

40

50

60

70

ชวงที่ 1 ชวงที่ 2 ชวงที่ 3 ชวงที่ 4 ชวงที่ 5 ชวงที่ 6 ชวงที่ 7 ชวงที่ 8 ชวงที่ 9 ชวงที่ 10

คาที่วัดได

CL

LCL

UCL

2. การเกิดจุดเรียงตัว(Run)

เมื่อมีจุดปรากฏติดตอกันบนซีก ใดซีกหนึ่งของเสนคากลาง เรา เรียกวา เกิดการเรียงตัว (Run)

ความยาวของการ Run ในแต

ละชุดนับจากจํานวนจุดไดตั้งแต 7 จุดขึ้นไปหรือจํานวน 10 จุด

จาก 11 จุด หรือ 12 จุดจาก 14 จุด หรือ 16 จุดจาก 20 จุด ใน

ซีกใดซีกหนึ่ง เราตีความวา “ได

เกิดความผิดปกติขึ้นแลวในชวง

การผลิตที่เกิดการ Run นั้น”0

10

20

30

40

50

60

70

ชวงที่ 1 ชวงที่ 2 ชวงที่ 3 ชวงที่ 4 ชวงที่ 5 ชวงที่ 6 ชวงที่ 7 ชวงที่ 8 ชวงที่ 9 ชวงที่ 10

คาที่วัดได

CL

LCL

UCL

3. การเกิดจุดมแีนวโนม(Trend)

การที่มีจุดตอเนื่องไปในทิศทาง เดียวกันโดยไมมีการสลับขึ้น-ลง เลย(7จุด) เราเรียกวามีการเกิด

แนวโนมขึ้นในแผนควบคุม แนวโนมนี้กําลังจะบอกเราวา คาเฉลี่ยของการควบคุมที่ผลิตได

จากกระบวนการผลิตนั้นกําลังม

ี

ปญหา หรือมีแนวโนมที่จะ เคลื่อนที่ไปจากที่ไดกําหนดไวแต

แรก

0

10

20

30

40

50

60

70

ชวงที่ 1 ชวงที่ 2 ชวงที่ 3 ชวงที่ 4 ชวงที่ 5 ชวงที่ 6 ชวงที่ 7 ชวงที่ 8 ชวงที่ 9 ชวงที่ 10

คาที่วัดได

CL

LCL

UCL

4. การเกิดจุดเขาใกลเสนควบคุม

หากเราแบงระยะ 3σ จากเสนคา กลางออกเปนเสน 2σ แลวพบวา มีจุด 2 ใน 3 จุดที่อยูตอเนื่องกัน ในแตละชวงไดตกไปอยูในพื้นท

ี่

ระหวางเสน 2σ กับเสนขอบเขต ควบคุม(3σ) ถือไดวาไดเกิดการ เขาใกลเสนขอบเขตควบคุมแลว

และเปนการบอกวามีความ ผิดปกติเกิดขึ้นในกระบวนการ

ผลิตแลว

0

10

20

30

40

50

60

70

ชวงที่ 1 ชวงที่ 2 ชวงที่ 3 ชวงที่ 4 ชวงที่ 5 ชวงที่ 6 ชวงที่ 7 ชวงที่ 8 ชวงที่ 9 ชวงที่ 10

คาที่วัดได CL LSL USL LCL UCL

5. การเกิดวัฏจักร (Periodicity)

มีลักษณะ คือ คาในเสนกราฟจะ เปลี่ยนแปลงขึ้น ๆ ลง ๆ หรือม

ี

ลักษณะเปนวงจรวงรอบหรือวัฏ จักร ที่เกือบจะทํานายลักษณะ

เสนกราฟในชวงตอไปได เรียกวา เกิดการกระจายเปนชวง หรือวัฏ

จักร ซึ่งก็ถือวาเปนความผิดปกต

ิ

ที่เกิดขึ้นในกระบวนการเชนกัน0

10

20

30

40

50

60

70

ชวงที่ 1 ชวงที่ 2 ชวงที่ 3 ชวงที่ 4 ชวงที่ 5 ชวงที่ 6 ชวงที่ 7 ชวงที่ 8 ชวงที่ 9 ชวงที่ 10

คาที่วัดได

CL

LCL

UCL

ตอนที่ 6

CPK,PPK คืออะไร

CPK,PPK คือ

คาวัดขีดความสามารถของกระบวนการ เมื่อไดมีการควบคุมกระบวนการแบบ SPC แลว ซึ่งคา CPK,PPK จะมีคาดีเยี่ยมก็เมื่อ ≥ 1.33 ขึ้นไป

ขอใหโชคดี